Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-K nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005

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1 Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-K nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005 Gültigkeitsdauer: bis Ausstellungsdatum: Urkundeninhaber: Carl Zeiss Jena GmbH, Kompetenzzentrum Qualität Carl-Zeiss-Promenade 10, Jena Leiter: Stellvertreter: Dr.-Ing. Karsten Meeß Dipl.-Ing. Holger Dietz Chris Schuchardt, M.Sc. Akkreditiert als Kalibrierlabor seit: Kalibrierungen in den Bereichen: Dimensionelle Messgrößen - Parallelendmaße - Strichmaße - Durchmesser - Formabweichung - nmessgeräte a) Koordinatenmesstechnik - Vor-Ort-Kalibrierung a) a) nur Vor-Ort-Kalibrierung verwendete Abkürzungen: siehe letzte Seite Für die mit * gekennzeichneten Messgrößen/Kalibriergegenstände ist dem Kalibrierlaboratorium, ohne dass es einer vorherigen Information und Zustimmung der DAkkS bedarf, die Anwendung der hier aufgeführten Normen/Kalibrierrichtlinien mit unterschiedlichen Ausgabeständen gestattet. Das Kalibrierlaboratorium verfügt über eine aktuelle Liste aller Normen/Kalibrierrichtlinien im flexiblen Akkreditierungsbereich. Seite 1 von 5

2 Permanentes Laboratorium 0,5 mm bis 100 mm DAkkS-DKD-R 4-3 in den Nennmaßen der Normale des Mittenmaßes lc vom Nennmaß ln durch Unterschiedsmessung + 0, l Für die Abweichung fo und fu vom Mittenmaß: l = des Maßes; Messflächenqualität entsprechend den Festlegungen im QMH bzw. in den Arbeitsanweisungen aus Keramik nach en fo und fu vom Mittenmaß durch 5-Punkte-Unterschiedsmessung 0,5 mm bis 100 mm Für die kleinsten Messunsicherheiten sind Anschiebbarkeit und Anschubmerkmale beider Messflächen des s mit einer geeigneten Planglasplatte zu prüfen. 0,07 µm + 0, l Für die Abweichung fo und fu vom Mittenmaß: 40 mm bis 300 mm DAkkS-DKD-R mm bis 100 mm dürfen die Nennmaße der Normale max. 25 mm 100 mm bis 300 mm Normale max. 50 mm lc vom Nennmaß ln durch Unterschiedsmessung. 0,12 µm l Messung mit ULM 600 Gültigkeitsdauer: bis Ausstellungsdatum: Seite 2 von 5

3 Strichmaßstäbe aus Stahl, Quarzglas, Kunststoff oder Metall Durchmesser * Einstellringe und Innenzylinder Einstelldorne und Außenzylinder Prüfstifte und Gewindeprüfstifte Rundheit * von oben genannten Ringen, Innenzylindern, Dornen, Außenzylindern, Prüfstiften oder Gewindeprüfstiften Geradheit * der Mantellinien von oben genannten Ringen, Innenzylindern, Dornen, Außenzylindern, Prüfstiften oder Gewindeprüfstiften Parallelität * der Mantellinien von oben genannten Ringen, Innenzylindern, Dornen oder Außenzylindern 100 mm bis 800 mm DAkkS-DKD-R mm bis 300 mm Normale max. 50 mm 300 mm bis 800 mm Normale max. 100 mm lc vom Nennmaß ln durch Unterschiedsmessung. 0,1 µm l 0 mm bis 600 mm Messung im Auf- oder Durchlicht WI 0230 SJQ: mm bis 10 mm DAkkS-DKD-R 4-3 Blatt 4.1:2010 Option und > 10 mm bis 300 mm 0,2 µm + 1, d 1 mm bis 300 mm 0,2 µm + 1, d 0,17 mm bis 20 mm DAkkS-DKD-R 4-3 Blatt 4.2:2010 Option µm bis 20 µm DAkkS-DKD-R 4-3 Blatt 4.1:2010 und Blatt 4.2:2010 Option und Formprüfung für Prüfstifte und Gewindeprüfstifte ab Ø 1 mm axiale : 100 mm axiale : > 100 mm axiale : 100 mm axiale : > 100 mm Messung mit Rubin 800 0,03 µm l l = gemessene Maximale Dicke 40 mm 0,4 µm d = gemessener Durchmesser 0,2 µm + 1, d 0,15 µm 0,15 µm l 0,2 µm 0,2 µm l l = Messlänge in Richtung der Zylinderachse Gültigkeitsdauer: bis Ausstellungsdatum: Seite 3 von 5

4 Kugeln Durchmesser 2 mm bis 100 mm KA 12/38: ,2 µm + 1, d Rundheit 0,1 µm Plan- und Planparallelgläser Mittenmaß 0,5 mm bis 100 mm KA 12/01: maximaler Durchmesser 60 mm 0,15 µm l d = gemessener Durchmesser l = Messlänge in Richtung der Zylinderachse Plan- und Planparallelgläser für Durchmesser KA 12/01: Ebenheit 0 mm bis 150 mm Digitalinterferometer 0,03 µm Parallelität Vor-Ort-Kalibrierung nmessgeräte * horizontale Bauart mit max mm Messbereich des Messelementes Messmikroskope, Messprojektoren, optische Zweikoordinatenmessgeräte * Messelement 0 mm bis 3000 mm VDI/VDA/DGQ 2618 Blatt 17.1: mm bis 909 mm DAkkS-DKD-R 4.3 Blatt 18.1:2010 Kalibrieren der messtechnischen Eigenschaften von Koordinatenmessgeräten (KMG) nach DIN EN ISO VDI/VDE 2617 Bestimmung der Antastabweichung PS-1D(OT) mittels eines Strichbreitennormals VDI/VDE 2617 Blatt 6.1:2007 Bestimmung der Antastabweichung P F2D mittels eines Kreisnormals DIN EN ISO :2011 0,08 µm l l = die mit dem Messelement gemessene 0,08 µm 0,30 µm Messeinrichtungen mit visueller Antastung oder optoelektronischer Kantenerkennung Gültigkeitsdauer: bis Ausstellungsdatum: Seite 4 von 5

5 Messmikroskope, Messprojektoren, optische Zweikoordinatenmessgeräte * 0 mm bis 909 mm Bestimmung der nmessabweichung EBX, EBY entlang der Geräteachsen in X- u. Y- Richtung mittels Strichmaßstäben Bestimmung der nmessabweichung EUX, EUY entlang der Geräteachsen in X- u. Y- Richtung mittels Strichmaßstäben Bestimmung der nmessabweichung EBXY mittels Strichmaßstäben Bestimmung der nmessabweichung EUXY mittels Strichmaßstäben Bestimmung der Rechtwinkligkeitsabweichung der Messachsen zueinander mittels eines Rechtwinkligkeitsnormals (Strichplatte) 0,1 µm + 0, l Messeinrichtungen mit visueller Antastung oder optoelektronischer Kantenerkennung l = die gemessene + 0, l 0,1 µm + 0, l + 0, l 0,3 verwendete Abkürzungen: DAkkS-DKD-R Kalibrierrichtlinie der Deutschen Akkreditierungsstelle GmbH VDI/VDE 2617 VDI-Richtlinie: Genauigkeit von Koordinatenmessgeräten KA / WI Kalibrieranweisung der Carl Zeiss Jena GmbH Gültigkeitsdauer: bis Ausstellungsdatum: Seite 5 von 5