Zustandsüberwachung und Optimierung von Produktionsanlagen Von der Datenerfassung bis zur Systemanalyse

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1 2. VDI-Fachkonferenz Zustandsüberwachung und Optimierung von Produktionsanlagen Von der Datenerfassung bis zur Systemanalyse 13. und 14. Mai 2014 in Karlsruhe TOP-THEMEN DER KONFERENZ Herausforderungen und Umsetzung von Condition Monitoring Systemen in der Produktion Identifikation und Erfassung relevanter Prozessdaten von Maschinen und Anlagen zur Produktivitätssteigerung Predictive Maintenance Frühzeitiges Erkennen von Warnungen und Vermeiden von Geräteausfällen M2M Lösungen bezugnehmend auf Big Data und dem Internet of Things Auswertung, Verarbeitung und Visualisierung heterogener Daten vor dem Hintergrund Big Data Einsatz von Smart Devices in der Service & Maintenance Phase Analyse verteilter Systeme sowie die Echtzeitbetrachtung der signifikanten Daten zur Erhöhung der Anlagenverfügbarkeit IT-Sicherheit für Überwachungssysteme MIT PRAXIS- BEITRÄGEN VON SPEZIALTAGE ABB Automation AUVESY Claas Selbstfahrende Erntemaschinen Heidelberger Druckmaschinen Hoffmann Engineering IBM Deutschland ISI Automation Lenze Automation Leuze electronic MPDV Mikrolab PSIPENTA Software Systems Q-DAS SAP Stiwa Automation Südzucker Condition und Process Monitoring, 12. Mai 2014 Prüfplanung und Eignungsnachweis von Prüfprozessen, 15. Mai 2014 Veranstaltung der VDI Wissensforum GmbH Telefon Fax

2 1. Konferenztag DIENSTAG 13. MAI :15 Anmeldung Effiziente Implementierung von Systemen zur Zustandsüberwachung 10:15 Begrüßung und Eröffnung durch den Konferenzleiter Relevante Daten erkennen und richtig erfassen Modellgestützte und datengestützte Zustandsüberwachung Lernen von Prozessmodellen aus Prozessdaten Umsetzung in die industrielle Praxis Professor Dr.-Ing. habil. Jürgen Beyerer, Leiter des Fraunhofer-Instituts für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung (IOSB), Inhaber des Lehrstuhls für Interaktive Echtzeitsysteme am Karlsruher Institut für Technologie (KIT) Beobachtbarkeit Relevante Daten erfassen 10:55 Datenströme zu Erkenntnisgewinn kanalisieren Erfassung von Merkmalswerten und Prozessparametern Integration von Informationsquellen Visualisierung und Überwachung von Qualitätsdaten Zuverlässige (Qualitäts-)Kennzahlen Aussagekräftige Visualisierung und Aufbereitung: Kennzahlen Dashboard Dipl.-Geoökol. Stefan Weber, Bereichsleiter System Integration, Q-DAS GmbH & Co. KG, Weinheim 11:35 Management von Prozessdaten in der Praxis Datenquellen: Prozessleitsysteme, Laborgeräte, externe Schnittstellen Prozessorientierte Datenaufbereitung und standortübergreifende Konsolidierung Datenzugriff: Webclient, MS Excel, mobile Devices Elektronisches Schichtbuch und Schnittstellen zur Instandhaltung Einbindung in das Process Automation Security-Konzept Dr.-Ing. Harald König, Senior Engineer Process Automation and Electrical Installations, Südzucker AG, Mannheim/Ochsenfurt 12:15 Mittagspause 13:45 Condition Monitoring: Herausforderungen und Umsetzung in der diskreten Produktion Ganzheitlicher Ansatz: Automation, Produkt, Prozess Anforderungen/Herausforderungen: System, Daten und Vernetzung System- und Prozessverhalten & Condition Monitoring Umsetzungsbeispiele/-empfehlungen zur Erhöhung der Anlagenverfügbarkeit produzierender Unternehmen Mag. Alexander Meisinger MSc., Leitung Produktmanagement Software Fertigungsautomation, STIWA Automation GmbH, Hagenberg im Mühlkreis, Dr.-Ing. Peter Staufer, Entwicklung, STIWA Automation GmbH, Attnang- Puchheim Die richtige Instrumentierung für Prozessoptimierung und Fehlerfrüherkennung 14:25 Zuverlässige Prozesskontrolle durch gekapselte sensorische Funktionsmodule Dezentrale Datenaggregation und Auswertung Reduktion der Komplexität durch Funktionskapselung Skalierbare, multiplizierbare Funktionsmodule Applikationsbeispiele aus der 3D messenden Sensorik Dr. rer. nat. Albrecht v. Pfeil, Leiter Produktmanagement, Leuze electronic GmbH + Co. KG, Owen 15:05 Asset Optimization Verbesserung der Anlageneffizienz durch Systemintegration Echtzeit-Zustandserfassung gemäß NAMUR NE107 Frühzeitiges Erkennen von Warnungen und Vermeiden von Geräteausfällen Maßgeschneiderte Arbeitsumgebung für unterschiedliche Anwenderprofile Nahtlose gemeinsame Nutzung von Informationen zwischen Bedienung und Wartung (DCS-CMMS) Berücksichtigung eines funktionierenden Alarm Managements Dipl.-Ing. Stephan Roth, Senior Consultant, ABB Automation GmbH, Minden 15:45 Kaffeepause Datenhandling Verfügbarkeit und Verarbeitung von Daten verbessern 16:15 Von der feldbusneutralen Referenzarchitektur zum Cyber-Physical System Condition-Monitoring Erläuterung der VDMA Feldbusneutralen Referenzarchitektur für die Fabrikautomation Connectivity zu Steuerungen und Leitsystemen Historische Daten und Schnittstellen zu Datenbanken Beispiele aus der Fertigungstechnik: u.a. Werkzeugmaschine, Getränkeabfüllanlage, Nahrungsmittelproduktionsanlagen Ausblick und Zukunft mit Industrie 4.0 unter anderem bezogen auf Condition Monitoring im Cyber Abbild und Virtuelles Online Condition Monitoring Dipl.-Ing. Jörg Hoffmann, Geschäftsführer, Hoffmann Engineering GmbH, Eggenstein-Leopoldshafen 16:55 Erfassung und Verarbeitung heterogener Daten mit MES Zeitnahe Erfassung und Online-Plausibilität Aktionsgerechte Datenpräsentation Verarbeitung und Verdichtung Professor Dr. Jürgen Kletti, Geschäftsführer, MPDV Mikrolab GmbH, Mosbach 17:35 Zusammenfassung und Abschlussdiskussion 17:45 Get-Together Zum Ausklang des ersten Veranstaltungstages lädt Sie das VDI Wissensforum zu einem Get-Together ein. Nutzen Sie die entspannte Atmosphäre, um Ihr Netzwerk zu erweitern und mit anderen Teilnehmern und Referenten vertiefende Gespräche zu führen. VDI Wissensforum Tel Fax

3 2. Konferenztag MITTWOCH 14. MAI 2014 Anlagenverfügbarkeit und -zuverlässigkeit erhöhen durch Integration verteilter Systeme 09:00 Begrüßung und Eröffnung durch den Konferenzleiter Modelllernen als Schlüsseltechnologie in Industrie 4.0 Voraussetzungen für die Analyse und Diagnose komplexer Systeme Aus Messungen und Systembeobachtungen lernen Entstehung von lernenden und adaptiven Diagnoseverfahren Übersicht über passende Lernverfahren Prof. Dr. rer. nat. Oliver Niggemann, Professur für technische Informatik am init - Institut Industrial IT, Hochschule OWL, Lemgo, Stellv. Leitung Fraunhofer IOSB-INA, Anwendungszentrum Industrial Automation, Lemgo Datenfusion und Analyse zur Effizienzsteigerung 09:40 Machine to Machine: Remote Service and Predictive Maintenance Big Data und das Internet of Things Herausforderungen an die IT Die M2M HANA Plattform als Katalysator neuer bzw. erweiterter Geschäftsprozesse im» Remote Service Management und» Predictive Maintenance Christian Baust, Product Manager, Application Innovation, SAP AG, Walldorf 10:20 Kaffeepause 10:50 Automatisierte Entscheidungsprozesse im Instandhaltungsmanagement Verzahnung präventive Instandhaltung und Störungsbeseitigung Ausbalancieren der Zielerreichung unterschiedlicher Kriterien mit Multitarget-Logik Bessere Ersatzteilversorgung durch ein optimiertes logistisches Netzwerk Einsatz von Leitwarten-Technologie zur Überwachung und Steuerung komplexer Instandhaltungsprozesse Ausblick Industrie 4.0 Dipl.-Ing. Stefan Klaas, Produktmanager Business Development, PSIPENTA Software Systems GmbH, Berlin 11:30 Analytics und Big Data in der Produktion an Beispielen von neuen Use Cases in Wartung und Semantik Grundsätze der Gewinnung von Informationen aus Daten Vorgehensweisen mit und ohne maschinelle Unterstützung Attribute der Wartung im Bezug auf Semantik Wann und wo braucht man eine semantische Übersetzung? Beispiele aus der Produktion und Logistik Dr. Mark Mattingley-Scott, Principal IBM Industry Architects Team, Lead Architect for Big Data & Industrie 4.0, IBM Deutschland GmbH, Walldorf 12:10 Mittagspause 13:10 Mobile, verteilte Produktion in gering deterministischer Umgebung Optimierung von Geschäftsprozessen Übertragung von Industrie 4.0-Paradigmen auf andere Sektoren Selbstorganisation beim Einsatz mobiler Arbeitsmaschinen Unterstützung kooperativen Verhaltens bei mobilen Arbeitsmaschinen Transparenz in mobilen Wertschöpfungsketten Dipl.-Ing. agr. Thilo Steckel, Projektkoordinator, Entwicklung Systembasierte Dienstleistungen, CLAAS Selbstfahrende Erntemaschinen GmbH, Harsewinkel 13:50 Einsatz von Smart Devices in der Phase Service & Maintenance von intelligenten Motoren und Antrieben Gründe für den Einsatz von Smart Devices Mögliche Einsatz-Szenarien für Smart Devices Praxis-Beispiel: m300 mit Smart Device Herausforderungen und Risiken für den Anwender und Maschinenbetreiber Andreas Röttger, Leiter Entwicklung Engineering Tools, Lenze Automation GmbH, Aerzen 14:30 Kaffeepause IT-Sicherheit für Überwachungssysteme 15:00 IT Security in der Produktion Selbstverständlichkeit oder Herausforderung? Was motiviert die Produktion sich dem Thema IT Security anzunehmen? Welche Gefahren verbergen sich dahinter? Der Kommunikations- und Automatisierungsprozess in der Produktion steht im Wandel Wie stellt sich die Produktionswelt auf diesen Veränderungsprozess ein Erfahrungsbericht aus der Praxis Dipl.-Ing. Wolfgang Köhler, Leiter Instandhaltung, Heidelberger Druckmaschinen AG, Wiesloch 15:40 Heute schon ein Backup gemacht? Backup Management in der automatisierten Produktion Wofür steht das Backup in der Automatisierung Resultierende Herausforderungen, Erwartungen, Anforderungen, Lösungen und Chancen Dr.-Ing. Tim Weckerle, Leiter Produktmanagement, AUVESY GmbH & Co. KG, Landau 16:20 Zusammenfassung Prof. Dr.-Ing. habil. Jürgen Beyerer 16:30 Ende der Konferenz IHRE KONFERENZLEITUNG Prof. Dr.-Ing. habil. Jürgen Beyerer Seit März 2004 ist Beyerer Professor und Inhaber des Lehrstuhls für Interaktive Echtzeitsysteme am Karlsruher Institut für Technologie (KIT) und, in Personalunion, geschäftsführender Leiter des Fraunhofer-Instituts für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung (IOSB). Bis 2004 war Beyerer zunächst technischer Leiter und danach Geschäftsführer der Firma Hottinger Systems GmbH in Mannheim erlangte er mit der Habilitation die Venia Legendi für das Fach Messtechnik an der Universität Karlsruhe. Prof. Dr. rer. nat. Oliver Niggemann Seit 2008 ist Niggemann Professor für Technische Informatik an der Hochschule Ostwestfalen-Lippe in Lemgo. Im Anschluss an seine Promotion arbeitete er als Software-Entwickler und Software-Projektleiter bei der Firma Acterna in der Telekommunikationsbranche. Bis 2008 war er als Lead-Produktmanager bei der Firma dspace tätig folgte er dem Ruf auf die neu eingerichtete Professur für Technische Informatik an der Hochschule Ostwestfalen-Lippe, wo er sich mit der Anwendung von Methoden der künstlichen Intelligenz auf die industrielle Automation beschäftigt.

4 Spezialtag Condition und Process Monitoring Signalgewinnung und Systeme zur Zustands- und Prozessüberwachung Montag, 12. Mai 2014 SEMINARLEITER Prof. Dr.-Ing. Dipl.-Kfm. Joachim Imiela, Fachgebiet Automatisierungstechnik, Hochschule Hannover Joachim Imiela Studierte Elektrotechnik mit Fachrichtung Mechatronik an der Universität Hannover und Wirtschaftswissenschaften an der Fernuniversität Hagen. Während seiner Assistentenzeit am Institut für Fertigungstechnik und Werkzeugmaschinen promovierte er auf dem Gebiet der Verfügbarkeitssicherung von Werkzeugmaschinen durch modelbasierte Verschleißüberwachung. Danach folgten berufliche Stationen bei der OSIF GmbH, Garbsen mit der Entwicklung von Systemen zur Prozesskontrolle mittels optischer Technologien sowie bei der Komet Brinkaus GmbH, die Systeme zur Prozessüberwachung an Werkzeugmaschinen entwickelt. Seit 2011 ist er als Professor für Automatisierungstechnik an die Hochschule Hannover berufen worden. ZIELSETZUNG Nach dem Seminar kennen Sie die Funktionsweisen von Sensoren für die Zustands- und Prozessanalyse. Dazu werden unter anderem der Aufbau von Kraft- und Beschleunigungssensoren sowie das Prinzip von DMS und piezobasierten Messmethoden vermittelt. Darüber hinaus wird die Zustandsüberwachung (Condition Monitoring) von der Prozessüberwachung (Process Monitoring) abgegrenzt. Schwerpunktmäßig werden Anwendungen in der Werkzeugmaschinenindustrie vorgestellt. Des Weiteren wird dargelegt, welche Daten bereits in neueren Werkzeugmaschinen verfügbar sind und wie diese für den Bereich der Zustandsüberwachung ausgewertet werden können. Die behandelten Sensoren kommen in der Regel dort zum Einsatz, wo keine Sensoren vorhanden sind. FÜNF GUTE GRÜNDE, WARUM SIE DAS SEMINAR BESUCHEN SOLLTEN: Informieren Sie sich über die Zustands- und Prozessüberwachung Erfahren Sie mehr über typische Sensoren und die Art der Signalgewinnung Verschaffen Sie sich einen Überblick über die Methoden und Verfahren der Zustands- und Prozessüberwachung Profitieren Sie von praktischen Umsetzungsbeispielen Lernen Sie wie die Zustandsüberwachung einfach eingesetzt werden kann SEMINARINHALT 09:30 UHR 17:00 UHR Einführung: Hintergründe und Begrifflichkeiten zu dem Thema Prozessüberwachung/ Zustandsüberwachung Einflussgrößen auf die Maschine und den Prozess Verbindung von Überwachungssystemen und Maschine Kategorisierung der Überwachung (Was, Wo, Womit, Wie, Wann) Grundlagen der Signalgewinnung - Externe Sensorik: Vorstellung von Sensoren, die sowohl zur Zustandsüberwachung als auch zur Prozessüberwachung eingesetzt werden:» DMS-Elemente» Piezoeffekt» Kraft- und Drehmomentsensoren» Beschleunigungssensoren» Druck-/Durchflusssensoren» Wärmebildkameras Vorstellung von Einsatzorten Grundlagen der Signalgewinnung Steuerungsdaten: Digitale Analoge Anbindung an Steuerungen Prozessüberwachung auf Basis von Antriebsgrößen (Wirkleistung, Motorstrom) Besonderheiten bei der Überwachung von Werkzeugen Systeme zur Zustandsüberwachung: Grundlagen der Signalgewinnung Steuerungsdaten Vorstellung von Systemen zur Zustandsüberwachung (Systeme von Siemens, ifm etc.) Praktische Grenzen der Zustandsüberwachung Grundlagen der Prozessüberwachung: Beschleunigungswerte kompensieren/ausblenden Vorstellung eines Systems zur Prozessüberwachung Zusammenfassung und Ausblick FÜNF FRAGEN, AUF DIE SIE EINE ANTWORT BEKOMMEN: Welche Signalquelle soll ich wann und wie einsetzen? Wie können die Signale ausgewertet werden? Wodurch wird die Zustands- und Prozessüberwachung beeinträchtigt? Was ist der Aufwand der zur Verwaltung der Systeme notwendig ist? Wie kann ich den richtigen Sensor, die richtige Sensorquelle auswählen? VDI Wissensforum Tel Fax

5 Spezialtag Prüfplanung und Eignungsnachweis von Prüfprozessen Donnerstag, 15. Mai 2014 SEMINARLEITER Dr.-Ing. Philipp Jatzkowski, Leiter Competence-Center Production Excellence, TÜV Rheinland Consulting GmbH, Köln Herr Dr.-Ing. Philipp Jatzkowski, geb ist Leiter des Competence- Center Production Excellence der TÜV Rheinaland Consulting GmbH. Der thematische Schwerpunkte der Abteilung liegt auf der Bearbeitung anspruchsvolle Six Sigma Projekte im Bereich der Produktionstechnik. Herr Jatzkowski hat am Lehrstuhl für Fertigungsmesstechnik und Qualitätsmanagement des Werkzeugmaschinenlabors WZL der RWTH Aachen promoviert und war dort zweieinhalb Jahre als Oberingenieur Leiter der Abteilung Fertigungsmesstechnik. Herr Jatzkowski war 4 Jahre lang Obmann des VDI Fachausschusses 1.12 Eignungsnachweis von Prüfprozessen und hat als solcher die VDI Richtlinie 2600 Prüfprozessmanagement Identifizierung, Klassifizierung und Eignungsnachweise von Prüfprozessen wesentlich mit gestaltet. Herr Jatzkowski ist aktuell Obmann des VDI Fachausschusses 3.34 zur Large Volume Metrology. THEMATISCHE EINLEITUNG Viele produzierende Unternehmen stehen heute vor der Herausforderung, sich aufgrund volatiler Märkte und komplexer Prozesse kontinuierlich neu auszurichten. Die Basis, um unter diesen Umständen erfolgreich am Markt agieren zu können, sind fähige Produktionsprozesse und abgesicherte Messergebnisse als valide Informationsbasis zur Produktionssteuerung. Wichtig sind eine frühzeitige Planung von Prüfprozessen im Sinne der Informationsgewinnung und die risikogerechte, wirtschaftliche Absicherung von Prüfentscheiden durch einen Eignungsnachweis. SEMINARINHALT 09:30 UHR 17:00 UHR Grundlagen Geometrischen Produktspezifikation Grundlegende Begriffe: Messen, Lehren und Prüfen, Kalibrieren Messunsicherheit, Kalibrierkette, Alpha- und Beta-Fehler Überlagerung von Messunsicherheit und Prozessstreuung Forderungen der ISO 9001 und der ISO TS Prüfplanung und Prüfmittelmanagement Identifizierung von Prüfprozessen Risikoklassifizierung von Prüfprozessen Prüfmittelauswahl Prüfmittelmanagement Risikogerechte Absicherung von Prüfentscheiden gemäß VDI 2600 Risikogerechte Methodik zum Eignungsnachweis Festlegen des Eignungsgrenzwerts Bewertung der Eignung Absicherung des Prüfentscheids Eignungsnachweis von Prüfprozessen gemäß VDA 5 und MSA Analyse des Prüfprozesses Modellentwicklung/Versuchsplanung Durchführung von Messungen Auswertung der Daten Dokumentation der Ergebnissee Zusammenfassung und Ausblick ZIELSETZUNG Durch den Besuch des Seminars werden Sie in die Lage versetzt, Ihre Produkt- und Prozessqualität wirtschaftlich abzusichern. Die Forderungen Ihrer Kunden und internationaler Standards wie der ISO 9001, der ISO TS werden Sie anschließend erfüllen können. Nach dem Seminar können Sie Ihre Kosten zur Qualitätssicherung risikogerecht und ohne Qualitätseinbußen reduzieren sowie Ihre Fertigungs- und Prüfprozesse qualitätsgerecht und kostenoptimal aufeinander abstimmen. Auch werden Sie erfahren, wie Sie Produkte mit kleiner Losgröße und großer Variantenvielfalt statistisch absichern können. FACHAUSSTELLUNG/SPONSORING Sie möchten Kontakt zu den hochkarätigen Teilnehmern dieser VDI-Konferenz aufnehmen und Ihre Produkte und Dienstleistungen einem Fachpublikum Ihres Marktes ohne Streuverluste präsentieren? Vor, während und nach der Veranstaltung bieten wir Ihnen vielfältige Möglichkeiten, rund um das Konferenzgeschehen Flagge zu zeigen und mit Ihren potenziellen Kunden ins Gespräch zu kommen. Informationen zu Ausstellungsmöglichkeiten und zu individuellen Sponsoringangeboten erhalten Sie von: Annika Moll Projektreferentin Ausstellung & Sponsoring Telefon: moll_a@vdi.de

6 2. VDI-FACHKONFERENZ ZUSTANDSÜBERWACHUNG UND OPTIMIERUNG VON PRODUKTIONSANLAGEN Gedruckt auf 100 % Recycling-Papier, versehen mit dem Blauen Engel. Mit dem FSC Warenzeichen werden Holzprodukte aus gezeichnet, die aus verantwortungsvoll bewirtschafteten Wäldern stammen, unabhängig zertifiziert nach den strengen Kriterien des Forest Stewardship Council (FSC). Für den Druck sämt licher Programme des VDI Wissensforums werden ausschließlich FSC-Papiere verwendet. Ich nehme wie folgt teil: 2. VDI-Fachkonferenz: Zustandsüberwachung und Optimierung von Produktionsanlagen, vom (02KO705014) VDI-Spezialtag: Condition und Process Monitoring, am (02ST288001) VDI-Spezialtag: Prüfplanung und Eignungsnachweis von Prüfprozessen, am (02ST222002) Bitte Preiskategorie wählen Preis p./p. zzgl. MwSt. PS Konferenz Spezialtag Kombipreis Konferenz + 1 Spezialtag Kombipreis Konferenz + 2 Spezialtage VDI Wissensforum GmbH Kundenzentrum Postfach Düsseldorf Telefon: Telefax: wissensforum@vdi.de Produktionsanlagen Teilnahmegebühr 1 EUR 1.390, EUR 890, EUR 2.130, EUR 2.970, persönliche VDI-Mitglieder 2 EUR 1.290, EUR 840, EUR 1.980, EUR 2.770, VDI-Mitgliedsnummer* * Für die Preisstufe (PS) 2 ist die Angabe der VDI-Mitgliedsnummer erforderlich. www Nachname Vorname Titel Funktion Abteilung Tätigkeitsbereich Firma/Institut Straße/Postfach PLZ, Ort, Land Telefon Mobilnummer Ich interessiere mich für Ausstellungs- und Sponsoringmöglichkeiten. Abweichende Rechnungsanschrift Teilnehmer mit Rechnungsanschrift außerhalb von Deutschland, Österreich und der Schweiz zahlen bitte mit Kreditkarte. Karteninhaber Kartennummer Fax Visa American Express Mastercard Anmeldungen müssen schriftlich erfolgen. Anmeldebestätigung und Rechnung werden zugesandt. Gebühr bitte erst nach Rechnungseingang unter Angabe der Rechnungsnummer überweisen. Veranstaltungsort / Zimmerreservierung RENAISSANCE KARLSRUHE HOTEL, Mendelssohnplatz, Karlsruhe, Tel , Fax , karlsruhe-reservation@renaissancehotels.com Für Sie als Konferenzteilnehmer haben wir im genannten Hotel s.o. Zimmerkontingente reserviert. Bitte reservieren Sie bis zum unter dem Stichwort VDI. Bitte nehmen Sie die Reservierung selber direkt im Hotel vor. Exklusiv-Angebot: Als Teilnehmer dieser Veranstaltung bieten wir Ihnen eine 3-monatige, kostenfreie VDI-Probemitgliedschaft an. (Dieses Angebot gilt ausschließlich bei Neuaufnahme). Leistungen: Im Leistungsumfang der Konferenz (zweitägig) sind die Pausengetränke, das Mittagessen und der Abendimbiss am 13. Mai 2014 enthalten. Im Leistungsumfang der Seminare/ Zusatztage sind die Pausengetränke und das Mittagessen enthalten. Die Konferenzunterlagen werden den Teilnehmern vor der Veranstaltung via Download zur Verfügung gestellt. Die Seminarunterlagen erhalten Sie vor Ort. Geschäftsbedingungen: Mit der Anmeldung werden die Geschäftsbedingungen der VDI Wissensforum GmbH verbindlich anerkannt. Abmeldungen müssen schriftlich erfolgen. Bei Abmeldungen bis 14 Tage vor Veranstaltungsbeginn erheben wir eine Bearbeitungsgebühr von 50, zzgl. MwSt. Nach dieser Frist ist die volle Teilnahmegebühr gemäß Rechnung zu zahlen. Maßgebend ist der Posteingangsstempel. In diesem Fall senden wir die Veranstaltungsunterlagen auf Wunsch zu. Es ist möglich, nach Absprache einen Ersatzteilnehmer zu benennen. Einzelne Teile des Seminars können nicht gebucht werden. Muss eine Veranstaltung aus unvorhersehbaren Gründen abgesagt werden, erfolgt sofortige Benachrichtigung. In diesem Fall besteht nur die Verpflichtung zur Rückerstattung der bereits gezahlten Teilnahmegebühr. In Ausnahmefällen behalten wir uns den Wechsel von Referenten und/oder Änderungen im Programmablauf vor. In jedem Fall beschränkt sich die Haftung der VDI Wissensforum GmbH ausschließlich auf die Teilnahmegebühr. Datenschutz: Die VDI Wissensforum GmbH erhebt und verarbeitet Ihre Adressdaten für eigene Werbezwecke und ermöglicht namhaften Unternehmen und Institutionen, Ihnen im Rahmen der werblichen Ansprache Informationen und Angebote zukommen zu lassen. Bei der technischen Durchführung der Datenverarbeitung bedienen wir uns teilweise externer Dienstleister. Wenn Sie zukünftig keine Informationen und Angebote mehr erhalten möchten, können Sie bei uns der Verwendung Ihrer Daten durch uns oder Dritte für Werbezwecke jederzeit wider sprechen. Nutzen Sie dazu die Adresse: wissensforum@vdi.de oder eine andere oben angegebene Kontaktmöglichkeit. Prüfziffer gültig bis (MM/JJ) Datum +Unterschrift