Mitteilungen der Deutschen Gesellschaft fur Elektronenmikroskopie e. V.

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1 Dezember 1995 Nummer 12 ISSN ,, Mitteilungen der Deutschen Gesellschaft fur Elektronenmikroskopie e. V.

2 SEM Hitachi Scientific Inst u RASTERELEKTRONENMIKROSKOPE fur die Halbleiterindustrie, Biologie und Werkstoffwissenschaften Modell Mit uber 200 weltweit verkauften Einheiten bestes ultra-hochaufl6sendes Feldemissions-REM seiner Klasse Aufl6sung: ~ 1,5 nm bei 15 kv ~ 4,0 nm bei 1 kv Ausgezeichnete Abbildungseigenschaften mit dem oberen und unteren Detektor auch bei hohem Arbeitsabstand fur Nichtleiter, feuchte Proben... Modell N Universal-Rasterelektronenmikroskop mit Hoch- und Niedervakuumbetrieb Vierte Generation der erfolgreichen Hitachi.Natural"-Serie: Untersuchung von Proben jeder Art ohne vorherige Praparation LaB 6-Bildqualitat mit einem Wolfram-Emitter Einfache Steuerung uber Konsole und Maus HITACHI Scientific Instruments Hitachi Scientific Instruments Nissei Sangyo GmbH (Deutschland) Berliner Strafse Ratingen Tel. (021 02) , Fax (021 02)

3 Deutsche Gesellschaft fur Elektronenmikroskopie e. V. Geschaftsfuhrung Vorsitzender Prof. Dr. Manfred Ruhle Max- Planck-Institut fur Metallforschung SeestraBe Stuttgart Telefon: (07 11) Telefax: (07 11) Stellv. Vorsitzender Prof. Dr. Pedro Mestres Universitat des Saarlandes Institut fur Anatomie/FR Homburg/Saar Telefon: (068 41) Telefax: (06841) GeschaftsfuhrenderVorsitzender Dr. Walter Hert Ingolstadter Str Munchen Telefon: (0 89) Telefax: (089) Schatzmeister Dr. Bernd Tesche Max- Planck-Institut fur Kohlenforschung Kaiser-Wilhelm-Platz Mulheirri/Ruhr Telefon (0208) Telefax (0208) Beisitzer Prof. Dr. Hannes Lichte Technische Universitat Dresden Institut fur Angewandte Physik Zellescher Weg Dresden Telefon: (0351) Telefax: (03 51) Prof. Dr. Ulrich Messerschmidt Max-Planck-Institut fur Mikrostrukturphysik Weinberg Halle/Saale Telefon: (03 45) Telefax: (0345) Prof. Dr. Harald Rose Technische Hochschule Darmstadt Institut fur Angewandte Physik HochschulstraBe Darmstadt Telefon: (061 51) Telefax: (061 51) Dr. Karl Zierold Max- Planck-Institut fur molekulare Physiologie Rheinlanddamm Dortmund Telefon: (0231) Telefax: (0231) Dr. Josef Zweck Universitat Regensburg NWF II - Physik Regensburg Telefon: (0941) / Telefax: (0941) Ehrenbeisitzer Dr.-Ing. Gerhard Schimmel Am Sonnenberg 17A Reichelsheim Telefon: ( ) 820 Rechnungspriifer Dr. Heinz Schwarz Max- Planck-Institut fur Entwicklungsbiologie SpemannstraBe Tubingen Telefon: (07071) Telefax: (07071) Dr.-Ing. Gerhard Schimmel Adresse siehe Ehrenbeisitzer Beisitzer im Briefwahlausschu6 Dr. Hans-Dietrich Bauer IFW - Institut fur Fcstkorper- und Werkstofforschung Dresden e. V. HelmholtzstraBe Dresden Telefon: (03 51) Telefax: (03 51) Prof. Dr. Helmut Kohl Universitat Munchen Physikalisches Institut Wilhelm-Klemm-Str Munster Telefon: (0251) Telefax: (02 51) Redaktionsschlu6 fttr Nummer 13: 15. Mai 1996 Redaktion: Dr. Bernd Tesche Deutsche Gesellschaft fur Elektronenmikroskopie MPI-fUt-KQ.hlcnforschung;Abt.Elektronenrnikroskopie,-K-aiser-Wilhelm-F-Iatz-l, 4S4-70-Mulheim/Ruhr- 2 Elektronenmikroskopie. Nr. 12. Dezember 1995

4 Vorteile fiir Ibre Quantitative Oberflacbenanalyse!!! Rastersondenmikroskope von Park Scientific Instruments, einem der weltweit tuhrenden Hersteller Nutzen auch Sie die faszinierenden M6g lichkeiten dieser Analysemethoden. Vielseitige Einsatzm6glichkeiten Keine Probenpraparation Subnanometer Aufl6sung Rauhigkeitsmessungen Messung in FlUssigkeiten Hohe Leistunqsfahiqkeit verbunden mit einfacher Bedienung werden Sie uberzeuqenl Geben Sie sich nicht mit weniger zufrieden! Fordern Sie noch heute unsere Unterlagen an! at~~s BergstraBe Pfurigstadt Tel.: (06157) Fax: (06157 ) ATOS GmbH (Schweiz), Tel.: 056/ , Fax : 056/ Kommen Sie in das neue XV-Rasferelektronenmikroskop VISITEe TECHNOLOGY WITH A VISION zerst6rungsfreie Untersuchung Probengewicht bis 300 kg Integration von Fertigungsund PrOfgeraten VisiTec Microtechnik GmbH Karl-Ma rx-stra Be Grevesmuhlen Telefon ( ) Fax ( ) Elektronenmikroskopie. Nr. 12. Dezember

5 Diamantmesser fur jede Anwendung COOL SPUTTER COATER DENTON DESK II Automatischer oder manueller Betrieb Integrierte Vakuumpumpe Ultra Cryo Histo vom fuhrenden Diamantmesserhersteller DiATOME Bitte fordern Sie eine Preisliste an: C.SCHMIED-Labortechnik Bielefe ld Rote Kuhle 9 Tel. 0521/ Fax 0521/21740 Wahlweise Sputtern oder Atzen Magnetronkopf mit patentiertem "Anoden Grid" Folientargets, sehr einfach zu wechseln VertriebundKundendienst: Adi Hassel Ing.-Biiro f. ProzeBtechnik und Instrumentelle Analytik Connollystr. 29, D Munchen Tel. (089) , Fax (089) Elektronenmikroskopie. Nr. 12. Dezember

6 Standard methode Verfahren zu: EM-Priiparatio Lf /CA fm LYNX Einbettautomat zurvollautomatischen Fixierung, Entwasserung und Infiltration von Geweben mitmonomeren Einbetten Lf/CA fm TRIM Prsoeret Trimmaschine tiuprazise und einfache Herstellung von glasklaren Pyramiden und Anschnittflachen Trimmen Lf/CAfMKMR Glasmesser Brectiqetst zurherstellung von 45 Messern nach derfreibruch-methode Messerbrechen Lf/CA fmmp Heizplatte zum Aufbringen der Trufs und Fetbe» dersemidilnnschnitte Aufsetzen der Trufs Lf/CA ULTRACUTUCT Universal Ultramikrotom zurherstellung von Semi- und Ultradilnnschnitten Schneiden.... _..,".... ~..... Lf/CA ULTRACUT R Routine Ultramikrotom zurherstellung von Semi- und Ultradilnnschnitten Schneiden Lf/CA fm STAIN Kontrastierautomat zurdoppelkontrastierung von Schnitten aufnetzen mitstabilisierten Ultrostains Kontrastieren -...

7 bei Raum- und Tiehemperatur Kryomethoden II....l - Lf/CA fm CPC Universal Kryofixations-System zur Immersions- und Metal/spiegel-Kryofixation sowie Kryopriiparation Fixieren Lf/CAfM MMBOf Metal/spiegel Kryofixations-System Fixieren LflCA HPF Lf/CA fm HPF Hochdruck Kryofixations-System filr biszu lox bessere Kryofixation Hochdruckfixieren Lf/CA fmafs System zurautomatischen Gefriersubstitution nach der Kryofixation, zurplt-methode und zur Tieftemperatureinbettung Gefriersubstitution Lf/CA fm CFD Kryosorptions Gefriertrocknungs- und Tieftemperatur Einbettungssystem filr Proben und Schnitte Gefriertrocknung Lf/CA fm FCS... Universal Tieftemperatur-Schneidesystem zur Herstel/ung von Schnitten bei Temperaturen bis- 175 C Schneiden \. ",.... ;.. \..' Lf/CA fm FCR Routine Tieftemperatur-Schneidesystem zur Herstel/ung von Schnitten bei Temperaturen bis-120 C Schneiden

8 Wir wollen mit innovativen liisunqen des Sichtbarmachens, Messens undanalysierens fiir die Bediirfnisse unsererkunden weltweit der Lieferantder ersten Wahl sein. Leica - die Marke filr herausragende Produkte Leica - die fuhrende Marke fur Mikroskope und wissenschaftliche Instrumente ist gewachsen aus den traditionsreichen Markennamen Wild, Leitz, Reichert, lung und Cambridge Instruments. Leica bedeutet zugleich Tradition und Kompetenz zur Innovation. Mikroskope Lichtmikroskope Stereomikroskope Operationsmikroskope Laser-Rastermikroskope Mikrophotographie Videomikroskopie Laborausriistung Gewebetntittretionsqerete Einbettsysteme Routine- und lmmunietbeinstrumente Eindeckautomaten Refraktometer Hochentwickelte Systeme Bildanalyse Spektralphotometrie Automatisierte Inspektionssysteme MeBsysteme Mikrotome Schlitten- und Rotationsmikrotome Kryostate EM-Priiparation Elektronenstrahllithographie Ultramikrotome systeme Gerstefilr die TEM-Probenvorbereitung Vertrieb Deutschland: Leica Vertrieb GmbH LilienthalstraBe Bensheim Tel 06251/136-0 Fax06251/ Vertrieb Osterreich: Leica Handelsges.m.b.H. KoppstraBe Wien Tel 0222/ Fax0222/ Vertrieb Schweiz: Leica AG Kanalstrasse Glattbrugg TeI Fax Leica Aktiengesellschaft Hernalser HauptstraBe 219 Leica Microscopy and Scientific Instruments Group, A-1171 Wien Austria CH-9435 Heerbrugg, Switzerland. TeI Tel. 071/ Fax 071/ Fax

9 Aus Forschung und Industria einer Dia-Serie zusammengestellt und beschrieben. Die DOE besitzt noch eine beschrankte Anzahl davon. Mitglieder konnen sie gegen Porto- und Versandkosten (DM 8,- in Briefmarken) bei der Redaktion der DGE-Mitteilungen bestellen. Personalien Gerateverkauf For Sale Analytical Transmission Electron Microscope Type: Philips EM 400T/STEM/EDS (PW 6004, Serial No. D 851) Bodo von Borries ein Riickblick Meine sehr verehrten Damen und Herren, die Bodo v. Borries-Stiftung, die die - - lnstalloo- since----l98g -at- -Siemens-- "heutigeveraiisfaltung erinoglichi hat, AG, Power Generation Group (KWU) in Erlangen Features - Side entry goniometer with various sample holders (analytical, standard single tilt, rotation), twin lens, LaB 6-cathode. - Scanning transmission attach ment with photo monitor and ca mera. - Secondary electron detector for high resolutive SEM. - Energy dispersive analytical system EDAX 9100/60, analytical and free programming software, 8,um-Be-window Si detector. The microscope system is in very good condition (continous service contract with Philips). Fore information please contact: Siemens AG, Power Generation Group (KWU), Freyeslebenstr. 1, Erlangen/Germany Mr. G. Maussner Phone: (091 31) Fax: (091 31) will dazu mithelfen, dab der Name eines der bedeutendsten fruhen Pioniere der Elektronenmikroskopie nicht in Vergessenheit gerat. lch mochte daher kurz seinen Lebenslauf und seine wichtigsten Beitrage zur Elektronenmikroskopie skizzieren. Bodo v. Borries wurde am 22. Mai 1905 in Herford geboren, wurde also noch in diesem Jahr seinen neunzigsten Geburtstag begehen. Nach einem Studium der Ingenieurwissenschaften und der Elektrotechnik_ 12e~t~ng _e[ in.munchen das Diplomexamen. Im Fruhjahr 1929 wurde er dann Doktorand in einer Forschungs- und Entwicklungsgruppe am Hochspannungsinstitut der Technischen Hochschule in Berlin unter Leitung von Fakultat fur Physik Universitat Tiibingen Einladung zur Bodo von Borries-Vorlesung Mittwo'ch, 03. Mai Uhr e.t, Horsaal N3, Auf der Morgenstelle Ultramikrotom, LKB, Ultrotome 2128, komplett mit Zubehor DM 5500,-. Interessenten wenden sich bitte an: Dr. D. Meier, Pathologisches Institut, Stadtisches Klinikum, Moltkestr. 14, Karlsruhe, Tel. (0721) BegruBung und Einfuhrung: Bodo von Borries - ein Ruckblick: Prof. Dr. Rudolf Hubener Prof. Dr. Friedrich Lenz "Condensed Matter: a Science of the 20th Century at the Millennium" Prof. Dr. Theodore H. Geballe, Stanford University Prof. Dr. Dr. he. A. FaBler Dekan der Fakultat fur Physik Prof. Dr. R. Hubener 1m Namen der Bodo von Borries-Stiftung Elektronenmikroskopie. Nr. 12. Dezember

10 Nationaler und Internationaler Tagungskalender rialien V. Information: Prof. Dr. R. Reichelt, Institut fur Medizinische Physik und Biophysik, Universitat Munster, R.-Koch-Str. 31, D Munster Munster 29. Kolloquium EDO. Information: Prof. Dr. R. Reichelt, Institut fur Medizinische Physik und Biophysik, Universitat Munster, R.-Koch-Str. 31, D Munster I Cleveland, Ohio, USA: Annual Meeting of the Microscopical Society of America. Cleveland, Ohio, USA Brackenridge, CO, USA: Microbeam Analysis Society Regensburg: Dreilandertagung (SGOEM / SSOME, OGEM, DGE) I 1998 XIVth International Congress on Electron Microscopy. Cancun, Mexico. Annual Meetingofthe Microscopical Society of America. Atlanta, GA, USA. I 1999 Annual Meeting of the Microscopical Society of America. Tampa, FL, USA. Lehrqanqe In Munster Gemeinschaftsveranstaltungen der Arbeitsgemeinschaft fur Elektronenoptik e. V. (AEO) und des Vereins zur Forderunq der wissenschaftlichen Weiterbildung in Kooperation mit der Westfalischen Wilhelm-Universitat Munster l.ehrqanqe Praxis der Rasterelektronenmikros.kopie und der Mikrobereichsanalyse fur wissenschaftliche und technische Mitarbeiter aus Indu strie, Forschungseinrichtungen, Hochschulen oder Behorden, die Kenntnisse und praktische Erfahrungen uber Grund lagen und Anwendungen der Rasterelektronenmikroskopie und der Mikrobereichsanalyse erwerben mochten, Lehrgang R-1: Montag, 26. Februar bis Freitag, 1. Marz 1996 Lehrgang R-2: Montag, 4. Marz bis Freitag, 8. Marz 1996 Lehrgang R-3: Montag, 11. Marz bis Freitag, 15. Marz 1996 Lehrgang M-1: Montag, 26. Februar bis Freitag, 1. Marz 1996 Lehrgang M-2: Montag, 4. Marz bis Freitag, 8. Marz, Taglich von Uhr und Uhr Anmeldungen werden erbeten unter: Lehrqanqe Rasterelektronenmikroskopie Priv.-Doz. Dr. ~ F. Schmidt Technologiehof Munster MendelstraBe Munster Tel. (01 72) Fax (0251) Elektronenmikroskopie. Nr. 12. Dezember 1995

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