Rasterkraftmikroskopie
|
|
|
- Helene Glöckner
- vor 8 Jahren
- Abrufe
Transkript
1 Rasterkraftmikroskopie Patrick Schömann Technische Universität München / 34
2 Übersicht 1 Geschichte der Rastersondenmikroskopie 2 Rastertunnelmikroskop 3 Rasterkraftmikroskop Aufbau Wechselwirkungskräfte Betriebsarten Artefakte Vor- und Nachteile 4 Highlights 2 / 34
3 Mikroskopklassen 3 / 34
4 Geschichte der Rastersondenmikroskopie 4 / 34
5 Geschichte der Rastersondenmikroskopie 1929 Stylus Proler 1950 Stylus Proler mit oszillierender Spitze Abbildung: Stylus Proler 5 / 34
6 1981 Rastertunnelmikroskop (STM) (Nobelpreis 1986) 1982 Optisches Nahfeld Mikroskop (SNOM) (a) STM (b) SNOM 6 / 34
7 1985 Kontakt-Modus Rasterkraftmikroskopie 1986 Magnetkraftmikroskopie Abbildung: AFM 7 / 34
8 1987 Elektrostatisches AFM 1990 IBM mit einem STM durch Atome geschrieben Abbildung: Atom bei Atom Schriftzug 8 / 34
9 1992 Nicht-Kontakt-Modus / Tapping Mode AFM 1995 Nicht-Kontakt-Modus AFM erreicht atomare Auösung Abbildung: Einzelne Atome aufgelöst 9 / 34
10 Rastertunnelmikroskop 10 / 34
11 Rastertunnelmikroskop Messung des Tunnelstroms zwischen Spitze und Oberäche Abrastern der Probenoberäche Abbildung: STM 11 / 34
12 Rasterkraftmikroskop 12 / 34
13 Aufbau eines AFM Messung der Wechselwirkung zwischen Spitze und Oberäche Abbildung: AFM 13 / 34
14 Wechselwirkungskräfte Im Wesentlichen Coulomb- und Van-der-Waals-Kräfte Bei extremer Nähe Pauli-Abstoÿung Abbildung: Kräfte 14 / 34
15 Wechselwirkungskräfte Bei Messung in Luft bildet sich ein dünner Wasserlm und somit Kapillarkräfte Messung in einer Flüssigkeit hat zusätzliche Fluiddämpfung Abbildung: Kräfte 15 / 34
16 Kontakt-Modus Spitze ist in direktem Kontakt mit der Oberäche Unterscheidung zwischen Abtastung mit konstanter Höhe und Abtastung mit konstanter Kraft 16 / 34
17 Kontakt-Modus mit konstanter Höhe ältester Modus, da die Anforderungen an die Regelungstechnik gering ist Abtastnadel verbiegt sich mit der Oberäche gröÿere Kräfte bei hohen Unebenheiten hohe Abtastrate 17 / 34
18 Kontakt-Modus mit konstanter Kraft Blattfeder mit Piezoelement nachgeregelt, so dass die Kraft konstant bleibt Regelkreis für die Bestimmung der Auslenkung 18 / 34
19 Nicht-Kontakt-Modus Anregung der Blattfeder mit ihrer Resonanzfrequenz Rückkopplungssystem mit geschlossenem Schwingkreis Kräfte zwischen Probe und Spitze ändern die Resonanzfrequenz üblicherweise in (Ultahoch-) Vakuum höchste Auösung 19 / 34
20 Intermittierender Modus / Tapping Mode Ähnlich zu Nicht-Kontakt-Modus Anregung nahe der Resonanzfrequenz Amplitude und Phase ändern sich 20 / 34
21 Artefakte Bilderzeugung ist anfällig für Artefakte Das AFM-Bild kann durch Vibrationen, Partikel auf der Spitze oder Probenoberäche und anderes beeinusst werden 21 / 34
22 Abgebrochene Spitze Abgebrochene Spitze Abbildung: Abgebrochene Spitze 22 / 34
23 Abgebrochene Spitze Abbildung: Testbild mit und ohne abgebrochene Spitze 23 / 34
24 Scanner drift Tritt im Tapping Modus auf Resonanzfrequenz bei Scanbeginn noch nicht eingestellt Abbildung: Scaner drift 24 / 34
25 Vorteile 3D Oberächenstruktur aufnehmbar Probe braucht keine spezielle Behandlung benötigt nicht zwingend ein Vakuum Biologische Proben können untersucht werden ohne sie zu zerstören 25 / 34
26 Nachteile kleine Scangröÿe relativ langsame Scangeschwindigkeit Artefakte könne auftreten scharfe Kanten können nicht gut aufgenommen werden 26 / 34
27 Highlights 27 / 34
28 Highlights Auösung von einzelnen Atomen in Molekülen mit konstanter Höhe NC-AFM Abbildung: Molekül aufgelöst 28 / 34
29 Auösung von einzelnen Sn Atomen auf einer Pb-Schicht mit Tapping-Mode AFM Abbildung: Auösung einzelner Atome 29 / 34
30 Bewegen von einzelnen DNA-Strängen mit dem AFM Abbildung: DNA Manipulation 30 / 34
31 Zusammenfassung 31 / 34
32 Zusammenfassung Methode um sub-optische Auösungen zu erreichen funktioniert mit allen Materialien kann lebende Proben untersuchen viele verschiedene Submethoden 32 / 34
33 Vielen Dank für die Aufmerksamkeit! 33 / 34
34 Quellen http : //pharmrev.aspetjournals.org/content/60/1/43/f10.expansion http : //en.wikipedia.org/wiki/scanning t unneling microscope http : // = 3249 http : //www3.physik.uni greifswald.de/method/afm/eafm.htm http : //sysrun.haifa.il.ibm.com/ibm/history/exhibits/vintage/images/4506vv1003.jpg http : // augsburg.de/exp6/imagegallery/afmimages/afmimages d.shtml http : // aachen.de/downloads/grundlagen R KM.pdf Nature Chemistry Vol3 April 2011 Current Opinion in Structural Biology 2009, 19: Nature Vol446 1March / 34
Einführung in die Biophysik - Übungsblatt 3 - mit Lösung
Einführung in die Biophysik - Übungsblatt 3 - mit Lösung May 21, 2015 Allgemeine Informationen: Die Übung ndet immer montags in Raum H030, Schellingstr. 4, direkt im Anschluss an die Vorlesung statt. Falls
Auflösungsvermögen von Mikroskopen
Auflösungsvermögen von Mikroskopen Menschliches Auge Lichtmikroskopie 0.2 µm Optisches Nahfeld Rasterelektronen mikroskopie Transmissions Elektronenmikroskopie Rastersonden mikroskopie 10 mm 1 mm 100 µm
Rasterkraftmikroskopie
Rasterkraftmikroskopie Rasterkraft- und Rastersondenmikroskopie als Werkzeug für nanostrukturierte Festkörper Manfred Smolik, Inst.f. Materialphysik, Univ. Wien Überblick Historischer Abriß Rastersondenmikroskopie
RASTER-KRAFT-MIKROSKOPIE (ATOMIC FORCE MICROSCOPY AFM)
RASTER-KRAFT-MIKROSKOPIE (ATOMIC FORCE MICROSCOPY AFM) Inhaltsverzeichnis 1. Motivation 2. Entwickler des AFM 3. Aufbau des AFM 3.1 Spitze und Cantilever 3.2 Mechanische Rasterung 3.3 Optische Detektion
Rastersonden-Mikroskopie (SPM)
Rastersonden-Mikroskopie (SPM) Der Rastersonden-Mikroskopie (SPM) liegt eine geregelte rasternde Bewegung einer spitz zulaufenden Messsonde in unmittelbarer Nähe zur Probenoberfläche zugrunde. Die erhaltenen
Optische Nahfeldmikroskopie SNOM (scanning near-eld optical microscopy)
Optische Nahfeldmikroskopie SNOM (scanning near-eld optical microscopy) 24.04.2014 1 / 29 Überblick 1 Mikroskope und ihr Auösungsvermögen 2 SNOM Zuordnung zu Rastersondenmikroskopen Aufbau eines Nahfeldmikroskops
Vorlesung. Rastersondenmikroskopie WS 2010/11. Themenüberblick. Warum ist Nanotechnologie so interessant? Einzelne Atome bewegen Eine Vision in 1959
Vorlesung Rastersondenmikroskopie WS 2010/11 Priv. Doz. Dr. A. Schirmeisen www.centech.de/nanomechanics Themenüberblick 0. Einführung 1. Rastertunnelmikroskopie (STM) 2. Manipulation: Atome verschieben
Oberflächenanalyse mit Rasterkraft- (AFM) und Rastertunnelmikroskop (STM)
Oberflächenanalyse mit Rasterkraft- (AFM) und Rastertunnelmikroskop (STM) Julian Kluge Betreuer: Dr. Michael Jetter Date: 27.04.2016 July 8, 2016 Contents 1 Einführung 2 2 Geschichte 2 3 Rastertunnelmikroskop
Rasterkraftmikroskopie - AFM
Versuchsprotokoll Fortgeschrittenenpraktikum Physikalische Chemie SS 11 Rasterkraftmikroskopie - AFM Assistent: Hannah Mangold Versuchsdurchführung: 05.05.2011 Protokollabgabe: 18.05.2011 Gruppe A8 Carmen
5.3 Weitere Wechselwirkung mit Photonen: Spektroskopie
Dünnschichtanalytik Teil 2 5.3 Weitere Wechselwirkung mit Photonen: Spektroskopie [Schmidl] 1 5.3.1 Wechselwirkungen mit Photonen A - Elastische Wechselwirkung: - sekundäre Strahlung - Beugungsexperimente
Sonderforschungsbereich 379
Sonderforschungsbereich 379 Mikromechanische Sensor- und Aktorarrays Elektrische Kraftmikroskopie Verfahren und Implementierung mit MEMS Prof. Dr. Michael Hietschold T Chemnitz, Institut für f r Physik
Vortrag über die Funktionsweise von Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopen
Vortrag über die Funktionsweise von Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopen Jens Wächter Universität Hamburg - Fachbereich Informatik Informatikanwendungen in Nanotechnologien : STM und AFM p.1 Historisches
Rastersondenmikroskopie an molekularen Nanostrukturen
Rastersondenmikroskopie an molekularen Nanostrukturen Michael Mannsberger, Institut für Materialphysik Rastersondenmikroskopische Methoden, die atomare Auflösung erlauben Vortrag 1: Dynamische Rasterkraftmikroskopie
Rasterkraftmikroskopie
Eine kleine Einführung in die Rasterkraftmikroskopie Ein Vortrag von Daniel C. Manocchio Ridnaun, Jan. 2001 Inhalt: Geschichte der Rastersondenmikroskopie Generelles Funktionsprinzip Topographie-Modi in
Kleinster Abstand d zweier Strukturen die noch als getrennt abgebildet werden können.
phys4.02 Page 1 1.5 Methoden zur Abbildung einzelner Atome Optische Abbildung: Kann man einzelne Atome 'sehen'? Auflösungsvermögen: Kleinster Abstand d zweier Strukturen die noch als getrennt abgebildet
Rastertunnelmikroskopie
Rastertunnelmikroskopie Michael Goerz FU Berlin Fortgeschrittenenpraktikum A WiSe 2006/2007 20. November 2006 Gliederung 1 Einführung Historischer Überblick Konzept, Zielsetzung und Anwendung 2 Aufbau
Praktikumsversuch AFM. Institut für Festkörperphysik Abteilung ATMOS
Praktikumsversuch AFM Institut für Festkörperphysik Abteilung ATMOS Ansprechpartner E-Mail-Adresse: Philipp Kröger [email protected] Inhaltsverzeichnis 1 Theorie 1 1.1 Betriebsmodi des AFM........................
Verfahren der Mikrosystemtechnik zur Herstellung/Charakterisierung von Chemo- und Biosensoren
Verfahren der Mikrosystemtechnik zur Herstellung/Charakterisierung von Chemo- und Biosensoren Teil 8: Analysemethoden zur Charakterisierung der Mikrosysteme II Dr. rer. nat. Maryam Weil Fachhochschule
Atomic Force Microscope (AFM)
Materials Science & Technology Atomic Force Microscope (AFM) Workshop am 21. Juni 2006 Analytikmöglichkeiten von textilen Materialien und Oberflächen bis in den Nanometerbereich Jörn Lübben Atomare Kraftmikroskopie
Methoden der Oberflächenphysik: Struktur. Rastertunnelmikroskopie und Rasterkraftmikroskopie. SS 09 Oberflächenphysik
Methoden der Oberflächenphysik: Struktur Rastertunnelmikroskopie und Rasterkraftmikroskopie Gliederung Kleine Geschichte der Mikroskopie Prinzip der Rastertunnelmikroskopie (RTM) - Quantenmechanische Grundlage
Assoziationsreaktionen: Radikal-Radikal-Rekombination [ ] eff. Reaktionsordnung ist druckabhängig!
1.3.4.1 Assoziationsreaktionen: Radikal-Radikal-Rekombination k eff = k k D A S [ M] [ ] k + k M S Reaktionsordnung ist druckabhängig! 1.3.4.1 Assoziationsreaktionen: Radikal-Radikal-Rekombination k eff
Arbeitsblatt Einsatz eines LEGO -AFM-Modells im Unterricht
Bildungsplattform zur Mikro- und Nanotechnologie für Berufsfach- und Mittelschulen sowie Höhere Fachschulen Arbeitsblatt Einsatz eines LEGO -AFM-Modells im Unterricht Arbeitsunterlagen (Handout) für Lernende
Zellulose-Synthese. künstlich: enzymatische Polymerisation von Zellobiose-Fluorid
18 Zellulose-Synthese künstlich: enzymatische Polymerisation von Zellobiose-Fluorid biologisch: Enzymkomplexe in der Zellmembran (terminal complexes, TCs) sphärulitische Kristalle außen S. Kobayashi et
2 Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie
7 1 Einleitung Mit der Entwicklung des Rastertunnelmikroskops im Jahr 1982 durch Binnig und Rohrer [1], die 1986 mit dem Physik-Nobelpreis ausgezeichnet wurde, wurde eine neue Klasse von Mikroskopen zur
Tabelle: Kristalle - Übesicht und Klassifikation
Tabelle: Kristalle - Übesicht und Klassifikation Kristall- / Bindungstypen A-A Beispiele A-B Wechselwirkung (attraktive Terme) attraktives Potential E bin (ev) R 0 (Å) T schm (K) 1) Edelgaskristall, Molekülkristall
Das Rastertunnelmikroskop
Das Rastertunnelmikroskop Die Nanostrukturforschung ist die Schlüsseltechnologie des 21. Jahrhunderts. Das Gebiet der Nanowissenschaften beinhaltet interessante Forschungsgebiete, die einen Teil ihrer
Das Rastertunnelmikroskop
Das Rastertunnelmikroskop 1 engl.: scanning tunneling microscope (kurz: STM) Nobelpreis für Physik 1986 Heinrich Rohrer Gerd Binnig Grundlagen STM 2 Das 1981 entwickelte Rastertunnelmikroskop (kurz: RTM)
Methoden. Spektroskopische Verfahren. Mikroskopische Verfahren. Streuverfahren. Kalorimetrische Verfahren
Methoden Spektroskopische Verfahren Mikroskopische Verfahren Streuverfahren Kalorimetrische Verfahren Literatur D. Haarer, H.W. Spiess (Hrsg.): Spektroskopie amorpher und kristalliner Festkörper Steinkopf
Rasterkraftmikroskop (AFM)
Physikalisches Institut der Universität Bayreuth PHYSIKALISCHES PRAKTIKUM FÜR FORTGESCHRITTENE Rasterkraftmikroskop (AFM) F. Schwaiger, W. Richter Version 9-2010 2 Inhaltsverzeichnis Seite 1 Einführung
Methoden. Spektroskopische Verfahren. Mikroskopische Verfahren. Streuverfahren. Kalorimetrische Verfahren
Methoden Spektroskopische Verfahren Mikroskopische Verfahren Streuverfahren Kalorimetrische Verfahren Literatur D. Haarer, H.W. Spiess (Hrsg.): Spektroskopie amorpher und kristtiner Festkörper Steinkopf
Methoden der Strukturenuntersuchung
Auflösungsgrenze des Lichtmikroskops Methoden der Strukturenuntersuchung Lichtmikroskopische Techniken Rastermikroskope Elektronmikroskope Diffraktionsmethode Optisches Gitter Auflösungsgrenze: δ = 0,61
Rasterkraftmikroskopie (AFM)
Fortgeschrittenenpraktikum der Physik Universität Ulm Rasterkraftmikroskopie (AFM) Sabrina Brieger [email protected] Michael-Stefan Rill [email protected] Gruppennummer:
2. Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie
7 2. Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie 2.1. Entwicklung der Rastersondenmikroskopien Die Rastersondenmikroskopie-Techniken untersuchen eine Probe im sogenannten Nahfeld, d.h. die Sonde, die aus einer
Geburtsdatum: BG/BRG Biondekgasse, Baden
NACHNAME, Vorname: LAIMER Tamina Geburtsdatum: 03.02.1991 Schule: BG/BRG Biondekgasse, Baden Schulstufe: 10. Schulstufe TITEL des Innovationspraktikums: Atomic Force Microscopy Of The Interaction Of Functionalyzed
Alle Atome haben Massen ungefähr einem vielfachen der Masse des Wasserstoff Atoms.
02. Atom Page 1 2. Das Atom Atom: kleinster unveränderbarer Bestandteil eines chemischen Elements Charakteristische Eigenschaften von Atomen: Masse, Volumen, Ladung 2.1 Bestimmung der Atommasse expt. Befund:
Versuch 6: Raster-Tunnel-Mikroskop (RTM)
Versuch 6: Raster-Tunnel-Mikroskop (RTM) Von Patrick Fritzsch und Thomas Bauer Versuchstag: 13.5.2002 Versuchsassistent: Hüve 1. Einleitung In diesem Versuch werden Aufnahmen von einer Graphit- und einer
Protokoll zum Versuch Rasterkraftmikroskopie
Protokoll zum Versuch Rasterkraftmikroskopie Der Versuch wurde durchgeführt im Rahmen des Physikalisch-Chemischen Fortgeschrittenen Praktikums 11. Dez. 2005 Gruppe 2 Jasmin Fischer Benjamin Vogt Inhaltsverzeichnis
Rasterkraftmikroskopie. (atomic force microscopy)
Rasterkraftmikroskopie (atomic force microscopy) Rasterkraftmikroskopie Einleitung Überblick Die Vorläufertechnologie Rastertunnelmikroskopie Entwicklung der Rasterkraftmikroskopie Aufbau und Funktionsweise
Rasterkraftmikroskopie
Fortgeschrittenenpraktikum der Physik Rasterkraftmikroskopie Versuch 29 Oliver Heinrich Tobias Meisch Gruppe: 717 Versuchstag: 03. Juli.2008 Abgabe:
Auswertung zum Versuch: Rasterkraftmikroskopie. Inhaltsverzeichnis. Inhaltsverzeichnis
Christian Krause, Matr. 1956616 Inhaltsverzeichnis Auswertung zum Versuch: Rasterkraftmikroskopie Inhaltsverzeichnis 1 Theoretische Grundlagen 2 1.1 Grundprinzip.........................................
Surface analysis by atomic force (AFM) and scanning tunnel (STM) microscopy
Surface analysis by atomic force (AFM) and scanning tunnel (STM) microscopy Hauptseminar SS16 IHFG Julian Kluge 1 Outline Motivation History STM AFM Comparison AFM - STM 2 Motivation XRD: in-depth analysis
Kai Ruschmeier (Autor) Aufbau eines 300mK-10T-UHV-Kryostatsystems für die Rasterkraftmikroskopie und Analyse der Kraftsensortemperatur
Kai Ruschmeier (Autor) Aufbau eines 300mK-10T-UHV-Kryostatsystems für die Rasterkraftmikroskopie und Analyse der Kraftsensortemperatur https://cuvillier.de/de/shop/publications/6742 Copyright: Cuvillier
Das Rasterkraftmikroskop im Praktikum
Wissenschaftliche Arbeit zur Zulassung zum ersten Staatsexamen im Fach Physik Das Rasterkraftmikroskop im Praktikum vorgelegt von Daniela Feigl Karlsruhe, den 30. November 2012 betreut von Prof. Dr. Günter
Rasterkraftmikroskopie (AFM) von supramolekularen Systemen
Rasterkraftmikroskopie (AFM) von supramolekularen Systemen Institut für Organische Chemie Julius-Maximilians-Universität Würzburg Betreuer: Dr. Vladimir Stepanenko Arbeitskreis Prof. Dr. Frank Würthner
Rastersondenmethoden (SPM)
Rastersondenmethoden (SPM) Tunnel- (STM) und Kraft- (AFM) Mikroskopie Vorlesung Methoden der Festkörperchemie WS 2013/2014, C. Röhr Einleitung Kraftmikroskopie Apparatives Ergebnisse Literatur Einleitung
Tunnelspitzen. Vorlesung. Rastersondenmikroskopie WS 2010/11. Spitzenätzung. Themenüberblick. Priv. Doz. Dr. A. Schirmeisen
Vorlesung Rastersondenmikroskopie WS 2010/11 Priv. Doz. Dr. A. Schirmeisen www.centech.de/nanomechanics Themenüberblick 0. Einführung 1. Rastertunnelmikroskopie (STM) 2a. Manipulation: Atome verschieben
Rastermethoden 1. Klaus Meerholz WS 2010/11. Raster. Reinzoomen
Rastermethoden / Bildgebende Verfahren Rastermethoden 1 Klaus Meerholz WS 2010/11 Sequentielle Datenerfassung: Parallele Datenerfassung: Rastern Scannen Abbilden Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 1 Klaus
Wiederholung: Schichtdicke
Wiederholung: Schichtdicke Ideal Real d Schicht Substrat d Unzusammenhängend d Rauhigkeit r D d Dickegradienten Wiederholung: Gravimetrie I d = m ρ S A d = Schichtdicke ρ S =Dichte A = Substratfläche Achtung:
7. Oberflächen-und Dünnschichtanalytik. Prof. Dr. Paul Seidel VL FKP MaWi WS 2014/15
7. Oberflächen-und Dünnschichtanalytik 1 Oberflächenanalyse (Rastersondenmikroskopie) [ E. Oesterschulze ] 2 Gerd Binnig Heinrich Rohrer Nobelpreis 1986 für Rastertunnelmikroskop 3 Funktionsprinzip Rastersondenmikroskopie
Atomic Force Microscopy: Grundlagen Methoden - Anwendung
AFM - Inhalt Grundlagen Grundprinzip Komponenten Spitzenwahl Methoden Contact-mode Tapping-mode Spezielle Modi Artefakte Beispielhafte Anwendung Langmuir-Blodgett Schichten Verwendungshinweis: Die verwendeten
Praktikum der Physik für Fortgeschrittene. Versuch 29 Rasterkraftmikroskopie
Praktikum der Physik für Fortgeschrittene Versuch 29 Rasterkraftmikroskopie durchgeführt am: 27. November 2008 1. Abgabe des Protokolls: 05. Dezember 2008 2. Abgabe des Protokolls: 16. Dezember 2008 Versuchsbetreuer:
Hochgenaue und rückverfolgbare AFM-Messungen an Halbleitern und Stufennormalen
Hochgenaue und rückverfolgbare AFM-Messungen an Positionieren im Sub-Nanometer-Bereich Physik Instrumente (PI) GmbH & Co. KG, Auf der Römerstr. 1, 76228 Karlsruhe, Deutschland Seite 1 von 5 Die Rasterkraftmikroskopie
Atom-, Molekül- und Festkörperphysik
Atom-, Molekül- und Festkörperphysik für LAK, SS 2014 Peter Puschnig basierend auf Unterlagen von Prof. Ulrich Hohenester 1. Vorlesung, 6. 3. 2014 Wie groß sind Atome? Atomare Einheiten, Welle / Teilchen
Untersuchungsmethoden der Nanotechnologie: Oberflächenanalyse mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie
Physikalisches Praktikum für Fortgeschrittene Versuch C2 Untersuchungsmethoden der Nanotechnologie: Oberflächenanalyse mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie Wintersemester 2006 / 2007 Name: Daniel Scholz
Atomic Force Microscopy
1 Gruppe Nummer 103 29.4.2009 Peter Jaschke Gerd Meisl Atomic Force Microscopy Inhaltsverzeichnis 1. Einleitung... 2 2. Theorie... 2 3. Ergebnisse und Fazit... 4 2 1. Einleitung Die Atomic Force Microscopy
Mikroskopie I. (Thema 33.) SZILVIA BARKÓ 2016
Mikroskopie I. (Thema 33.) SZILVIA BARKÓ 2016 Titel 33. I. Klassifizierung der mikroskopischen Methoden. II. Lichtmikroskop. Bildentstehung des Mikroskops. Haupterfordernisse der Bildentstehung. III. Auflösungsvermögen
2. Bildgebende Verfahren
Vorlesung Charakterisierung von Halbleitermaterialien I Elektronenmikroskopie (Raster-, Transmissionselektronenmikroskop) (Rasterkraft-, Rastertunnel-, Rasterkapazitätsmikroskop) Lichtoptische Verfahren
Rasterkraftmikroskopie auf atomarer Skala:
Rasterkraftmikroskopie auf atomarer Skala: Van-der-Waals Wechselwirkung in molekularen Systemen Dissertation zur Erlangung des Doktorgrades der Naturwissenschaften (Dr. rer. nat.) der Fakultät Physik der
AFM Atomic-Force-Microscope K. Harnisch, R. Schenk
AFM Atomic-Force-Microscope K. Harnisch, R. Schenk 1 Gliederung I. Einleitung I.Aufbau II.Messeinrichtung III.Cantilever IV.Spitzen I.Modi und deren Anwendung I.Contact-Modus II.Tapping-Modus III.Peak-Force-Tapping/
Rastersondenmethoden (SPM)
Rastersondenmethoden (SPM) Tunnel- (STM) und Kraft- (AFM) Mikroskopie Vorlesung: Methoden der Festkörperchemie, WS 2016/2017, C. Röhr Einleitung Kraftmikroskopie (AFM) Apparatives Ergebnisse Literatur
RASTERKRAFTMIKROSKOPIE
B47 Physikalisches Praktikum für Fortgeschrittene Betreuer: Prof. Dr. Sabine Maier [email protected] erlangen.de RASTERKRAFTMIKROSKOPIE 2 Einleitung Version: 1.0 Erstellt am 9.4.2012 Versuch B47:
Rastersondenmethoden in der Nanotechnologie
Kompetenzzentrum HanseNanoTec h a nsen a n o t e c Das Netzwerk für Nanotechnologie in Hamburg Rastersondenmethoden in der Nanotechnologie sehen nicht Wer kann, muss fühlen Inhalt Inhalt Der Nanokosmos
LEGO -Modell eines Rasterkraftmikroskop
Bildungsplattform zur Mikro- und Nanotechnologie für Berufsfach- und Mittelschulen sowie Höhere Fachschulen LEGO -Modell eines Rasterkraftmikroskop Die Funktionsweise eines Rasterkraftmikroskops (AFM)
2 Coulomb-Kraft Elektrisches Potential... 9
Inhaltsverzeichnis I Strukturprinzipien 7 1 Konservative Kraft / Potential 7 2 Coulomb-Kraft 8 2.1 Elektrisches Potential....................... 9 3 Abstoßendes Potential 10 4 Bindungsarten 10 4.1 Ionische
2 Mechanische Nanostrukturierung
1 Einleitung Die Nanotechnologie ist ein hochaktuelles Gebiet der Forschung, da durch nanoskalige Komponenten neue Funktionalitäten entstehen, die eine Vielzahl neuer Anwendungsgebiete eröffnen [1]. Will
VP 2: RKM - Rasterkraftmikroskop
VP 2: RKM - Rasterkraftmikroskop Therese Challand 30. Januar 2006 Contents 1 Theorie 1 1.1 Rasterkraftmikroskop RKM..................... 1 1.2 Messprinzip und Aufbau eines RKM................ 2 1.3 Betriebsmodi.............................
RASTERKRAFTMIKROSKOPIE IM UHV:
RASTERKRAFTMIKROSKOPIE IM UHV: Abbildungsprozesse im Kontaktmodus und im dynamischen Modus am Beispiel der Gold (111) 22 (±1) x 3- und der Si (111) 7 x 7 - Oberfläche Dissertation zur Erlangung des Grades
Abweichungen vom idealen Gasverhalten: van der Waals. Abweichungen vom idealen Gasverhalten: van der
Abweichungen vom idealen Gasverhalten: van der Abweichungen vom idealen Gasverhalten: van der Waals Der holländische Wissenschaftler J. van der Waals hat in diesem Zusammenhang eine sehr wertvolle Gleichung
RASTERKRAFTMIKROSKOPIE
B47 Physikalisches Praktikum für Fortgeschrittene Betreuer: Prof. Dr. Sabine Maier [email protected] RASTERKRAFTMIKROSKOPIE Version: 1.4 Erstellt am 08.10.2012 Letzte Änderung am 05.10.2018
Physikalisches Fortgeschrittenenpraktikum Rastertunnelmikroskop. Vorbereitung. 1 Theoretische Grundlagen. 1.1 Bändermodell
Physikalisches Fortgeschrittenenpraktikum Rastertunnelmikroskop Vorbereitung Armin Burgmeier Robert Schittny 1 Theoretische Grundlagen 1.1 Bändermodell Das Bändermodell ist ein quantenmechanisches Modell
Physikalisches Fortgeschrittenenpraktikum Rastertunnelmikroskop. Auswertung. 1 Präparation einer Tunnelspitze. 2 Untersuchung der Goldprobe
Physikalisches Fortgeschrittenenpraktikum Rastertunnelmikroskop Auswertung Armin Burgmeier Robert Schittny Präparation einer Tunnelspitze Da noch eine gute funktionierende Spitze im Mikroskop eingebaut
Von Stufen, Terrassen, Inseln und Gebirgen: Analyse des Wachstum dünner Goldschichten
Physikalisches Praktikum für Fortgeschrittene Versuch A1 Von Stufen, Terrassen, Inseln und Gebirgen: Analyse des Wachstum dünner Goldschichten Wintersemester 2006 / 2007 Name: Daniel Scholz Mitarbeiter:
Übersicht. 6. Lithographie: 1. Optische Lithographie. 2. e-beam / AFM /STM. 3. Röntgen. 4. EUV (soft X-ray) 5. Imprint Technologie B6.
Übersicht 6. Lithographie: 1. Optische Lithographie 2. e-beam / AFM /STM 3. Röntgen 4. EUV (soft X-ray) 5. Imprint Technologie Prof. Dr. H. Baumgärtner B6.4-1 Die Extrem UV Lithographie ist eine Weiterentwicklung
Fortgeschrittenen-Praktikum PIII. Rasterkraftmikroskopie
Fortgeschrittenen-Praktikum PIII Rasterkraftmikroskopie Titelbild: Kupfer-Nanostruktur auf Gold, abgeschieden mit der Spitze eines Rasterkraftmikroskopes als»elektrochemischem Stift«. Würde man eine Million
Selbstorganisation in der Nanowelt
Selbstorganisation in der Nanowelt Dr. Frank Balzer University of Southern Denmark, NanoSYD Sønderborg, Denmark Top down vs. Bottom up Winnie Grundprinzipien zur Erzeugung von (Nano-) Strukturen Top down:
Protokoll zum Versuch Rastertunnelmikroskopie Korrektur
Protokoll zum Versuch Rastertunnelmikroskopie Korrektur Der Versuch wurde durchgeführt im Rahmen des Physikalisch-Chemischen Fortgeschrittenen Praktikums 24. Nov. 2005 Gruppe 2 Benjamin Vogt Jasmin Fischer
PN 2 Einführung in die Experimentalphysik für Chemiker
PN 2 Einführung in die Experimentalphysik für Chemiker. Vorlesung 27.6.08 Evelyn Plötz, Thomas Schmierer, Gunnar Spieß, Peter Gilch Lehrstuhl für BioMolekulare Optik Department für Physik Ludwig-Maximilians-Universität
Vortrag über die Diplomarbeit
Vortrag über die Diplomarbeit angefertigt von cand. ing. Nataša Penić bei Prof. Dr.- Ing. K. Solbach Fachgebiet Hochfrequenztechnik an der Universität Duisburg-Essen Thema Optimization of an On-Body Antenna
Einsatz der Bildverarbeitung bei der Auswertung. von AFM-Daten. Fachgebiet Graphische Datenverarbeitung / TU-Ilmenau. PD Dr.-Ing. habil. K.-H.
Einsatz der Bildverarbeitung bei der Auswertung von AFM-Daten Dipl.-Ing. T. Machleidt PD Dr.-Ing. habil. K.-H. Franke Fachgebiet Graphische Datenverarbeitung / TU-Ilmenau SFB 622 Nanopositionier- und Nanomessmaschinen
Rasterkraftmikroskopie an dünnen organischen und metall/organischen Schichten auf Siliziumoxid
Rasterkraftmikroskopie an dünnen organischen und metall/organischen Schichten auf Siliziumoxid Dissertation zur Erlangung des Grades eines Doktors der Naturwissenschaften von Michael Reiniger Fachbereich
Anleitung zum Praktikum für Fortgeschrittene. Versuch: Scanning Tunneling Microscopy. Betreuer: B.Sc. Lienhard Wegewitz
Anleitung zum Praktikum für Fortgeschrittene Versuch: Scanning Tunneling Microscopy Betreuer: B.Sc. Lienhard Wegewitz Institut für Physik und Physikalische Technologien Technische Universität Clausthal
Übungsaufgaben zu Interferenz
Übungsaufgaben zu Interferenz ˆ Aufgabe 1: Interferenzmaxima Natrium der Wellenlänge λ = 589 nm falle senkrecht auf ein quadratisches Beugungsgitter mit der Seitenlänge cm mit 4000 Linien pro Zentimeter.
Fortgeschrittenenpraktikum für Lehramtskandidaten. Rasterkraftmikroskopie
Fortgeschrittenenpraktikum für Lehramtskandidaten Rasterkraftmikroskopie Inhaltsverzeichnis 1 1. Einleitung und Funktionsprinzip 2. Theorie 2.1 Einführung 2.2 Cantilever 2.3 Wechselwirkung zwischen Probenoberfläche
Molekülmodell und Kraftfelder Kraftfelder MD Simulation: Geschichte MD Simulation: Personen und Programme
Computergestützte Strukturbiologie (Strukturelle Bioinformatik) Kraftfelder Sommersemester 2009 Peter Güntert Molekülmodell und Kraftfelder Geschichte der MD Simulation Kraftfelder: CHARMM, AMBER, GROMOS,...
Atomkraftmikroskopie (AFM)
Atomkraftmikroskopie (AFM) 1. Einleitung AFM (Atomic Force Microscopy auf Englisch) ist zur Zeit eine der am häufigsten verwendeten Oberflächenanalysemethoden. Diese Methode erlaubt die Untersuchungen
Einführung in die Biophysik - Übungsblatt 7 - mit Lösungen
Einführung in die Biophysik - Übungsblatt 7 - mit Lösungen July 2, 2015 Allgemeine Informationen: Die Übung ndet immer montags in Raum H030, Schellingstr. 4, direkt im Anschluss an die Vorlesung statt.
Methoden der Strukturenuntersuchung
Auflösungsgrenze des Lichtmikroskops Methoden der Strukturenuntersuchung Lichtmikroskopische Techniken Rastermikroskope Elektronmikroskope Diffraktionsmethode Optisches Gitter Auflösungsgrenze: δ = 0,61
