JTAG/Boundary Scan Effektiver Baugruppentest vom Prototyp bis zum Serientest

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1 JTG/Boundary Scan Effektiver Baugruppentest vom Prototyp bis zum Serientest Martin Borowski, GÖPEL electronic GmbH

2 Begriffe

3 Begriffe Boundary Scan

4 Begriffe JTG Joint Test ction Group Boundary Scan

5 Begriffe JTG Boundary Scan Joint Test ction Group Testverfahren für Baugruppen mittels in den ICs integrierter Schieberegister

6 Begriffe JTG Boundary Scan IEEE Joint Test ction Group Testverfahren für Baugruppen mittels in den ICs integrierter Schieberegister von der JTG verabschiedeter Standard für digitalen Verbindungstest

7 Kernlogik Kernlogik Eine Schnittstelle - verschiedene Strukturen Baustein gemäß Boundary Scan Standard IEEE Baustein mit ebug Port gemäß IEEE IC1 µp Core TI BST Logik TO TI BST Logik TO TCK TMS TCK TMS

8 Begriffe JTG Boundary Scan IEEE IEEE Joint Test ction Group Testverfahren für Baugruppen mittels in den ICs integrierter Schieberegister von der JTG verabschiedeter Standard für digitalen Verbindungstest... für analogen Verbindungstest und Parametertest

9 Begriffe JTG Boundary Scan IEEE IEEE Joint Test ction Group Testverfahren für Baugruppen mittels in den ICs integrierter Schieberegister von der JTG verabschiedeter Standard für digitalen Verbindungstest... für analogen Verbindungstest und Parametertest IEEE für den dynamischen Verbindungstest

10 Begriffe JTG Boundary Scan IEEE IEEE Joint Test ction Group Testverfahren für Baugruppen mittels in den ICs integrierter Schieberegister von der JTG verabschiedeter Standard für digitalen Verbindungstest... für analogen Verbindungstest und Parametertest IEEE für den dynamischen Verbindungstest IEEE für In-System-Programmierung

11 Funktionsweise

12 Kernlogik ufbau beim In-Circuit Test...messen auf Kurzschluss Signal treiben...messen auf Widerstand IC1 R1 R2 R3 R4 er Prüfling ist dabei spannungslos.

13 Veränderung der nforderungen Multilayerplatinen Zunehmende IC Pinanzahl Steigende Bauteildichte Kleinere Bauteile und geringere Pinabstände

14 Kernlogik Kernlogik ufbau beim Boundary Scan Test Boundary Scan Zelle (electronic nail) IC1 IC2

15 Kernlogik Kernlogik ufbau IEEE Testbus BST Logik = Test ccess Port (TP) Controller + Register IC1 IC2 TI BST Logik TO TI BST Logik TO TCK TMS TCK TMS

16 Kernlogik Kernlogik Boundary Scan Test - Wie funktioniert s? Signal treiben...messen auf Verbindung und Kurzschluss IC1 IC TI BST Logik TO TI BST Logik TO TCK TMS TCK TMS

17 Kernlogik Kernlogik Kernlogik Testen von nicht scan-fähigen Bausteinen Signal treiben IC1 SN messen auf Funktion IC BST Logik BST Logik

18 Typische igitalbaugruppe POWER IEEE RM TI µp ISPLY (LE / LC) C C (RM) TO FLSH RS232 C TI C (FLSH) PL CLK TO Version? UUT CLUSTER

19 Testmöglichkeiten mit Boundary Scan

20 Versorgungsspannung OK? POWER IEEE RM TI µp ISPLY (LE / LC) C C (RM) TO FLSH C TI C (FLSH) RS232 Ist Voraussetzung für Boundary Scan! PL CLK TO Version? UUT CLUSTER

21 Infrastrukturtest POWER IEEE RM TI µp ISPLY (LE / LC) C FLSH C C (RM) TO TI C (FLSH) PL RS232 Überprüft die Boundary Scan Infrastruktur: Testbussignale ICodes Usercodes CLK TO Version? UUT CLUSTER

22 Verbindungstest POWER IEEE RM C FLSH C Version? UUT TI C (RM) TO TI C (FLSH) CLK TO µp PL CLUSTER ISPLY (LE / LC) RS232 Überprüft die mit Boundary Scan verbundenen Leiterbahnen auf: Unterbrechung Stuck-t-Fehler Kurzschlüsse Pull Widerstände

23 RM Verbindungstest POWER IEEE RM TI µp ISPLY (LE / LC) C C (RM) TO FLSH C TI C (FLSH) PL RS232 Überprüft die Verbindungen zu den RM Bausteinen. CLK TO Version? UUT CLUSTER

24 FLSH Test/Programmierung POWER IEEE RM C FLSH C TI C (RM) TO TI C (FLSH) CLK TO µp PL ISPLY (LE / LC) RS232 Überprüft die Verbindungen zu den FLSH Bausteinen. ie Bausteine können auch sofort programmiert werden. Version? UUT CLUSTER

25 PL Programmierung POWER IEEE RM TI µp ISPLY (LE / LC) C C (RM) TO FLSH C TI C (FLSH) RS232 Lädt die Konfiguration in die PLs/FPGs. PL CLK TO Version? UUT CLUSTER

26 Manuelle Testskripte POWER IEEE RM TI µp ISPLY (LE / LC) C C (RM) FLSH C TO TI C (FLSH) PL RS232 Hoher bstraktionsgrad, da Signale auf Pin-Ebene gesteuert werden. CLK TO Version? UUT CLUSTER

27 Schnittstellenerweiterung POWER IEEE IEEE RM C TI C (RM) TO µp ISPLY (LE / LC) TI CION TO FLSH C TI C (FLSH) RS232 RS232 TI CION TO PL TI CLK TO CION TO Version? UUT CLUSTER vorhandene I/O Karten oder GÖPEL CION-Modul(e)

28 Schnittstellentest POWER IEEE IEEE RM C TI C (RM) TO µp ISPLY (LE / LC) TI CION TO FLSH C TI C (FLSH) RS232 RS232 TI CION TO PL TI CLK TO CION TO Version? UUT CLUSTER vorhandene I/O Karten oder GÖPEL CION-Modul(e)

29 Boundary Scan im Produktlebenszyklus

30 Produktlebenszyklus Phase 1 er Prototyp: - sehr kleine Stückzahlen - viele Revisionen - kein eingespielter Produktionsprozess Was bietet Boundary Scan: - kostengünstige Testprogrammerstellung - schnelle npassung von bestehenden Tests - gute Fehlerdiagnose ohne Nadeladapter - gute ebug Werkzeuge

31 Produktlebenszyklus Phase 2 ie Serie: - mittlere - hohe Stückzahlen - wenige Varianten - schnelle Taktzeiten in der Produktion Was bietet Boundary Scan: - schneller und günstiger Test - hohe Testabdeckung - Inline-Programmierung - Kombination mit anderen Testverfahren möglich

32 Produktlebenszyklus Phase 3 Reparatur und Rückläufer: - Einzelne Prüflinge - Unterschiedliche Varianten - Teilweise eingebaute Baugruppen Was bietet Boundary Scan: - gute Fehlerdiagnose - hohe Testabdeckung - geringe daption - Programmierung von neuer Soft/Firmware

33 Boundary Scan im Einsatz utomatische Testgenerierung durch intelligente Generatoren Schaltplandaten und Modelle reichen aus Pingenaue Fehlerdiagnose Grafische Fehlervisualisierung etaillierte Testabdeckung Uvm

34 Genaue Fehlerlokalisierung Boundary Scan ist ein Netz basiertes Testverfahren

35 Was wird tatsächlich getestet? Testabdeckung visualisiert im Schaltplan und Layout

36 usblick ÜBER BOUNRY SCN HINUS

37 Kernlogik Kernlogik Eine Schnittstelle - verschiedene Strukturen Baustein gemäß Boundary Scan Standard IEEE Baustein mit ebug Port gemäß IEEE IC1 µp Core TI BST Logik TO TI BST Logik TO TCK TMS TCK TMS

38 VarioTap - Wie funktioniert s? Mikrocode einspielen Code starten Kommunikation mit dem Code erfolgt über JTG µp RM Core TI BST Logik TO TCK TMS

39 Funktionsumfang des VarioTap Microcodes Programmieren/Verifizieren/Löschen von internen/externen Flashes Schreiben und Lesen von Registern RM Test Laden und Starten von eigenem Programmcode im rbeitsspeicher ynamischer Test von externen Ressourcen

40 Zusammenfassung

41 20 Jahre nach der Standardisierung Mit heutigen Boundary Scan Werkzeugen sind sehr umfassende Prüfungen möglich Boundary Scan ist während des kompletten Produktlebenszyklus einsetzbar ie Verzahnung von Boundary Scan und Emulation ist die nächste Generation

42 Vielen ank für Ihre ufmerksamkeit Martin Borowski pplikation JTG/Boundary Scan Phone: Fax:

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