Rastermethoden 1. Klaus Meerholz WS 2010/11. Raster. Reinzoomen
|
|
|
- Dominic Salzmann
- vor 8 Jahren
- Abrufe
Transkript
1 Rastermethoden / Bildgebende Verfahren Rastermethoden 1 Klaus Meerholz WS 2010/11 Sequentielle Datenerfassung: Parallele Datenerfassung: Rastern Scannen Abbilden Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 1 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 2 Auflösung Scannen vs. Rastern Laterale Auflösung bestimmt durch Stützstellenabstand, Scanschrittgröße ( x, y) xy-ausdehnung des Meßpunktes, Spotgröße (Durchmesser d, Radius r) Über die xy-ausdehnung des Meßpunktes wird der Wert gemittelt. Axiale Auflösung ( z) Über die z-ausdehnung des Spots wird der Wert gemittelt. Scannen Kontinuierlich, Vorschubgeschwindigk eit v Mittelwertbildun g im Intervall v * t. v* t x Relativ langsam S cannen > v* t Quasi-diskr et e Werte Relativ schnell S cannen = v* t Rastern diskrete Schritte x Diskr ete Werte x, v* t Mittelwerte Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 3 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 4 Raster Spotgröße Schrittweite d <<, d <, Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 5 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 6 1
2 Grenzwertig d x, d >, Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 7 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 8 Analyse einer Störstelle 20 x 20 5 x 5 2 x 2 Irreführend d >>, 1 x 1 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 9 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 10 Komplikationen Auflösungs/Flächen Kompromiss Probe ändert sich zeitlich Größenskala reversibel (z.b. durch Abtastverfahren selbst / Aufheizen) Random scan mit ausreichend Zeit zum Abklingen der Störung). m 2 mm 2 µm 2 AFM Zwiebel 400fach Opt. Mikroskopie Irreversibel schnell sein Ortsauflösung nm 2 nm 2 µm 2 mm 2 m 2 Zu untersuchende Fläche Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 11 Klaus Meer holz, Raster m ethoden
3 Rastermethoden / Bildgebende Verfahren Lokale Information über I. Topographie II. Optische Eigenschaften III. Elektrische & elektronische Eigenschaften IV. Magnetische Eigenschaften V. Chemische Zusammensetzu ng VI. Morphologie I. Topographie Mechanisch (im Kontakt) Profilometer Atomic Force Microscopy (AFM) Optisch (berührungslos) Interferometrie Chromatischer Sensor Elektronenmi kroskopie Etc. Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 13 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 14 Profilometer Metall Profilometer HTL Glas HTL Kratzer bis auf das Glas Kante des Metalls Lochleiter 300 nm Klaus Meer holz, Raster m ethoden µm Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 16 Profilometer: Auflösungsgrenze 200 nm 800 µm Silicium-Gitter zur AFM-Kalibrierung Wahre Gittertiefe: 104,5 nm Durch zu dicke Spitze gemessene Tiefe: ca. 30 nm SEM Image AFM Atomic Force Microscopy 104,5 nm Dektak Spitze Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 17 Klaus Meer holz, Raster m ethoden
4 AFM - Aufbau AFM - Aufbau Lateral: ca.100nm (Tip-abhängig) Axial: ca.1nm Cantilever: AFM Spitzen Lateral: ca.100nm 120µm Tiefe: ca.1nm 1µm Tisch/Scanner: Piezo-Keram ik Blei Zirkonium-Titan Verbindungen Messaufbau Messaufbau Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 19 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 20 AFM - Messprinzip AFM Modes Input Signal Cantilever deflection Photodiode, Gitter Messung der Tastenspitzen-Auslenkung Feedback Loop Laser X,Y Z Feedback Electronics Feedback Loop Output Signal Adjusts Z position Contact Non-contact Contact Modes Vibrating Modes Mode Contact (Topography) Lateral Force (Friction) Lithography (engraving) Scanning Thermal Tapping (Topography) Magnetic Force Electric Force Kelvin Probe Electrochemistry Wechselwirkungspotential U: R Kugelradius, A Hamakerkonstante Contact mode Vibrating mode Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 21 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 22 AFM: Tapping mode AFM: Contact-Force mode Beispiel: Chrom auf oxidiertem Si-Wafer (zur Eichung des AFM) Topogr aphi e S ignal (sensitiv Phasen Signal auf Här te des Mater ials) Van-der-Waals Kräfte - Repulsion - Attraktion Hook s Law: F = -k Z 10µm 10µm Sample Kratfkonstante (Cantilever) Abstand Hexadezimale Kodierung des Ortes Stufenhöhe ca. 100 nm Sprung des Signals an allen Kanten (Artefact) Bananenschale n : Morphologie des SiO2 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 23 Klaus Meer holz, Raster m ethoden
5 AFM: Einzelmolekü l-kraftsp ektroskopie Zusammenfassung AFM Reversible unfolding of immunoglobulin domains Kraft -Abstandskurve Nichtleitende und leitende Materialen Depth-Resolution 1 nm Anwendungen je nach Modus, Großtechnisch: CD und DVD Qualitätskontrolle Störungen: Abstand - Entfaltungskinetik - Van der Waals Wechselwirkungen - Bindungsstärken Vibration, Schall Statische Aufladungen thermische Drift Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 25 Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 26 Optische Methoden zur Oberflächencharakterisierung Chromatische Abstandsmessung Chromatischer Sensor Interferometrie Elektronenmi kroskopie (Teil 2) 1. Weißes Licht wird durch optische Faser und Linse auf zu untersuche nd e Fläche fokussiert; dabei liegt der blaue Fokus über dem roten Fokus (wegen Dispersion des Brechungsind ex der Linse). Das Licht wird von der Oberfläche reflektiert und wieder von der Faser aufgesamm elt (konfokale 2. Anordnung). 3. Die Wellenlänge, deren Fokus in der Ebene der Oberfläche liegt, wird bevorzugt aufgesammelt 4. Aus dieser Wellenlänge lässt sich bei bekannter Länge (blau rot) des Fokus auf die Topographie der Oberfläche zurückschließe n. Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 27 Klaus Meer holz, Raster m ethoden
RASTER-KRAFT-MIKROSKOPIE (ATOMIC FORCE MICROSCOPY AFM)
RASTER-KRAFT-MIKROSKOPIE (ATOMIC FORCE MICROSCOPY AFM) Inhaltsverzeichnis 1. Motivation 2. Entwickler des AFM 3. Aufbau des AFM 3.1 Spitze und Cantilever 3.2 Mechanische Rasterung 3.3 Optische Detektion
Rastermethoden. Klaus Meerholz WS 2015/16. Zeitplan. 16.12.15 Raster 1 (etwas länger) 17.12.15 Raster 2 (1 Stunde) Übungen Raster (T.
Rastermethoden Klaus Meerholz WS 2015/16 Klaus Meerholz, Rastermethoden 1 1 Zeitplan 16.12.15 Raster 1 (etwas länger) 17.12.15 Raster 2 (1 Stunde) Übungen Raster (T. Limböck) 7.1.16 E-Chemie 1 12.1.16
Auflösungsvermögen von Mikroskopen
Auflösungsvermögen von Mikroskopen Menschliches Auge Lichtmikroskopie 0.2 µm Optisches Nahfeld Rasterelektronen mikroskopie Transmissions Elektronenmikroskopie Rastersonden mikroskopie 10 mm 1 mm 100 µm
Verfahren der Mikrosystemtechnik zur Herstellung/Charakterisierung von Chemo- und Biosensoren
Verfahren der Mikrosystemtechnik zur Herstellung/Charakterisierung von Chemo- und Biosensoren Teil 8: Analysemethoden zur Charakterisierung der Mikrosysteme II Dr. rer. nat. Maryam Weil Fachhochschule
AFM Atomic-Force-Microscope K. Harnisch, R. Schenk
AFM Atomic-Force-Microscope K. Harnisch, R. Schenk 1 Gliederung I. Einleitung I.Aufbau II.Messeinrichtung III.Cantilever IV.Spitzen I.Modi und deren Anwendung I.Contact-Modus II.Tapping-Modus III.Peak-Force-Tapping/
Atomic Force Microscopy: Grundlagen Methoden - Anwendung
AFM - Inhalt Grundlagen Grundprinzip Komponenten Spitzenwahl Methoden Contact-mode Tapping-mode Spezielle Modi Artefakte Beispielhafte Anwendung Langmuir-Blodgett Schichten Verwendungshinweis: Die verwendeten
Sonderforschungsbereich 379
Sonderforschungsbereich 379 Mikromechanische Sensor- und Aktorarrays Elektrische Kraftmikroskopie Verfahren und Implementierung mit MEMS Prof. Dr. Michael Hietschold T Chemnitz, Institut für f r Physik
Infrarot Thermometer. Mit 12 Punkt Laserzielstrahl Art.-Nr. E220
Infrarot Thermometer Mit 12 Punkt Laserzielstrahl Art.-Nr. E220 Achtung Mit dem Laser nicht auf Augen zielen. Auch nicht indirekt über reflektierende Flächen. Bei einem Temperaturwechsel, z.b. wenn Sie
Oberflächen vom Nanometer bis zum Meter messen
Oberflächen vom Nanometer bis zum Meter messen Dr. Thomas Fries Fries Research & Technology GmbH (FRT), www.frt-gmbh.com In den Bereichen F&E und Produktionskontrolle spielt die präzise Messung von Oberflächen
2 Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie
7 1 Einleitung Mit der Entwicklung des Rastertunnelmikroskops im Jahr 1982 durch Binnig und Rohrer [1], die 1986 mit dem Physik-Nobelpreis ausgezeichnet wurde, wurde eine neue Klasse von Mikroskopen zur
Atomic Force Microscopy
1 Gruppe Nummer 103 29.4.2009 Peter Jaschke Gerd Meisl Atomic Force Microscopy Inhaltsverzeichnis 1. Einleitung... 2 2. Theorie... 2 3. Ergebnisse und Fazit... 4 2 1. Einleitung Die Atomic Force Microscopy
VIOSIL SQ FUSED SILICA (SYNTHETISCHES QUARZGLAS)
VIOSIL SQ FUSED SILICA (SYNTHETISCHES QUARZGLAS) Beschreibung VIOSIL SQ wird von ShinEtsu in Japan hergestellt. Es ist ein sehr klares (transparentes) und reines synthetisches Quarzglas. Es besitzt, da
32. Lektion. Laser. 40. Röntgenstrahlen und Laser
32. Lektion Laser 40. Röntgenstrahlen und Laser Lernziel: Kohärentes und monochromatisches Licht kann durch stimulierte Emission erzeugt werden Begriffe Begriffe: Kohärente und inkohärente Strahlung Thermische
Rastersonden-Mikroskopie (SPM)
Rastersonden-Mikroskopie (SPM) Der Rastersonden-Mikroskopie (SPM) liegt eine geregelte rasternde Bewegung einer spitz zulaufenden Messsonde in unmittelbarer Nähe zur Probenoberfläche zugrunde. Die erhaltenen
Rastermethoden 3. Klaus Meerholz WS 2010/11. Lichtmikroskopie. Konfokale Fluoreszenzmikroskopie. Fluoreszenzmikroskopie. II. Optische Eigenschaften
II. Optische Eigenschaften Rastermethoden 3 Klaus Meerholz WS 010/11 Messung mit Fremdlicht (traditionelle) Mikroskopie (Durchlicht, Auflicht) UV/Vis-Spektroskopi e IR- & Raman-Spektroskopi e Ellipsometrie
*DE102007045860A120090409*
*DE102007045860A120090409* (19) Bundesrepublik Deutschland Deutsches Patent- und Markenamt (10) DE 10 2007 045 860 A1 2009.04.09 (12) Offenlegungsschrift (21) Aktenzeichen: 10 2007 045 860.8 (22) Anmeldetag:
1.1 Auflösungsvermögen von Spektralapparaten
Physikalisches Praktikum für Anfänger - Teil Gruppe Optik. Auflösungsvermögen von Spektralapparaten Einleitung - Motivation Die Untersuchung der Lichtemission bzw. Lichtabsorption von Molekülen und Atomen
Minderung der Oberflächen-Qualität
Minderung der Oberflächen-Qualität durch wischendes Reinigen Ein Vortrag von Win Labuda Riefen und Kratzerbildung in funktionalen Oberflächen: Optische Gläser und Kamera-Objektive Sensoren von Digitalkameras
1 mm 20mm ) =2.86 Damit ist NA = sin α = 0.05. α=arctan ( 1.22 633 nm 0.05. 1) Berechnung eines beugungslimitierten Flecks
1) Berechnung eines beugungslimitierten Flecks a) Berechnen Sie die Größe eines beugungslimitierten Flecks, der durch Fokussieren des Strahls eines He-Ne Lasers (633 nm) mit 2 mm Durchmesser entsteht.
Dienstleistungen apparative Ausstattung analytische Möglichkeiten. des Instituts für. Physikalische Chemie
Dienstleistungen apparative Ausstattung analytische Möglichkeiten des Instituts für Physikalische Chemie Röntgendiffraktometrie Phasenidentifikation - Quantifizierung von Phasen in zusammengesetzten Proben
Lasertechnik Praktikum. Nd:YAG Laser
Lasertechnik Praktikum Nd:YAG Laser SS 2013 Gruppe B1 Arthur Halama Xiaomei Xu 1. Theorie 2. Messung und Auswertung 2.1 Justierung und Beobachtung des Pulssignals am Oszilloskop 2.2 Einfluss der Verstärkerspannung
Prinzip der Zylinderdruckmessung mittels des piezoelektrischen Effektes
Prinzip der Zylinderdruckmessung mittels des piezoelektrischen Effektes Messprinzip: Ein Quarz der unter mechanischer Belastung steht, gibt eine elektrische Ladung ab. Die Ladung (Einheit pc Picocoulomb=10-12
Vielpunktmessung zur Bestimmung von Mikromerkmalen an Werkzeugen Dr.-Ing. habil. Ralf Christoph, Werth Messtechnik GmbH Giessen
Vielpunktmessung zur Bestimmung von Mikromerkmalen an Werkzeugen Dr.-Ing. habil. Ralf Christoph, Werth Messtechnik GmbH Giessen Inspector - 1987 Multisensor-Koordinatenmessgerät mit Bildverarbeitung und
Motorkennlinie messen
Aktoren kennlinie messen von Roland Steffen 3387259 2004 Aktoren, kennlinie messen Roland Steffen Seite 1/5 Aufgabenstellung: Von einer Elektromotor-Getriebe-Einheit ist eine vollständige kennlinienschar
PRODUKTBROSCHÜRE PRECITEC LR. Optischer Sensor für hochgenaue Oberflächen
PRODUKTBROSCHÜRE PRECITEC LR Optischer Sensor für hochgenaue Oberflächen 2 PRECITEC LR Optischer Sensor für hochgenaue Oberflächen PRODUKT HIGHLIGHTS MIT OPTISCHER MESSUNG NEUE MASSSTÄBE SETZEN Der Precitec
Prozesssteuerung bei kryogenen Prozessen in Echtzeit unter inline und insitu Bedingungen mit dem Sequip-Sensorsystem
Sequip Applikation Report # 001 Prozesssteuerung bei kryogenen Prozessen in Echtzeit unter inline und insitu Bedingungen mit dem Sequip-Sensorsystem Hauptziele: insitu Partikelmessung in kryogenen Anwendungen
Akusto-Optische Effekte
Begrüßung Uwe Peterson - GAMPT mbh Akusto-Optische Effekte Experimente zur Wechselwirkung von Laserlicht mit mechanischen Wellen im MHz-Bereich Berlin, 2. Juni 2015 6. DPG-Workshop "Innovative Lehrmittel..."
Ausdehnung des Nahfeldes nur durch Strukturgrösse limitiert
6.2.2 Streulicht- Nahfeldmikroskop Beleuchtung einer sub-wellenlängen grossen streuenden Struktur (Spitze) Streulicht hat Nahfeld-Komponenten Detektion im Fernfeld Vorteile: Ausdehnung des Nahfeldes nur
White Point Interferometrisches Messsystem für Form und Lagemessungen
White Point Interferometrisches Messsystem für Form und Lagemessungen Ralf Kochendörfer, Robert Bosch GmbH 1 Anforderungen an die Messtechnik Kegel: -Winkel - Rundheit - Geradheit Zylinder: - Rundheit
Dimensionelles Messsen. mit Profilometer und Konfokalmikroskop. R. Brodmann. NanoFocus AG, Ettlingen. Tel.: 07243 / 7158 42
Dimensionelles Messsen mit Profilometer und Konfokalmikroskop R. Brodmann Tel.: 07243 / 7158 42 Email: brodmann@nanofocus.de NanoFocus AG, Ettlingen 1 Messaufgaben in der Mikroelektronik Lotpasten Volumen
Zugversuch. Laborskript für WP-14 WS 13/14 Zugversuch. 1) Theoretische Grundlagen: Seite 1
Laborskript für WP-14 WS 13/14 Zugversuch Zugversuch 1) Theoretische Grundlagen: Mit dem Zugversuch werden im Normalfall mechanische Kenngrößen der Werkstoffe unter einachsiger Beanspruchung bestimmt.
3D Laserscanning im Bezirk der WSD Süd 10 Jahre Erfahrung
10 Jahre Erfahrung Übersicht: Ausrüstung, Arbeitssicherheit, Messprinzip Beispielhafte Anwendungen aus den Aufgabenbereichen: Baubestandserfassung (Brücken, Schleusen, Wehre) Beweissicherung (z.b. bei
Transmissionselektronen mikroskopie (TEM)
Transmissionselektronen mikroskopie (TEM) im speziellen STEM Inhalt 1. Einleitung 2. Das Messprinzip 3. Der Aufbau 3.1 Unterschiede beim STEM 3.2 Bildgebung 3.3 Detektoren 3.4 Kontrast 3.5 Materialkontrast
Standard Optics Information
INFRASIL 301, 302 1. ALLGEMEINE PRODUKTBESCHREIBUNG INFRASIL 301 und 302 sind aus natürlichem, kristallinem Rohstoff elektrisch erschmolzene Quarzgläser. Sie vereinen exzellente physikalische Eigenschaften
Mikrocomputerkompatibles kapazitives Sensorsystem
Mikrocomputerkompatibles kapazitives Sensorsystem Steuern http://de.wikipedia.org/wiki/steuern- Systemtheorie Regeln http://de.wikipedia.org/w/index.php?title =Datei:R_S_Block.svg&filetimestamp=201 00120131518
Geometrische Optik. Versuch: P1-40. - Vorbereitung - Inhaltsverzeichnis
Physikalisches Anfängerpraktikum Gruppe Mo-6 Wintersemester 2005/06 Julian Merkert (229929) Versuch: P-40 Geometrische Optik - Vorbereitung - Vorbemerkung Die Wellennatur des Lichts ist bei den folgenden
Einführungsexperiment mit Hellraumprojektor. Spiegel zuklappen. Behälter mit Wasser gefüllt. zuklappen. Schwarzes Papier als Abdeckung.
Einführungsexperiment mit Hellraumprojektor Spiegel zuklappen Behälter mit Wasser gefüllt zuklappen Schwarzes Papier als Abdeckung zuklappen schmaler Lichtstreifen ergibt bessere Ergebnisse Tipps: Je höher
1. Theorie: Kondensator:
1. Theorie: Aufgabe des heutigen Versuchstages war es, die charakteristische Größe eines Kondensators (Kapazität C) und einer Spule (Induktivität L) zu bestimmen, indem man per Oszilloskop Spannung und
2 Naturwissenschaftliche Grundlagen Druckweiterverarbeitung
Im Kapitel 2.6 werden die Grundlagen der Sensorik behandelt. Nachfolgend zeigen wir Beispiele von Sensoren in der Druckweiterverarbeitung, vornehmlich aus dem Bereich der Zeitungsproduktion. 2.7.1 Induktive
Optik: Teilgebiet der Physik, das sich mit der Untersuchung des Lichtes beschäftigt
-II.1- Geometrische Optik Optik: Teilgebiet der, das sich mit der Untersuchung des Lichtes beschäftigt 1 Ausbreitung des Lichtes Das sich ausbreitende Licht stellt einen Transport von Energie dar. Man
Physik - Optik. Physik. Graz, 2012. Sonja Draxler
Wir unterscheiden: Geometrische Optik: Licht folgt dem geometrischen Strahlengang! Brechung, Spiegel, Brechung, Regenbogen, Dispersion, Linsen, Brillen, optische Geräte Wellenoptik: Beugung, Interferenz,
Konfokale Mikroskopie
Konfokale Mikroskopie Seminar Laserphysik SoSe 2007 Christine Derks Universität Osnabrück Gliederung 1 Einleitung 2 Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop 3 Auflösungsvermögen 4 andere Konfokale Mikroskope
Atomic Force Microscope (AFM)
Materials Science & Technology Atomic Force Microscope (AFM) Workshop am 21. Juni 2006 Analytikmöglichkeiten von textilen Materialien und Oberflächen bis in den Nanometerbereich Jörn Lübben Atomare Kraftmikroskopie
Fokus-Shift bei Hochleistungslasern. Fachgruppe Laser 7. Sitzung 29.11.2010 Konrad Hentschel 1
Fachgruppe 7. Sitzung 29.11.2010 Konrad Hentschel 1 Einfluss-Parameter Fokus-Shift bei Hochleistungslasern Mögliche Ursachen Anzahl Flächen Sauberkeit Rauigkeit Vergütung Material Multi-Component (BK7)
Rasterkraftmikroskopie
Rasterkraftmikroskopie Rasterkraft- und Rastersondenmikroskopie als Werkzeug für nanostrukturierte Festkörper Manfred Smolik, Inst.f. Materialphysik, Univ. Wien Überblick Historischer Abriß Rastersondenmikroskopie
Elektrischer Strom. Strommessung
Elektrischer Strom. Elektrischer Strom als Ladungstransport. Wirkungen des elektrischen Stromes 3. Mikroskopische Betrachtung des Stroms, elektrischer Widerstand, Ohmsches Gesetz 4. Elektrische Netzwerke
3D- Laserscanning 3D- LASERSCANNING. 1. Allgemein...1. 2. Funktion Scankopf...1. 3. 2D-Laserscanning...2. 4. 3D-Laserscanning...3
3D- LASERSCANNING Inhaltsverzeichnis 1. Allgemein...1 2. Funktion Scankopf...1 3. 2D-Laserscanning...2 4. 3D-Laserscanning...3 5. Weitere Anwendung...4 6. Beispielbilder...5 1. Allgemein Laserscanning
Lichtbrechung an Linsen
Sammellinsen Lichtbrechung an Linsen Fällt ein paralleles Lichtbündel auf eine Sammellinse, so werden die Lichtstrahlen so gebrochen, dass sie durch einen Brennpunkt der Linse verlaufen. Der Abstand zwischen
Mobile 3D-Terahertz-Bildgebung beim Fügen von Kunststoff und Keramik
Einleitung Mobile 3D-Terahertz-Bildgebung beim Fügen von Kunststoff und Keramik Stefan Becker, Becker Photonik GmbH, Portastrasse 73, D-32457 Porta Westfalica Torsten Löffler, Synview GmbH, Hessenring
VKF Prüfbestimmung Nr. 16 FENSTER- UND TÜRPROFIL SCHWEIZERISCHES HAGELREGISTER HSR. 01.06.2014 / 16-14de Version 1.03
Vereinigung Kantonaler Feuerversicherungen Association des établissements cantonaux d assurance incendie SCHWEIZERISCHES HAGELREGISTER HSR VKF Prüfbestimmung Nr. 16 FENSTER- UND TÜRPROFIL 01.06.2014 /
GSM-Modem V2.0. Produktbeschreibung. Ausgabe: März 2004 (Rev.0) www.kelch-mes.de info@kelch-mes.de Tel.: 034203 / 51555 Fax: 034203 / 51556
Produktbeschreibung GSM-Modem V2.0 Ausgabe: März 2004 (Rev.0) Die Produktbeschreibung wurde nach bestem Wissen und Gewissen zusammen gestellt. Irrtümer und Fehler können nicht ausgeschlossen werden. Bei
Gitterherstellung und Polarisation
Versuch 1: Gitterherstellung und Polarisation Bei diesem Versuch wollen wir untersuchen wie man durch Überlagerung von zwei ebenen Wellen Gttterstrukturen erzeugen kann. Im zweiten Teil wird die Sichtbarkeit
Michelson-Interferometer. Jannik Ehlert, Marko Nonho
Michelson-Interferometer Jannik Ehlert, Marko Nonho 4. Juni 2014 Inhaltsverzeichnis 1 Einführung 1 2 Auswertung 2 2.1 Thermische Ausdehnung... 2 2.2 Magnetostriktion... 3 2.2.1 Beobachtung mit dem Auge...
Spektroskopie. im IR- und UV/VIS-Bereich. Optische Rotationsdispersion (ORD) und Circulardichroismus (CD) http://www.analytik.ethz.
Spektroskopie im IR- und UV/VIS-Bereich Optische Rotationsdispersion (ORD) und Circulardichroismus (CD) Dr. Thomas Schmid HCI D323 schmid@org.chem.ethz.ch http://www.analytik.ethz.ch Enantiomere sind Stereoisomere,
Ein Bild sagt mehr als 1000 Spektren Bildgebende IR- und Raman-Mikroskopie
Ein Bild sagt mehr als 1000 Spektren Bildgebende IR- und Raman-Mikroskopie Peter Wilhelm, Boril S. Chernev FELMI, TU Graz, und ZFE Graz Workshop Mikroskopie von Polymeren und Verbundwerkstoffen 2. Februar
PS II - Verständnistest 24.02.2010
Grundlagen der Elektrotechnik PS II - Verständnistest 24.02.2010 Name, Vorname Matr. Nr. Aufgabe 1 2 3 4 5 6 7 Punkte 3 4 2 2 1 5 2 erreicht Aufgabe 8 9 10 11 12 Summe Punkte 4 2 3 3 4 35 erreicht Hinweise:
Anwendungen: Eigenschaften:
Anwendungen: Testadapter für fine pitch IC s der Bauformen BGA, GA, QFP, CSP, TSOP. Geringe Bauhöhe, langlebiger und beständiger Kontakt bei eiterplatten zu eiterplatten Verbindungen und ähnlichen Anwendungen
Herstellen von Platinen
Herstellen von Platinen TU Berlin Projektlabor WS 2009/10 Betreuer: Michael Schlüter Referent: Dmitrij Rosenthal 1. Einleitung Aufgabe: - mechanische und elektrische Verbindung verschiedener elektronischer
Erhard Thiel. Ratioplast - Optoelectronics Tichelbrink 68. D-32584 Löhne 05731 / 78 73-70. - Seite 1 -
Erhard Thiel Ratioplast - Optoelectronics Tichelbrink 68 D-32584 Löhne 05731 / 78 73-70 - Seite 1 - Optische Klemme Ratioplast Optoelectronics in 32584 Löhne hat eine Optische Klemme für die Anwendung
Brücke zwischen der modernen physikalischen Forschung und dem Unternehmertum im Bereich Nanotechnologie. Quantenphysik
Brücke zwischen der modernen physikalischen Forschung und dem Unternehmertum im Bereich Nanotechnologie Quantenphysik Die Physik der sehr kleinen Teilchen mit grossartigen Anwendungsmöglichkeiten Teil
MFM Magnetic Force Microscopy Magnetische Rasterkraftmikroskopie
MFM Magnetic Force Microscopy Magnetische Rasterkraftmikroskopie Inhaltverzeichnis 1. Aufgabenstellung, Erforderliche Kenntnisse und Literatur 2. AFM/SPM Grundlagen 3. MFM Grundlagen 4. Festplatten 5.
Untersuchung zur Kratz- und Auflagenbeständigkeit von direkt bebilderten Druckplatten beim Offsetdruck
Untersuchung zur Kratz- und Auflagenbeständigkeit von direkt bebilderten Druckplatten beim Offsetdruck Kapitelnummer Stichwort 3.3.2 (Langfassung) Druckmessung beim Tragen von Druckplattenpaketen Aufbau
SAAGE TREPPEN... wir machen s einfach.
Am Hotschgraf D- Nettetal-Leuth Telefon + - Telefax + - Modell sws Erforderliche Maßangaben zu dem Modell sws en Werkstoff Rohr Ø L L L 0 Modell sds Am Hotschgraf D- Nettetal-Leuth Telefon + - Telefax
Laserschneiddüsen. CFD-Simulation der Wechselwirkung zwischen einer supersonischen Düsenströmung und einem festen Werkstück
Laserschneiddüsen CFD-Simulation der Wechselwirkung zwischen einer supersonischen Düsenströmung und einem festen Werkstück Herr J. A. Comps Herr Dr. M. Arnal Herr Prof. Dr. K. Heiniger Frau Dr. I. Dohnke
. Nur wenn ε m (λ 1 ) = ε m (λ 2 ), dann ist E = ε m c d.
Das Lambert-Beersche Gesetz gilt nur für monochromatisches Licht: Wird eine Substanz mit dem molaren Extinktionskoeffizienten ε m (λ) bei der Wellenlänge λ 1 mit der Intensität I 1 und bei der Wellenlänge
Instrumenten- Optik. Mikroskop
Instrumenten- Optik Mikroskop Gewerblich-Industrielle Berufsschule Bern Augenoptikerinnen und Augenoptiker Der mechanische Aufbau Die einzelnen mechanischen Bauteile eines Mikroskops bezeichnen und deren
Rasterkraftmikroskopie
Eine kleine Einführung in die Rasterkraftmikroskopie Ein Vortrag von Daniel C. Manocchio Ridnaun, Jan. 2001 Inhalt: Geschichte der Rastersondenmikroskopie Generelles Funktionsprinzip Topographie-Modi in
22 Optische Spektroskopie; elektromagnetisches Spektrum
22 Optische Spektroskopie; elektromagnetisches Spektrum Messung der Wellenlänge von Licht mithilfedes optischen Gitters Versuch: Um das Spektrum einer Lichtquelle, hier einer Kohlenbogenlampe, aufzunehmen
Einstein-Wellen-Mobil
Arbeitsvorschlag für interaktive Station Relativistische Fahrradfahrt Bebachten Sie die Szenerie beim Anfahren und Beschleunigen. Bewegen Sie sich tatsächlich zunächst rückwärts? Wie können Sie das feststellen?
JENOPTIK. Geschwindigkeitsmessungen mit Lasertechnologie. Referent: Wolfgang Seidel
JENOPTIK Geschwindigkeitsmessungen mit Lasertechnologie Referent: Wolfgang Seidel Jenoptik-Konzern Überblick Konzernstruktur Corporate Center Laser & Materialbearbeitung Optische Systeme Industrielle Messtechnik
Einführung in die optische Nachrichtentechnik. Herstellung von Lichtwellenleitern (TECH)
TECH/1 Herstellung von Lichtwellenleitern (TECH) Dieses Kapitel behandelt drei verschiedenen Verfahren zur Herstellung von Vorformen für Glasfasern: das OVD-Verfahren (outside vapour deposition), das VAD-Verfahren
ANWENDUNG DES WIENER STADTWERKE-LOGOS
ANWENDUNG DES WIENER STADTWERKE-LOGOS Dem Wiener Stadtwerke-Konzern ist es ein Anliegen, die Logos in optimaler Form darzustellen. Daher sind die Logos vorzugsweise in den Farbvarianten zu verwenden. Reduzierte
OTDR Messtechnik. September 2009 Jörg Latzel Online Training
OTDR Messtechnik September 2009 Jörg Latzel Online Training Optische Meßtechnik Wir beschäftigen uns mit: OTDR Quellen und Empfänger Intereferenzen und Störeffekte Dämpfungsmessungen mit Testsets OTDR
2 Meßverfahren zur Bestimmung von Partikelgrößenverteilungen
2 Meßverfahren zur Bestimmung von Partikelgrößenverteilungen eines Aerosols Die wichtigste Eigenschaft des Aerosols ist die Partikelanzahlkonzentration. Zur Messung von Anzahlkonzentrationen stehen mehrere
SFirm32 Umstellung FTAM EBICS
SFirm32 Umstellung FTAM EBICS Für die Umstellung des Übertragungsverfahrens FTAM auf EBICS sind folgende Voraussetzungen erforderlich: + Gültige FTAM-Freischaltung bei der Naspa ist vorhanden + Elektronische
Methoden. Spektroskopische Verfahren. Mikroskopische Verfahren. Streuverfahren. Kalorimetrische Verfahren
Methoden Spektroskopische Verfahren Mikroskopische Verfahren Streuverfahren Kalorimetrische Verfahren Literatur D. Haarer, H.W. Spiess (Hrsg.): Spektroskopie amorpher und kristtiner Festkörper Steinkopf
Übung 1: Busplatine. Elektrotechnik. 19 Baugruppenträger Busplatine. Aufgabe/ Auftrag. Übung 1. RAG Aktiengesellschaft
: Aufgabe/ Auftrag: Erstellen Sie die Arbeitsplanung zu dieser Aufgabe Besprechen Sie Ihre Planungsergebnisse mit dem Ausbilder Bestücken Sie die unter Beachtung des Bestückungsplanes Führen Sie die Selbstkontrolle
Carbon Nanotubes for biomedical Applications. Lina Rustam
Carbon Nanotubes for biomedical Applications Lina Rustam Was sind Carbon Nanotubes? CNTs sind zu einer Röhre aufgerollte Graphitschichten und an den Enden mit halben Fullerenen verschlossen Kohlenstoffnanoröhrchen
BK 7 / H-K9L / B270. Beschreibung
BK 7 / H-K9L / B270 Beschreibung Das von Schott produzierte BK7 und sein Äquivalent H-K9L werden für optische Glaskomponenten und für Anwendungen, bei denen optisches Glas benötigt wird, verwendet. BK7
Michelson Interferometer zur Wegmessung mit Komponenten aus dem 3D Drucker
Michelson Interferometer zur Wegmessung mit Komponenten aus dem 3D Drucker Dieses Projekt wurde mit Unterstützung realisiert. Unterstützung durch: Projektarbeit : UNI Hannover, Hannoversches Zentrum für
Licht als Medium zur Informationsübertragung
Universität Dortmund Licht als Medium zur Informationsübertragung Andreas Neyer Universität Dortmund Fakultät für Elektrotechnik Arbeitsgebiet Mikrostrukturtechnik 1 Übersicht Einleitung: Wo finden wir
Tabelle 4.1 DIN-Normen Zusammenhang mit EN-Normen Aluminium und Aluminiumlegierungen (Stand : Februar 2006)
Tabelle 4.1 DIN-Normen Aluminium und Aluminiumlegierungen (Stand : Februar 2006) DIN 1700 1954-07 Z Nichteisenmetalle; Systematik der Kurzzeichen Teilweise ersetzt durch DIN EN 573-2:1994-12 Die Zurückziehung
Anleitung zum Praktikum für Fortgeschrittene. Versuch: Scanning Tunneling Microscopy. Betreuer: B.Sc. Lienhard Wegewitz
Anleitung zum Praktikum für Fortgeschrittene Versuch: Scanning Tunneling Microscopy Betreuer: B.Sc. Lienhard Wegewitz Institut für Physik und Physikalische Technologien Technische Universität Clausthal
Ultraschall Experimentierset
Ultraschall Experimentierset Beschreibung Das Ultraschall Experimentierset wurde speziell für den Einsatz in Gymnasien entwickelt. Das Experimentierset besteht aus : 1 Stk. Stahltafel 1 Stk. beidseitig
Spektroskopie. im IR- und UV/VIS-Bereich. Raman-Spektroskopie. http://www.analytik.ethz.ch
Spektroskopie im IR- und UV/VIS-Bereich Raman-Spektroskopie Dr. Thomas Schmid HCI D323 schmid@org.chem.ethz.ch http://www.analytik.ethz.ch Raman-Spektroskopie Chandrasekhara Venkata Raman Entdeckung des
Wie sieht unsere Welt im Kleinen aus?
Skriptum Wie sieht unsere Welt im Kleinen aus? 1 Wie sieht unsere Welt im Kleinen aus? Atom- und Quantenphysik für Kids Seminar im Rahmen der KinderUni Wien, 12. 7. 2005 Katharina Durstberger, Franz Embacher,
Zellulose-Synthese. künstlich: enzymatische Polymerisation von Zellobiose-Fluorid
18 Zellulose-Synthese künstlich: enzymatische Polymerisation von Zellobiose-Fluorid biologisch: Enzymkomplexe in der Zellmembran (terminal complexes, TCs) sphärulitische Kristalle außen S. Kobayashi et
Cross-plane-Messungen zur elektrischen Leitfähigkeit (Cross-plane measurement of the electrical conductivity)
Statustreffen Messtechnik Cross-plane-Messungen zur elektrischen Leitfähigkeit (Cross-plane measurement of the electrical conductivity) Markus Trutschel Interdisziplinäres Zentrum für Materialwissenschaften
Katalog Beschleunigungssensoren
Katalog Beschleunigungssensoren Modalanalyse Solarimpulse Gleisneigung Kippschutz Stabilisations - Überwachung Vibrations - Überwachung GmbH Heerenberg 1 CH-8255 Schlattingen 3-Achsen Beschleunigungs -
Lichtmikroskopie. 30. April 2015
Lichtmikroskopie 30. April 2015 1 Gliederung Einführung in die klassische Lichtmikroskopie mechanischer und optischer Aufbau Anwendungsbereiche der Polarisationsmikroskopie Einführung in die Polarisationsmikroskopie
AlN-Massivkühldose zur Kühlung von GTOs und Dioden
Eine Gemeinschaftsentwicklung der ADtranz GmbH ( land ) und der ANCeram GmbH & Co. KG 1. Technische Beschreibung Die flache Massivkühldose mit geläppten Halbleiter-Auflageflächen wird aus gut wärmeleitender
Allg. u. Anorg. Chemie
Allg. u. Anorg. Chemie Übungsaufgaben Atommodell SoSe 2014, Amadeu Daten: h=6,6 10-34 J.s, C=3 10 8 m/s. 1) Stellen Sie das klassische Modell für die elektromagnetische Strahlen graphisch dar. Erklären
Aktive Schwingungsisolation (Halcyonics)
Oberflächenanalytik Aktive Schwingungsisolation Aktive Schwingungsisolation (Halcyonics) Wir bieten Lösungen für schwingungsempfindliche Messgeräte Wir können nicht Ihre Messgeräte verbessern, aber wir
Einführung in Elektrische Maschinen - Asynchronmaschine. Studenten: Name Vorname Unterschrift. Datum: Sichtvermerk des Dozenten: 3.
Fachbereich 3 : Informations- und Elektrotechnik Semester: Fach: Dozent: Elektrische Maschinen Prof. Dr. Bernd Aschendorf Datum: Versuch Nr. 6 Thema: Einführung in Elektrische Maschinen - Asynchronmaschine
Thermischer Fokus Shift bei Hochleistungslaserobjektiven. 23.10.2012 PhotonicNet Workshop A.Walter
Thermischer Fokus Shift bei Hochleistungslaserobjektiven 23.10.2012 PhotonicNet Workshop A.Walter Gliederung Stand der Technik Aufbau eines F-thetas Angaben der Glashersteller Aktuelles Produktangebot
Widerstandsdrähte auf Rahmen Best.-Nr. MD03803
Widerstandsdrähte auf Rahmen Best.-Nr. MD03803 Beschreibung des Gerätes Auf einem rechteckigen Rahmen (1030 x 200 mm) sind 7 Widerstandsdrähte gespannt: Draht 1: Neusilber Ø 0,5 mm, Länge 50 cm, Imax.
Wärmeleitung und thermoelektrische Effekte Versuch P2-32
Vorbereitung Wärmeleitung und thermoelektrische Effekte Versuch P2-32 Iris Conradi und Melanie Hauck Gruppe Mo-02 3. Juni 2011 Inhaltsverzeichnis Inhaltsverzeichnis 1 Wärmeleitfähigkeit 3 2 Peltier-Kühlblock
Hochdisperse Metalle
Hochdisperse Metalle von Prof. Dr. rer. nat. habil. Wladyslaw Romanowski Wroclaw Bearbeitet und herausgegeben von Prof. Dr. rer. nat. habil. Siegfried Engels Merseburg Mit 36 Abbildungen und 7 Tabellen
Theoretische Grundlagen Physikalisches Praktikum. Versuch 5: Linsen (Brennweitenbestimmung)
Theoretische Grundlagen hysikalisches raktikum Versuch 5: Linsen (Brennweitenbestimmung) Allgemeine Eigenschaften von Linsen sie bestehen aus einem lichtdurchlässigem Material sie weisen eine oder zwei
9th NEMO-SpectroNet Collaboration Forum
9th NEMO-SpectroNet Collaboration Forum Jena, 15.12.2010 Color and Multi Spectral Imaging An Overview Dr. Ing. Thomas Fahlbusch, PhotonicNet GmbH, Hannover Farbaufnahme 1-Chipkamera Bayer Farbmosaik Chips