Deutsche kkreditierungsstelle GmbH nlage zur kkreditierungsurkunde D-PL-14564-01-00 nach DIN EN ISO/IEC 17025:2005 Gültigkeitsdauer: 10.03.2015 bis 01.09.2016 usstellungsdatum: 10.03.2015 Urkundeninhaber: totech Deutschland GmbH mit ihren Prüflaboratorien: nalytics und Materials Science, Erasmusstraße 20-24, 10553 Berlin nalytiklabor, hornallee 4, 16818 Werder Prüfungen in den Bereichen: physikalische, physikalisch-chemische und chemische Untersuchung von Wasser, Prozesswässern und bwasser; Probenahme von bwasser; chemische Untersuchung von Industriechemikalien, Salzlösungen, Metalllösungen und Galvanikbädern mittels chromatographischer, spektrometrischer und titrimetrischer Verfahren; Rauheitsprüfungen, metallographische Prüfungen, zerstörungsfreie Schichtdickenbestimmungen, chemisch-physikalische Prüfungen und Korrosionsuntersuchungen an Schichten, Schichtsystemen, Werkstoffen und/bzw. beschichteten Präparaten Innerhalb der mit * gekennzeichneten Prüfbereiche ist dem Laboratorium, ohne dass es einer vorherigen Information und Zustimmung der DkkS bedarf, die Modifizierung sowie Weiterund Neuentwicklung von Prüfverfahren gestattet. Die aufgeführten Prüfverfahren sind beispielhaft. Das Laboratorium verfügt über eine aktuelle Liste der Prüfverfahren im flexiblen kkreditierungsbereich. Dem Prüflaboratorium ist, ohne dass es einer vorherigen Information und Zustimmung der DkkS bedarf, die nwendung der hier aufgeführten genormten Prüfverfahren mit unterschiedlichen usgabeständen der Normen gestattet. verwendete bkürzungen: siehe letzte Seite
nlage zur kkreditierungsurkunde D-PL-14564-01-00 Die Prüf- und Probenahmeverfahren sind mit den aufgeführten Symbolen der Standorte: nalytics, Erasmusstraße 20-24, 10553 Berlin; () Materials Science, Erasmusstraße 20-24, 10553 Berlin; () nalytiklabor, hornallee 4, 16818 Werder; (NP) gekennzeichnet, an denen sie durchgeführt werden. 1 Wasser 1.1 Probenahme und Probenvorbereitung DIN 38402-11 ( 11) 2009-02 DIN EN ISO 5667-3 ( 21) 2013-03 DIN 38402 ( 30) 1998-07 Probenahme von bwasser Wasserbeschaffenheit - Probenahme Teil 3: Konservierung und Handhabung von Wasserproben Vorbehandlung, Homogenisierung und Teilung heterogener Wasserproben 1.2 Physikalische und physikalisch-chemische Kenngrößen DIN EN ISO 10523 (C 5) 2012-04 DIN EN 27888 (C 8) 1993-11 Wasserbeschaffenheit Bestimmung des ph-werts Wasserbeschaffenheit Bestimmung der elektrischen Leitfähigkeit, NP, NP 1.3. nionen DIN 38405-4 (D 4) 1985-07 DIN EN 26777 (D 10) 1993-04 DIN EN ISO 6878 (D 11) 2004-09 Bestimmung von Fluorid Wasserbeschaffenheit Bestimmung von Nitrit Spektrometrisches Verfahren Wasserbeschaffenheit Bestimmung von Phosphor Photometrisches Verfahren mittels mmoniummolybdat Gültigkeitsdauer: 10.03.2015 bis 01.09.2016 usstellungsdatum: 10.03.2015 Seite 2 von 10
nlage zur kkreditierungsurkunde D-PL-14564-01-00 DIN 38405-13 (D 13) 2011-04 DIN EN ISO 10304-1 (D 20) 2009-07 DIN EN ISO 10304-3 (D 22) 1997-11 DIN 38405 (D 24) 1987-05 DIN EN 15205 2007-02 DIN EN ISO 3613 2011-04 DIN EN 62321 Draft 2011 IEC 62321 2013-06 Bestimmung von Cyaniden Wasserbeschaffenheit Bestimmung von gelösten nionen mittels Flüssigkeits-Ionenchromatographie Teil 1: Bestimmung von Bromid, Chlorid, Fluorid, Nitrat, Nitrit, Phosphat und Sulfat Wasserbeschaffenheit - Bestimmung der gelösten nionen mittels Ionenchromatographie Teil 3: Bestimmung von Chromat, Iodid, Sulfit, Thiocyanat und Thiosulfat Photometrische Bestimmung von Chrom(VI) mittels 1,5-Diphenylcarbazid Bestimmung von sechswertigem Chrom in Korrosionsschutzschichten Qualitative Bestimmung (zurückgezogene Norm) Metallische und andere anorganische Überzüge Chromatierüberzüge auf Zink, Cadmium, luminium-zinkund Zink-luminium-Legierungen - Prüfverfahren Produkte in der Elektrotechnik Bestimmung von Bestandteilen der sechs Inhaltsstoffe (Blei, Quecksilber, Chrom, sechswertiges Chrom, polybromiertes Biphenyl, polybromierter Diphenylether), die einer Beschränkung unterworfen sind (bweichung: nur für Blei, Chrom, Cadmium und sechswertiges Chrom), NP 1.4 Kationen DIN 38406-6 (E 6) 1998-07 DIN EN 1233 (E10) 1996-08 DIN EN ISO 5961 (E 19) 1995-05 Bestimmung von Blei mittels tomabsorptionsspektrometrie (S) Wasserbeschaffenheit Bestimmung von Chrom Verfahren mittels tomabsorptionsspektrometrie Wasserbeschaffenheit Bestimmung von Cadmium durch tomabsorptionsspektrometrie, NP Gültigkeitsdauer: 10.03.2015 bis 01.09.2016 usstellungsdatum: 10.03.2015 Seite 3 von 10
nlage zur kkreditierungsurkunde D-PL-14564-01-00 DIN EN ISO 11885 (E 22) 2009-09 DIN EN ISO 17294-2 (E 29) 2005-02 DIN EN 1811 2012-10 Wasserbeschaffenheit Bestimmung von ausgewählten Elementen durch induktiv gekoppelte Plasma-tom- Emissionsspektrometrie (ICP-OES) Wasserbeschaffenheit nwendung der induktiv gekoppelten Plasma-Massenspektrometrie (ICP-) Teil 2: Bestimmung von 62 Elementen Referenzprüfverfahren zur Bestimmung der Nickellässigkeit von sämtlichen Stäben, die in durchstochene Körperteile eingeführt werden und Erzeugnissen, die unmittelbar und länger mit der Haut in Berührung kommen, NP 1.5 Summenparameter DIN EN 1484 (H 3) 1997-08 DIN ISO 15705 2003-01 ISO 25101 2009-03 Wasseranalytik Bestimmung des gesamten organischen Kohlenstoffs (TOC) und des gelösten organischen Kohlenstoffs (DOC) Wasserbeschaffenheit Bestimmung des chemischen Sauerstoffbedarfs (ST-CSB) Küvettentest Wasserbeschaffenheit Bestimmung von Perfluoroctansulfonat (PFOS) und Perfluoroctanat (PFO) Verfahren in unfiltrierten Wasserproben mittels Festphasenextraktion und Flüssigkeitschromatographie/ Massenspektrometrie, NP 1.6 Bestimmungen mit Küvettentests Merck Spectroquant 1.14563 Nitrat- Küvettentest 2,2-110,7 mg/l Nitrat Dr. Lange LCK 339 1-60 mg/l Nitrat Merck Spectroquant 1.14547 Nitrit-Küvettentest 0,01-0,7 mg/l Nitrit-N Dr. Lange LCK 341 0,015-0,6 Nitrit-N Gültigkeitsdauer: 10.03.2015 bis 01.09.2016 usstellungsdatum: 10.03.2015 Seite 4 von 10
nlage zur kkreditierungsurkunde D-PL-14564-01-00 Merck Spectroquant 1.14558 mmonium-küvettentest 0,2-8 mg/l mmonium-n Merck Spectroquant 1.14739 mmonium-küvettentest 0,01-2 mg/l mmonium-n Dr. Lange LCK 385 Dr. Lange LCK 386 TOC, 3-30 mg/l TOC, 30-300 mg/l NP NP 2 Untersuchung von Industriechemikalien 2.1 Titrimetrische Bestimmung von Elementen und nionen in Salzlösungen, Metalllösungen und Galvanikbädern * Methode Matrix Parameter / Charakteristische Prüfverfahren nalyt Polarographie Nickel-Bäder Blei PV-10792POL V-974-POL, NP Voltammetrie Kupfer-Bäder Einebner Glanzzusatz V-772-CVS V-902-CVS, NP Komplexometrie Kupfer-Bäder Kupfer V-51-TIT, NP Redoxtitration Chrom-Bäder Chrom (VI) V-717-TIT, NP Fällungstitration Nickel-Bäder Zink- Bäder Chlorid V-715-TIT V-716-TIT, NP 2.2 Chromatographische Bestimmung von organischen und anorganischen Inhaltsstoffen in Salzlösungen, Metallösungen und Galvanikbädern * Methode Matrix Parameter / nalyt Gas- Queller Butyldiglykol chromatographie Ethylenglykol Charakteristische Prüfverfahren PV-10595-GC, NP Gültigkeitsdauer: 10.03.2015 bis 01.09.2016 usstellungsdatum: 10.03.2015 Seite 5 von 10
nlage zur kkreditierungsurkunde D-PL-14564-01-00 Methode Matrix Parameter / nalyt Ionen- Zinn-Bäder Hypophosphit chromatographie Methansulfonsäure Charakteristische Prüfverfahren PV-9796-IC, NP Ionenchromatographie Chrom-Bäder Sulfat Katalysator C V-107-IC, NP RP- HPLC Nickel- Konzentrate Komplexbildner PV-12574-LC, NP RP- HPLC Zink-Bäder Nickel-Bäder Glanzzusatz Komplexbildner V-541-LC V-444-LC, NP 2.3. Spektrometrische Bestimmung von Elementen und nionenin Salzlösungen, Metalllösungen und Galvanikbädern * Methode Matrix Parameter / Charakteristische Prüfverfahren nalyt Photometrie (UV/Vis) Nickel-Bäder mmonium V-384-UV Photometrie (UV/Vis) Photometrie (UV/Vis) Nickel-Bäder Nitrat V-831-UV, NP ktivatoren Palladium V-543-UV Photometrie (UV/Vis) Cr(VI) V-956-UV S Chrom-Bäder Eisen V-526-S, NP ICP- OES Kupfer-Bäder Rohstoffe Na, K, Ca, Mg, Ni, Cr, Pb, s, Sb, Sn PV-10348-54ICP, NP ICP-OES Metallabscheidungen Metallabscheidungen Cd, Cr, Pb V-953-ICP Gültigkeitsdauer: 10.03.2015 bis 01.09.2016 usstellungsdatum: 10.03.2015 Seite 6 von 10
nlage zur kkreditierungsurkunde D-PL-14564-01-00 2.4 Physikalische und physikalisch-chemische Untersuchung von Salzlösungen, Metalllösungen und Galvanikbädern 5360-PHY 2008-06 DIN EN ISO 10523 (C 5) 2012-04 DIN 50957 1978-01 PV 8256 SM 2013-05 Bestimmung der Dichte mit dem Biegeschwing- Messgerät Wasserbeschaffenheit Bestimmung des ph-werts (bweichung: Bestimmung in Galvanikbädern) Prüfung galvanischer Bäder; Galvanisierungsprüfung mit der Hull-Zelle, llgemeine Grundsätze Visuelle Galvanisierungsprüfung nach stromloser Metallabscheidung an Prüfblechen., NP, NP, NP, NP 3 Untersuchung von Schichten, Schichtsystemen und Werkstoffen 3.1 Rauheitsprüfungen Tastschnittverfahren 0,1 µm R a 10 µm 0,5 µm R z 50 µm DIN EN ISO 4287 2010-07 DIN EN ISO 4288 1998-04 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) Oberflächenbeschaffenheit: Tastschnittverfahren Benennungen, Definitionen und Kenngrößen der Oberflächen-beschaffenheit Geometrische Produktspezifikationen (GPS) Oberflächenbeschaffenheit: Tastschnittverfahren Regeln und Verfahren für die Beurteilung der Oberflächenbeschaffenheit In Verbindung mit SOP 45.001 Gültigkeitsdauer: 10.03.2015 bis 01.09.2016 usstellungsdatum: 10.03.2015 Seite 7 von 10
nlage zur kkreditierungsurkunde D-PL-14564-01-00 3.2 Metallographische Prüfungen Schichtdickenmessung - Mikroskopisches Verfahren DIN EN ISO 1463 Metall- und Oxidschichten Schichtdickenmessung 2004-08 Mikroskopisches Verfahren In Verbindung mit SOP 15.003 Schichtdickenmessung - Rasterelektronenmikroskop DIN EN ISO 9220 Metallische Überzüge Messen der Schichtdicke 1995-01 Verfahren mit Rasterelektronenmikroskop In Verbindung mit SOP 21.004 3.3 Schichtdickenbestimmungen mit zerstörungsfreien Verfahren Schichtdickenmessung - Röntgenfluoreszenz-Verfahren DIN EN ISO 3497 Metallische Schichten Schichtdickenmessung 2001-12 Röntgenfluoreszenz-Verfahren In Verbindung mit SOP 33.001 Magnetinduktive Schichtdickenbestimmung Messbereich Schichtdicke: 0-1500 µm (Deltascope MP30E - S mit Sonde EG2H) DIN EN ISO 2178 1995-04 In Verbindung mit SOP 34.002 Nichtmagnetische Überzüge auf magnetischen Substraten; Messung der Überzugsdicke; magnetische Methode 3.4 Chemisch - physikalische Prüfungen STEP - Test DIN 50022 2007-11 Metallische und andere anorganische Überzüge Schichtpotentialmessung von galvanischen Mehrfach- Nickelschichtsystemen (STEP-Test) Gültigkeitsdauer: 10.03.2015 bis 01.09.2016 usstellungsdatum: 10.03.2015 Seite 8 von 10
nlage zur kkreditierungsurkunde D-PL-14564-01-00 STM B 764 2004-04 (bestätigt 2014) Standard Test Method for Simultaneous Thickness and Electrode Potential Determination of Individual Layers in Multilayer Nickel Deposit (STEP - Test) In Verbindung mit SOP 32.002 Bestimmung der Porendichte - modifizierter Dubpernelltest STM B 456 Standard Specification for Electrodeposited Coatings 2011-06 of Copper Plus Nickel Plus Chromium and Nickel Plus Chromium (bweichung: hier nur nwendung des Dubpernell-Test; Determining the number of discontinuities in chromium electroplating (Dubpernell test)) STM B 604 1991-05 (bestätigt 2008) Volkswagen G PV1063: 2013-04 Standard Specification for Decorative Electroplated Coatings of Copper Plus Nickel Plus Chromium on Plastics (bweichung: hier nur nwendung des Dubpernell-Test; Determining the number of discontinuities in chromium electroplating (Dubpernell test)) Verchromte Oberflächen - Bestimmung der Mikroporendichte In Verbindung mit SOP 81.001 und SOP 81.002 3.5 Korrosionsuntersuchungen DIN EN ISO 9227 2012-09 Normal-Salzsprühnebelprüfung (NSS) und Kupferbeschleunigte Salzsprühnebelprüfung (CSS) In Verbindung mit SOP 62.001 Gültigkeitsdauer: 10.03.2015 bis 01.09.2016 usstellungsdatum: 10.03.2015 Seite 9 von 10
nlage zur kkreditierungsurkunde D-PL-14564-01-00 verwendete bkürzungen: totech Deutschland GmbH, Standort Berlin - nalytics ; PV; V Hausverfahren der totech Deutschland GmbH STM x xxx Norm der STM International, bekannt bis 2001 als merican Society for Testing and Materials (STM) DIN Deutsches Institut für Normung e. V. EN Europäische Norm IEC International Electrotechnical Commission ISO International Organization for Standardization totech Deutschland GmbH, Standort Berlin - Materials Science NP totech Deutschland GmbH, Standort Werder bei Neuruppin SOP Standard Operating Procedure, totech Deutschland GmbH, Hausverfahren Gültigkeitsdauer: 10.03.2015 bis 01.09.2016 usstellungsdatum: 10.03.2015 Seite 10 von 10