Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-K nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005

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1 Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005 Gültigkeitsdauer: Ausstellungsdatum: Urkundeninhaber: JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH Alte Tuttlinger Straße 20, Villingen-Schwenningen Leiter: Stellvertreter: Dr. imund Volk Dipl.-Ing. (FH) Stefan Feifel Akkreditiert als Kalibrierlabor seit: Kalibrierungen in den Bereichen: Dimensionelle Messgrößen Länge - uheit - - Kontur - Tastschnittgeräte a) a) auch Vor-Ort-Kalibrierung verwendete Abkürzungen: siehe letzte Seite 1/5

2 Permanentes Laboratorium Länge auf Tiefeneinstellnormalen uheit auf Geometrienormalen Rmax, 1max RSm 0,9 µm 1,6 µm 3,6 µm 13 µm 40 µm 1,5 µm 100 µm 400 µm 0,010 µm 0,015 µm 0,025 µm 0,050 µm 0, Pt 3 % 3 % 3 % Rmax 3 µm Stahl-Eisen-Prüfblatt 1940 SEP 1940: Ausg DIN EN 10049:2014 RPc 25 RPc cm -1 uheit auf aperiodischen unormalen Rmax, 1max Rpk Rk Rvk Mr1 Mr2 auf Oberflächen im Bereich DIN 4776:1990 DIN EN ISO :2008 DIN EN ISO :2009 Rmax Stahl-Eisen-Prüfblatt 1940 SEP 1940: Ausg DIN EN 10049: % 8 % RPc 25 RPc cm -1 uheit auf aperiodischen superfeinen unormalen Rmax, 1max Rpk Rk Rvk Mr1 Mr2 0,015 µm auf Oberflächen im Bereich 0,015 µm DIN 4776:1990 DIN EN ISO :2008 DIN EN ISO : % 8 % 9 % 10 % Rmax 6 % Im Bedarfsfall darf die Filtergrenzwellenlänge λc eine Stufe kleiner oder zu zwei Stufen größer als nach Norm verwendet werden, jedoch nicht größer als λc = 2,5 mm je nach Profilhöhe dürfen auch andere Schnittlinienabstände (wie vorgegeben) gewählt werden Relative Messunsicherheit bezogen auf Rel. Messunsicherheit bezogen auf 100 % Materialanteil je nach Profilhöhe dürfen auch andere Schnittlinienabstände (wie vorgegeben) gewählt werden Relative Messunsicherheit bezogen auf Rel. Messunsicherheit bezogen auf 100 % Materialanteil einer Überdeckungswahrscheinlichkeit von 9 und haben, sofern nichts anderes angegeben ist, den Erweiterungsfaktor k = 2. Gültigkeitsdauer: Ausstellungsdatum: /5

3 Tastschnittgeräte nach DIN 4772:1979 Rmax, 1max Rundheitsverkörperungen, Durchmesser: 5 mm 300 mm: DAkkS-DKD-R 4-2 Blatt 2:2010 DIN EN ISO 12179:2000 LSC und MZC 500, 150, 50 und Unormal + 0,01 µm Unormal + 1 % Unormal + 1 % Unormal + 1 % Rmax Rundheitsabweichung 10 µm 0,05 µm > 10 µm 2 RC 7 Vergrößerungsnormale (englisch: flick standards) unrunde Kugeln LSC, MZC und MCC Rundheitsabweichung 2 µm 500, 150, 50 und > 60 µm 0,3 µm > 60 µm 500 µm 2 RC 7 0, vom Messwert Zylindrische Formverkörperungen Durchmesser: 3 mm 300 mm 5 mm 300 mm: Rundheitsabweichung LSC und MZC 500, 150, 50 und 2 RC 7 Geradheitsabweichung der Mantellinien 2 mm 300 mm 10 µm 2 mm 100 mm > 10 µm > 100 mm 300 mm Zylindrische Formverkörperungen Parallelitätsabweichung der Mantellinien 2 mm 300 mm 10 µm 2 mm 100 mm > 10 µm > 100 mm 300 mm LSS und MZS lc = 0,25 mm, lc = 0,8 mm, lc = 2,5 mm 2 RC 7 0,3 µm LSS und MZS lc = 0,25 mm, 0,3 µm lc = 0,8 mm, lc = 2,5 mm 0,3 µm 2 RC 7 0,4 µm Unormal ist die Messunsicherheit der verwendeten Normale Es können auch kleinere Messbereiche kalibriert werden, für die Normale vorliegen einer Überdeckungswahrscheinlichkeit von 9 und haben, sofern nichts anderes angegeben ist, den Erweiterungsfaktor k = 2. Gültigkeitsdauer: Ausstellungsdatum: /5

4 Konturnormale Länge X Laterale Abstände 5 mm 100 mm mit Bezugskonturnormal nach VDI 2629 Blatt 1:2008 nach DIN EN ISO :2012 0,6 µm Länge Z Vertikale Abstände 10 mm 0,75 µm dien 2 mm 12 mm 0,75 µm Winkel ,01 Nockennormale Nocken (N1 und N2) Dicke 10 mm 100 mm 1,5 µm max. pos. Grundkreis neg. Grundkreis pos. Hauptnocken neg. Hauptnocken 1,5 µm Bezugselement: 1,5 µm 1,5 µm 1,5 µm 1,5 µm Nockenhub 1 mm 20 mm 1,5 µm Nockenhöhe 10 mm 100 mm 1,5 µm dius Grundkreis 10 mm 50 mm 1,5 µm Rundlaufabweichung Grundkreis - Grundkreis 50 µm 1,5 µm Bezugselement: Geradheitsabweichung 0,4 µm Parallelitätsabweichung Winkel N2 N ,01 Bezugselement: - Grundkreis Exzenter (Ex1 und Ex2) Durchmesser 10 mm 100 mm 1,5 µm 1 mm 20 mm 1,5 µm Bezugselement: Rundheitsabweichung 10 µm 0,3 µm Geradheitsabweichung 10 µm 0,3 µm Parallelitätsabweichung 10 µm mit Bezugs- Nockennormal nach DIN EN ISO :2012 Exzentrizitätsabweichung Zylinderformabweichung 10 µm einer Überdeckungswahrscheinlichkeit von 9 und haben, sofern nichts anderes angegeben ist, den Erweiterungsfaktor k = 2. Gültigkeitsdauer: Ausstellungsdatum: /5

5 Parallelitätsabweichung 10 µm Lager (L1, L2 und L3) mit Bezugs- Durchmesser 10 mm 100 mm 1,5 µm Nockennormal Rundheitsabweichung 10 µm nach 0,3 µm Geradheitsabweichung 10 µm DIN EN ISO :2012 0,3 µm Zylinderformabweichung 10 µm Vor-Ort-Kalibrierung Tastschnittgeräte nach DIN 4772:1979 Rmax, 1max DAkkS-DKD-R 4-2 Blatt 2:2010 DIN EN ISO 12179:2000 Unormal + 0,01 µm Unormal + 1 % Unormal + 1 % Unormal + 1 % Rmax Unormal ist die Messunsicherheit der verwendeten Normale Es können auch kleinere Messbereiche kalibriert werden, für die Normale vorliegen verwendete Abkürzungen: DAkkS-DKD-R Kalibrierrichtlinie der Deutschen Akkreditierungsstelle VDI/VDE 2629 VDI-Richtlinie: Genauigkeit von Konturmessgeräten einer Überdeckungswahrscheinlichkeit von 9 und haben, sofern nichts anderes angegeben ist, den Erweiterungsfaktor k = 2. Gültigkeitsdauer: Ausstellungsdatum: /5