VDE Prüf- und Zertifizierungsinstitut

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Transkript:

VDE Prüf- und Zertifizierungsinstitut VDE Prüf- und Zertifizierungsinstitut GmbH Merianstraße 28 63069 Offenbach Microchip Technology Inc. Vestre Rosten 79 7075 TILLER Norway Offenbach, 2017-07-27 Ihr Zeichen Ihr Schreiben Unser Zeichen - bitte angeben nsprechpartner Nancy Le Gat 2017-05-22 5014685-4970-0001/239103 S6/scb P R Ü F B E R I C H T zur Information des uftraggebers Test Report for the Information of the applicant Herr Dipl.-Ing. Schildbach Tel +49 69 8306 524 Fax +49 69 8306 789 joachim.schildbach@vde.com Produkt / Product: Typ / Type: Mikro-Controller TINY VR 1-series Sehr geehrte Damen und Herren, dieser Prüfbericht enthält das Ergebnis einer einmaligen Untersuchung an dem zur Prüfung vorgelegten Erzeugnis. Ein Muster dieses Erzeugnisses wurde geprüft, um die Übereinstimmung mit den nachfolgend aufgeführten Normen bzw. bschnitten von Normen festzustellen. Die Prüfung wurde durchgeführt vom 2017-07-24 bis 2017-07-27. This test report contains the result of a singular investigation carried out on the product submitted. sample of this product was tested to found the accordance with the thereafter listed standards or clauses of standards resp. The testing was carried out from 2017-07-24 to 2017-07-27. Der Prüfbericht berechtigt Sie nicht zur Benutzung eines Zertifizierungszeichens des VDE und berücksichtigt ausschließlich die nforderungen der unten genannten Regelwerke. The test report does not entitle for the use of a VDE Certification Mark and considers solely the requirements of the specifications mentioned below. EIN UNTERNEHMEN DES Q VERBND DER ELEKTROTECHNIK ELEKTRONIK INFORMTIONSTECHNIK e.v..../2

Seite 2-27.07.2017 Unser Zeichen: 5014685-4970-0001/239103 S6/scb Wenn gegenüber Dritten auf diesen Prüfbericht Bezug genommen wird, muss dieser Prüfbericht in voller Länge an gleicher Stelle verfügbar gemacht werden. Whenever reference is made to this test report towards third party, this test report shall be made available on the very spot in full length. I Beschreibung / Description Gegenstand / Object: Hersteller / Manufacturer: SW-Module zum ufbau einer Selbstdiagnose-Library für Micro- Controller der TINY VR 1-Serie SW-Modules to setup a self-diagnostic library for micro controllers of the family TINY VR 1-serie Microchip Technology Inc., Vestre Rosten 79, 7075 Tiller Typ / Type: Datei / File: Version / Version: classb_cpu_gcc.c 1.0 classb_cpu_iar.c 1.0 classb_interrupt_monitor.h 1.0 classb_freq.h 1.0 classb_crc.h 1.0 classb_crc_hw.h 1.0 CRC_16bit_alg.h 1.0 CRC_16bit_lookup.h 1.0 CRC_32bit_alg.h 1.0 CRC_32bit_lookup.h 1.0 classb_sram.h 1.0 classb_analog.h 1.0 EIN UNTERNEHMEN DES Q VERBND DER ELEKTROTECHNIK ELEKTRONIK INFORMTIONSTECHNIK e.v..../3

Seite 3-27.07.2017 Unser Zeichen: 5014685-4970-0001/239103 S6/scb II Prüfbestimmung / Test Specification Prüfnorm(en) / Standard(s) used: DIN EN 60335-1 (VDE 0700-1):2012-10 DIN EN 60335-1 Ber.1 (VDE 0700-1 Ber.1):2014-04 nnex R DIN EN 60730-1 (VDE 0631-1):2012-10 nnex H EN 60335-1:2012 EN 60335-1:2012/C:2014 EN 60335-1:2012/11:2014 nnex R EN 60730-1:2011 nnex H IEC 60335-1:2010 IEC 60335-1:2010/MD1:2013 IEC 60335-1:2010/MD2:2015 nnex R IEC 60730-1:2013 IEC 60730-1:2013/MD1:2015 nnex H EIN UNTERNEHMEN DES Q VERBND DER ELEKTROTECHNIK ELEKTRONIK INFORMTIONSTECHNIK e.v..../4

Seite 4-27.07.2017 Unser Zeichen: 5014685-4970-0001/239103 S6/scb III PRÜFUNG / TEST Die unter I benannten Selbst-Diagnose-Routinen sind vorgesehen für folgende Maßnahmen nach Tabelle R.1 / H.1 der unter II benannten Normen. / The self-diagnostic routines mentioned under I are foreseen for following measures of table R.1 / H.1 of the standards mentioned under II. Dateiname / File name classb_cpu_gcc.c classb_cpu_iar.c classb_interrupt_monitor.h classb_freq.h classb_crc.h classb_crc_hw.h CRC_16bit_alg.h CRC_16bit_lookup.h CRC_32bit_alg.h CRC_32bit_lookup.h classb_sram.h classb_analog.h Zu Details der Prüfungen siehe VDE-Prüfbericht / Maßnahme / Measure 1.1 Register 2. Interrupt handling and execution 3. Clock 4.1 Invariable memory 4.2 Variable memory 7.2.1 /D- and D/- converter 239103-S6-1 For details of testing see VDE Test Report: EIN UNTERNEHMEN DES Q VERBND DER ELEKTROTECHNIK ELEKTRONIK INFORMTIONSTECHNIK e.v..../5