Research Collection. On A/D converters with low-precision analog circuits and digital post-correction. Doctoral Thesis.

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1 Research Collection Doctoral Thesis On A/D converters with low-precision analog circuits and digital post-correction Author(s): Biveroni, Jonas Publication Date: 2013 Permanent Link: Rights / License: In Copyright - Non-Commercial Use Permitted This page was generated automatically upon download from the ETH Zurich Research Collection. For more information please consult the Terms of use. ETH Library

2 Series in Signal and Information Processing Volume 24 Diss. ETH No On A/D Converters with Low-Precision Analog Circuits and Digital Post-Correction A dissertation submitted to ETH Zurich for the degree of Doctor of Sciences presented by Jonas Biveroni MSc ETH in Electrical Engineering and Information Technology born on March 25, 1977 citizen of Bever (GR) and Samedan (GR) Hartung Gorre Konstanz accepted on the recommendation of Prof. Dr. Hans-Andrea Loeliger, examiner Prof. Dr. Boris Murmann, co-examiner 2012

3 Abstract Progress in the fabrication of integrated circuits (ICs) enables smaller and smaller minimum feature sizes, so that more and more transistors can be realized per chip area. Digital circuits greatly benefit from the miniaturization. By contrast, analog circuits suffer from reduced precision when component sizes are decreased, because for decreased component sizes, the respective component values increasingly deviate from their nominal values in a non-deterministic manner. Some of the resulting precision errors can be corrected by digital processing. Thus, a promising approach to mixed-signal circuit design is using small low-precision analog circuits and applying digital correction, such that the system as a whole is sufficiently precise. In this thesis, we apply the above-mentioned approach to analog-todigital converters (ADCs), as they combine analog and digital circuits. ADCs are key building blocks of modern electronic devices which process physical quantities digitally. Examples of such devices are mobile phones, digital cameras or measurement devices such as digital voltmeters. Such devices often contain several ADCs which convert radio signals, touchscreen information, optical image data or plain voltage values into digital signals. Specifically, we consider ADCs using low-precision analog circuits and digital post-correction. We mostly consider static characteristics, ignoring dynamical issues like noise, sampling or settling. The thesis presents a few studies and ideas on the topic. We study the static accuracy of various flash-type ADCs with lowprecision components and digital correction. We model the key analog components and assess the static accuracy using Monte Carlo simulations. Similarly, we extend the discussion of the static accuracy to sequential ADCs based on beta expansions ( radix < 2 conversion). We conclude that both flash-type ADCs and sequential ADCs using low-precision vii

4 viii Abstract analog circuits are useful with proper digital correction. After fabrication, the static characteristics of the ADC s low-precision analog part are not known exactly. However, proper digital correction requires the static characteristics to be known. We thus elaborate a calibration method, which is suited for a built-in self-test (BIST). The method includes a test signal generator circuit and algorithms which estimate the static characteristics using measurement data of the test signals. The algorithms are based on Gaussian message passing on a graphical model (factor graph) of the system. In simulations, we achieve very accurate estimations of the static characteristics using the presented method. Finally, we design and manufacture an experimental pipeline ADC in a 0.13 µm CMOS process. The circuit implements the beta-expansion principle using simple analog low-precision sub-circuits. Keywords: Analog-to-digital converter, flash ADC, sequential ADC, low-precision analog circuits, digital post-correction, static accuracy, calibration, factor graph, message-passing algorithms, integrated circuit design.

5 Kurzfassung Fortschritte in der Fertigung von integrierten Schaltungen ermöglichen immer kleinere Strukturen, so dass immer mehr Transistoren auf gleicher Fläche Platz haben. Digitale Schaltungen profitieren stark von dieser Miniaturisierung. Analoge Schaltungen hingegen werden zunehmend unpräzise, je kleiner die Komponenten sind, denn je kleiner die Komponenten, desto stärker weichen deren Werte auf nichtdeterministische Weise vom jeweiligen Nennwert ab. Einige der entstehenden Ungenauigkeiten können korrigiert werden mit digitaler Nachbearbeitung. Ein vielversprechender Ansatz im Entwurf von Mixed-Signal-Schaltungen ist deshalb die Verwendung von kleinen, unpräzisen analogen Schaltungen mit digitaler Fehlerkorrektur, so dass das Gesamtsystem wiederum präzise genug ist. In dieser Arbeit wenden wir den obengenannten Ansatz auf Analog- Digital (A/D)-Wandler an, da diese analoge und digitale Schaltungen zusammenbringen. A/D-Wandler sind zentrale Bauelemente von heutigen elektronischen Geräten, welche physikalische Grössen digital verarbeiten. Beispiele solcher Geräte sind Mobiltelephone, Digitalkameras oder Messgeräte wie z.b. digitale Voltmeter. Solche Geräte enthalten oft mehrere A/D-Wandler, welche Funksignale, Touchscreen-Daten, optische Bilddaten oder einfach Spannungswerte in digitale Signale umwandeln. Wir befassen uns mit A/D-Wandlern mit unpräzisem Analogteil und digitaler Fehlerkorrektur. Hauptsächlich betrachten wir deren statische Eigenschaften und ignorieren dynamische Vorgänge wie Rauschen, Abtastung oder Einschwingvorgänge. In dieser Dissertation stellen wir ein paar Studien und Ideen zum Thema vor. Wir untersuchen die statischen Eigenschaften von verschiedenen Flashähnlichen A/D-Wandlern mit unpräzisen Komponenten und digitaler Fehlerkorrektur. Dazu modellieren wir die wichtigen analogen Komponenten und ermitteln die statische Genauigkeit der Wandler anhand von Monte-Carlo-Simulationen. Entsprechend dazu untersuchen wir seix

6 x Kurzfassung quentielle A/D-Wandler basierend auf Beta-Entwicklungen (Wandlung mit Radix < 2). Wir kommen zum Schluss, dass beide Arten von A/D- Wandlern mit unpräzisen analogen Komponenten brauchbar sind mit exakter digitaler Fehlerkorrektur. Nach der Herstellung eines A/D-Wandlers mit unpräzisem Analogteil sind dessen statische Eigenschaften nicht genau bekannt. Deren Kenntnis ist jedoch Voraussetzung für eine exakte digitale Fehlerkorrektur. Deshalb entwerfen wir ein Kalibrierverfahren, welches sich auf dem Wandler-Chip mit integrieren lässt. Das Verfahren umfasst eine Schaltung, die Testsignale generiert, sowie Algorithmen, welche die statischen Eigenschaften anhand von Messdaten der Testsignale schätzen. Die Algorithmen basieren auf Gauss schem Message-Passing in einem graphischen Modell (Faktorgraph) der Systemgleichungen. In Simulationen erzielen wir mit diesem Verfahren sehr exakte Schätzungen der statischen Eigenschaften. Schlussendlich entwerfen wir einen experimentellen Pipeline-A/D- Wandler, den wir mit einem 0.13 µm CMOS-Prozess fertigen lassen. Die Schaltung realisiert das Prinzip der Beta-Entwicklungen anhand von einfachen, unpräzisen analogen Schaltungen. Stichworte: Analog-Digital-Wandler, Flash-A/D-Wandler, sequentielle A/D-Wandler, unpräzise analoge Schaltungen, digitale Fehlerkorrektur, statische Genauigkeit, Kalibrierung, Faktorgraph, Message-Passing Algorithmen, Entwurf integrierter Schaltungen.