Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005
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- Hinrich Bader
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1 Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005 Gültigkeitsdauer: bis Ausstellungsdatum: Urkundeninhaber: ATLAS ELEKTRONIK GmbH Umweltsimmulationszentrum Sebaldsbrücker Heerstraße Bremen Am Standort ATLAS ELEKTRONIK GmbH -Labor im Umweltsimulationszentrum Sebaldsbrücker Heerstraße Bremen Prüfungen in den Bereichen: Elektromagnetische Verträglichkeit () VG Teil1: Elektromagnetische Verträglichkeit Geräten Grundlagen VG Teil10: Elektromagnetische Verträglichkeit Störströme VG Teil11: Elektromagnetische Verträglichkeit Störspannungen Seite 1 von 5
2 VG Teil12: Elektromagnetische Verträglichkeit Störfeldstärken VG Teil13: Elektromagnetische Verträglichkeit Störfestigkeiten gegen Felder VG Teil14: Elektromagnetische Verträglichkeit Geräten Teil 14: Meßverfahren für Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störsignale VG : Elektromagnetische Verträglichkeit Verträglichkeit von Geräten Teil 1: Grundlagen; Text VG : Elektromagnetische Verträglichkeit Verträglichkeit von Geräten Teil 10: Prüfverfahren für leitungsgeführte Störströme; Text VG : Elektromagnetische Verträglichkeit Verträglichkeit von Geräten Teil 12: Prüfverfahren für Störfeldstärken; Text VG : Elektromagnetische Verträglichkeit Verträglichkeit von Geräten Teil 13: Prüfverfahren für Störfestigkeit gegen Felder; Text VG : Elektromagnetische Verträglichkeit Verträglichkeit von Geräten Teil 14: Prüfverfahren für Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störgrößen; Text Max. Prüfspannung für Verfahren LF03G beträgt 600 V (entspricht GWK2) auf 18 GHz Max. Prüfspannung für Verfahren LF03G beträgt 600 V (entspricht GWK2) Gültigkeitsdauer: bis Ausstellungsdatum: Seite 2 von 5
3 VG : Elektromagnetische Verträglichkeit Teil 1: Grundlagen; Text Deutsch und Englisch VG : Elektromagnetische Verträglichkeit Teil 10: Prüfverfahren für leitungsgeführte Störaussendungen; Text VG Beiblatt 1: Elektromagnetische Verträglichkeit Teil 10: Prüfverfahren für leitungsgeführte Störaussendungen, Störspannungen; Text Deutsch und Englisch VG : Elektromagnetische Verträglichkeit Teil 12: Prüfverfahren für Störfeldstärken von Systemen; Text VG : Elektromagnetische Verträglichkeit Teil 13: Prüfverfahren für Störsicherheitsabstände gegenüber systemeigenen Feldstärken; Text Deutsch und Englisch VG : Elektromagnetische Verträglichkeit Teil 14: Prüfverfahren für Störsicherheitsabstände gegen leitungsgeführte, vom eigenen System verursachte Störgrößen; Text Deutsch und Englisch auf 18 GHz Gültigkeitsdauer: bis Ausstellungsdatum: Seite 3 von 5
4 MIL-STD 461A Characteristics Requirements for Equipment für MIL-STD 461B Electromagnetic Emission and Susceptibility für MIL-STD 461C Electromagnetic Emission and Susceptibility für MIL-STD 461D Emissions and Susceptibility für MIL-STD 461E Department of Defense Interface Standard Characteristics of Subsystems and Equipment für MIL-STD 461F Department of Defense Interface Standard Characteristics of Subsystems and Equipment für Gültigkeitsdauer: bis Ausstellungsdatum: Seite 4 von 5
5 Für Prüfungen (DIN EN ISO/IEC 17025): RTCA/ DO 160-D Section 17 RTCA/ DO 160-D Section 18 RTCA/ DO 160-D Section 19 RTCA/ DO 160-D Section RTCA/ DO 160-D Section RTCA/ DO 160-D Section 25 Grundnormen Section 17 Voltage Spike Section 18 Audio Frequency Conducted Susceptibility- Power Inputs Section 19 Induced Signal Susceptibility Section 20 Radio Frequency Susceptibility (radiated and Conducted) Section 21 Emission of Radio Frequency Energy Section 25 Electrostatic Discharge (ESD) für Störfestigkeitsprüfungen bis 4 GHz Gültigkeitsdauer: bis Ausstellungsdatum: Seite 5 von 5
Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005
Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL-15086-02-01 nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005 Gültigkeitsdauer: 07.07.2016 bis 21.06.2021 Ausstellungsdatum: 07.07.2016 Urkundeninhaber:
Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005
Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL-11203-01-02 nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005 Gültigkeitsdauer: 17.06.2015 bis 29.06.2019 Ausstellungsdatum: 17.06.2015 Urkundeninhaber:
1 Anforderungen und angewandte Normen
Seidl 21.12.2000 2111-S02_00 Störfestigkeit gegen die Entladung statischer Elektrizität 2111-S02_00.doc Produkt: DI-2111 Blatt: 1 Blätter: 8 Sonderanforderung des Entwicklers: Kontaktentladung: ±6kV IEC
Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL-15018-01-00 nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005
Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL-15018-01-00 nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005 Gültigkeitsdauer: 26.11.2015 bis 25.11.2020 Ausstellungsdatum: 26.11.2015 Urkundeninhaber:
Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005
Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL-12053-02-00 nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005 Gültigkeitsdauer: 20.05.2016 bis 19.05.2021 Ausstellungsdatum: 23.05.2016 Urkundeninhaber:
Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005
Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL-12052-01-01 nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005 Gültigkeitsdauer: 18.03.2016 bis 17.03.2021 Ausstellungsdatum: 18.03.2016 Urkundeninhaber:
Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL nach Richtlinie 93/42/EWG 1 und 98/79/EG 2 sowie DIN EN ISO/IEC
Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL-12122-01-02 nach Richtlinie 93/42/EWG 1 und 98/79/EG 2 sowie DIN EN ISO/IEC 17025 3 Gültigkeitsdauer: 11.07.2016 bis 10.07.2021
Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005
Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL-11055-06-00 nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005 Gültigkeitsdauer: 23.12.2015 bis 22.12.2020 Ausstellungsdatum: 23.12.2020 Urkundeninhaber:
Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005
Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL-12075-01-00 nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005 Gültigkeitsdauer: 24.06.2016 bis 23.06.2021 Ausstellungsdatum: 24.06.2016 Urkundeninhaber:
Die Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH bestätigt hiermit, dass das Prüflaboratorium
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Frequenzbereich Störaussendung bis DC/10 Hz bis 7 GHz ( 18 GHz G-TEM möglich ) Frequenzbereich - Störfestigkeit 0,15 3 GHz / Maximaler Pegel 30 V/m Grundnormen - Störfestigkeit: Prüfung nach IEC 61000-4-2
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Akkreditieru ngsstelle Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH Beliehene gemäß 8 Absatz 1 AkkStelleG i.v.m. 1 Absatz 1 AkkStelleGBV Unterzeichnerin der Multilateralen Abkommen von EA, ILAC und IAF zur gegenseitigen
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EG-Konformitätserklärung EC-Declaration of Conformity Dokument-Nr.: 004/05 Monat, Jahr: 04/2005 Document-N.: Month, Year Hersteller: Manufacturer: Knestel Elektronik GmbH Anschrift: Osterwalderstraße 12
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Anlage zur Akkreditierungsurkunde D PL
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Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005
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Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-K nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005
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Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005
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Seite: 1/7 Inhaltsverzeichnis 1 Einleitung... 2 2 Anwendung... 2 3 Form und Druck... 2 4 Gestaltung der Vorderseite... 3 4.1 Allgemeine Angaben und Zeichen... 3 4.2 Hinweise auf die Beleihung und das Führen
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Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005
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Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005
Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL-12042-01-00 nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005 Gültigkeitsdauer: 10.08.2016 bis 15.12.2018 Ausstellungsdatum: 26.08.2016 Urkundeninhaber:
Anlage zur Akkreditierungsurkunde D PL 14153 02 02
Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH Anlage zur Akkreditierungsurkunde D PL 14153 02 02 nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005 Gültigkeitsdauer: 16.04.2015 bis 15.04.2020 Ausstellungsdatum: 16.04.2015 Urkundeninhaber:
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Electromagnetic compliance This EMI table is valid for the following models/model families: FW7662M (GPP6M), FW7660M (GPP10M), FW7556M (GPP18M), FW7721M (GPP USB Medical), FW7333SM (PP8M), FW7555M (MPP15M),
Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005
Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-PL-19274-01-00 nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005 Gültigkeitsdauer: 13.11.2014 bis 12.11.2019 Ausstellungsdatum: 17.12.2014 Urkundeninhaber:
Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-ZE-14169-01-02 nach DIN EN ISO/IEC 17065:2013
Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH Anlage zur Akkreditierungsurkunde D-ZE-14169-01-02 nach DIN EN ISO/IEC 17065:2013 Gültigkeitsdauer: 12.01.2015 bis 05.12.2017 Ausstellungsdatum: 08.10.2015 Urkundeninhaber:
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