RASTER-KRAFT-MIKROSKOPIE (ATOMIC FORCE MICROSCOPY AFM)

Save this PDF as:
 WORD  PNG  TXT  JPG

Größe: px
Ab Seite anzeigen:

Download "RASTER-KRAFT-MIKROSKOPIE (ATOMIC FORCE MICROSCOPY AFM)"

Transkript

1 RASTER-KRAFT-MIKROSKOPIE (ATOMIC FORCE MICROSCOPY AFM)

2 Inhaltsverzeichnis 1. Motivation 2. Entwickler des AFM 3. Aufbau des AFM 3.1 Spitze und Cantilever 3.2 Mechanische Rasterung 3.3 Optische Detektion 4. Prinzip des AFM 4.1 Van der Waals Kraft 4.2 Kurzreichweitige Kräfte 4.3 Kappilarkräfte 4.4 Coulombkräfte 5. Betriebsmöglichkeiten des AFM 5.1 contact Mode 5.2 noncontact mode 5.3 tapping mode 6. Aufnahmen vom AFM 7. Zusammenfassung 8. Referenzen

3 Motivation Mit dem STM war es erstmals möglich, Oberflächen im Ortsraum mit atomarer Auflösung abzubilden. Aber! Nur bei elektrisch leitfähige Oberflächen.

4 Entwickler des AFM Wegbereiter STM wurde 1982 von Gerd Binnig und Heinrich Rohrer in IBM Zürich Research Laboratory entwickelt 1986 gab es dafür den Nobel-Preis Im selben Jahr entwickeln Gerd Binning, Calvin Quate und Christoph Gerber das AFM

5 Entwickler des AFM Wegbereiter STM wurde 1982 von Gerd Binnig und Heinrich Rohrer in IBM Zürich Research Laboratory entwickelt 1986 gab es dafür den Nobel-Preis Im selben Jahr entwickeln Gerd Binning, Calvin Quate und Christoph Gerber das AFM

6 Aufbau des AFM

7 Spitze und Cantilever Cantilever wird physikalisch wie eine Feder behandelt, d.h. Weiche Federkonstante Hohe Resonanzfrequenz (ω=10 100kHz) Thermisches Rauschen soll die Cantileververbiegung nicht ändern => k 0,1 1 N/m bzw. 10 N/m Länge L=100μm, Breite B=10μm, Dicke d=1μm

8 Spitze und Cantilever Cantilever wird physikalisch wie eine Feder behandelt, d.h. Weiche Federkonstante Hohe Resonanzfrequenz (ω=10 100kHz) Thermisches Rauschen soll die Cantileververbiegung nicht ändern => k 0,1 1 N/m bzw. 10 N/m Länge L=100μm, Breite B=10μm, Dicke d=1μm

9 Spitze und Cantilever Federkonstante k: Rechteckiger Cantilever Zylindrischer Cantilever V-Form Cantilever E wt k 3 4 l 3 E r k 4 l Numerische Berechnung Eigenfrequenz t f 0, L 2 E

10 Spitze und Cantilever Radius der Spitzenendung r=100nm Kleine Öffnungswinkel Monoatomare Spitze/ Rundung Darf nicht verbiegen Hartes Material wie Diamant oder Siliziumverbindungen (Si,Si 3 N 4,SiO 2 ) Meistens Pyramidenförmig Durch Ätzprozesse mit Kalilauge

11 Spitze und Cantilever Radius der Spitzenendung r=100nm Kleine Öffnungswinkel Monoatomare Spitze/ Rundung Darf nicht verbiegen Hartes Material wie Diamant oder Siliziumverbindungen (Si,Si 3 N 4,SiO 2 ) Meistens Pyramidenförmig Durch Ätzprozesse mit Kalilauge

12 Spitze und Cantilever Radius der Spitzenendung r=100nm Kleine Öffnungswinkel Monoatomare Spitze/ Rundung Darf nicht verbiegen Hartes Material wie Diamant oder Siliziumverbindungen (Si,Si 3 N 4,SiO 2 ) Meistens Pyramidenförmig Durch Ätzprozesse mit Kalilauge

13 Mechanische Rasterung Typische Rasterbereiche μm in x- und y-richtung, 2-5μm in z-richtung Piezomotoren sind technisch einfach handzuhaben, günstig und genau genug 40nm 2 Probleme: in 0,1nm Schritten in 1s Bogenbewegung muss wegkalibriert werden Temperaturänderungen der Umgebung sorgen für eine Drift Zu langsames rastern

14 Mechanische Rasterung Typische Rasterbereiche μm in x- und y-richtung, 2-5μm in z-richtung Piezomotoren sind technisch einfach handzuhaben, günstig und genau genug 40nm 2 Probleme: in 0,1nm Schritten in 1s Bogenbewegung muss wegkalibriert werden Temperaturänderungen der Umgebung sorgen für eine Drift Zu langsames rastern

15 Kraftdetektion Lichtzeigerprinzip wird am häufigsten verwendet Vermessung der Winkeländerung

16 Kraftdetektion Lichtzeigerprinzip wird am häufigsten verwendet Vermessung der Winkeländerung Kapazitive Messmethode Vermessung der Kapazitätsänderung C 0A 1 d 1 d 0

17 Prinzip des AFM

18 Van der Waals Kraft Treten bei einem Abstand von <4Å auf 3 Teilkräfte: WW zwischen permanenten Dipol (Orientierungskräfte) WW zwischen neutralen Atom (Induktionskräfte) WW zwischen zwei Neutralen Atomen (Dispersionskräfte)

19 Van der Waals Kraft Treten bei einem Abstand von <4Å auf 3 Teilkräfte: WW zwischen permanenten Dipol (Orientierungskräfte) WW zwischen neutralen Atom (Induktionskräfte) WW zwischen zwei Neutralen Atomen (Dispersionskräfte) Potential: Lennard-Jones

20 Kurzreichweitige Kräfte Pauliabstoßung (Austauschwechselwirkung) Kraft, die auftritt, wenn Orbitale übereinander geschoben werden Grund: Elektronen mit gleichem Spin stoßen sich ab Potential:

21 Kapillarkräfte Bei Messungen an Luft befindet sich Wasserdampf an der Luft F 4 R cos( ) 1 D d

22 Coulombkräfte Elektrostatische Aufladung kann die Probe zerstören F Q Q r 0 r 2 => Rastern an einer Flüssigkeitsumgebung vermindert dieses Kraft

23 Betriebsmöglichkeiten des AFM contact mode noncontact mode tapping mode

24 Betriebsmöglichkeiten des AFM contact mode noncontact mode tapping mode

25 contact mode 1.Möglichkeit: Abstand konstant halten (ca.2,3å) und abrastern 2.Möglichkeit: Verbiegung des Cantilevers konstant halten und abrastern

26 contact mode 1.Möglichkeit: Abstand konstant halten (ca.2,3å) und abrastern 2.Möglichkeit: Verbiegung des Cantilevers konstant halten und abrastern

27 noncontact mode Abstand nm Bereich der Van der Waals WW. Auftretende Kräfte liegen im Bereich von N nicht mehr messbar Cantilever wird zu einer Schwingung nahe der Resonanzfrequenz angeregt Unebenheiten sorgen für eine Änderung des Kraftgradientens Resonanzverschiebung Amplitudenänderung F' 2k

28 tapping mode Spitze wird auf die Probe bei jeder Schwingung abgesetzt D.h. keine Reibungseinflüsse Auflösung ist schlechter als im contact und noncontact mode

29 Aufnahmen vom AFM

30 Aufnahmen vom AFM

31 Aufnahmen vom AFM

32 Aufnahmen vom AFM Dijodmethan-Tropfen unter Wasser

33 Aufnahmen vom AFM Dijodmethan-Tropfen unter Wasser NiO mit Fremdatom

34 Aufnahmen vom AFM

35 Aufnahmen vom AFM

36 Aufnahmen vom AFM

37 Aufnahmen vom AFM

38 Aufnahmen vom AFM

39 Aufnahmen vom AFM

40 Zusammenfassung Vorteile des AFM Messungen an Luft und in Flüssigkeiten Informationen über physikalische Größen auf atomarer Skala Untersuchung nichtleitender Materialien Anwendungsgebiet: Vermessung kleiner Strukturen im Nanometerbereich oder Charakterisierung von Oberflächen

41 Referenzen [1] Binnig, G., H. Rohrer, C. Gerber und E. Weibel: Surface Studies by Scanning Tunneling Microscopy. Phys. Rev. Lett., 49:57, [2] Bai,C.: Scanning Tunneling Microscopy and ist Application. Springer Series in Surface Sciences

Rasterkraftmikroskopie

Rasterkraftmikroskopie Rasterkraftmikroskopie Rasterkraft- und Rastersondenmikroskopie als Werkzeug für nanostrukturierte Festkörper Manfred Smolik, Inst.f. Materialphysik, Univ. Wien Überblick Historischer Abriß Rastersondenmikroskopie

Mehr

Auflösungsvermögen von Mikroskopen

Auflösungsvermögen von Mikroskopen Auflösungsvermögen von Mikroskopen Menschliches Auge Lichtmikroskopie 0.2 µm Optisches Nahfeld Rasterelektronen mikroskopie Transmissions Elektronenmikroskopie Rastersonden mikroskopie 10 mm 1 mm 100 µm

Mehr

Rasterkraftmikroskopie ( atomic force microscopy AFM)

Rasterkraftmikroskopie ( atomic force microscopy AFM) Universität Regensburg 8..00 Vortrag zum Seminar Mikroskopie Rasterkraftmikroskopie ( atomic force microscopy AFM) Vortrag von Emanuel Heindl Inhaltsverzeichnis: Die Idee und das Grundmessprinzip des Rasterkraftmikroskops

Mehr

Verfahren der Mikrosystemtechnik zur Herstellung/Charakterisierung von Chemo- und Biosensoren

Verfahren der Mikrosystemtechnik zur Herstellung/Charakterisierung von Chemo- und Biosensoren Verfahren der Mikrosystemtechnik zur Herstellung/Charakterisierung von Chemo- und Biosensoren Teil 8: Analysemethoden zur Charakterisierung der Mikrosysteme II Dr. rer. nat. Maryam Weil Fachhochschule

Mehr

Rastermethoden 1. Klaus Meerholz WS 2010/11. Raster. Reinzoomen

Rastermethoden 1. Klaus Meerholz WS 2010/11. Raster. Reinzoomen Rastermethoden / Bildgebende Verfahren Rastermethoden 1 Klaus Meerholz WS 2010/11 Sequentielle Datenerfassung: Parallele Datenerfassung: Rastern Scannen Abbilden Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 1 Klaus

Mehr

Rastersonden-Mikroskopie (SPM)

Rastersonden-Mikroskopie (SPM) Rastersonden-Mikroskopie (SPM) Der Rastersonden-Mikroskopie (SPM) liegt eine geregelte rasternde Bewegung einer spitz zulaufenden Messsonde in unmittelbarer Nähe zur Probenoberfläche zugrunde. Die erhaltenen

Mehr

Rasterkraftmikroskopie

Rasterkraftmikroskopie Eine kleine Einführung in die Rasterkraftmikroskopie Ein Vortrag von Daniel C. Manocchio Ridnaun, Jan. 2001 Inhalt: Geschichte der Rastersondenmikroskopie Generelles Funktionsprinzip Topographie-Modi in

Mehr

Atomic Force Microscopy

Atomic Force Microscopy 1 Gruppe Nummer 103 29.4.2009 Peter Jaschke Gerd Meisl Atomic Force Microscopy Inhaltsverzeichnis 1. Einleitung... 2 2. Theorie... 2 3. Ergebnisse und Fazit... 4 2 1. Einleitung Die Atomic Force Microscopy

Mehr

Atomic Force Microscope (AFM)

Atomic Force Microscope (AFM) Materials Science & Technology Atomic Force Microscope (AFM) Workshop am 21. Juni 2006 Analytikmöglichkeiten von textilen Materialien und Oberflächen bis in den Nanometerbereich Jörn Lübben Atomare Kraftmikroskopie

Mehr

Rasterkraftmikroskopie

Rasterkraftmikroskopie Rasterkraftmikroskopie Patrick Schömann Technische Universität München 06.05.2014 1 / 34 Übersicht 1 Geschichte der Rastersondenmikroskopie 2 Rastertunnelmikroskop 3 Rasterkraftmikroskop Aufbau Wechselwirkungskräfte

Mehr

Sonderforschungsbereich 379

Sonderforschungsbereich 379 Sonderforschungsbereich 379 Mikromechanische Sensor- und Aktorarrays Elektrische Kraftmikroskopie Verfahren und Implementierung mit MEMS Prof. Dr. Michael Hietschold T Chemnitz, Institut für f r Physik

Mehr

2 Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie

2 Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie 7 1 Einleitung Mit der Entwicklung des Rastertunnelmikroskops im Jahr 1982 durch Binnig und Rohrer [1], die 1986 mit dem Physik-Nobelpreis ausgezeichnet wurde, wurde eine neue Klasse von Mikroskopen zur

Mehr

Das Rastertunnelmikroskop

Das Rastertunnelmikroskop Das Rastertunnelmikroskop 1 engl.: scanning tunneling microscope (kurz: STM) Nobelpreis für Physik 1986 Heinrich Rohrer Gerd Binnig Grundlagen STM 2 Das 1981 entwickelte Rastertunnelmikroskop (kurz: RTM)

Mehr

Rastersondenmikroskopie an molekularen Nanostrukturen

Rastersondenmikroskopie an molekularen Nanostrukturen Rastersondenmikroskopie an molekularen Nanostrukturen Michael Mannsberger, Institut für Materialphysik Rastersondenmikroskopische Methoden, die atomare Auflösung erlauben Vortrag 1: Dynamische Rasterkraftmikroskopie

Mehr

Kleinster Abstand d zweier Strukturen die noch als getrennt abgebildet werden können.

Kleinster Abstand d zweier Strukturen die noch als getrennt abgebildet werden können. phys4.02 Page 1 1.5 Methoden zur Abbildung einzelner Atome Optische Abbildung: Kann man einzelne Atome 'sehen'? Auflösungsvermögen: Kleinster Abstand d zweier Strukturen die noch als getrennt abgebildet

Mehr

Atomic Force Microscopy: Grundlagen Methoden - Anwendung

Atomic Force Microscopy: Grundlagen Methoden - Anwendung AFM - Inhalt Grundlagen Grundprinzip Komponenten Spitzenwahl Methoden Contact-mode Tapping-mode Spezielle Modi Artefakte Beispielhafte Anwendung Langmuir-Blodgett Schichten Verwendungshinweis: Die verwendeten

Mehr

Rasterkraftmikroskop (AFM)

Rasterkraftmikroskop (AFM) Physikalisches Institut der Universität Bayreuth PHYSIKALISCHES PRAKTIKUM FÜR FORTGESCHRITTENE Rasterkraftmikroskop (AFM) F. Schwaiger, W. Richter Version 9-2010 2 Inhaltsverzeichnis Seite 1 Einführung

Mehr

Anleitung zum Praktikum für Fortgeschrittene. Versuch: Scanning Tunneling Microscopy. Betreuer: B.Sc. Lienhard Wegewitz

Anleitung zum Praktikum für Fortgeschrittene. Versuch: Scanning Tunneling Microscopy. Betreuer: B.Sc. Lienhard Wegewitz Anleitung zum Praktikum für Fortgeschrittene Versuch: Scanning Tunneling Microscopy Betreuer: B.Sc. Lienhard Wegewitz Institut für Physik und Physikalische Technologien Technische Universität Clausthal

Mehr

Rastertunnelmikroskopie

Rastertunnelmikroskopie Rastertunnelmikroskopie Michael Goerz FU Berlin Fortgeschrittenenpraktikum A WiSe 2006/2007 20. November 2006 Gliederung 1 Einführung Historischer Überblick Konzept, Zielsetzung und Anwendung 2 Aufbau

Mehr

Zeichne 4 stehende Wellen, die auf einer Gitarre entstehen können! Durch welche mathematischen Funktionen lassen sich diese Wellen beschreiben?

Zeichne 4 stehende Wellen, die auf einer Gitarre entstehen können! Durch welche mathematischen Funktionen lassen sich diese Wellen beschreiben? Minitest 8 Zeichne 4 stehende Wellen, die auf einer Gitarre entstehen können! Durch welche mathematischen Funktionen lassen sich diese Wellen beschreiben? TIRF Mikroskopie TIRF Mikroskopie (Total internal

Mehr

2. Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie

2. Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie 7 2. Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie 2.1. Entwicklung der Rastersondenmikroskopien Die Rastersondenmikroskopie-Techniken untersuchen eine Probe im sogenannten Nahfeld, d.h. die Sonde, die aus einer

Mehr

Das Rastertunnelmikroskop

Das Rastertunnelmikroskop Das Rastertunnelmikroskop Die Nanostrukturforschung ist die Schlüsseltechnologie des 21. Jahrhunderts. Das Gebiet der Nanowissenschaften beinhaltet interessante Forschungsgebiete, die einen Teil ihrer

Mehr

Rasterkraftmikroskopie Fortgeschrittenen Praktikum I/II

Rasterkraftmikroskopie Fortgeschrittenen Praktikum I/II Rasterkraftmikroskopie Fortgeschrittenen Praktikum I/II Zusammenfassung Das AFM (Atomic Force Microscope), zu Deutsch Rasterkraftmikroskop, ist ein wichtiger Vertreter der Familie der Rastersondenmikroskope

Mehr

*DE102007045860A120090409*

*DE102007045860A120090409* *DE102007045860A120090409* (19) Bundesrepublik Deutschland Deutsches Patent- und Markenamt (10) DE 10 2007 045 860 A1 2009.04.09 (12) Offenlegungsschrift (21) Aktenzeichen: 10 2007 045 860.8 (22) Anmeldetag:

Mehr

Tabelle: Kristalle - Übesicht und Klassifikation

Tabelle: Kristalle - Übesicht und Klassifikation Tabelle: Kristalle - Übesicht und Klassifikation Kristall- / Bindungstypen A-A Beispiele A-B Wechselwirkung (attraktive Terme) attraktives Potential E bin (ev) R 0 (Å) T schm (K) 1) Edelgaskristall, Molekülkristall

Mehr

Arbeitsblatt Einsatz eines LEGO -AFM-Modells im Unterricht

Arbeitsblatt Einsatz eines LEGO -AFM-Modells im Unterricht Bildungsplattform zur Mikro- und Nanotechnologie für Berufsfach- und Mittelschulen sowie Höhere Fachschulen Arbeitsblatt Einsatz eines LEGO -AFM-Modells im Unterricht Arbeitsunterlagen (Handout) für Lernende

Mehr

Atomkraftmikroskopie (AFM)

Atomkraftmikroskopie (AFM) Atomkraftmikroskopie (AFM) 1. Einleitung AFM (Atomic Force Microscopy auf Englisch) ist zur Zeit eine der am häufigsten verwendeten Oberflächenanalysemethoden. Diese Methode erlaubt die Untersuchungen

Mehr

2. Bildgebende Verfahren

2. Bildgebende Verfahren Vorlesung Charakterisierung von Halbleitermaterialien I Elektronenmikroskopie (Raster-, Transmissionselektronenmikroskop) (Rasterkraft-, Rastertunnel-, Rasterkapazitätsmikroskop) Lichtoptische Verfahren

Mehr

Rastersondenmethoden (SPM)

Rastersondenmethoden (SPM) Rastersondenmethoden (SPM) Tunnel- (STM) und Kraft- (AFM) Mikroskopie Vorlesung Methoden der Festkörperchemie WS 2013/2014, C. Röhr Einleitung Kraftmikroskopie Apparatives Ergebnisse Literatur Einleitung

Mehr

Rasterkraftmikroskopie (AFM) von supramolekularen Systemen

Rasterkraftmikroskopie (AFM) von supramolekularen Systemen Rasterkraftmikroskopie (AFM) von supramolekularen Systemen Institut für Organische Chemie Julius-Maximilians-Universität Würzburg Betreuer: Dr. Vladimir Stepanenko Arbeitskreis Prof. Dr. Frank Würthner

Mehr

Methoden der Oberflächenphysik: Struktur. Rastertunnelmikroskopie und Rasterkraftmikroskopie. SS 09 Oberflächenphysik

Methoden der Oberflächenphysik: Struktur. Rastertunnelmikroskopie und Rasterkraftmikroskopie. SS 09 Oberflächenphysik Methoden der Oberflächenphysik: Struktur Rastertunnelmikroskopie und Rasterkraftmikroskopie Gliederung Kleine Geschichte der Mikroskopie Prinzip der Rastertunnelmikroskopie (RTM) - Quantenmechanische Grundlage

Mehr

5.3 Weitere Wechselwirkung mit Photonen: Spektroskopie

5.3 Weitere Wechselwirkung mit Photonen: Spektroskopie Dünnschichtanalytik Teil 2 5.3 Weitere Wechselwirkung mit Photonen: Spektroskopie [Schmidl] 1 5.3.1 Wechselwirkungen mit Photonen A - Elastische Wechselwirkung: - sekundäre Strahlung - Beugungsexperimente

Mehr

AFM Atomic-Force-Microscope K. Harnisch, R. Schenk

AFM Atomic-Force-Microscope K. Harnisch, R. Schenk AFM Atomic-Force-Microscope K. Harnisch, R. Schenk 1 Gliederung I. Einleitung I.Aufbau II.Messeinrichtung III.Cantilever IV.Spitzen I.Modi und deren Anwendung I.Contact-Modus II.Tapping-Modus III.Peak-Force-Tapping/

Mehr

Zellulose-Synthese. künstlich: enzymatische Polymerisation von Zellobiose-Fluorid

Zellulose-Synthese. künstlich: enzymatische Polymerisation von Zellobiose-Fluorid 18 Zellulose-Synthese künstlich: enzymatische Polymerisation von Zellobiose-Fluorid biologisch: Enzymkomplexe in der Zellmembran (terminal complexes, TCs) sphärulitische Kristalle außen S. Kobayashi et

Mehr

PD Dr. André Schirmeisen. Raster-Kraft-Mikroskop (engl. Atomic Force Microscope, AFM)

PD Dr. André Schirmeisen. Raster-Kraft-Mikroskop (engl. Atomic Force Microscope, AFM) Vertiefungsvorlesung Nanomaterials and Fabrication: Atomic Force Microscopy II PD Dr. André Schirmeisen Physikalisches Institut, WWU Münster www.centech.de/nanomechanics Raster-Kraft-Mikroskop (engl. Atomic

Mehr

Rasterkraftmikroskopie

Rasterkraftmikroskopie Friedrich Schiller Universität Jena Institut für Physikalische Chemie PC IV Praktikum Rasterkraftmikroskopie Topographie nanostrukturierter Materialien Bestimmung der Boltzmannkonstante Inhalt 1. Vorausgesetzte

Mehr

Oberflächen vom Nanometer bis zum Meter messen

Oberflächen vom Nanometer bis zum Meter messen Oberflächen vom Nanometer bis zum Meter messen Dr. Thomas Fries Fries Research & Technology GmbH (FRT), www.frt-gmbh.com In den Bereichen F&E und Produktionskontrolle spielt die präzise Messung von Oberflächen

Mehr

Fortgeschrittenen-Praktikum PIII. Rasterkraftmikroskopie

Fortgeschrittenen-Praktikum PIII. Rasterkraftmikroskopie Fortgeschrittenen-Praktikum PIII Rasterkraftmikroskopie Titelbild: Kupfer-Nanostruktur auf Gold, abgeschieden mit der Spitze eines Rasterkraftmikroskopes als»elektrochemischem Stift«. Würde man eine Million

Mehr

Brücke zwischen der modernen physikalischen Forschung und dem Unternehmertum im Bereich Nanotechnologie. Quantenphysik

Brücke zwischen der modernen physikalischen Forschung und dem Unternehmertum im Bereich Nanotechnologie. Quantenphysik Brücke zwischen der modernen physikalischen Forschung und dem Unternehmertum im Bereich Nanotechnologie Quantenphysik Die Physik der sehr kleinen Teilchen mit grossartigen Anwendungsmöglichkeiten Teil

Mehr

Übersicht. Was soll gemessen werden? Physikalische Eigenschaften Kap. C-8 (z.b. Topographie, elektr., magnet., opt.)

Übersicht. Was soll gemessen werden? Physikalische Eigenschaften Kap. C-8 (z.b. Topographie, elektr., magnet., opt.) Übersicht Was soll gemessen werden? Physikalische Eigenschaften Kap. C-8 (z.b. Topographie, elektr., magnet., opt.) Chemische Zusammensetzung Kap. C-9 (Elemente, Stöchiometrie, Bindung) Prof. Dr. H. Baumgärtner

Mehr

Atom-, Molekül- und Festkörperphysik

Atom-, Molekül- und Festkörperphysik Atom-, Molekül- und Festkörperphysik für LAK, SS 2014 Peter Puschnig basierend auf Unterlagen von Prof. Ulrich Hohenester 1. Vorlesung, 6. 3. 2014 Wie groß sind Atome? Atomare Einheiten, Welle / Teilchen

Mehr

Scanning Probe Microscopy - A plethora of possibilities

Scanning Probe Microscopy - A plethora of possibilities Scanning Probe Microscopy - A plethora of possibilities Topics The basic idea The scanning part Scanning Tunneling Microscopy (STM) Theoretical backround Applications Various other modes of interest Atomic

Mehr

Scanning Probe Microscopy UHV AFM/STM Bedienungsanleitung

Scanning Probe Microscopy UHV AFM/STM Bedienungsanleitung Scanning Probe Microscopy UHV AFM/STM Bedienungsanleitung OMICRON Vakuumphysik GmbH, 1998, 2000 Kurze Bemerkung: Die folgende Bedienungsanleitung für ein Omicron UHV AFM/STM mit ausgewählten Beispielen

Mehr

Experimentalphysik III Experimentelle Grundlagen der Quantenphysik

Experimentalphysik III Experimentelle Grundlagen der Quantenphysik xperimentalphysik III xperimentelle Grundlagen der Quantenphysik Frank Cichos Vorlesung 8 Potentialstufe > kin A e ikx < kin (x) p B e ikx D e ikx = p I II x Potentialstufe kin e kin A B A = B αx x λ π

Mehr

Nanotechnologie ist unsere Spezialität. Präzision ist unsere Leidenschaft.

Nanotechnologie ist unsere Spezialität. Präzision ist unsere Leidenschaft. NANOWORLD Nanotechnologie ist unsere Spezialität. Präzision ist unsere Leidenschaft. Innovation und Erfindergeist sind die Schlüssel zu unserem Erfolg. Kein Wunder, denn unser Firmensitz ist in der Schweiz,

Mehr

Methoden. Spektroskopische Verfahren. Mikroskopische Verfahren. Streuverfahren. Kalorimetrische Verfahren

Methoden. Spektroskopische Verfahren. Mikroskopische Verfahren. Streuverfahren. Kalorimetrische Verfahren Methoden Spektroskopische Verfahren Mikroskopische Verfahren Streuverfahren Kalorimetrische Verfahren Literatur D. Haarer, H.W. Spiess (Hrsg.): Spektroskopie amorpher und kristtiner Festkörper Steinkopf

Mehr

Vorlesung. Rastersondenmikroskopie WS 2010/11. Themenüberblick. Warum ist Nanotechnologie so interessant? Einzelne Atome bewegen Eine Vision in 1959

Vorlesung. Rastersondenmikroskopie WS 2010/11. Themenüberblick. Warum ist Nanotechnologie so interessant? Einzelne Atome bewegen Eine Vision in 1959 Vorlesung Rastersondenmikroskopie WS 2010/11 Priv. Doz. Dr. A. Schirmeisen www.centech.de/nanomechanics Themenüberblick 0. Einführung 1. Rastertunnelmikroskopie (STM) 2. Manipulation: Atome verschieben

Mehr

Rasterkraftmikroskopie. (atomic force microscopy)

Rasterkraftmikroskopie. (atomic force microscopy) Rasterkraftmikroskopie (atomic force microscopy) Rasterkraftmikroskopie Einleitung Überblick Die Vorläufertechnologie Rastertunnelmikroskopie Entwicklung der Rasterkraftmikroskopie Aufbau und Funktionsweise

Mehr

Visualisierung des Unsichtbaren. Einblicke in die Nano-Welt

Visualisierung des Unsichtbaren. Einblicke in die Nano-Welt National Center of Competence in Research Nanoscale Science Visualisierung des Unsichtbaren Einblicke in die Nano-Welt M. Guggisberg www.nccr-nano.org www.nano-world.org National Center of Competence in

Mehr

FP-Versuch Nr. 20 Rasterkraftmikroskopie

FP-Versuch Nr. 20 Rasterkraftmikroskopie FP-Versuch Nr. 20 Rasterkraftmikroskopie Martin Breitschaft Experimentalphysik VI, Universität Augsburg 5. November 2010 In diesem Versuch lernen Sie mit dem Rasterkraftmikroskop ein Messgerät kennen,

Mehr

Einzelmolekül-Kraftspektroskopie an kovalenten Bindungen

Einzelmolekül-Kraftspektroskopie an kovalenten Bindungen Einzelmolekül-Kraftspektroskopie an kovalenten Bindungen VDI Arbeitskreis Mechatronik 18-01-2012 f f Dr. Sebastian Schmidt Fakultät für Mikro- und Feinwerktechnik, Physikalische Technik der Hochschule

Mehr

Handhabung auf der Nanoskala: Graphen

Handhabung auf der Nanoskala: Graphen Handhabung auf der Nanoskala: Graphen Sören Zimmermann, Albert Sill 1 Motivation Handhabung, Charakterisierung und Montage von nanoskaligen Objekten - - eine der Hauptfragestellungen der Nanotechnologie

Mehr

2 Mechanische Nanostrukturierung

2 Mechanische Nanostrukturierung 1 Einleitung Die Nanotechnologie ist ein hochaktuelles Gebiet der Forschung, da durch nanoskalige Komponenten neue Funktionalitäten entstehen, die eine Vielzahl neuer Anwendungsgebiete eröffnen [1]. Will

Mehr

Mikroskopie in der Biochemie

Mikroskopie in der Biochemie Mikroskopie in der Biochemie Dr.H.Schlichting hschlichting@viametrixx.de Konventionelles Lichtmikroskop Antonie van Leuuwenhoeck, 1660 275 fach, 1,3 um Konventionelles Lichtmikroskop Verbessertes Design,

Mehr

Hochauflösende Untersuchung von nanostrukturierten Gasdiffusionsschichten (GDL / MPL) mit materialsensitiver Rastersondenmikroskopie

Hochauflösende Untersuchung von nanostrukturierten Gasdiffusionsschichten (GDL / MPL) mit materialsensitiver Rastersondenmikroskopie Hochauflösende Untersuchung von nanostrukturierten Gasdiffusionsschichten (GDL / MPL) mit materialsensitiver Rastersondenmikroskopie Renate Hiesgen a, K. Andreas Friedrich b Ines Wehl a, Jürgen Kraut a,

Mehr

Tanz des Spitzenatoms auf der Oberfläche. Einfluss der Drehung im 1-Atom Modell

Tanz des Spitzenatoms auf der Oberfläche. Einfluss der Drehung im 1-Atom Modell Tanz des Spitzenatoms auf der Oberfläche Struktur von HOPG Hollow site ( 1, 2, 1, 0 ) Hölscher et al., PRB 57, 2457 (1998) Man sieht nicht die Atome, sondern nur die Zwischenräume! Einfluss der Drehung

Mehr

Methoden. Spektroskopische Verfahren. Mikroskopische Verfahren. Streuverfahren. Kalorimetrische Verfahren

Methoden. Spektroskopische Verfahren. Mikroskopische Verfahren. Streuverfahren. Kalorimetrische Verfahren Methoden Spektroskopische Verfahren Mikroskopische Verfahren Streuverfahren Kalorimetrische Verfahren Literatur D. Haarer, H.W. Spiess (Hrsg.): Spektroskopie amorpher und kristalliner Festkörper Steinkopf

Mehr

Inhaltsverzeichnis. 1 Motivation 1. 2 Grundlagen 2. 2.1 Nanostrukturforschung 2. 2.2 Rastersondenverfahren 2. 3 Rasterkraftmikroskopie 3

Inhaltsverzeichnis. 1 Motivation 1. 2 Grundlagen 2. 2.1 Nanostrukturforschung 2. 2.2 Rastersondenverfahren 2. 3 Rasterkraftmikroskopie 3 Inhaltsverzeichnis 1 Motivation 1 2 Grundlagen 2 2.1 Nanostrukturforschung 2 2.2 Rastersondenverfahren 2 3 Rasterkraftmikroskopie 3 3.1 Kräfte zwischen Sonde und Probe 3 3.2 Rasterkraftsonden 4 3.3 Signaldetektion

Mehr

Kann ich mit Nanotechnologie Geld verdienen?

Kann ich mit Nanotechnologie Geld verdienen? Kann ich mit Nanotechnologie Geld verdienen? Presentation STM.ppt 1 Wie verdient Nanosurf Geld mit Nanotechnologie? Pieter van Schendel Nanosurf AG Presentation STM.ppt 2 Inhalt Wie organisiert sich ein

Mehr

Physikalische Chemie - Fortgeschrittenenpraktikum -

Physikalische Chemie - Fortgeschrittenenpraktikum - Physikalische Chemie - - Rasterkraftmikroskopie Version: 29. Januar 2015 Titelbild: Dieses Bild zeigt Latexnanopartikel auf einem Glassubstrat. Es wurde mit einem NanoSurf AFM im Praktikum aufgenommen.

Mehr

Dienstleistungen apparative Ausstattung analytische Möglichkeiten. des Instituts für. Physikalische Chemie

Dienstleistungen apparative Ausstattung analytische Möglichkeiten. des Instituts für. Physikalische Chemie Dienstleistungen apparative Ausstattung analytische Möglichkeiten des Instituts für Physikalische Chemie Röntgendiffraktometrie Phasenidentifikation - Quantifizierung von Phasen in zusammengesetzten Proben

Mehr

RASTERKRAFTMIKROSKOPIE IM UHV:

RASTERKRAFTMIKROSKOPIE IM UHV: RASTERKRAFTMIKROSKOPIE IM UHV: Abbildungsprozesse im Kontaktmodus und im dynamischen Modus am Beispiel der Gold (111) 22 (±1) x 3- und der Si (111) 7 x 7 - Oberfläche Dissertation zur Erlangung des Grades

Mehr

Einführung in die Biophysik - Übungsblatt 3 - mit Lösung

Einführung in die Biophysik - Übungsblatt 3 - mit Lösung Einführung in die Biophysik - Übungsblatt 3 - mit Lösung May 21, 2015 Allgemeine Informationen: Die Übung ndet immer montags in Raum H030, Schellingstr. 4, direkt im Anschluss an die Vorlesung statt. Falls

Mehr

Versuch C2. Untersuchungsmethoden der Nanotechnologie: Oberflächenanalyse mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie

Versuch C2. Untersuchungsmethoden der Nanotechnologie: Oberflächenanalyse mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie Versuch C2 Untersuchungsmethoden der Nanotechnologie: Oberflächenanalyse mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie Praktikum für Fortgeschrittene am Dritten Physikalischen Institut der Universität Göttingen

Mehr

Rasterkraftmikroskopie

Rasterkraftmikroskopie Rasterkraftmikroskopie Rasterkraftmikroskopische Aufnahme von roten Blutkörperchen (links) und eines Mottenflügels (rechts) Quelle: www.nanosurf.ch In diesem Versuch lernen Sie mit dem Rasterkraftmikroskop

Mehr

Alle Atome haben Massen ungefähr einem vielfachen der Masse des Wasserstoff Atoms.

Alle Atome haben Massen ungefähr einem vielfachen der Masse des Wasserstoff Atoms. 02. Atom Page 1 2. Das Atom Atom: kleinster unveränderbarer Bestandteil eines chemischen Elements Charakteristische Eigenschaften von Atomen: Masse, Volumen, Ladung 2.1 Bestimmung der Atommasse expt. Befund:

Mehr

Graphen. Kristin Kliemt, Carsten Neumann

Graphen. Kristin Kliemt, Carsten Neumann Graphen Kristin Kliemt, Carsten Neumann 18.01.2012 1 Gliederung Kohlenstoffmodifikationen (Diamant, Graphit, Graphen) Stabilität und Struktur Dispersionsrelation Eigenschaften und Herstellung von Graphen

Mehr

h- Bestimmung mit LEDs

h- Bestimmung mit LEDs h- Bestimmung mit LEDs GFS im Fach Physik Nicolas Bellm 11. März - 12. März 2006 Der Inhalt dieses Dokuments steht unter der GNU-Lizenz für freie Dokumentation http://www.gnu.org/copyleft/fdl.html Inhaltsverzeichnis

Mehr

Auswertung zum Versuch: Rasterkraftmikroskopie. Inhaltsverzeichnis. Inhaltsverzeichnis

Auswertung zum Versuch: Rasterkraftmikroskopie. Inhaltsverzeichnis. Inhaltsverzeichnis Christian Krause, Matr. 1956616 Inhaltsverzeichnis Auswertung zum Versuch: Rasterkraftmikroskopie Inhaltsverzeichnis 1 Theoretische Grundlagen 2 1.1 Grundprinzip.........................................

Mehr

Graphene. L. Holtmeier. Proseminar Physik, 2013. L. Holtmeier (University of Bielefeld) Graphene 2013 1 / 18

Graphene. L. Holtmeier. Proseminar Physik, 2013. L. Holtmeier (University of Bielefeld) Graphene 2013 1 / 18 Graphene L. Holtmeier Proseminar Physik, 2013 L. Holtmeier (University of Bielefeld) Graphene 2013 1 / 18 Gliederung 1 Motivation und Einleitung 2 Entdeckung, Herstellung und Identifikation 3 Eigenschaften

Mehr

22. Chemische Bindungen

22. Chemische Bindungen .05.03. Chemische Bindungen Molekül: System aus zwei oder mehr Atomen Kleinste Einheit einer Substanz, die deren chemische Eigenschaften ausweist Quantenmechanisches Vielteilchensystem: Exakte explizite

Mehr

Rasterkraftmikroskopie an dünnen organischen und metall/organischen Schichten auf Siliziumoxid

Rasterkraftmikroskopie an dünnen organischen und metall/organischen Schichten auf Siliziumoxid Rasterkraftmikroskopie an dünnen organischen und metall/organischen Schichten auf Siliziumoxid Dissertation zur Erlangung des Grades eines Doktors der Naturwissenschaften von Michael Reiniger Fachbereich

Mehr

Untersuchungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) an Oberflächen von amorphen und kristallinen Festkörpern

Untersuchungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) an Oberflächen von amorphen und kristallinen Festkörpern Untersuchungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) an Oberflächen von amorphen und kristallinen Festkörpern Dissertation zur Erlangung des Doktorgrades (Dr. rer. nat.) der Mathematisch-Naturwissenschaftlichen

Mehr

Praktikumsversuch Rastertunnelmikroskopie. Institut für Festkörperphysik Abteilung ATMOS

Praktikumsversuch Rastertunnelmikroskopie. Institut für Festkörperphysik Abteilung ATMOS Praktikumsversuch Rastertunnelmikroskopie Institut für Festkörperphysik Abteilung ATMOS Ansprechpartner E-Mail-Adresse: Christian Brand brand@fkp.uni-hannover.de Inhaltsverzeichnis 1 Theorie 1 1.1 Tunnelefekt..............................

Mehr

Rasterkraftmikroskopie in fluider Umgebung

Rasterkraftmikroskopie in fluider Umgebung Rasterkraftmikroskopie in fluider Umgebung Dissertation zur Erlangung des akademischen Grades Dr. rer. nat. Fakultät für Naturwissenschaften Universität Ulm Lothar Zitzler geboren in Immenstadt 2005 Amtierender

Mehr

Praktikumsversuch AFM. Institut für Festkörperphysik Abteilung ATMOS

Praktikumsversuch AFM. Institut für Festkörperphysik Abteilung ATMOS Praktikumsversuch AFM Institut für Festkörperphysik Abteilung ATMOS Ansprechpartner E-Mail-Adresse: Philipp Kröger kroeger@fkp.uni-hannover.de Inhaltsverzeichnis 1 Theorie 1 1.1 Betriebsmodi des AFM........................

Mehr

Multifunktionale Nanoanalytik für eine Nanopositionier- und Messmaschine

Multifunktionale Nanoanalytik für eine Nanopositionier- und Messmaschine Multifunktionale Nanoanalytik für eine Nanopositionier- und Messmaschine Dissertation zur Erlangung des akademischen Grades Doktoringenieur (Dr.-Ing.) vorgelegt der Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik

Mehr

Theoretische Modellierung von experimentell ermittelten Infrarot-Spektren

Theoretische Modellierung von experimentell ermittelten Infrarot-Spektren Sitzung des AK-Thermophysik am 24./25. März 211 Theoretische Modellierung von experimentell ermittelten Infrarot-Spektren M. Manara, M. Arduini-Schuster, N. Wolf, M.H. Keller, M. Rydzek Bayerisches Zentrum

Mehr

Protokoll zum Versuch Rasterkraftmikroskopie

Protokoll zum Versuch Rasterkraftmikroskopie Protokoll zum Versuch Rasterkraftmikroskopie Der Versuch wurde durchgeführt im Rahmen des Physikalisch-Chemischen Fortgeschrittenen Praktikums 11. Dez. 2005 Gruppe 2 Jasmin Fischer Benjamin Vogt Inhaltsverzeichnis

Mehr

Wiederholung: Duktilität

Wiederholung: Duktilität Wiederholung: Duktilität Bulkmaterial: prozentuale Bruchdehnung ε b lz l0 εb = l Dünne Schicht: 3-Punkt-Biegetest 0 l Z = Länge der Probe nach dem Bruch l 0 = Länge der Probe vor dem Bruch ε B = Bruchdehnung

Mehr

Untersuchungsmethoden der Nanotechnologie: Oberflächenanalyse mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie

Untersuchungsmethoden der Nanotechnologie: Oberflächenanalyse mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie Physikalisches Praktikum für Fortgeschrittene Versuch C2 Untersuchungsmethoden der Nanotechnologie: Oberflächenanalyse mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie Wintersemester 2006 / 2007 Name: Daniel Scholz

Mehr

Versuch 42: Rastertunnelmikroskop

Versuch 42: Rastertunnelmikroskop Fortgeschrittenen Praktikum, Studiengang Physik, Universität Erlangen Versuch 4: Rastertunnelmikroskop Prof. Dr. Alexander Schneider Lehrstuhl für Festkörperphysik Universität Erlangen alexander.schneider@physik.uni-erlangen.de

Mehr

RASTERKRAFTMIKROSKOPIE

RASTERKRAFTMIKROSKOPIE B47 Physikalisches Praktikum für Fortgeschrittene Betreuer: Prof. Dr. Sabine Maier sabine.maier@physik.uni erlangen.de RASTERKRAFTMIKROSKOPIE 2 Einleitung Version: 1.0 Erstellt am 9.4.2012 Versuch B47:

Mehr

Geburtsdatum: BG/BRG Biondekgasse, Baden

Geburtsdatum: BG/BRG Biondekgasse, Baden NACHNAME, Vorname: LAIMER Tamina Geburtsdatum: 03.02.1991 Schule: BG/BRG Biondekgasse, Baden Schulstufe: 10. Schulstufe TITEL des Innovationspraktikums: Atomic Force Microscopy Of The Interaction Of Functionalyzed

Mehr

Chemical Bonding. type Energies Forces. ionic E ~ 1/r F ~ 1/r 2. covalent E ~ 1/r 3 F ~ 1/r 4. van der Waals E ~ 1/r 5 F ~ 1/r 6.

Chemical Bonding. type Energies Forces. ionic E ~ 1/r F ~ 1/r 2. covalent E ~ 1/r 3 F ~ 1/r 4. van der Waals E ~ 1/r 5 F ~ 1/r 6. Chemical Bonding type Energies Forces ionic E ~ 1/r F ~ 1/r 2 covalent E ~ 1/r 3 F ~ 1/r 4 van der Waals E ~ 1/r 5 F ~ 1/r 6 Chemical Bonding Chemical Bonding Inmixing of sodium states Antiparallel Couplings

Mehr

Simulation und Messung des thermischen Widerstandes von Silicium-Germanium- Hetero-Bipolartransistoren

Simulation und Messung des thermischen Widerstandes von Silicium-Germanium- Hetero-Bipolartransistoren Simulation und Messung des thermischen Widerstandes von Silicium-Germanium- Hetero-Bipolartransistoren Korndörfer, Falk IHP Im Technologiepark 25 15236 Frankfurt (Oder) Germany Überblick Motivation R TH

Mehr

Halbleiter-Bragg-Spiegeln. Eine neue Methode zur Metrologie von Dünn- und Vielschichtsystemen

Halbleiter-Bragg-Spiegeln. Eine neue Methode zur Metrologie von Dünn- und Vielschichtsystemen 1 in Halbleiter-Bragg-Spiegeln Eine neue Methode zur Metrologie von Dünn- und Vielschichtsystemen F., O. Ristow, T. Dekorsy Universität Konstanz, Center for Applied Photonics, Konstanz, Germany 2 Gliederung

Mehr

Oberflächenanalyse mit Rasterkraft- (AFM) und Rastertunnelmikroskop (STM)

Oberflächenanalyse mit Rasterkraft- (AFM) und Rastertunnelmikroskop (STM) Oberflächenanalyse mit Rasterkraft- (AFM) und Rastertunnelmikroskop (STM) Julian Kluge Betreuer: Dr. Michael Jetter Date: 27.04.2016 July 8, 2016 Contents 1 Einführung 2 2 Geschichte 2 3 Rastertunnelmikroskop

Mehr

C. Nanotechnologie 9. Chem. Analyse 9.1 Übersicht. Prinzip. Prof. Dr. H. Baumgärtner C9-1

C. Nanotechnologie 9. Chem. Analyse 9.1 Übersicht. Prinzip. Prof. Dr. H. Baumgärtner C9-1 Prinzip 9.1 Übersicht Prof. Dr. H. Baumgärtner C9-1 Um eine Probe analysieren zu können muss sie mit Licht oder Teilchen bestrahlt werden. Die Reaktion der Probe auf diese Anregung führt zur Abstrahlung

Mehr

Einzigartiges Analysegerät für Oberflächen

Einzigartiges Analysegerät für Oberflächen Medienmitteilung Dübendorf, St. Gallen, Thun, 22. August 2013 Aus zwei mach eins: 3D-NanoChemiscope Einzigartiges Analysegerät für Oberflächen Das 3D-NanoChemiscope ist ein Wunderwerk modernster Analysetechnik.

Mehr

5.1. Kinetische Gastheorie. Ziel: Der Gasdruck: Kolben ohne Reibung, Gasatome im Volumen V Wie groß ist F auf den Kolben?

5.1. Kinetische Gastheorie. Ziel: Der Gasdruck: Kolben ohne Reibung, Gasatome im Volumen V Wie groß ist F auf den Kolben? 5.1. Kinetische Gastheorie z.b: He-Gas : 3 10 Atome/cm diese wechselwirken über die elektrische Kraft: Materie besteht aus sehr vielen Atomen: gehorchen den Gesetzen der Mechanik Ziel: Verständnis der

Mehr

3. Cluster und Nanopartikel. Cluster: Anzahl von Atomen und Struktur ist wohldefiniert Nanopartikel: Anzahl von Atomen nicht genau bestimmt

3. Cluster und Nanopartikel. Cluster: Anzahl von Atomen und Struktur ist wohldefiniert Nanopartikel: Anzahl von Atomen nicht genau bestimmt 3. Cluster und Nanopartikel Cluster: Anzahl von Atomen und Struktur ist wohldefiniert Nanopartikel: Anzahl von Atomen nicht genau bestimmt 1 Struktur ist grössenabhängig Bsp.: Au-Cluster Erst große Cluster

Mehr

Ferrofluide. Physikalische Grundlagen. http://en.wikipedia.org/wiki/file:ferrofluid_close.jpg

Ferrofluide. Physikalische Grundlagen. http://en.wikipedia.org/wiki/file:ferrofluid_close.jpg Ferrofluide Physikalische Grundlagen http://en.wikipedia.org/wiki/file:ferrofluid_close.jpg Inhalt Definition Herstellung Maßnahmen zur Stabilisierung Abschätzung der Partikelgröße, Abstandsmechanismen

Mehr

2.8 Grenzflächeneffekte

2.8 Grenzflächeneffekte - 86-2.8 Grenzflächeneffekte 2.8.1 Oberflächenspannung An Grenzflächen treten besondere Effekte auf, welche im Volumen nicht beobachtbar sind. Die molekulare Grundlage dafür sind Kohäsionskräfte, d.h.

Mehr

Hochauflösende Charakterisierung von Piezoaktuatoren mittels Michelson-Interferometrie

Hochauflösende Charakterisierung von Piezoaktuatoren mittels Michelson-Interferometrie Hochauflösende Charakterisierung von Piezoaktuatoren mittels Michelson-Interferometrie High resolution characterization of piezo actuators using Michelson interferometry Bachelorarbeit im Rahmen des 2-Fächer-Bachelorstudiengangs

Mehr

Energieumsatz bei Phasenübergang

Energieumsatz bei Phasenübergang Energieumsatz bei Phasenübergang wenn E Vib > E Bindung schmelzen verdampfen Q Aufbrechen von Bindungen Kondensation: Bildung von Bindungen E Bindung Q E Transl. E Bindung für System A B durch Stöße auf

Mehr

Quelle: (1) Brixner, Physik. Blätter, 2001. Kohärente Kontrolle von chemischen Reaktionen mittels Lasern

Quelle: (1) Brixner, Physik. Blätter, 2001. Kohärente Kontrolle von chemischen Reaktionen mittels Lasern Quelle: (1) Brixner, Physik. Blätter, 2001 Kohärente Kontrolle von chemischen Reaktionen mittels Lasern Gliederung 1. Motivation 2. Einfache Kontrollschemata 3. Optimale Kontrolle und Lernschleife 4. Ausblick

Mehr

Rasterkraftmikroskopie

Rasterkraftmikroskopie Rasterkraftmikroskopie Michael Prim, Tobias Volkenandt Gruppe 37 7. Mai 2007 Abbildung 1: Schematischer Aufbau eines Rasterkraftmikroskopes Michael Prim, Tobias Volkenandt, Gruppe 37 Seite 1 Inhaltsverzeichnis

Mehr

Rastersondenmethoden (SPM)

Rastersondenmethoden (SPM) Rastersondenmethoden (SPM) Tunnel- (STM) und Kraft- (AFM) Mikroskopie Vorlesung: Methoden der Festkörperchemie, WS 2016/2017, C. Röhr Einleitung Kraftmikroskopie (AFM) Apparatives Ergebnisse Literatur

Mehr

Mikro trifft Nano. Dr. André Schirmeisen Physikalisches Institut & CeNTech (Center for Nanotechnology) Universität Münster

Mikro trifft Nano. Dr. André Schirmeisen Physikalisches Institut & CeNTech (Center for Nanotechnology) Universität Münster Mikro trifft Nano Dr. André Schirmeisen Physikalisches Institut & CeNTech (Center for Nanotechnology) Universität Münster http:// www.centech.de/nanomechanics Von Makro nach Nano Makro = Groß, anfassbare

Mehr