Getting Started with ATE Design von Testsystemen Nikolaus Schedlbauer Senior Application Engineer
ATE Was ist das? ate (ah-teh) - >Japanese term for "smashing Ate (2 syl.). Goddess of vengeance and mischief. This goddess was driven out of heaven, and took refuge among the sons of men. ATE Automatic Test Equipment; computer controlled equipment used in production and testing. Test sequences (test pattern) are applied and responses compared to data on file or to known-to-be-good data.
Design von Testsystemen Die Schritte zur Testsystemerstellung im Überblick: Anforderung / Lastenheft (Text / Word) Hardwareauslegung (NI-Instrumente, NI Switching) Testmodule (mit LabVIEW) Erstellung von Testsequenzen (mit TestStand) Parametrierung (mit Excel) Datenbankanbindung für Ergebnisse (mit TestStand) Erstellung einer Bedienoberfläche (LabVIEW Operator Interface) Verteilung auf Testsysteme (TestStand Worksapce)
Das bedeutet: I. Planung und erste Entwürfe II. Design eines Testsystems und das Erstellen eines neuen Systems III. Aufbau IV. Systemerweiterungen / Aufrüsten
Aufgabenstellung: Testsystem für vier Prüflinge Alle Komponenten sollen getestet werden Widerstand testen Tiefpassfilter testen Robustes Testsystem Möglichst günstige, einfache und flexible Lösung
DUT (Device Under Test) Leiterplatte (Platine) DUT-Komponenten 1 Kondensator + 1 Widerstand (Tiefpassfilter) 8 Widerstände
I. Planung und erste Entwürfe 1. Erste Planung / Aspekte: Was ist zu berücksichtigen? Maximierung von Profit / Funktionalität Technisches System Information und Planung Organisation und Projekt Entwicklung oder Erwerb Kosten Performance Zeit Erfahrung Support (Offene) Standards Erhältlichkeit Training / Dokumentation Systemlebensdauer Architektur Veralterungsgefahr / Schutz Upgrade-Möglichkeiten In-house-Ressourcen und -Kompetenzen Entwicklungsschritte (System Builds) COTS (commercial off-the-shelf) Dokumentation Mögliche Upgrade-Prozeduren
I. Planung und erste Entwürfe 1. Erste Planung Brainstorming: Management System Programmiersprache Plattform Instrumente Parametrisierung Ergebnisse Erfahrung Support Vorschläge: TestStand LabVIEW PXI PXI-Instrumente Excel Access NI-Produkte NI-Support
Management System NI TestStand 1. Erste Planung
Management System NI-Hard- und Software 1. Erste Planung TestStand und NISwitch Executive LabVIEW LabW indow s/ CVI M easurem ent Studio andere... M easurem entand Autom ation Explorer(M AX),Assistants (Interaktive C odeerzeugung) NI-DAQ,NI-488,NIScope,NIDM M,NI-IM AQ,NI-M otion,ni-can,ivi,opc GPIB/Serial und VXI M odulare M essgeräte PXI/C om pactpci Bilderfassung Motorensteuerung Datenerfassung und Signalkonditionierung Verteilte M esstechnik SPS
Management System Was ist TestStand? 1. Erste Planung Paralleles Testen Einbinden beliebigen Quellcodes Automatische Reportgenerierung Modular und anpassbar Flexible Bedienoberfläche
Management System Testmanagement mit TestStand 1. Erste Planung Testentwicklung Debugging Multithreading Reportgenerierung Datenbankanbindung Einbinden von LabVIEW, C, C++ DLLs,... ActiveX HT-Basic TCL Atlas JAVA
Management System Philosophie von TestStand 1. Erste Planung TestStand deckt universelle Aufgaben ab Reportgenerierung, Datenbankschema, Bedienoberflächen, Steps,... Konfigurierbare, austauschbare Komponenten (Report,... ) Quellcode für viele Komponenten wird mitgeliefert Prüflingsabhängige Komponenten werden programmiert und in TestStand integriert Zugriff auf Hardware (Multifunktionskarten, GPIB, CAN,... ) Spezielle Eingabemasken Spezielle Step-Typen
Management System Build versus Buy Development Costs Custom operator interface Execution engine Interface to test languages Result evaluation User management Reports (XML, HTML, ASCII) Database integration Switch integration Serial number scanning Sequence loading Test limit loading Revision control Development environment 1. Erste Planung = Development Time Development Effort
Management System TestStand Reduces Development Costs 1. Erste Planung Custom operator interface Execution engine Interface to test languages Result evaluation User management Reports (XML,HTML,ASCII) Database integration Switch integration Serial number scanning Sequence loading Test limit loading Revision control Development environment Development Time TestStand Standard Features Development Effort
Programmiersprache NI LabVIEW 1. Erste Planung
Programmiersprache 1. Erste Planung Grafische Programmierung für die Prüf-, Mess-, Steuer- und Regelungstechnik Schnelles Entwickeln von Applikationen mit Express-VIs und einer intuitiv strukturierten grafischen Entwicklungsumgebung Interaktive Assistenten und eine angepasste Datenerfassungsintegration zum Anschließen von unterschiedlichsten I/O-Typen Erweiterte Optionen für Real-Time, FPGA und PDA Lokalisiert in Französisch, Deutsch, Japanisch (koreanische Dokumentation)
Programmiersprache Einflussreiche kommerzielle Technologien Software von Drittanbietern Wolfram Research Mathematica Microsoft Excel The MathWorks MATLAB and Simulink MathSoft MathCAD Electronic Workbench MultiSim Texas Instruments Code Composer Studio Ansoft RF circuit design software Microsoft Access Microsoft SQL Server Oracle 1. Erste Planung Protokolle zur Kommunikation Ethernet CAN DeviceNet USB IEEE 1394 RS-232 GPIB RS-485
Programmiersprache LabVIEW Everywhere 1. Erste Planung Sensor Embedded (FPGA) Handheld Wireless Vernetzte I/O PC-Karten Tektronix Open Windows Oszilloskope Industriecomputer (PXI) Workstation PC, Mac, Linux, Sun
Programmiersprache Die LabVIEW-Familie 1. Erste Planung NI LabVIEW Grafische Programmiersoftware für die Mess- und Automatisierungstechnik LabVIEW Real-Time Module LabVIEW-FPGA-Modul LabVIEW-PDA-Modul LabVIEW Datalogging and Supervisory Control Module Signalverarbeitung und -analyse Digital Filter Design Sound and Vibration Order Analysis Signal Processing Modulation Spectral Measurements Vision and Image Processing Professionelle Entwicklung Execution Trace Express VI Development State Diagram VI Analyzer Toolkits zur Anbindung von Drittanbieterprodukten Report Generation for Microsoft Office DSP Test Integration for TI DSP Database Connectivity Math Interface Enterprise Connectivity IVI Driver Development Industrial Automation Server Simulation Interface Analog Devices Blackfin Test Integration Steuerungs- und Simulationswerkzeuge Control Design and Simulation Bundle System Identification Toolkit Control Design Toolkit Simulation Module Simulation Interface Toolkit State Diagram Toolkit PID Control LabVIEW-Erweiterungen Application Builder Remote Panels Internet Toolkit Motion Control
Programmiersprache 1. Erste Planung Erfassen, analysieren und darstellen Nahezu alle Prüf-, Mess-, Steuer- und Regelungsanwendungen können in 3 Hauptbestandteile aufgeteilt werden: Die Fähigkeit, Daten zu erfassen, diese zu analysieren und sie darzustellen. Mit den LabVIEW-Werkzeugen können Real-World -Daten im Handumdrehen erfasst, analysiert und dargestellt werden.
Programmiersprache Daten erfassen mit LabVIEW 1. Erste Planung LabVIEW ist komplett kompatibel zu Hardware von NI und arbeitet auch mit Hardware von Drittanbietern zusammen. LabVIEW kann mit folgenden Technologien und Schnittstellen zusammenarbeiten: GPIB, seriell, Ethernet, VXI, PXI-Instrumente Datenerfassung / Data Acquisition (DAQ) PCI extensions for Instrumentation (PXI) Bilderfassung / Image Acquisition (IMAQ) Motion Control Real-Time (RT) PXI SPS / PLC (über OPC-Server) PDA Modulare Messgeräte
Programmiersprache Analysieren mit LabVIEW 1. Erste Planung Die Entwicklungsumgebung LabVIEW enthält umfangreiche Paletten mit unterschiedlichsten Analysewerkzeugen. LabVIEW enthält die folgenden Werkzeuge für die Messwertanalyse: Mehr als 400 Analysefunktionen, z. B. für differenzielle Gleichungen, Optimierung, Kurvenanpassung, Differenzialund Integralrechnung, lineare Algebra, Statistik etc. 12 neue Express-Vis, speziell entwickelt für die Messwertanalyse, einschließlich Filterung und Spektralanalyse Signalverarbeitungs-VIs für Filterung, Fensterfunktionen, Transformation, Scheitelpunktmessung, harmonische Analyse, Spektrumanalyse etc.
Programmiersprache Präsentieren mit LabVIEW 1. Erste Planung Das Präsentieren der Daten mit LabVIEW kann entweder auf Ihrem PC, über das Netzwerk oder durch Übergabe der Daten an andere Programme, wie DIAdem, stattfinden. LabVIEW enthält die folgenden Werkzeuge zur Präsentation von Daten: Auf Ihrem Rechner: Grafen, Diagramme, Tabellen, Rundinstrumente, Tanks, 3D-Anzeigeelemente, Bildanzeigeelemente, 3D-Grafen (nur Windows), Reportgenerierung (nur Windows) Über das Internet: Web-Dokumentationswerkzeug, DataSocket, TCP/IP, VI-Server, Netzwerk-Panels, E- Mail Enterprise Connectivity Toolset: SQL-Werkzeuge (Datenbanken), Internet-Werkzeuge (FTP, Telnet, HTML)
Plattform NI PXI 1. Erste Planung
Plattform PXI CompactPCI extensions for Instrumentation 1. Erste Planung 132-MB/s-PCI in Formfaktor für die Industrie Standard-Windows-Software Integriertes Timing und Triggen Triggerbus mit 8 Leitungen Star-Trigger mit geringem Laufzeitunterschied Referenztakt von 10 MHz Offener, herstellerübergreifender Standard
Plattform Komponenten des PXI-Busses 1. Erste Planung Star Trigger 10-MHz- Takt System - Controller Star-Trigger- Controller Steckplatz Lokaler Bus Steckplatz Steckplatz 132 MB/s,33 MHz,32-bit-Com puterbus Triggerbus
Plattform PXI-Chassis von National Instruments 1. Erste Planung 4, 8, 14, 18 Steckplätze Optional mit SCXI-Signalaufbereitung Quiet-Versionen
Plattform PXI-Controller von National Instruments Embedded-PC 266 MHz bis 2,5 GHz Intel CPU Festplatte auch als Flash-HDD (vibrationsfest) USB, GPIB, Seriell 19 PC MXI-4 zur Anbindung von PXI enthalten 3.0 GHz Pentium 4 mit Hyperthreading, 800 MHz FSB, 1 MB L2 Cache ab 512 MB DDR400 RAM min. 80 GB HDD, 2x Gigabit Ethernet; 4x USB 2.0 MXI-3 und MXI-4 Remote-Controller PXI-Chassis an PC angebunden Lichtwellenleiter bis 200 m / Kupfer bis 10 m Kaskadierung möglich 1. Erste Planung
Instrumente PXI-Hardware Übersicht 1. Erste Planung Datenerfassung: Analogwerterfassung (bis 64 Kanäle, bis 16 bit, bis 1,25 MS/s) Signalgeneration (bis zu 8 Kanäle, 12 bit, bis zu 1 MS/s) Digital-I/O-Module (bis zu 96 Leitungen, bis zu 76 MB/s) Counter/Timer (8 Zähler, 32 bit, 80 MHz) Instrumente (DMM, Oszilloskop, Signalanalysator, ARB) Schaltmodule (Matrix, Multiplexer, Relay) IMAQ (Analog- und Digitalkameras, Farbe und SW) Motion (Schritt- und Servomotoren) BUS-Schnittstellen (GPIB, Seriell, CAN, VXI)
Instrumente Modulare Messgeräte Industrielle Kommunikation Busschnittstellen 1. Erste Planung Schaltmodule Motorensteuerung und industrielle Bildverarbeitung
Support 1. Erste Planung Technischer Support
Support Technischer Support 1. Erste Planung Support für Hardware Support für Software Anwendungssupport Dokumentation / Handbücher Treiber E-Mail-Support Telefonischer Support
Architektur Bedeutung von Testsoftware Architektur Architektur (Def.): 1. Erste Planung Die Software-Architektur (Architekturentwurf) repräsentiert die früheste Softwaredesign-Entscheidung. Mit ihr werden alle Parameter wie Modifizierbarkeit, Wartbarkeit, Sicherheit, Performance etc. in gewissen Grenzen festgelegt und sind der in der Literatur vorherrschenden Meinung nach in späteren Entwicklungsphasen nur noch mit erheblichen Kosten- und Zeitaufwendungen abänderbar. Die Entscheidung über das Design einer Software-Architektur ist somit eine der kritischsten und wichtigsten Punkte während des Software-Entwicklungsprozesses.
Architektur I. Planung und erste Entwürfe 1. Erste Planung Testmanagement Test Test Test Codemodule Treiber und Betriebssystem Software Hardware Messtellenumschalter Prüfling
Architektur I. Planung und erste Entwürfe 1. Erste Planung TestStand Schaltsteuerung Test Test Test Codemodule Treiber und Betriebssystem Software Hardware Messtellen- Umschalter DUT
II. Design eines Testsystems und das Erstellen eines neuen Systems 2. Design eines effektiven und effizienten Testsystems Spezifikationen erstellen Parameter erstellen / erfassen Tests erstellen Redundante Tests erkennen Alternative Testmethoden untersuchen Effektive Nutzung der Geräte untersuchen 3. Auswahl der Testgeräte Geräteauswahl ausgliedern oder nicht Geräteinformationen sammeln Testgeräte anhand von Parametern und Spezifikationen auswählen Flexibilität der Geräte prüfen Anbieter finden Anbieter- Pakete berücksichtigen Alternative Geräte prüfen Bestellen
Spezifikation DUT 1 Kondensator 8 Widerstände 2. Design von Testsystemen 4 Prüflinge = 20 Sekunden
Spezifikation Spezifikation 2. Design von Testsystemen Alle Prüflinge sollen innerhalb von 20 Sekunden getestet sein Tiefpass 20 Hz: Dämpfung minimal -3 db Widerstand: Möglichkeit Testbereich anzugeben Mindestens 500 ms Verzögerung zwischen Jeden Widerstand Ergebnisse in Datenbank und XML Report Bedieneroberfläche mit Parallele Ansicht der Prüflinge
Parameter Parameter 2. Design von Testsystemen Stimuli: Frequenz Sweep von 1 bis Maximal 100 Hz Konstante Amplitude von 1 Analog Output je nach Test 0 V bis 10 V Messung: Analog Input Einzelwert 0 V bis 10 V Analog Input Signalverlauf 0 V bis 10 V
Testmanagement 2. Design von Testsystemen Prüfsystemarchitektur Ziele: Modular Erweiterbar Flexibel Effizient Einfach
Testmanagement 2. Design von Testsystemen Trennung von System und DUT Aufgaben Unterschiedliche Aufgaben je nach Prüfling: Initialisierung /Freigabe Instrumente Stimulus Anwendung Messen Messwert Analyse Art der Datenerfassung Informationdarstellung für Anwender Diagnose Test Routinen DUT-Ebene Wiederkehrende Aufgaben bei jedem Prüfling: Vorrichtung Sperren / Freigeben Bedieneroberfläche Seriennummer Scannen Stationsoptionen Lesen Benutzer Login Datenbank Kommunikatoin Test Report Fehler Behandlung / Routine System-Ebene
Testmanagement 2. Design von Testsystemen Trennung von Prozess- and Produkt-Spezifische Aufgaben Prozess-Spezifische Aufgaben sind Globale Test Aufgaben Firmen Prozesse ISO Standards, Benutzer-Management, DUT Verwaltung TestStand Prozess Model direkt verändern Produkt-Spezifische Aufgaben sind Aufgaben die spezifisch auf einen Produkt oder Produktfamilie zutreffen Produkt Linien Automation, MES (Manufacturing Execution System ), Testvorrichtung Einschalen Modifizierung des TestStand Prozess Models mit overriding model callbacks
Testmanagement Prüfsystemarchitektur 2. Design von Testsystemen Sequenzdatei Hauptsequenz Test Callback Filtertest Test Callback Prüfung von Bauteilen Test Callback Weitere Tests
Testmanagement Prüfsystemarchitektur 2. Design von Testsystemen
Testmanagement Prüfsystemarchitektur 2. Design von Testsystemen
Testmanagement Prüfsystemarchitektur 2. Design von Testsystemen
Testmanagement Prüfsystemarchitektur 2. Design von Testsystemen Besser Weil: Paralleles Testen Möglich Switching Konfiguration Test gut Erkennbar Parametrisierung Einfach Leicht zu Erweitern Datenbank Kommunikation Separate Konfiguration Loop Options Fehler Handling Ergebnis Protokoll für jeden Prüfling
Testmanagement 2. Design von Testsystemen Prüfsystemarchitektur Überlegungen: Callback-Parametrisierung Modellauswahl: Sequential, Batch, Parallel Multithreading Synchronisation Optimale Leistung
Testmanagement 2. Design von Testsystemen Prüfsystemarchitektur Batch-Modell Paralleles Testen Multithreading: New Execution pro Socket Synchronisation Alle Sockets fangen gleichzeitig an Test endet, wenn alle Sockets fertig sind DUT 1 DUT 2 DUT
Testmanagement Prüfsystemarchitektur 2. Design von Testsystemen Multithreading Run Sequence in New Thread Paralleles Testen ParallelTesting UUT 1 Test1Test2Test3 UUT 2 Test1Test2Test3 UUT 3 Test1Test2Test3 UUT 4 Test1Test2 Test3 Auto-Schedule Auto-Schedule UUT 1 Test1 Test2Test3 UUT 2 Test2 Test3 Test1 UUT 3 Test3 Test1 Test2 UUT 4 Test1Test2 Test3
Auto Schedule 2. Design von Testsystemen Prüfsystemarchitektur Autoschedule: Kein Warten auf einer Ressource TestStand sucht nach der nächsten Freien Ressource Keine Garantie über die Reihenfolge der Ausführung Architektur: Begin Autoschedule Group Use Autoschedule Resource End Autoschedule Resource End Autoschedule Group Nachteile: Switching Parametrisierung
Auto Schedule 2. Design von Testsystemen Prüfsystemarchitektur Autoschedule Group Autoschedule Section Autoschedule Section
Bedieneroberfläche Testsystem Oberfläche 2. Design von Testsystemen LabVIEW Operator Interface Verbindung von Manager Elemente mit Sichtbare Elemente Einfache Erstellung durch ActiveX Container in LV Eingekapselte Funktionalität Parametrierbar Manager Controls Visible Controls
Bedieneroberfläche Ausschnitt LabVIEW OI Diagramm 2. Design von Testsystemen
Bedieneroberfläche LabVIEW OI Oberfläche Test Sequenz Ausführen 2. Design von Testsystemen Beenden DUT x Testansicht Report Interaktive Messwerte Geräte Nützung
Testmodule 2. Design von Testsystemen LabVIEW-Module Ziele: Modular Gleichmäßig Flexibel Effizient Einfach
Testmodule 2. Design von Testsystemen LabVIEW-Module LabVIEW Modul Architektur festlegen Einfach Komponenten Austausch / Upgrade zu machen Vereinfacht: Applikation Verteilung Versionierung Support
Testmodule LabVIEW Module 2. Design von Testsystemen Icon verwenden Rahmen Verwenden Leicht Erkennbar Informativ Standard-Connector verwenden Gleichmäßig Einfach Ausreichende Anschlüsse
Testmodule Die VI Hierarchie Unabhängige Subsystems 2. Design von Testsystemen Schlecht Überfluß an Verbindungen Und abhängigkeiten Utility VIs Gut Unabhängige Subsysteme
Testmodule 2. Design von Testsystemen LabVIEW-Module Vorlage Verwenden Offene Anschlüsse Standard Anschlüsse Sequence Context Error In Error Out Standard Parameter Fenstererscheinungsbild
Testmodule 2. Design von Testsystemen Filter Test.vi
Testmodule 2. Design von Testsystemen Component Test.vi
Testgeräte Auswahl der Testgeräte Plattform: Rechner Gehäuse 3. Auswahl der Testgeräte Vorschlag: PXI-Controller PXI-Chassis Benötigte Instrumente: Spannungsmessung Widerstandsmessung Erreger / Stimuli Signalverlauf Schaltmodule für vier Prüflinge Vorschlag: DMM (Digitalmultimeter) DMM (Digitalmultimeter) AWG (Arbitrary Waveform Generator) Digitalisierer Schaltmodul
Testgeräte 3. Auswahl der Testgeräte Auswahl der Testgeräte Vorhandene Ausrüstung: PXI-8176 PXI-1042 PXI-4072 PXI-2532 PXI-5122 PXI-5421
Testgeräte Auswahl der Testgeräte: PXI-8176 3. Auswahl der Testgeräte
Testgeräte Auswahl der Testgeräte: PXI-1042 3. Auswahl der Testgeräte
Testgeräte Auswahl der Testgeräte: PXI-4072 3. Auswahl der Testgeräte
Testgeräte NI PXI-4072 6 ½-Digit (23-bit) FlexDMM Große Messbereiche ±100nV bis 300 DCV (700 ACV) ±10 pna bis 1 A 100 µω bis 100 MΩ 1.8 MS/s Isolated, High Voltage Digitizer Flexible Auflösung: 1.8 MS/s bei 10 bits bis 5 S/s bei 23 bits Erfassen von Strom und Spannungsverläufen Isoliert bis ±300 VDC/Vrms common mode Integration in NI Software und Switching Deterministisches Arbeiten mit LabVIEW Real-Time Erstellen von DMM-Scannern z.b. mit 1000 Messpunkten 3. Auswahl der Testgeräte
Testgeräte Auswahl der Testgeräte PXI-2532 3. Auswahl der Testgeräte
Testgeräte NI-Switches drei Beispiele von über 40 3. Auswahl der Testgeräte NI PXI-2585 10 x1 Multiplexer (1-Draht) 12 A switching/12 A carry 300 VDC/300 VAC 65 Schaltspiele/s NI PXI-2532 512-Crosspoint-Matrix 4x128 und 8x64 (1 draht) 4x64 und 8x32 (2 draht) 500 ma, 100 VDC/100 VACpk 10 MHz Bandbreite 2000 Schaltspiele/s NI PXI-2591 4 x1 HF Multiplexer 4 GHz Bandbreite 50 Ohm Impedanz
Testgeräte Auswahl der Testgeräte: PXI-5122 3. Auswahl der Testgeräte
Testgeräte Hochauflösender Digitizer 3. Auswahl der Testgeräte Zwei Kanäle, 0.2 V bis 20 Vpp, 50 Ω / 1 MΩ 14-Bit, 100 MS/s (NI 5122) 12-Bit, 200MS/s (NI 5124) Anti-Aliasfilter -75 dbc SFDR, 62 db SNR, <2ps total Systemjitter 7 Triggermodi Edge, Hysteresis, Window, Video, Digital, Immediate, Software Speicher: 8, 32, 256 MB und 512 MB bei NI 5124 frei unterteilbar kleine Segmente für über 1 Millionen getriggerte Waveforms
Testgeräte Auswahl der Testgeräte: PXI-5421 3. Auswahl der Testgeräte
Testgeräte Arbitrary Waveform Generator 3. Auswahl der Testgeräte Ein Kanal, 50 Ω /75 Ω mit Ausgangsfilter und Interpolation NI PXI 5421: 16-Bit Auflösung und 100 MS/s Ausgaberate NI PXI 5422: 16-Bit Auflösung und 200 MS/s Ausgaberate Optionaler LVDS Ausgang -76 dbc SFDR, -148 dbm/hz Noise floor 1,8 ns Anstiegszeit, 5% pulse aberration < 2 ps rms total Systemjitter Trigger und Sequenzfunktionen Bis zu 512 MB für Signalformen und Sequenzen Mehr als 24 Modulationsverfahren per Software Analog Waveform Editor
Testgeräte 3. Auswahl der Testgeräte Alternative Systeme / Geräte PXI-Controller: PXI-Chassis: Desktop, Industrierechner Desktop, Industrierechner DMM: Datenerfassungskarte der M-Serie, E-Serie, S-Serie ARB: M-Serie, E-Serie, S-Serie, AO, Zähler Karte Digitalisierer: Datenerfassungskarte der M-Serie, E-Serie, S-Serie Nachteile: Vorteile: Keine Instrumente, Genauigkeit, Funktionalität, Robustheit, Synchronisierung, Stabilität, Kalibrierung, Flexibilität, Kosten
II. Design eines Testsystems und das Erstellen eines neuen Systems 4. DUT-Ankopplung / Verkabelung Kabeln Abschirmung DUT-Verbindungen Ansteuerung der DUT-Schnittstelle Switching Verlässlichkeit Genauigkeit Verkabelung im Testgestell Interferenz / Rauschen minimieren Kabelbeschriftung Kabeldokumentation 5. Switch / Interface Panels und Testgestell Ansteckvorrichtung Kauf von Standardvorrichtungen oder Konnektoren Virginia -Panel Eigene Vorrichtung Vorrichtung anfertigen lassen Testsystemgestell Gestellmaße Gerätanschlüsse und Gestellüberlegungen Gestellisolation Stromzufuhr
Switching Switch-Architekturen 4. DUT-Ankopplung Switches Motoren, Relais Last Multiplexer Erhöhte Kanal Zahl Matrix c0 c1 c2 c3 c4 c5 c6 c7 Routen r0 r1 r2 r3
Switching Vorteile einer Switch Management Software Höhere Produktivität Hardwareabstraktion Schnelle Konfiguration und Programmierung Geringere Wartungskosten Einfach zu modifizierende Konfigurationen ohne Änderungen am Testablauf Höhere Lebenserwartung durch Vermeiden unnötiger Schaltvorgänge Gesteigerter Durchsatz des Testsystems Kein unnötiges Schalten Finden von dynamischen Routen 4. DUT-Ankopplung
Switching NI-SwitchExecutive 4. DUT-Ankopplung
Switching Wie Funktioniert NI-Switch Executive Schnelle konfiguration Matrix, Multiplexer, und Universal Topologien Alias Kanal und Routenbennenung Kanal Konfiguration Modus Assistierte end-to-end Visuelles Routen Validierung und Dokumentation Für NI and third party switches Vereinfachte Programierung Enge Integration mit TestStand, LabVIEW, LabWindows /CVI und Measurement Studio Leistungsfähige Engine Optimiert für intelligentes und hochgeschwindigkeits- Routen 4. DUT-Ankopplung
Switching Programmierung einer Matrix 4. DUT-Ankopplung Programmierung einer Matrix in LabVIEW... und mit Switch Executive
Prüflingsadaption 4. DUT-Ankopplung 5. Interface Panels Optimal bei vielen Signalen Kostengünstiger bei häufigen Steckzyklen Mass-Connectivity-Lösungen
Verkabelung DUT-Verbindungen 4. DUT-Ankopplung 5. Interface Panels
II. Design eines Testsystems und das Erstellen eines neuen Systems 6. Weitere Überlegungen: Sicherheit Erdung Allgemeine Sicherheitsbestimmungen Experten einsetzen / fragen Gewichtsüberlegungen Gestellsicherheit Portabilität Temperatur Strom Stromkosten Kühlung Isolation
III. Aufbau 7. Systemaufbau Bedieneroberfläche aufbauen Ansteckvorrichtungen anbringen Messgeräte im Gestell positionieren Verkabeln Feinschliff Aufbau dokumentieren Tipps für den Aufbau Spezielle Prozeduren für den Transport 8. Dokumentation Dokumentationsstandards Konfiguration Versionsverwaltung / -dokumentation System-FAQ Patente Lebensdauer des Systems
Messgeräte positionieren Testsystem 7. Systemaufbau
III. Aufbau 9. Training Training: Entwickler Debugger User Personal Training Geräte Testprozeduren Testsystem 10. Support Software-Support Hardware-Support Konfiguration / Steuerung In-house-Support Externer Support
Personal Benötigtes Training 9. Training Entwickler: Debugger: Nutzer: TestStand LabVIEW Basic Advanced TestStand LabVIEW Basic Testsystemnutzung Testsystemkonfiguration DUT-Handhabung NI DMM NI DMM NI ARB NI SWITCH Basic Advanced NI ARB NI SWITCH Basic NI Digitizer NI Digitizer DUT-Spezifikation DUT-Eigenschaften Anschlüsse
Kurse NI-Trainingskurse: 9. Training Effektiv arbeiten mit DIAdem 9.x Kurs DIAdem Basics Kurs DIAdem Advanced Kurs Effektiv arbeiten mit LabVIEW 7.x Kurs LabVIEW Basics I Kurs LabVIEW Basics II Kurs LabVIEW Advanced Programming Kurs LabVIEW Application Development Kurs LabVIEW Advanced Application Development Kurs LabVIEW DAQ Kurs LabVIEW Machine Vision/IMAQ Kurs LabVIEW Real-Time Application Development Kurs Effektiv arbeiten mit LabWindows/CVI 7.x Kurs LabWindows/CVI Basics I Kurs LabWindows/CVI Basics II Kurs Programmieren in VBS Kurs Regeln unter LabVIEW TestStand I Fundamentals Kurs TestStand II Kurs
Support Support und Hilfe 10. Support SSP: Standard Service Programm direkte Unterstützung in Landessprache durch NI-Applikationsingenieure per E-Mail und Telefon automatische, kostenlose Software-Upgrades für ein Jahr 10 % Rabatt auf alle Trainingskurse und Kursmaterialien von NI Hilfestellung bei Inbetriebnahme (Startup Assistance) Erste Schritte Training und Hilfe bei ihrer Applikation Basis System Installation, Konfiguration von NI Hardware and Software Applikation-spezifisches Training 1 bis Maximal 5 Tage
IV. Systemerweiterungen / Aufrüsten 11. Schutz / Behandlung von obsolete System Standard-Software Offene Standards Zukünftige Anforderungen berücksichtigen Auswahl von Ersatzgeräten Testparameter revidieren Support-Überlegungen CPU- und Systemerweiterungen Aktuelle Software auswerten Alte Software mit neuen Geräten Kalibrierung und Zertifikation Kompletter Systemersatz 12. Schnittstellen, Gestell und Software-Revidierung Geräteaustausch Switch-Schnittstelle evaluieren Neues Layout / Design Neue Treiber Software-Updates Neue Geräte Neue Dokumentation
Vielen Dank für ihre Aufmerksamkeit Fragen?