BEVORZUGTE ENTWICKLUNGEN
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- Markus Boer
- vor 9 Jahren
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1 D-SDM Ultraschall-dt.dc Rev D-SCHICHTDICKEN-MESSUNG ULTRASCHALL BEVORZUGTE ENTWICKLUNGEN EPK Deutschland TSL DF U.S.A. GERÄTE QS-Serie Optinen Series a.anfrage In Ggle+Vide stellen wir Ihnen eine praktische Anwendung des Verfahrens vr Telefn 0049-(0) Fax TV-Cnference mailt : [email protected]
2 D-SDM Ultraschall-dt.dc Schichtdicken Messung per Ultraschall-Impuls-Ech Das Verfahren misst Schichten und Multilayer auch rganischer Werkstffe. Einmal für die Applikatin eingestellt, gestaltet sich die Bedienung denkbar einfach. Diese Einstellung und deren Verifizierung, idealerweise visuell, ist bei etlichen Werkstff- Kmbinatinen vrab zu leisten. Dieser Faktr ist uns sehr relevant, um erflgreich Ultraschall-Hightec auf dem glbal realisierbaren Niveau bzgl. Auflösung und Genauigkeit für Industrieprduktinen einsetzen zu können. Alles in allem lassen sich hier Messaufgaben lösen, welche andererrts vielfach höheren Budgetbedarf bezüglich Geräten und Zeit benötigen, wbei die unprblematisch erreichbare Genauigkeit der Messung nahezu einzigartig ist. Art: Herkunft: Schicht- und Dicken- Messungen dünner Schichten und Filme EPK Deutschland Budget Einsatzbereite Messeinheit finden Sie -> shp Verwendung Wanddickenmessung µm prtable und statinär Messung berührend, zerstörungsfrei System-Stärken/Alleinstellungs-Merkmale Telefn 0049-(0) Fax TV-Cnference mailt : [email protected]
3 D-SDM Ultraschall-dt.dc µm- genaue Schichtdicken-Messung z.b.: Aluminiumdicke etc. besnders unter 1mm Messung vn Metallen wie Alu/ Stahl/ Messing/ Kupfer bis Gld + Nichtmetallen Bis zu 20 Messungen pr Minute TSL-Multiplexer-vrbereitet Messprinzip+Sensr Physik Ultraschall bis 100 MHz, Puls-Ech bjektive Sicherheit - inmaliges Einstellen je Applikatin Sensr Präzisin Wiederhlgenauigkeit bis zu 1µm pjektiv: Orts-Genauigkeit vn 5µm ist erreichbar Handhabung /Kppelmittel, ultraschall-üblich Mess-Auslösung per Sensr/ Taste/ Fuss-Taster/ Multiplexer/Sftware Basis-Gerät/ System handlich, beleuchtetes Display+ Signaltöne sehr rbust, daher auch mbil per integriertem Akku, Umsetzung der System/Messapplikatin vn EPK/TSL Bedienbarkeit handlich per Feuchte- abweisender Flien-Tastatur vn TSL applikatin-vreingestellt lieferbar individuelle Justage via visualisiertem Manual Telefn 0049-(0) Fax TV-Cnference mailt : [email protected]
4 D-SDM Ultraschall-dt.dc gespeicherte Weiternutzung aller Einstellungen visualisiertes Manual by TSL Mess-Datentechnik ablesbare Statistik `min/max, Xquer etc. pr Schicht und `gesamt Messwertspeicher, 100fach differenzierbar Datenweitergabe per RS 232/ Sftware für A-Bild TSL-Multiplexer-vrbereitet Lieferung Messgerät/ Sensr/ Akku/ Netz-ladeteil/Kffer ptinal Messgeräte-Schutzmantel, - sehr sinnvll! Präzisins-Mess-Stativ TSL-Multiplexer für QSstat/ SAP etc Funk-Datenübertragung, prtabel, ab 20m Wanddicken-Sftware mit Kennlinienmdul für edle Metalle/Glas/Keramik Telefn 0049-(0) Fax TV-Cnference mailt : [email protected]
5 D-SDM Ultraschall-dt.dc Art: Herkunft: Schicht- und Dicken- Messungen dünner Schichten und Filme DF, U.S.A. DF 100/ DF 200 Verwendung Diese Ultraschall-Schichtdickenmessgeräte sind knzipiert für Gesamt- der auch Einzelschichten. System-Stärken/Alleinstellungs-Merkmale aufgrund des A-Bildes per Display sind Medienübergänge Armaturentafel eines brit. Nbel-PKW sicher erkennbar,- die Justage der Ultraschalleigenschaften fällt hiermit leicht Basis-Gerät/ System Typ 100: Misst bis zu 3 Einzel-Schichten im Aufbau, Grafik-Display Typ 200: Zwei Serien sind verfügber: Standard-Mdelle für die schnelle Messung der Gesamtschichtdicke. Advanced- messen zusätzlich bis zu 3 Einzel-Schichten im Aufbau Messprinzip+Sensr Ultraschall-Impuls-Ech ca. 50 Mhz Telefn 0049-(0) Fax TV-Cnference mailt : [email protected]
6 D-SDM Ultraschall-dt.dc Mess-Bereich Messbereich 13 bis μm Messbereich 50 bis μm Mess-Datentechnik Messwerte sind bis zu speicherbar und können wie üblich, später per PC ausgewertet werden. Art: Herkunft: Schicht- und Dicken- Messungen dünner Schichten und Filme DF, U.S.A. Schichtdickenmessgerät zur Messung vn Pulverlacken vr dem Einbrennen Das Mess-System PT PC verwendet Ultraschall, berührungsls die Schichtdicke uneingebrannter Pulverlacke, als vr dem Ofen, zu messen. Ähnlich der TSL-Phthermic-Serie werden als Einstellparameter des Beschichtungsprzessese rechtzeitig überprüft. Bestehend aus einer Mess-Sndeneinheit als Sender, und der nahen Basiseinheit werden die manuell akquirierten Messergebnisse dargestellt und weitergegeben. Mittels dieser Trennung vermeidet der Nutzer Berührungen des fragilen Pulvers durch Gerätekabel. Der Messbereich beträgt µm, der Messfleck lediglich 2mm Telefn 0049-(0) Fax TV-Cnference mailt : [email protected]
7 D-SDM Ultraschall-dt.dc Art: Messgeräte für Schichtdicken/Wanddicken und Oberflächen Mbil-Mikrskp Herkunft: TSL, Deutschland Digitales Handmikrskp, 100x (1700.-) der 200fach (1830.-), serienmässig auch im TSL-CCS-System Detail- auflösende CCD Kamera für gute Bildqualität Prtabel, sicher im Handling weiter Fkussier-Bereich USB-Interface, auch zur Strm-Versrgung zuschaltbare Beleuchtung TSL-cmpare TSLcmpare-Prgramm auch für Innenmessungen als 90 0 Grad Ausführung HD-Kamera Telefn 0049-(0) Fax TV-Cnference mailt : [email protected]
8 D-SDM Ultraschall-dt.dc Art: Messgeräte für Schichtdicken/Wanddicken Schnitt-Dkumentatin Herkunft: TSL, Deutschland Bemassung TSLCCS-System High precisin digital Circle-crssCutting - Kreisschnitt-Dkumentatin Bemassung mit dem TSL-cmpare-Prgramm TSL-CCS digitales 1-Minute DIN- DIN Schicht-Referenzverfahren, dkumentierend Telefn 0049-(0) Fax TV-Cnference mailt : [email protected]
9 D-SDM Ultraschall-dt.dc innvative Entwicklungen für diesen Fachbereich berührungslse- und nline-verfahren, Nanmeter-Sets nline Oberfläche, Farbe, Tpgrafie, Rauhheit, Prenfreiheit etc, TSL-CCS, digitales 1-Minute DIN- DIN Schicht-Referenzverfahren, bildgebend TSL-Supprt Supprt Applikatins-Labr, - a.a. mbil Erarbeitung vn Machbarkeits/ Eignungs-Zusagen industrielle System-Integratin/Engineering DIN-ISO-Kalibrierung vieler Systeme ISO-Element 18 Schulungen/Seminare Fernwartung/Supprt Telefn 0049-(0) Fax TV-Cnference mailt : [email protected]
10 D-SDM Ultraschall-dt.dc Entwicklungen, z.zt. in Arbeit XY-scanner, mbil und sehr klein. lw budget Rllsnden sprachgesteuerte Absicherung vn Mess-Datenbatches- und deren Weiterschaltung per Funk Messmlch/Messraupe 6.-rädrig für Innenmessungen Tast-Rbter Psitins-und Grenzlinien/Limit- Steuerung mittels TSLcmpare-Prgramm Autmatisierte Verrechnung unterschiedlicher Messverfahren z.b.: Duplex Fe/ZN/Lack YXZ-Bauteile Gesamtscanner mit der Möglichkeit der Ortserkennung vn autmatisierten Messungen TSL-SMC Supprt-Media-center, interaktiv XYZ-scanner Telefn 0049-(0) Fax TV-Cnference mailt : [email protected]
11 D-SDM Ultraschall-dt.dc NAVIGATIONS-HINWEIS Sehr geehrte Leserin, sehr geehrter Leser dieser Darstellungen, - zwecks effektiv und treffendem Finden Ihrer gewünschten Aufgabenstellungn mittels TSL- Lösungs-Strategien- und Systemen nutzen Sie bitte die 5 flgenden Themenwahl-Tasten, wenn Sie sich : - >ausgehend vn Ihren, zu messenden Materialien -> -> MATERIAL - >der vn Ihrem Einsatzgebiet ausgehend -> -> ANWENDUNG - >der dem bereits bekannten Verfahren -> -> SYSTEME - >der wenn Sie sich für ein Handels-Gerät interessieren -> -> SHOP - >inhaltlich/redaktinelle Hintergründe-, swie über -> -> SUPPORT unsere Prblemlösungsmöglichkeiten, engineering swie F+E zu infrmieren wünschen. Wir verzichten auf die Suchwrt-Eingabe, die erfahrungsgemäss sehr selten die Anwender-Erwartungen erfüllt. Sie finden daher unsere Möglichkeiten für Ihre Messaufgabe per Bild-Navigatin nach der 3.-ten Ebene. Mit dem Betätigen Ihrer passenden Themenwahl-Taste gelangen Sie vn der 1.-, in die 2.-Ebene, in der Sie sich Ihrem Ziel nähern. Ab der 2. Ebene navigieren Sie per Bild-Tastung, bis Sie in der 4. Ebene unsere gesuchten Leistungen themenrichtig finden. Zur zeitlich sehr effektiven Lösungs-Findung gelangen Sie idealerweise mit uns per Telefn-Gespräch. Telefn > 0049-(0) Fax > mailt> [email protected] TV-Cnference > Telefn 0049-(0) Fax TV-Cnference mailt : [email protected]
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