In-Circuit und Funktionstestplattform

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1 In-Circuit und Funktionstestplattform

2 DIE COMPACT LINE WURDE ENTWICKELT, UM DEN ANFORDERUNGEN DER SOGENANNTEN LEAN PRODUCTION UNTER BERÜCKSICHTIGUNG DER ANFORDERUNGEN BEI DER PRODUKTION VON ELEKTRONISCHEN BAUGRUPPEN ZU ENTSPRECHEN WCM COMPLIANT Die World Class Manufacturing (WCM) Richtlinie wurde mit der Absicht entwickelt, Fertigungspraktiken zu definieren, die weltweit Gültigkeit haben. Der Grundtenor dieser Richtlinie ist die systematische Reduzierung aller Arten von Abfall und Verlusten durch rigorose Anwendung von Methoden und Standards, unter Einbindung aller in der Organisation. Seica s neue Compact Linie ist die konsequente Weiterentwicklung der erfolgreichen Vorläuferlinie, um den Herausforderungen der lean production generell zu entsprechen und speziell auf die Anforderungen der Hersteller von elektrischen Baugruppen zugeschnitten. Sie ist ergonomisch durchdacht und technologisch wettbewerbsfähig durch höchste Flexibilität, Messgenauigkeit und Testdurchsatz, in einer schmalen Bauform mit minimaler Standfläche und begrenztem Verbrauch und damit ein dauerhaftes Produkt mit Spitzenleistung. COMPACT LINIE DESIGN Den WCM Richtlinien folgend, wurde speziell der Ergonometrie und Sicherheit im Arbeitsbereich Beachtung geschenkt: vernünftige Platzierung der beweglichen Teile oder denen, die in Kontakt mit dem Bediener kommen (Beinfreiheit, Gewicht des Prüfadapters beim Wechseln, automatisierte Werkzeuge zur Unterstützung (Prüfrahmen). Alle Anschlüsse und Anzeigen für die Systemwartung (Druckluft, Netzwerkeingänge, Stromanschlüsse) sind zur leichten Erkennung für den Bediener platziert. Die Systeme wurden mit umfassenden Eigenschaften ausgestattet, um Wartungsarbeiten zu erleichtern, mögliche Ausfallzeiten zu reduzieren oder ganz auszuschließen wie z.b.: Lufteinlässe für die Kühlung, Abdeckungen gegen Staub und Wasser, Abdeckung der Serviceeingänge gegen unbeabsichtigten Zugriff, usw. Alle Compact Systeme können als Multi-Receiver und Multi-Job Tester konfiguriert werden: Anzahl der Einzel JOB MULTI-JOBS (2/4) Prüfaufnahmen Einzelprüfaufnahme Standard Zwei Prüfaufnahmen Alternativ Mode Synchroner Paralleltest hoher Durchsatz, typisch für Nutzen Asynchroner Paralleltest Hoher Durchsatz, teure Ressourcen gemeinsam genutzt Die Systeme können in unterschiedlichste ergonomische Gehäuse integriert werden, die unterschiedliche Stufen der Erweiterbarkeit bieten: COMPACT TK, COMPACT MULTI und COMPACT SL. HOHE LEISTUNGSFÄHIGKEIT, FLEXIBILITÄT UND DURCHSATZ Die Compact Serie wurde auf Seica s VIP Plattform entwickelt, um die Konfigurierbarkeit zu maximieren, den unterschiedlichsten Testanforderungen zu entsprechen und um dem Benutzer die Auswahl der Konfiguration zu überlassen, die am besten für seine Anwendung passt: In-Circuit Test, Funktionstest, Benchtop oder eine komplett automatisierte Testlösung, welche direkt in die Produktionslinie integriert werden kann. Ersatzteile können über die gesamte Plattform verwendet werden, um die Wartungskosten auf ein Minimum zu halten.

3 DER LOGIC CORE Die Compact VIP Serie umfasst einen kompletten Satz von SW Werkzeugen, um die besten Testergebnisse zu erzielen, anstatt sich mit Limitierungen der Software Umgebung auseinander setzen zu müssen. Das ACL-Synthetische Instrument ist der Kern eines jeden Systems: entwickelt als Antwort auf In-Circuit und Funktionstestanforderungen. Das ACL basiert auf der DSP-Technologie und Die Compact Serie ist spezialisiert auf hohen Durchsatz, bietet Konfigurationen für den synchronen und asynchronen Paralleltest, entsprechend der Produktionsanforderungen des Anwenders. benutzt unabhängige D/A und A/D Wandler für jedes synthetische Instrument. Die Messungen sind schnell, genau und wiederholbar und jede ACL Karte besitzt drei unabhängige Signalgeneratoren (AWG), ein Multimeter, einen Timer- Counter und einen großen Speicherplatz sowie Prozessfähigkeit zur Signalanalyse und digitale Scope Funktionalitäten. Vier High Speed Digitalkanäle und andere Signale sind ebenso verfügbar und verschaltbar über den analogen Signalbus oder direkt zugänglich an der Frontpanele. Gesteuert durch den System-PC über den optischen Glasfaser-Bus, befinden sich im VIP Tester Backplane Kanalkarten, Routing Karten und interne Instrumentierung. Die VIP Tester Backplane bietet unübertroffene Flexibilität mit vollem Zugriff auf die Prüfadapteraufnahme. Sie bietet Raum für Erweiterungen sowie eingebaute Signal und Power Busse, um allen Anforderungen der Stimuli und Messungen am Prüfling zu genügen. SCHNELLE, LEISTUNGSFÄHIGE, AUTOMATISCHE TESTPROGRAMMENTWICKLUNG Wie alle SEICA Systeme basiert die Compact Serie auf der leistungsfähigen VIVA Software Umgebung. Mit über 20 Jahren Testerfahrung, bietet die VIVA Umgebung eine einzigartige Leistungsfähigkeit, ist leicht zu bedienen, flexibel und hat einen reichhaltigen Satz von Werkzeugen, um allen Anforderungen bezüglich der Testprogrammgeneration, Debugging, Ausführung, Diagnose, Reparatur und Datenerfassung gerecht zu werden. Weiterhin wurde alles getan, um die Geschwindigkeit bei der Testprogrammgeneration, den Umfang bei der Testabdeckung und den Durchsatz ohne Kompromisse zu erhöhen. VIVA ist eine komplett prozessorientierte Testumgebung, entwickelt um die Testprogrammentwicklung stromlinienförmiger zu gestalten und die funktionale Grafikumgebung (FGE) führt den Anwender durch eine Serie von automatisierten Operationen in einer intuitiven, sich selbsterklärenden Umgebung. CAD Daten werden direkt importiert, um eine umfassende Datenbank für die Testgenration, Validierung und Diagnostik (eine Bibliothek von über 35 CAD Konvertern ist verfügbar) zu erzeugen. Die Schaltpläne der Baugruppen, Layout und Nomenklatur sind dynamisch verlinkt und vom Anwender kontrollierbar. Eine Reihe von kompletten Testbibliotheken für analoge und digitale Komponenten sind in unserer dedizierten Testsprache NVL (Neutral VIVA Language) verfügbar und die VIP Plattform stellt sicher, dass Programme, entwickelt auf anderen VIP Systemen auch auf der Compact VIP Serie eingesetzt werden können. Ein auf einer Pilot Serie entwickeltes Programm kann auf ein Compact System übertragen werden und erlaubt so dem Anwender den Produktionstest bezüglich des Volumens, Durchsatzes und der Testanforderungen zu optimieren. Dank der einzigartigen, offenen Architektur, ist VIVA kompatibel mit verschiedenen anderen front-end Paketen und erlaubt eine einfache Integration von externen (.EXE. und.dll) Software Modulen genauso wie third party Sprachen und Sequenzen wie z.b. Labview und Test-Stand, welches dem Anwender ermöglicht, sein existierendes know-how und Prozeduren zu verwenden, die besser geeignet sind, mit den bereits vor Ort vorhandenen Werkzeugen zu interagieren.

4 DIE COMPACT LINIE: MAXIMALE KONFIGURIERBARKEIT Compact TK Dies ist die kleinste Konfiguration und ist generell empfohlen für ICT und On-Board Programming Anwendungen.Sie ist charakterisiert durch einen hohen Grad an Ergonomie, kleiner Standfläche, leichter Wartung, geringe Leistungsaufnahme und hohe Bedienersicherheit. m kleine Standalone Lösung auf Rädern m PARALLEL TEST Option bis zu 4 JOBS m Bis zu 1536 analoge Kanäle m Bis zu 128 hybride Kanäle (max. 10 MHz digital) m Openfix vektorlose Testoption m Bis zu 3 Benutzer-Stromversorgungen m Funktionstest-Erweiterbarkeit m On Board Programming Eigenschaften m Boundary Scan Testoption m Pneumatik/Vakuum für Prüfaufnahme eingeschlossen m Kabinett voll integriert mit PC und Prüfaufnahme m 230 V, 500 W, Druckluft erforderlich Compact Multi Diese Konfiguration ist empfohlen für den Pre-Funktionstest, Funktionstest und kombiniertes Testen. Die Vielseitigkeit und Konfigurierbarkeit der Compact MULTI Testsysteme ist perfekt geeignet für die Integration von externen Instrumenten. m Analogkanaleigenschaften m Hybridkanaleigenschaften m Leistungskanaleigenschaften m Funktionstesteigenschaften m Optionale Software In-circuit Eigenschaften m Labview/TestStand Betriebs-Software m GPIB Instrumenten Vorverdrahtung m CAN, LIN, K-line Protokolle m Manuelle Prüfaufnahme integriert (TM1) m Bis zu 6 programmierbare Benutzerstromversorgungen m Widerstandslast- Module m Hochspannungs-/Stromeigenschaften

5 UND FLEXIBILITÄT Compact SL Die Compact Line ist ergonomisch durchdacht und technologisch konkurrenzfähig. Sie bietet höchste Flexibilität mit hoher Messgenauigkeit, hoher Testgeschwindigkeit bei minimaler Standfläche und mit geringem Verbrauch ist sie so ein Spitzenprodukt. Die Compact SL Konfiguration bietet eine komplett automatisierte Lösung über ein integriertes, SMEMA kompatibles Transportsystem. Sie erlaubt eine komplett automatische Baugruppen Be-/Entladung und die leichte Integration in hochvolumige Produktionslinien. Konfigurierbar als ICT, Pre-Funktionstest, Funktions-und Kombitester. m SMEMA compliant Inline oder Standalone Lösung m Bis zu 4608 analoge Kanäle m Bis zu 1024 hybride Kanäle (max. 10 MHz digital) m Openfix Fähigkeit m Bis zu 16 Benutzerstromversorgungen m Funktionstesterweiterbarkeit m On Board Programming Eigenschaften m GPIB, RS232, CAN, und andere Protokolle Management m Pneumatische/vakuum motorisierte Prüfaufnahme m 19 internes Rack für 3rd Party Instrumente m 230 V, 1kW, Druckluft erforderlich

6 Compact Optionen ON-BOARD PROGRAMMIERUNG SEICA bietet eine vollintegrierte On-Board-Programming (OBP) Lösung, welche in jedem Compact System eingesetzt werden kann. In Bezug auf die Prüfadapter- Integration, bietet diese Lösung einen wichtigen Vorteil in Bezug auf Betriebskosten, Geschwindigkeit und leichte Bedienbarkeit, ermöglicht durch die dedizierte SW Management Umgebung. In der maximalen Konfiguration, können bis zu 16 Bausteine simultan programmiert werden. Seica bietet dazu eine Bibliothek mit dutzenden verfügbaren Plug-Ins und bietet einen Entwicklungs-Service für Kundenanforderungen. HOCHSPANNUNGSTESTEN Wenn der Test eine Hochspannungsanalyse erfordert (bis zu 1 KW), dann gibt es Module, die bis zu 12 externe Ressourcen handhaben können (Transformatoren, Varistoren, aktive Lasten, Kundenschaltkreise, etc.) und bis zu 72 Ein-/Ausgang bipolare Kanäle. All diese Instrumente, die für die notwendigen Messungen benötigt werden, sind in das Testergehäuse integriert, welches die Schaltmatrix und Backplane beinhaltet. Die Software erlaubt dem Anwender ein einziges Programm zu generieren, welches das Standard- ICT Testen aber auch Funktionstestroutinen umfasst. Um die elektrische Signalintegrität zu verbessern, kann die Prüfaufnahme im Zweistufen- Modus betrieben werden. BOUNDARY SCAN Die hohe Flexibilität der offenen Architektur der VIP Plattform ermöglicht eine leichte Integration von externen Software und Hardware Modulen, welche nicht nur die Test- sondern auch die Programmiermöglichkeiten erweitern. Die virtuelle Nadelbett (VBN) Eigenschaft, von SEICA entwickelt, ist besonders nützlich, um die Testabdeckung, die am Prüfling als eine Gruppe von virtuellen I/O Kanälen verfügbar sind, durch die Pins der JTAG Komponenten durch hinzufügen von drive/sense Eigenschaften zu erhöhen, insbesondere, wenn ein direkter Zugriff auf diese Pin-Gruppe nicht verfügbar ist. Das VBN Modul ist in VIVA voll integriert und erfordert keine zusätzlichen Hardware Ressourcen. OPEN FIX TEST Das OPENFix Modul wird heute zum Testen von hochkomplexen IC s eingesetzt, ohne dass der Prüfling mit Versorgungsspannung belastet wird. Der dedizierte kapazitive Sensor ist auf dem zu prüfenden IC platziert und misst das übertragene Wechselsignal, um offene Anschlüsse zu erkennen. Diese Technik schließt ebenso die Erkennung von Kurzschlüssen an benachbarten Pins ein. Die schnell und leicht zu generierenden Tests mit Autolearning garantieren eine schnelle und extrem effiziente Implementierung.

7 REPARATURSTATION UND STATISTIK Das Reparaturstationsmodul bietet eine umfangreiche grafische Software-Umgebung zur Fehlerlokalisierung und Reparatur. Wenn die Testphase abgeschlossen ist, kann der Bediener sich die detektierten Fehler (manuell oder mit einem Barcode Leser) abrufen und für jede getestete Baugruppe mit den Verbindungen für jede eingesetzte Komponente visualisieren. Ein intuitiver und selbsterklärender Dialog zeigt alle kritischen Punkte, die eine Inspektion erfordern und erlaubt dem Bediener, die zur Reparatur erforderlichen Informationen abzurufen, die anschließend in eine Datenbank abgespeichert werden. Das QSTAT Werkzeug benutzt diese Datenbank, um Hinweise und Reparaturinformationen für den Bediener zur Fehlersuche sowie Berichte über die Aktionen zu den Reparaturen der getesteten Baugruppen zu generieren. Diese Software kann entweder am Testsystem (lokal) oder über das Netzwerk verbunden, an einem bestimmten PC (remote) installiert werden. Die Datenbank kann Reparaturaktionen an Nutzen-Baugruppen, Aufsteckleiterplatten und Einzelnutzen ohne Begrenzung der eingegebenen Daten oder Dimensionen sammeln (nur mit Begrenzung des Speicherplatzes auf der Platte). Das SPC Werkzeug ermöglicht die statistische Analyse der Testdaten und die Erzeugung der CP, CPK und Gauge R&R Reports. QUICK TEST Quick Test ist eine globale, virtuelle Instrumenten- Umgebung für den Zugriff auf alle Seica-Hardware. QuickTest ermöglicht dem Benutzer grafisch und interaktiv in Echtzeit Testsequenzen mit dem Prüfling und Tester-Hardware zu erzeugen, die off-line (Hardware Emulation) vorbereitet oder direkt ausgeführt und visualisiert werden können. Ergebnisse können gespeichert und als Teil in das Testprogramm übernommen werden. QuickTest ermöglicht dem Techniker, jedes Teil der leistungsfähigen und komplexen Plattform der Compact Serie mit der gleichen Leichtigkeit wie ein vertrautes Instrument im Labor zu nutzen, ohne die Kenntnis des Systems und zeitraubender Datenbankvorbereitung.

8 INDUSTRIE 4.0 Information und die Technologie zur Erfassung und Analyse von Daten sind der Schlüssel für eine erfolgreiche Digitalisierung des Produktionsprozesses und damit entscheidend für das Konzept der Industrie 4.0. Die Compakt Linie ist eine Plug-in Lösung und ermöglicht, alle Arten von Informationssystemen zu verarbeiten. Somit verfügt sie über alle erforderlichen Eigenschaften, um in beliebige Industrie 4.0 Projekte implementiert zu werden. WELTWELITES SUPPORT NETZWERK DANK DER WELTWEIT VORHANDENEN FILIALEN UDN PARTNER IST DIE SEICA GRUPPE IN DER LAGE ZUSÄTZLICH ZU UNSEREM 24 STUNDEN TELEFONSUPPORT LOKALEN SERVICE ÜBERALL DA ANZUBIETEN, WO ER BENÖTIGT WIRD. VIVA, VIP, ACL, OpenFix, Quick Test, sind Handelsmarken und registrierte Handelsmarken von SEICA SPA. Alle anderen Marken und Produktnamen sind Handelsmarken oder registrierte Handelsmarken der entsprechenden Eigentümer. Die Informationen in diesem Dokument stellen eine Zusammenfassung dar und können ohne Vorankündigung geändert werden. Das Erscheinungsbild des finalen, ausgelieferten Produktes kann von der gezeigten Fotographie abweichen. Seica behält sich das Recht vor, technische Änderungen ohne Vorankündigung vorzunehmen. SEICA WELTWEIT SEICA SpA via Kennedy Strambino - TO- ITALIA Tel: Fax: sales@seica.com PROXIMA S.R.L. info@proxima-ate.com SEICA Inc. sigillo@seica.com SEICA FRANCE SARL dupoux@seica.com SEICA ELECTRONICS (Suzhou) Co.Ltd. seicachina@seica.com SEICA DEUTSCHLAND GmbH marc.schmuck@seica.com Brochure Compact Line DE ver