Einladung Technologie- und Anwenderkongress Dozenten- und Ausbildertag 22. 24. Oktober 2014 Fürstenfeldbruck bei München
2 Inhalt Was Sie auf dem VIP 2014 erwartet Mittwoch 22. Oktober 2014 9:30 10:30 Begrüßung: Michael Dams, Director Sales Central and Eastern Europe, National Instruments Keynote: Owen Golden, Vice President Global Energy Segment, National Instruments Jean-Christoph Heyne, Vice President Asset Management Solutions, Siemens AG, Sektor Energy 11:00 17:00 LabVIEW Power Programming Test & Measurement Verification & Validation Embedded Control & Monitoring Daten management Meet the Experts Workshops Seminare ab 17:00 Get-together mit anschließender Party Donnerstag 23. Oktober 2014 9:00 10:30 Keynote: Rahman Jamal, Technical & Marketing Director Europe, National Instruments Daniel Riedelbauch, Marketing Manager Central Europe, National Instruments 11:00 17:00 LabVIEW Power Programming Test & Measurement Verification & Validation Embedded Control & Monitoring Business Trends Meet the Experts Workshops Seminare ab 18:00 Hochschulstammtisch Freitag 24. Oktober 2014 9:00 10:30 Keynote: Dave Wilson, Academic Marketing Director, National Instruments Nikolai Rösch, Academic Program Manager Central Europe, National Instruments 11:00 17:00 HF-Technologien Ausbildung und Lehre Workshops Seminare 17:00 Ende des Dozenten- und Ausbildertags NEu Meet the Experts Wir bieten Ihnen ein neues Format, um in entspannter Atmosphäre direkt mit Experten in Kontakt zu treten. Dabei variieren die Formate von der Präsentation mit Podiumsdiskussion bis hin zur Aufteilung der Experten in themenspezifische Gruppen. Nutzen Sie diese Gelegenheit, um sich auszutauschen, individuelle Anregungen einzubringen und wertvolle Tipps und Tricks mitzunehmen. Inhalt 04 Keynotes 05 09 Vortragsreihen 10 Workshops Seminare 11 Ausstellung 12 13 Academic 14 Specials 15 Anmeldung services
Vorwort 3 Platform-based Design Industrie 4.0, Internet der Dinge, Cyber-Physical Systems wer kennt diese Trends nicht? Diese Begriffe sind seit einiger Zeit in aller Munde und waren auch bereits beim letztjährigen VIP eines der Hauptthemen. Heute, kaum ein Jahr später, sind diese Trends omnipräsenter denn je und geben die Richtung vor, in die sich Forschung, Lehre und Industrie künftig entwickeln. Intelligenz und Interaktionsfähigkeit von Systemen werden immer weiter optimiert, doch dabei steigt auch die Komplexität ins schier Unermessliche. Deshalb bleibt jedoch nach wie vor die Frage: Wie lassen sich die Herausforderungen bei der Entwicklung dieser Systeme heute und in Zukunft bewältigen? Eine bewährte Methodik ist die, die unsere Kunden bereits seit Jahren einsetzen: der plattformbasierte Ansatz. Auch im kommerziellen Umfeld ist der Plattformgedanke keineswegs neu, sondern vielerorts allgegenwärtig. Oft nehmen wir allerdings die uns um gebenden Plattformen und ihre Vorteile nicht immer in ihrer Gesamtheit wahr und wertschätzen sie daher nicht. Man denke nur einmal an das Beispiel der Betriebssysteme. Ob wir nun einen Laptop oder ein mobiles Endgerät nutzen, es ist das Betriebssystem, das als intelligente Schnittstelle Hardware und Anwendungssoftware verbindet und uns das tägliche Miteinander zwischen Mensch und Maschine erleichtert. Niemand würde heute ein Tablet oder ein Smartphone kaufen und erst einmal ein eigenes Betriebssystem dafür entwickeln. Vielmehr wird das geeignete Gerät ausgewählt und durch Anwendungssoftware, die Apps, an unsere Bedürfnisse angepasst. Die gleiche Philosophie lässt sich auch auf den Entwicklungsbereich übertragen. Auf Basis der Plattform für das Graphical System Design NI LabVIEW werden Hardwareressourcen abstrahiert und Systemlösungen für die unterschiedlichsten Anwendungsgebiete wie Verification & Validation, Embedded Control & Monitoring sowie Test & Measurement realisiert. Wiederkehrende Abläufe und benötigte Werkzeuge werden damit innerhalb der Plattform zur Verfügung gestellt, sodass lediglich spezifische Anforderungen durch individuelle Anwendungsentwicklung erfüllt werden müssen. Der Nutzen des platform-based design mit LabVIEW liegt auf der Hand: Zeitund Kostenersparnis, die unweigerlich zu Wettbewerbsvorteilen führen. Deshalb freuen wir uns schon heute darauf, wieder gemeinsam mit unseren Anwendern und Partnern vom 22. bis zum 24. Oktober in Fürstenfeldbruck bei München technologische Entwicklungen, Trends und Lösungen rund um das Graphical System Design zu präsentieren. Lassen Sie sich diese Gelegenheit nicht entgehen dabei zu sein, wenn ein Fachpublikum von mehr als 700 Teilnehmern aus Forschung, Lehre und Industrie für drei Tage zu einem intensiven Austausch zusammentrifft! Abgerundet wird das Programm wie jedes Jahr durch unseren Dozenten- und Ausbildertag am 24. Oktober. See you at VIP 2014! Michael Dams Director Sales Central and Eastern Europe National Instruments Rahman Jamal Technical & Marketing Director Europe national Instruments
4 Keynote Keynotes BegrüSSung: Michael Dams Director Sales Central and Eastern Europe, National Instruments Trends Technologies & Applications Owen Golden Vice President Global Energy Segment, National Instruments Jean-Christoph Heyne Vice President Asset Management Solutions, Siemens AG, Sektor Energy Rahman Jamal Technical & Marketing Director Europe, National Instruments Daniel Riedelbauch Marketing Manager Central Europe, National Instruments Am ersten Tag des VIP-Kongresses stehen zukünftige Trends und Herausforderungen der Energiebranche im Mittelpunkt. Die Teilbereiche Erzeugung, Übertragung und Verteilung werden immer komplexer und sind zunehmend dem Risiko von Cyberangriffen ausgesetzt. Zahlreiche Unternehmen, sowohl kleine wie auch große, haben vielversprechende Ideen für die Entwicklung eines intelligenteren Strom netzes. Damit sich diese Ideen umsetzen lassen, benötigen Ingenieure und Wissenschaftler Werkzeuge, mit denen sie innovativ arbeiten können. Erfahren Sie in der Keynote von Owen Golden, wie National Instruments diese Werkzeuge in enger Zusammenarbeit mit führenden Unternehmen in der Industrie entwickelt. Jean-Christoph Heyne erläutert aus seinem Blickwinkel, wel che Maßnahmen ineinandergreifen müssen, damit die Energie wende gelingen kann. Denn moderne, komplexe Energiesysteme müssen dafür sorgen, dass Energie nicht nur nachhaltig sondern auch zuverlässig und effizient erzeugt, verlustarm transportiert, intelligent verteilt, gespeichert sowie effizient genutzt wird. Die Dynamik im zukünftigen Energiesystem stellt hohe Anforderungen an Assets und Betreiber, die nur auf Basis genauer Informationen beherrscht werden können. Am zweiten Kongresstag stehen die drei Begriffe Produktentwicklungen, Technologien und Trends im Mittelpunkt der Keynote. Live-Demonstrationen gespickt mit den neuesten Inhalten aus der Entwicklungsabteilung von National Instruments bilden gepaart mit realen Anwendungsbeispielen aus Forschung, Lehre und Industrie dabei den Kern. Das Spek trum des Gezeigten umfasst die Bereiche der klassischen Mess- und Prüftechnik, automatisierte Testsysteme sowie Embedded-Lösungen für steuer- und regelungstechnische Aufgaben. Nutzen Sie die Gelegenheit und erfahren Sie, wie das platform-based design mit NI LabVIEW und seinem gesamten Ökosystem die brennenden Fragen rund um Industrie 4.0 und Cyber-Physical Systems schon heute imstande ist zu lösen! Mittwoch 9:30 10:30 Uhr Donnerstag 9:00 10:30 Uhr
Vortragsreihen 5 LabVIEW Power Programming Die Vortragsreihe LabVIEW Power Programming steht dieses Jahr ganz unter dem Motto Big Applications. Erfahrene Anwender und Experten von NI stellen in diesem Rahmen verschiedene Herangehensweisen, Werkzeuge, Anwendungen und Lösungen vor. Anwendungen in LabVIEW wachsen mit den Anforderungen. Da der Trend zu immer komplexeren und stärker integrierten Produkten geht, müssen auch die Testsysteme, Prototypen und Messtechnik, die diese Produkte möglich machen, diesem Trend folgen. Dabei steigt nicht nur die Komplexität der Hardware, sondern auch der Software. Aus einer kleinen Datenerfassung wird so schnell eine sogenannte Big APP (große Applikation). anderen können zahlreiche Werkzeuge dem Programmierer dabei helfen, der großen Anzahl von VIs, Requirements usw. Herr zu werden. Bei der Entwicklung, Wartung und Pflege unterscheiden sich größere von kleinen Anwendungen beträchtlich. Zum einen lohnt hier das anfängliche Investieren von Zeit in entsprechende Architekturen und Herangehensweisen wie beispielsweise OOP oder dem Akteur-Framework, zum Die Vortragsreihe ermöglicht Einsteigern einen Zugang zu Techniken, Werkzeugen und Herangehensweisen im Umgang mit Big APPs, soll aber auch dem erfahrenen LabVIEW-Entwickler Anregungen geben und eine Plattform zur Diskussion bieten. Mittwoch 11:00 17:00 Uhr 11:00 12:00 Einführung in LabVIEW OOP Stefan Kissel, National Instruments Germany GmbH 12:00 12:30 Actor Framework Explained Oliver Wachno, Bürkert Werke GmbH 12:30 14:00 Mittagspause/Besuch der Ausstellung 14:00 14:30 Actor Framework in Action Oliver Wachno, Bürkert Werke GmbH 14:30 15:30 UI Design Ideen, Konzepte, Anregungen Wolfgang Zwick, National Instruments Germany GmbH 16:00 16:30 LabVIEW Web Services Technologie und Anwendung Simon Hogg, National Instruments Corp. 16:30 17:00 Gestaltung von Benutzeroberflächen in LabVIEW am Beispiel von Forschungsanlagen der chemischen Verfahrenstechnik Dominic Zuleger, Christian Moritz, Zumolab Mittwoch Meet the Experts 12:00 13:00 Meet the LabVIEW Experts National Instruments and Friends Donnerstag 11:00 17:00 Uhr 11:00 11:30 Strukturierte Softwareentwicklung mithilfe des SCRUM-Modells Julien de Freitas, National Instruments Switzerland GmbH 11:30 12:00 Refactoring von großen Projekten Martin Weiss, Carl Zeiss Jena GmbH 12:00 12:30 Bug und Feature Tracking in LabVIEW durch die Anbindung von Redmine Oliver Frank, Oliver Buhrz, Helmholtz-Zentrum Geesthacht, Zentrum für Material- und Küstenforschung GmbH 12:30 13:00 Qualitätssicherung durch Code Review Norbert Brand, National Instruments Germany GmbH 13:00 14:30 Mittagspause/Besuch der Ausstellung 14:30 15:00 Entwickeln von Funktionen für die automatisierte Erstellung komplexer Anwendungen mit X-Controls und VI-Scripting Ulf-Hendrik Hansen, Die Messfabrik GmbH 15:00 15:30 Modularisierung von LabVIEW-Applikationen mit Packet Libraries Marco Brauner, National Instruments Germany GmbH 16:00 17:00 Datenverwaltung in großen Anwendungen Performanceüberlegungen Norbert Brand, Moritz Mayer, National Instruments Germany GmbH Für Fortgeschrittene
6 Vortragsreihen Test & Measurement In einer Welt, in der eine Technologie bereits von der nächsten überholt wird, bevor die erste überhaupt den Markt erschöpft hat, müssen Prüfstände und Tests bereits in der Entwicklungsphase und vor Erstellung der ersten Proto - typen eingesetzt werden, um den gesamten Prozess zu optimieren. So sollen Systeme flexibel und skalierbar und doch hochpräzise und leistungsfähig sein, um auf die Anforderungen der Kunden reagieren zu können. So ist der Einsatz einer modularen Hard- und Softwareplattform und einer offenen Architektur die beste Voraussetzung, um schneller, kostensparender und erfolgreich ans Ziel zu gelangen. Diese Vortragsreihe zeigt durch praxisbezogene Anwenderund Technologievorträge aus Forschung und Industrie, wie einfach sich Mess- und Automatisierungs- sowie RF- Systeme den wechselnden Anforderungen anpassen lassen. Mittwoch 11:00 17:00 Uhr 11:00 11:30 Are Modular Instruments Right for Me? Bill Driver, National Instruments Corp. 11:30 12:00 Messung des Bremsverhaltens eines 2 km langen Güterzuges im stationären Prüfstand Laurent Chatard, Konrad GmbH, Jörg Koch, Knorr Bremse AG 12:00 12:30 Kraft, Druck und Beschleunigung messen mit piezoelektrischen Sensoren und LabVIEW Martin Stierli, Kistler Instrumente AG 12:30 13:00 Datenerfassungssystem des Vierquadranten- Stromrichters für die Plasma-Lageregelung von ASDEX Upgrade Alexander Sigalov, Claus-Peter Käsemann, Horst Eixenberger, Max-Planck-Institut für Plasmaphysik 13:00 14:30 Mittagspause/Besuch der Ausstellung 14:30 15:00 Einführung in NI VirtualBench Stefan Albert, National Instruments Germany GmbH 15:00 15:30 Fast and High-Quality Validation of Microcontrollers with NI PXI Dr. Hans-Georg Häck, Texas Instruments Deutschland GmbH 16:00 16:30 NI-VST-basierter UTP 9010 RF-Funktionstester für Netzwerknoten und Module bei der Qundis GmbH Manuel Bogedein, Noffz ComputerTechnik GmbH 16:30 17:00 Test nonstop Entwicklung und Test parallel von Tag 1 an Michael Riemer, imbus AG Donnerstag 11:00 17:00 Uhr 11:00 12:00 5 Red Flags to Consider Before Configuring Your Next Measurement System Jim Schwartz, National Instruments Corp. 12:00 12:30 Smart machine control for the manufacturing of next-generation silicon photonics microchips Ignazio Piacentini, PI micos GmbH 12:30 14:00 Mittagspause/Besuch der Ausstellung 14:00 14:30 Programmierung eines MEMS-Mikrofons Sebastian Walser, Hochschule München 14:30 15:00 Flexibler Prüfstand für die modellbasierte Entwicklung hydraulischer Komponenten Julius Hudec, Rausch & Pausch GmbH 15:00 15:30 Race to the Finish: Build an Automated Test System in under an Hour Bill Driver, National Instruments Corp. 16:00 16:30 Skriptbasierte Automatisierungslösung mit NI CompactRIO und NI DIAdem Holger Müller, a-solution GmbH, Andreas Gessler, Aventics GmbH 16:30 17:00 Hochdynamische Messung des Innenwiderstands von Batteriezellen Martin Brand, Markus Hofmann, TU München mittwoch Meet the Experts 11:00 12:00 Model-Based Engineering for RF Applications with the NI Platform Benjamin Michel, Thomas Frank, National Instruments Germany GmbH, Olivier Pelhatre, AWR Germany Automotive-Bezug
Vortragsreihen 7 Verification & Validation Die zunehmende Komplexität und Leistung von Systemen stellt wachsende Anforderungen an die Spezifikation, Anwendungsentwicklung und den Test. Deshalb verzögern sich viele Projekte oder scheitern sogar. In dieser Vortragsreihe erleben die Teilnehmer verschie - dene Praxisvorträge rund um das Thema Validierung & Verifizierung von Systemen von der Anforderungsdefinition über Hardware-in-the-Loop-Tests bis hin zum konfigurierten, automatisierten Test. Dabei werden sowohl Werkzeuge und Vorgehensweisen zur Bewältigung der gestiegenen Anforderungen, als auch konkrete Lösungen von Kunden und Partnern vorgestellt. Mittwoch 11:00 17:00 Uhr 11:00 11:30 Wo sind die Requirements hin? Jürgen Dodek, MTU Friedrichshafen GmbH 11:30 12:00 Validation & Verification von A bis Z Andreas Stark, National Instruments Germany GmbH 12:00 12:30 Processor-in-the-Loop (PIL) für leistungselektronische Systeme Jens Bielefeldt, KOSTAL Industrie Elektrik GmbH 12:30 14:00 Mittagspause/Besuch der Ausstellung 14:00 14:30 Automatisierung von Hardware Design Verification and Validation Tests Axel Rau, Continental Automotive GmbH 14:30 15:00 Record und Playback von Inertialsignalen mittels integrierter NI-basierter In-the-Loop- Testlaborumgebung für Location-Based Services Ina Partzsch, Fraunhofer-Institut für Verkehrs- und Infrastruktursysteme IVI 15:00 15:30 Teststrategien für elektrische Tests nach LV 124 Vorstellung einer Lösung zur Qualifikation von Steuergeräten nach LV 124 Norm Ronald Kaempf, Ralf Zimmermann, WKS Informatik GmbH 16:00 16:30 Integrationstests für Schienenfahrzeuge auf Basis von LabVIEW Rainer Arnold, Andreas Rzezacz, VOITH Engineering Services GmbH Road & Rail 16:30 17:00 Improving Embedded Software Quality by Testing Early and Often Nicholas Keel, National Instruments Corp. mittwoch Meet the Experts Donnerstag 11:00 17:00 Uhr 11:00 11:30 Software-in-the-Loop-Simulation mit NI VeriStand und Visual Studio unter Verwendung der NI VeriStand Execution API Simon Drüke, Fraunhofer-Institut für Produktionstechnologie IPT, Christian Scheering, Miele & Cie. KG 11:30 12:00 Performing Highly Dynamic Linear and Nonlinear Feedback Control of Component Test Benches with Automated Controller Design Dr. Jörg Paschedag, Marc Scherer, ITK Engineering AG 12:00 12:30 Plug&Play Betriebsstrategieintegration in Hardware-in-the-Loop-Prüfstandssysteme Jörg Küfen, Forschungsgesellschaft Kraftfahrwesen Aachen mbh 12:30 13:00 Das Combined Energy Lab Hardware-in-the- Loop-Testumgebung für µkwk-anlagen Jens Werner, TU Dresden 13:00 14:30 Mittagspause/Besuch der Ausstellung 14:30 15:00 Closed-Loop Control and Real-Time Simulation with NI VeriStand Nicholas Keel, National Instruments Corp. 15:00 15:30 Developing Elektra, the EOL (end-of-line) Test System for Automotive Inverter Egidio Vitelli, Loccioni Deutschland GmbH 16:00 16:30 Grafische Definition von NI-VeriStand- Echtzeitsequenzen Markus Riedesser, CISWORKS GmbH & Co. KG 16:30 17:00 Testautomatisierung Scheinwerfersysteme Carlos Urquizar, AED Engineering GmbH Automotive-Bezug 14:30 15:30 Power Electronics Testing Round Table Controversy (Poetry)-Slam Offene Diskussion Andreas Stark, National Instruments Germany GmbH
8 Vortragsreihen Data Management & Business Trends Data Management Auch in diesem Jahr wollen wir Ihnen wieder Anregungen geben, wie Sie die Auswertung Ihrer Messdaten richtig konzipieren. Die Vorträge dieser Reihe zeigen aktuelle Anwendungen, bewährte Muster zur Lösung von Aufgaben und Konzepte, die wir als relevant innerhalb der nächsten drei bis fünf Jahre einschätzen. Business Trends Technologische Aspekte und Details stehen jedes Jahr auf dem VIP-Kongress im Fokus. Doch neben den neuesten Technologien, die zur Steigerung der Effizienz und Leistung in Forschung, Entwicklung und Produktion erheblich beitragen, darf der ganzheitliche Ansatz des Geschäftsszenarios nicht außer Acht gelassen werden. Abseits der technischen Feinheiten beleuchtet die Vortragsreihe Business Trends häufig vernachlässigte, organisatorische und wirtschaftliche Bestandteile eines Projekts. Hier werden die technologischen Elemente mit prozeduralen, personellen und kaufmännischen Komponenten kombiniert und anhand praktischer Beispiele Ansätze zur Optimierung von Strategien aufgezeigt. Das Forum bildet die ideale Plattform zum Wissensaustausch für Führungskräfte in leitender Position, sowie für Unternehmer bis hin zur Managementebene! Mittwoch 11:00 17:00 Uhr 11:00 11:30 Rettet die Datensilos! Andreas Haub, National Instruments Engineering GmbH & Co. KG 11:30 12:00 Big Analog Data Andreas Haub, National Instruments Engineering GmbH & Co. KG 12:00 12:30 ISAAK-X Unternehmensweite Datenhaltung und Prüfstandsauswertung Martin Winkler, measx GmbH & Co. KG 12:30 14:00 Mittagspause/Besuch der Ausstellung 14:00 15:00 Highlights in DIAdem 2014 Walter Rick, National Instruments Engineering GmbH & Co. KG 15:00 15:30 Echtzeit unter Windows mit DIAdem DAC und EtherCAT Holger Müller, a-solution GmbH 16:00 16:30 ASAM ODS: Expertensysteme für jedermann mit DIAdem und DataFinder Stefan Romainczyk, National Instruments Engineering GmbH & Co. KG 16:30 17:00 DIAdem 64 bit Sneak Preview Andrea Perin, National Instruments Germany GmbH Donnerstag Meet the Experts 12:00 13:00 Best Practices bei der Datenverwaltung Anreas Haub, Walter Rick, Stefan Romainczyk, National Instruments Engineering GmbH & Co. KG Donnerstag 11:00 17:00 Uhr 11:00 11:30 Continuous Improvement Using Knowledge Creation as the Foundation Andrew Krupp, Vice President, Quality and Continuous Improvement, National Instruments Corp. 11:30 12:00 Business Modelling für Techies Hilfestellungen für einen erfolgreichen Businessplan Günter Pröpster, Geschäftsführer, Gulf One GmbH 12:00 12:30 Innovationen und Trends im Bereich Automotive Testing Jürgen Wölfle, Manager Testing Technology, Conti Temic microelectronic GmbH 12:30 13:00 NI Startup Program Empowers the First Highspeed Grain-by-Grain Sorting Device David Liechti, Head of Engineering, QualySense AG 13:00 14:30 Mittagspause/Besuch der Ausstellung 14:30 15:00 Product Development Process Driving Efficiency Improvements at NI Andrew Krupp, Vice President, Quality and Continuous Improvement, National Instruments Corp. 15:00 15:30 Build vs. Buy Chancen der plattformbasierten Entwicklung und Herausforderungen bei der Integration Dr. Wolfram Koerver, Geschäftsführer, S.E.A. Datentechnik GmbH 16:00 16:30 Schlüsselelemente einer erfolgreichen Standardisierung von Prüfmitteln Thomas Rönpage, Area Sales Manager, National Instruments Germany GmbH 16:30 17:00 Mitarbeiter motiviert durch Zeiten des Wandels führen Herausforderung für jedes Unternehmen André Saller, Area Sales Manager, National Instruments Germany GmbH Für Fortgeschrittene Automotive-Bezug
Vortragsreihen 9 Embedded Control & Monitoring Der rasche Fortschritt und der zunehmende Druck, mit weniger Budget immer mehr zu erreichen, lassen neue Technologien heute schneller als jemals zuvor aus dem Boden schießen. Darüber hinaus haben auch Kosten und Risiken bei der Erstellung qualitativ hochwertiger Embedded-Systeme zugenommen und viele Unternehmen gelangen an den Rand ihrer Kapazitäten. In der Vortragsreihe Embedded Control & Monitoring wird anhand von Anwendervorträgen und anschaulichen Beispielen aus der Industrie erläutert, wie Sie in Ihrem Unternehmen diese Herausforderungen meistern. Mittwoch 11:00 17:00 Uhr 11:00 11:30 A Better Approach to Embedded Systems Design Nicholas Butler, National Instruments Corp. 11:30 12:00 Aktives Energiemanagement eines Holzwerkes mithilfe von LabVIEW und NI Single-Board RIOs als Cyber-Physical Systems Peter Adelhardt, DATA AHEAD GmbH, Arthur Naumann, Holzwerke Bullinger GmbH & Co.KG 12:00 12:30 HMI Solutions for Embedded Systems Melanie Eisfeld, National Instruments Germany GmbH 12:30 13:00 Modular software and hardware design for systems microscopy Dr. Lars Hufnagel, EMBL 13:00 14:30 Mittagspause/Besuch der Ausstellung 14:30 15:00 Intelligente eingebettete Mehrkomponenten- Kraftmessplatte für hochdynamische Überwachungs- und Regelungsapplikationen Oliver Adams, Sascha Kamps, RWTH Aachen 15:00 15:30 Smaller Size, Increased Flexibility: Introducing NI s Newest Board-Level Embedded Target Eric Myers, National Instruments Corp. 16:00 16:30 Auf NI Single-Board RIO basierendes modulares Sensor-Aktor-Testsystem Herbert Pichlik, SYSTEC GmbH, Bert Walch, Robert Bosch GmbH 16:30 17:00 LabVIEW auf eigener, vernetzter Embedded- Hardware Marco Schmid, Schmid Elektronik AG Donnerstag Meet the Experts 11:00 12:00 Embedded System Design Best Practices and Lessons Learned National Instruments and Partners Donnerstag 11:00 17:00 Uhr 11:00 11:30 Unlocking Advanced Features in Embedded Control and Monitoring Applications Aurélie Uturald, National Instruments Germany GmbH 11:30 12:00 Einsatz von LabVIEW und CompactRIO bei der Entwicklung eines seegangskompensierenden Hebewerkes Mark Lautermann, Aker Solutions 12:00 12:30 Integration eines CompactRIO-gesteuerten Anti-Icing-Systems in ein Leitsystem der Windenergie mittels OPC UA Ingmar Kühl, Nordex Energy GmbH, Klaudius Pinkawa, A.M.S. Software GmbH 12:30 14:00 Mittagspause/Besuch der Ausstellung 14:00 14:30 Infinitus Entwicklung einer 12 Meter breiten Druckmaschine Udo Schwadke, TU Berlin, Stephan Cepek, Big Image Systems 14:30 15:00 LUVO Schwingungsüberwachung an Großlagern in Kraftwerken Dr. Joachim Hilsmann, measx GmbH & Co. KG, Dr. Bruno van den Heuvel, Udo Denzer, RWE Power AG 15:00 15:30 Schwingungsmessungen in der Materialqualifizierung für High-End Hybrid-Wälzlager Andreas Hergesell, MetaDAQ, Robert Bachmann, CEROBEAR GmbH 16:00 16:30 Prozessregelung und Leitsystem mit LabVIEW und dezentralen NI CompactRIO Jochen Weber, ProNES Automation GmbH, Dr. Gilbert Anderer, AVA Biochem BSL AG 16:30 17:00 Automatisierung einer hydraulischen Richtpresse mit NI CompactRIO Norbert Schmotz, Universität Rostock/FVTR-Rostock GmbH
10 Workshops und Seminare Wissen erwerben und praktisch umsetzen Workshops Erfahrene NI-Mitarbeiter vermitteln in Workshops erste Schritte im Umgang mit NI-Produkten und unterstützen Sie dabei, kleine Beispielanwendungen selbst umzusetzen. Sie erhalten eine kompetente Einführung in die Funktionsweise und Anwendungsgebiete der Hard- und Software und können Gelerntes anhand praxisorientierter Übungen gleich selber nachvollziehen. Bitte beachten Sie, dass für eine Teilnahme am Workshop eine Anmeldung erforderlich ist. Seminare Neben den Workshops bieten wir Ihnen auch dieses Jahr wieder Seminare an, in denen Sie den Einstieg in verschiedene NI-Technologien von versierten NI-Ingenieuren vermittelt bekommen. Fachliche Ausführungen werden in dieser speziellen Vortragsform durch Live-Demonstrationen verdeutlicht. Die entspannte Atmosphäre in kleiner Runde erlaubt einen intensiven Austausch zwischen Zuhörern und NI-Experten. Mittwoch 11:00 17:00 Uhr 11:00 12:30 Industrielle Bildverarbeitung mit dem Vision Builder for Automated Inspection (VBAI) Heinz Gebel, National Instruments Germany GmbH 14:00 15:30 Einführung in die objektorientierte Programmierung mit LabVIEW Dr. Holger Brand, Brand New Technologies 16:00 17:00 Interaktives Datenmanagement und Berichterstellung mit NI DIAdem Jonas Leiter, National Instruments Germany GmbH Donnerstag 11:00 17:00 Uhr 11:00 12:30 Textbasierte Programmierung mit LabWindows/CVI Fabian Raschka, National Instruments Germany GmbH 14:00 15:30 Software-Defined Radio mit NI USRP Fabian Raschka, National Instruments Germany GmbH 16:00 17:00 Interaktives Datenmanagement und Berichterstellung mit NI DIAdem Jonas Leiter, National Instruments Germany GmbH Mittwoch 11:00 17:00 Uhr 11:00 12:30 Triggern, Takten und Synchronisieren mit NI LabVIEW Jonas Leiter, National Instruments Germany GmbH 14:00 15:30 Erste Schritte mit NI RIO FPGA- und Echtzeitprogrammierung Aurélie Uturald, National Instruments Germany GmbH 16:00 17:00 Einführung in NI Motion Heinz Gebel, National Instruments Germany GmbH Donnerstag 11:00 17:00 Uhr 11:00 12:30 Softwarevalidierung für Embedded-Systeme Implementierung von Echtzeit-Testapplikationen mit NI VeriStand Oleg Scherling, National Instruments Germany GmbH 14:00 15:30 Neuerungen in NI LabVIEW Lorenz Casper, National Instruments Germany GmbH 16:00 17:00 Testmanagement mit NI TestStand Aurélie Uturald, National Instruments Germany GmbH Für Fortgeschrittene
Ausstellung 11 Ausstellung Knüpfen Sie wichtige Kontakte Im Rahmen des VIP 2014 präsentieren rund 40 Alliance Partner, Produktpartner und Systemintegratoren ihre aktuellsten Anwendungen, Lösungen und Produkte. Informieren Sie sich auf der großzügigen Ausstellungsfläche über die neuesten Entwicklungen und tauschen Sie sich mit den Ausstellern über deren Serviceangebote und Lösungsstrategien aus. Von der Erstellung eines einzelnen Produkts über ganze Systeme und deren Integration bis hin zu Beratung und Training VIP-Aussteller verfügen über die optimale Kombination von technischer Ausstattung und Know-how, um auch anspruchsvolle ingenieurtechnische Herausforderungen zu lösen. Unter anderem zeigen wir Ihnen Lösungen und Anwendungsbeispiele aus den Bereichen Hardwarein-the-Loop sowie Maschinenzustandsüberwachung und -steuerung. Da unsere RIO-Architektur 10-jähriges Jubiläum feiert, widmen wir ihr in diesem Jahr zudem einen eigenen Ausstellungsbereich. Mittwoch 9:00 18:30 Uhr Donnerstag 9:00 17:00 Uhr Die Aussteller AMC Analytik & Messtechnik GmbH Chemnitz A.M.S. Software GmbH a-solution GmbH ATX Hardware GmbH West AWR Corporation Beck-Messtechnik Berghof Automationstechnik GmbH Bosch Rexroth AG CGS Computer Gesteuerte Systeme GmbH CISWORKS GmbH & Co. KG COMSOFT GmbH EGSTON System Electronics Eggenburg GmbH esz AG calibration & metrology Göpel electronic GmbH ingun Prüfmittelbau GmbH IRS Systementwicklung GmbH ITK Engineering AG Kistler Instrumente GmbH Konrad GmbH MAC Panel Company measx GmbH & Co. KG MIC Mass Interface Connections GmbH MicroNova AG National Instruments Germany GmbH Noffz ComputerTechnik GmbH ProNES Automation GmbH SafeNet Germany GmbH Schmid Elektronik AG S.E.A. Datentechnik GmbH sepp.med GmbH SET GmbH Sohatex GmbH SOMA GmbH SYSTEC GmbH Virginia Panel Corporation Virinco AS Werum Software & Systems AG WireFlow AB WKS Informatik GmbH XOn Software GmbH Stand: Juni 2014
12 Academic Technik begreifen: Wir laden Sie ein! 24. Oktober 2014 Keynote Dave Wilson Academic Marketing Director, National Instruments Nikolai Rösch Academic Program Manager Central Europe, National Instruments Der dritte Tag des VIP-Kongresses ist einer der größten Herausforderungen gewidmet, der wir uns als Ingenieure und Wissenschaftler stellen müssen: Wie können wir durch packende und mitreißende Lehrinhalte dem Fachkräftemangel begegnen? Ziel unseres Dozenten- und Ausbildertags ist es, mit aktuellen Technologien und Produkten für die Ausbildung und Lehre den künftigen Generationen mehr als nur eine praktische Erfahrung für ihre schulische und akademische Laufbahn zu bieten. Getreu unserem Credo Do Engineering wird während der Keynote Theorie sprichwörtlich in die Praxis umgesetzt. Wir laden Sie herzlich dazu ein, aktiv an der Gestaltung der Lehrpläne von morgen mitzuwirken! National Instruments bietet Ihnen im Rahmen des VIP-Kongresses 2014 den kostenfreien Dozenten- und Ausbildertag, der unter dem Themenschwerpunkt Ausbildung und Lehre ein breit gefächertes Vortrags- und Kursprogramm mit zukunftsweisenden Lehrinhalten und Technologien vorstellt und Einblicke in das NI-Academic-Programm gewährt. An diesem Tag treffen innovative Produkte auf zukunftsweisende Lehrkonzepte. Werfen Sie einen Blick auf die Themen: Ausbildung, Lehre und Studium Verpassen Sie nicht, wie theoretische Themen beispielsweise Falten, Filtern und Korrelieren anschaulich, praktisch und spannend präsentiert werden. Ziel dieser Vortragsreihe ist es, Ihnen eine Vielzahl von didaktischen Konzepten, Projektideen und deren Umsetzung sowie Lehrplankonzepte von Lehrenden und Ausbildern vorzustellen. Nutzen Sie die Chance zur Inspiration und zum Gedankenaustausch mit und unter Kollegen. HF-Technologien Dieser Track ist klein aber fein und zeigt eindrucksvoll, wie mithilfe von Hard- und Software ein praktischer Zugang zur Theorie der Nachrichtentechnik geschaffen werden kann getreu dem Motto Technik begreifen! Mess- und Regelungstechnik Die Mess- und Regelungstechnik ist ein essentieller Bestandteil der technischen Ausbildung und ein wesentliches Fachgebiet im Rahmen eines Ingenieurstudiums. Rund um diese beiden Themen gibt es viele Konzepte und Ansätze zur Vermittlung von Theorie. Erleben Sie in diesem Track, wie Bereiche von der Robotik bis zur prädiktiven Reglung anschaulich und praxisorientiert in der Lehre und in Projekten umgesetzt werden. Workshops und Seminare Lernen Sie in unseren Workshops erste Schritte im Umgang mit NI-Produkten und setzen Sie kleine Beispiel anwendungen selbst um. In unseren Seminaren vermitteln Ihnen versierte NI-Ingenieure und Partner den Einstieg in verschiedene NI-Technologien, die durch Live- Demonstrationen verdeutlicht werden. Die entspannte Atmosphäre in kleiner Runde erlaubt einen intensiven Austausch zwischen Zuhörern und NI-Experten. Freitag 9:00 10:30 Uhr Freitag 11:00 17:00 Uhr
Academic 13 Vortragsreihen HF-Technologien 11:00 11:30 Radio Data System Transmission Using Software-Defined Radios Matthias Schulz, TU Darmstadt 11:30 12:00 Anschauliche Signaltheorie: Der adaptive Equalizer Lineare Verzerrungen erkennen und nutzen Prof. Ulrich Mann, Hochschule Schweinfurt Mess- und Regelungstechnik 12:00 12:30 Optimierung konventioneller thermischer Trocknungsprozesse von Nahrungsmitteln durch modellbasierte prädiktive Regler mithilfe von NI LabVIEW und NI myrio Alexander-Nicolai Köhler, Markus Fischer, Hochschule Fulda 12:30 13:00 Advanced-Control-Konzepte zur Regelung eines rotatorischen inversen Pendels Implementierung und Test auf dem NI-cRIO- System Prof. Steven Lambeck, Hochschule Fulda 13:00 14:30 Mittagspause/Besuch der Ausstellung 14:30 15:00 Implementierung und Vergleich von Bildverarbeitungstechniken und -verfahren für Robot Vision Prof. Peter Nauth, Fachhochschule Frankfurt a.m. 15:00 15:30 Motion Control System eines 3-Achs-Roboters für Pick&Place-Aufgaben Prof. Ulrich Hoffmann, Stefan Rößner, Norbert Voß, Fachhochschule Aachen 16:00 16:30 Mobile Ganganalyse für Prothesenträger mittels NI myrio Jochen Schuy, TU Darmstadt 16:30 17:00 Laborverdampferstrecke zur mess- und regelungstechnischen Konzeptvalidierung und Integration in die Lehre Andreas Kohlhepp, TU München Seminare 11:00 12:30 LEGO Mindstorms EV3 für die Ausbildung und Lehre Karen Schnier, Martin Engels, LEGO Education Germany 12:30 14:00 Mittagspause/Besuch der Ausstellung 14:00 15:30 NI Academic Product Line in der Anwendung Oleg Scherling, National Instruments Germany GmbH 16:00 17:00 Schaltungsdesign mit NI ELVIS, NI Multisim und NI LabVIEW Oleg Scherling, National Instruments Germany GmbH Ausbildung und Lehre 11:00 11:30 Lernen durch Erfahren Vermittlung messtechnischer Grundlagen an der TU Darmstadt mithilfe der NI-myRIO-Plattform Dr. Jann Neumann, TU Darmstadt 11:30 12:00 Futur[e]Ing. Pilotversuch zu einem neuen Studiengangskonzept mit LabVIEW als fachübergreifende Modellierungs- und Entwicklungsplattform Prof. Norbert Dahmen, Jost Göttert, Hochschule Niederrhein 12:00 12:30 Praktikum Echtzeitprozesssteuerung mit NI LabVIEW und NI mydaq Dr. Oswald Kowalski, TU Ilmenau 12:30 13:00 Lehrprojekt LabVIEW Software-Entwicklung am Beispiel des Kartenspiels MAU-MAU Sindy Schmidt, Jan Jens Koltermann, TU Cottbus-Senftenberg 13:00 14:30 Mittagspause/Besuch der Ausstellung 14:30 15:00 Falten, filtern, korrelieren: Signalverarbeitung mit LabVIEW in Hörsaalexperimenten erlebbar machen Prof. Georg Eggers, Hochschule München 15:00 15:30 Konzeption und Entwicklung eines Laborprüfplatzes zur Untersuchung von piezoelektrischen Mikropumpen Ulrich Dahmen, Hochschule Niederrhein 16:00 16:30 Bau eines kugelförmigen Displays Lukas Bockstaller, Gewerbliche Schulen Waldshut Tiengen 16:30 17:00 LabVIEW-Programmierung einer verfahrenstechnischen Durchfluss- und Regelanlage für die Ausbildung Dr. Hans Schneider, IPI Ing.-Büro für Prozessinformatik, Hannes Schulze, Dr. Margit Lieback, Oberstufenzentrum Lausitz Workshops 11:00 12:30 NI myrio Einführung in Embedded-Systeme in der Lehre Johannes Mutterer, National Instruments Germany GmbH 12:30 14:00 Mittagspause/Besuch der Ausstellung 14:00 15:30 NI myrio Steuerung und Regelung mit dem QUANSER Qube Johannes Mutterer, National Instruments Germany GmbH 16:00 17:00 Software-Defined Radio mit NI USRP Fabian Raschka, National Instruments Germany GmbH Für Fortgeschrittene
14 Specials CLAD-Zertifizierung Ihr Know-how von Experten bescheinigt Im Rahmen des VIP 2014 haben Sie die Gelegenheit, kostenfrei an der Zertifizierung zum Certified LabVIEW Associate Developer (CLAD) teilzunehmen. Sollte Ihre CLAD-Zertifizierung bald ablaufen, können Sie sich kostenfrei rezertifizieren lassen. Die Zertifizierungen von National Instruments unterstreichen Ihre technischen Kenntnisse und Fähigkeiten. Mit der CLAD-Zertifizierung verfügen Sie über einen industrieweit anerkannten Qualitätsnachweis und eine hervorragende Referenz. Nutzen Sie diese Chance und sichern Sie sich das Rüstzeug für Ihre nächsten großen Herausforderungen! Donnerstag 16:00 17:00 Uhr Freitag 16:00 17:00 Uhr Get-together Medienpartner Kontakte knüpfen, Gedanken austauschen, Netzwerke pflegen: Auch der VIP 2014 wird abgerundet durch ein exklusives Get-together in entspannter Atmosphäre. Lassen Sie den ersten Kongresstag beim Abendessen in der gemütlichen Tenne des Veranstaltungsforums mit angeregten Gesprächen ausklingen. Direkt im Anschluss laden wir Sie im Rahmen der VIP-Party zum ungezwungenen Networking mit Referenten, Ausstellern, NI-Experten und anderen Kongressteilnehmern ein. Mittwoch ab 17:00 Uhr warum innovationen Meet the Experts networking Industrietrends 40+ Aussteller rund 120 vorträge Anwenderlösungen
Anmeldung und Services 15 Anmeldung und Services Preise Anmeldebedingungen VIP-Kongress Tickets 22. 23. Okt. 2014 inkl. Abendveranstaltung 520 465* 22. Oktober 2014 inkl. Abendveranstaltung 395 23. Oktober 2014 335 Gruppenticket (4 für 3) 22. 23. Okt. 2014 inkl. Abendveranstaltung 1560 1395* Hochschultickets 22. 23. Oktober 2014 inkl. Abendveranstaltung 300 22. Oktober 2014 inkl. Abendveranstaltung 200 23. Oktober 2014 200 Dozenten- und Ausbildertag Tagesticket 24. Oktober 2014 kostenfrei Alle Preise in Euro zzgl. Mehrwertsteuer * Frühbuchertarif: Gilt bis einschließlich 31. Juli 2014 Gruppenticket: Die Teilnehmer müssen der gleichen Firma angehören. Hochschultarif: Gilt für alle Hochschulangehörigen und Studenten. Das Anmeldeformular finden Sie online unter ni.com/vip Die Anmeldungen werden der Reihenfolge nach berücksichtigt. Wir empfehlen Ihnen eine frühzeitige Anmeldung. Rücktrittsbedingungen Die Abmeldung von dieser Veranstaltung muss National Instruments schriftlich mitgeteilt werden. Es gelten folgende Rücktrittsbedingungen: Bei Rücktritt bis zum 2. September 2014 wird eine Stornogebühr von 50 Euro zzgl. Mehrwertsteuer erhoben. Bei Rücktritt ab 3. September 2014 beträgt die Stornogebühr 100 % der Teilnahmegebühr. Gerne akzeptieren wir einen Ersatzteilnehmer. Bitte teilen Sie uns dies in schriftlicher Form mit. Haben Sie Fragen zur Anmeldung? Wir helfen Ihnen gerne weiter. Bitte wenden Sie sich an Andrea Schütze unter Tel. +49 (0) 89 741313-121 oder senden Sie eine E-Mail an andrea.schuetze@ni.com. Leistungen Mit der Buchung des Kongresspasses erhält der Teilnehmer die Berechtigung zur Teilnahme am VIP-Kongress 2014 für die Anzahl der gebuchten Kongresstage. Die Kongressteilnahme beinhaltet folgende Leistungen: Keynotes und Fachvorträge Tagungsband Zutritt zur Ausstellung Abendveranstaltung bei Teilnahme am 22. Oktober 2014 Tägliches Lunchbuffet und zwei Kaffeepausen inkl. Getränke Die VIP-2014-Services Wir sind für Sie da! Hotels Empfehlungen und vorab reservierte Kontingente unter: germany.ni.com/vip/hotels Bus-Shuttle von ausgewählten Hotels am Morgen (22./23. Oktober 2014) zum Veranstaltungsort und abends nach der VIP-Party zurück vom Flughafen München zum Veranstaltungsort: 22. Oktober 2014 Abfahrt 08:30 Uhr vom Veranstaltungsort zum Flughafen München: 23. Oktober 2014 Abfahrt 17:15 Uhr Übersicht siehe: germany.ni.com/vip/busshuttle FRÜHBUCHERRABATT Sichern Sie sich den Frühbucherrabatt für das 2-Tagesticket und das Gruppenticket für 465 bzw. 1395 bis zum 31. Juli 2014. Videoeindrücke von VIP 2013
Veranstaltungsort Veranstaltungsforum Fürstenfeld Fürstenfeld 12 82256 Fürstenfeldbruck bei München fuerstenfeld.de Veranstalter National Instruments Germany GmbH Ganghoferstraße 70 b 80339 München Tel.: +49 (0) 89 7413130 Fax: +49 (0) 89 7146035 info.germany@ni.com ni.com/vip ni.com/dozententag powered by