LANGER EMV-Technik GmbH / IC Test System 03/15

Größe: px
Ab Seite anzeigen:

Download "LANGER EMV-Technik GmbH / www.langer-emv.com IC Test System 03/15"

Transkript

1 LANGER EMV-Technik GmbH / IC Test System 03/15

2 IC Test System Inhalt Seite 1 Einführung IC-Testumgebung ICE Übersicht - Messtechnik Bestandteile Groundplane Connection Board Groundadapter für Testleiterkarten Oszilloskop-Adapter Tastkopfhalter Probe-Adapter für IC-Probes Übersicht - Messverfahren Pulsstörfestigkeit - leitungsgebunden ESD-Störfestigkeit - leitungsgebunden EFT-Störfestigkeit - leitungsgebunden HF-Störfestigkeit - leitungsgebunden ESD-Störfestigkeit - feldgebunden EFT-Störfestigkeit - feldgebunden HF-Störfestigkeit - feldgebunden HF-Störaussendung - feldgebunden HF-Strom- und Spannungsmessung - leitungsgebunden HF-Nahfeldmessung (Surface Scan) Zusatzgeräte Elektrisches Feld E (t) Zeitliche Änderung des elektrischen Feldes Strom... 48

3 IC Test System 1 Einführung Seite 3 Für die EMV-Eigenschaften von Geräten spielen neben der Layout- und Gehäusegestaltung die Eigenschaften der eingesetzten ICs eine entscheidende Rolle. Durch die Verringerung der Strukturgrößen, Betriebsspannungen und Schaltschwellen werden die ICs deutlich empfindlicher und die Störaussendung steigt ebenfalls. Das Nähern und Überschreiten der 100 nm-welt bewirkt ein Absenken der Störfestigkeit auf ca. 10% gegenüber der früheren ICs. Diese Tendenz spiegelt sich im Geräteverhalten wieder! Für die Hersteller von ICs bedeuten gute EMV-Eigenschaften ihrer Produkte bei gleicher Funktionalität Vorteile gegenüber dem Mitbewerber. Aufgabe muss es daher sein, die für den IC entscheidenden Parameter zu ermitteln und Rückschlüsse auf das Chipdesign zu ermöglichen. Sie ermitteln in der Designphase die Eigenschaften des IC und können die Fehlermechanismen innerhalb des Schaltkreises aufklären. Mit der damit möglichen gezielten Beeinflussung und Messung der ICs wird der Entwicklungsprozess beschleunigt. Aus der Sicht des Anwenders von ICs liegt es nahe, verschiedene Typen unter den in seiner Anwendung vorherrschenden Bedingungen zu vergleichen. Er kann mit dem Messsystem, unabhängig von seiner aktuellen Baugruppe, unterschiedliche ICs miteinander vergleichen und Schwachstellen ausfindig machen. Man hat aber auch die Möglichkeit, den IC in eine optimalere EMV gerechte Umgebung einzuplanen um z.b. empfindliche Pins besser zu schützen. Bestandteile der IC-Testumgebung ICE1 Als Bezugsfläche ist eine massive Groundplane vorhanden, in die der Prüfling mit Hilfe einer IC- Adapter-Leiterkarte eingesetzt wird. Die Groundadapter besitzt ebenfalls eine durchgehende Masselage. Zur eigentlichen Messung sind je nach Messaufgabe unterschiedliche Probes vorgesehen. Diese Probes liegen großflächig auf der Groundplane auf und sind somit elektrisch verbunden. Mit dem IC Test System hat man die Möglichkeit, alle Messaufgaben für Schaltkreise mit der IC-Testumgebung ICE1 zu erfüllen.

4 IC Test System 2 IC-Testumgebung ICE1 2.1 Übersicht - Messtechnik Seite 4

5 ICE1 2 IC-Testumgebung ICE1 2.2 Bestandteile Seite 5 Pos. Bestandteile Stck Bestellbezeichnung Groundplane (Aussparung 100 x 100 mm) 1 GND 25 Connection Board - wird von unten in die Ground-Plane eingesetzt 1 CB 0708 Mit unterschiedliche Aussparungen sind 4 GNDA folgende Groundadapter lieferbar: Variante Breite / mm Höhe / mm 01 22,9 22,9 1 GNDA ,9 32,9 1 GNDA ,9 68,3 1 GNDA ,8 68,3 1 GNDA-04 Oszilloskop-Adapter 4 Kanäle Verbindungskabel - OA OA 4005 Tastkopfhalter 1 TH 22 Probe-Adapter 30 Winkel 45 Winkel 1 1 SGA 30 SGA 45 Videokamera mit Halter 1

6 GND 25 Top GND 25 2 IC-Testumgebung ICE1 2.3 Groundplane Seite 6 Die Auswahl der Testleiterkarte wird durch die Abmessungen des zu testenden IC bestimmt. Über einen Stecker auf der Rückseite der Testeiterkarte wird der zu testende IC mit dem Connection Board CB 0708 verbunden. Die Groundplane GND 25 besteht aus Stahl mit vergoldeter Oberfläche, um die magnetische Haftung und Kontaktierung der Probes optimal zu gewährleisten. Bottom GND 25 Durchmesser: 218 mm Gewicht (mit CB 0708): 2,0 kg Tiefe der Aufnahme: 1 mm Aussparung für Testboard oder Groundadapter Breite [mm] Höhe Bestellbezeichnung 100,0 100,0 GND 25

7 CB IC-Testumgebung ICE1 2.4 Connection Board Seite 7 Das CB 0708 ist ein Mikrocontroller gesteuertes Connection Board zur Überwachung und Steuerung eines DUT während der EMV- Messung. Das Connection Board wird unter die Groundplane montiert. Die Steuerung des CB 0708 erfolgt über USB vom PC aus. Die Stromversorgung kann ebenfalls über USB oder ein externes Steckernetzteil erfolgen. Leistungsparameter: bis zu 56 digitale Ein- uns Ausgangskanäle bis zu 10 analoge Eingangskanäle 1x SPI-Port 3x Eingänge für DUT-Stromversorgung (3-24 V, 500 ma) 2x Impulsfallen (Impulsdehnung) 3x LEDs zur freien Verwendung Verdrahtungsfeld zur freien Beschaltung der DUT- Pins - frei programmierbar - jeweils mit optionalen Eingangsspannungsteiler - für Steuerungs- oder Überwachungsaufgaben entsprechender DUT - jeweils mit Spannungs- und Strommessung - über Steuersoftware ein- und ausschaltbar - 1x 100 ms Impulsdehnung als schneller und unabhängiger Impulsindikator - 1x variable Fangschaltung über Controller - als Indikator für verschiedene Signale - zwei 10-polige Steckverbinder (2,54 mm Raster) zur freien Verwendung - bis zu drei Steckverbinder für 4-Kanal-Oszilloskop- Adapter OA ein SMB-Steckverbinder zum Anschluss von Taktgeneratoren o.ä. Connection Board CB 0708 in Groundplane GND 25 eingebaut (Ansicht von unten mit Verdrahtungfeld für den DUT)

8 GNDA 2 IC-Testumgebung ICE1 2.5 Groundadapter für Testleiterkarten Seite 8 Die Groundadapter für die Groundplane GND 25 sind in verschiedenen Varianten erhältlich. Die Auswahl des Groundadapters wird durch die Abmessungen des zu testenden IC bestimmt. Auf die Testleiterkarte werden der Test-IC, die Filterelemente und die notwendigen Beschaltungen zur Funktion bestückt. Über einen Steckverbinder auf der Rückseite der Testleiterkarte wird der zu testende IC mit dem Connection Board verbunden. Für leistungselektronische Anwendungen sind im Allgemeinen auf dem Connection Board zusätzliche Filter vorhanden. Bestellbezeichnung GNDA-01 für GND 25 Groundadapter Höhe [mm] Breite Top Bottom 22,9 22,9 GNDA-02 für GND 25 32,9 32,9 GNDA-03 für GND 25 22,9 68,3 GNDA-04 für GND 25 45,8 68,3 Es gibt zwei Wege Testleiterkarten zu erzeugen: 1. Dienstleistung der Langer EMV-Technik GmbH (nach Angebot) 2. Herstellung vom Kunden selbst mit Unterstützung der Langer EMV-Technik GmbH

9 OA IC-Testumgebung ICE1 2.6 Oszilloskop-Adapter Seite 9 Einfacher Anschluss von Tastköpfen zur Überwachung von 4 Signalen aus dem Prüfling. Digitale Signale werden zusätzlich über LED angezeigt (interne Impulsdehnung). max. Eingangsspannung: 50 V Grenzfrequenz: 45 MHz Sinussignal 1 MHz Rechtecksignal Bestellbezeichnung: OA 4005 TH 22 2 IC-Testumgebung ICE1 2.7 Tastkopfhalter Mit dem Tastkopfhalter kann bis ca. 3 GHz gemessen werden. Die Frequenz wird i.a. vom verwendeten Tastkopf begrenzt. Die Fixierung auf der Groundplane erfolgt über interne Magnete. Im Lieferumfang befindet sich kein Tastkopf. Bestellbezeichnung: TH 22 SGA 2 IC-Testumgebung ICE1 2.8 Probe-Adapter für IC-Probes Bestellbezeichnung: SGA 30 SGA 45 Im Lieferumfang befindet sich keine Probe.

10 IC Test System 3.1 Übersicht - Messverfahren Seite 10 Zusammenhang von EMV-Parameter für IC mit den physikalischen Wirkmechanismen und der Messtechnik der Langer EMV-Technik GmbH: - kontinuierliches HF-Signal - pulsförmiges Signal - Spannung - Strom - elektrisches Feld - magnetisches Feld Störaussendung Störfestigkeit Feldgebunden Leitungsgebunden Leitungsgebunden Feldgebunden HF HF HF Puls HF Puls auf der Grundlage der IEC auf der Grundlage der IEC IEC auf der Grundlage der IEC auf der Grundlage der IEC auf der Grundlage der IEC auf der Grundlage der IEC IEC P600 P700 P1600 & ICR-H P1700 & ICR-E P500 P500 P00 P300 P1400 P1500 P100 P1300

11 IC Test System 3.2 Pulsstörfestigkeit - leitungsgebunden Seite 11 Messungen nach Standard: - LANGER Richtlinie IC-Pulsstörfestigkeit Messaufbau bestehend aus: - Probe - Steuerstation BPS GND-Plane (ICE1) - Oszilloskop-Adapter OA 4005 (ICE1) - Connection Board CB 0708 (ICE1) - PC mit Software BPS 201-Client

12 P01/11 3. Pulsstörfestigkeit - leitungsgebunden Seite 1 Puls-Stromeinkopplung Leitungsgebundene Puls- Stromeinkopplung in IC-Pins. Die Dimensionierung der Probes orientiert sich an den Mechanismen der Pulseinkopplung über das magnetische Feld in elektronische Baugruppen. Typische Anwendung für: Vdd, Vss, Signalpins - geringer Innenwiderstand - hoher Strom wird getrieben P01 P11 Pulsspannung ± 5 40 V ± 0,5 5 V Pulsfrequenz 0,1 Hz 20 khz Pulsform 1,5 / 5 ns Koppelkapazität 1,2 µf Innenwiderstand Induktivität ca. 1 Ω ca. 2 nh Die Probes P201 / P211 können nur in Verbindung mit einer Steuerstation BPS 201 betrieben. Pulsform Ersatzschaltbild

13 P301/ Pulsstörfestigkeit - leitungsgebunden Seite 13 Puls-Spannungseinkopplung Leitungsgebundene Puls-Spannungseinkopplung in IC-Pins. Die Dimensionierung der Probes orientiert sich an den Mechanismen der Pulseinkopplung über das elektrische Feld in elektronische Baugruppen. Typische Anwendung für: Signalpins, Oszillator - hoher Innenwiderstand - hohe Spannungen P301 P311 Pulsspannung ± V ± V Pulsfrequenz 0,1 Hz 15 khz 0,1 Hz 20 khz Pulsform 1,5 / 20 ns Koppelkapazität 18 pf Innenwiderstand Induktivität ca. 100 Ω ca. 50 nh Die Probes P301 / P311 können nur in Verbindung mit einer Steuerstation BPS 201 betrieben. Pulsform Ersatzschaltbild

14 BPS Pulsstörfestigkeit - leitungsgebunden Seite 14 Burst Power Station für Burst-Probes Die BPS 201 dient als Spannungsversorgung und Steuereinheit für die Burst-Probes. Über eine USB-Schnittstelle wird die BPS 201 von einem PC gesteuert und mit einem externen Steckernetzteil versorgt. - Einstellen der Puls-Frequenz und Puls-Spannung - Einzelimpulse oder Pulsfolge - externe Triggerung möglich - einstellbare Triggerverzögerung - Synchronisationsausgang Maße (B/H/T) Gewicht Steuerungs-Schnittstelle Software Versorgungsspannung Spannungsbereich Polarität Frequenzbereich Externer Trigger Triggerverzögerung Synchronisationsausgang 175/122/61 (mm) 0,35 kg USB PC-Steuersoftware BPS 201-Client 12 V / 1A DC je nach angeschlossener Probe (maximal 500 V) +/- oder alternierend 0,1 Hz 20 khz TTL-Eingang Anschluss: BNC 130 ns 100 ms min. Schrittweite: 10 ns TTL-Ausgang Anschluss: BNC

15 IC Test System 3.3 ESD-Störfestigkeit - leitungsgebunden Seite 15 Messungen basierend auf Standard: - IEC Messaufbau bestehend aus: - Probe - Steuerstation BPS GND-Plane (ICE1) - Oszilloskop-Adapter OA 4005 (ICE1) - Connection Board CB 0708 (ICE1) - PC mit Software BPS 203-Client

16 P ESD-Störfestigkeit - leitungsgebunden Seite 16 ESD Einkopplung (IEC ) Leitungsgebundene ESD Einkopplung nach Norm IEC direkt in IC- Pins oder in Verbindung mit Kopplern zur Einkopplung in Interface Pin, speziell High Speed Interfaces wie USB, LVDS, Ethernet usw... ESD-Impuls (siehe Pulsformen unten) - Ansteuerung der Probe über BPS Bedienoberfläche auf PC Pulsspannung Pulsfrequenz Pulsform Entladenetzwerk ± 0,1 9 kv 0,1 10 Hz 0,7 / 60 ns 150 pf / 330 Ω Die Probe P331-2 kann nur in Verbindung mit einer Steuerstation BPS 203 betrieben werden! Pulsform (IEC ) Ersatzschaltbild

17 P ESD-Störfestigkeit - leitungsgebunden Seite 17 ESD Einkopplung Leitungsgebundene ESD Einkopplung direkt in IC- Pins oder in Verbindung mit Kopplern zur Einkopplung in Interface Pin, speziell High Speed Interfaces wie USB, LVDS, Ethernet usw... ESD-Impuls (siehe Pulsformen unten) - Ansteuerung der Probe über BPS Bedienoberfläche auf PC Pulsspannung Pulsfrequenz Pulsform Entladenetzwerk ± 0,1 9 kv 0,1 10 Hz 0,2 / 36 ns 75 pf / 100 Ω Die Probe P331 kann nur in Verbindung mit einer Steuerstation BPS 203 betrieben werden! Pulsform u(t) Pulsspannungsverlauf - Leerlauf 0,2 / 36 ns i(t) Pulsstromverlauf - Kurzschluss 0,2 / 5 ns

18 BPS ESD-Störfestigkeit - leitungsgebunden Seite 18 Burst Power Station für ESD-Probes Die BPS 203 wird zusammen mit den ESD-Probes P331 und P331-2 verwendet. (auch 3.5: P1202, P und P1301) Sie dient als Hochspannungsversorgung und Steuereinheit für die ESD-Probes. Die BPS 203 ist über eine USB- Schnittstelle mit den PC verbunden. Die Ansteuerung erfolgt mittels der Software BPS 203-Client. - Einstellen der Pulsfrequenz und der Hochspannung - Einzelimpulse oder Impulsfolge mit wählbarer Pulszahl Maße (B/H/T) Gewicht Steuerungs-Schnittstelle Puls-Spannungsbereich Polarität Puls-Frequenzbereich Versorgungsspannung 175/122/61 (mm) 0,4 kg USB +/- 100 V bis +/-9 kv (Begrenzung je nach angeschlossener Probe) +/- oder alternierend 0,1 Hz - 30 Hz (Begrenzung je nach angeschlossener Probe) 12 V / 1A DC Software: BPS 203-Client - Automatische Konfiguration der Bedienoberfläche bei Probewechsel - Automatische Erkennung und Konfiguration der BPS Anzeige von Hardware-Daten (BPS angeschlossene Probe) - Systemvoraussetzung: ab Windows 2000

19 IC Test System 3.4 EFT-Störfestigkeit - leitungsgebunden Seite 19 Messungen nach Standard: - IEC Messaufbau bestehend aus: - Probe - EFT/B Generator - Groundplane GND 25 (ICE1) - Oszilloskop-Adapter OA 4005 (ICE1) - Connection Board CB 0708 (ICE1) - PC mit Software Connection Board Control

20 P EFT-Störfestigkeit - leitungsgebunden Seite 0 EFT Pulseinkopplung Leitungsgebundene Pulseinkopplung in IC-Pins. Die Probe dient der Einkopplung von Normburstpulsen in IC- Pins. Sie wird direkt über ein Hochspannungskabel mit dem HV-Ausgang eines Burstgenerators verbunden. - hohe Fexibilität bei der Störeinkopplung in IC-Pins - basierend auf IEC Koppelkapazität über Tastspitze austauschbar Tastspitzen für P50: TS n (1 nf) TS p (10 pf) TS 250-2,2 p (2,2 pf) TS p (100 pf) TS n (100 nf)* Pulsspannung max. ± 6 kv (*TS n ± 500 V) Pulsform 5 / 50 ns Koppelkapazität C K * 1 nf / 10 pf / 2,2 pf Leitungsimpedanz Anschluss EFT/B-Generator 50 Ω 50 Ω Fischer-Buchse (D103A023) Die Probe P250 wird in Verbindung mit einem Norm-Burstgenerator (nach IEC ) betrieben. Der Störpuls wird nicht durch die Probe erzeugt. * Einkoppelnetzwerk (C K und R) nach Kundenangaben modifizierbar Pulsform (IEC ) Ersatzschaltbild

21 IC Test System 3.5 HF-Störfestigkeit - leitungsgebunden Seite 21 Messungen nach Standard: - IEC (DPI) Messaufbau bestehend aus: - Probe - HF-Generator - Leistungsverstärker - GND-Plane (ICE1) - Oszilloskop-Adapter OA 4005 (ICE1) - Connection Board CB 0708 (ICE1) - PC mit Software ProbeControl

22 P501/ HF-Störfestigkeit - leitungsgebunden Seite HF-Einkopplung HF-Einkopplung in IC-Pins. - HF-Einkopplung (DPI) mit Leistungsverstärker über die Probe direkt in ein Pin - integrierte Strom- und Spannungsmessung während der Störbeaufschlagung Spannungsmesser Übertragungsfaktor U out /U in Frequenzbereich Maximale Spannung -1 db Kompressionspunkt IP3 Rauschmaß Strommesser Frequenzbereich Stromkorrekturfaktor R 2 MHz 40 MHz 40 MHz 3 GHz Verzögerung von Strom zu Spannung Maximaler Strom -1 db Kompressionspunkt IP3 Rauschmaß Koppelkapazität Maximale Vorwärtsleistung Versorgungsspannung Kennlinie Strommesser bis 50 MHz Stromkorrekurfaktor R [dbω] P501 ohne Verstärker -40 db 16 khz 3 GHz 50 V eff mit Verstärker 2 MHz 3 GHz nach Kennlinie 0 dbω (1 V/A*) 135 ps* (*exemplarabhängig) 1 A 120 dbµv 134 dbµv 4,5 db 3 µf oder 6,8 nf* 30 W 12 V / DC P50 mit Verstärker 0 db 16 khz 3 GHz 1 V eff 120 dbµv 134 dbµv 4,5 db Ersatzschaltbild (DPI - Norm; C K = 6,8 nf) Strommesser i [dbµa] = u [dbµv] - R [dbω] * C k nach Wahl bestellen oder extern begrenzen

23 P HF-Störfestigkeit - leitungsgebunden Seite 3 HF-Einkopplung HF-Einkopplung in IC-Pins. - HF-Einkopplung (DPI) mit Leistungsverstärker über die Probe direkt in ein Pin - integrierte Strom- und Spannungsmessung während der Störbeaufschlagung Spannungsmesser Übertragungsfaktor U out /U in Frequenzbereich Maximale Spannung Strommesser Frequenzbereich Stromkorrekturfaktor R 200 khz 2 MHz 2 MHz 1 GHz Verzögerung von Strom zu Spannung Maximaler Strom -1 db Kompressionspunkt IP3 Rauschmaß Koppelkapazität Maximale Vorwärtsleistung Versorgungsspannung Kennlinie Strommesser bis MHz ohne Verstärker -40 db 16 khz 3 GHz 50 V eff mit Verstärker 200 khz 1 GHz nach Kennlinie Exemplarabhängiger konstanter Wert (0 bis -5 dbω) ca. 240 ps 1 A 120 dbµv 134 dbµv 4,5 db 3 µf oder 6,8 nf* 30 W 12 V / DC Ersatzschaltbild (DPI - Norm; C K = 6,8 nf) Stromkorrekurfaktor R [dbω] Strommesser i [dbµa] = u [dbµv] - R [dbω] * C k nach Wahl bestellen oder extern begrenzen

24 IC Test System 3.6 ESD-Störfestigkeit - feldgebunden Seite 24 Messungen basierend auf Standard: - IEC Feldquelle Messaufbau bestehend aus: - Feldquelle - Distanzring - Steuerstation BPS GND-Plane (ICE1) - Oszilloskop-Adapter OA 4005 (ICE1) - Connection Board CB 0708 (ICE1) - PC mit Software BPS 203-Client

25 P ESD-Störfestigkeit - feldgebunden Seite 5 ESD H-Feld Einkopplung Die Feldquelle P erzeugt ein ESD- Magnetfeld H(t) und dient zur Bestimmung der Störfestigkeit gegen direkte Einkopplung von magnetischen Pulsfeldern in ICs, insbesondere bei hochpoligen Chipsätzen. Die Feldquelle wird mittels Distanzring in einem definierten Abstand (3 bzw. 10 mm) über dem IC angeordnet. - Erzeugung des ESD-Magnetfeldes durch eine Pulsstromschleife - Norm-ESD-Pulsform nach IEC Pulsform Pulsstrom max. Erzeugte max. magnetische Flussdichte B (h = 10 mm) Pulsfrequenz Pulsform Hochspannung U GEN Shunt für Strommessung Messausgang Stromkorrekturfaktor R i [dbµa] = u[dbµv] - R[dBΩ] ± 150 A U GEN 0, Vs/m² 0,1 10 Hz 0,7 / 60 ns ± 0,1 9 kv 0,1 Ω 50 Ω (SMB) -26 dbω Die Feldquelle P kann nur in Verbindung mit einer Steuerstation BPS 203 betrieben werden. Die BPS 203 liefert die Hochspannung und die Steuersignale für die Feldquelle. Die Bedienung erfolgt über eine PC-Bedienoberfläche. Die Feldquelle besitzt intern einen 0,1 Ohm Shunt. Mit dem Shunt kann der Pulsstromverlauf gemessen werden. Das Meßsignal ist auf eine SMB Buchse nach außen geführt.

26 P ESD-Störfestigkeit - feldgebunden Seite 6 ESD H-Feld Einkopplung Die Feldquelle P1202 erzeugt ein ESD- Magnetfeld H(t) und dient zur Bestimmung der Störfestigkeit gegen direkte Einkopplung von magnetischen Pulsfeldern in ICs, insbesondere bei hochpoligen Chipsätzen. Die Feldquelle wird mittels Distanzring in einem definierten Abstand (3 bzw. 10 mm) über dem IC angeordnet. - Erzeugung des ESD-Magnetfeldes durch eine Pulsstromschleife - Flankensteilheit von ca. 200 ps - zur Nachbildung von hochfrequenten ESD- Einschwingvorgängen Pulsform Pulsstrom max. Erzeugte max. magnetische Flussdichte B (h = 10 mm) Pulsfrequenz Pulsform Hochspannung U GEN Shunt für Strommessung Messausgang Stromkorrekturfaktor R i [dbµa] = u[dbµv] - R[dBΩ] ± 150 A U GEN 0, Vs/m² 0,1 10 Hz 0,2 / 2,5 ns ± 0,1 9 kv 0,1 Ω 50 Ω (SMB) -26 dbω Die Feldquelle P1202 kann nur in Verbindung mit einer Steuerstation BPS 203 betrieben werden. Die BPS 203 liefert die Hochspannung und die Steuersignale für die Feldquelle. Die Bedienung erfolgt über eine PC-Bedienoberfläche. Die Feldquelle besitzt intern einen 0,1 Ohm Shunt. Mit dem Shunt kann der Pulsstromverlauf gemessen werden. Das Meßsignal ist auf eine SMB Buchse nach außen geführt.

27 P ESD-Störfestigkeit - feldgebunden Seite 7 ESD E-Feld Einkopplung Die Feldquelle P1301 erzeugt ein elektrisches ESD-Feld E(t) und dient zur Bestimmung der Störfestigkeit gegen direkte Einkopplung von elektrischen Pulsfeldern in ICs, insbesondere bei hochpoligen Chipsätzen. Die Feldquelle wird mittels Distanzring in einem definierten Abstand (3 bzw. 10 mm) über dem IC angeordnet. - Erzeugung des elektrischen ESD-Feldes durch die Feldelektrode - Es entsteht ein pulsförmiges E-Feld mit einer Flankensteilheit von ca. 200 ps. - zur Nachbildung von hochfrequenten ESD- Einschwingvorgängen Pulsform u(t) Pulsspannungsverlauf 0,2 / 5,5 ns Pulsspannung Pulsfrequenz Pulsform Hochspannung ± 0,1 9 kv 0,1 10 Hz 0,2 / 5,5 ns ± 0,1 9 kv Die Feldquelle P1301 kann nur in Verbindung mit einer Steuerstation BPS 203 betrieben werden. Die BPS 203 liefert die Hochspannung und die Steuersignale für die Feldquelle. Die Bedienung erfolgt über eine PC-Bedienoberfläche.

28 IC Test System 3.7 EFT-Störfestigkeit - feldgebunden Seite 28 Messungen basierend auf Standard: - IEC Feldquelle Messaufbau bestehend aus: - Feldquelle - Distanzring - EFT/B-Gererator - GND-Plane (ICE1) - Oszilloskop-Adapter OA 4005 (ICE1) - Connection Board CB 0708 (ICE1) - PC mit Software Connection Board Control

29 P EFT-Störfestigkeit - feldgebunden Seite 9 EFT H-Feld Einkopplung Die Feldquelle dient zur Bestimmung der Störfestigkeit gegen direkte Einkopplung von magnetischen EFT-Pulsfeldern in ICs. Es sind zwei Ausführungen erhältlich: P und P R Die Feldquelle wird mittels Distanzring in einem definierten Abstand (3 bzw. 10 mm) über dem IC angeordnet. - Norm-EFT-Pulsform analog IEC Pulsform Die Feldquelle P R mit Abschluss besitzt einen idealen Kurververlauf, entsprechend halbiert sich aber die Störwirksamkeit gegen-über der P ohne Abschluss. Pulsform Hochspannung U GEN max. Leitungsimpedanz HV in Abschlussimpedanz HV in P R Anschluss EFT/B-Generator Shunt für Strommessung Messausgang Stromkorrekturfaktor R i [dbµa] = u[dbµv] - R[dBΩ] 5 / 50 ns ± 8 kv 50 Ω 50 Ω 50 Ω Fischer-Buchse (D103A023) 0,1 Ω 50 Ω (SMB) -26 dbω Die Feldquelle P wird zusammen mit einem Norm EFT/B-Generator (IEC ) betrieben. Der Störpuls wird nicht durch die Feldquelle erzeugt. Die Feldquelle besitzt intern einen 0,1 Ohm Shunt. Mit dem Shunt kann der Pulsstrom gemessen werden. Das Meßsignal ist auf eine SMB Buchse nach außen geführt.

30 P EFT-Störfestigkeit - feldgebunden Seite 30 EFT E-Feld Einkopplung Die Feldquelle dient zur Bestimmung der Störfestigkeit gegen direkte Einkopplung von elektrischen EFT-Pulsfeldern in ICs. Es sind zwei Ausführungen erhältlich: P und P R Die Feldquelle wird mittels Distanzring in einem definierten Abstand (3 bzw. 10 mm) über dem IC angeordnet. - Norm-EFT-Pulsform analog IEC Pulsform Die Feldquelle P R mit Abschluss besitzt einen idealen Kurververlauf, entsprechend halbiert sich aber die Störwirksamkeit gegen-über der P ohne Abschluss. Pulsform Hochspannung U GEN max. Leitungsimpedanz HV in Abschlussimpedanz HV in P R Anschluss EFT/B-Generator Interne Spannungsmessung Messausgang Spannungskorrekturfaktor 5 / 50 ns ± 8 kv 50 Ω 50 Ω 50 Ω Fischer-Buchse (D103A023) 50 Ω (SMB) 60 db Die Feldquelle P wird zusammen mit einem Norm EFT/B-Generator (IEC ) betrieben. Der Störpuls wird nicht durch die Feldquelle erzeugt. Die Feldquelle besitzt intern einen Spannungsmesser. Mit diesem Meßsystem kann die Pulsspannung und die entsprechende elektrische Feldstärke gemessen werden. Das Meßsignal ist auf eine SMB Buchse nach außen geführt.

31 IC Test System 3.8 HF-Störfestigkeit - feldgebunden Seite 31 Messungen basierend auf Standard: - IEC Messaufbau bestehend aus: - Feldquelle - HF-Generator - Leistungsverstärker - GND-Plane (ICE1) - Connection Board CB 0708 (ICE1) - PC mit Software Connection Board Control

32 P HF-Störfestigkeit - feldgebunden Seite 3 HF H-Feld Einkopplung Die Feldquelle P1401 erzeugt ein HF- Magnetfeld H(t) und dient zur Bestimmung der Störfestigkeit gegen direkte Einkopplung von magnetischen HF-Feldern in ICs, insbesondere bei hochpoligen Chipsätzen. Die Feldquelle wird mittels Distanzring in einem definierten Abstand (3 bzw. 10 mm) über dem IC angeordnet. - Generierung des HF-Magnetfeldes durch eine Stromschleife - Erzeugung von großen Feldstärken B max = 69 µt B max = 35 µt (h = 3 mm) (h = 10 mm) Frequenzbereich max. 1 GHz Vorwärtsleistung max. 100 W Leitungsimpedanz HF in 50 Ω Abschlussimpedanz HF in Kurzschluss Anschluss HF in N-Connector (50 Ω) Shunt für Strommessung Messausgang Stromkorrekturfaktor R 0,1 Ω 50 Ω (SMB) 26 dbω i [dbµa] = u[dbµv] - R[dBΩ] Die Feldquelle P1401 wird zusammen mit einem HF-Generator und einem Leistungsverstärker betrieben. Achtung: Der größte Teil der eingespeisten Leistung wird von der Feldquelle reflektiert (keine 50 Ω Anpassung). Der eingesetzte Leistungsverstärker muss dafür ausgelegt sein. Die Feldquelle besitzt intern einen 0,1 Ohm Shunt. Mit dem Shunt kann der HF-Strom gemessen werden. Das Meßsignal ist auf eine SMB Buchse nach außen geführt.

33 P HF-Störfestigkeit - feldgebunden Seite 33 HF E-Feld Einkopplung Die Feldquelle P1501 erzeugt ein elektrisches HF-Feld E(t) und dient zur Bestimmung der Störfestigkeit gegen direkte Einkopplung von elektrischen HF-Feldern in ICs, insbesondere bei hochpoligen Chipsätzen. Die Feldquelle wird mittels Distanzring in einem definierten Abstand (3 bzw. 10 mm) über dem IC angeordnet. - Generierung des HF-E-Feldes durch eine Elektrode - Erzeugung von großen Feldstärken E max = 47 kv/m E max = 14 kv/m (h = 3 mm) (h = 10 mm) Frequenzbereich max. 1 GHz Vorwärtsleistung max. 100 W Leitungsimpedanz HF in 50 Ω Abschlussimpedanz HF in Leerlauf Anschluss HF in N-Connector (50 Ω) Interne Spannungsmessung Messausgang Spannungskorrekturfaktor 5 kω 50 Ω (SMB) 60 db Die Feldquelle P1501 wird zusammen mit einem HF-Generator und einem Leistungsverstärker betrieben. Achtung: Der größte Teil der eingespeisten Leistung wird von der Feldquelle reflektiert (keine 50 Ω Anpassung). Der eingesetzte Leistungsverstärker muss dafür ausgelegt sein. Die Feldquelle besitzt intern einen Spannungsmesser. Mit dem Spannungsmesser kann die HF-Spannung und die entsprechende elektrische Feldstärke gemessen werden. Das Meßsignal ist auf eine SMB Buchse nach außen geführt.

34 P HF-Störfestigkeit - feldgebunden Seite 34 HF H-Feld Einkopplung Die Feldquelle P1402 erzeugt ein HF- Magnetfeld H(t) und dient zur Bestimmung der Störfestigkeit gegen direkte Einkopplung von magnetischen HF-Feldern in ICs, insbesondere bei hochpoligen ICs. Im Vergleich zur Feldquelle P1401 wurde der Frequenzbereich von 1 GHz auf 3 GHz erweitert. Die Feldquelle wird mittels Distanzring in einem definierten Abstand (3 bzw. 10 mm) über dem IC angeordnet. - Generierung des HF-Magnetfeldes durch eine Stromschleife - Erzeugung von großen Feldstärken B max = 69 µt B max = 35 µt (h = 3 mm) (h = 10 mm) Frequenzbereich max. 3 GHz )* Vorwärtsleistung max. 100 W Leitungsimpedanz HF in 50 Ω Abschlussimpedanz HF in Kurzschluss Anschluss HF in N-Connector (50 Ω) Shunt für Strommessung Messausgang Stromkorrekturfaktor R 0,1 Ω 50 Ω (SMB) 26 dbω i [dbµa] = u[dbµv] - R[dBΩ] )* oberhalb 2 GHz verringerte E-Feldunterdrückung Die Feldquelle P1402 wird zusammen mit einem HF-Generator und einem Leistungsverstärker betrieben. Achtung: Der größte Teil der eingespeisten Leistung wird von der Feldquelle reflektiert (keine 50 Ω Anpassung). Der eingesetzte Leistungsverstärker muss dafür ausgelegt sein. Die Feldquelle besitzt intern einen 0,1 Ohm Shunt. Mit dem Shunt kann der HF-Strom gemessen werden. Das Meßsignal ist auf eine SMB Buchse nach außen geführt.

35 P HF-Störfestigkeit - feldgebunden Seite 35 HF E-Feld Einkopplung Die Feldquelle P1502 erzeugt ein elektrisches HF-Feld E(t) und dient zur Bestimmung der Störfestigkeit gegen direkte Einkopplung von elektrischen HF-Feldern in ICs, insbesondere bei hochpoligen ICs. Die Feldquelle wird mittels Distanzring in einem definierten Abstand (3 bzw. 10 mm) über dem IC angeordnet. - Generierung des HF-E-Feldes durch eine Elektrode - Erzeugung von großen Feldstärken E max = 47 kv/m E max = 14 kv/m (h = 3 mm) (h = 10 mm) Frequenzbereich max. 3 GHz Vorwärtsleistung max. 100 W Leitungsimpedanz HF in 50 Ω Abschlussimpedanz HF in Leerlauf Anschluss HF in N-Connector (50 Ω) Messprinzip des internen Spannungsmessers du / dt Messausgang Spannungskorrekturfunktion 50 Ω (SMB) -20 log ω db Die Feldquelle P1502 wird zusammen mit einem HF-Generator und einem Leistungsverstärker betrieben. Achtung: Der größte Teil der eingespeisten Leistung wird von der Feldquelle reflektiert (keine 50 Ω Anpassung). Der eingesetzte Leistungsverstärker muss dafür ausgelegt sein. Die Feldquelle besitzt intern einen differentiellen Spannungsmesser. Aus den Messwerten kann mit der Korrekturfunktion die HF-Spannung und die entsprechende elektrische Feldstärke berechnet werden. Das Meßsignal ist auf eine SMB Buchse nach außen geführt.

36 IC Test System 3.9 HF-Störaussendung - feldgebunden Seite 36 Messungen : Feldquelle Messaufbau bestehend aus: - Feldquelle - Spektrumanalysator - GND-Plane (ICE1) - Oszilloskop-Adapter OA 4005 (ICE1) - Connection Board CB 0708 (ICE1) - PC mit Software ChipScan-ESA

37 P HF-Störaussendung - feldgebunden Seite 37 HF H-Feld Messung Die Feldquelle P1602 dient der HF-Messung magnetischer Nahfelder (H-Feld) über dem IC. Die von der Feldquelle gemessene Spannung ist ein Maß für die Aussendungsanregung des IC über das magnetische Feld. Die Feldquelle wird mittels Distanzring in einem definierten Abstand (3 bzw. 10 mm) über dem IC angeordnet. Die Feldquelle besitzt einen 50 Ω HF- Messausgang, der mit einer Schleife zur Messung des magnetischen Feldes verbunden ist. Die Schleife ist mittels der Feldquelle drehbar und höhenverstellbar. Allgemeine Kennlinie: Frequenzbereich max. 2 GHz Leitungsimpedanz HF out 50 Ω Anschluss HF out N-Connector (50 Ω) Größe der H-Feld-Schleife 40 mm x 22 mm Die Feldquelle P1602 wird zusammen mit einem Spektrumanalysator oder Messempfänger verwendet.

38 P HF-Störaussendung - feldgebunden Seite 38 HF E-Feld Messung Die Feldquelle P1702 dient der HF-Messung elektrischer Nahfelder (E-Feld) über dem IC. Die von der Feldquelle gemessene Spannung ist ein Maß für die Aussendungsanregung des IC über das elektrische Feld. Die Feldquelle wird mittels Distanzring in einem definierten Abstand (3 bzw. 10 mm) über dem IC angeordnet. Die Feldquelle besitzt einen 50 Ω HF- Messausgang, der mit einer Elektrode zur Messung des elektrischen Feldes verbunden ist. Die Elektrode ist mittels der Feldquelle höhenverstellbar. Allgemeine Kennlinie: Frequenzbereich max. 3 GHz Leitungsimpedanz HF out 50 Ω Anschluss HF out N-Connector (50 Ω) Größe der E-Feld-Elektrode Ø 42 mm Die Feldquelle P1702 wird zusammen mit einem Spektrumanalysator oder Messempfänger verwendet.

Pos. Bestandteile Stck Bestellbezeichnung Groundplane (Aussparung 100 x 100 mm) 1 GND 25

Pos. Bestandteile Stck Bestellbezeichnung Groundplane (Aussparung 100 x 100 mm) 1 GND 25 ICE 2.2 Bestandteile Seite 5 Pos. Bestandteile Stck Bestellbezeichnung Groundplane (Aussparung 00 x 00 mm) Connection Board - wird von unten in die Ground-Plane eingesetzt CB 0708 Mit unterschiedliche

Mehr

Versuch 3: Kennlinienfeld eines Transistors der Transistor als Stromverstärker

Versuch 3: Kennlinienfeld eines Transistors der Transistor als Stromverstärker Bergische Universität Wuppertal Praktikum Fachbereich E Werkstoffe und Grundschaltungen Bachelor Electrical Engineering Univ.-Prof. Dr. T. Riedl WS 20... / 20... Hinweis: Zu Beginn des Praktikums muss

Mehr

20 JAHRE. IT 8700-Serie. Elektronische DC-.Lasten. 200 W - 600 W Modular

20 JAHRE. IT 8700-Serie. Elektronische DC-.Lasten. 200 W - 600 W Modular 20 JAHRE IT 8700-Serie Elektronische DC-.Lasten 200 W - 600 W Modular 1 Elektronische DC-.Lasten IT 8700-Serie 200 W - 600 W Modular IT 8733, 80 V / 120 A / 600 W Besondere Merkmale CC-/CV-/CR - Betriebsarten

Mehr

1 Leistungselektronik RCStep542

1 Leistungselektronik RCStep542 1 Leistungselektronik RCStep542 Abbildung 1: Ansicht der Steuerung Die Leistungselektronik RCStep542 ist das Bindeglied zwischen der Handsteuerung Rotary- Control und dem Rundteiltisch mit verbautem Schrittmotor.

Mehr

Versuch Nr.5. Simulation von leitungsgebundenen Störungen

Versuch Nr.5. Simulation von leitungsgebundenen Störungen Versuch Nr.5 Simulation von leitungsgebundenen Störungen 1 Aufgabenstellung 1.1 Kontrolle des Aufbaus der Prüf- und Messgeräte 1.2 Anschluss der Prüfling (EUT) 1.3 Anschluss und Überprüfung der Sicherheitskreise

Mehr

3.Transistor. 1 Bipolartransistor. Christoph Mahnke 27.4.2006. 1.1 Dimensionierung

3.Transistor. 1 Bipolartransistor. Christoph Mahnke 27.4.2006. 1.1 Dimensionierung 1 Bipolartransistor. 1.1 Dimensionierung 3.Transistor Christoph Mahnke 7.4.006 Für den Transistor (Nr.4) stand ein Kennlinienfeld zu Verfügung, auf dem ein Arbeitspunkt gewählt werden sollte. Abbildung

Mehr

Messwandlerzange MDS-21, Ferritzange EZ-24

Messwandlerzange MDS-21, Ferritzange EZ-24 Version 06.00 Messwandlerzange MDS-21, Ferritzange EZ-24 Juli 2007 Funkstörleistungsmessung auf und Schirmdämpfungsmessung von Leitungen Reproduzierbare Funkstörfeldstärke und Funkstörleistungsmessung

Mehr

1 Allgemeine Angaben. 2 Vorbereitungen. Gruppen Nr.: Name: Datum der Messungen: 1.1 Dokumentation

1 Allgemeine Angaben. 2 Vorbereitungen. Gruppen Nr.: Name: Datum der Messungen: 1.1 Dokumentation 1 Allgemeine Angaben Gruppen Nr.: Name: Datum der Messungen: 1.1 Dokumentation Dokumentieren Sie den jeweiligen Messaufbau, den Ablauf der Messungen, die Einstellungen des Generators und des Oscilloscopes,

Mehr

Wellenwiderstands- und Reexionsmessgerät TDR 3000

Wellenwiderstands- und Reexionsmessgerät TDR 3000 Wellenwiderstands- und Reexionsmessgerät TDR 3000 Wellenwiderstands- und Reexionsmessgerät TDR 3000 ˆ Handliches Wellenwiderstands-Messgerät nach dem Verfahren der Time-Domain-Reectometrie (TDR) ˆ Integrierter

Mehr

Temperaturmeßumformer für PT100 MCR-SL-PT100-...-DC-24

Temperaturmeßumformer für PT100 MCR-SL-PT100-...-DC-24 Temperaturmeßumformer für PT00 MCR-SL-PT00-...-DC-. Beschreibung Die MCR-SL-PT00-Temperaturmeßumformer setzen die Meßwerte des PT00-Sensors (IEC 5/EN 605) in elektrisch genormte Analog-Signale um. Der

Mehr

Dienstleistungen EMV-Labor

Dienstleistungen EMV-Labor Eidgenössisches Institut für Metrologie METAS CH-3003 Bern-Wabern, 30. Juni 2015 en EMV-Labor Gültig ab: 01.07.2015 Im Labor für elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) kalibrieren wir Messhilfsmittel

Mehr

MSM Erweiterungsmodule

MSM Erweiterungsmodule MSM Erweiterungsmodule Transistor- und Relaismodule für Störmelder der MSM-Produktfamilie 03.07.2009 Freie Zuordnung der Ausgangsgruppen der Erweiterungsmodule zu den Eingangsgruppen des Störmelders Steuerung

Mehr

Erweiterung Prüfinstitut im Bereich Elektronik/Mechatronik

Erweiterung Prüfinstitut im Bereich Elektronik/Mechatronik Gefördert durch Erweiterung Prüfinstitut im Bereich Elektronik/Mechatronik Im Rahmen des Förderprogramms RegioCluster.NRW 2008 RC 005 Cluster Schließen, Sichern & Beschlag haben wir unser Prüfinstitut

Mehr

Das Oszilloskop. TFH Berlin Messtechnik Labor Seite 1 von 5. Datum: 05.01.04. von 8.00h bis 11.30 Uhr. Prof. Dr.-Ing.

Das Oszilloskop. TFH Berlin Messtechnik Labor Seite 1 von 5. Datum: 05.01.04. von 8.00h bis 11.30 Uhr. Prof. Dr.-Ing. TFH Berlin Messtechnik Labor Seite 1 von 5 Das Oszilloskop Ort: TFH Berlin Datum: 05.01.04 Uhrzeit: Dozent: Arbeitsgruppe: von 8.00h bis 11.30 Uhr Prof. Dr.-Ing. Klaus Metzger Mirko Grimberg, Udo Frethke,

Mehr

Quanton Manual (de) Datum: 20.06.2013 URL: http://wiki:8090/pages/viewpage.action?pageid=9928792 )

Quanton Manual (de) Datum: 20.06.2013 URL: http://wiki:8090/pages/viewpage.action?pageid=9928792 ) Datum: 20.06.2013 URL: http://wiki:8090/pages/viewpage.action?pageid=9928792 ) Inhaltsverzeichnis 1 quanton flight control rev. 1 3 1.1 Anschlüsse für Peripheriegeräte 3 1.1.1 Eingänge / Ausgänge 3 1.1.2

Mehr

Störströme führen über Impedanzen zur Funkstörspannung. Abbildung 1 zeigt den prinzipiellen Stromfluss von Störströmen in einem Schaltnetzteil.

Störströme führen über Impedanzen zur Funkstörspannung. Abbildung 1 zeigt den prinzipiellen Stromfluss von Störströmen in einem Schaltnetzteil. Von Stefan Klein 1. Motivation zum Netzfilter Schaltnetzteile führen zu leitungsgebundenen Störungen, weil sie auf der Netzseite eine Funkstörspannung erzeugen. Dadurch können andere am Netz versorgte

Mehr

Kopplungsnetzwerke ENY21 und ENY41

Kopplungsnetzwerke ENY21 und ENY41 Version 04.00 Kopplungsnetzwerke ENY21 und ENY41 August 2008 Für Störaussendungs- und Störfestigkeitsmessungen an ungeschirmten, symmetrischen Telekommunikationsschnittstellen Vierdraht- und Zweidraht-Netzwerke

Mehr

HAUSHALT UND GEWERBE ZMD110AR - ZMD120AR TECHNISCHE DATEN. Frequenz. Messgenauigkeit. Messverhalten. Betriebsverhalten Spannung.

HAUSHALT UND GEWERBE ZMD110AR - ZMD120AR TECHNISCHE DATEN. Frequenz. Messgenauigkeit. Messverhalten. Betriebsverhalten Spannung. Elektrizitätszähler IEC HAUSHALT UND GEWERBE Dialog ZMD110AR - ZMD120AR TECHNISCHE DATEN Kurzschluss 10 ms 10'000 A Frequenz Nennfrequenz fn 50 oder 60 Hz Toleranz ± 2 % Messgenauigkeit Genauigkeit ZMD110AR

Mehr

Laborübung: Oszilloskop

Laborübung: Oszilloskop Laborübung: Oszilloskop Die folgenden Laborübungen sind für Studenten gedacht, welche wenig Erfahrung im Umgang mit dem Oszilloskop haben. Für diese Laborübung wurde eine Schaltung entwickelt, die verschiedene

Mehr

Transferstelle für. Leiter: Prof. Dr. Karl-Josef Mürtz

Transferstelle für. Leiter: Prof. Dr. Karl-Josef Mürtz Transferstelle für Elektromagnetische Verträglichkeit Leiter: Prof. Dr. Karl-Josef Mürtz Die EMV-Transferstelle wurde vom Ministerium i i für Wirtschaft, Verkehr, Landwirtschaft und Weinbau des Landes

Mehr

EMV- Dimensionierung von Steckverbinderen gegen Burst und ESD-Störungen

EMV- Dimensionierung von Steckverbinderen gegen Burst und ESD-Störungen EMV- Dimensionierung von Steckverbinderen gegen Burst und ESD-Störungen von Gunter Langer, LANGER EMV-Technik GmbH Kontakt: langer@langer-emv.de 1 Zielstellung Wie müssen Steckverbinder ausgelegt werden,

Mehr

Versuch 14: Transistor

Versuch 14: Transistor Versuch 14: Transistor Transistoren werden sowohl als Schalter (in der Digitaltechnik) als auch als Verstärker betrieben. Hier sollen die Grundlagen des Transistors als Verstärkerelement erlernt werden,

Mehr

Wie man sich mit einem kleinen Kästchen ( 35x 55 mm) 6 Wochen beschäftigen kann!

Wie man sich mit einem kleinen Kästchen ( 35x 55 mm) 6 Wochen beschäftigen kann! Wie man sich mit einem kleinen Kästchen ( 35x 55 mm) 6 Wochen beschäftigen kann! Nach mehreren Aufbauten von Vorverstärkern für 2m und 70 cm sollten nun auch die Parameter dieser Verstärker gemessen werden.

Mehr

Optischer Rückkanalempfänger SEO 120

Optischer Rückkanalempfänger SEO 120 Optischer Rückkanalempfänger SEO 120 Erz.-Nr. 88650359 Systembeschreibung INHALTSVERZEICHNIS 1 DOKUMENT UND ÄNDERUNGSSTÄNDE 3 2 EINLEITUNG 4 3 TECHNISCHE BESCHREIBUNG 4 4 TECHNISCHE DATEN 6 4.1 Systemdaten

Mehr

Draft. ALS 110 NAi Anstrahlleuchte. Datenblatt

Draft. ALS 110 NAi Anstrahlleuchte. Datenblatt Datenblatt ALS 110 NAi Anstrahlleuchte wartungsfreie LED-Technologie für gleichmäßige Anstrahlung der inversen Beschriftung Stromversorgung und Kommunikation über standardisierte NAi-Bus-Schnittstelle

Mehr

A p p l i c a t i o n N o t e

A p p l i c a t i o n N o t e Robustes Design von USB Anwendungen Die USB-Schnittstelle ist wohl die am weitest verbreitete PC-Schnittstelle der Welt. Auch in Industrieanwendungen ist sie mittlerweile nicht mehr wegzudenken. Zeit,

Mehr

Entwurfsrichtlinien für elektronische Baugruppen unter EMV - Aspekten. Schaltungsdesign Prof. Redlich

Entwurfsrichtlinien für elektronische Baugruppen unter EMV - Aspekten. Schaltungsdesign Prof. Redlich Entwurfsrichtlinien für elektronische Baugruppen unter EMV - Aspekten Schaltungsdesign Prof. Redlich EMV in Verdrahtung und Layout Ziel: ist der Entwurf elektronischer Baugruppen, die sich durch Funktionssicherheit

Mehr

Vervollständigen Sie das Schema mit Stromversorgung und Widerstandsmessgerät!

Vervollständigen Sie das Schema mit Stromversorgung und Widerstandsmessgerät! Übungen Elektronik Versuch 1 Elektronische Bauelemente In diesem Versuch werden die Eigenschaften und das Verhalten nichtlinearer Bauelemente analysiert. Dazu werden die Kennlinien aufgenommen. Für die

Mehr

EMV-Eigenschaften von Treiberbausteinen und Entstörkomponenten beim High Speed CAN- Bus auf Schnittstellenebene

EMV-Eigenschaften von Treiberbausteinen und Entstörkomponenten beim High Speed CAN- Bus auf Schnittstellenebene EMV-Eigenschaften von Treiberbausteinen und Entstörkomponenten beim High Speed CAN- Bus auf Schnittstellenebene. Einordnung und Zielstellung Das EMV-Verhalten eines CAN-Bus-Systems im Kfz wird von einer

Mehr

ADQ-10-Serie. Digital-I/O-Karte mit 16 isolierten Digital-Eingängen, 16 isolierten Digital-Ausgängen und 16 TTL-Digital-I/Os. alldaq.

ADQ-10-Serie. Digital-I/O-Karte mit 16 isolierten Digital-Eingängen, 16 isolierten Digital-Ausgängen und 16 TTL-Digital-I/Os. alldaq. 16 isolierte Digital-Eingänge CompactPCI-Interface PCI-Express-Modell 16 isolierte Digital-Ausgänge 37-pol. Sub-D-Buchse Isolierte Eingänge mit Interrupt-Funktion 16 TTL-Digital-I/Os ADQ-10-Serie Adapterkabel

Mehr

QUINT-PS-3X400-500AC/24DC/10

QUINT-PS-3X400-500AC/24DC/10 Bitte beachten Sie, dass die hier angegebenen Daten dem Online-Katalog entnommen sind. Die vollständigen Informationen und Daten entnehmen Sie bitte der Anwenderdokumentation unter http://www.download.phoenixcontact.de.

Mehr

Rotative Messtechnik. Absolute Singleturn Drehgeber in Wellenausführung

Rotative Messtechnik. Absolute Singleturn Drehgeber in Wellenausführung Höchste Schockfestigkeit am Markt ( 2500 m/s 2, 6 ms nach DIN IEC 68-2-27) SSI, Parallel- oder Stromschnittstelle Teilungen: bis zu 16384 (14 Bit), Singleturn ø 58 mm Wellenausführung IP 65 Zahlreiche

Mehr

Allgemeine Beschreibung

Allgemeine Beschreibung (48VDC / 2,5A) HARTING pcon 2120 Vorteile Allgemeine Beschreibung Kompakte Bauform und hohe Leistungsdichte Einfache Montage und werkzeuglose Schnellanschlusstechnik Weltweiter Einsatz durch Weitbereichseingang

Mehr

Funkentstörung von Schaltnetzteilen

Funkentstörung von Schaltnetzteilen Seite 35 Funkentstörung von Schaltnetzteilen Schaltnetzteile erzeugen infolge ihrer hochfrequenten Taktung Funkstörungen. Diese breiten sich mittels elektromagnetischer Felder im freien Raum, und leitungsgebunden

Mehr

Vorlesung EMV/EMVU RWTH Aachen Teil EMV2 Welche Prüfungen muss mein Gerät bestehen? - EMV Messverfahren -

Vorlesung EMV/EMVU RWTH Aachen Teil EMV2 Welche Prüfungen muss mein Gerät bestehen? - EMV Messverfahren - Vorlesung EMV/EMVU RWTH Aachen Teil EMV2 Welche Prüfungen muss mein Gerät bestehen? - EMV Messverfahren - Dr. Christian Bornkessel, bornkessel@imst.de Was Die wichtigsten wird geprüft? Störfestigkeitsprüfungen

Mehr

Versuch 3: (1) Ausbreitung von Burstfeldern - leitungsgeführt u. Verschiebungsstrom (2) Filtermaßnahmen gegen Burstimpulse auf Leiterplatten

Versuch 3: (1) Ausbreitung von Burstfeldern - leitungsgeführt u. Verschiebungsstrom (2) Filtermaßnahmen gegen Burstimpulse auf Leiterplatten Versuch 3: (1) Ausbreitung von Burstfeldern - leitungsgeführt u. Verschiebungsstrom (2) Filtermaßnahmen gegen Burstimpulse auf Leiterplatten Aufgabenblatt (1.1) 1a) Versuchsaufbau Ziel des Versuches: -

Mehr

Mobile Mess-Systeme. Multi-Handy 3050 der Einstieg in die Systemtechnik

Mobile Mess-Systeme. Multi-Handy 3050 der Einstieg in die Systemtechnik Mobile Mess-Systeme Multi-Handy 3050 der Einstieg in die Systemtechnik Das Spitzengerät unserer Multi-Handy Familie bietet selbstverständlich alle Eigenschaften und Funktionen, die Messtechniker von mobilen

Mehr

Richtlinie und Erklärung des Herstellers Elektromagnetische Emissionen und Störfestigkeit

Richtlinie und Erklärung des Herstellers Elektromagnetische Emissionen und Störfestigkeit Richtlinie und Erklärung des Herstellers Elektromagnetische Emissionen und Störfestigkeit Seite S8 und S8 Serie II / VPAP Serie III 1 3 S9 Serie 4 6 VPAP Tx 7 9 Richtlinie und Erklärung des Herstellers

Mehr

Breitbandverstärker. Samuel Benz. Laborbericht an der Fachhochschule Zürich. vorgelegt von. Leiter der Arbeit: B. Obrist Fachhochschule Zürich

Breitbandverstärker. Samuel Benz. Laborbericht an der Fachhochschule Zürich. vorgelegt von. Leiter der Arbeit: B. Obrist Fachhochschule Zürich Breitbandverstärker Laborbericht an der Fachhochschule Zürich vorgelegt von Samuel Benz Leiter der Arbeit: B. Obrist Fachhochschule Zürich Zürich, 7. Juni 2003 Samuel Benz Inhaltsverzeichnis Vorgaben.

Mehr

BK 600 Optischer Rückkanalempfänger SEO 121

BK 600 Optischer Rückkanalempfänger SEO 121 Funea Broadband Services bv BK 600 Optischer Rückkanalempfänger Gouden Rijderstraat 1 Postbus 57 4900 AB Oosterhout T: +31 (0) 162 475 800 F: + 31(0) 162 455 751 E: info@funea.com I : www.funea.com hr

Mehr

Berührungsloser Drehzahlsensor FAJ11 mit Signalverstärker, induktiv-magnetisches Prinzip

Berührungsloser Drehzahlsensor FAJ11 mit Signalverstärker, induktiv-magnetisches Prinzip erührungsloser Drehzahlsensor FJ11 mit Signalverstärker, induktiv-magnetisches Prinzip btastart: erührungslos Ferromagnetische Stoffe Richtungsunabhängig Frequenzbereich: Siehe Diagramm; 5 Hz...10.000

Mehr

EMV Praxisseminar. EN 61000-4-4 Burst Prüfung geplante Revision Störfestigkeitsprüfverfahren für breitbandige Störgrößen

EMV Praxisseminar. EN 61000-4-4 Burst Prüfung geplante Revision Störfestigkeitsprüfverfahren für breitbandige Störgrößen EN 61000-4-4 Burst Prüfung geplante Revision Störfestigkeitsprüfverfahren für breitbandige Störgrößen 1 Autorinformationen Herr Dipl. Ing. Harald Kunkel - Entwicklungsleiter der Firma EM TEST - war selbst

Mehr

Schaltnetzteile HARTING pcon 7095-24A / pcon 7095-24B

Schaltnetzteile HARTING pcon 7095-24A / pcon 7095-24B Schaltnetzteil HARTING pcon 7095-4A / pcon 7095-4B Vorteile Hohe Schutzart IP 65 / 67 Robustes Metallgehäuse pulverlackiert Weltweiter Einsatz durch Weitbereichseingang Großer Betriebstemperaturbereich

Mehr

Übungsaufgaben zum 2. Versuch. Elektronik 1 - UT-Labor

Übungsaufgaben zum 2. Versuch. Elektronik 1 - UT-Labor Übungsaufgaben zum 2. Versuch Elektronik 1 - UT-Labor Bild 2: Bild 1: Bild 4: Bild 3: 1 Elektronik 1 - UT-Labor Übungsaufgaben zum 2. Versuch Bild 6: Bild 5: Bild 8: Bild 7: 2 Übungsaufgaben zum 2. Versuch

Mehr

Singleturn-Absolutwertdrehgeber FHS 58. 13-Bit-Singleturn. Ausgabecode: Gray, Gray-Excess, Binär und BCD. Kurzschlussfeste Gegentaktendstufe

Singleturn-Absolutwertdrehgeber FHS 58. 13-Bit-Singleturn. Ausgabecode: Gray, Gray-Excess, Binär und BCD. Kurzschlussfeste Gegentaktendstufe 13-Bit-Singleturn Ausgabecode: Gray, Gray-Excess, Binär und BCD Kurzschlussfeste Gegentaktendstufe Eingänge für Zählrichtungsauswahl, LATCH und TRISTATE Codewechselfrequenz bis zu 400 khz Alarmausgang

Mehr

1090/606 4 Kanal-Video-Umschalter

1090/606 4 Kanal-Video-Umschalter MV006500 / 10-2008 Allgemeines 1090/606 4 Kanal-Video-Umschalter Der Umschalter 1090/606, ist ein hochwertiger Mikroprozessor gesteuerter Video-Umschalter, der geeignet ist bis zu vier Kameras oder Videosignale

Mehr

2-Kanal-Oszilloskop CS-4128

2-Kanal-Oszilloskop CS-4128 2-Kanal-Oszilloskop CS-4128 Best.Nr. 830 123 Pollin Electronic GmbH Tel. 08403/920-920 www.pollin.de 1. Kurze Einleitung Das Zweikanal-Oszilloskop CS-4128 ist ein tragbares Zweikanal Gerät mit einer Bandbreite

Mehr

STAND-ALONE -SYSTEMS

STAND-ALONE -SYSTEMS Typenbezeichnung HPS 00 Wall 4/48/60V - 00A HPS 400 Floor 4/48/60V-400A HPS 760 mit BVS 800 4/48/60V-760A Verbraucherverteilung integriert integriert in BVS 800 Gleichrichtergerät HR 300 / HR 400 HR 300

Mehr

Serie 49 - Koppel-Relais 8-10 - 16 A

Serie 49 - Koppel-Relais 8-10 - 16 A Koppelrelais, 1 oder 2 Wechsler, 15,5 mm breit mit integrierter EMV-Spulenbeschaltung Spulen für AC, DC und DC sensitiv, 500 mw Sichere Trennung zwischen Spule und Kontaktsatz nach VDE 0106, EN 50178,

Mehr

INSTITUT FÜR MIKROELEKTRONIK JOHANNES KEPLER UNIVERSITÄT LINZ. Praktikum Elektrotechnik SS 2006. Protokoll. Übung 1 : Oszilloskop

INSTITUT FÜR MIKROELEKTRONIK JOHANNES KEPLER UNIVERSITÄT LINZ. Praktikum Elektrotechnik SS 2006. Protokoll. Übung 1 : Oszilloskop INSTITUT FÜR MIKROELEKTRONIK JOHANNES KEPLER UNIVERSITÄT LINZ Praktikum Elektrotechnik SS 2006 Protokoll Übung 1 : Oszilloskop Gruppe: Protokollführer / Protokollführerin: Unterschrift: Mitarbeiter / Mitarbeiterin:

Mehr

PRÜFBERICHT Nr. 2004-875-1446-CT6D 08 March, 2004

PRÜFBERICHT Nr. 2004-875-1446-CT6D 08 March, 2004 Reg.-Nr.: DAT-P-033/93-02 PRÜFBERICHT Nr. 2004-875-1446-CT6D 08 March, 2004 Übertragungseigenschaften der Verbindungstechnik Standard : - ISO/IEC 11801: 2002-09 - EN 50173-1: 2002 - TIA/EIA-568-B.2-1 (Juni

Mehr

Mobiles Mess-System Multi-Handy 2020

Mobiles Mess-System Multi-Handy 2020 Mobiles Mess-System Multi-Handy 2020 Multi-Handy mehr als nur ein Einstieg (ab Seite 10) Die Produkte der Multi-Handy Familie sind für den unkomplizierten Einsatz vor Ort konzipiert. Exakte Datenerfassung,

Mehr

Aufgabenbeschreibung Oszilloskop und Schaltkreise

Aufgabenbeschreibung Oszilloskop und Schaltkreise Aufgabenbeschreibung Oszilloskop und Schaltkreise Vorbereitung: Lesen Sie den ersten Teil der Versuchsbeschreibung Oszillograph des Anfängerpraktikums, in dem die Funktionsweise und die wichtigsten Bedienungselemente

Mehr

Messinstrumente im physikalischen Grundpraktikum. Folien: Dr. Th. Kirn, Vortragender: R. Greim. I. Physikalisches Institut B

Messinstrumente im physikalischen Grundpraktikum. Folien: Dr. Th. Kirn, Vortragender: R. Greim. I. Physikalisches Institut B Messinstrumente im physikalischen Grundpraktikum Folien: Dr. Th. Kirn, Vortragender: R. Greim I. Physikalisches Institut B Messinstrumente im physikalischen Grundpraktikum Strommessung Sensor Cassy Spannungsmessung

Mehr

ISIO 200. Binäre Ein-/Ausgangs-Baugruppe mit IEC 61850 GOOSE Interface

ISIO 200. Binäre Ein-/Ausgangs-Baugruppe mit IEC 61850 GOOSE Interface ISIO 200 Binäre Ein-/Ausgangs-Baugruppe mit IEC 61850 GOOSE Interface Kompakt und einfach ISIO 200 Binäre Ein-/Ausgänge überall, wo sie benötigt werden ISIO 200 ist eine einfache und vielseitige binäre

Mehr

Elektrische Stellantriebe, Eingangssignal 3-Punkt-Schritt AMV 13 SU, AMV 23 SU (ziehend)

Elektrische Stellantriebe, Eingangssignal 3-Punkt-Schritt AMV 13 SU, AMV 23 SU (ziehend) Elektrische Stellantriebe, Eingangssignal 3-Punkt-Schritt AMV 13 SU, AMV 23 SU (ziehend) Beschreibung, Anwendung AMV 13 SU AMV 23 SU Die elektrischen Stellantriebe mit Sicherheitsfunktion werden zusammen

Mehr

HAMEG EMV-Messtechnik

HAMEG EMV-Messtechnik HAMEG EMV-Messtechnik Wer innerhalb des EWR (Europäischer Wirtschaftsraum) ein elektrisches oder elektronisches Gerät in Verkehr bringt ist verpflichtet, die Bestimmungen der EMV-Richtlinie einzuhalten,

Mehr

Montage. Montage. Auf DIN-Hutschiene 35 mm (EN50022) Einbaulage beliebig Betriebsspannung Un Stromaufnahme Leistungsaufnahme.

Montage. Montage. Auf DIN-Hutschiene 35 mm (EN50022) Einbaulage beliebig Betriebsspannung Un Stromaufnahme Leistungsaufnahme. Datenblatt www.sbc-support.com S-Puls Zähler mit S-Bus Schnittstelle Das S S-Bus Kopplermodul ist ein Gerät zur Erfassung von S-Pulsen. Mit diesem Modul können Verbrauchsdaten jeglicher Messgeräte mit

Mehr

Dipl.-Ing. Peter Zeh VDI Laborversuche Elektronik HTW Berlin 2014-03-12. Transistor

Dipl.-Ing. Peter Zeh VDI Laborversuche Elektronik HTW Berlin 2014-03-12. Transistor Name, Vorname Signum Datum: 1. Studiengang: B2GEIT 2. Gruppe: 3. Anlagenverzeichnis: Note: 1. Lernziele Arbeitspunkteinstellung am, dynamisches Verhalten von Verstärkerstufen, Ursachen für nichtlineare

Mehr

Gruppe: 1/8 Versuch: 4 PRAKTIKUM MESSTECHNIK VERSUCH 5. Operationsverstärker. Versuchsdatum: 22.11.2005. Teilnehmer:

Gruppe: 1/8 Versuch: 4 PRAKTIKUM MESSTECHNIK VERSUCH 5. Operationsverstärker. Versuchsdatum: 22.11.2005. Teilnehmer: Gruppe: 1/8 Versuch: 4 PRAKTIKUM MESSTECHNIK VERSUCH 5 Operationsverstärker Versuchsdatum: 22.11.2005 Teilnehmer: 1. Vorbereitung 1.1. Geräte zum Versuchsaufbau 1.1.1 Lawinendiode 1.1.2 Photomultiplier

Mehr

Hardwarehandbuch USB - RS232 - Mediacontroller - Translator

Hardwarehandbuch USB - RS232 - Mediacontroller - Translator Hardwarehandbuch USB - RS232 - Mediacontroller - Translator Version 2013.02 EG-Konformitätserklärung Für folgende Erzeugnisse IRTrans USB IRTrans RS232 IRTrans IR Busmodul IRTrans Translator / XL IRTrans

Mehr

Elektromagnetische Verträglichkeit Versuch 1

Elektromagnetische Verträglichkeit Versuch 1 Fachhochschule Osnabrück Labor für Elektromagnetische Verträglichkeit Elektromagnetische Verträglichkeit Versuch 1 Kopplungsmechanismen auf elektrisch kurzen Leitungen Versuchstag: Teilnehmer: Testat:

Mehr

Analoges Verstärkermodul. Typ VT-MSPA1-1, VT-MSPA1-10, VT-MSPA1-11. Merkmale. Inhalt. RD 30223 Ausgabe: 2013-01 Ersetzt: 02.12.

Analoges Verstärkermodul. Typ VT-MSPA1-1, VT-MSPA1-10, VT-MSPA1-11. Merkmale. Inhalt. RD 30223 Ausgabe: 2013-01 Ersetzt: 02.12. Analoges Verstärkermodul Typ VT-MSPA1-1, VT-MSPA1-10, VT-MSPA1-11 RD 30223 Ausgabe: 2013-01 Ersetzt: 02.12 Geräteserie 1X H6833_d Merkmale Inhalt Geeignet zur Ansteuerung von direktgesteuerten Proportional-Druckventilen:

Mehr

Leiterplattendesign bezüglich Burst und Surge.

Leiterplattendesign bezüglich Burst und Surge. Leiterplattendesign bezüglich Burst und Surge. Fachvortrag 23. März 2010 André Trabold montena emc ag Route de Montena 75 CH - 1728 Rossens Tel. +41 26 411 93 33 Fax +41 26 411 93 30 office.emc@montena.com

Mehr

INNOVO VARIO. INNOVO VARIO // Datenblatt

INNOVO VARIO. INNOVO VARIO // Datenblatt INNOVO VARIO INNOVO VARIO // Datenblatt Vermessung 1. USB 2.0 8. Spannungsversorgung DC 24 Volt (Filter) 2. DVI-I Anschluss 9. Spannungsversorgung 12 36Volt DC 3. Sub-D9 (male) 4. USB 2.0 5. Gigabit Ethernet

Mehr

WCDMA-3GPP-Applikationsfirmware R&S FS-K72/-K73

WCDMA-3GPP-Applikationsfirmware R&S FS-K72/-K73 WCDMA-3GPP-Applikationsfirmware R&S FS-K72/-K73 3GPP-Sendermessungen an Basisstationen und Modulen mit dem Signalanalysator R&S FSQ und den Spektrumanalysatoren R&S FSU und R&S FSP Erweiterung der Analysator-Familien

Mehr

EMV in der Kfz-Technik

EMV in der Kfz-Technik EMV in der Kfz-Technik Technical Meeting IEEE EMC Austria Chapter EMV-Prüfzentrum Seibersdorf Seibersdorf Labor GmbH http://www.seibersdorf-laboratories.at Folie 1 Wechselwirkung Fahrzeug mit Umgebung

Mehr

für POSIDRIVE FDS 4000

für POSIDRIVE FDS 4000 AS-Interface Ankopplung für Frequenzumrichter POSIDRIVE FDS 4000 Dokumentation Vor der Inbetriebnahme unbedingt diese Dokumentation, sowie die Montage- und Inbetriebnahmeanleitung für POSIDRIVE FDS 4000

Mehr

Störmelder mit internem Wählmodem

Störmelder mit internem Wählmodem Störmelder mit internem Wählmodem Störmeldung und Steuerung per SMS Alarm- und Störmeldungen auf Handy oder Fax optional als E-Mail oder City-Ruf Steuerung per SMS für Störmelder mit GSM-Modem optional

Mehr

DKD Kalibrierlabor Akkreditiertes EMV- Prüflabor

DKD Kalibrierlabor Akkreditiertes EMV- Prüflabor DKD Kalibrierlabor Akkreditiertes EMV- Prüflabor Rückführbare Kalibrierung, Prüfung, Beratung & Störungsanalyse Die Akkreditierung durch die Deutsche Akkreditierungsstelle schafft Vertrauen in die Arbeit

Mehr

INNOVO Industrial. Appliance. INNOVO IAP // Datenblatt

INNOVO Industrial. Appliance. INNOVO IAP // Datenblatt INNOVO Industrial Appliance INNOVO IAP // Datenblatt Vermessung 1. USB 2.0 8. Spannungsversorgung 12 36Volt DC 2. DVI-I Anschluss 9. Spannungsversorgung DC 24 Volt (Filter) 3. 1x Sub-D9 (male) 4. USB 2.0

Mehr

Elektromagnetische Felder am Arbeitsplatz

Elektromagnetische Felder am Arbeitsplatz Elektromagnetische Felder am Arbeitsplatz Anforderungen der Richtlinie 2004/40/EG Gesetzliche Grundlagen EMF EU Richtlinie Veröffentlichung der RL 2004/40/EG vom 29.04.2004 Berichtigung der RL 2004/40/EG

Mehr

SAB Modulares Verstärker- & Anschlusssystem Prospekt

SAB Modulares Verstärker- & Anschlusssystem Prospekt Für jede Anwendung gibt es das passende Gehäuse mit den Funktionsmodulen. Kleine Systeme für den mobilen Einsatz im Fahrzeug, als Datenlogger Große Systeme mit vielen Kanälen als Tischgerät oder zum Einbau

Mehr

INES-Webserver. Damit gehen Ihre Geräte und Anlagen online. 1 Inhalt

INES-Webserver. Damit gehen Ihre Geräte und Anlagen online. 1 Inhalt Damit gehen Ihre Geräte und Anlagen online Mit dem Webbrowser bedienen, steuern und überwachen Sie INES und die daran angeschlossene Peripherie... ganz einfach übers Internet. 1 Inhalt 1 Inhalt 1 2 Anwendungen

Mehr

Experimentelle Bestimmung der Ersatzschaltbilder von SMD- Bauelementen

Experimentelle Bestimmung der Ersatzschaltbilder von SMD- Bauelementen Vortrag über die Bachelor Arbeit Experimentelle Bestimmung der Ersatzschaltbilder von SMD- Bauelementen von Ouajdi Ochi Fachgebiet Hochfrequenztechnik Prof. Dr-Ing. K.Solbach Freitag, 28. Mai 2010 Universität

Mehr

HART Loop Converter HMX50

HART Loop Converter HMX50 Technische Information HART Loop Converter HMX50 Signalübertragung Anwendungsbereich Der HART Loop Converter wertet die dynamischen HARTVariablen (PV, SV, TV, QV) aus und wandelt diese in analoge Stromsignale

Mehr

BAUELEMENTE UND SCHALTUNGSTECHNIK EMV-GERECHTER SCHNITTSTELLEN

BAUELEMENTE UND SCHALTUNGSTECHNIK EMV-GERECHTER SCHNITTSTELLEN BAUELEMENTE UND SCHALTUNGSTECHNIK EMV-GERECHTER SCHNITTSTELLEN H. Leopold und G.Winkler 4.6.97, Institut für Elektronik der TU-Graz Die als Beispiel betrachteten digitalen Schnittstellen RS 232, die 20mA

Mehr

Digitale aktive DVB-T/T2 Zimmerantenne SRT ANT 10 ECO

Digitale aktive DVB-T/T2 Zimmerantenne SRT ANT 10 ECO Digitale aktive DVB-T/T2 Zimmerantenne SRT ANT 10 ECO Abbildung ähnlich Bedienungsanleitung Inhaltsangabe 1.0 BEDIENUNGSANLEITUNG 1 2.0 PACKUNGSINHALT 1 3.0 SICHERHEITSHINWEISE 2 4.0 ANSCHLIESSEN DER ANTENNE

Mehr

Kirstin Hübner Armin Burgmeier Gruppe 15 10. Dezember 2007

Kirstin Hübner Armin Burgmeier Gruppe 15 10. Dezember 2007 Protokoll zum Versuch Transistorschaltungen Kirstin Hübner Armin Burgmeier Gruppe 15 10. Dezember 2007 1 Transistor-Kennlinien 1.1 Eingangskennlinie Nachdem wir die Schaltung wie in Bild 13 aufgebaut hatten,

Mehr

LCR-Schwingkreise. Aufgabenstellung. Geräteliste. Hinweise. Bsp. Nr. 7: Parallelschwingkreis Version 25.09.2014 Karl-Franzens Universität Graz

LCR-Schwingkreise. Aufgabenstellung. Geräteliste. Hinweise. Bsp. Nr. 7: Parallelschwingkreis Version 25.09.2014 Karl-Franzens Universität Graz LCR-Schwingkreise Schwingkreise sind Schaltungen, die Induktivitäten und Kapazitäten enthalten. Das besondere physikalische Verhalten dieser Schaltungen rührt daher, dass sie zwei Energiespeicher enthalten,

Mehr

Spectrumanalyzer bis 100 MHz

Spectrumanalyzer bis 100 MHz . DL2JWL Wolfgang Lässig Sonnenstrasse 45 09337 Hohenstein-Ernstthal Tel. 0179 533 77 49 Spectrumanalyzer bis 100 MHz.......... Vorwort Jeder der sich mit Selbstbau von Sendern und Empfängern beschäftigt,

Mehr

MP3 / iphone ZUBEHÖR

MP3 / iphone ZUBEHÖR MP3 Kopfhörer Essential stereo in-ear Headset mit Flachbandkabel Das in ear Stereo Headset ist mit einer Multifunktionstaste für z.b. Rufannahme und Musiksteuerung ausgestattet. Ideal für alle Smartphones

Mehr

Encoder 1.60. Encoder 1 aus 15. bei Displays, die auf Binärcode ausgelegt sind. Der Encoder wandelt 1 aus n in Dual-Code um.

Encoder 1.60. Encoder 1 aus 15. bei Displays, die auf Binärcode ausgelegt sind. Der Encoder wandelt 1 aus n in Dual-Code um. Displays ZUBEHÖR DISPLAYS Encoder Encoder 1 aus 1 Der Encoder wird benötigt für Ansteuerung 1 aus n bei Displays, die auf Binärcode ausgelegt sind. Der Encoder wandelt 1 aus n in Dual-Code um. 1 aus n-ansteuerung

Mehr

Fohhn DSP-Endstufen, Fohhn DSP-System Controller, Fohhn DSP-Audio-Signal-Matrix.

Fohhn DSP-Endstufen, Fohhn DSP-System Controller, Fohhn DSP-Audio-Signal-Matrix. Fohhn DSP-Endstufen, Fohhn DSP-System Controller, Fohhn DSP-Audio-Signal-Matrix. Perfekte Kontrolle, höchste Betriebssicherheit und erstklassige Klangqualität für Ihre Beschallungsprojekte. 42 Fohhn Amps

Mehr

Digitales Einbauinstrument 5-stellig. Digitales Einbauinstrument 5-stellig. geringe Einbautiefe: 90 mm ohne steckbare Schraubklemme

Digitales Einbauinstrument 5-stellig. Digitales Einbauinstrument 5-stellig. geringe Einbautiefe: 90 mm ohne steckbare Schraubklemme Datenblatt DAK-111 Standard Digitales Einbauinstrument 5-stellig Digitales Einbauinstrument 5-stellig M3 rote Anzeige von -19999 99999 Digits (optional grüne, orange oder blaue Anzeige) Digitales Einbauinstrument

Mehr

Handbuch. BC 58 mit INTERBUS-S / K2. hohner Elektrotechnik Werne. Inhalt. Über dieses Handbuch...2. Sicherheits- und Betriebshinweise...

Handbuch. BC 58 mit INTERBUS-S / K2. hohner Elektrotechnik Werne. Inhalt. Über dieses Handbuch...2. Sicherheits- und Betriebshinweise... Handbuch BC 58 mit INTERBUS-S / K2 Inhalt Über dieses Handbuch...2 Sicherheits- und Betriebshinweise...2 1 Einleitung...2 2 Datenverkehr über INTERBUS-S...3 3 Inbetriebnahme...3 4 Technische Daten...4

Mehr

R&S ENY81-CA6 Kopplungsnetzwerk Für Störaussendungsund Störfestigkeitsmessungen an. TK-Schnittstellen. Produktbroschüre 02.00.

R&S ENY81-CA6 Kopplungsnetzwerk Für Störaussendungsund Störfestigkeitsmessungen an. TK-Schnittstellen. Produktbroschüre 02.00. ENY81-CA6_bro_de_5214-1772-11_v0200.indd 1 Produktbroschüre 02.00 Messtechnik Kopplungsnetzwerk Für Störaussendungsund Störfestigkeitsmessungen an TK-Schnittstellen 31.07.2015 09:59:43 Kopplungsnetzwerk

Mehr

Grundlagenpraktikum 2.Teil. Versuch : Transistorschaltungen. A: Vorbereitung Siehe hierzu auch die Laborordnung. (s. Anhang)

Grundlagenpraktikum 2.Teil. Versuch : Transistorschaltungen. A: Vorbereitung Siehe hierzu auch die Laborordnung. (s. Anhang) Grundlagenpraktikum 2.Teil Versuch : Transistorschaltungen Fassung vom 14.07.2005 A: Vorbereitung Siehe hierzu auch die Laborordnung. (s. Anhang) Informieren Sie sich ausführlich über o Wirkungsweise des

Mehr

Testing of EMC. Akkreditierungen: DIN EN ISO/IEC 17025 bzw. DIN EN 45011. Das EMV Testlabor ist

Testing of EMC. Akkreditierungen: DIN EN ISO/IEC 17025 bzw. DIN EN 45011. Das EMV Testlabor ist EMV - Elektromagnetische Verträglichkeit - ist die Eigenschaft elektrischer und elektronischer Geräte, Anlagen und Systeme, in ihrer elektromagnetischen Umwelt unbeeinflußt zu funktionieren, ohne andere

Mehr

Digitaler elektropneumatischer Stellungsregler für den integrierten Anbau an Prozessregelventile

Digitaler elektropneumatischer Stellungsregler für den integrierten Anbau an Prozessregelventile Digitaler elektropneumatischer Stellungsregler für den integrierten Anbau an Prozessregelventile Typ 8694 kombinierbar mit Kompaktes Edelstahldesign Integrierte Ventilstellungserfassung Einfachste Inbetriebnahme

Mehr

INFOtainment Compact Multimedia

INFOtainment Compact Multimedia Infotainment-System INFOtainment Compact Multimedia Das Informationssystem, das sich selbst finanziert. Moderne Informationssysteme haben mehr zu sagen, als nur Wagen hält : Mit einem vollgrafischen INFOtainment-

Mehr

Oszilloskope. Fachhochschule Dortmund Informations- und Elektrotechnik. Versuch 3: Oszilloskope - Einführung

Oszilloskope. Fachhochschule Dortmund Informations- und Elektrotechnik. Versuch 3: Oszilloskope - Einführung Oszilloskope Oszilloskope sind für den Elektroniker die wichtigsten und am vielseitigsten einsetzbaren Meßgeräte. Ihr besonderer Vorteil gegenüber anderen üblichen Meßgeräten liegt darin, daß der zeitliche

Mehr

Der Avalanche-Generator. Funktionsprinzip und Versuche

Der Avalanche-Generator. Funktionsprinzip und Versuche Der Avalanche-Generator Funktionsprinzip und Versuche ACHTUNG: In der hier beschrieben Schaltung treten Spannungen über 50V auf!!! 1(7) Das Avalanche-Prinzip Der Avalanche-Effekt ( avalanche = Lawine )

Mehr

Hardware Übersicht. Mobil und robust. Nur 7,8 kg und gegen strenge Shock/Vibrations-Standards getestet. 150 MB/s. 100 MB/s.

Hardware Übersicht. Mobil und robust. Nur 7,8 kg und gegen strenge Shock/Vibrations-Standards getestet. 150 MB/s. 100 MB/s. von Hardware Übersicht Mobil und robust Nur 7,8 kg und gegen strenge Shock/ibrations-Standards getestet. Datensicherheit Eine SSD für das Betriebssystem und eine 1 TB Harddisk (opt. SSD) explizit nur für

Mehr

Mobile Mess-Systeme. Multi-Handy mehr als nur ein Einstieg (ab Seite 10) Multi-System mehr als nur Messgeräte (ab Seite 13)

Mobile Mess-Systeme. Multi-Handy mehr als nur ein Einstieg (ab Seite 10) Multi-System mehr als nur Messgeräte (ab Seite 13) Mobile Mess-Systeme Multi-Handy mehr als nur ein Einstieg (ab Seite 10) Die Produkte der Multi-Handy Familie sind für den unkomplizierten Einsatz vor Ort konzipiert. Exakte Datenerfassung, zuverlässige

Mehr

Der Bipolar-Transistor und die Emitterschaltung Gruppe B412

Der Bipolar-Transistor und die Emitterschaltung Gruppe B412 TECHNISCHE UNIVERSITÄT MÜNCHEN Der Bipolar-Transistor und die Emitterschaltung Gruppe B412 Patrick Christ und Daniel Biedermann 16.10.2009 1. INHALTSVERZEICHNIS 1. INHALTSVERZEICHNIS... 2 2. AUFGABE 1...

Mehr

Drehgeber WDGA 58S SSI

Drehgeber WDGA 58S SSI Drehgeber WDGA 58S SSI www.wachendorff-automation.de/wdga58sssi Wachendorff Automation... Systeme und Drehgeber Komplette Systeme Industrierobuste Drehgeber für Ihren Anwendungsfall Standardprogramm und

Mehr

smartrtu ME 4012 PA-N Bilfinger Mauell GmbH

smartrtu ME 4012 PA-N Bilfinger Mauell GmbH smartrtu ME 4012 PA-N Neben vielen universellen Anwendungen liegt der Fokus des Einsatzes dieser Gerätefamilie in AufgabensteIlungen, wie z.b. der Windparkregelungen und Überwachung und Steuerung von Ortsnetzstationen

Mehr

Highspeed Serial Links. Nico Presser, Nils Egewardt Entwickler Mittweida, 05.12.2012

Highspeed Serial Links. Nico Presser, Nils Egewardt Entwickler Mittweida, 05.12.2012 Highspeed Serial Links Nico Presser, Nils Egewardt Entwickler Mittweida, Agenda 1 Motivation 2 Vergleich Basismaterialien 3 10 GBit/s Messergebnisse 4 Auslegung von Vcc-GND-Systemen 5 Simulation von Vcc-GND-Systemen

Mehr

MobaTime Server MTS. IRIG, AFNOR, DCF-FSK sowie präzise, programmierbare Zeitimpulse.

MobaTime Server MTS. IRIG, AFNOR, DCF-FSK sowie präzise, programmierbare Zeitimpulse. Die zuverlässige, präzise Hauptuhr und Zeitreferenz für alle rechner- und prozessorgesteuerten Geräte, Anlagen, Netzwerke und IT-Anwendungen. MobaTime Server MTS Diese neue Generation der Master Clocks

Mehr