...We are boundary-scan.

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1 ...We are boundary-scan. Test- und Programmierlösungen speziell für IEEE

2 Leistungsfähige und bewährte Lösungen von JTAG Technologies Damit erfolgreichen Produkten nichts im Wege steht Um Produkte mit hoher Funktionalität und Miniaturisierung realisieren zu können, kommen immer häufiger komplexe Bauteile, wie Ball-Grid-Arrays, Chip-Scale Packages und andere hoch dichte IC- Gehäuse mit hoher Pinzahl, zum Einsatz. Eine alltägliche Herausforderung ist der immer schwierigere Zugriff für den Test und die direkte Programmierung von Bauteilen auf der Baugruppe. Die Bestückungsdichte auf der Baugruppe und die Komplexität der Bauteile nehmen dabei stetig zu und auch die Anforderungen an die Leistungsfähigkeit der Schaltungen werden immer höher. Um wieder einen Zugriff auf Pin-Ebene selbst bei sehr dicht bestückten Baugruppen und ungeachtet der verwendeten Gehäusetechnologien zu ermöglichen, ist die Boundary-Scan-Technologie die ideale Lösung. Sie sollten sich dabei für Boundary-Scan-Tools von JTAG Technologies entscheiden, dem Pionier und führenden Anbieter. Fortschrittliche Möglichkeiten und einfach anwendbar im täglichen Einsatz - JTAG Technologies liefert eine Track record: continuous improvement ATPG & diag: interconnects & clusters ATPG & diag: memory clusters PLD programming Copyright 2007, JTAG Technologies AFPG w/ flash library IEEE standards based on EDA Link Fault coverage examiner ActiveTest h/w debug PSA & PIP for LV/LW/DLL/VB IEEE analog Boundary- Scan JTAG Visualizer IEEE 1532 PIP for PLD prog. TestStand IEEE 1532 standardized PLD programming IEEE evaluation kit IEEE advanced networks Embedded flash support umfassende Palette von integrierten Design-, Produktionsund Hardware-Produkten, die voll konform zu den IEEE und den anderen Boundary-Scan-Standards sind und Ihren Erfolg sicherstellen. Wir unterstützen Sie bei der Realisierung praktischer Lösungen, die sich schnell implementieren lassen, unmittelbare Vorteile liefern und spürbare Kosteneinsparungen ermöglichen. Zudem lassen sich die Lösungen von JTAG Technologies im gesamten Unternehmen aber auch bei den Zulieferern einsetzen, von der Entwicklung, über das Prototyping und die Produktion bis hin zum Kundendienst. JTAG ATPG & diag: ProVision IEEE

3 Optimierte Prozesse, maximaler Ertrag Verpassen Sie nicht Ihr Marktfenster Kürzere Time-to-Market mit unseren zeitsparenden Das heute sehr harte Geschäftsklima diktiert oft sehr automatischen Tools knappe Marktfenster und immer kürzere Produktzyklen. Kürzere Debug-Zeiten bei Hardware-Prototypen und problemlose Umprogrammierung von PLDs und Die Boundary-Scan-Lösungen von JTAG Technologies Flash-Speichern beim Debugging der Firmware. lassen sich über die gesamte Produktlebendauer nutzen, optimieren damit Ihre Investition, erlauben einen Design-Informationen noch vor dem Layout. Früherer Beginn der Testentwicklung mit Hilfe von schnelleren Markteinstieg und ermöglichen zudem Fertige Testprogramme beim Anlauf der Produktion, Kosteneinsparungen. einschließlich einer hochauflösenden Diagnose für die Reparatur. Zugriff auch bei hoch-dichten Baugruppen Integration der Testbarkeit und Programmierbarkeit in Niedrigere Herstellungskosten die Produkte. Nutzung von Testprogrammen in der Entwicklung und Ermöglicht einen Zugriff auf BGAs und andere Gehäuse der Produktion verbessert die Genauigkeit und mit hoher Pin-Dichte ohne In-Circuit- und optische Konsistenz der Ergebnisse. Tester. Reduzierung der Adaptierungskosten durch eine Reduzierung der Funktionstestzeiten bei sehr Verringerung oder die Vermeidung von diskreten komplexen Schaltungen. Testpunkten. Ermöglicht eine genaue Fehlerdiagnose und kürzere Kürzere Reparaturzeiten durch höhere Testabdeckung Reparaturzeiten. und genauere Diagnose. Maximierung der Fehlerabdeckung. Höhere Qualität auf allen Ebenen Vermeidung der Lagerhaltung und Logistik von Ermittlung der Testbarkeit von Designs; und vorprogrammierten Bauteilen. Durchführung der Korrekturen vor dem Baugruppen-Layout. Ob Sie 100 Baugruppen pro Woche oder 1000 Verifizierung der richtigen Bestückung von Prototypen Baugruppen pro Tag herstellen, mit den Boundary-Scanund in der Produktion. Lösungen von JTAG Technologies können Sie Ihre Programmierung von Flash-Speichern und PLDs- im wirklichen Kosten senken - sowohl im Hinblick auf Zeit System mit hohem Durchsatz. und Geld - und gleichzeitig eine bessere Produkt- und Verbesserung der Fertigungsprozesse durch wertvolle Prozessqualität erreichen. Prozessinformationen. Vorteile über den gesamten Produktzyklus...We are boundary-scan. 3

4 Entwicklung Einfache Entwicklung umfassender Anwendungen mit JTAG ProVision Überlegen Sie welche Vorteile Ihnen eine schnellere und einfachere Erstellung von Testprogrammen und ISP-Anwendung bringt eine schnelle Erstellung selbst anspruchsvollster Anwendungen mit einem Minimum an Schulung und Aufwand. Entscheiden Sie sich für JTAG ProVision. Der integrierte Wizard führt Sie Schritt für Schritt durch den Entwicklungsprozess und Ermöglicht gerade am Anfang eine drastische Verkürzung der Lernkurve. JTAG ProVision arbeitet Projekt-orientiert und unterstützt praktisch jede beliebige Systemkomplexität, von Designs aus nur einer einzigen Baugruppe bis hin zu Projekten mit sehr vielen Baugruppen. Nach der Fertigstellung können die Testingenieure und Entwickler die Anwendungen einfach und problemlos auf eine beliebige Laufzeitumgebung, in Ihrer Fertigung oder der eines Fertig ungsdienstleisters, für das Prototyping, die Produktion und die Reparatur portieren. Einfache Generierung umfassender Boundary-Scan- Anwendungen Die Anwendungsgeneratoren von JTAG ProVision analysieren die Netzliste Ihres Designs in Kombination mit den BSDL-Beschreibungen der Boundary-Scan- Bauteile. Die Topologie der Scan-Chain wird sogar für komplexe Multi-Tap-Anwendungen automatisch erstellt. Mittels Modellen für Nicht-Boundary-Scan-Bauteile kann JTAG ProVision die Baugruppe im Hinblick auf eine optimale Testabdeckung und ISP-Leistung automatisch so steuern, dass sichere Zustände bei allen Bauteilen der Baugruppe gewährleistet werden können. JTAG ProVision beinhaltet eine integrierte Analyse der Fehlerabdeckung mit Details zur Testbarkeit auf Netz- und Pin-Ebene. Wenn Ihre Abdeckungsziele nicht erreicht werden, können Sie die notwendigen Korrekturmaßnahmen noch vor dem Layout der Baugruppe einleiten. JTAG Visualizer ist zudem voll in ProVision integriert, das eine Anzeige der Fortschritte im Schaltplan und Layout ermöglicht. Für spezielle Anwendungen, die nicht von dem automatischen Generierungs-Tools abgedeckt werden können, bietet die High-level Scan Function Library (HSL) von JTAG Technologies eine hohe Flexibilität und Unterstützung. Zu den typischen HSL-Funktionen gehören: Test von Prozessorperipherie in komplexen Clustern Test von Digital/Analog- und Analog/Digital-Wandlern Test thermischer Sensoren an einem I2C- oder SPI-Bus Auslesen der Baugruppen-Kalibrierungsdaten und Abspeicherung im EPROM I/O Scan Module TAP Boundary-scan Controller TAP Connector Testing Infrastructure Testing Interconnection Testing Cluster Testing PLD Programming Memory Cluster Testing Flash Memory Programming Jenseits der IEEE Anwendungen JTAG ProVision unterstützt den Test von zum IEEE Standard konformen Schaltungen. Es generiert automatisch Tests und eine Fehleranalyse auch von fortschrittlichen digitalen Netzen, wie LVDS (Low-Voltage Differential Signaling). JTAG ProVision unterstützt auch eine gleichzeitige PLD-Programmierung entsprechend dem IEEE 1532 Standard. Der IEEE Standard definiert die Architektur für analogen Boundary-Scan. JTAG Technologies bietet ein Evaluierungs-Kit an, mit dem Sie sich mit dem Standard und seinen Vorteile vertraut machen können. 4

5 Voller Durchblick bei Boundary-Scan: JTAG Visualizer Transparente Testabdeckung und Fehlersuche im Schaltplan und Layout JTAG Visualizer ermöglicht eine graphische Darstellung und Untersuchung der Boundary-Scan-Ergebnisse im Schaltplan und Layout Ihres Designs. Bestimmte Netze, Bauteile und Pins lassen sich im Schaltplan und Layout schnell und einfach identifizieren. Browser-, Zoomund Cross-Probe-Funktionen erlauben eine intuitive Navigation im Design. Die flexible Farbzuordnung vereinfacht zudem die Boundary-Scan-Analyse und die Erkennung verschiedener Fehlerklassen. Zu den weiteren Vorteilen gehören: Darstellung der Boundary-Scan-Architektur und der Testergebnisse direkt im Schaltplan und Layout Es muss nicht mehr geraten werden wo der Fehler liegt und es ist kein Wälzen von Papierbergen mehr notwendig Optimierung der Testabdeckung während des Designs, bei gleichzeitiger Minimierung der Anzahl der Designzyklen Einfache Ortung von möglichen Fehlern und Reduzierung der Reparaturzeiten Einsatz von JTAG Visualizer in der Produktion In Laufzeit-Umgebungen beim Test der Baugruppen in der Fertigung analysiert die Boundary-Scan Diagnostic (BSD) Software die Ergebnisse. Der BSD-Bericht wird direkt an JTAG Visualizer weitergeleitet, so dass die Fehlerorte graphisch im Schaltplan und Layout angezeigt werden können. Netze und Pins, die im Zusammenhang mit den Fehlern stehen, werden speziell hervorgehoben, selbst bei mehreren Fehlern. Die graphische Darstellung des Diagnose-Berichtes vereinfacht damit die Fehlersuche und Reparatur der Baugruppe ganz erheblich. Untersuchungs-Merkmale Der fortschrittliche Browser von JTAG Visualizer bietet eine große Flexibilität hinsichtlich der Untersuchung von Boundary-Scan-Anwendungen: Darstellung von Schaltplan und Layout mit flexibler Hervorhebung von Netzen und Bauteilen Unterstützung hierarchischer Zeichnungen Anwender-konfigurierbare Darstellung Funktionen zur Suche und Hervorhebung von Komponenten, Pins und Netzen über mehrere Seiten und hierarchische Designs Querverweise zwischen Schaltplänen, Layouts und Informationsdateien Flexible Farbzuordnung, um die Boundary-Scan- Analyse und die Erkennung von Fehlerklassen zu vereinfachen Professionelle Design-Tools Einsatz von JTAG Visualizer in der Entwicklung JTAG Visualizer ist voll in JTAG ProVision integriert und ermöglicht eine einfache und verständliche Ermittlung der bei der jeweiligen Baugruppe mit Boundary-Scan erreichbaren Testabdeckung und zwar vor dem Layout. Die testbaren und nicht testbaren Teile werden deutlich und genau direkt im Schaltplan angezeigt. Mit einer, einem Malkasten vergleichbaren Funktion, kann der Anwender einfach spezielle Bereiche im Design hinsichtlich der Testbarkeit untersuchen und die Verbesserung der Testabdeckung steuern. Sobald die Abdeckungsziele erreicht sind, können Sie beruhigt zum Layout übergehen....we are boundary-scan. 5

6 Produktion Nahtlose Laufzeit-Integration Mit der Entwicklungssoftware JTAG ProVision erstellte Anwendungen laufen problemlos in einer eigenständigen Boundary-Scan-Teststation oder lassen sich in andere bestehende Produktionstestsysteme integrierten. Wir bieten eine breite Palette von Produkten für eine einfache Integration von Boundary-Scan in Funktions-, In-Circuitund Flying Prober Tester oder in In-Line-Systeme an. Eigenständiges Produktionspacket Der Application Executor (AEX) verwandelt einen PC in eine vollständige Boundary-Scan-Station. Sie können damit den Ablauf für die Produktion definieren, Bedingungen für Verzweigungen (zum Beispiel um verschiedene Flash- Speichertypen zu unterscheiden) festlegen, Testergebnisse der Seriennummer der jeweiligen Baugruppe zuordnen und vieles mehr. Die Produktion profitiert von vielfältigen Vorteilen - schnelle und einfache Bedienelemente; Berichte über Programmablauf und Ergebnisse; einfacher Export von Ergebnissen, Formatierung für bestehende Qualitäts- Management-Systeme, wie zum Beispiel TRACS. Pakete zur Produktionsintegration Integration von Tests und Programmierungen mittels Boundary-Scan in einen bestehenden Fertigungsprozess. Nutzen Sie TestStand, LabVIEW oder LabWindows? Kein Problem. Sie können einfach einen Testplan erstellen, der diese populären Testumgebungen von National Instruments mit Ihren JTAG Technologies Boundary-Scan-Anwendungen kombiniert. Und mit unserer Produktionsintegration für C/C++ oder Visual Basic können Sie einfach Ihre eigenen Anwender-spezifischen Lösungen entwickeln. 6

7 Boundary-Scan-Upgrades für In-Circuit- und Flying Probe-Tester Mit den Symphony-Lösungen können Sie die Vorteile des Boundary-Scan-Tests mit denen eines In-Circuit-Tests Aeroflex, Agilent (HP-UX und Windows), Digitaltest, SPEA, GenRad und Teradyne sowie für Flying Prober von Digitaltest, Seica, SPEA und Teradyne verfügbar. Fortschrittliche intelligente Diagnose Unsere Boundary-Scan Intelligent Diagnostic (BSD) Software zeichnet sich durch eine hohe Genauigkeit und Klarheit aus und erlaubt dadurch eine deutlich Verkürzung der Reparaturzeiten. Sogar bei mehreren gleichzeitigen Fehlern auf der Baugruppe ermöglicht BSD eine Diagnose auf Pin-Ebene und damit eine zielstrebige Reparatur. BSD nutzt die während des Testlaufs erstellte Fehlerdatei, so dass der Test nicht nochmal ausgeführt werden muss, um den Diagnosebericht zu erhalten. Damit wird nicht nur der Testprozess optimiert, sondern es lassen sich zudem Zuordnungsprobleme zwischen der Produktion und Reparatur vermeiden. Fertigungsumgebungen Mit einer Floating Site Lizenz kann das Diagnosemodul in mehreren Fertigungslinien gemeinsam genutzt werden. (ICT) oder eines Tests mittels Flying Prober (FPT) kombinieren. Die Test- und In-System-Programmierungs- Anwendungen werden auf den Entwicklungs-Tools von JTAG Technologies erstellt und einfach auf die jeweilige Testsystemumgebung portiert. Durch die Kombination von strukturellen Testmethoden, wie In-Circuit- oder Flying Probe-Test, mit einem Boundary-Scan-Test lässt sich der Zugang zu nicht Boundary-Scan-fähigen Bauteilen verbessern. Das Ergebnis ist eine deutlich höhere Testabdeckung, sogar bei Mixed-Signal-Designs mit digitalen und analogen Schaltungsteilen. Zudem lässt sich eine deutliche Leistungssteigerung bei der Flash/CPLD-Programmierung gegenüber der integrierten ICT-Programmiermöglichkeit erreichen. Eine Integration ist für In-Circuit-Tester von Integrationsmöglichkeiten In-Circuit-Tester Flying Prober System Anbieter Aeroflex Aeroflex Agilent DigitalTest SPEA Teradyne Aeroflex DigitalTest Seica SPEA Takaya System 42xx 58xx 3070 (HP-UX and Windows) MTS300 Sigma 3030 TS12x (einschließlich 228x-Familie) 45xx series MTS500 Condor S40 Pilot 4040 APT We are boundary-scan. 7

8 Hardware Robuste Geräte, hohe Zuverlässigkeit Bewährte Leistung Wollen Sie Boundary-Scan für den Test, die In-System-Programmierung oder beides nutzen? Wählen Sie aus unserer großen Palette von Controllern und parallelen I/O-Modulen die ideale Lösung für Ihr Zielsystem. Tausende weltweit installierter Lösungen verdeutlichen die perfekte Eignung hinsichtlich Zuverlässigkeit und Robustheit für die Produktion. Boundary-Scan-Controller Alle JT 37x7 DataBlaster Controller nutzen eine einheitliche skalierbare Architektur und sind in drei Leistungsklassen und verschiedenen Formfaktoren verfügbar, so dass sie sich ideal auf Ihre Anwendungen und Betriebsumgebung anpassen lassen. Sollten sich die Anforderungen ändern, kann die Leistung einfach durch zusätzliche Einsteckkarten erhöht werden. Die DataBlaster-Controller unterstützen unsere Enhanced Throughput TechnologyTM, mit der sich eine maximale Leistung bei der Flash-Programmierung erreichen lässt, wobei meist die Möglichkeiten des Flash-Speichers voll ausgenutzt werden. Der Durchsatz lässt sich durch die Gang-Funktion vervielfachen, wobei bis zu vier Zielkarten mit einem einzigen Controller programmiert werden können. Mit zusätzlichen Controllern lässt sich der Durchsatz noch weiter erhöhen. Bei Anwendungen mit begrenztem Budget kann der wirtschaftliche Explorer/USB mit zwei TAPs und programmierbaren Spannungen verwendet werden. TapCommunicatorTM ermöglicht einen Einsatz von Boundary-Scan über extrem große Entfernungen zum Zielsystem, wobei standardmäßige Kommunikationsprotokolle wie Ethernet, optische Verbindungen oder ein drahtloses Netzwerk genutzt werden. TAPCommunicator ist besonders für Situationen ideal, wo kein direkter Zugriff für Personen möglich ist, wie in rauen oder unzugänglichen Umgebungen. 8

9 Parallele I/O-Module zur Verbesserung des Testzugangs Eine hohe Fehlerabdeckung macht einen entscheidenden Unterschied im Hinblick auf die Kosten und Konkurrenzfähigkeit Ihrer Produkte, da dies einen direkten Einfluss auf den Durchsatz Ihres Produktionsprozesses hat. Mit den DIOS-Modulen (Digital Input/Output Scan) von JTAG Technologies lässt sich die Fehlerabdeckung deutlich verbessern, da damit auch Teile der Baugruppe getestet werden können, auf die sich ansonsten nur sehr schwierig zugreifen lässt. Zum Beispiel lassen sich mit den DIOS-Modulen die Integrität von Steckverbindern und mit dem Socket Test Module (STM) die DIMM-Sockel auf der Baugruppe verifizieren. Robuste Hardware BSDL-Generierung und Verifizierungs-Tool BSDL-Dateien (Boundary-Scan Description Language) beschreiben die logische IEEE Implementierung in konformen ICs. Dies ist eine entscheidende Voraussetzung für die erfolgreiche Erstellung von Boundary-Scan-Anwendungen für den Test und die In- System-Programmierung. Unser BSDL Verifier überprüft eine BSDL-Datei anhand des eigentlichen Bauteils, um die Korrektheit sicherzustellen. Der BSDL Verifier generiert anhand des ICs auch eine voll konforme BSDL-Datei, wovon vor allem IC-Entwickler, ASIC-Designer und Testentwickler profitieren....we are boundary-scan. 9

10 Unterstützung und Dienstleistungen erstklassig, weltweit Unser Ziel Unser einziges, dediziertes Ziel ist die Entwicklung von Boundary-Scan-Lösungen entsprechend den Anforderungen der Elektronikindustrie. Wir wollen, dass Sie erfolgreich sind und unterstützen Sie im Hinblick auf eine optimale Nutzung der Technologie. Einfacher Einstieg Für den Einsatz von Boundary-Scan in der Design- Phase bietet JTAG Technologies eine Palette erstklassiger und umfassender Dienstleistungen und technischer Unterstützung an. Boundary-Scan Tutorials und Seminare durch erfahrenes Schulungspersonal oder über das Internet Training für Entwickler, Ingenieure und Produktionspersonal, einschließlich umfassender Übungen Überprüfung der Testbarkeit von Designs vor der Produktion Überprüfung der In-System-Programmierbarkeit, um einen maximalen Durchsatz zu gewährleisten Entwicklungs- und Prozessberatung zur Optimierung der Teststrategie Beratung für einen Test auf Systemebene Sie erreichen dadurch die größte mögliche Testbarkeit und Programmierbarkeit bei Ihren Designs; und Ihre Ingenieure und Bedienpersonal können die Tools und Technologie schnell effektiv anwenden. Weltweite Unterstützung Zu unseren Kunden gehören weltweit aktive Konzerne ebenso wie kleine nur regional tätige Unternehmen. Ungeachtet in welcher Branche Ihr Unternehmen tätig ist, wir unterstützen Sie umfassend. Unser weltweites professionelles Team von Applikationsingenieuren ist in Nordamerika, Europa und Asien präsent und gewährleistet Ihnen einen Zugriff auf umfassende Erfahrungen. Wir unterstützen Sie wann und wo Sie wollen - vor Ort, per Telefon oder . Was für uns spricht: Vor-Ort-Unterstützung für die Entwicklung von Anwendungen Vor-Ort-Unterstützung für eigenständige und integrierte Produktionssysteme Entwicklung schlüsselfertiger Tests und Programmierdateien Zugang zu autorisierten externen Anwendungs- Anbietern Wartungsverträge für regelmäßige Software-Updates, bevorzugte Unterstützung und Kommunikation. 10

11 Wir halten was Boundary-Scan verspricht Boundary-Scan, auch unter der Bezeichnung JTAG Unsere innovativen Lösungen, leistungsfähige Software für bekannt, wurde 1990 in Form der IEEE Entwicklung und Produktion und robuste, leistungsfähige Spezifikation standardisiert. Das auf dem Industriestandard Boundary-Scan-Hardware, unterstützen unsere Kunden IEEE basierende Verfahren ermöglicht einen schnellen und genauen Test, sowie eine schnelle In-System- Kosten und Verkürzung der Time-to-Market. Die Lösungen bei der Verbesserung ihrer Qualität, Reduzierung der Programmierung (ISP) von dicht bestückten Baugruppen. von JTAG Technologies sind in allen Bereichen der Elektronikindustrie im Einsatz: Boundary-Scan implementiert mit Hilfe von auf Luft- und Raumfahrt Chip-Ebene integrierten Testschaltungen ein vollständiges Automotive Testprotokoll auf der Baugruppe, das einen umfassenden Avionik Zugang selbst bei komplexesten Baugruppen ermöglicht. Computer Konsumelektronik Unser Unternehmen ist seit unserer Gründung im Jahr Fertigungsdienstleistung 1993 kontinuierlich gewachsen und unsere Boundary- Datenkommunikation Scan-Produktlinie wurde stetig ausgebaut. Unsere Verteidigung Produkte ermöglichen eine Optimierung der Erstellung von Industrieelektronik Testanwendungen, des Debugging und der In- Medizinelektronik System-Bauteilprogrammierung, sowie der Diagnose von Halbleiter Hardware-Problemen. Telekommunikation Dienstleistungen und Innovation We are Boundary-Scan JTAG Technologies ist ein führender Anbieter von umfassenden Test- und ISP-Lösungen für die Herausforderungen, denen die Ingenieure bei den komplexen Baugruppen heute gegenüberstehen. Boundary-Scan hat sich mittlerweile in Tausenden von Anwendungen aus allen Bereichen der Elektronikindustrie als effektives Verfahren bewährt. Unter den Anwendern der Produkte von JTAG Der Hauptsitz unseres Unternehmens befindet sich in Eindhoven/Niederlande und wir verfügen über Büros Technologies finden sich Unternehmen, wie Alcatel/Lucent, Delphi, Flextronics, Honeywell, Nokia, Philips, Raytheon, Rockwell-Collins, Sanmina-SCI, Scientific Atlanta und viele andere. Sie alle profitieren von handfesten Vorteilen: Kürzere Time-to-Market Niedrigere Investitions- und Betriebskosten Schnellere, automatische Erstellung von Testvektoren und ISP-Programmierdateien Einfachere Fehlersuche bei strukturellen Fehlern Einfacherer Ablauf bei der PLD- und Flash-Programmierung in Kanada, China, Finnland, Frankreich, Deutschland, Schweden, Großbritannien und den Vereinigten Staaten. Zudem verfügen wir über ein weltweites Netz von autorisierten Distributoren und Vertretern in Nordamerika, Europa, Asien, im Nahen Osten, Südafrika und Australien. Die neusten Produktinformationen, hilfreiche Anwendungstipps oder ein Verzeichnis unserer Vertriebspartner finden Sie unter are boundary-scan. 11

12 ...We are boundary-scan. USA, Canada and Mexico United Kingdom & Ireland Finland Phone: (Toll Free) 877 FOR JTAG Phone: +44 (0) Phone: +358 (0) Fax: Fax: +44 (0) Fax: +358 (0) info@jtag.com sales@jtag.co.uk finland@jtag.com Germany Sweden Russian Federation Phone: +49 (0) Phone: +46 (0) Phone: Fax: +49 (0) Fax: +46 (0) Fax: germany@jtag.com sweden@jtag.com russia@jtag.com Europe and rest of the world China (also Malaysia, Singapore, Phone: +31 (0) Taiwan, Thailand & South Korea) Fax: +31 (0) Phone: +86 (021) info@jtag.nl Fax: +86 (021) Test- und Programmierlösungen speziell für IEEE JTAG Technologies B.V. reserves the right to make changes in design or specification at any time without notice. Data subject to change without notice. Printed February All brand names or product names mentioned are trademarks or registered trademarks of their respective holders.