Kombination verschiedener Test-Strategien mit NI-TestStand
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- Christa Hetty Linden
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1 Kombination verschiedener Test-Strategien mit NI-TestStand
2 Agenda --- Gesamtüberblick Anforderungen an Funktionstest-System Integration JTAG / Boundary Scan von Göpel Electronics Integration NI Vision Builder for Automated Inspection Integration In-Circuit-Test von Digitaltest GmbH
3 Anforderungen an Funktionstest-System
4 Aufgabe eines Funktionstest-Systems im Jahre 2010 Ansteuerung diverser Schnittstellen (RS232, PXI, USB, LAN, LXI..) --- Integration vorhandener HW-Module (konzerninterne Richtlinien) --- Integration vorhandener SW-Module (Richtlinien, vorhandener Code) --- Einbindung verschiedener Test-Strategien --- Übersichtliche Dokumentation - -- keine Pseudofehler % Testabdeckung --- automatische Testgenerierung --- Einfache Bedienung --- Benutzerverwaltung mit Administrator, Operator, Techniker, Entwickler --- hohe Wiederverwendbarkeit von SW-Code --- tiefe Anschaffungskosten --- geringer Wartungsaufwand --- einfach zu debuggen --- FPY = % --- Fehler 100%ig finden --- Fehler exakt zuweisen --- sicheres Login --- ergonomisches Design --- Anbindung an Datenbank --- Testreport-Generierung --- Betriebssicherer Funktionstest --- Paralleltest --- Testzeit- Optimierung --- Verbesserung des Produktionsprozesses --- etc
5 Die Lösung
6 Integration JTAG / Boundary Scan
7 Agenda - Integration Boundary Scan Boundary Scan Begriffe + Erläuterung Erstellen eines BSC Step-Types unter NI TestStand Ausführen von BSC-Testbatch direkt in TestStand Resultat-Auswertung
8 Was ist JTAG/Boundary Scan? (Begriffe)
9 Was ist JTAG/Boundary Scan? (Begriffe) JTAG Joint Test Action Group (1985 JETAG, ab 1986 JTAG)
10 Was ist JTAG/Boundary Scan? (Begriffe) JTAG IEEE Joint Test Action Group (1985 JETAG, ab 1986 JTAG) IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
11 Was ist JTAG/Boundary Scan? (Begriffe) JTAG IEEE Boundary Scan Joint Test Action Group (1985 JETAG, ab 1986 JTAG) IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Testmethodik beruhend auf zusätzlich implementierter Testelektronik zwischen IC-Pin und interner Logik (at boundary: an der Grenze)
12 Was ist JTAG/Boundary Scan? (Begriffe) JTAG IEEE Boundary Scan BSDL Joint Test Action Group (1985 JETAG, ab 1986 JTAG) IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Testmethodik beruhend auf zusätzlich implementierter Testelektronik zwischen IC-Pin und interner Logik (at boundary: an der Grenze) Boundary Scan Description Language
13 Was ist JTAG/Boundary Scan? (Begriffe) JTAG IEEE Boundary Scan BSDL TAP Joint Test Action Group (1985 JETAG, ab 1986 JTAG) IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture Testmethodik beruhend auf zusätzlich implementierter Testelektronik zwischen IC-Pin und interner Logik (at boundary: an der Grenze) Boundary Scan Description Language Test Access Port
14 Standard Bauteil Pin Core Logic
15 BScan Bauteil Pin... zusätzliche intelligente Logik zur Steuerung Core Logic Bscan Zelle Test Data In (TDI) Test Clock (TCK) Test Mode (TMS) Select Test Access Port (TAP) TCK Test Data Out (TDO)
16 MUX Test Access Port Data Register n BScan Register 0 TDI 31 0 IDcode Register, opt. Bypass Register n 0 Instructions Register 0 TDO TCK TMS TAP Controller
17 Core Logic Core Logic Aufbau des IEEE Testbus IC1 IC2 TDI TAP TDO TDI TAP TDO TCK TMS Test Access Port TCK TMS
18 Notwendig für Bsc-Test Bibliotheks-Model (*.bsdl-files) Netzliste CAD-System (z.b.: *.net-files) Reihenfolge in Scan Path (*.con-file) BSC-Testablauf erstellt unter Cascon Galaxy
19 Vergleich JTAG/Boundary Scan --- ICT
20 Projekt - Beispiel Projekt Funktionstest und Boundary Scan Test
21 Das Produkt SolarMax S-Serie Stringwechselrichter
22 Prinzipieller Aufbau Wechselrichter (Inverter) in Solarstromanlagen haben die Aufgabe, die Gleichspannung des Solargenerators in Wechselspannung umzuwandeln, in der Regel damit die Energie in das öffentliche Stromnetz eingespeist werden kann.
23 Der Wechselrichter Die DC-Spannung des Solargenerators wird mit einem äusserst verlustarmen Aufwärtswandler (Hochsetzsteller / DC/DC-Wandler) in einen Zwischenkreis gebracht. Die IGBT-Brückenschaltung erzeugt den sinusförmigen Einspeisestrom
24 Adapter mit Controlboard
25 Boundary Scan Controller für PXI TCK Frequenzbereich 50MHz TCK Schrittweite 250Hz / 1MHz Unterstützt 8 parallele, unabhängige TAP ADYCS II / HYSCALE
26 Testsequenz Prüfling Speisen + Messen der Referenzspannungen Boundary Scan Infrastrukturtest, Interconnectiontest, manuelle Kombitests Programmieren DSP No1 / DSP No2 mit Boundary Scan Funktionstest 1 -n Resultate schreiben etc
27 BSC Integration Type Definition
28 BSC Integration Type Definition
29 BSC Testbatch Datei
30 Integration Vision Builder AI
31 Integration Vision Builder AI NI Vision Builder for Automated Inspection Projekt-Beispiel Bircher Reglomat AG Vbai Inspection Step in TestStand 4.0 Vbai Prüfablauf Vorteile Vbai Inspection Step
32 NI Vision Builder for Automated Inspection Konfigurierbare Entwicklungsumgebung für die Bildverarbeitung Bilddaten mit jedem beliebigen NI- Framegrabber, jeder GigE-Vision- bzw. IEEE Kamera oder dem NI Compact Vision System zu erfassen und zu verarbeiten Vollständige Anwendungen zur industriellen Bildverarbeitung ohne Programmierung zu erstellen, zu bewerten und einzusetzen. Über 100 leistungsstarke Bildverarbeitungswerkzeuge, einschließlich geometrisches Pattern Matching, Zeichenerkennung (OCR, Optical Character Recognition) und Teilchenanalyse, zu konfigurieren. Trigger- und Prüfergebnisse über Digital-I/O, serielle und Ethernet-Protokolle direkt auf industrielle Geräte zu übertragen.
33 Projekt - Beispiel Projekt Funktionstest und Vision Test
34 Das Produkt PrimeTec Kombi-Sensor zur Öffnung und Absicherung automatischer Schiebetüren
35 Das Produkt PrimeTec Kombi-Sensor zur Öffnung und Absicherung automatischer Schiebetüren Öffnen / Schliessen von automatischen Türen im öffentlichen Bereich Aktivierung durch Radartechnologie Absicherung durch Aktiv Infrarotvorhang (Personen und Objektschutz) Diverse Signalausgänge erhältlich Einfache Montage Schnelle Parametrierung mittels Fernbedienung Nach EG Baumusterprüfung DIN18650 / EN12978 Erfüllt europäische Maschinenrichtlinie (98/37/EG) Tüv zertifiziert
36 Vision Builder AI - Prüfablauf
37 Vision Builder AI Prüfablauf (Inspect) Open / Create Image
38 Vision Builder AI Prüfablauf (Inspect) Mask Pixels outside of the ROI Extract Red Plane Background Correction (Bright Objects) Apply LUT to image
39 Vision Builder AI Prüfablauf (Inspect) Find bright objects Define the Result
40 NI Vbai Inspection Step in TestStand 4.0
41 Testsequenz mit Vision Builder AI Inspection Step Connect to Target Open Inspection Inspect Close Inspection Disconnect from Target
42 Vorteile von NI Vbai Inspection Step Einfache Integration von NI Vbai Testsequenzen in NI TestStand durch ActiveX interface Betriebssicheres Ausführen Volle Funktionalität durch Parameterübergabe Detaillierte Protokollierung möglich Änderungen der Vbai Sequenz müssen nicht compiliert / übersetzt werden (sofort lauffähig)
43 Integration In-Circuit-Test aus dem Hause
44 Die CITE Testumgebung von Digitaltest CITE stellt für alle Testsysteme die Programmumgebung dar Neben automatischen Programmgeneratoren steht die Programmiersprache Visual Basic zur Verfügung Die Programme können in grafischen Menüs oder in Visual Basic erstellt werden
45 CITE Integration in NI-Testumgebung Variante 1: CITE-Befehle in LabView absenden (dll-interface)
46 CITE Integration in NI-Testumgebung
47 CITE Integration in NI-Testumgebung Variante 2: CITE über System-Exec-Funktion in LabView ausführen
48 ICT Integration --- Vorteile CITE In-Circuit-Test in Funktionstest integrieren Nur 1 Benutzeroberfläche (TS-User Interface / LabView UI) Kombination von ICT mit diversen FKT Modulen (Bsp. PXI) möglich Komplette Steuerung der MTS Hardware aus TS/LabView
49 THE END Besten Dank für Ihre Aufmerksamkeit
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