Einladung zum Technologie- und Veranstaltungsforum Fürstenfeld in Fürstenfeldbruck bei München. vip.german.ni.com/

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1 Einladung zum Technologie- und Anwenderkongress VIP 2010 Veranstaltungsforum Fürstenfeld in Fürstenfeldbruck bei München vip.german.ni.com/

2 2 Erfolgreiche Innovationen sind kein Zufall Erinnern Sie sich noch? Es ist noch gar nicht so lange her, als man uns zum Jahrhundertwechsel wahre Katastrophenszenarien aufgrund eines vermeintlichen Millennium-Bugs auch als Y2K- oder Jahr-2000-Problem bekannt vorhersagte. Diese traten aber nicht ein. So starteten wir mit Optimismus ins erste Jahrzehnt, der allerdings nicht lange anhielt. Die beiden Wirtschaftskrisen in den vergangenen zehn Jahren holten uns wieder auf den Boden der Tatsachen zurück. Sie haben aber auch vielen Unternehmen und Industriezweigen geholfen, mehr Klarheit über ihre eigenen Schwächen und Stärken zu bekommen. Hierbei gilt Innovation unbestritten als eine der Stärken, die für Wachstum und Markterfolg unabdingbar sind. Innovate or die! treffender als Prof. Dr. Oliver Gassmann vom Institut für Technologiemanagement an der Universität St. Gallen könnte man es wohl kaum formulieren. Erfolgreiche Innovationen sind jedoch kein Zufall! Sie brauchen entsprechende Plattformen. Welch bessere Plattform für den Austausch von Innovationen könnte es geben als den Technologie- und Anwenderkongress Virtuelle Instrumente in der Praxis? Galt VIP früher noch als Geheimtipp, so hat sich der Kongress mittlerweile als ein interdisziplinäres Industrieereignis etabliert. Der diesjährige VIP-Kongress findet am 27. und 28. Oktober statt und bietet Ihnen zwei Tage lang neben zahlreichen innovativen Lösungen von Anwendern, Technologie- und Alliance-Partnern auch Technologie-Roadmaps von National Instruments, die Ihnen völlig neue Anwendungsmöglichkeiten eröffnen und von erfahrenen NI-Entwicklern präsentiert werden. Ein besonderes Keynote- Highlight bietet Johannes Lackmann, ehemals Präsident des Bundesverband Erneuerbare Energie e.v. (BEE) und einer der Mitbegründer des Erneuerbaren-Energien-Gesetzes (EGG), der über die Diskrepanz des technologisch Machbaren und des tatsächlich Umgesetzten referiert. Vormerken sollten Sie sich auch den Dozenten- und Ausbildertag im Anschluss an den VIP-Kongress 2010, der speziell für Dozenten und Ausbilder aus Forschung und Lehre veranstaltet wird. Am 29. Oktober werden in einer Vielzahl von Vorträgen und Kursen zukunftsweisende Lehrinhalte und Technologien vorgestellt und ein Einblick in das NI-Academic-Programm gewährt. Wir sehen uns in Fürstenfeldbruck! Dipl.-Ing. Rahman Jamal Technical & Marketing Director Central Europe National Instruments

3 3 Keynote-Präsentationen , 09:30 10:30 Uhr Michael Dams Director Central Europe, National Instruments Zum Auftakt begrüßt Sie Michael Dams, Director Central Europe zum VIP-Kongress 2010: Wir werden viel Energie brauchen, um die Rückschläge des vergangenen Jahres zu bewältigen; verfügbare Technologien gepaart mit Ideenreichtum weisen dazu den Weg. Die Anregungen aus dem Anwender- und Technologiekongress, Vorträge bzw. Workshops und vor allem der aktive Dialog werden Ihnen sicher wichtige Hilfestellungen und Orientierung bieten. Die Themen reichen von Energie- über die Medizintechnik bis hin zu den klassischen Bereichen der automatisierten Prüftechnik, selbstverständlich unter Berücksichtigung neuester Entwicklungen. Johannes Lackmann Geschäftsführer VDI Zentrum Ressourceneffizienz GmbH und Unternehmer im Bereich Erneuerbare Energien Naturwissenschaftler und Ingenieure beklagen die Stagnation in der Politik und die schleppende Markteinführung neuer Technologien. Politik ihrerseits dreht sich im Kreis, weil sie Sprache und Anliegen von Ingenieuren oft nicht versteht. Technologisch sind wir in der Lage, Quantensprünge in der Energie- und Ressourceneffizienz zu vollbringen und unseren Wohlstand damit zukunftsfähig zu machen. Sollen Ingenieure abwarten, bis sie mit der praktischen Umsetzung des technisch Machbaren beauftragt werden? Oder gibt es reelle Chancen für die technische Intelligenz, durch eigenes Engagement die Rahmenbedingungen so zu gestalten, dass die besten Lösungen im Sinne von Nachhaltigkeit schneller als bisher die Wettbewerbsgewinner in den Märkten werden? Johannes Lackmann, ehemals Präsident des Bundesverband Erneuerbare Energie e.v. (BEE) und einer der Mitbegründer des Erneuerbare-Energien-Gesetzes (EGG) wird in seiner Keynote dazu eine klare Antwort geben , 09:00 10:30 Uhr Rahman Jamal Technical Director Central Europe, National Instruments Die R&D-Keynote von Rahman Jamal, Technical Director Central Europe, ist mittlerweile zu einem Trendbarometer der Technologien avanciert. Zusammen mit Experten aus den zahlreichen R&D-Zentren von National Instruments zeigt Jamal in Live-Demonstrationen Technologien und Roadmaps am Puls der Zeit. Denn auch im krisengeschwächten Jahr liefen NIs Investitionen in Forschung und Entwicklung auf Hochtouren. Das Ergebnis kann sich durchaus sehen lassen. Dabei reicht das gezeigte Anwendungsspektrum von der industriellen Messund Automatisierungstechnik über automatisierte Tests bis hin zu Steuer- und Regeltechnik und Embedded-Design. Ein Einblick in zukünftige Entwicklungen im Bereich der grafischen Programmierung rundet die Keynote ab.

4 Agenda, 4 09:30 Begrüßung: Michael Dams, Director Central Europe, National Instruments Keynote: Johannes Lackmann, Geschäftsführer, VDI Zentrum Ressourceneffizienz 10:30 Kaffeepause/Besuch der Ausstellung 11:00 13:00 13:00 14:30 16:00 16:00 16:30 17:30 Mittagsbuffet/Besuch der Ausstellung Kaffeepause/Besuch der Ausstellung Fertigungs- und Baugruppentest S. 8/9 LabVIEW Software Engineering S. 6 LabVIEW Power Programming S. 6 Mess- und Prüftechnik S. 5 Halbleitertest S. 7 Business-Trends S. 7 Daten-Streaming & vielkanalige Messsysteme S. 9 Design & Test in Aerospace/ Defense S. 12 Prüfstandsautomatisierung S. 10 Design & Test im Automobilbereich S. 11 Workshops für Einsteiger S. 18 Workshops für Fortgeschrittene S :30 Pils vom Fass im Ausstellungsbereich 19:00 PARTY

5 Agenda, Donnerstag, :00 Keynote: Rahman Jamal, Technical Director Central Europe, National Instruments Live-Demonstrationen neuer Technologien und Produkte aus dem R&D-Center von National Instruments 10:30 Kaffeepause/Besuch der Ausstellung 11:00 13:00 13:00 14:30 15:30 15:30 Mittagsbuffet/Besuch der Ausstellung Kaffeepause/Besuch der Ausstellung Fertigungs- und Baugruppentest S. 8/9 LabVIEW Power Programming S. 6 RF- und Wireless-Test S. 13 FPGA-basiertes Systemdesign S. 14 Robotik und Mechatronik S. 15 Technisches Datenmanagement S. 16 Validierung von Embedded- Systemen S. 17 Workshops für Einsteiger S. 18 Workshops für Fortgeschrittene S :00 17:00 17:00 ENDE

6 4 Themen der Technologieund Anwendervorträge Auf dem VIP-Kongress 2010 erwartet Sie wieder ein vielfältiges Programm aus Technologie- und Anwendervorträgen. Erfahrene NI-Ingenieure und -Entwickler präsentieren Ihnen im Rahmen der Technologievorträge Neuheiten und technische Details. Erfahren Sie, welche neuen Produkte die Plattformen von National Instruments ergänzen und lernen Sie Technologien kennen, die Ihnen völlig neue Anwendungsmöglichkeiten eröffnen. In Anwendervorträgen stellen Ihnen Anwender und Systemintegratoren Lösungen und Konzepte zu aktuellen Problemstellungen der Industrie vor. Ausgehend von einer klar definierten Aufgabe erörtern sie Lösungsansätze sowie die Vorgehensweise und mögliche Schwierigkeiten bei der Integration. Die Technologie- und Anwendervorträge des VIP-Kongresses gliedern sich auch in diesem Jahr in eine Reihe themenbezogener Tracks, die wir Ihnen im Folgenden genauer vorstellen möchten. Selbstverständlich ist es Ihnen dabei möglich, eine individuelle Auswahl zu treffen und Vorträge aus unterschiedlichen Themenbereichen zu kombinieren.

7 5 Mess- und Prüftechnik Seit mehr als 30 Jahren ist es das Ziel von National Instruments, die allgemeine Mess- und Prüftechnik zu einem einfach einzusetzenden Mittel zu machen, mit dem sich Produkte durch ihren Entwicklungsprozess vom Design über das Prototyping bis hin zur Serienreife komfortabel und dabei mit höchster Präzision und Leistungsfähigkeit begleiten lassen. Dabei versucht NI, immer neue Technologien und Trends für die Mess- und Prüftechnik zu erkennen, in das breite Produktspektrum zu integrieren und dem Anwender dadurch neue Einsatzgebiete für virtuelle Instrumente zu ermöglichen. SC Express Die Produktfamilie NI SC Express umfasst PXI- Express-Datenerfassungsmodule mit integrierter Signalkonditionierung zur Messung von Dehnungsmessstreifen, brückenbasierten Wandlern und Thermoelementen sowie zur Erfassung hoher Analogeingangsspannungen. In diesem Track finden Sie Vorträge von Anwendern, welche sich dieses Engagement von NI für ihre Anwendungen zunutze machen, neue Produkte, die die stetige Weiterentwicklung aufzeigen und Tutorien, die Ihnen den Einstieg in neue Aufgaben erleichtern und den Umgang mit den dazugehörigen Produkten zeigen sollen. 11:00 11:30 11:30 12:00 12:00 12:30 12:30 13:00 Neue Produkte der Mess- und Prüftechnik in der Anwendung Marian Olef, National Instruments Tutorium: Messgerätesteuerung mit NI LabVIEW Andreas Scholz, National Instruments Entwicklung eines portablen Analysengeräts zur Bestimmung von Nanoteilchen in Flüssigkeiten Dr. Christopher Latkoczy, Bartjan den Hartogh, Nanolytix Tutorium: Fallstricke präziser DC-Messungen Moritz Mayer, National Instruments 13:00 14:30 Mittagsbuffet/Besuch der Ausstellung 14:30 15:00 15:00 15:30 15:30 16:00 Universelle Automatisierung im Elektroniklabor mit dem CTVLab basierend auf LabVIEW Stephan Reutzel, Continental Teves Michael Schmidt, MSC Measurement Solution Consultants Ingenieurbüro Tutorium: NI CompactDAQ under the Hood Rüdiger Ellmauer, National Instruments LabVIEW prüft Sicherheitssystem zum Schutz vor Überdrehzahl bei Großdieselmotoren für Containerschiffe Roland Spiegel, Noris Marine Systems 16:00 16:30 Kaffeepause/Besuch der Ausstellung 16:30 17:00 17:00 17:30 Tutorium: Datenerfassung verstehen mit NI LabVIEW Diana Stöckert, National Instruments Tutorium: Temperatur-, Dehnungs- und Impedanzwerte richtig erfassen Jochen Klier, National Instruments

8 6 LabVIEW Power Programming & Software Engineering Donnerstag, brachte National Instruments die erste Version der Software NI LabVIEW auf den Markt und revolutionierte damit die Art und Weise, wie Wissenschaftler, Techniker und Ingenieure Herausforderungen in den Bereichen Mess-, Steuerund Regelungstechnik bewältigten. Seither hat sich LabVIEW stetig weiterentwickelt und ist über die Jahre zu einer vollwertigen Engineering-Plattform gereift. Aus diesem Grund widmen sich die Vortragsreihen LabVIEW Software Engineering und LabVIEW Power Programming den unterschiedlichen Mechanismen und Fähigkeiten der Entwicklungsumgebung. Mit LabVIEW Software Engineering stehen Ihnen geballtes Wissen zu Themen wie etwa Anforderungsmanagement, statische und dynamische Codeanalyse sowie hilfreiche Elemente für einen strukturierten Anwendungsaufbau zur Verfügung. Im Track LabVIEW Power Programming nehmen wir die Entwicklungsumgebung selbst unter die Lupe und analysieren diese im Detail hinsichtlich der Möglichkeiten zur Leistungs- und Geschwindigkeitsoptimierung. Ferner stellen wir Ihnen Tipps und Tricks zur Steigerung Ihrer Programmierfähigkeiten vor und werfen einen Blick unter die Haube der LabVIEW-Engine. Kamran Shah, Section Manager LabVIEW R&D, National Instruments Kamran Shah ist LabVIEW R&D Section Manager und arbeitet seit über zehn Jahren bei National Instruments. Seine Interessenbereiche sind u.a. die Förderung der Nutzung von LabVIEW für die schnelle, FPGA-basierte digitale Signalverarbeitung oder für RF-Systeme und der Einsatz webbasierter Technologien für Mess-, Überwachungs- und Fertigungsanwendungen. 11:00 11:30 11:30 12:00 12:00 12:30 12:30 13:00 The Software Engineering Process for Large LabVIEW Applications Kamran Shah, Elijah Kerry, National Instruments Strukturen und Elemente für ein Application Framework in LabVIEW Michael Schmidt, MSC Measurement Solution Consultants Ingenieurbüro Verbesserung der Codequalität durch Bewertung der Komplexität mit dem VI Analyzer Lutz Andrews, Siemens HIM CV Software-Engineering in der Praxis Werkzeuge für optimierte LabVIEW-Entwicklung Helge Taubert, Zühlke Engineering LabVIEW Software Engineering 13:00 14:30 Mittagsbuffet/Besuch der Ausstellung 14:30 15:30 15:30 16:00 LabVIEW-Anwendertreffen Ulrich Möschel, Kamran Shah, Elijah Kerry, National Instruments Prototyp für ein LabVIEW-OOP-basiertes mobiles Agentensystem Frederik Berck, Dr. Holger Brand, GSI Helmholtzzentrum für Schwerionenforschung 16:00 16:30 Kaffeepause/Besuch der Ausstellung 16:30 17:30 Tipps und Tricks rund um LabVIEW Tobias Daub, National Instruments LabVIEW Power Programming Donnerstag, :00 12:00 LabVIEW under the Hood Elijah Kerry, National Instruments 12:00 13:00 Die LabVIEW-Plattform eine Software für alle Hardwarezielsysteme Peter Adelhardt, National Instruments 13:00 14:30 Mittagsbuffet/Besuch der Ausstellung 14:30 15:30 Power Programming Neuerungen in der LabVIEW-Plattform Klaus Dinnes, National Instruments 15:30 16:00 Kaffeepause/Besuch der Ausstellung LabVIEW Power Programming 16:00 17:00 Leistungs- & Geschwindigkeitssteigerung von LabVIEW-Projekten Sebastian Kleinau, National Instruments

9 7 Halbleitertest Die steigende Integrationsdichte von Elektronikkomponenten verlangt modulare und flexible Prüfsysteme, die sich durch schnelle Prüfzeiten, hohe Kanalanzahl und unterschiedlichste I/O-Kanäle auszeichnen. Dabei geht es nicht nur um die Einhaltung der Qualitätsanforderungen von der Entwicklung bis zum Produktionstest, sondern auch um effiziente Automatisierung der Arbeitsschritte mit industriellen Mess- und Automatisierungsplattformen. Kunden und Partner stellen in diesem Track Komponenten und Lösungen für den Test von Halbleiterprodukten vor. NI PXI SEMICONDUCTOR SUITE Die NI PXI Semiconductor Suite besteht aus 10 Produkten, die den softwaredefinierten Test von Halbleitern mit PXI und LabVIEW ermöglichen. 11:00 11:30 11:30 12:00 12:00 12:30 12:30 13:00 Semiconductor Test with NI Components Scott Savage, National Instruments Design of a Real-Time System for in-situ Characterization of Smart Power Switches during Cycle Stress Testing Benjamin Steinwender, KAI Kompetenzzentrum für Automobil- und Industrie-Elektronik ABex Nächste Generation des PXI-basierten Halbleitertests Armin Lechner, Konrad Technologies Konzept zur Implementierung von echtzeitfähigen Steuerungen mit LabView auf der Plattform CompactRio (Halbleiterproduktion) Peter Reisner, Infineon Technologies Austria Business-Trends Die durch die intensive Internationalisierung der letzten Jahre angetriebenen Herausforderungen in der Entwicklung und dem Betrieb von Testsystemen haben zu stark erweiterten Anforderungen geführt. Neben der Technik und den Kosten stehen heute Aspekte wie die Verfügbarkeit der Systemkomponenten und Services oder auch eine hohe Wiederverwertbarkeit und Verfügbarkeit der Systeme in einem globalen Netzwerk aus Produktionsstandorten immer mehr im Vordergrund. In diesem Track stellen wir Ihnen vor, wie NI Sie unterstützen kann. Sie erhalten Einblick in die Technologien, in die NI investiert, um auch auf die zukünftigen Anforderungen eine Antwort geben zu können. Hinzu kommen Erfahrungsberichte und Best-Pratice-Beispiele aus diesen Bereichen. Diskutieren Sie mit uns Ihre spezifischen Herausforderungen. Darüber hinaus erfahren Sie, wie Ihnen ein optimal angepasstes Lizenzmodell helfen kann, Kosten bei gleichzeitiger flexibler Nutzung zu sparen. 14:30 15:00 15:00 15:30 15:30 16:00 Understanding the True Cost of Test Richard McDonell, National Instruments Chancen und Herausforderungen von Standardisierungen im Bereich Test & Validierung Jürgen Wölfle, Continental AG Industry Trends & Investment Areas of NI Richard McDonell, National Instruments 16:00 16:30 Kaffeepause/Besuch der Ausstellung 16:30 17:00 17:00 17:30 Das optimale Lizenzmodell Kosten sparen bei gleichzeitiger flexibler Nutzung Georg Plasswilm, National Instruments The Business of Obsolescence Planning Richard McDonell, National Instruments

10 8 Fertigungs- und Baugruppentest Donnerstag, Die Reduzierung von Produktions- und Testkosten bei gleichzeitiger Qualitätssteigerung bleibt eine ständige Herausforderung im Test- und Prüfbereich. Mit der stetig ansteigenden Komplexität von elektronischen Baugruppen wachsen auch die Anforderungen an diese Attribute. Den extremen Anforderungen durch die immer steigende Variantenvielfalt sowie die immer kürzeren Produktlebenszyklen wird nur ein flexibles, auf Standardprodukten basierendes Testkonzept gerecht. Der Trend, Commercial of the Shelf (COTS) Technologien einzusetzen, um diesen Herausforderungen gerecht zu werden, ist ungebrochen. Wo vor vielen Jahren noch monolithische Testsysteme im Einsatz waren, ist es heute selbstverständlich, ein PC-basiertes Testsystem zu verwenden. Die zukünftige Entwicklung der PC-Technologien mit Multicore, der Nutzung von FPGAs sowie zukünftigen Bussen und Betriebssystemen wird bei der Parallelisierung und Flexibilisierung von Testsystemen eine entscheidende Rolle spielen. Der Track Baugruppentest demonstriert mit einer Vielzahl praktischer Anwendungen und Technologievorträgen, wie softwarebasierte, modulare Testsysteme heute vielerorts zum Einsatz kommen. Sie erhalten darüber hinaus Einblicke in Zukunftstechnologien, die den Produktionstest maßgeblich prägen werden. Holger Göpel, Geschäftsführer Göpel GmbH Dipl.-Ing. Holger Göpel war fast 20 Jahre bei Carl Zeiss Jena als Entwicklungsingenieur, Gruppenleiter Entwicklungslabor und später als Leiter der Entwicklungsabteilung für elektrische Prüfmittel tätig gründete er die GÖPEL electronic GmbH, deren geschäftsführender Gesellschafter er bis heute ist. Das Unternehmen ist Pionier im Bereich elektronischer Prüfverfahren für elektronische Bauelemente und Flachbaugruppen. Sein Vortrag Get the total coverage handelt von der steigenden Komplexität und Funktionalität bei gleichzeitig fortschreitender Miniaturisierung von elektronischen Komponenten. Der Vortrag zeigt Wege und Trends, wachsenden Testkosten, steigender Produktflexibilität und hohen Qualitätsansprüchen gerecht zu werden. 11:00 11:30 11:30 12:00 12:00 12:30 12:30 13:00 The Future of Automated Test Essential Test Technologies and Methods Richard McDonell, National Instruments Eine Standardplattform von Produktionstestsystemen für Medizingeräte Erfahrungen eines Plattformwechsels Axel Bauer, Philips Medizin Systeme Erweiterung der NI-Testplattform um ein Konzept zur vollständigen Aufzeichnung und hardwareunabhängigen Wiedergabe eines Testlaufs Bernhard Renz, Philips Medizin Systeme Evaluierung der neuesten Intel Microarchitekturen und deren Einflüsse für die Zukunft des Tests Johannes Bauer, National Instruments 13:00 14:30 Mittagsbuffet/Besuch der Ausstellung 14:30 15:00 15:00 15:30 15:30 16:00 Themenkreis Virtual Test und automatische Testplangenerierung aus ATML Daniel Glaser, Universität Erlangen Traceability from Design to Test durchgängige Überprüfung der Anforderungen bei der Entwicklung eines Testers Frank Heidemann, SET Tutorium: From Requirements to Test Live-Demonstration der NI-Software-Toolkette Robert Halas, National Instruments 16:00 16:30 Kaffeepause/Besuch der Ausstellung 16:30 17:00 17:00 17:30 Noch mehr Durchblick in der Fertigung Proligent 5.0 Die Engineering-Testplattform für Variantenmanagement, Traceability, Testerverwaltung, Reports Dirk Schüller-Möller, NOFFZ ComputerTechnik FLEXSTAND OI a new Flexible TestStand Operator Interface Morten Pedersen, CIM Industrial Systems

11 9 Donnerstag, :00 11:30 11:30 12:00 12:00 12:30 12:30 13:00 Get the total coverage Teststrategien zur Qualitätssicherung Holger Göpel, GÖPEL electronic Steigerung der Produktionseffizienz von Umrichterprüfplätzen mittels FPGA-Technologie Peter Nagengast, Siemens - Drive Technologies Division Dynamische PWM-Erfassung vom Entwicklungsmessgerät zur Serienanlage einfach und schnell durch FPGA-Technologie Tobias Starz, Hartmann Exact Haptik- und Akustiktest von Automotive-Bedienelementen und -Schaltern mithilfe der Soundanalyse Timo Nittka, Zwick/Roell Michael Konrad, Konrad Technologies 13:00 14:30 Mittagsbuffet/Besuch der Ausstellung 14:30 15:00 15:00 15:30 Boundary Scan 20 Jahre standardisierte Innovationen IEEE Enrico Lusky, GÖPEL electronic Erweiterung des klassischen In-Circuit-Test ICT durch kombinierte Testverfahren Ernst Neppel, Zollner Elektronik Michael Konrad, Konrad Technologies 15:30 16:00 Kaffeepause/Besuch der Ausstellung 16:00 16:30 16:30 17:00 Sensor-guided Robotics powered by DENSO and LabVIEW einfache Flexibilität für Fertigungstests Alexander Kempf, DENSO EUROPE Anspruchsvolle Switch-Konfigurationen für große Testsysteme Norbert Brand, National Instruments Daten-Streaming & vielkanalige Messsysteme Die Streaming-Technologie erlaubt eine Hochgeschwindigkeits-Datenübertragung zu oder von einem Messgerät. Das Streaming von Messdaten ermöglicht kontinuierliche Erfassungs- und Ausgaberaten, verringert Verzögerungen im Zusammenhang mit dem Laden von Signalformen auf oder von Messgeräten und eröffnet somit neue Anwendungsfelder. Viele Messsysteme bieten nur eingeschränkte Streaming-Funktionen, da Stand-alone-Messgeräte über Busse wie GPIB oder LAN an PCs angebunden werden. Diese Bussysteme verfügen nicht über ausreichend Bandbreite, um hohe Übertragungsraten aufrechtzuerhalten. Darüber hinaus legt der im Messgerät integrierte Speicher die Obergrenze der maximalen Dauer der Erfassung oder Generierung fest. Die PXI- Plattform profitiert von der hohen Bandbreite der PCI- und PCI-Express-Busse und ermöglicht ein kontinuierliches Daten-Streaming zwischen modularen Messgeräten bzw. zwischen Messgerät und Controller oder RAID-Festplatten-Arrays. Mit einer Systembandbreite bis zu 6 GB/s und einer dedizierten bidirektionalen Bandbreite pro Steckplatz bis zu 2 GB/s bietet PXI die höchsten Daten-Streaming-Raten aller Standardmessgeräteplattformen. Dieser Track demonstriert die Leistungsfähigkeit von Streaming- Anwendungen, basierend auf NI-Produkten. 11:00 11:30 11:30 12:00 12:00 12:30 12:30 13:00 Data Streaming Architectures in PXI Systems Chetan Kapoor, National Instruments Einführung in das Peer-to-Peer-Datenstreaming Christoph Landmann, National Instruments ECHSE Funksignale breitbandig aufzeichnen, mehrkanalige Echtzeit-Digitalisierung, Filterung und Langzeitspeicherung Ulrich Wessel, Schönhofer Sales and Engineering Vielkanaldatenerfassung bei dynamischen Versuchen im kryogenen Windkanal Sebastian Büsing, Werner Just, RWTH Aachen

12 10 Prüfstandsautomatisierung Nachdem in den letzten Jahren zahlreiche neue Technologien den Bereich der automatisierten Prüfsysteme revolutioniert haben, gilt es nun diese in bestehende Prüfstandskonzepte zu integrieren und neue leistungsfähigere Standardsysteme zu realisieren. Softwarebasierte Systeme ermöglichen in diesem Rahmen eine besonders komfortable Integration von Technologien wie Multicore, FPGA, PCI Express und PXI Express und profitieren in Kombination mit modularen Messgeräten von ihnen. Durch die Offenheit eines solchen Ansatzes und die vielfältigen Anbindungsmöglichkeiten bieten sie auch für die Realisierung hybrider Systeme die ideale Plattform. Dieser Track zeigt anhand einiger Beispiele aus allen Bereichen der Industrie, wie Sie modulare, softwaredefinierte Prüfsysteme mit höherem Durchsatz und verbesserter Flexibilität zu geringeren Gesamtkosten erstellen, und demonstriert die besten Verfahrensweisen für die Entwicklung effizienter Prüfsysteme. Maschinenrichtlinien Für den Maschinen- und Anlagenbau ist die EG-Maschinenrichtlinie die wichtigste Vorschrift für die Konformitätsbewertung. Sie schreibt beispielsweise eine Gefahrenanalyse und mit dem Inkraftreten der neuen Fassung 2006/42/EG ab Ende 2009 auch eine Risikobeurteilung vor und macht damit eine Anpassung von Sicherheitskonzepten durch die Anlagenhersteller notwendig. Die Firma MS2 Engineering & Anlagenbau zeigt zusammen mit Festo eine Umsetzung dieser neuen Maschinenrichtlinie unter Verwendung von LabVIEW, sicherheitsgerichteter SPS und Feldbussystemen in einer einzigen Anlage am Beispiel eines Hochdruckprüfstands für die Firma Festo. 11:00 11:30 11:30 12:00 12:00 12:30 12:30 13:00 Das universelle Messsystem Wunsch oder Wirklichkeit? Jörg Vetter, ITK Engineering Entwicklung eines Versuchsstandes zur haptischen Analyse von Materialoberflächen Sabrina Karthaus, Fraunhofer-Institut für Umwelt-, Sicherheits- und Energietechnik UMSICHT, Manuel Bogedain, NOFFZ ComputerTechnik Entwicklung dezentraler, EtherCAT-basierter Systeme Neuerungen & NI Roadmap Daniel Riedelbauch, National Instruments Motion Simulator Controlled via EtherCAT Robin Hauser, ACUTRONIC Switzerland 13:00 14:30 Mittagsbuffet/Besuch der Ausstellung 14:30 15:00 15:00 15:30 15:30 16:00 Haushaltsgeräteentwicklung mit Qualität unterstützt von TestMaster und LabVIEW Arnd Prüßner, Miele Haushaltsgeräte, Dr. Gerd Schmitz, S.E.A Datentechnik Testautomatisierung aus einem Guss mit LabVIEW, Ranorex und dem Team Foundation Server Dirk Beinert, infoteam Software Modulare Softwarearchitektur für die datenbankgestützte Laborautomatisierung Ulf Flemig, GROHE, Dr. Gerd Schmitz, S.E.A. Datentechnik 16:00 16:30 Kaffeepause/Besuch der Ausstellung 16:30 17:00 17:00 17:30 Konsequenzen und Umsetzung der neuen Maschinenrichtlinie mit LabVIEW am Beispiel eines Hochdruckprüfstandes Asif Khan, MS2 Engineering und Anlagenbau, Christian Schleicher, Festo SARA-Prüfstandsautomatisierung in der Verfahrenstechnik Christian Haeske, measx

13 11 Design & Test im Automobilbereich Im Jahr 1 nach der Finanzkrise stehen alle Signale auf grün für den einen Zweck: Kosten reduzieren. Vor allem die gebeutelte Automobilbranche muss sich diesem Ziel unterwerfen. Doch das ist nur bedingt zutreffend. Trotz schwieriger Herausforderungen hat nach wie vor ein Trend in der Automobilindustrie fortwährend Bestand: Innovation und zukunftsweisende Technologien. Verbrauchsarme und umweltfreundliche Fahrzeuge sowie alternative Antriebssysteme findet man in Studien noch vor der allgemeinen Kosteneinsparung. Innovative Konzepte für Fahrzeuge und deren Ausstattung verlangen dabei auch immer nach der entsprechenden Mess-, Prüf- und Regelungstechnik, um mit diesen Entwicklungen Schritt zu halten. Mittels einer durchgängigen, flexiblen und leistungsstarken Plattform, die in der Fahrzeugentwicklung vom Design bis in den Fertigungsendtest eingesetzt werden kann, lassen sich sowohl innovative als auch kostengünstige Lösungen realisieren. Erfahren Sie in unserer Vortragsreihe Design & Test im Automobilbereich, wie diese Werkzeuge eingesetzt und in Prüfstrategien überführt werden. Andreas Pfister, Versuchsingenieur in der Pkw-Entwicklung der Daimler AG Andreas Pfister ist seit über 25 Jahren im Fahrversuch des Bereichs Aktive Sicherheit/Fahrdynamik tätig. Schwerpunkt seiner Arbeit ist die Fahrdynamikmesstechnik mit den Inhalten Sensorik und Data Aquisition Software. Er leitet das Projekt MOSES, das eine auf Fahrdynamikmessungen ausgerichtete Softwareentwicklung darstellt und auf Basis von LabVIEW von der Firma measx im Auftrag der Daimler AG erstellt wird. In seinem Vortrag wird gezeigt, welche Vorteile der Einsatz von MOSES für die Versuchsingenieure bringt. Die konsequente Ausrichtung auf Arbeitsablauf bei Testfahrten und auf durchzuführende Fahrmanöver steigern Effizienz und Qualität der Messdaten. Mit MOSES-PDA wird eine Lösung vorgestellt, die bei einfachen Fahrdynamiktests nur anhand eines PDAs mit GPS-Empfänger Kennwerte liefert. 11:00 11:30 11:30 12:00 12:00 12:30 12:30 13:00 Erfassung der Laufflächenkontur von Pkw-Reifen bei hohen Geschwindigkeiten Rene Armbruster, Karlsruher Institut für Technologie Hochdynamische Prüfstände für elektrisch angetriebene sicherheitsrelevante Automotive-Komponenten Dr. Gregor Diehl, Josef Tromposch, GADV Gesellschaft für Automatisierung mit Datenverarbeitungsanlagen EOL-Prüfsystem zur Validierung von Fahrzeugsitzen unter Einsatz von elektromechanischen und optischen Messkomponenten Philipp Dittrich, GÖPEL electronic Roboter- und LabVIEW-basiertes Universaltestsystem für Kfz-Bedienkomponenten Herbert Pichlik, SYSTEC 13:00 14:30 Mittagsbuffet/Besuch der Ausstellung 14:30 15:00 15:00 15:30 15:30 16:00 ACANIS Ein universelles Software-Tool für CAN-Netzwerke Klaudius Pinkawa, A.M.S. Software Effiziente Durchführung von Fahrdynamiktests mit MOSES und MOSES PDA Andreas Pfister, Daimler Zeiteinsparung bei der Entwicklung und Prüfung von Nutzfahrzeugen durch automatisierte Messdatenauswertung mit NI DIAdem Sven Armbrust, Daimler 16:00 16:30 Kaffeepause/Besuch der Ausstellung 16:30 17:00 17:00 17:30 E-Motoren-Simulation basierend auf FPGA-Technologie Franz Dengler, MicroNova NI-XNET Neuerungen für den Test von Bordnetzwerken in Hard- & Software Andreas Stark, National Instruments

14 12 Design & Test in Aerospace/Defense* Military and aerospace engineers face many demands, including software, electronic, and mechanical design challenges. It s not just about streamlining the product development, but also improving the reliability and reducing development as well as life cycle costs. The unbowed extensive requirements for safety, efficiency and increasing demand for reduced environmental impact of designs can be observed. Military and aerospace engineers use Commercial of the Shelf (COTS) products of National Instruments and its partners for innovative approaches to quickly prototype new designs, improve existing components, develop signal intelligence or perform system or flight testing. Understanding these latest technologies can help you to increase performance and reduce costs. *The track will be held in English and will walk you through technologies and absorbing applications in aerospace and defense. Riccardo Mancinelli, AULOS passive radar Project Manager, SELEX SI SELEX Sistemi Integrati designs and develops Large Systems for Homeland Protection, systems and radar for air defence, battlefield management, naval warfare, air traffic control, coastal and maritime surveillance. 14:30 15:00 15:00 15:30 15:30 16:00 Real-Time Testing of Complex Avionics Systems Frank Wiedmann, National Instruments NI PXI Controls Cyrogen Cooling System in the European Transonic Windtunnel (ETW) Christian Kühn, European Transonic Windtunnel Dr. Gerd Schmitz, S.E.A. Datentechnik Install a Measurement Acquisition Facility with Online Data Server Capabilities with NI PXI and LabVIEW RT Marcel Stößel, Universität der Bundeswehr München 16:00 16:30 Kaffeepause/Besuch der Ausstellung 16:30 17:00 17:00 17:30 Electromagnetic Pollution, Spectrum Erosion and Passive Radars Riccardo Mancinelli, SELEX Sistemi Integrati ARINC Interfaced Flight Test Equipment Using the CompactRIO Platform Frank Heidemann, SET Falk Hoffmann, Eurocopter Deutschland

15 13 RF- und Wireless-Test Donnerstag, Drahtlose Kommunikation dringt kontinuierlich in Bereiche des alltäglichen Lebens in den verschiedensten Ausprägungen vor: vom breitbandigen WLAN-System mit MIMO-Übertragungstechnik und OFDM-modulierten Signalen über Car-to-Car-Kommunikation in der Verkehrstelematik bis hin zu stromsparenden Funksystemen für die Gebäudeautomatisierung oder Body Area Networks (BAN) zur drahtlosen Überwachung biometrischer Daten in der Medizintechnik. Viele dieser Anwendungen entwickeln sich nicht nur fortwährend weiter, sondern kombinieren zudem noch mehrere Funkstandards und -protokolle in einem Gerät. Entsprechend muss auch die Messtechnik in allen Phasen des Produktzyklus, der Entwicklung und Fertigung mit den Anforderungen wachsen. Dieser Track zeigt durch Anwender- und Technologievorträge, wie sich flexible RF-Testsysteme auf Basis eines softwaredefinierten Ansatzes (SDR) mit der modularen Industrieplattform PXI und der grafischen Anwendungsentwicklung mit NI LabVIEW schnell umsetzen und einfach an wechselnde Anforderungen anpassen lassen. Prof. Dr. Oliver Michler, Professor an der TU Dresden Prof. Dr. Oliver Michler ist seit 2008 Inhaber der Professur Informationstechnik für Verkehrssysteme an der Fakultät Verkehrswissenschaften Friedrich List der Technischen Universität Dresden und beschäftigt sich in Lehre und Forschung mit informationellen Aspekten von Verkehrs- und Transportprozessen, sowie mit Entwurf und Planung innovativer informationstechnischer Infrastrukturen. Donnerstag, :00 11:30 11:30 12:00 12:00 12:30 12:30 13:00 Wireless-Kommunikation, Ortung und Navigation für innovative Verkehrsinformationssysteme Prof. Dr. Oliver Michler TU Dresden What s on the RF Roadmap? Neue RF-Produkte von National Instruments Ewa Napieralska, National Instruments Zulassung von ISM-Funkmodulen und Kostenoptimierung in der Serienproduktion Thomas Rieder, PROBARE Multifunktionales UHF-RFID-Transpondertestsystem Aufbau, Funktionen und Anwendungen Thomas Holtstiege, European EPC Competence Center 13:00 14:30 Mittagsbuffet/Besuch der Ausstellung 14:30 15:00 15:00 15:30 Wideband RF Record & Playback for Multi-Constellation GNSS Markus Solbach, NOFFZ ComputerTechnik Reducing Test Times for WLAN Modules Using Modular Instruments Chai-Oi Yeap, Digi International 15:30 16:00 Kaffeepause/Besuch der Ausstellung 16:00 17:00 RF Advanced Technologies Ken Tobler, National Instruments

16 14 FPGA-basiertes Systemdesign Donnerstag, Zu einer der wohl signifikantesten Entwicklungen im Bereich von Mess-, Prüfund Automatisierungsanwendungen zählt die Anwendung der FPGA-Technologie in der Prototypen- und Systementwicklung. FPGAs sind als rekonfigurierbare Ausführungsziele vielseitig einsetzbar und in der Lage, hohen Anforderungen in Bezug auf Determinismus, Antwort-Zeit-Verhalten, Parallelität, Verarbeitungsgeschwindigkeit und Zuverlässigkeit gerecht zu werden. Aufgrund dieser Eigenschaften werden sie häufig als zusätzliche Komponente in Standardprodukte integriert und geben dem Anwender die Möglichkeit, solche Systeme individuell anzupassen. Dieser Track bietet Ihnen die Gelegenheit, sich praktische Anwendungen anzusehen, bei denen der Einsatz von FPGA-basierten Zielsystemen teure Eigenentwicklungen erspart. Darüber hinaus bieten wir Ihnen einen detaillierten Einblick hinter die Kulissen leistungsstarker Programmierkonzepte und -werkzeuge für FPGA-basierte Zielsysteme von National Instruments. Thorsten Halsch, Projektleitung, Siemens Healthcare Sector Thorsten Halsch ist in der Projektleitung für die Test und Automatisierungs Plattform (UTT) bei Siemens HIM tätig. Zu seinen Themenschwerpunkten zählt der Einsatz des NI Labs C FPGA Interface zur Implementierung von bestehendem C-Code in CompactRIO-basierte Steuereinheiten. Siemens Healthcare entwickelt und fertigt Hochleistungs-Röntgensysteme für die Computertomographie (CT) und Angiographie (AX). Für diese Hochleistungs- Röntgensysteme entwickelt das Geschäftsgebiet HIM CV Hochspannungsgeneratoren. Donnerstag, :00 11:30 11:30 12:00 12:00 12:30 12:30 13:00 Advantages of FPGA-based System Design Kamran Shah, National Instruments Einsatz des NI Labs C FPGA Interface zur Steuerung von Hochspannungsgeneratoren in der Röntgentechnik Thorsten Halsch, Siemens Healthcare Sector Test von Glasfaserkommunikation bis zu 2,5 Gbit/s auf Basis von NI FlexRIO Michael Rost, IRS Systementwicklung FPGA-based Feedback Control of a Single Atom Trajectory Christian Sames, Max-Planck-Institut für Quantenoptik 13:00 14:30 Mittagsbuffet/Besuch der Ausstellung 14:30 15:00 15:00 15:30 FPGA-basierte Analyse eines proprietären Bussytems mit NI LabVIEW FPGA und NI Single-Board RIO Dennis Schmidt, WAGO Kontakttechnik STACS L51 Ein ATE der 1000-Kanal-Klasse Heinrich Kiehm, Kiehm Datenmanagement 15:30 16:00 Kaffeepause/Besuch der Ausstellung 16:00 17:00 LabVIEW FPGA under the Hood Wolfgang Zwick, National Instruments

17 15 Robotik und Mechatronik Donnerstag, Die experimentelle Forschung im industriellen und akademischen Bereich benötigt flexible, einfach handhabbare und leistungsstarke Werkzeuge für die Entwicklung und den Einsatz neuer Algorithmen, Verfahren und Systeme für Steuer-, Regel-, Robotik- und mechatronische Anwendungen. Dozenten, Forscher und Entwickler nutzen die NI-Produktfamilie für Desktop-, tragbare, Embedded- und vernetzte Anwendungen und Systeme gleichermaßen zur Realisierung ihrer anspruchsvollen Aufgaben. Ein entscheidender Vorteil für die Robotik und Mechatronik ist, den Entwurf, die Prototypenerstellung sowie die anschließende Verwendung der Algorithmen und mathematischen Modelle mit denselben Werkzeugen realisieren zu können, so dass verschiedene Abstraktionsebenen und Verarbeitungsmodelle in derselben Entwicklungsumgebung zur Verfügung stehen. MathScript RT Module Mit dem NI LabVIEW MathScript RT Module lassen sich benutzerdefinierte.m-dateien in die grafische LabVIEW-Umgebung integrieren und direkt ausführen. Donnerstag, :00 11:30 11:30 12:00 12:00 12:30 12:30 13:00 Robotik und Mechatronik in Lehre und Forschung Trends und Entwicklungen durch Interaktion von Lehre Forschung und Industrie Ingo Földvári, National Instruments Entwurf autonomer mobiler Systeme NI LabVIEW Robotics als Standardhard- und -softwareplattform für mobile Robotersysteme Jochen Klier, National Instruments Mikroprozessorbasierte mobile Roboter Entwicklung von LabVIEW für ARM/Blackfin-basierte Controllerboards für Anwendungen in der Mechatronik und Robotik Dr. Stefan Enderle, qfix robotics Marco Schmid, Schmid Engineering Fraunhofer VolksBot mit NI CompactRIO und NI LabVIEW Erfahrungen aus der Lehrveranstaltungsreihe Teamrobotik der Universität Magdeburg Dr. Ansgar Bredenfeld, Fraunhofer IAIS Manuela Kanneberg, Universität Magdeburg 13:00 14:30 Mittagsbuffet/Besuch der Ausstellung 14:30 15:00 15:00 15:30 Real-Time-MathScript für autonome mobile Roboter Integration von textbasierter Mathematik und grafischer Programmierung für Echtzeitanwendungen Balázs Tóth, National Instruments Steuerung von Robotern über Smart-Devices Einsatz von TCP/UDP/WLAN zur Kommunikation zwischen Forschungsroboter FORBOT und iphone Mathias Hubrich, Roboterwerk Richard Rasch, FH Rosenheim 15:30 16:00 Kaffeepause/Besuch der Ausstellung 16:00 16:30 16:30 17:00 Echtzeitmodellierung und Simulation von Elektrofahrzeugen Aufbau eines Demonstrators mit NI VeriStand und SimulationX zur Abbildung eines elektrisch betriebenen Allrad-Buggys Karsten Todtermuschke, Jens Schindler, ITI High-Fidelity Robotersimulation mit LabVIEW und USARSim Anbindung von LabVIEW an den 3D Grafikund Physiksimulator USARSim zur Multi-Roboter-Simulation Christoph Gruber, UMIT-Private Universität Hall in Tirol

18 16 Technisches Datenmanagement Donnerstag, Kürzere Produktzyklen, bessere Qualität und innovatives Design gehen Hand in Hand mit unfangreichen Tests während der Produktentwicklungen. Leistungsfähige Hard- und Software leistet bereits einen großen Beitrag dazu, diese Tests schnell und kostengünstig durchzuführen. Die Auswertung der Messungen muss damit Schritt halten können. Eine zeitnahe Bereitstellung der Ergebnisse kann nur durch entsprechende Automatisierung erreicht werden. Für eine effektive Auswertung Ihrer Messdaten benötigen Sie jedoch nicht nur das richtige Werkzeug, sondern auch das passende Konzept, welches die spezifischen Anforderungen Ihrer Abteilung und eine optimale Nutzung des Werkzeugs zusammenbringt. Unter dem Titel Technisches Datenmanagement haben wir für Sie Beiträge zusammengestellt, die die Frage des richtigen Konzepts und des geeigneten Werkzeugs aus unterschiedlichen Blickwinkeln beleuchten. Lernen Sie von Anwendern, die bereits erfolgreiche Lösungen umgesetzt haben. Diskutieren Sie mit den Experten aus der DIAdem-Entwicklung, wie man Ihre Anforderungen und unsere Werkzeuge zu einem maßgeschneiderten Konzept umsetzt. Andreas Haub, Geschäftsführer National Instruments Engineering Andreas Haub ist verantwortlich für die Entwicklung der TDM-Produkte wie DIAdem und DataFinder. Er hat mit dazu beigetragen, diese Produktlinie als Standardwerkzeug für Firmen weltweit zu positionieren. Donnerstag, :00 11:30 11:30 12:00 12:00 12:30 12:30 13:00 Messdaten auswerten mit MS Excel oder DIAdem? Eine Gegenüberstellung für typische Aufgaben bei der Messdatenauswertung Andreas Haub, National Instruments Versuchsmanagement ohne Datenbank: Voith Hydro setzt im Turbinenversuch auf TDM, DIAdem und DataFinder Karl Finkl, a-solution Mit LabVIEW Messdaten effektiv speichern und weiterverarbeiten Eva Wolpers, National Instruments MBTAPS Mercedes Benz Truck Analysis Platform System auf der Basis von X-Frame und DIAdem Mathias Harlfinger, Daimler Dr. Joachim Hilsman, measx 13:00 14:30 Mittagsbuffet/Besuch der Ausstellung 14:30 15:30 DIAdem 2010: Vorstellung der neuen Version und Möglichkeit zum direkten Erfahrungsaustausch mit der DIAdem-Entwicklung Andreas Haub, Walter Rick, National Instruments 15:30 16:00 Kaffeepause/Besuch der Ausstellung 16:00 16:30 16:30 17:00 10 Tage Test in nur 20 Minuten auswerten? Möglichkeiten zur einfachen Bedienung für eine effiziente Datenanalyse mit DIAdem Walter Rick, National Instruments Lingua Franca für Messdaten. Geeignete Migrationsverfahren für die Erstellung und Vereinheitlichung von Datenablagen Andreas Haub, National Instruments

19 17 Validierung von Embedded-Systemen Donnerstag, Die zunehmende Komplexität und Leistung von Embedded-Systemen stellt wachsende Anforderungen an die Spezifikation, Applikationsentwicklung und den Test. Aufgrund dieser gestiegenen Ansprüche verzögern sich viele Embedded- Softwareprojekte, werden teurer als geplant oder scheitern sogar. In diesem Track erleben die Teilnehmer verschiedene Praxisvorträge rund um das Thema Validierung von Embedded-Systemen. Von der Anforderungsdefinition über die Simulation und das Rapid Prototyping bis hin zum konfigurierten, automatisierten Test, welcher den Kreis zu den Anforderungen schließt. Dabei werden sowohl Werkzeuge und Vorgehensweisen zur Bewältigung der gestiegenen Anforderungen als auch konkrete Lösungen von Kunden und Partnern vorgestellt. Marco Schmid, Geschäftsführer Schmid Engineering Seit 1997 ist er CEO eines weltweit tätigen Lösungsanbieters für Design von Industrieelektronik, Messgerätebau für die Schiene und Standardlösungen (Tools, Hard- und Software) für Embedded-Programmierung auf Systemlevel. Seine Schwerpunkte liegen bei Design und Entwicklung von Anwendungen mit LabVIEW auf Mikroprozessoren. Donnerstag, :00 11:30 11:30 12:00 12:00 12:30 12:30 13:00 Von den Requirements zum automatisierten Test Stephan Ahrends, National Instruments Mechatronisches Systems Engineering Grundlagen für automatisches Testen Dr. Rainer Stetter, ITQ How to Describe your System Behaviour The NI Way Chris Washington, National Instruments Vom funktionalen Entwurf mit physikalischer Modellierung bis zum vollständigen Test mechatronischer Systeme in der virtuellen und realen Umgebung Jens Schindler, ITI 13:00 14:30 Mittagsbuffet/Besuch der Ausstellung 14:30 15:00 15:00 15:30 Effizienter Einsatz von Fahrzeug-Simulationsmodellen in der Komponenten- und Regelsystementwicklung Oliver Philipp, TESIS DYNAware Validieren der Spezifikationen durch frühzeitiges Embedded Rapid Prototyping Marco Schmid, Schmid Engineering 15:30 16:00 Kaffeepause/Besuch der Ausstellung 16:00 16:30 16:30 17:00 Flexible HIL-Simulation für die Hausgeräteentwicklung Johannes Weingarten, evopro systems engineering Dynamisches Testen von Komponenten und Embedded-Systemen in Echtzeit Balázs Tóth, National Instruments

20 18 workshops für EinsTEigEr mittwoch, donnerstag, :00 12:00 12:00 13:00 14:30 16:00 16:30 17:30 interaktives messen und Prüfen mit labview signalexpress Einführung in die interaktive Messsoftware LabVIEW SignalExpress, die Erfassung, Analyse und Darstellung von Daten verschiedener Datenerfassungs- und Messgeräte vereinfacht Matteo Bax, National Instruments Einführung in labview Einführung in die grafische Programmiersprache NI LabVIEW anhand praktischer Beispiele Regina Walch, National Instruments Pc-basierte datenerfassung mit labview Verwendung der Datenerfassungshardware von National Instruments in Verbindung mit NI LabVIEW Fabian Töpper, National Instruments interaktives datenmanagement und Berichterstellung mit diadem Einführung in die Programmbedienung anhand typischer Mess- und Visualisierungsaufgaben Alexander Glasner, National Instruments Donnerstag, :00 12:00 12:00 13:00 14:30 15:30 16:00 17:00 messgerätesteuerung mit labview und Tektronix-oszilloskopen Messgerätesteuerung bedeutet: Software auf einem PC einzusetzen, um ein Messgerät dezentral über einen Steuerbus zu kontrollieren. Dieser Workshop demonstriert dies mit Hilfe von Tektronix-Oszilloskopen Ramona Matthews, National Instruments grundlagen in labwindows/cvi Einführung in die ereignisorientierte ANSI-C-Programmierumgebung LabWindows/CVI Susanne Seidl, National Instruments industrielle Bildverarbeitung mit Vision Builder ai NI Vision Builder AI ist eine interaktive, konfigurierbare Programmierumgebung, mit der Bildverarbeitungsanwendungen ohne Programmieraufwand erstellen, analysiert und ausgeführt werden können Beat Schib, National Instruments grundlagen in Teststand NI TestStand ist eine sofort einsatzfähige Testmanagementsoftware, die das Entwickeln automatisierter Prüf- und Validierungssysteme erheblich beschleunigt Houssam Kassri, National Instruments

21 19 workshops für fortgeschrittene mittwoch, donnerstag, :00 12:00 12:00 13:00 14:30 16:00 16:30 17:30 Echtzeittest mit Veristand Erhalten Sie eine Einführung in die sofort einsatzbereite Softwareumgebung NI VeriStand für die Konfiguration von Echtzeitprüfanwendungen einschließlich Hardware-in-the-Loop-Prüfungen Carsten Sckopke, National Instruments deterministische anwendungen mit labview real-time Die Entwicklungsumgebung LabVIEW, das LabVIEW Real-Time Module und die Hardware der RT-Serie von National Instruments ermöglichen eine deterministische Echtzeitausführung für Datenerfassungs-, Steuer- und Regelsysteme Ralf Nitzsche, National Instruments Projekte mit der ni-compactrio-plattform und labview fpga Der Workshop bietet eine Einführung in die Programmierung des CompactRIO mit LabVIEW Real-Time und LabVIEW FPGA Stefan Kissel, National Instruments schall- und schwingungstechnik mit labview und ni compactrio Die Software für Geräusch- und Schwingungsanalysen von NI stellt eine vollständige Lösung für alle Akustik-, Elektroakustik-, NVH- und Maschinenzustands-überwachungsanwendungen zur Verfügung Bernd Fasching, National Instruments Donnerstag, :00 12:00 12:00 13:00 14:30 15:30 16:00 17:00 Von der schaltungssimulation zum leiterplattenentwurf mit der ni circuit design suite In diesem Workshop werden Disziplinen der professionellen Elektronikentwicklung präsentiert: von der intuitiven Schaltplaneingabe und der interaktiven SPICE-Simulation bis hin zum leistungsstarken Leiterplattenentwurf mit integriertem Autorouting Thomas Baumecker, National Instruments Vi-scripting labview programmiert sich selbst! Automatisierung der LabVIEW-Programmierung zur Steigerung der Produktivität und für die Erstellung eigener Funktionen und Werkzeuge mittels VI Scripting, das Anwendern die Entwicklung eines LabVIEW-Programms ermöglicht, welches LabVIEW-Code erzeugen und prüfen kann Christian Mergl, National Instruments Performance-optimierungen für labview-projekte Dieser Workshop zeigt Ihnen die häufigsten Performance- Fallen, die es in LabVIEW gibt. Dabei werden sowohl die Aspekte des Speicherbedarfs als auch die Abarbeitungsgeschwindigkeit betrachtet Marco Brauner, National Instruments workshop in-circuit-test Matthias Vogel, Konrad Technologies clad-zertifizierung donnerstag, :00 17:00 uhr Im Rahmen des Kongressbesuchs haben die Teilnehmer am 2. Kongresstag die Möglichkeit, kostenfrei an der CLAD-Zertifizierung (Certified LabVIEW Associate Developer) teilzunehmen. Zertifizierte Mitarbeiter machen sich für Unternehmen schnell bezahlt. Durch ihre umfassende Ausbildung und die nachgewiesenen Fähigkeiten sind sie für große Herausforderungen bestens gerüstet und verfügen durch das industrieweit anerkannte Zertifikat über eine optimale Referenz und einen Qualitätsnachweis. Eine Teilnahme an der CLAD-Zertifizierung ist nur in Verbindung mit einer Teilnahme am VIP-Kongress möglich!

22 20 Podiumsdiskussion, Mittwoch, 14:30 15:30 UHR Ressourcen- und Energieeffizienz: Innovationen und Werkzeuge Moderator: Ronald Heinze, Chefredakteur etz und openautomation, VDE Verlag Es diskutieren unter anderem: Johannes Lackmann, Geschäftsführer VDI Zentrum Ressourceneffizienz GmbH Dr. Reinhard Hüppe, Geschäftsführer Fachverband Automation im ZVEI Rahman Jamal, Technical & Marketing Director National Instruments Central Europe Medienpartner all-electronics.de All About Test ATZ Elektronik Channel-e DIAdem-Forum elektroautomation ELEKTRONIKPRAXIS Elektronik Informationen elektrotechnik etz hanser automotive :K-Magazin LabVIEW-Forum Mechatronik messtec drives Automation openautomation

23 21 Ausstellung In der kongressbegleitenden Ausstellung präsentieren über 30 Produktpartner und Systemintegratoren ihre aktuellsten Anwendungen, Lösungen und Produkte. Auf der großzügigen Ausstellungsfläche können Sie sich über neueste Entwicklungen informieren oder sich mit Ausstellern über Serviceangebote und Lösungsstrategien abstimmen. Ausstellungszeit: Mittwoch: 09:00 19:00 Uhr, Donnerstag: 09:00 17:00 Uhr 6TL Engineering A.M.S. Software GmbH AMC - Analytik & Messtechnik GmbH Chemnitz CGS - Computer Gesteuerte Systeme GmbH CIM Industrial Systems A/S COMSOFT GmbH DENSO EUROPE B.V., Abt. Robotics esz AG calibration & metrology ExpertControl GmbH GADV mbh Göpel electronic GmbH HEITEC AG IRS Systementwicklung GmbH ITI GmbH ITK Engineering AG Kiehm Datenmanagement GmbH Kinzinger GmbH Konrad GmbH maxon motor GmbH measx GmbH&Co.KG MIC Mass Interface Connections GmbH MicroNova AG National Instruments Noffz ComuterTechnik GmbH S.E.A. Datentechnik GmbH Schmid Engineering AG SOMA GmbH Systec GmbH Tektronix GmbH Werum Software & Systems AG XOn Software GmbH Zühlke Engineering GmbH Stand Juni 2010