Standardisierung der Funktionstester. Baugruppen

Transkript

1 Standardisierung der Funktionstester bei Siemens AG am Beispiel i lder Wago 767 Speed dway Baugruppen Herbert Franz Siemens AG IS MS EDM Referat Test FGL, Erlangen Markus Solbach NOFFZ ComputerTechnik GmbH

2 Agenda Kurzvorstellung Motivation und Aufgabenstellung Systemaufbau Testsoftware Architektur Ergebnis Ausblick

3 I IS MS EDM THE POWER OF IDEAS I I IS IS MS MS EDM EDM ist ist ein ein führender führender Anbieter Anbieter von von elektronischer elektronischer Dienstleistung Dienstleistung (EMS (EMS / / ODM) ODM) Das Leistungsspektrum umfasst die Entwicklung und/oder Fertigung von: Elektronischen Baugruppen Geräten Systemen Die Leistungserbringung Lit bi erfolgt tindividuell id llin Abstimmung mit dem jeweiligen Kunden I IS MS EDM übernimmt die individuelle Integration und Konfiguration von Standards zum wirtschaftlichen Nutzen seiner Kunden

4 I IS MS EDM Kennzahlen u. Standorte ~ 630 Mitarbeiter ~ 100 Entwickler 40 Vertrieb 30 Projektmanagement 20 Technologen Geschäftsvolumen ~ 160 Mio. 70% externe Kunden 30% Konzernleistung ~ 5000 unterschiedliche Baugruppen im Fertigungsprozess ~ Bauelemente im Handling / Logistik / Beschaffung Einkauf im Rahmen des Siemens Konzerns Einkaufsvolumen von 85 Mio. HANNOVER ESSEN ERLANGEN STUTTGART MÜNCHEN

5 I IS MS EDM Geschäftsausrichtung Kundenspezifische Embedded Lösungen im Segment Elektronik Kompetenzen in den Arbeitsgebieten Automation Control Medical Transportation Power Communication Oh Others Hohe Varianz und niedrige / mittlere Stückzahlen (typisch 100 bis ) Mittlere / Hohe Anforderungen an Entwicklung und / oder Prozess und Fertigungsqualität

6 I IS MS EDM Volumenstruktur nach Branchen Industrieelektronik Auto Telekommunikation ee Sonstige Konsumgüter 140 Mio. 8 Mio. 5 Mio. 8 Mio.

7 I IS MS EDM Testausrüstung Prüfung / Test Incircuit Test (z.b. HP, GenRad, Teradyne) Flying Probe (SPEA) Funktionstest (MFT, PXI) Automatische optische Inspektion (AOI Viscom) Röntgeninspektion (X Ray Agilent) Burn in Run in

8 NOFFZ ComputerTechnik GmbH Automotive Automation Chemie/Pharma Electronik Maschinenbau Telekom Ein Systempartner für Siemens I IS MS EDM Entwicklung und Produktion von automatischen ti Test und Messtechnik iksystemen (ATE) Umfangreiche Hard und Software Entwicklung Bildverarbeitung i und Display Inspektion i Flexible Kleinserien Fertigung von elektronischen Modulen, Schnittstellen Geräten Softwareprojekte consulting, sowie Training Komplette Projektabwicklung kl

9 NOFFZ Dienstleistung im Rahmen der Siemens EDM Projekte Umfangreiche Softwareentwicklung auf Basis NI TestStand und NI CVI Konfiguration der NI Hardware Einbindung weiterer Geräte Adapterausbau und Anpassung an DUT Printentwicklung mit Signalverteilung und Signalanpassung Inbetriebnahme und Test

10 Motivation Vorgänger Testsysteme Vielschichtige und unterschiedliche Systeme Spezielle Systemprüfplätze Produktbezogen PC Prüfplätze mit Mess und Prüfgeräten Testprogramme in den unterschiedlichsten Programmiersprachen (Dephi, Pascal, Basic...) Entsprechend hohe Wartungs und Instandhaltungskosten

11 Motivation Neue Anforderungen im Bereich: Testzeiten Schnittstellen (Q Datenerfassung, Messwerterfassung) Einheitliche Programmierung und Oberfläche für den Anwender Neues Testkonzept auf aktueller Hard Software Plattform, weil: bestehendes System veraltet Externer Support problematisch Produktverfügbarkeit Vereinheitlichung unter der Standorten (Produktverlagerung) Gleicher Ausbildungsstand der Prüfplaner => Generationswechsel

12 Aufgabenstellung Erstellung neuer Testergeneration basierend auf: CVI und TestStand, PXI Das Standardsystem soll folgende Eigenschaften haben: flexible und universelles Software Framework Einfache Bedienung und Adaption auf neue Prüflinge Netzwerk bzw. Remote Zugriff Unterstützung und einfache Integration von MultiDUT Anwendungen offen zu bestehenden Schnittstellen (GPIB, Seriell, TCP/IP, etc.)

13 Schematische Darstellung Systemaufbau

14 Systemaufbau Schaltschrank mit zentralem PXI Messsystem Pl Pylon Interface mit Standardisierter di i t Pinbelegung Produktspezifische Wechseladapter mit Noffz Signalanpassung Erweiterung durch zusätzliche Messgeräte

15 Systembild NI Slot Chassis 18 Slot Chassis mit einer Universal AC Power Supply NI 8105 Controller Einheit NI 4071 Digital Multimeter NI 2569 Relaismodul NI 6704 DC Analogausgangskarte NI5402Funktionsgenerator NI 8430 RS232 Interface NI 6528 Digitale I/O Modul NI Channel Digitizer NI 4110 Power Supply und weitere auch anderer Hersteller

16 Testsoftware Architektur Zweistufiges Softwarekonzept: Instrumenten bzw. Treiberschicht mit direkter Anbindung in TestStand Anwender und Verwaltungsschicht h Prüflingsspezifische Einstellungen, z.b. Parametrisierung der Grenzwerte Ablaufsteuerung (Sequentiell Model, Parallel lmode) Operator Interface

17 Beispiel: Funktionstest Beim Funktionstest werden grundlegend g folgende Prüfschritte durchgeführt: DUT Kontaktierung der Baugruppe Laden der Firmware Test der Stromaufnahme und der Spannungsversorgung Funktionstest sämtlicher analogen und digitalen Ein und Ausgänge Test der Leuchtdioden mit Hilfe des FEASA Moduls

18 Ergebnis DiePrüfergebnisse werden imtraceability System erfasst, diese können dann im Qualitysystem ausgewertet werden

19 Ausblick Weiterer Ausbau des Systems bei speziellen Messaufgaben weitere Systeme mit gleicher lih Schnittstelle t an verschiedenen Standorten bei Siemens EDM geplant Zeit und Kostenminimierung durch weitere Standardisierung in Prüfplanung, Adapterbau und Software

20 Vielen Dank für Ihre Aufmerksamkeit! Siemens AG I IS MS EDM Herbert Franz NOFFZ Computer Technik GmbH Markus Solbach