Automobilelektronik. Steuergeräte Automobilelektronik. Termin/Ort November 2017 in Berlin

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1 Automobilelektronik Seminar Steuergeräte Automobilelektronik Termin/Ort November 2017 in Berlin Dipl.-Ing. Stefan Grieser-Schmitz, Chief Engineer Future Electronics Architectures, ZF TRW, Lucas Varity GmbH, Koblenz Seminar Steigerung der Zuverlässigkeit in der Automobilelektronik Lastenheft, Bauteilalterung, Beschleunigung der Umweltsimulation, Hochvolt-Aspekte, Ersatzteilstrategien Termin/Ort November 2017 in Essen Prof. Dr.-Ing. Peter M. Leiß, Technische Hochschule Bingen FB010/35078E

2 Steuergeräte Automobilelektronik Zielsetzung Die Zielsetzung dieses Kompaktseminars ist eine Einführung in die Entwicklung von elektronischen Steuergeräten für den Automobileinsatz. Es werden die Anforderungen im automobilen Umfeld erklärt und konkrete Schaltungsansätze für den Aufbau robuster Steuergeräte vorgestellt. Weiterhin wird ein Überblick über die Methoden zur Lebensdauer- und Zuverlässigkeitsanalyse gegeben und es werden die wichtigsten Verfahren zur Risiko- und Sicherheitsanalyse vorgestellt. Abschliessend wird über die Test- und Prüfverfahren von Automobilelektroniken informiert. Teilnehmerkreis Dieses Seminar richtet sich an Elektroingenieure, die als Berufsstarter oder durch einen Aufgabenwechsel in die Elektronikentwicklung für den Automobilbereich einsteigen. Inhalt Anforderungen an automobile Steuergeräte Allgemeine Anforderungen im Automobilbereich Normen, Gesetze und Lieferbedingungen sgebundene Störungen Elektrostatische Entladungen (ESD) Umweltanforderungen Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) Einführung Bussysteme (CAN, FlexRay, LIN und SENT) Robuste Schaltungsauslegung mit realen Bauteilen Schaltungsauslegung mit toleranzbehafteten Bauteilen MOSFETs im automobilen Einsatz Reale, fehlerbehaftete Operationsverstärker Minimierung von Stromaufnahme und Leckströmen Optimierung der EMV Thermisches Management Schaltungsbeispiele aus der Praxis

3 Sicherheit und Zuverlässigkeit Ausfallratenanalyse und Zuverlässigkeitsberechnung Fehlermöglichkeits- und Einflussanalyse (FMEA) Fehlerbaumanalyse Common-Mode-Analyse Sneak-Circuit-Analyse Zuverlässigkeitsersatzschaltbilder Vermeidung von Überhitzungen durch Bauteildefekte Prüfungen und Testverfahren Lebensdauerprüfungen Robustheitstests (HALT) Freigabeprüfungen (CV, DV und PV) Produktionsprüfungen (Burn-In, HASA und HASS) Zum Thema Steuergeräte für den mobilen Einsatz müssen sowohl hohe Sicherheitsanforderungen erfüllen wie auch unter extremen Umgebungsbedingungen zuverlässig funktionieren. Gleichzeitig gelten für sie die aggressiven Kostenziele eines internationalen Massenmarktes. Dies macht ihre Entwicklung zu einer besonderen Herausforderung, bei der die Erfahrungen aus der Entwicklung von elektronischen Steuergeräten für andere Einsatzbereiche nur begrenzt übertragen werden können. Dipl.-Ing. Stefan Grieser-Schmitz, Chief Engineer Future Electronics Architectures, ZF TRW, Lucas Varity GmbH, Koblenz Uhrzeiten , 10:00 Uhr 17:00 Uhr , 09:00 Uhr 17:00 Uhr , 09:00 Uhr 15:00 Uhr Berlin, Haus der Technik Termin/Teilnahmegebühr/Ort HDT-Mitglieder: 1465,00 Nichtmitglieder: 1595,00 mehrwertsteuerfrei, einschließlich veranstaltungsgebundener Arbeitsunterlagen sowie Mittagessen und Pausengetränken Kurztitel: Steuergeräte Automobilelektronik Veranst.-Nr.: E-H Berlin, Haus der Technik

4 Steigerung der Zuverlässigkeit in der Automobilelektronik Lastenheft, Bauteilalterung, Beschleunigung der Umweltsimulation, Hochvolt-Aspekte, Ersatzteilstrategien Zielsetzung Nach einer Klärung der wichtigsten Begrie rund um Qualität und Zuverlässigkeit erfolgt eine Einordnung der Elektronikentwicklung in den automobilen Produktentstehungsprozess. Hierbei werden insbesondere Fragestellungen rund um Lieferanten- und Bauelementeauswahl sowie Sichtweisen zur Gestaltung und Interpretation von Lastenheften erörtert. Einschlägige Normen und Standards sowie deren Weiterentwicklung werden thematisiert. Zum tieferen Verständnis der Beschreibung von Zuverlässigkeit werden die wichtigsten Rechenverfahren vorgestellt und an Beispielen erläutert. Ausgehend von den typischen Mechanismen der Bauteilalterung - u. a. auf Basis von Temperatur und AVT - erfolgt eine Betrachtung, inwiefern die Methoden der Umweltsimulation zu einer Sicherstellung und Steigerung von Zuverlässigkeit genutzt werden können. Ein Schwerpunkt bildet dabei die Vorstellung und Bewertung verschiedener Beschleunigungsmodelle, welche eine zeitliche Raung von Prüfungen und Lebensdauertests bewirken können. Nach einer Darstellung von Methoden der Reliability prediction mit den Nebenaspekten FMEA und SIL wird abschließend gezeigt, wie sich die vorgestellten Überlegungen zur Zuverlässigkeit auf die Ersatzteilversorgung auswirken. Teilnehmerkreis Mitarbeiter aus Entwicklungs-, Versuchs-, Einkaufs- und Qualitätsabteilungen von Kfz-Zulieferern, OEMs und allen Industriezweigen, welche sich an den Sichtweisen der Automobilindustrie orientieren möchten. Inhalt Einführung Begriserklärung, Negativbeispiele, Einordnung in den Produktentstehungsprozess, Lieferanten- und Bauelementeauswahl Mathematische Modellbildung Ausfallrate, Ausfallwahrscheinlichkeit, Badewannenkurve, Weibullverteilung, Success-Run Ausfall elektronischer Bauelemente Alterungsmechanismen, Fehlerbilder, Aspekte der mechatronischen Integration, Normen und Standards (MIL, AEC-Q,...) Temperatur und AVT Wärmetransport, Modelle, Entwärmung, Einfluss der AVT

5 Testen, prüfen, erproben Zufällige und systematische Fehler, Bauteilqualifizierung, Beschleunigungsmodelle der Umweltsimulation (Arrhenius, Inverse- Power-Law, Con-Manson, Peck, Lawson, HALT, HASS), Lebensdauertest, Burn-in, Run-in, Screening Reliability prediction Sinn und Unsinn von Handbüchern mit tabellierten Ausfallraten, FMEA und SIL Ersatzteilversorgung Obsolescence Management, Strategien zur Langzeitversorgung und Langzeitlagerung Zum Thema Steigende Rückrufzahlen auf Grund ausgefallener Elektroniken sowie kürzer werdende Entwicklungszeiten bei gleichzeitig zunehmenden Elektronikumfängen führen dazu, dass sich Zulieferer und OEMs noch intensiver als bisher mit der Einhaltung von Zuverlässigkeitsanforderungen für Kfz-Elektroniken beschäftigen müssen. Insbesondere im Bereich der Hardwareentwicklung ergeben sich auf Grund der fortschreitenden Miniaturisierung und der mechatronischen Integration von Baugruppen und Komponenten ständig neue Herausforderungen. Im Seminar wird aufbauend auf den aktuellen Stand der Technik herausgearbeitet, wie der Entwickler Lastenheftforderungen, bekannte Alterungsmechanismen und Aspekte der Prüfplanung unter dem Blickwinkel der Zuverlässigkeit berücksichtigen muss. Es wird vermittelt, wie somit im Zusammenspiel mit den anderen Fachabteilungen eine Sicherstellung der Lebensdauer und damit auch der Zuverlässigkeit erzielt werden kann. Eng mit diesen Fragestellungen verknüpft sind die Spezialthemen Hochvolt und Ersatzteilversorgung bei elektronischen Komponenten im Kfz. Prof. Dr.-Ing. Peter M. Leiß, Technische Hochschule Bingen Uhrzeiten , 09:00 Uhr 17:00 Uhr , 09:00 Uhr 17:00 Uhr Essen, Haus der Technik Termin/Teilnahmegebühr/Ort HDT-Mitglieder: 1365,00 Nichtmitglieder: 1495,00 mehrwertsteuerfrei, einschließlich veranstaltungsgebundener Arbeitsunterlagen sowie Mittagessen und Pausengetränken Kurztitel: Zuverlässigkeit Automobilelektronik Veranst.-Nr.: E-H Essen, Haus der Technik

6 Anmeldung und Veranstaltungsservice Veranstaltungen Anmeldung online Anmeldung per Anmeldung per Fax Anmeldeformular Download Anmeldung per Post Umbuchung, Rechnungsänderung Hotelbuchung DB-Ticket-Buchung Weitere Fragen Allgemeines Fachliches oder ein neues Thema anbieten zu Unterlagen in MyHDT zur Adresskorrektur AGB Zahlungsweise Umbuchung/ Stornierung Umsatzsteuer Wir erwarten Essen finden Sie unter bzw. Bei online-buchung finden Sie vorausgefüllte Formulare, Hotel- und DB-Ticket-Buchungsmöglichkeit sind in den Anmeldevorgang integriert. Eva Gorter & Monica Martins & / / Haus der Technik e.v., Essen Kostenloser Hotelbuchungsservice für alle Veranstaltungsorte. DB-Ticket-Reservierung Sonderpreis Kl. bundesweit Nuri Grohnert & 0201/ beantworten Ihnen gern Simone Seek & 0201/ Andrea Wiese & 0201/ Dipl.-Ing. Bernd Hömberg Fehmi Inci & 0201/ Thomas Pavelka & 0201/ finden Sie unter per Überweisung oder per Kreditkarte (VISA, MASTERCARD, AMEX und Diners Club) Bei Umbuchung oder Stornierung einer Anmeldung kann das HDT eine Gebühr von 50,- erheben. Diese Gebühr entfällt für HDT-Mitglieder. Für alle Anmeldungen, die nicht schriftlich bis 7 Tage vor Veranstaltungsbeginn zurückgezogen werden, muss die Teilnahmegebühr voll berechnet werden. Teilnahmegebühren des HDT e.v. sind gem. G4 Nr. 22 UStG umsatzsteuerfrei Sie in Hollestr Essen Berlin Haus der Technik e. V., Seydelstr 15, Berlin Tel.: 030/ HDT-Newsletter unter