Qualitätssicherung im Fertigungsprozess
|
|
- Kristina Krause
- vor 6 Jahren
- Abrufe
Transkript
1 Qualitätssicherung im Fertigungsprozess von Elektronik-Baugruppen Die zunehmende Packungsdichte und Komplexität von modernen Baugruppen erfordert besondere Qualitätssicherungsmaßnahmen im Fertigungsprozess. Zur Minimierung der Fertigungskosten wird zudem die Integration von Speicher-Programmierungen, Kalibrierungen oder die Prüfung vo n elektromechanischen Komponenten in Einheit mit der elektrischen Funktionsprüfung notwendig. Auf Grundlage des Signal-Testverfahrens mit dem Funktionstestsystem EDTest können diese Anforderungen im Hinblick auf Prüftiefe und Wirtschaftlichkeit erfüllt werden. Von der Fertigung von elektronischen Baugruppen und Geräten wird eine 100% fehlerfreie Produktion erwartet. Da der Bestückungs- und Montageprozess gemäß dem Stand der Technik alleine dieses Ziel nicht erreichen kann, muss die Produktion mit weiteren Qualitätssicherungs- und Testverfahren flankiert werden. Folgende Qualitätssicherungsmaßnahmen kommen in Betracht: Produktentwicklung unter Fertigungsaspekten Optische Inspektion (OI, automatisch AOI oder manuell MOI) und Röntgen Inspektion (AXI) InCircuit-Test (ICT) Funktionstest (FCT mit automatischem Testequipment (ATE) und/oder mit im Produkt integrierten Selbsttest (Build-In-Self-Test, BIST)) Keine der aufgeführten Maßnahmen alleine erreicht in der Praxis eine sichere Fehlerfreiheit, weshalb eine fehlerfreie Fertigung nur mit der Verwendung von mehreren aufeinander abgestimmten Maßnahmen erreicht werden kann. Entscheidend ist dabei die Abstimmung der Maßnahmen, wobei die Anwendung möglichst vieler Maßnahmen nicht zwangsläufig eine Verbesserung des Fertigungsprozesses bringt. Die aufgeführten Testverfahren erfordern zur Erzielung einer optimalen Wirkung und einer kosteneffizienten Realisierung die Einhaltung spezifischer Design-Richtlinien im Entwicklungsprozess. Die im Fertigungsprozess verwendeten Maßnahmen müssen daher bereits vor der Entwicklung definiert werden. Die Auswahl der QS- Maßnahmen muss abhängig von produktspezifischen Eigenschaften wie Bestückungstechnologie, Packungsdichte, funktionale Komplexität, Produktlaufzeit, Fertigungslosgrößen, usw. erfolgen. Die Designrichtlinien der Test-Maßnahmen werden als Design-for-Test (DFT) zusammengefasst. Hierbei muss beachtet werden, dass für jedes Testverfahren eigenständige Designrichtlinien betrachtet werden müssen. Darüber hinaus müssen zur Erzielung einer fehlerfreien Fertigung auch evtl. notwendige Begleitprozesse wie die Programmierung von Speichern/ Prozessoren und Kalibrierungen von elektrischen oder mechanischen Komponenten der Prüfling-Baugruppe beachtet werden. Im Sinne einer durchgehenden Prozesskette sollten diese mit in den Testablauf der Fertigung integriert und zusammen mit den Prüfungen dokumentiert werden. Im Hinblick auf die Rückverfolgbarkeit des Produktes muss der Prüfling mit einer Seriennummer versehen werden. Eine vollständige Auflistung aller Produktetappen von der Entwicklung bis zum fehlerfreien Produkt kann dem Bild 1 entnommen werden. Entwicklung Design-for-Manufacturing Design-for-Optical Inspection Design-for-Test Fertigung Optische Inspektion (OI) Programmierung / Kalibrierung Test Test-Dokumentation Serialisierung Bild 1: Produktetappen von der Entwicklung bis zum fehlerfreien Produkt Produktentwicklung unter Fertigungsaspekten Die Grundvoraussetzung für eine qualitätsorientierte Fertigung ist eine auf den Fertigungsprozess abgestimmte Elektronik-Entwicklung. Hierzu müssen zahlreiche Designregeln in der Layout-Entwicklung und bei der Bauelemente-Auswahl beachtet werden. Design-for-Manufacturing Zur Verdeutlichung erfolgt hier nur eine exemplarische Auswahl von Designrichtlinien: Einhaltung der IEC 7351-Richtlinien Gehäuse-Auswahl konform mit Lötprozess Bauelement-Orientierung gemäß Fertigungsrichtung verifizieren Da Qualität nicht in ein Produkt hineingetestet werden kann, müssen im Entwicklungsprozess alle Möglichkeiten zur Optimierung der Fertigung ausgereizt werden. Seite 1 von 6
2 Optische Inspektion Die optische Inspektion kann manuell, halbautomatisch (Monitor geführte manuelle Sichtprüfung) oder automatisch (AOI) durchgeführt werden. Entsprechend kann abhängig von den Fertigungsstückzahlen unter Minimierung des Investitionsbedarfes das optimale Inspektionsverfahren ausgewählt werden. Die optische Inspektion erfordert zur Durchführung keinen, oder nur einen minimalen Entwicklungsaufwand (i.d.r. mit Ableitung aus den Fertigungsdaten). Design-for-Test (OI) Für eine optimal durchführbare optische Inspektion müssen im Entwicklungsprozess folgende Design- Richtlinien eingehalten werden: Bauelemente dürfen nicht (durch andere Bauelemente, Kabel, Baugruppen) verdeckt werden Baugruppe sollte weitgehend zerlegbar sein Baugruppe möglichst mit einseitigem Layout Die optische Inspektion ist eine unmittelbare Verifikation der Fertigung. Zur schnellen Optimierung der Fertigungsprozesse sollte sie die Grundlage aller weiteren Test-Maßnahmen sein. Zur optimalen Prüfung von BGA- und verdeckten Bauelementen können ergänzend Röntgen- Inspektionssysteme (AXI) verwendet werden. InCircuit-Test Der InCircuit-Test dient der Prüfung der einzelnen Verbindungsnetze einer Leiterplatte, d.h. alle Bauelemente werden unabhängig voneinander ohne Versorgung des Prüflings getestet. Der Test prüft dabei die Funktion von bestimmten Standard-Bauelementen, sowie die Einbaulage (Polarität) und die Verbindung zur Leiterplatte. Adaption Systembedingt müssen alle Netze des Layouts einzeln kontaktiert werden. Aus dieser Anforderung leiten sich bereits eine Vielzahl von Designregeln ab, die sich mit der Kontaktierung der Bauelemente durch Prüfnadeln auseinandersetzen. Testequipment Das verwendete Testsystem muss für die maximale Anzahl von Layout-Netzen (Kanälen) der möglichen Prüflinge ausgelegt sein. Der Investitionsbedarf ist daher vom größten zu erwartenden Prüfling abhängig. Testprogramm Die Testprogramme lassen sich zur Prüfung von Standard- Bauelementen (Widerstände, Kondensatoren, Induktivitäten, Dioden, Transistoren, Optokoppler, Logikgattern, usw.) automatisch aus den Bauteillisten des ecad übernehmen. Nicht standardisierte oder komplexe ICs müssen (soweit vom InCirquit-Testsystem unterstützt) mit Funktionstests geprüft werden. Design-for-Test (ICT) Die folgenden Designregeln stellen nur eine kleine Auswahl von notwendigen Entwicklungs-Richtlinien zur Durchführung eines InCircuit-Testes dar: Alle Layout-Netze müssen mit Testpunkten erreichbar sein. In SMD-Technik muss zu jedem Netz eine Prüffläche auf der Leiterplatte erstellt werden. Bei bedrahteten Bauelementen können die Lötanschlüsse zur Kontaktierung verwendet werden. Die Prüfflächen sollten möglichst auf einer Leiterplattenseite liegen Mindestabstände zwischen Prüfflächen, von Prüfflächen zu Bauelementen und dem Leiterplattenrand müssen eingehalten werden Führungsbohrungen sollten in Leiterplatte vorsehen werden Prüfflächen möglichst gleichmäßig auf der Leiterplatte verteilen Anwendung Der InCircuit-Test ist perfekt für Baugruppen mit bedrahteten Bauelementen, geringer Packungsdichte, einfachen Standard-Bauelementen und großen Fertigungslosen geeignet. Systembedingt wird je Prüfling, unabhängig von den Fertigungs-Stückzahlen, eine strikte Einhaltung der DFT- Richtlinien und eine aufwändige Kontaktierung benötigt. Zur Flexibilisierung können die Prüfnadel-Adapter auf Kosten der Testgeschwindigkeit durch Flying-Probe Testköpfe ersetzt werden. Bei hoch integrierten Leiterplatten in Bezug auf Packungsdichte oder mit Multilayer-Layouts können oft keine Prüfnadeln gesetzt werden, weshalb der InCircuit- Test dann unmöglich wird. Bei Kombination von InCircuit- und Funktionsprüfung muss geprüft werden, ob die InCircuit-Adaption mit Prüfnadeln für die Funktionsprüfung geeignet ist. Häufig müssen Störeinflüsse durch Testnadeln an nicht benötigten Signalen durch einen zweistufigen Adapter eliminiert werden. Befinden sich komplexe Bauelemente auf dem Prüfling, so ist eine Prüfung nicht oder nur mit hohem Aufwand möglich, d.h. der Vorteil der einfachen Testprogramm- Erstellung auf Basis der Fertigungsdaten ist nur bei Realisierung einer geringen Prüftiefe erreichbar. Seite 2 von 6
3 Funktionstest Der Funktionstest prüft die funktionellen Eigenschaften eines Prüflings, d.h. eines Bauelementes, einer Baugruppe bzw. eines vollständigen Gerätes. Der Prüfling wird bei elektrischer Versorgung in einen definierten Zustand gebracht, mit bestimmten Stimuli angeregt und anschließend die Reaktion getestet (vgl. Definition Testbarkeit). Das Testsystem simuliert dabei das Umfeld des Prüflings, d.h. die Sensor-Eingänge werden mit Referenzen und die Aktor-Ausgänge mit Ersatzschaltungen verbunden (Bild 2). Im Interesse von stabilen Messergebnissen und einer präzisen Fehlerlokalisierung werden möglichst keine realen Sensoren und Aktoren verwendet. Darüber hinaus wird durch die Nachbildung der realen Sensoren und Aktoren vielfach ein zerstörungsfreier Test von fehlerhaften Prüflingen bei entsprechender Prüfplanung ermöglicht. Beispielsweise wird an einen Temperatur- Sensoreingang eine Spannungsquelle und an einen Steuerausgang eine elektronische Last geschaltet. Testschritte Schnittstellen Multiplexer Digital-Out Programmer Zustand Stimulation Referenzen Sensor- Simulation Schnittstellen Sensor- Eingänge Versorgung Testfirmware (BIST) Prüfling Reaktion Aktor- Ausgänge Test-A blaufsteuerung Testadapter Ersatz- Schaltungen Test-Controller Schnittstellen Prog. Verstärker Spannungsquellen Stromquellen Signalgeneratoren Spannungs- Messung Multiplexer Digital-In Bild 2: Darstellung der vom Testsystem modellierten Prüflingsumgebung Adaption Zur elektrischen Stimulation und Messung der Reaktion werden Testpunkte an den Sensor- und Aktor- Anschlüssen des Prüflings benötigt. I.d.R. kann hierzu die natürliche Kontaktierung, d.h. die für die Anwendung vorgesehenen Kontakte des Prüflings, verwendet werden. Die Auswahl der technischen Kontaktierung ist daher nur von wirtschaftlichen Erwägungen und den Prüflosgrößen abhängig. Folgende Adaptionen sind aufgrund der meist überschaubaren Anzahl an Testpunkten möglich: Kabelsatz mit einzelnen Kupplungsverbindern zu den Prüfling-Steckverbindern Mechanisch angetriebene Kontakte zu den Prüfling- Steckverbindern (zur Reduzierung der Einsteckkräfte) Prüfnadelbrett Bild 3: Beispiel-Testadapter inkl. Prüfung von Steckverbindern, Ausmessung/ Kalibrierung der Position von Gabellichtschranken, Helligkeitsmessung LEDs, mech. Betätigung Taster, Lesen 2D-Barcodes, Schalldruckmessung Lautsprecher. Testequipment Neben der Adaption des Prüflings werden zur Funktionsprüfung folgende Test-Komponenten benötigt: Instrumente zur elektrischen Stimulation (Spannungsquellen, Stromquellen, Signalgeneratoren, Digital-Output, usw.) Instrumente zur Messung der Reaktion (Spannungsmessung mit programmierbaren Vorverstärker, Digital-Input, usw.) Schnittstellen zur Kommunikation mit Prüfling (z.b. USB, RS232, I2C, CAN, usw.) Test-Ablaufsteuerung Als Instrumente zur Stimulation und Messung des Prüflings werden im einfachsten Fall steuerbare Laborgeräte (z.b. über USB, GPIB, RS232, usw.) und die vom Steuerungscomputer bereitgestellten Schnittstellen verwendet. In der Praxis führt diese Vorgehensweise jedoch zu sehr unübersichtlichen und im Fertigungsprozess nicht handhabbaren Testaufbauten. Üblicherweise werden daher die für ein Prüfprojekt erforderlichen Instrumente und Schnittstellen auf Steckkartenbasis oder wie bei EDTest als Kompaktgerät zusammengefasst (Bild 4). Testsysteme auf Steckkartenbasis erfordern zur Adaption zum Prüfling einen aufwändigen Kabelsatz. Insbesondere bei wechselnden Projekten ergeben sich daraus hohe Rüstaufwände bzw. komplexe Prüfstände. Zur Prüfung von Bauelementen und Baugruppen hat sich daher das mit EDTest realisierte Testadapterkonzept bewährt, bei dem an ein Kompakttestgerät direkt der zur Kontaktierung des Prüflings erforderliche Testadapter angeschlossen wird. Dieses bei Bauelementen seit mehr als 20 Jahren praktizierte Testkonzept wurde mit EDTest erstmals auf die Prüfung von Baugruppen übertragen. Seite 3 von 6
4 bewirkt die Stimulation. Anschließend erfolgt die Messung der Reaktion mit einer Bewertung, die zu einem Pass oder Fail des Testschrittes führt. Zur Bewertung werden aus den Messwerten Kennwerte ermittelt, welche mit den Sollwerten eines fehlerfreien Referenzprüflings unter Vorgabe von Toleranzen verglichen werden. Sind alle Testschritte Pass, so gilt der Prüfling als funktionsfähig. Bild 4: Darstellung eines EDTest- Testsystems mit einem EDT1000- Controller und Nadelbett -Testadapter Der EDTest-Controller EDT1000 beinhaltet in der Grundausstattung alle zur Funktionsprüfung von Prüflingen üblicherweise benötigten Instrumente und bietet darüber hinaus ein flexibles Erweiterungskonzept. Über einen integrierten USB-Hub können beliebige USB- Komponenten mit in das Testsystem integriert werden. Damit können Instrumente für HV-Quellen und Messungen, HF-Generatoren und Messgeräte, sowie beliebige Programmer für MikroController und Speicher, Schnittstellen-Gateways, usw. mit in den Testablauf integriert werden. Darüber hinaus können mit sogenannten ExtensionBoards beliebige Messschaltungen in den EDTest-Controller integriert werden (Bild 5). Durch die Verwendung des EDTest-Controllers als Basis für die Funktionsprüfung ist nur ein geringer Investitionsbedarf notwendig. Die Test-Ablaufsteuerung ist die Basis jeder Funktionsprüfung. Das EDTest Testsystem bietet neben dem Testablauf auch Funktionen zur Fehlerfindung bzw. Reparatur und Verwaltungs-Funktionen, wie eine Seriennummernverwaltung, Testdatenbanken mit statistischer Auswertung, sowie die automatische Dokumentation der Testprogramme und die Protokollierung der Testdurchläufe. An die Programmierung der Testschritte werden hohe Anforderungen in Bezug auf eine schnelle Realisierbarkeit und hohe Flexibilität gestellt. Die Steuerung der Testsystem-Instrumente sollte daher ohne Kenntnisse einer Programmiersprache erfolgen können. Test-PC OPTION: USB-Geräte (z.b. Leistungs/ HV-Netzteile, HF-Signalgeneratoren, usw.) OPTION: USB-Geräte (z.b. Programmer, Schnittstellen-Gateways) PowerSupplies (OPTION) Quellen, Signale, Messtechnik, Ein-/Ausgänge, Relais, Multiplexer Daten-Schnittstellen, Display,... Extension Boards (OPTION) USB Rs 232 USB USB Hub EDTest Test-Software Protokoll- Drucker Etiketten- Drucker EDT1000 Testprogramm Ein Testprogramm besteht wesentlich aus einer Testschrittliste und sollte darüber hinaus alle für die Testdurchführung erforderlichen Daten (z.b. MikroController-Firmware, Kalibrierdaten, DLLs, usw.) beinhalten. EDTest speichert daher alle zur Funktionsprüfung erforderlichen Daten in einer Datei, so dass in der Fertigung keine Installationsaufgaben notwendig werden. Die Testschritte prüfen die einzelnen funktionellen Eigenschaften des Prüflings, d.h. jeder Testschritt versetzt den Prüfling zunächst in einen definierten Zustand und Testadapter (TA-Lab) Bild 5: Erweiterungskonzept des EDTest-Testsystems mit Labortestadapter für kundenspezifische Adaptionen Seite 4 von 6
5 Beim EDTest Testsystem stehen zur Verwendung der Instrumente einfache Kommandos zur Verfügung. Beispielsweise wird die PowerSupply 1 zur Versorgung eines 5V-Prüflings mit PS #1 5V 100mA aktiviert. Die Kommandos können im Prüfablauf, oder auch einzeln in einem Terminal-Modus ausgeführt werden. Zur universellen Implementierung von Prüflings- Steuerprotokollen und Erweiterungskomponenten sollte eine Standard-Programmiersprache verwendet werden können, so dass evtl. vorhandene Quelltextsequenzen genutzt werden können. EDTest verwendet hierzu die Microsoft VisualStudio.NET Programmiersprachen, d.h. die Testschritte können beispielsweise in C# oder VisualBasic ausprogrammiert werden. In die programmierten Quelltextsequenzen können die EDTest Kommandos des Controllers einfach integriert werden. Jeder einzelne Testschritt des Testprogramms kann gemäß seinem Testschritt-Typ sowohl als Kommando (C), als Makro (M), d.h. als Kommandoliste oder als Funktion (F), d.h. in C# oder VB programmiert werden. Bei Funktionen wird als Kommando direkt der Funktionsaufruf aus der VisualStudio-DLL angegeben (Bild 6). Bild 6: Darstellung eines EDTest-Testprogramms mit Testschritttabelle und Verweise auf die Testprogramm- Einstellungen, -Dateien, -Makros und PositionsGrafiken (zur Fehlerfindung). Prüfplanung Vor der Ausprogrammierung der Prüfschritte muss anhand der Prüflingsdaten eine Prüfplanung vorgenommen werden. Abhängig von der geforderten Prüftiefe und der Beschaffenheit des Prüflings kann die Planung der Testschritte mit zwei Verfahrensweisen erfolgen: Device-Test Signal-Test Device-Test-Verfahren Beim Device-Test erfolgt der Test des Prüflings wie in der Applikation, d.h. er wird als Black-Box betrachtet. Die Testschritte werden so definiert, dass das applikationstypische Verhalten des Prüflings nachgebildet wird. Ausgehend vor der positiven Prüfung der Prüfling- Funktionen wird auf die Funktion der internen Schaltungskomponenten geschlossen. Dieses Verfahren findet bedingt durch die geschlossene Bauform wesentlich bei Bauelementen und Geräten Anwendung. Neben der Funktionsprüfung im Fertigungsprozess ist dieses Verfahren auch zur Gestaltung von Prüfständen zur Design-Verifikationen und Sicherheitsprüfung im Entwicklungsprozess geeignet. Zur Prüfplanung wird demnach eine Funktionsbeschreibung bzw. ein Datenblatt benötigt. Signal-Test-Verfahren Beim Signal-Test erfolgt der Test des Prüflings losgelöst von der Applikation. Bei diesem Verfahren werden die einzelnen Signalpfade der Baugruppe einer Prüfung unterzogen. Hierzu wird beginnend von der Stimulation der Prüfling-Signal-Eingänge, gemäß dem Signalpfad entsprechend dem Prüfling-Schaltplan, die Auswirkung auf die Aktor-Ausgänge geprüft. Alternativ zur Stimulation von Prüfling-Eingängen kann die Stimulation von Signalpfaden auch innerhalb des Prüflings z.b. durch die Testsoftware eines Prüfling-MikroControllers erreicht werden. Durch Prüfung aller Signalpfade kann so eine deutlich höhere Prüftiefe als durch den Test der Applikationsfunktion erreicht werden. Speziell zur Prüfung von Baugruppen ergeben sich gegenüber dem Device-Test durch die Prüfung der Signalpfade neben der höheren Prüftiefe weitere Vorteile: Bauelemente, die nicht unmittelbar funktionsrelevant sind, wie Pull-Up Widerstände, können mit in den Prüfprozess integriert werden. Präzise Fehlerlokalisierung mit Zuordnung zu Schaltplanbereichen Testprogramm ist unabhängig von der Applikationssoftware, d.h. Änderungen bzw. Weiterentwicklungen an der Prüfling-Software erfordern keine Änderungen am Testprogramm. Ermöglicht die einheitliche Prüfung von Baugruppen, die in verschiedenen Produkten eingesetzt werden Prüflinge mit MikroController werden während des Testablaufes mit einer universellen prozessorabhängigen Testsoftware betrieben, d.h. diese muss je Prozessortyp nur einmal erstellt werden. Seite 5 von 6
6 Die Testsoftware wird vom Testsystem mit in den Prüfprozess integriert und beinhaltet folgende Funktionalitäten: Zugriff Read/Write auf kompletten Adressbereich des Prozessors Zugriff auf alle IOs Speicher: Test mit Read/Write-Operationen ROM: CheckSum-Test Selbsttest Prozessor RESET Prozessor Mittels der Testsoftware werden möglichst weitgehende Selbsttest-Funktionen (BIST) mit in den automatischen Prüfprozess integriert. Die Programmierung der Testsoftware in den Prüfling erfolgt als Bestandteil der Funktionsprüfung und fließt so mit in die Bewertung des Prüflings ein. Die Programmierung der endgültigen Applikationssoftware kann ohne Aufwand mit in die Funktionsprüfung integriert werden. Die Prüfplanung erfolgt auf der Basis des Prüfling- Schaltplanes, d.h. applikationsabhängige Funktionen aus Produktbeschreibungen dürfen nicht zur Testschrittplanung herangezogen werden. Design-for-Test (FCT) Zur Realisierung der Funktionsprüfung einer Baugruppe kann die erzielbare Prüftiefe durch Einhaltung der folgenden Design-Regeln positiv beeinflusst werden: Kontaktierung der Prüfling-Sensoren und -Aktoren (abhängig von Test-Losgrößen) Erreichbarkeit möglichst aller Signalpfade bzw. Separation von Signalpfaden Programmierschnittstellen für Prozessoren und Speicher zugänglich machen Kommunikations-Schnittstelle zu Prozessoren vorsehen (zur Steuerung von Testsoftware und BIST- Funktionen) Verschaltung von BoundaryScan Bauelementen Leuchtdioden, der exakten Position von SMD-Gabellichtschranken auf den Lötpads, des Schalldruckes von Signalgebern, der Betätigungskraft von Tastern, usw. genannt. Zur Zusammenfassung von Fertigungsabläufen können Prozesse wie die Programmierung von Speichern, Prozessoren oder PLDs, elektrische oder mechanische Kalibrierungen oder Serialisierungen von Baugruppen mit in den Ablauf der Funktionsprüfung integriert werden, so dass zeitaufwändige Mehrfachadaptionen des Prüflings vermieden werden können. Abhängig von den Prüf-Losgrößen können sehr einfache Adaptionen über Steckverbinder oder wenige Testpunkte realisiert werden. Mit dem Testequipment zur Funktionsprüfung kann sowohl die Prüfung im Fertigungsprozess und in der Wareneingangsprüfung, als auch die Design-Verifikation/ Spezifikationsprüfung und Sicherheitsprüfung in der Entwicklung durchgeführt werden. Zusammenfassung Zu Erzielung einer fehlerfreien Fertigung ist eine Produktentwicklung unter Beachtung des Fertigungsverfahrens unabdingbar. Die optische Inspektion dient der unmittelbaren Verifikation der Fertigung und ergänzt perfekt eine nachfolgende Funktionsprüfung, da auch funktional nicht wirksame Bauelemente geprüft werden. Im Vergleich zum InCircuit-Test ist die Funktionsprüfung eine äußerst vielseitige Qualitätssicherungsmaßnahme für den Fertigungsprozess. Insbesondere unter dem Aspekt der immer höheren Packungsdichte und Komplexität von Baugruppen kann die Prüfung zunehmend nur durch die Funktionsprüfung vorgenommen werden. Auf der Basis des universellen EDTest-Testsystems lässt sich ein hochwertiger und kostenoptimierter Fertigungsprozess von Kleinserien bis zu Großserien bei geringem Investitionsbedarf realisieren. Grundsätzlich kann die Funktionsprüfung eines Prüflings - entgegen anderer Qualitätssicherungsmaßnahmen - auch ohne die Realisierung von DFT-Richtlinien durchgeführt werden. Anwendung Die Funktionsprüfung kann zur Prüfung von Bauelementen, Baugruppen und Endgeräten eingesetzt werden. Bei der Baugruppenprüfung können abhängig von der Adaption Flachbaugruppen, Flexleiterplatten, als auch teilmontierte Baugruppen mit mechanischen Komponenten geprüft werden. Neben den elektrischen Eigenschaften kann die Prüfung von mechanischen und physikalischen Kennwerten mit in den Prüfprozess integriert werden. Beispielhaft sei die Prüfung der Leuchtintensität von Dipl.-Ing. Udo Metzkow WesTest GmbH Hegelsbergstraße Kassel Seite 6 von 6
EFFEKTIVER UND VOLLSTÄNDIGER BAUGRUPPENTEST BERÜCKSICHTIGUNG DER ANFORDERUNGEN BEI SCHALTUNGSENTWICKLUNG UND BEIM LEITERPLATTEN- DESIGN
EFFEKTIVER UND VOLLSTÄNDIGER BAUGRUPPENTEST BERÜCKSICHTIGUNG DER ANFORDERUNGEN BEI SCHALTUNGSENTWICKLUNG UND BEIM LEITERPLATTEN- DESIGN Jörg Giebel Prüfplanung, EPSa GmbH Warum testen wir? Unsere Kunden
MehrCASCON als Funktionstester. Ingenieurbüro Winklhofer COE der Göpel electronic GmbH
CASCON als Funktionstester Ingenieurbüro Winklhofer COE der Göpel electronic GmbH Ingenieurbüro Winklhofer über 20 Jahre Hardwareentwicklung 18 Jahre Fertigung (DFM / als Entwickler) 16 Jahre Testentwicklung
MehrGet the total coverage! Enrico Lusky, Vertriebsleiter Deutschland. Mitarbeiter: 152
Enrico Lusky, Vertriebsleiter Deutschland GÖPEL electronic GmbH 2009 Get the total coverage! Gegründet: Mitarbeiter: 152 1991 in Jena Geschäftsbereiche: JTAG/ Boundary Scan Testsysteme (BST) Automatische
MehrBild: Verschieden Flying Probe Tester von TAKAYA am Standort in Düsseldorf. Vorn: Das Flaggschiff APT-1400F
BGA-Verbindungen testen ohne Testpunkte Wie das Zusammenspiel elektrischer Prüfverfahren auch diejenigen Fehler findet, die eigentlich unauffindbar sind Das Szenario ist bekannt: Baugruppen werden kleiner
MehrEDTest - Electronic Device Testsystem. Testsequenzer für die Testautomatisierung
EDTest - Electronic Device Testsystem Testsequenzer für die Testautomatisierung Universelle-Testsequenzer-Software zur automatischen Testablauf-Steuerung von Test-Protokollierung/ Dokumentation, Datenbank,
MehrEffektiver Einsatz von unterschiedlichen Testverfahren in der Elektronikfertigung
Effektiver Einsatz von unterschiedlichen Testverfahren in der Elektronikfertigung Referent Christoph Ostermöller BMK professional electronics GmbH Augsburg Tests in der Elektronikfertigung Welche Testarten
MehrElektronik-Outsourcing-Partner mit Spezial-KnowHow
Elektronik-Outsourcing-Partner mit Spezial-KnowHow seit 1987 www.westest.de Produkte Leistungen Daten und Fakten Gründung 1987, Sitz in Kassel 22 Mitarbeiter, davon 11 Mitarbeiter in der Entwicklung Partner
MehrTest- und Prüfverfahren in der Elektronikfertigung
Mario Berger Test- und Prüfverfahren in der Elektronikfertigung Vom Arbeitsprinzip bis Design-for-Test-Regeln VDE VERLAG GMBH Berlin Offenbach Vorwort 5 Widmung 7 Danksagung 7 1 Motivation 15 2 Die Fehlermatrix
MehrEDTest - Electronic Device Testsystem. Testsequenzer für die Testautomatisierung
EDTest - Electronic Device Testsystem Testsequenzer für die Testautomatisierung Universelle-Testsequenzer-Software zur automatischen Testablauf-Steuerung von Test-Protokollierung/ Dokumentation, Datenbank,
MehrVon der optischen Prüfung zum kombinierten Test Einsatzmöglichkeiten für AOI-Systeme
Von der optischen Prüfung zum kombinierten Test Einsatzmöglichkeiten für AOI-Systeme Jens Kokott GÖPEL electronic GmmH Inhalt Visuelle Inspektion Ein Prüfverfahren stößt an Grenzen AOI-Systeme Klassische
MehrJUILIET- JTAG Unlimited Tester Am Beispiel eines Automotive-Projekts. Ingenieurbüro Winklhofer
JUILIET- JTAG Unlimited Tester Ingenieurbüro Winklhofer Ingenieurbüro Winklhofer über 20 Jahre Hardwareentwicklung 20 Jahre Fertigung (DFM / als Entwickler) 18 Jahre Testentwicklung (DFT / ICT / FKT) 16
MehrDirect Test. Übersicht der Systemkomponenten. NT Control. Testbox. Prüfmodule. Testpunkteinheit
Direct Test Testsystem zur Prüfung von Backpanels Subracks Cabinets Direct Test Übersicht der Systemkomponenten NT Control Testbox Prüfmodule Testpunkteinheit NT Control Die Bedienungssoftware NT Control
Mehremc2-2 expandable modular configurable controller, 2.generation
Produkt-Beschreibung emc2 ist ein Testsystem, dass speziell für die Ansteuerung von LCD Modulen entwickelt wurde emc2-2 ist die 2.Generation des Testsystems Typische Anwendungen Wareneingangsprüfung Produktqualifizierung
MehrErweiterung des klassischen In-Circuit-Test ICT durch kombinierte Testverfahren
Erweiterung des klassischen In-Circuit-Test ICT durch kombinierte Testverfahren Ernst Neppl / Michael Konrad / Matthias Vogel Zollner AG, Zandt / Konrad Technologies, Radolfzell Kurzfassung Im Baugruppentest
Mehralphatester SPI FPT IBV - Lotpasteninspektion
Elektronik Inspektion Testlösung Test AOI BSC FKT - Automatische JTAG Funktionstest / Boundary-Scan Optische - End-Of-Line Inspektion - BurnIn alphatester AXI ICT ATS - Automatische In-Circuit Automotive
MehrDipl.-Ing. (FH) Lothar Stoll, Geschäftsführer Tecs Prüftechnik GmbH,
Dipl.-Ing. (FH) Lothar Stoll, Geschäftsführer Tecs Prüftechnik GmbH, lothar.stoll@tecs-prueftechnik.de, www.tecs-prueftechnik.de Prüfkosten reduzieren durch optimale Teststrategie Steigende Komplexität,
MehrThermostat/Temperaturwächter
Seite 1 von 8 Thermostat/Temperaturwächter Inhaltsverzeichnis 1. Einleitung... 2 2. Eigenschaften... 2 2.1 Grundlegende Eigenschaften... 2 2.2 Schaltverhalten... 3 3. Programmierung... 4 3.1 Programmierung
MehrEigenschaften GCK-972 RS232
GCK-972 Freiprogramierbarer Tastaturkontroller Freiprogramierbarer Tastatur-Kontroller für Matrix bis 8x16 Tasten mit 2. Ebene. Teach-In und Download, Strings mit Pausen. Full-N-Key Rollover, Piepser,
MehrEDTest - Electronic Device Testsystem
ED Test FAIL? OK EDTest - Electronic Device Testsystem Bauelemente - Test/Screening, Qualifizierung Baugruppe - Funktionstest mit Programmierung und Kalibrierung, Dauertest (RunIn/ BurnIn), Design-Verifikation
MehrENGINEERING INDUSTRIALIZATION (NPI) SUPPLY CHAIN MANAGEMENT PRODUCTION AFTER SALES. Ihr Partner für Industrie-Elektronik
ENGINEERING INDUSTRIALIZATION (NPI) SUPPLY CHAIN MANAGEMENT PRODUCTION AFTER SALES Ihr Partner für Industrie-Elektronik Ihr Partner für Industrie-Elektronik Die MINEL AG ist als Schweizer Dienstleistungsunternehmen
MehrEmbedded Systems Hardware Entwicklung. Summer School 2017
Embedded Systems Hardware Entwicklung Summer School 2017 Inhalt des Workshop Theorie Grundlagen Bauelemente Theorie elektronische Schaltungen und Geräteentwicklung Theorie Schaltungsentwurf mit Eagle Praxis
MehrVom produktspezifischen Testsystem zum flexiblen Testzentrum. kleiner bis mittlerer Stückzahlen
MPH, Reutlingen Vom produktspezifischen Testsystem zum flexiblen Testzentrum vor dem Hintergrund kleiner bis mittlerer Stückzahlen Thomas Rauer, Marketing & Vertrieb +49 (7121) 3 84 30 20 thomas.rauer@mph
MehrEntwicklungsboard 16F1824
Entwicklungsboard 16F1824 Inhaltsverzeichnis 1. Einleitung...2 2. Grundlegende Eigenschaften...2 2.1 Grundlegende Eigenschaften...2 2.2 Optionale Eigenschaften...3 3. Programmierung...3 4. Hardware...5
MehrPrüfung von Leiterplatten-Baugruppen LPBG
VDI/VDE-Gesellschaft Feinwerktechnik (Hrsg.) Prüfung von Leiterplatten-Baugruppen LPBG Empfehlungen der VDI/VDE-Gesellschaft Feinwerktechnik Ausschuß Leiterplatten-Baugruppentest Carl Hanser Verlag München
Mehrle u d o teckm T-S A erc h Et 526
526 Busklemmen für die Leiterkarte 527 528 534 Die effiziente I/O-Lösung für Serienanwendungen 530 532 533 Produktübersicht Systembeschreibung Technische Daten 535 535 EtherCAT-Koppler EtherCAT-Koppler
MehrM3000 M4000. Bauelemente-Testsysteme. für Universal-Testmaschinen SZ-M3000/ Unimet M4000. Familientestadapter. Spezial-Testadapter
M3000 M4000 Bauelemente-Testsysteme für Universal-Testmaschinen SZ-M3000/ Unimet M4000 Familientestadapter Spezial-Testadapter OpAmps/ Koparatoren AD/DA-Wandler Optokoppler Komplexe Mix-Signal Bauelemente
MehrHerbert Bernstein. Das EÄGLE. Handbuch. Der Crash-Kurs fürdas"bekdhnteste Leiterplattendesign. Mit 175 Abbildungen. Franzis
Herbert Bernstein Das EÄGLE Handbuch Der Crash-Kurs fürdas"bekdhnteste Leiterplattendesign Mit 175 Abbildungen Franzis i in Inhalt 1 Einführung 11 1.1 Programmstart 12 1.1.1 Grundlagen 13 1.1.2 Allgemeine
MehrAutomatisierung kompletter Kühlanlagen mittels LabVIEW und PAC-Systemen
Automatisierung kompletter Kühlanlagen mittels LabVIEW und PAC-Systemen "Auf der Grundlage des PAC-Konzeptes mit CompactFieldPoint und LabVIEW 8.6.1 wurde innerhalb kürzester Zeit eine voll funktionsfähige
MehrEntwicklung und Fertigung
Entwicklung und Fertigung Über uns Das Unternehmen Pfeifer und Seibel Seit mehr als 50 Jahren schreiben wir bei Pfeifer und Seibel Erfolgsgeschichte auf dem Beleuchtungsmarkt. Wir begreifen Licht als wichtiges
MehrPRÜFADAPTIONEN - MECHANISCH Adapter Grundgeräte und Kassetten
PRÜFADAPTIONEN MECHANISCH Adapter Grundgeräte und Kassetten für Incircuit und FuntionstestAnwendungen Irmler GmbH, Hauptstrasse 4, DE4945 Drebber, Fon +49 (5445) 98699, Fax +49 (5445) 9869928 Prüfadaptionen
MehrDatenblatt. EDTest - Electronic Device Testsystem. Universeller Test-Controller EDT1000 zur Funktionsprüfung von elektronischen Baugruppen
EDTest - Electronic Device Testsystem Datenblatt Universeller Test-Controller EDT1000 zur Funktionsprüfung von elektronischen Baugruppen WesTest GmbH Hegelsbergstraße 21 34127 Kassel Tel.: 0561 98975-0
MehrBROSE Systeme GmbH. Gegründet 1964 von Hans-D. Brose Eigentümer geführtes Unternehmen 5 Mitarbeiter ISO 9001 Zertifiziert
BROSE Systeme GmbH Gegründet 1964 von Hans-D. Brose Eigentümer geführtes Unternehmen 5 Mitarbeiter ISO 9001 Zertifiziert Elektronik Entwicklung EMV Troubleshooting Qualitätssicherung Softwareerstellung
MehrPRODUCT GUIDE RUTRONIK ELECTRONICS WORLDWIDE A5-159 / A5-262 BECK ELEKTRONIK BAUELEMENTE A5 265 ENDRICH BAUELEMENTE A5.124 FARNELL ELEMENT14 A5, 559
Das Angebot der Distributoren Mikroprozessoren Mikrocontroller ( 8, 16, 32 und 64 Bit) DSPs Speicher-ICs Kommunikations-ICs Schnittstellen-ICs HF-ICs AKTIVE BAUELEMENTE Standardlogik-ICs programmierbare
MehrDTMF-Decoder-Modul mit 8 Ausgängen & Morse-Transponder
DJS Electronics Ltd. cstech.co.uk DTMF-Decoder-Modul mit 8 Ausgängen & Morse-Transponder Eigenschaften DTMF-Decoder mit 8 Ausgängen, davon 4 vier über 12-V-Relais und vier mit offenem Collector Jeder Ausgang
MehrElectronic Design Automation (EDA) Systementwurf
Electronic Design Automation (EDA) Systementwurf Systembegriff Beispiel Antiblockiersystem Signalverarbeitung Hardware/Software- Partitionierung Hardware oder Software? Electronic Design Automation Systementwurf:
MehrElektrotechnik (Bachelor) Vertiefungsrichtung: Mikro- & Telekommunikationselektronik
Elektrotechnik (Bachelor) Vertiefungsrichtung: Mikro- & Telekommunikationselektronik Sprecher 2 Sprecher: A Thomas Bertel Wissenschaftlicher Mitarbeiter Labore: Elektronik, Mikro- & Telekommunikationselektronik
MehrÜberspannungsschutz prüfen in der Fertigung
Überspannungsschutz prüfen in der Fertigung www..de Alles wird smart, immer mehr vernetzte Elektronik breitet sich aus und Überspannungssschutz wird immer wichtiger, um einen reibungslosen Betrieb zu gewährleisten.
MehrABex eine universelle Prüfplattform für den Funktionstest, In Circuit Test und Halbleitertest
ABex eine universelle Prüfplattform für den Funktionstest, In Circuit Test und Halbleitertest Matthias Vogel Konrad GmbH m.vogel@konrad technologies.de ATE Systeme Baugruppentest mit unterschiedlichen
MehrDALI RM8 PWM DALI RM8 1-10V DALI RM V
DALI RM8 PWM DALI RM8 1-10V DALI RM16 1-10V Datenblatt Interface DALI auf 0-10V mit Einschaltrelais DALI-Schnittstellenmodul zum Ansteuern von Lasten mit 0-10V Steuereingang (DT5) Art. 86458668 (RM8 PWM)
MehrArduino APRS Modem DL1STL. Wir wollten im Klub einen ARPS Tracker bauen. Dabei sollte das Gerät
Arduino APRS Modem DL1STL Wir wollten im Klub einen ARPS Tracker bauen. Dabei sollte das Gerät individuell programmierbar sein, Temperatur und Spannungen messen können, optional auch ein Display steuern,
MehrSRW Mitterfelner Fasanenweg Forstinning - Tel:
SRW Mitterfelner Fasanenweg 2-85661 Forstinning - Tel: 08121 41321 - email: info@srw-hydro.de Nachdruck aus: Schleusensteuerung mit Kleinst-SPS Wasserkraft & Energie Nr. 3/2004 Verlag Moritz Schäfer Paulinenstraße
MehrACS - Power Source Die komplette Netzsimulation
ACS - Power Source Die komplette Netzsimulation Versorgungsnetze Flugzeugbordnetze AC / DC Betrieb 1 und 3-Phasenbetrieb lineare Endstufe Leistung von 400-4600 VA Spannungsbereich Standard 0-300 V AC 0-425
MehrWarum manche AOI-Bediener ruhiger schlafen
Warum manche AOI-Bediener ruhiger schlafen Über die Vorteile einer Referenzdatenbank in der AOI-Software Eine bekannte Situation Jeder Bediener von Automatischen Optischen Inspektionssystemen kennt diese
MehrModel-based Design für medizintechnische Anwendungen
Model-based Design für medizintechnische Anwendungen Dr. Momme Winkelnkemper Projektumfeld Entwicklungsdienstleister Algorithmen Datenanalyse U.a. für Messgeräte- Entwicklung 2 Projektumfeld Entwicklungsdienstleister
MehrKompetenz und Flexibilität. vom Prototyp bis zur Serie.
Kompetenz und Flexibilität vom Prototyp bis zur Serie. Ihr Partner in Sachen Elektronik Von Prototypenbau bis zur SMD-Bestückung: Der Geschäftsbereich Elektronikfertigung bei BIELER+LANG steht für Full-Service
MehrGrundlagen der Bauelemente. Inhalt. Quellen: Autor:
Grundlagen der Bauelemente Inhalt 1. Der micro:bit... 2 2. Der Stromkreis... 4 3. Die Bauteile für die Eingabe / Input... 5 4. Die Bauteile für die Ausgabe / Output... 5 5. Der Widerstand... 6 6. Die Leuchtdiode
MehrUSB-Isolator. Version 1.2. (C) R.Greinert 2009
USB-Isolator Version 1.2 (C) R.Greinert 2009 Bestückung der Unterseite: 7 x Kondensator 100nF 4 x Widerstand 3300 Ohm 3 x Widerstand 1600 Ohm 4 x Widerstand 24 Ohm 1 x IC ADuM4160 [ braun/beige ] [ 332
Mehr3. Hardware CPLD XC9536 von Xilinx. CPLD / FPGA Tutorial
3. Hardware 3.1. CPLD XC9536 von Xilinx Programmierbare Logikbausteine sind in unzähligen Varianten verfügbar. Die Baugrößen reichen von 20 bis 1704 Pins. Der Preis beginnt bei wenigen Euro für einfache
MehrZeitrelais PL0045 mit optionaler PC-Anbindung
Zeitrelais PL0045 Inhaltsverzeichnis 1. Einleitung... 3 2. Eigenschaften... 3 2.1 Grundlegende Eigenschaften... 3 2.2 Optionale Eigenschaften... 3 3. Programmzustände... 4 3.1 Power-on-Reset... 4 3.2 COUNTDOWN-Modus...
MehrFaszination Messtechnik
28.10.2014 Faszination Messtechnik 2014 1 A g e n d a Multiplexer oder Matrix? Grundprinzip Konfiguration von Schaltmatrix und Multiplexer Welche Konfiguration ist die Optimale? Praxis Schaltmodule dezentral
MehrProjekt Beispiele: HiL-Testsysteme
Projekt Beispiele: HiL-Testsysteme Übersicht realisierte Projekte Übersicht Projektverlauf Spezifikation eines HIL-Systems Aufbau eines HIL-Systems Inbetriebnahme Testbetrieb Übersicht realisierte Projekte
MehrThermostat PL0045 mit Rampenfunktion. und Schaltausgang. Bedienungsanleitung
Seite 1 von 8 Bedienungsanleitung Thermostat PL0045 mit Inhaltsverzeichnis 1. Einleitung...2 2. Eigenschaften...2 2.1 Grundlegende Eigenschaften...2 2.2 Schaltverhalten...4 3. Programmierung...4 4. Hardware...6
MehrGrundlagen der Elektrotechnik Teil 3
Grundlagen der Elektrotechnik Teil 3 Dipl.-Ing. Ulrich M. Menne ulrich.menne@ini.de 18. Januar 2015 Zusammenfassung: Dieses Dokument ist eine Einführung in die Grundlagen der Elektrotechnik die dazu dienen
MehrKurzbeschreibung der Standard-Softwaremodule
Kurzbeschreibung der Die folgenden Software-Module sind in jeder PC-Applikation von Bi-Ber standardmäßig enthalten. Sie können durch vielfältige Zusatzmodule oder kundenspezifische Funktionen erweitert
MehrLAN-Schaltinterface LAN-R01
Seite 1 von 9 LAN-Schaltinterface Inhaltsverzeichnis 1. Einleitung... 2 2. Eigenschaften... 2 2.1 Grundlegende Eigenschaften... 2 2.2 Hardwarevoraussetzungen... 3 3. Bedienung... 3 4. Programmierung...
MehrSchwerpunkt Mechatronik (SP 31)
Schwerpunkt Mechatronik (SP 31) Koordinator: Veit Hagenmeyer KARLSRUHER INSTITUT FÜR TECHNOLOGIE (KIT) KIT Universität des Landes Baden-Württemberg und nationales Forschungszentrum in der Helmholtz-Gemeinschaft
MehrKombination 3D-Röntgen- (AXI) und AOI-Inspektion in der Serie
Kombination 3D-Röntgen- (AXI) und AOI-Inspektion in der Serie Von Consumer-Elektronik bis zur Medizintechnik Andreas Türk 15.06.2016 Das Sichtbare und das Unsichtbare 15.06.2016 2 AOI Kombination QFN,
MehrTestfunktionen. Übersicht
C Übersicht OP35 und OP45 testen automatisch nach dem Anlegen bzw. Einschalten der Versorgungsspannung die wichtigsten Hardware Komponenten. Im OP25 ist ein Testprogramm enthalten, mit dem die Hardware
MehrMesstechnik HMS 990 USB. Leistungsstarke Unterstützung
Messtechnik HMS 990 USB Leistungsstarke Unterstützung HMS 990 USB Erweiterte Messmöglichkeiten in Verbindung mit Star Diagnosis compact 4 Messtechnik HMS 990 USB Leistungsstarke Unterstützung Die Verstärkung
MehrPraktikum Hochfrequenz- Schaltungstechnik
Praktikum Hochfrequenz- Schaltungstechnik Entwurf eines rauscharmen HF-Vorverstärkers (LNA) für den Frequenzbereich um 1,575 GHz (GPS) im WS 2006/07 Gruppenmitglieder: 708719 712560 Wirth, Stephan 712748
MehrZeitsynchronisation von Echtzeitmessungen verschiedener Signalquellen für Hardware in the Loop Testverfahren
Zeitsynchronisation von Echtzeitmessungen verschiedener Signalquellen für Hardware in the Loop Testverfahren Florian Spiteller, Kristian Trenkel Echtzeit 2014 20.11.2014 Gliederung I. Einführung II. Messen
MehrNeue Wege beschreiten und Ressourcen optimieren
Neue Wege beschreiten und Ressourcen optimieren Boundary Scan auf PXI Basis von Mario Berger, GÖPEL electronic GmbH In den letzten Jahren hat sich die PXI-Technologie immer mehr zu einem festen Standard
MehrAusarbeitung eines Praktikumsversuches zum Design eines 1-Wire-Master-Controllers Falk Niederlein
Großer Beleg Ausarbeitung eines Praktikumsversuches zum Design eines 1-Wire-Master-Controllers Falk Niederlein Folie 1 Gliederung 1 Allgemein 2 Architektur 3 1-Wire-Protokoll 4 Praktikumsversuch 5 Zusammenfassung
MehrNeue Konzepte für die elektrischen Systeme in Fahrzeugen
Neue Konzepte für die elektrischen Systeme in Fahrzeugen Elektrische Systeme heute und in der Zukunft 5 5 Konzepte für die elektrischen Systeme in Fahrzeugen 1. Konventionelle Zentralelektriken 2. Zentralelektriken
MehrWebinar Drahtbonden 2016
Webinar Drahtbonden 2016 Würth Elektronik Circuit Board Technology 04.05.2016 Seite 1 Your Speaker Dipl.-Ing. (FH), MBA Philipp Conrad Bei Würth Elektronik CBT seit 2008 Produktmanager Drahtbonden Kooperation
MehrBeschaltung eines Mikrocontrollers. Jordi Blanch Sierra Steuerungsgruppe
Beschaltung eines Mikrocontrollers Jordi Blanch Sierra Steuerungsgruppe Gliederung Was ist ein Mikrocontroller? ATmega32 Pin-Beschreibung Grundschaltungen: - Minimale Grundschaltung - Grundschaltung mit
MehrHardware Beschreibung
E2000-PLUS Hardware Beschreibung Wir übernehmen keine Haftung für Schäden, die durch einen Nachbau einer dieser Schaltung entstehen. Dieses Dokument ist noch in der Entstehung und kann Lücken aufweisen!
MehrSMT & Hybrid nutzt Prüftechnik von GÖPEL electronic zur Qualitätssicherung
SMT & Hybrid nutzt Prüftechnik von GÖPEL electronic zur Qualitätssicherung Die seit der Firmengründung 1990 positive Firmengeschichte der SMT & Hybrid GmbH ist der überzeugende Beweis dafür, dass Ideenreichtum
MehrKomponenten und Systeme für Messen / Steuern / Regeln
Komponenten und Systeme für Messen / Steuern / Regeln KUNDENSPEZIFISCHE BEDIENSYSTEME für Messen / Steuern / Regeln Kundenspezifische Eingabesysteme anschlussfertig mit Elektronik und einer Vielzahl von
MehrFPGA vs. Mikrocontroller. Agenda
FPGA vs. Mikrocontroller Name: Jan Becker Matrikelnummer: 546508 Agenda - Kurzvorstellung eines FPGAs - Komponenten eines FPGAs - Programmierung eines FPGAs - Kurzvorstellung eines Mikrocontrollers - Komponenten
MehrBAUGRUPPENTEST. Jörg Giebel Prüfplanung, EPSa GmbH
BAUGRUPPENTEST Jörg Giebel Prüfplanung, EPSa GmbH Welche Prüfverfahren gibt es? Zerstörungsfreie Prüfverfahren Nichtzerstörungsfreie Prüfverfahren Elektrische Prüfverfahren Optoelektronische Inspektionverfahren
MehrViele Fliegen mit einer Klappe: Embedded-Elektronik testen und programmieren mit geringem Zugriff
Viele Fliegen mit einer Klappe: Embedded-Elektronik testen und programmieren mit geringem Zugriff Das Problem des Testens ist so alt wie der Transistor selbst. Anfangs wurde ausschließlich über die nativen
MehrModellbau-Ampel für 10 LEDs (2x Auto- und 2x Fußgängerverkehr)
Modellbau-Ampel für 10 LEDs (2x Auto- und 2x Fußgängerverkehr) Inhaltsverzeichnis 1. Einleitung... 2 2. Eigenschaften... 2 3. Bedienung... 2 3.1 Normalbetrieb... 2 3.2 Programmierung der Phasenzeiten...
MehrProduktinformation Elektronische Gerätetechnik. Typ: CONV BOX. Konverter für PT-Fühler als KTY-Ersatz. PT/KTY-Konverter
PT/KTY-Konverter -Allgemeine Hinweise Der Konverter wertet einen Pt-Sensor aus und gibt den äquivalenten KTY-Widerstand aus. Ein Pt-Sensor kann somit an einer Auswerteelektronik für KTY-Sensoren betrieben
MehrHerzlich Willkommen zum Treffen der FED-Regionalgruppen Jena und Dresden
Herzlich Willkommen zum Treffen der FED-Regionalgruppen Jena und Dresden Industrie 4.0 und Elektronikfertigung was ist sinnvoll? Jens Kokott, Produktmanager AOI-Systeme Inhalt Industrie 4.0 & Big Data:
MehrTestprotokoll / Versuchsdokumentation
Folgender Ablauf ist einzuhalten (die einzelnen Punkte können auf beigefügten Blättern dokumentiert werden): 1. Versuchsziel Konkrete Beschreibung des zu erwartenden Ergebnisses, Festlegung Toleranzbereiche
MehrOptimale Inspektion von THT-Baugruppen
Optimale von THT-Baugruppen Der Einsatz von kleinformatigen Schaltkreisen und diskreten Bauelementen sowie großen und massereichen Bauelementen auf einer Leiterplatte erfordert von den Herstellern die
MehrBedienungsanleitung Vierfach-Bluetooth Relais PL0051
Seite 1 von 9 Bedienungsanleitung Vierfach-Bluetooth Relais Inhaltsverzeichnis 1. Einleitung...2 2. Eigenschaften...3 2.1 Grundlegende Eigenschaften...3 2.2 Optionale Eigenschaften...3 3. Bedienung...3
MehrPrüfadapter für elektronische Flachbaugruppen
Prüfadapter für elektronische Flachbaugruppen Da 100 % aller Flachbaugruppen getestet werden müssen, müssen auch entsprechende Testsysteme mit der dazugehörigen Adaption zur Verfügung gestellt werden.
Mehrweatronic Anleitung MUX-Box
weatronic Anleitung MUX-Box Inhaltsverzeichnis 1 Informationen zur MUX-Box... 2 2 Anschluss der MUX-Box... 2 2.1 Übersicht der Anschlüsse... 2 2.2 Anschluss an einen weatronic Empfänger...3 2.3 Anschliessen
MehrPrüfung mechanischer Bedienelemente in Kombination mit digitaler Bildverarbeitung. Uwe Volkland/Jens Rudolph GÖPEL electronic GmbH
Prüfung mechanischer Bedienelemente in Kombination mit digitaler Bildverarbeitung Uwe Volkland/Jens Rudolph GÖPEL electronic GmbH Anforderungen - Prüfsystem zur paarweisen Prüfung von Lenkradmultifunktionseinheiten
MehrWenn Qualität das A und O ist
Wenn Qualität das A und O ist STOLL electronic GmbH produziert elektronische Baugruppen, die von Automatischer Optischer Inspektion als Qualitätssicherungstechnologie unterstützt werden Man stelle sich
MehrDatenblatt GRCE.1 Controller GMM EC. ERP-Nr.: Datenblatt GRCE.1 V_3.0
Datenblatt GRCE.1 Controller GMM EC ERP-Nr.: 5205008 www.guentner.de Seite 2 / 10 Inhaltsverzeichnis 1 GRCE.1... 3 1.1 Funktionsbeschreibung... 3 1.2 Anschlüsse...4 1.3 Elektrische Eigenschaften... 7 1.4
MehrDALI RM8 PWM DALI RM8 1-10V DALI RM V
DALI RM8 PWM DALI RM8 1-10V DALI RM16 1-10V Datenblatt Interface DALI auf 0-10V mit Einschaltrelais DALI-Schnittstellenmodul zum Ansteuern von Lasten mit 0-10V Steuereingang (DT5) Art. 86458668 (RM8 PWM)
MehrElektrische Schnittstelle Signal
Normen Europäischer Modellbahnen Elektrische Schnittstelle Signal NEM 692 Seite 1 von 6 Empfehlung Ausgabe 2011 1. Zweck der Schnittstelle Die Schnittstelle beschreibt für mechanische Signale und Lichtsignale
MehrSeit dem Bestehen der Firma KTT Testengineering GmbH ist der Adapterbau ein we sentlicher Bestandteil der Qualtätssicherung
Automatisches Testen Beratung Schulung Adapterbau Adapterbau CNC Fräsen Programmierung Automatisches Testen und Adapterbau Seit dem Bestehen der Firma ist der Adapterbau ein we sentlicher Bestandteil der
MehrDATENBLATT AB-ASI-DI4-M12 gültig ab: 05/2009
FAULT ADDR Automation Bus AS-i-M12-Gerät mit vier digitalen Eingängen I1 I3 I2 I4 POWER AB-ASI-DI4-M12 Order-No.: 22260753 1 Beschreibung Das Gerät ist bestimmt zum Einsatz in einem AS-Interface-System.
MehrIK Elektronik GmbH. Maßgeschneiderte Funklösungen Entwicklung und Produktion. IK Elektronik GmbH 2017; VERTRAULICH
IK Elektronik GmbH Maßgeschneiderte Funklösungen Entwicklung und Produktion Leistungen Funktechnik, Hochfrequenztechnik Elektronik, Antennen 315 MHz, 868 MHz, 2,4 GHz, 5,8 GHz Dienstleistungen Nur wenige
MehrTPI21-TH. https://www.gigahertz-optik.de/de-de/produkt/tpi21-th. Gigahertz-Optik GmbH 1/5
TPI21-TH https://www.gigahertz-optik.de/de-de/produkt/tpi21-th Produkt-Tags: VIS, Spektrale Daten, SSL, Farbtemperatur, CRI, LED Binning, Industrielle Anwendungen, Prüfsystem, LM79-08, CIE S025, Puls Messung,
MehrDatenblatt GRCF.1 Controller GMM sincon. ERP-Nr.: Datenblatt GRCF.1 V_3.0
Datenblatt GRCF.1 Controller GMM sincon ERP-Nr.: 5204184 www.guentner.de Seite 2 / 10 Inhaltsverzeichnis 1 GRCF.1... 3 1.1 Funktionsbeschreibung... 3 1.2 Anschlüsse...4 1.3 Elektrische Eigenschaften...
MehrMikrocontroller. Vortrag von Louis Liedtke. 8. Dezember Fakultät Elektrotechnik und Informatik. Bild 1: Atmel ATmega8
Mikrocontroller Bild 1: Atmel ATmega8 Vortrag von 8. Dezember 2015 Gliederung 1. Begriffserklärung 2. Besondere Merkmale 3. Aufbau und Arbeitsweise 4. Programmierung 5. Nutzen 6. Fazit 2 1. Begriffserklärung
MehrTechnologie / Produktion. Zertifizierte Fertigung - Elektronik für den passenden Einsatz. Made in Germany
Technologie / Produktion Zertifizierte Fertigung - Elektronik für den passenden Einsatz Made in Germany Die IMM electronics GmbH bietet Ihnen langjährige Kompetenz als Elektronikdienstleister von der Idee
MehrSwitch-Board-Datenblatt EB
Switch-Board-Datenblatt EB007-00-1 Inhalt 1. Über dieses Dokument... Error! Bookmark not defined. 2. Allgemeine Information... 3 3. Board-Layout... 4 4. Schaltungsbeschreibung... Error! Bookmark not defined.
MehrEs gelten unsere Allgemeinen Geschäftsbedingungen, nachzulesen auf unserer Website:
Dieses Formblatt dient zur systematischen Erfassung der Anforderungen an ein neu zu entwickelndes oder bereit zustellendes Produkt. Auf Basis der Angaben kann ein Angebot, ein Lastenheft oder Pflichtenheft
MehrArduino Kurs Timer und Interrupts. Stephan Laage-Witt FES Lörrach
Arduino Kurs Timer und Interrupts Stephan Laage-Witt FES Lörrach - 2018 Themen Timer Interrupts Regelmäßige Aufgaben ausführen Exakte Zeitintervalle messen FES Lörrach Juni 2018 2 Exakte Zeiten sind gar
MehrTeach-Dongle Rev 1.1. Teach-Dongle. Rev 1.1 Stand Okt
Teach-Dongle - 1 - - 2 - 1. Allgemeines Inhaltsverzeichnis 1.1 Informationen zum Teach-Dongle Überblick Features 1.2 Rechtliches Urheberrechte Warenzeichen 1.3 EMV Anmerkungen zur EMV 2. Hardwarebeschreibung
MehrHerzlich Willkommen bei GÖPEL electronic! Jens Kokott, Produktmanager AOI
Herzlich Willkommen bei GÖPEL electronic! Jens Kokott, Produktmanager AOI 11.12.2018 Exkursion TU Dresden zu GÖPEL electronic Vorstellung GÖPEL electronic Aufbau einer Elektronik-Fertigung und der eingesetzten
MehrArduino Kurs Bits und Bytes. Stephan Laage-Witt FES Lörrach
Arduino Kurs Bits und Bytes Stephan Laage-Witt FES Lörrach - 2018 Themen Digitale Eingabe Bit, Byte und Wort Reaktionszeittester FES Lörrach Juli 2017 2 Was ist ein Bit? Ein Bit ist die kleinste Informationseinheit
MehrW2000A Huckepackplatine v1.0
W2000A Huckepackplatine v1.0 Nach anfänglichen Schwierigkeiten die Huckepack-Platine in Betrieb zu nehmen (Schwingungen auf der +1.25V Spannungsversorgung), gelangen die nachfolgenden Messungen am 14.03.2010.
MehrI2C-006 DATASHEET I2C-006 V1.00: 1K EEPROM MODUL MIT TWI (I 2 C) SCHNITTSTELLE. Dokument NR.: I2C-006_Datasheet
I2C-006 DATASHEET Dokument NR.: I2C-006_Datasheet I2C-006 V1.00: 1K EEPROM MODUL MIT TWI (I 2 C) SCHNITTSTELLE P Bitte denken Sie an die Umwelt, bevor Sie diese Datei ausdrucken Modification History: Version
Mehr