Rastermethoden 3. Klaus Meerholz WS 2010/11. Lichtmikroskopie. Konfokale Fluoreszenzmikroskopie. Fluoreszenzmikroskopie. II. Optische Eigenschaften
|
|
|
- Jakob Hausler
- vor 8 Jahren
- Abrufe
Transkript
1 II. Optische Eigenschaften Rastermethoden 3 Klaus Meerholz WS 010/11 Messung mit Fremdlicht (traditionelle) Mikroskopie (Durchlicht, Auflicht) UV/Vis-Spektroskopi e IR- & Raman-Spektroskopi e Ellipsometrie Detektion der Photolumineszenz normale Fluoreszenzmikroskopie (parallel) konfokale Fluoreszenzmikroskopi e (rastern) Nahfeld-Mikroskopie (SNOM) Stimulated Emission Depletion (STED) Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 1 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 II. Optische Methoden Lichtmikroskopie Messung mit Durchlicht, Transmission (T) Mittelwert für durchstrahltes Volumen Kontrast durch Unterschiede der Transmission ( Durchlicht ) Unterschiede der Reflektion ( Auflicht ) Kombination davon Auflicht, Reflektion (R) Oberflächensens itiv Fluoreszenzanr eg un g Anregung durch Lampen etc. Laseranregung (Fokussierung möglich) Berücksichtigung der Polarisation des Lichtes Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 3 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 4 Fluoreszenzmikroskopie Konfokale Fluoreszenzmikroskopie Endothelzellen unter dem Fluoreszenz mik rosk op. Die einzelnen Bestandteile wurden mit sog. Fluoreszenz ma rk ern gelabelt : Mikrotubuli grün, Aktinfilamente rot DNA in den Zellkernen blau. Messprinzip: - Licht wird fokusiert und zurück reflektiert - Lochblende vor dem Detektor blendet unscharfe Reflexe aus - Rastertechnik - Auflösung lateral (x,y): beugungslimitiert / - Auflösung axial (z): ca. 3x Beugungslimit Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 5 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 6 1
2 Nahfeld-Mikroskop Scanning Near Field Optical Microscope (SNOM) STED (Fernfeld-Methode) STED = Stimulated Emission Depletion - Hohe lokale Lichtintensitäten - Lokale Raman und Fluoreszenz Spektroskopie - Auflösungslimit (x,y) ~ 50 nm Distance below of light ~ 10 nm Sample D. W. Pohl, W. Denk, M. Lanz Appl. Phys. Lett. 1984, 44, 651 S.W. Hell, Göttingen Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 7 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 8 STED STED Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 9 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 10 Vergleich Konfokale Mikroskopie / STED Vergleich Konfokale Mikroskopie / STED Angefärbte Poren E-beam Lithography Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 11 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 1
3 III. Elektrische & Elektronische Eigenschaften Leitfähigkeit Leitf. AFM Scanning Tunneling Microscope (STM) REM Photostrom Local Photocurrent Mapping (LPCM) STM Scanning Tunneling Microscopy Energieniveau s Kelvin-Probe Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 13 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 14 Zum Vergleich: AFM - Aufbau STM - Aufbau Lateral: ca.100nm 10µm Tiefe: ca.1nm 1µm Tisch/Scanner: Piezo-Keram ik Lateral: 0.1 nm Axial: 0.01 nm Tip: Pt-Ir Legierung (90:10) Wolfram, Gold Blei Zirkonium-Titan Verbindungen Es gibt immer ein Atom, das am nächsten dran ist (sub) atomare Auflösung Messaufbau Schematischer Aufbau Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 15 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 16 STM Messprinzip: Tunnelstrom STM Modi E 1. Constant Height. Constant current E F i eu E F Probe d Spitze Tunneleffekt Tunnelvorgang zwischen Probe und Spitze Transmissionskoeffiz ient T: ma V 16 E V E 0 T e V0 0 E Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 17 Klaus Meer holz, Raster m ethoden
4 STM Anwendungen STM: Imaging Graphite Application Topography Spectroscopy Scanning Tunneling Microscope (STM) Lithography Electro-Chemistry,87 nm 1,43 nm Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 19 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 0 Beispiele aus dem Praktikum: Gold Beispiele aus dem Praktikum: Graphit Mit Thiol-Schicht mittelprächtig Blankes Gold gut Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 1 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 Beispiele aus dem Praktikum: Graphit STM: Spektroskopie CuN Cu(100) Building a chain of Mn atoms sehr gut gut mittelprächtig Cyrus et al., Science 31, 101 (006) Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 3 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 4 4
5 Zusammenfassung STM Nur (halb-) leitfähige Materialen Elektronische Oberflächenstrukt ur entspricht nicht immer der Topographie ST Spectroscopy (STS) LPCM Local Photocurrent Mapping Objektmanipulation auf atomarer/molekul arer Ebene Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 5 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 6 Local Photocurrent Mapping (LPCM) Photovoltaic measurements P ositioning Mirrors (X/Y) Incr easing Focusing Intensity Laser Optics Glass Measur em ent Electr onics Set Voltage & Measur e Cur r ent ITO (Anode) Active Layer Metal (Cathode) V I Gold Pins Sample must show a photovoltaic effect Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 7 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 8 LPCM Data Ev aluation: Histograms current map voltage map 600 no device voltage map 4000 device 4000 current map 600 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 9 Klaus Meer holz, Raster m ethoden
6 Data Ev aluation: Histograms Feature Classification Al only LiF only no device Shadow m ask device E vapor ation sour ces Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 31 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 3 IV. Chemische Zusammensetzung Schonend Elemente: Röntgenbeugung (EDX) Leitfähigkeit (STM) Elastizitätsmodul (AFM, Phase) Austrittsarbeit, HOMO-Niveau (Kelvin Probe) Destruktiv Ablation mit anschließender chem. Analyse (HPLC, MS) Electronbeam-Samp le Interaction entferntes Elek tron (SE) kontinuierliche Röntgenstrahlung (Brem ss tra hlu ng ) Primärst rahl elastische Streuung inelastische Streuung M L K abgelenk tes Primärelektron ( BSE) charakt eristische Röntgens trahlung Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 33 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 34 EDX in SEM Kombinierte Methoden: EDX & SEM X-rays are generated by interaction between beam and sample in SEM In combination with other interaction products (SE, BSE) simultaneous morpholo gic al and elemental imaging is possible Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 35 Klaus Meer holz, Raster m ethoden
7 Elemental Mapping with EDX VI. Morphologie Ba EDX mapping of the barium (Ba), lead (Pb) and antimony (Sb) phases on a cross- sectioned gunshot residue (GSR) particle Es bilden sich Domainen aus, die sich durch folgende Parameter unterschieden können: Pb Sb Härte (AFM Phase, AFM Ultraschall) Fluoreszenz (PL-Mikroskopie, FLIM, SNOM, STED) Leitfähigkeit (L-AFM, STM) Photoleitfähigkeit (LPCM) Elementverteilung (EDX) Elektronenstreuung (TEM, SEM/cross section) 5 µ m FEI GmbH Oberfläche (Dectac, AFM) Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 37 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 38 Thank You!! 7
Rastermethoden. Klaus Meerholz WS 2015/16. Zeitplan. 16.12.15 Raster 1 (etwas länger) 17.12.15 Raster 2 (1 Stunde) Übungen Raster (T.
Rastermethoden Klaus Meerholz WS 2015/16 Klaus Meerholz, Rastermethoden 1 1 Zeitplan 16.12.15 Raster 1 (etwas länger) 17.12.15 Raster 2 (1 Stunde) Übungen Raster (T. Limböck) 7.1.16 E-Chemie 1 12.1.16
Rastermethoden 1. Klaus Meerholz WS 2010/11. Raster. Reinzoomen
Rastermethoden / Bildgebende Verfahren Rastermethoden 1 Klaus Meerholz WS 2010/11 Sequentielle Datenerfassung: Parallele Datenerfassung: Rastern Scannen Abbilden Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 1 Klaus
Auflösungsvermögen von Mikroskopen
Auflösungsvermögen von Mikroskopen Menschliches Auge Lichtmikroskopie 0.2 µm Optisches Nahfeld Rasterelektronen mikroskopie Transmissions Elektronenmikroskopie Rastersonden mikroskopie 10 mm 1 mm 100 µm
Verfahren der Mikrosystemtechnik zur Herstellung/Charakterisierung von Chemo- und Biosensoren
Verfahren der Mikrosystemtechnik zur Herstellung/Charakterisierung von Chemo- und Biosensoren Teil 8: Analysemethoden zur Charakterisierung der Mikrosysteme II Dr. rer. nat. Maryam Weil Fachhochschule
Methoden. Spektroskopische Verfahren. Mikroskopische Verfahren. Streuverfahren. Kalorimetrische Verfahren
Methoden Spektroskopische Verfahren Mikroskopische Verfahren Streuverfahren Kalorimetrische Verfahren Literatur D. Haarer, H.W. Spiess (Hrsg.): Spektroskopie amorpher und kristtiner Festkörper Steinkopf
Methoden. Spektroskopische Verfahren. Mikroskopische Verfahren. Streuverfahren. Kalorimetrische Verfahren
Methoden Spektroskopische Verfahren Mikroskopische Verfahren Streuverfahren Kalorimetrische Verfahren Literatur D. Haarer, H.W. Spiess (Hrsg.): Spektroskopie amorpher und kristalliner Festkörper Steinkopf
C. Nanotechnologie 9. Chem. Analyse 9.1 Übersicht. Prinzip. Prof. Dr. H. Baumgärtner C9-1
Prinzip 9.1 Übersicht Prof. Dr. H. Baumgärtner C9-1 Um eine Probe analysieren zu können muss sie mit Licht oder Teilchen bestrahlt werden. Die Reaktion der Probe auf diese Anregung führt zur Abstrahlung
Surface analysis by atomic force (AFM) and scanning tunnel (STM) microscopy
Surface analysis by atomic force (AFM) and scanning tunnel (STM) microscopy Hauptseminar SS16 IHFG Julian Kluge 1 Outline Motivation History STM AFM Comparison AFM - STM 2 Motivation XRD: in-depth analysis
Anleitung zum Praktikum für Fortgeschrittene. Versuch: Scanning Tunneling Microscopy. Betreuer: B.Sc. Lienhard Wegewitz
Anleitung zum Praktikum für Fortgeschrittene Versuch: Scanning Tunneling Microscopy Betreuer: B.Sc. Lienhard Wegewitz Institut für Physik und Physikalische Technologien Technische Universität Clausthal
RASTER-KRAFT-MIKROSKOPIE (ATOMIC FORCE MICROSCOPY AFM)
RASTER-KRAFT-MIKROSKOPIE (ATOMIC FORCE MICROSCOPY AFM) Inhaltsverzeichnis 1. Motivation 2. Entwickler des AFM 3. Aufbau des AFM 3.1 Spitze und Cantilever 3.2 Mechanische Rasterung 3.3 Optische Detektion
Rastertunnelmikroskopie
Rastertunnelmikroskopie Michael Goerz FU Berlin Fortgeschrittenenpraktikum A WiSe 2006/2007 20. November 2006 Gliederung 1 Einführung Historischer Überblick Konzept, Zielsetzung und Anwendung 2 Aufbau
Spektroskopie. im IR- und UV/VIS-Bereich. Raman-Spektroskopie. http://www.analytik.ethz.ch
Spektroskopie im IR- und UV/VIS-Bereich Raman-Spektroskopie Dr. Thomas Schmid HCI D323 schmid@org.chem.ethz.ch http://www.analytik.ethz.ch Raman-Spektroskopie Chandrasekhara Venkata Raman Entdeckung des
Ausdehnung des Nahfeldes nur durch Strukturgrösse limitiert
6.2.2 Streulicht- Nahfeldmikroskop Beleuchtung einer sub-wellenlängen grossen streuenden Struktur (Spitze) Streulicht hat Nahfeld-Komponenten Detektion im Fernfeld Vorteile: Ausdehnung des Nahfeldes nur
32. Lektion. Laser. 40. Röntgenstrahlen und Laser
32. Lektion Laser 40. Röntgenstrahlen und Laser Lernziel: Kohärentes und monochromatisches Licht kann durch stimulierte Emission erzeugt werden Begriffe Begriffe: Kohärente und inkohärente Strahlung Thermische
Ein Bild sagt mehr als 1000 Spektren Bildgebende IR- und Raman-Mikroskopie
Ein Bild sagt mehr als 1000 Spektren Bildgebende IR- und Raman-Mikroskopie Peter Wilhelm, Boril S. Chernev FELMI, TU Graz, und ZFE Graz Workshop Mikroskopie von Polymeren und Verbundwerkstoffen 2. Februar
Praktikumsversuch Rastertunnelmikroskopie. Institut für Festkörperphysik Abteilung ATMOS
Praktikumsversuch Rastertunnelmikroskopie Institut für Festkörperphysik Abteilung ATMOS Ansprechpartner E-Mail-Adresse: Christian Brand brand@fkp.uni-hannover.de Inhaltsverzeichnis 1 Theorie 1 1.1 Tunnelefekt..............................
Transmissionselektronen mikroskopie (TEM)
Transmissionselektronen mikroskopie (TEM) im speziellen STEM Inhalt 1. Einleitung 2. Das Messprinzip 3. Der Aufbau 3.1 Unterschiede beim STEM 3.2 Bildgebung 3.3 Detektoren 3.4 Kontrast 3.5 Materialkontrast
Visualisierung des Unsichtbaren. Einblicke in die Nano-Welt
National Center of Competence in Research Nanoscale Science Visualisierung des Unsichtbaren Einblicke in die Nano-Welt M. Guggisberg www.nccr-nano.org www.nano-world.org National Center of Competence in
Das Auflösungsvermögen optischer Mikroskope - wo liegt die Grenze?
Titelheadlines sollten nicht zu lang sein, auf keinen Fall länger als diese zwei Zeilen Das Auflösungsvermögen optischer Mikroskope - wo liegt die Grenze? Abteilung Halbleiterspektroskopie Institut für
Tunnelspitzen. Vorlesung. Rastersondenmikroskopie WS 2010/11. Spitzenätzung. Themenüberblick. Priv. Doz. Dr. A. Schirmeisen
Vorlesung Rastersondenmikroskopie WS 2010/11 Priv. Doz. Dr. A. Schirmeisen www.centech.de/nanomechanics Themenüberblick 0. Einführung 1. Rastertunnelmikroskopie (STM) 2a. Manipulation: Atome verschieben
5.3 Weitere Wechselwirkung mit Photonen: Spektroskopie
Dünnschichtanalytik Teil 2 5.3 Weitere Wechselwirkung mit Photonen: Spektroskopie [Schmidl] 1 5.3.1 Wechselwirkungen mit Photonen A - Elastische Wechselwirkung: - sekundäre Strahlung - Beugungsexperimente
Gepulste Laser und ihre Anwendungen. Alexander Pönopp
Proseminar SS 2014 Gepulste Laser und ihre Anwendungen Alexander Pönopp Lasermaterialbearbeitung - wofür Bearbeitung von Material, was schwer zu bearbeiten ist (z.b. Metall) Modifikation von Material -
Nanoday 2008 25.09.2008 S. Passinger, R. Kiyan, C. Reinhardt, A. Seidel und B. Chichkov
Zwei-Photonen Polymerisation und ihre Anwendung in der Plasmonik Nanoday 2008 25.09.2008 S. Passinger, R. Kiyan, C. Reinhardt, A. Seidel und B. Chichkov Gliederung Zwei-Photonen Polymerisation Oberflächen
VIOSIL SQ FUSED SILICA (SYNTHETISCHES QUARZGLAS)
VIOSIL SQ FUSED SILICA (SYNTHETISCHES QUARZGLAS) Beschreibung VIOSIL SQ wird von ShinEtsu in Japan hergestellt. Es ist ein sehr klares (transparentes) und reines synthetisches Quarzglas. Es besitzt, da
2. Bildgebende Verfahren
Vorlesung Charakterisierung von Halbleitermaterialien I Elektronenmikroskopie (Raster-, Transmissionselektronenmikroskop) (Rasterkraft-, Rastertunnel-, Rasterkapazitätsmikroskop) Lichtoptische Verfahren
5.1. Wellenoptik d 2 E/dx 2 = m 0 e 0 d 2 E/dt 2 Die Welle hat eine Geschwindigkeit von 1/(m 0 e 0 ) 1/2 = 3*10 8 m/s Das ist die
5. Optik 5.1. Wellenoptik d 2 E/dx 2 = m 0 e 0 d 2 E/dt 2 Die Welle hat eine Geschwindigkeit von 1/(m 0 e 0 ) 1/2 = 3*10 8 m/s Das ist die Lichtgeschwindigkeit! In Materie ergibt sich eine andere Geschwindikeit
Raman- Spektroskopie. Natalia Gneiding. 5. Juni 2007
Raman- Spektroskopie Natalia Gneiding 5. Juni 2007 Inhalt Einleitung Theoretische Grundlagen Raman-Effekt Experimentelle Aspekte Raman-Spektroskopie Zusammenfassung Nobelpreis für Physik 1930 Sir Chandrasekhara
Informationsfusion mit korrelativen Methoden - Industrie 4.0 in der Messtechnik
Thema: Informationsfusion mit korrelativen Methoden - Industrie 4.0 in der Messtechnik Verfasser: Dietrich Imkamp, Lars-Oliver Kautschor, Isabel Hernandez Ort, Datum: Göttingen, 16.07.2015 Inhalt Folie
Rasterkraftmikroskopie
Eine kleine Einführung in die Rasterkraftmikroskopie Ein Vortrag von Daniel C. Manocchio Ridnaun, Jan. 2001 Inhalt: Geschichte der Rastersondenmikroskopie Generelles Funktionsprinzip Topographie-Modi in
Optimierung der Analytik nanostrukturierter Schichten
Abschließende Ergebnisse im Projektverbund Umweltverträgliche Anwendungen der Nanotechnologie 3rd International Congress Next Generation Solar Energy Meets Nanotechnology 23-25 November 2016, Erlangen
Aktive Schwingungsisolation (Halcyonics)
Oberflächenanalytik Aktive Schwingungsisolation Aktive Schwingungsisolation (Halcyonics) Wir bieten Lösungen für schwingungsempfindliche Messgeräte Wir können nicht Ihre Messgeräte verbessern, aber wir
TU Bergakademie Freiberg Institut für Werkstofftechnik Schülerlabor science meets school Werkstoffe und Technologien in Freiberg
TU Bergakademie Freiberg Institut für Werkstofftechnik Schülerlabor science meets school Werkstoffe und Technologien in Freiberg PROTOKOLL Modul: Versuch: Physikalische Eigenschaften I. VERSUCHSZIEL Die
Mikroskopie in der Biochemie
Mikroskopie in der Biochemie Dr.H.Schlichting hschlichting@viametrixx.de Konventionelles Lichtmikroskop Antonie van Leuuwenhoeck, 1660 275 fach, 1,3 um Konventionelles Lichtmikroskop Verbessertes Design,
Cross-plane-Messungen zur elektrischen Leitfähigkeit (Cross-plane measurement of the electrical conductivity)
Statustreffen Messtechnik Cross-plane-Messungen zur elektrischen Leitfähigkeit (Cross-plane measurement of the electrical conductivity) Markus Trutschel Interdisziplinäres Zentrum für Materialwissenschaften
Atombau, Periodensystem der Elemente
Seminar zum Brückenkurs Chemie 2015 Atombau, Periodensystem der Elemente Dr. Jürgen Getzschmann Dresden, 21.09.2015 1. Aufbau des Atomkerns und radioaktiver Zerfall - Erläutern Sie den Aufbau der Atomkerne
Die elektrische Spannung ist ein Maß für die Stärke einer Quelle.
Elektrisches und magnetisches Feld -. Grundlagen. Die elektrische Spannung: Definition: Formelzeichen: Einheit: Messung: Die elektrische Spannung ist ein Maß für die Stärke einer Quelle. V (Volt) Die Spannung
Sonderforschungsbereich 379
Sonderforschungsbereich 379 Mikromechanische Sensor- und Aktorarrays Elektrische Kraftmikroskopie Verfahren und Implementierung mit MEMS Prof. Dr. Michael Hietschold T Chemnitz, Institut für f r Physik
Einzelmolekülstudien
Einzelmolekülstudien Motivation Ensemble-Messung: - Bestimmung eines Mittelwertes des Ensembles (z.b. gemittelte Struktur von 10 13 Proteinmolekülen in einem Proteinkristall) - gute Statistik: verlässlicher
LUMIMAX Beleuchtungsworkshop. iim AG 19.03.2015
LUMIMAX Beleuchtungsworkshop iim AG 19.03.2015 Bedeutung der Beleuchtung Der Einfluss der Beleuchtung auf die Bildverarbeitungslösung wird häufig unterschätzt. Jede BV-Applikation benötigt ein optimales
Lichtmikroskopie. 30. April 2015
Lichtmikroskopie 30. April 2015 1 Gliederung Einführung in die klassische Lichtmikroskopie mechanischer und optischer Aufbau Anwendungsbereiche der Polarisationsmikroskopie Einführung in die Polarisationsmikroskopie
Quelle: (1) Brixner, Physik. Blätter, 2001. Kohärente Kontrolle von chemischen Reaktionen mittels Lasern
Quelle: (1) Brixner, Physik. Blätter, 2001 Kohärente Kontrolle von chemischen Reaktionen mittels Lasern Gliederung 1. Motivation 2. Einfache Kontrollschemata 3. Optimale Kontrolle und Lernschleife 4. Ausblick
Konfokale Mikroskopie
Konfokale Mikroskopie Seminar Laserphysik SoSe 2007 Christine Derks Universität Osnabrück Gliederung 1 Einleitung 2 Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop 3 Auflösungsvermögen 4 andere Konfokale Mikroskope
2 Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie
7 1 Einleitung Mit der Entwicklung des Rastertunnelmikroskops im Jahr 1982 durch Binnig und Rohrer [1], die 1986 mit dem Physik-Nobelpreis ausgezeichnet wurde, wurde eine neue Klasse von Mikroskopen zur
UV-C LAMPS & QUARTZ SLEEVES FOR SURFACE DISINFECTION AND WATER PURIFICATION
UV-C LAMPS & QUARTZ SLEEVES FOR SURFE DISINFECTION AND WATER PURIFICATION -1- NIEDERDRUCK UV-C (ULTRAVIOLETT) KEIMTÖTENDE LAMPEN Keimabtötende UV-C Lampen sind kurzwellige Unterdruck-Quecksilber- Gasentladungslampen.
Metallausbildung - 2. Ausbildungsjahr
Im Metallbau werden selten reine Metalle verarbeitet, da vor allem ihre Festigkeit nicht ausreicht. Eine Legierung ist ein Gemisch aus mindestens zwei chemischen Elementen, von denen mindestens eines ein
Atomic Force Microscopy: Grundlagen Methoden - Anwendung
AFM - Inhalt Grundlagen Grundprinzip Komponenten Spitzenwahl Methoden Contact-mode Tapping-mode Spezielle Modi Artefakte Beispielhafte Anwendung Langmuir-Blodgett Schichten Verwendungshinweis: Die verwendeten
ANWENDUNG DES WIENER STADTWERKE-LOGOS
ANWENDUNG DES WIENER STADTWERKE-LOGOS Dem Wiener Stadtwerke-Konzern ist es ein Anliegen, die Logos in optimaler Form darzustellen. Daher sind die Logos vorzugsweise in den Farbvarianten zu verwenden. Reduzierte
Rasterkraftmikroskopie
Rasterkraftmikroskopie Rasterkraft- und Rastersondenmikroskopie als Werkzeug für nanostrukturierte Festkörper Manfred Smolik, Inst.f. Materialphysik, Univ. Wien Überblick Historischer Abriß Rastersondenmikroskopie
PCII Praktikum und Seminar WS2013/2014
PCII Praktikum und Seminar WS2013/2014 Vorbesprechung 17.10.2013 Baeyer-HS, 13:00 Uhr Praktikum Versuche: V1: Raman (E0.030) V2: IR (E0.039) V3: UHV (E3.055) V4: SO (E0.039) V5: NMR (E0.037) V6: Einzel-Molekül-Fluoreszenz
7. Unipolare Transistoren, MOSFETs
7.1. Funktionsweise Die Bezeichnung MOSFET (Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor) deutet auf den Aufbau dieses Transistors hin: Das Halbleiterelement ist mit einer sehr dünnen, isolierenden
JENOPTIK. Geschwindigkeitsmessungen mit Lasertechnologie. Referent: Wolfgang Seidel
JENOPTIK Geschwindigkeitsmessungen mit Lasertechnologie Referent: Wolfgang Seidel Jenoptik-Konzern Überblick Konzernstruktur Corporate Center Laser & Materialbearbeitung Optische Systeme Industrielle Messtechnik
Wie sieht unsere Welt im Kleinen aus?
Skriptum Wie sieht unsere Welt im Kleinen aus? 1 Wie sieht unsere Welt im Kleinen aus? Atom- und Quantenphysik für Kids Seminar im Rahmen der KinderUni Wien, 12. 7. 2005 Katharina Durstberger, Franz Embacher,
Structured illumination microscopy
Structured illumination microscopy scanning periodic excitation over sample periodic image uniform image y min λ λ = = 4nsinΘ 4N.A. two-fold enhancement in resolution Confocal microscope max. lateral resolution
AFM Atomic-Force-Microscope K. Harnisch, R. Schenk
AFM Atomic-Force-Microscope K. Harnisch, R. Schenk 1 Gliederung I. Einleitung I.Aufbau II.Messeinrichtung III.Cantilever IV.Spitzen I.Modi und deren Anwendung I.Contact-Modus II.Tapping-Modus III.Peak-Force-Tapping/
Das Rastertunnelmikroskop
Das Rastertunnelmikroskop Die Nanostrukturforschung ist die Schlüsseltechnologie des 21. Jahrhunderts. Das Gebiet der Nanowissenschaften beinhaltet interessante Forschungsgebiete, die einen Teil ihrer
1.1 Auflösungsvermögen von Spektralapparaten
Physikalisches Praktikum für Anfänger - Teil Gruppe Optik. Auflösungsvermögen von Spektralapparaten Einleitung - Motivation Die Untersuchung der Lichtemission bzw. Lichtabsorption von Molekülen und Atomen
Terahertz-Materialcharakterisierung: schnell und günstig
Terahertz-Materialcharakterisierung: schnell und günstig Stefan Dürrschmidt, Maik Scheller, Steffen Wietzke, Christian Jansen, Bendikt Scherger, Ole Peters, Nico Vieweg, Michael Schwertfeger, Martin Koch
Physikalische Analytik
Labor im Lehrfach Physikalische Analytik Studiengang Applied Life Sciences Versuch IR-Spektroskopie Standort Zweibrücken Gruppe: Teilnehmer: Verfasser: Semester: Versuchsdatum: Bemerkungen: Inhalt 1. Einführung
Seiko Instruments GmbH NanoTechnology
Seiko Instruments GmbH NanoTechnology Röntgenfluoreszenz Analyse Eine Beschreibung der Röntgenfluoreszenzanalysetechnik mit Beispielen. 1. Prinzip Röntgenstrahlen sind elektromagnetische Wellen, ähnlich
Seminar zum Praktikumsversuch: Optische Spektroskopie. Tilman Zscheckel Otto-Schott-Institut
Seminar zum Praktikumsversuch: Optische Spektroskopie Tilman Zscheckel Otto-Schott-Institut Optische Spektroskopie Definition: - qualitative oder quantitative Analyse, die auf der Wechselwirkung von Licht
Oberflächen vom Nanometer bis zum Meter messen
Oberflächen vom Nanometer bis zum Meter messen Dr. Thomas Fries Fries Research & Technology GmbH (FRT), www.frt-gmbh.com In den Bereichen F&E und Produktionskontrolle spielt die präzise Messung von Oberflächen
CrossBeam Neue Anwendungen und Ausblicke
CrossBeam Neue Anwendungen und Ausblicke P. Gnauck, L. Stenner, A. Schertel, H. Schulz, H. Stegmann, D. Fischer Carl Zeiss NTS GmbH, Oberkochen Carl Zeiss: Overview of Micro and Nano Technology Solutions
Funktionsmuster RAMAN-OTDR: Prinzip, Anwendung und erste Ergebnisse
Funktionsmuster RAMAN-OTDR: Prinzip, Anwendung und erste Ergebnisse Fibotec Fiberoptics GmbH I Herpfer Straße 40 I 98617 Meiningen I Germany Fon: +49 (0) 3693 8813-200 I Fax: +49 (0) 3693 8813-201 I Mail:
Zellulose-Synthese. künstlich: enzymatische Polymerisation von Zellobiose-Fluorid
18 Zellulose-Synthese künstlich: enzymatische Polymerisation von Zellobiose-Fluorid biologisch: Enzymkomplexe in der Zellmembran (terminal complexes, TCs) sphärulitische Kristalle außen S. Kobayashi et
Das Rastertunnelmikroskop
Das Rastertunnelmikroskop 1 engl.: scanning tunneling microscope (kurz: STM) Nobelpreis für Physik 1986 Heinrich Rohrer Gerd Binnig Grundlagen STM 2 Das 1981 entwickelte Rastertunnelmikroskop (kurz: RTM)
Institut für Festkörperphysik
Institut für Festkörperphysik Atomare und Molekulare Strukturen Prof. Dr. Herbert Pfnür Prof. Dr. Christoph Tegenkamp Prof. Dr. Fei Ding Nanostrukturen Prof. Dr. Rolf Haug Prof. Michael Oestreich Photovoltaik
Wie Neurobiologen helfen, unser Gehirn besser zu verstehen
Blick über den Tellerrand Fraunhofer Institut ITWM Kaiserslautern Eckhard Friauf Tierphysiologie Biologie TU Kaiserslautern Wie Neurobiologen helfen, unser Gehirn besser zu verstehen 1 Alternativ Titel
Allotrope Kohlenstoffmodifikationen. Ein Vortrag von Patrick Knicknie. Datum: 04.05.06 Raum:112
Allotrope Kohlenstoffmodifikationen Ein Vortrag von Patrick Knicknie Datum: 04.05.06 Raum:112 Themen: 1. Was ist Allotrop? 2. Unterschiedliche Kohlenstoffmodifikationen 3. Der Graphit 4. Der Diamant 5.
High-Tech in der Gemmologie
High-Tech in der Gemmologie Schmucktechnologische Institut Februar 2014 Die klassischen gemmologischen Untersuchungsmethoden für Edelsteine sind: Lupe Polariskop Refraktometer Dichroskop Hydrostatische
Lichtbrechung an Linsen
Sammellinsen Lichtbrechung an Linsen Fällt ein paralleles Lichtbündel auf eine Sammellinse, so werden die Lichtstrahlen so gebrochen, dass sie durch einen Brennpunkt der Linse verlaufen. Der Abstand zwischen
ADVERTISING IMAGES ANZEIGENMOTIVE. Spring/Summer 2014 Frühjahr/Sommer 2014
ADVERTISING IMAGES ANZEIGENMOTIVE Spring/Summer 2014 Frühjahr/Sommer 2014 Content/Inhalt Collections advertising images Collections Anzeigenmotive 4-7 Sports advertising images Sports Anzeigenmotive 8-9
Rastersondenmethoden (SPM)
Rastersondenmethoden (SPM) Tunnel- (STM) und Kraft- (AFM) Mikroskopie Vorlesung Methoden der Festkörperchemie WS 2013/2014, C. Röhr Einleitung Kraftmikroskopie Apparatives Ergebnisse Literatur Einleitung
Übersicht. Was soll gemessen werden? Physikalische Eigenschaften Kap. C-8 (z.b. Topographie, elektr., magnet., opt.)
Übersicht Was soll gemessen werden? Physikalische Eigenschaften Kap. C-8 (z.b. Topographie, elektr., magnet., opt.) Chemische Zusammensetzung Kap. C-9 (Elemente, Stöchiometrie, Bindung) Prof. Dr. H. Baumgärtner
Hahn-Meitner-Institut Berlin
Nickel-induzierte schnelle Kristallisation reaktiv gesputterter Wolframdisulfid-Schichten Stephan Brunken, Rainald Mientus, Klaus Ellmer Hahn-Meitner-Institut Berlin Abteilung Solare Energetik (SE 5) Arbeitsgruppe
Spuren- und Strukturanalyse an Ausscheidungen in multikristallinem Solarsilizium
Spuren- und Strukturanalyse an Ausscheidungen in multikristallinem Solarsilizium 3. Photovoltaik-Symposium, Bitterfeld-Wolfen, 4. November 2011 Susanne Richter Mikrostrukturdiagnostik und Analytik Fraunhofer-Center
Kleinster Abstand d zweier Strukturen die noch als getrennt abgebildet werden können.
phys4.02 Page 1 1.5 Methoden zur Abbildung einzelner Atome Optische Abbildung: Kann man einzelne Atome 'sehen'? Auflösungsvermögen: Kleinster Abstand d zweier Strukturen die noch als getrennt abgebildet
Spektroskopie. im IR- und UV/VIS-Bereich. Spektrometer. http://www.analytik.ethz.ch
Spektroskopie im IR- und UV/VIS-Bereich Spektrometer Dr. Thomas Schmid HCI D323 schmid@org.chem.ethz.ch http://www.analytik.ethz.ch Allgemeiner Aufbau eines Spektrometers Lichtintensität d I 0 Probe I
Sensoren für die. Automatisierungstechnik
Leckwatcher Sensoren für die Automatisierungstechnik Eine Produktübersicht Liqui-Switch L-Pointer Füllstandsmesstechnik Leckage-Detektion System Leckwatcher Konduktive Sensoren zum Anschluss an SPS, Kleinsteuerung,
Halbleiter-Bragg-Spiegeln. Eine neue Methode zur Metrologie von Dünn- und Vielschichtsystemen
1 in Halbleiter-Bragg-Spiegeln Eine neue Methode zur Metrologie von Dünn- und Vielschichtsystemen F., O. Ristow, T. Dekorsy Universität Konstanz, Center for Applied Photonics, Konstanz, Germany 2 Gliederung
Fluoreszenz-Korrelations- Spektroskopie (FCS) Seminarvortrag Julia Jäger 17.01.2008
Fluoreszenz-Korrelations- Spektroskopie (FCS) Seminarvortrag Julia Jäger 17.01.2008 Gliederung Grundlagen der FCS Grundlagen der Fluoreszenz FCS Versuchsaufbau und Durchführung Auswertung FCCS Anwendungsbeispiele
Atom-, Molekül- und Festkörperphysik
Atom-, Molekül- und Festkörperphysik für LAK, SS 2014 Peter Puschnig basierend auf Unterlagen von Prof. Ulrich Hohenester 1. Vorlesung, 6. 3. 2014 Wie groß sind Atome? Atomare Einheiten, Welle / Teilchen
Atomkraftmikroskopie (AFM)
Atomkraftmikroskopie (AFM) 1. Einleitung AFM (Atomic Force Microscopy auf Englisch) ist zur Zeit eine der am häufigsten verwendeten Oberflächenanalysemethoden. Diese Methode erlaubt die Untersuchungen
Einlasssystem oder Voraussetzung für optimale Datenqualität Die Rolle des LC in der LC/MS Analytik
Einlasssystem oder Voraussetzung für optimale Datenqualität Die Rolle des LC in der LC/MS Analytik Dr. Udo Huber Produktspezialist LC Agilent Technologies 1 Braucht man eine gute chromatographische Trennung
Haftpflichtversicherung für ein Praktikum während der Herbstferien 2012 Nur für Schüler der 9. Klasse der RS Füssen
Haftpflichtversicherung für ein Praktikum während der Herbstferien 2012 Mit diesem Blatt melden sich Schüler der 9. Klasse für ein Praktikum während der Herbstferien 2012 an, sofern der Praktikumsbetrieb
Scanning Probe Microscopy - A plethora of possibilities
Scanning Probe Microscopy - A plethora of possibilities Topics The basic idea The scanning part Scanning Tunneling Microscopy (STM) Theoretical backround Applications Various other modes of interest Atomic
Aluminium-Rundstangen EN AW-6026
Information zu: Aluminium-Rundstangen EN AW-6026 Hervorragender Korrosionswidersstand Gute Spanbildung Eloxier und Hartcoatierfähig RoHS-Konform Abmessungsbereich: ø 10-200 mm; gezogen =< ø 60 mm; gepresst
MFM Magnetic Force Microscopy Magnetische Rasterkraftmikroskopie
MFM Magnetic Force Microscopy Magnetische Rasterkraftmikroskopie Inhaltverzeichnis 1. Aufgabenstellung, Erforderliche Kenntnisse und Literatur 2. AFM/SPM Grundlagen 3. MFM Grundlagen 4. Festplatten 5.
Grundlagen der Elektronik
Grundlagen der Elektronik Wiederholung: Elektrische Größen Die elektrische Stromstärke I in A gibt an,... wie viele Elektronen sich pro Sekunde durch den Querschnitt eines Leiters bewegen. Die elektrische
Gibt es myonische Atome?
Minitest 7 Das Myon it ist ein Elementarteilchen, t das dem Elektron ähnelt, jedoch jd eine deutlich höhere Masse (105,6 MeV/c 2 statt 0,511 MeV/c 2 ) aufweist. Wie das Elektron ist es mit einer Elementarladung
Chemische und Mikrobiologische Untersuchung von mittels YVE-310-Filterkanne aufbereitetem Leitungswasser
REPORT Chemische und Mikrobiologische Untersuchung von mittels YVE-310-Filterkanne aufbereitetem Leitungswasser DI Otmar Plank Verteiler: 1-3 Fa. YVE & BIO GmbH, Bremen 4 Otmar Plank 5 HET August 2014
Exploration und Klassifikation von BigData
Exploration und Klassifikation von BigData Inhalt Einführung Daten Data Mining: Vorbereitungen Clustering Konvexe Hülle Fragen Google: Riesige Datenmengen (2009: Prozessieren von 24 Petabytes pro Tag)
Touchscreens.... und ihre bildschirmlosen Freunde.
Touchscreens... und ihre bildschirmlosen Freunde. 1 Öffentlich Automaten Benutzerfreundlichkeit Robust Barrierefreiheit 2 Industrie Einfach zu Bedienen Robust 3 Messen / Werbezwecke Erregen Aufmerksamkeit
D A C C E ABC D ECF C E D C D A B C D EE D F E A A AE A E EE E E A DE E A AA
ABCDECFCEDCD DACCE ABCDEEDFEAAAEAE EEEEADEEAAA Unterstützte Betriebssysteme: o Windows XP SP3 32 Bit o Windows Vista 32/64 Bit mit SP2 o Windows 7 32/64 Bit o MAC OS X 10.6.4 Hinweis: Bitte installieren
Einführung in die Labormethoden (Mineralogie u. Petrologie)
Einführung in die Labormethoden (Mineralogie u. Petrologie) Kurt Krenn 14. Dezember 2010 Einführung in die Labormethoden 1 Struktur der LV: 2 bis 3 Einheiten zur theoretischen Vorbildung Teil I: Schliffherstellung
Aufgabe 1 Berechne den Gesamtwiderstand dieses einfachen Netzwerkes. Lösung Innerhalb dieser Schaltung sind alle Widerstände in Reihe geschaltet.
Widerstandsnetzwerke - Grundlagen Diese Aufgaben dienen zur Übung und Wiederholung. Versucht die Aufgaben selbständig zu lösen und verwendet die Lösungen nur zur Überprüfung eurer Ergebnisse oder wenn
So funktioniert die NetWorker 7.5 Eigenschaft zum Sichern umbenannter Verzeichnisse ( Backup renamed Directories )
NetWorker 7.5.0 - Allgemein Tip 8, Seite 1/7 So funktioniert die NetWorker 7.5 Eigenschaft zum Sichern umbenannter Verzeichnisse ( Backup renamed Directories ) Bisher war es der NetWorker Client Software
Ramanspektroskopie an Kohlenstoffnanoröhren. von Hagen Telg
Ramanspektroskopie an von (5,5) (6,4) Atomare Struktur chirale Indices Herstellung keine bevorzugte Chiralität (n1,n2) Eigenschaften ähnlicher Durchmesser + verschiedene Windung unterschiedliche elektronische
Verschiedene feste Stoffe werden auf ihre Leitfähigkeit untersucht, z.b. Metalle, Holz, Kohle, Kunststoff, Bleistiftmine.
R. Brinkmann http://brinkmann-du.de Seite 1 26/11/2013 Leiter und Nichtleiter Gute Leiter, schlechte Leiter, Isolatoren Prüfung der Leitfähigkeit verschiedener Stoffe Untersuchung fester Stoffe auf ihre
Retraktionssystem Frankfurt Frankfurt Retraction System
Retraktionssystem Frankfurt Frankfurt Retraction System Retraktionssystem Frankfurt Frankfurt Retraction System Das Retraktionssystem Frankfurt ist ein universelles Mini Retraktionssystem für die Struma-
Versuch 33: Photovoltaik - Optische und elektrische Charakterisierung von Solarzellen Institut für Technische Physik II
Versuch 33: Photovoltaik - Optische und elektrische Charakterisierung von Solarzellen Institut für Technische Physik II Photovoltaik:Direkte Umwandlung von Strahlungsenergie in elektrische Energie Anregung