alphatester SPI FPT IBV - Lotpasteninspektion
|
|
- Herbert Fuchs
- vor 5 Jahren
- Abrufe
Transkript
1 Elektronik Inspektion Testlösung Test AOI BSC FKT - Automatische JTAG Funktionstest / Boundary-Scan Optische - End-Of-Line Inspektion - BurnIn alphatester AXI ICT ATS - Automatische In-Circuit Automotive Test Solution Röntgeninspektion SPI FPT IBV - Lotpasteninspektion Flying-Probe Industrielle Bildverarbeitung SUITE - easygen Test 1
2 Thema 1: Technologien In-Circuit Test vs. Funktionstest Kombitest ICT & FKT Verschmelzung CITE & TestStand FAZIT 2
3 In-Circuit Test vs. Funktionstest (Technologie) ICT - In Circuit Test Testen von Bauteile auf der UUT o Statisch o Einzelne BT o Wert o Polarität o Kurzschlüsse o Pull-Up/Down o DI DO DAC ADC FKT Funktionstest Testen der Funktionen einer UUT o Dynamisch o Cluster-Test o Gesamte UUT o Verhalten der UUT o Abgleich o uc MEM 3
4 In-Circuit Test vs. Funktionstest (Adaptierung) ICT - In Circuit Test Testen von Bauteile auf der UUT o Zugriff auf alle Netze o hohe Adapter kosten o Kontaktierung über Nadel DI DO FKT Funktionstest Testen der Funktionen einer UUT o spezielle Signalaufbereitung o Kontaktierung auf Nadeln oder/und Steckverbinder uc DAC ADC MEM 4
5 In-Circuit Test vs. Funktionstest (Programmierung) ICT - In Circuit Test Testen von Bauteile auf der UUT o spezifische Programmiersprachen - VB;.NET; C# o Automatischer Programm Generator - APG R190_T_1: SET SCAN AT (CHA=363:CHB=242:CHC=354:CHD=354); MEAS R INTO RVAL V=1 I=128M MAX=250K DLY=0 RDLY=1M; Text "R17/ADJUST=POT_100_5" IF RVAL > 23K THEN IF RVAL < 27K THEN SV "250mV DC=500us DELAY=0.6ms MR=100OHM TOL=+-9 A=(94) B=(85) ADJUST" BRANCH R190_1; Text "R17/TEST=POT_100_5" CALL VRADJ(RVAL=50K,HIGH=27K,LOW=23K, SV "250mV DC=500us DELAY=0.6ms MR=100OHM TOL=+-9 A=(94) B=(85)" FKT Funktionstest Testen der Funktionen einer UUT o Standard Programmiersprachen - LabVIEW VB, etc. o Testsequenzer TestStand 5
6 Kombi-Tester - ICT / FKT Vorteile der Kombination von den beiden Prüftechnologien o o o Integration des ICT und FKT auf einen Prüfadapter Nutzung von gemeinsamer Hardware Einsparung Handlingzeit Vorteile der einheitlichen Programmiersprache o o o o Eine Programmiersprache für ICT und FKT Die selbe Benutzeroberfläche fürs Debugging Übersichtlicher Testbetrieb Durchgängige Protokollierung der Testergebnisse 6
7 easygen - Kompromissloser In-Circuit Test mit TestStand und LabVIEW CAD CAD-Import CITE - APG Automatischer Programm Generator APG-TestStand Konverter TestStand Sequenz Short In 5 Schritten zum Prüfprogramm Schritt 1: CAD/BOM-Daten einlesen Schritt 2: Automatische Programm Generierung - APG Schritt 3: APG Konvertierung in TestStand - easygen Schritt 4: Prüfablauf Debugging Schritt 5: Test UUT Pin-Check Stimuli MUX AMU 7
8 Schritt 1: C-LINK - CAD-Daten Import CAD-Daten Import o Automatischer CAD-Import o Bauteilattribute o Nutzen Definition Layout- & Schema-Viewer o Anzeige der importierten Bauteil o Anzeige nicht kontaktierbarer Netze o Daten vervollständigen o Editierfunktionen 8
9 Schritt 2: CITE - Automatische Programm Generierung - AGP 9
10 Schritt 3: easygen - Parser easygen 10
11 Schritt 4: Prüfablauf Debugging 11
12 Schritt 4: Prüfablauf Debugging - ICT MeasType: - RLC - Dioden - Transistoren/FET Parameter: - Werte - Toleranzen - Zeiten Guarding 12
13 Schritt 4: Prüfablauf Debugging - FKT (PXI) 13
14 Schritt 5: Baugruppen Test - ICT / FKT Fehlerdiagnose - Direkte anzeige des Fehler im Layout und Schema 14
15 Schritt 5: Baugruppen Test - ICT / FKT Fehlerdiagnose Kurzschlusstest anzeige der möglichen Kurzschlüsse im Layout 15
16 FAZIT Kombitest mit ICT & FKT erhöht die Testabdeckung Gleiche Programmiersprache für In-Circuit Test und Funktionstest Vereinheitlichte Programmiersprache erhöht den Programmier & Debugging Komfort Einfaches Debuggen, Parametrieren mit StepTyps auf LabVIEW basis Einheitliche Testergebnis Protokollierung Vereinheitlichte Repairdatenbank der verschiedenen Prüftechnologien 16
Test-Frameworks in Electronics Manufacturing. alphatester TM
Test-Frameworks in Electronics Manufacturing alphatester TM Themen Wer ist ad+t AG Anforderung an automatisierte Prüfsysteme in der Elektronikfertigung Einsatz strukturierter Testsequenzer TestStand TM
MehrBurn-In-Test zur Voralterung von elektronischen Baugruppen
Burn-In-Test zur Voralterung von elektronischen Baugruppen Marco Weidmann Geschäftsführer ad+t AG Agenda Themen Wer ist ad+t AG Definition: Burn-In-Test Prozess: Produkte Herstellung App.: Rüsten und Abrüsten
MehrGet the total coverage! Enrico Lusky, Vertriebsleiter Deutschland. Mitarbeiter: 152
Enrico Lusky, Vertriebsleiter Deutschland GÖPEL electronic GmbH 2009 Get the total coverage! Gegründet: Mitarbeiter: 152 1991 in Jena Geschäftsbereiche: JTAG/ Boundary Scan Testsysteme (BST) Automatische
MehrTeststrategie Heute und Morgen SPI FPT IBV - Lotpasteninspektion
Elektrnik Inspektin Testlösung Test AOI BSC FKT - Autmatische JTAG Funktinstest / Bundary-Scan Optische - End-Of-Line Inspektin - BurnIn Teststrategie Heute und Mrgen AXI ICT ATS - Autmatische In-Circuit
MehrBild: Verschieden Flying Probe Tester von TAKAYA am Standort in Düsseldorf. Vorn: Das Flaggschiff APT-1400F
BGA-Verbindungen testen ohne Testpunkte Wie das Zusammenspiel elektrischer Prüfverfahren auch diejenigen Fehler findet, die eigentlich unauffindbar sind Das Szenario ist bekannt: Baugruppen werden kleiner
MehrEFFEKTIVER UND VOLLSTÄNDIGER BAUGRUPPENTEST BERÜCKSICHTIGUNG DER ANFORDERUNGEN BEI SCHALTUNGSENTWICKLUNG UND BEIM LEITERPLATTEN- DESIGN
EFFEKTIVER UND VOLLSTÄNDIGER BAUGRUPPENTEST BERÜCKSICHTIGUNG DER ANFORDERUNGEN BEI SCHALTUNGSENTWICKLUNG UND BEIM LEITERPLATTEN- DESIGN Jörg Giebel Prüfplanung, EPSa GmbH Warum testen wir? Unsere Kunden
MehrKombination verschiedener Test-Strategien mit NI-TestStand
Kombination verschiedener Test-Strategien mit NI-TestStand Agenda --- Gesamtüberblick Anforderungen an Funktionstest-System Integration JTAG / Boundary Scan von Göpel Electronics Integration NI Vision
MehrEffektiver Einsatz von unterschiedlichen Testverfahren in der Elektronikfertigung
Effektiver Einsatz von unterschiedlichen Testverfahren in der Elektronikfertigung Referent Christoph Ostermöller BMK professional electronics GmbH Augsburg Tests in der Elektronikfertigung Welche Testarten
MehrWirtschaftlicher Einsatz von Flying Probe Integration von ICT, FKT, BScan
Wirtschaftlicher Einsatz von Flying Probe Integration von ICT, FKT, BScan Martin Bader Sales- & Customer Support 2016 2014 Digitaltest GmbH. GmbH. All rights All reserved. rights reserved. 1 Testen: ja
MehrTest- und Prüfverfahren in der Elektronikfertigung
Mario Berger Test- und Prüfverfahren in der Elektronikfertigung Vom Arbeitsprinzip bis Design-for-Test-Regeln VDE VERLAG GMBH Berlin Offenbach Vorwort 5 Widmung 7 Danksagung 7 1 Motivation 15 2 Die Fehlermatrix
MehrTEST- UND PROGRAMMIER-LÖSUNGEN FÜR IEEE
TEST- UND PROGRAMMIER-LÖSUNGEN FÜR IEEE 1149.1 www.jtag.com Warum Boundary-Scan/JTAG WARUM JTAG-TEST UND IN-SYSTEM-PROGRAMMIERUNG (ISP) Moderne (digitale) Bausteine enthalten meist eine interne zusätzliche
MehrIst das Maß wirklich voll? Kontrolle des Zinndurchstieges an Pin in Paste gelöteten Automotive-Steckverbindern Andreas Türk
Ist das Maß wirklich voll? Kontrolle des Zinndurchstieges an Pin in Paste gelöteten Automotive-Steckverbindern Andreas Türk Ist das Maß wirklich voll? Kontrolle des Zinndurchstieges an Pin in Paste gelöteten
MehrViele Fliegen mit einer Klappe: Embedded-Elektronik testen und programmieren mit geringem Zugriff
Viele Fliegen mit einer Klappe: Embedded-Elektronik testen und programmieren mit geringem Zugriff Das Problem des Testens ist so alt wie der Transistor selbst. Anfangs wurde ausschließlich über die nativen
MehrKombination 3D-Röntgen- (AXI) und AOI-Inspektion in der Serie
Kombination 3D-Röntgen- (AXI) und AOI-Inspektion in der Serie Von Consumer-Elektronik bis zur Medizintechnik Andreas Türk 15.06.2016 Das Sichtbare und das Unsichtbare 15.06.2016 2 AOI Kombination QFN,
MehrInhaltsverzeichnis. Mehr Informationen zum Titel. Vorwort... 5. Widmung... 7. Danksagung... 7. 1 Motivation... 15
Mehr Informationen zum Titel Inhaltsverzeichnis Vorwort... 5 Widmung... 7 Danksagung... 7 1 Motivation... 15 2 Die Fehlermatrix... 21 2.1 Fehlerarten... 21 2.2 Bauteilfehler... 23 2.2.1 Defektes Bauteil
MehrSchicht für Schicht jeden Fehler finden: Inspektion von BGA- und QFN-Baugruppen mit 3D Röntgen
Schicht für Schicht jeden Fehler finden: Inspektion von BGA- und QFN-Baugruppen mit 3D Röntgen Abaco Manufacturing Services (AMS) - früher bekannt als Foundation Technology und Teil des Embedded-Systems-Bereichs
MehrMarco Sliwa. Regional Sales Manager Deutschland JTAG Technologies B.V.
Boundary Scan von der Entwicklung bis zur Produktion Marco Sliwa Regional Sales Manager Deutschland JTAG Technologies B.V. Überblick JTAG Technologies Gegründet 1993 Weltweit führendes Unternehmen im Bereich
MehrFaszination Messtechnik
28.10.2014 Faszination Messtechnik 2014 1 A g e n d a Multiplexer oder Matrix? Grundprinzip Konfiguration von Schaltmatrix und Multiplexer Welche Konfiguration ist die Optimale? Praxis Schaltmodule dezentral
MehrTestverfahren in der Elektronikfertigung Möglichkeiten, Grenzen und Design-for-Test
Testverfahren in der Elektronikfertigung Möglichkeiten, Grenzen und Design-for-Test Dipl.-Ing.(FH) Mario Berger GÖPEL electronic GmbH 2012 Ablauf 1. Warum testen? 2. Zwei Testmethode, viele Testverfahren
MehrErweiterung des klassischen In-Circuit-Test ICT durch kombinierte Testverfahren
Erweiterung des klassischen In-Circuit-Test ICT durch kombinierte Testverfahren Ernst Neppl / Michael Konrad / Matthias Vogel Zollner AG, Zandt / Konrad Technologies, Radolfzell Kurzfassung Im Baugruppentest
MehrE l e c t r o n i c B o a r d T e s t S y s t e m s & E l e c t r o n i c M a n u f a c t u r i n g S o f t w a r e
Digitaltest Kurs - Schema : Kurse: Schema und Beschreibungen Digitaltest Kurse I.) Software 1) C-LINK DTM II.) Testprogrammerstellung III.) Hardware 1) MTS-Wartung 2) QMAN 1) CITE-Grundkurs - analog ICT
MehrABex eine universelle Prüfplattform für den Funktionstest, In Circuit Test und Halbleitertest
ABex eine universelle Prüfplattform für den Funktionstest, In Circuit Test und Halbleitertest Matthias Vogel Konrad GmbH m.vogel@konrad technologies.de ATE Systeme Baugruppentest mit unterschiedlichen
MehrInnovative Technologien in AOI-Systemen: Grundlage für die Leistungsfähigkeit. Jens Kokott, Bereichsleiter AOI-Systeme. GÖPEL electronic GmbH
Innovative Technologien in AOI-Systemen: Grundlage für die Leistungsfähigkeit Jens Kokott, Bereichsleiter AOI-Systeme GÖPEL electronic GmbH Inhalt Vorstellung GÖPEL electronic Komponenten in AOI-Systemen
MehrJUILIET- JTAG Unlimited Tester Am Beispiel eines Automotive-Projekts. Ingenieurbüro Winklhofer
JUILIET- JTAG Unlimited Tester Ingenieurbüro Winklhofer Ingenieurbüro Winklhofer über 20 Jahre Hardwareentwicklung 20 Jahre Fertigung (DFM / als Entwickler) 18 Jahre Testentwicklung (DFT / ICT / FKT) 16
MehrFlyScan: Wenn eins plus eins mehr als zwei ist
FlyScan: Wenn eins plus eins mehr als zwei ist (vorgestellt auf der Productronica 2009) Von Bernd Hauptmann Sales Manager Seica Deutschland GmbH, Die echte Integration zwischen ATE Flying Prober und Boundary
MehrTest Plattform auf PXI/ABex Basis. Matthias Vogel Konrad Technologies
KT LEON Skalierbare In Circuit Test Plattform auf PXI/ABex Basis Matthias Vogel Konrad Technologies Agenda Firmenvorstellung ICT Hardware Plattform Software: Tools & Überblick Applikationserstellung CAD
MehrBAUGRUPPENTEST. Jörg Giebel Prüfplanung, EPSa GmbH
BAUGRUPPENTEST Jörg Giebel Prüfplanung, EPSa GmbH Welche Prüfverfahren gibt es? Zerstörungsfreie Prüfverfahren Nichtzerstörungsfreie Prüfverfahren Elektrische Prüfverfahren Optoelektronische Inspektionverfahren
MehrTOM Color Line Quality Assurance. Dr. Jörg Schambach GÖPEL electronic GmbH
TOM Color Line Quality Assurance Dr. Jörg Schambach GÖPEL electronic GmbH Agenda Kurzvorstellung GÖPEL electronic GmbH TOM Line Systemkonzeption TOM Line Hardware Software Komponenten TOM Color Line Nr.
MehrCASCON als Funktionstester. Ingenieurbüro Winklhofer COE der Göpel electronic GmbH
CASCON als Funktionstester Ingenieurbüro Winklhofer COE der Göpel electronic GmbH Ingenieurbüro Winklhofer über 20 Jahre Hardwareentwicklung 18 Jahre Fertigung (DFM / als Entwickler) 16 Jahre Testentwicklung
MehrLeesys - Leipzig Electronic Systems vertraut auf verschiedene Testlösungen von GÖPEL electronic
Leesys - Leipzig Electronic Systems vertraut auf verschiedene Testlösungen von GÖPEL electronic Jeder kennt sie, jeder hat sie schon mal gesehen und nahezu jeder hat sie schon einmal benutzt. Die Rede
MehrVom produktspezifischen Testsystem zum flexiblen Testzentrum. kleiner bis mittlerer Stückzahlen
MPH, Reutlingen Vom produktspezifischen Testsystem zum flexiblen Testzentrum vor dem Hintergrund kleiner bis mittlerer Stückzahlen Thomas Rauer, Marketing & Vertrieb +49 (7121) 3 84 30 20 thomas.rauer@mph
MehrDipl.-Ing. (FH) Lothar Stoll, Geschäftsführer Tecs Prüftechnik GmbH,
Dipl.-Ing. (FH) Lothar Stoll, Geschäftsführer Tecs Prüftechnik GmbH, lothar.stoll@tecs-prueftechnik.de, www.tecs-prueftechnik.de Prüfkosten reduzieren durch optimale Teststrategie Steigende Komplexität,
MehrTEC-BULLETIN FLYING PROBE TESTER
FLYING PROBE TESTER Mit dem In-Line FLYING PROBE TESTER 4060 von SPEA (FPT) ist nun die gleichzeitige In-Circuit Prüfung der Ober- und Unterseite einer Baugruppe problemlos und flexibel möglich. Die 6
MehrVollständige Fehlerabdeckung durch Kombination verschiedener Testverfahren (ICT, MFT, AOI, AXI, BScan...)
Vollständige Fehlerabdeckung durch Kombination verschiedener Testverfahren (ICT, MFT, AOI, AXI, BScan...) von Mario Berger, GÖPEL electronic GmbH 1 Einleitung In der heutigen Zeit, die durch eine zunehmende
MehrJTAG/Boundary Scan Effektiver Baugruppentest vom Prototyp bis zum Serientest
JTG/Boundary Scan Effektiver Baugruppentest vom Prototyp bis zum Serientest Martin Borowski, GÖPEL electronic GmbH Begriffe Begriffe Boundary Scan Begriffe JTG Joint Test ction Group Boundary Scan Begriffe
MehrVon der optischen Prüfung zum kombinierten Test Einsatzmöglichkeiten für AOI-Systeme
Von der optischen Prüfung zum kombinierten Test Einsatzmöglichkeiten für AOI-Systeme Jens Kokott GÖPEL electronic GmmH Inhalt Visuelle Inspektion Ein Prüfverfahren stößt an Grenzen AOI-Systeme Klassische
MehrTechnologietag Baugruppentest
Technologietag Baugruppentest Investition in die Zukunft! IPC Konforme Lötstellenkontrolle mittels automatischer Röntgeninspektion (AXI) Steven Tiller, GÖPEL electronic GmbH Inhalt Wie funktioniert Röntgen?
Mehr40xxS2 Göpel Integration
40xxS2 Göpel Integration Kontaktierung der Boundary Scan Signale des Prüflings am Flying Prober Boundary Scan Days 2015 V3 Company Facts Facts Established 1976 Worldwide sales R&D investment 20% Facility
MehrSeit dem Bestehen der Firma KTT Testengineering GmbH ist der Adapterbau ein we sentlicher Bestandteil der Qualtätssicherung
Automatisches Testen Beratung Schulung Adapterbau Adapterbau CNC Fräsen Programmierung Automatisches Testen und Adapterbau Seit dem Bestehen der Firma ist der Adapterbau ein we sentlicher Bestandteil der
MehrFlexible Inspektion bei hohen Taktraten
Flexible Inspektion bei hohen Taktraten Würth Elektronik ICS vertraut auf optische Inspektion von GÖPEL electronic Die Würth-Gruppe ist eine global agierende Unternehmensgruppe mit einem breit gefächerten
MehrPrüftechnologien zum vollautomatischen Test von Infotainment-Komponenten
Prüftechnologien zum vollautomatischen Test von Infotainment-Komponenten Dr. Jörg Schambach Agenda Wozu optische Prüfung an Kombiinstrumenten und Infotainmentkomponenten? Anforderungen an das Prüfsystem
MehrAXI + AOI = AXOI Die Formel für ein Maximum an Prüfabdeckung.
AXI + AOI = AXOI Die Formel für ein Maximum an Prüfabdeckung. Andreas Türk GÖPEL electronic GmbH Inhalt Wer oder was ist AXOI? Namensgebung und deren Bedeutung Beispiel-Linie zur 100% optischen Prüfabdeckung
MehrKritische Betrachtung beim Testen von elektronischen Flachbaugruppen{inhalt "Kritische Betrachtung beim Testen von elektronischen Flachbaugruppen"}
Kritische Betrachtung beim Testen von elektronischen Flachbaugruppen{inhalt "Kritische Betrachtung beim Testen von elektronischen Flachbaugruppen"} Elektronische Flachbaugruppen können leider nicht fehlerfrei
MehrSMT & Hybrid nutzt Prüftechnik von GÖPEL electronic zur Qualitätssicherung
SMT & Hybrid nutzt Prüftechnik von GÖPEL electronic zur Qualitätssicherung Die seit der Firmengründung 1990 positive Firmengeschichte der SMT & Hybrid GmbH ist der überzeugende Beweis dafür, dass Ideenreichtum
MehrSchnell und effizient zur Produktion TEM 27. März, 2009
Ihr Technologie Partner Schnell und effizient zur Produktion TEM 27. März, 2009 Was ist die CAMCAD Produktlinie? Das Ziel: Beschleunigung des NPI Prozesses zur Reduzierung der Produktionskosten und Verbesserung
MehrBoundary Scan meets Funktionstest
Boundary Scan meets Funktionstest Thomas Wenzel, Enrico Zimmermann (GÖPEL electronic) Eines der gravierendsten Probleme im Bereich des Testens ist der kontinuierlich sinkende physikalische Zugriff. Über
MehrOnline-Services für digitale Bildverarbeitung
Online-Services für digitale GÖPEL electronic GmbH 2009 Steckbrief Firmengründung: 1991 Geschäftsführung:» Holger Göpel» Manfred Schneider» Thomas Wenzel Hauptsitz: Jena Niederlassungen:» USA - Austin,
MehrPrüfung von Leiterplatten-Baugruppen LPBG
VDI/VDE-Gesellschaft Feinwerktechnik (Hrsg.) Prüfung von Leiterplatten-Baugruppen LPBG Empfehlungen der VDI/VDE-Gesellschaft Feinwerktechnik Ausschuß Leiterplatten-Baugruppentest Carl Hanser Verlag München
MehrHerzlich Willkommen zum Treffen der FED-Regionalgruppen Jena und Dresden
Herzlich Willkommen zum Treffen der FED-Regionalgruppen Jena und Dresden Industrie 4.0 und Elektronikfertigung was ist sinnvoll? Jens Kokott, Produktmanager AOI-Systeme Inhalt Industrie 4.0 & Big Data:
MehrJULIET a JTAG Desktop Tester
JULIET a JTAG Desktop Tester Georg Kohler Juni 2016 Prüftechnologie Tag 2016 1 Boundary Scan - Testlücken POWER IEEE1149.1 RAM 1...4 A D C TDI A D C (RAM) TDO µp DISPLAY (LED / LCD) D A Analoge Spannungen
Mehrum eine schnelle und technisch fehlerfreie Bearbeitung Ihrer Anfragen und Aufträge zu ermöglichen, bitten wir Sie, folgende Punkte zu beachten:
Hinweisblatt EMS Sehr geehrter ACD-Kunde, um eine schnelle und technisch fehlerfreie Bearbeitung Ihrer Anfragen und Aufträge zu ermöglichen, bitten wir Sie, folgende Punkte zu beachten: Stellen Sie Ihre
MehrNPI - Bedeutung der EMS-Unternehmen in der Produktentstehungsphase
NPI - Bedeutung der EMS-Unternehmen in der Produktentstehungsphase SMT/HYBRID/PACKAGING 2010 SMT Messeforum ZVEI, EMS im Fokus Erfolgskonzepte, Trends und Strategien Letron electronic GmbH Susanne Mackensen-Eder
MehrDer Name bürgt für Qualität
Der Name bürgt für Qualität Auftragsfertiger Sticker Elektronik setzt auf Desktop-AOI-System zur Qualitätssicherung Im ostwestfälischen Lippe-Kreis liegt der beschauliche Ort Lemgo, der seine Bekanntheit
MehrIn-Circuit und Funktionstestplattform
In-Circuit und Funktionstestplattform DIE COMPACT LINE WURDE ENTWICKELT, UM DEN ANFORDERUNGEN DER SOGENANNTEN LEAN PRODUCTION UNTER BERÜCKSICHTIGUNG DER ANFORDERUNGEN BEI DER PRODUKTION VON ELEKTRONISCHEN
MehrVarioTAP Einführung Hosea L. Busse
VarioTAP Einführung Hosea L Busse GÖPEL electronic GmbH 2013 JTAG/Boundary Scan 1 Überblick Was ist VarioTAP? Prinzipielle Struktur eines µcontrollers VarioTAP Teststruktur VarioTAP Testkategorien VarioTAP
MehrDirect Test. Übersicht der Systemkomponenten. NT Control. Testbox. Prüfmodule. Testpunkteinheit
Direct Test Testsystem zur Prüfung von Backpanels Subracks Cabinets Direct Test Übersicht der Systemkomponenten NT Control Testbox Prüfmodule Testpunkteinheit NT Control Die Bedienungssoftware NT Control
MehrSinn und Möglichkeiten der elektrischen Baugruppenprüfung
www.kraus-hw.de Firma Kraus Hardware GmbH begrüßt Sie in Colonia de Sant Jordi Sinn und Möglichkeiten der elektrischen Baugruppenprüfung Andreas Kraus Geschäftsführer Kraus Hardware GmbH Gewerbegebiet
MehrENGINEERING INDUSTRIALIZATION (NPI) SUPPLY CHAIN MANAGEMENT PRODUCTION AFTER SALES. Ihr Partner für Industrie-Elektronik
ENGINEERING INDUSTRIALIZATION (NPI) SUPPLY CHAIN MANAGEMENT PRODUCTION AFTER SALES Ihr Partner für Industrie-Elektronik Ihr Partner für Industrie-Elektronik Die MINEL AG ist als Schweizer Dienstleistungsunternehmen
MehrAOI in Kombination umfassende Qualitätssicherung komplexer Baugruppen. Dr. Jörg Schambach GÖPEL electronic GmbH
AOI in Kombination umfassende Qualitätssicherung komplexer Baugruppen Dr. Jörg Schambach GÖPEL electronic GmbH Inhalt Automatisierter Test von Infotainmentkomponenten Warum Automatisierung von Steuergerätetests?
MehrProjekt: Kaffeemaschinensteuerung mit ATMega128RFA1
Thorsten Knoll, Embedded Systems, SS14 Projekt: Kaffeemaschinensteuerung mit ATMega128RFA1 Seite 1 von 16 Thorsten Knoll, Embedded Systems, SS14 Projektziele: 1. Beschreibung der Projektumgebung und Vorarbeiten
MehrMarkus Solbach, Managing Partner, NOFFZ Technology GmbH
Energieoptimierung mit neuartigen digitalstrom-modulen - von der Entwicklung bis zur Fertigung durchgängig geprüft mit einer PXI-basierten Testplattform Markus Solbach, Managing Partner, NOFFZ Technology
MehrHerzlich Willkommen... Ing. Frank Koppetsch Ltr. Fertigung
Entwicklung und Herstellung elektronischer Baugruppen Herzlich Willkommen... Ing. Frank Koppetsch Ltr. Fertigung Voigt electronic GmbH, BergratBergrat-Voigt Voigt--Straße 13, D D--99087 Erfurt www.voigtwww.voigt-electronic.de
MehrUnterstützung der Produktlebenszyklen durch Boundary Scan
Unterstützung der Produktlebenszyklen durch Boundary Scan Thomas Wenzel Die zunehmende Globalisierung des Wettbewerbs, gepaart mit immer kürzeren Innovationszyklen und rasant ansteigender Produktkomplexität
MehrFlexibles Testsystem für Incircuit- und Funktionstest mit eigener Adaption
Flexibles Testsystem für Incircuit- und Funktionstest mit eigener Adaption Vor Kurzem haben wir uns mit der Problematik beschäftigt, Flachbaugruppen in manuellen und pneumatischen Adaptern und Incircuit-
MehrCOMPACT LINIE. In-Circuit und Funktionstestplattform. WCM Compliant
COMPACT LINIE In-Circuit und Funktionstestplattform WCM Compliant WCM COMPLIANT COMPACT LINIE DESIGN Die World Class Manufacturing (WCM) Richtlinie wurde mit der Absicht entwickelt, Fertigungspraktiken
MehrD/3D AOI-Systeme für SMD
2D/3D AOI-Systeme für SMD Inhalt 2D-Technologien Systemaufbau und Inspektionsmethoden 3D-Technologien Messverfahren, Systemaufbau und Einsatzmöglichkeiten 2D/3D AOI-Systemkonzepte Marktbegleiter / GÖPEL
MehrSYSTEM CASCON im automatischen Prüfablauf
SYSTEM CASCON im automatischen Prüfablauf David Werner GÖPEL electronic GmbH 2013 Inhalt 1. Warum wird CASCON automatisiert? 2. Vorbetrachtungen 3. Welche Möglichkeiten gibt es? 4. Welche Lösungen gibt
MehrEmbedded Systems Hardware Entwicklung. Summer School 2017
Embedded Systems Hardware Entwicklung Summer School 2017 Inhalt des Workshop Theorie Grundlagen Bauelemente Theorie elektronische Schaltungen und Geräteentwicklung Theorie Schaltungsentwurf mit Eagle Praxis
MehrMegaCAD Viewer 2D/3D 2016 Professional. Einfache Nutzung von Konstruktionsdaten in allen Abteilungen
MegaCAD Viewer 2D/3D 2016 Professional Einfache Nutzung von Konstruktionsdaten in allen Abteilungen MegaCAD Viewer 2D/3D 2016 Professional Einfache Nutzung von Konstruktionsdaten in allen Abteilungen Erfolgreiche
MehrPROGRESS Testsequenzer-Software der neuen Generation
PROGRESS Testsequenzer-Software der neuen Generation Einleitung Um die Funktionstüchtigkeit von elektronischen Bauteilen und Geräten sicherzustellen und fehlerhafte Komponenten zu lokalisieren und zu ersetzen,
MehrMegaCAD Viewer 2D/3D 2016 Professional. Einfache Nutzung von Konstruktionsdaten in allen Abteilungen
MegaCAD Viewer 2D/3D 2016 Professional Einfache Nutzung von Konstruktionsdaten in allen Abteilungen MegaCAD Viewer 2D/3D 2016 Professional Einfache Nutzung von Konstruktionsdaten in allen Abteilungen Erfolgreiche
MehrGrundlagen der Leiterplatten- Baugruppen- Entwicklung und Fertigung
Grundlagen der Leiterplatten- Baugruppen- Entwicklung und Fertigung Dipl.-Ing. Wolf-Dieter Schmidt 1. Übersicht 1.1. Hintergründe 1.2. Ziel dieser Vorlesung 1.3. Untergliederung des Lehrstoffes 1.4. Begriffsbestimmungen
MehrEMS Electronic Manufacturing Services Qualität und Zuverlässigkeit auf höchstem Niveau.
EMS Electronic Manufacturing Services Qualität und Zuverlässigkeit auf höchstem Niveau www.rafi.de 2 RAFI ELECTRONIC MANUFACTURING SERVICES KUNDENNUTZEN WIR STEHEN FÜR IHREN NAMEN EIN RAFI ist ein inhabergeführtes
Mehr2010 im Halbleiter-ATE-Bereich
PXI-Semiconductor-Test im Bezug auf die ITRS Roadmap 2010 im Halbleiter-ATE-Bereich Joachim Gläß Konrad GmbH j.glaess@konrad technologies.de Was ist PXI Wer ist ITRS Ziele der ITRS Veröffentlichungen der
MehrWarum manche AOI-Bediener ruhiger schlafen
Warum manche AOI-Bediener ruhiger schlafen Über die Vorteile einer Referenzdatenbank in der AOI-Software Eine bekannte Situation Jeder Bediener von Automatischen Optischen Inspektionssystemen kennt diese
MehrEmbedded Board Test Seminar 2015. Dipl.-Ing. (FH) Martin Borowski
Embedded Board Test Seminar 2015 ipl.-ing. (FH) Martin Borowski 11.03.2016 1 Seminar: Embedded Board Test Vom esign bis End ofline 11.03.2016 2 Moderne Elektroniken? Fortschritt Quellen: markerfaire.berlin
MehrQualität durch Kompetenz Dienstleistungen nach Maß
Qualität durch Kompetenz Dienstleistungen nach Maß Eine Initiative des Fachverbandes Electronic Components and Systems im ZVEI EMS Wer wir sind Die in dieser Broschüre gelisteten EMS-Anbieter im ZVEI-Fachverband
Mehrintecag Industrielle Technik-Elektronik AG
intecag Industrielle Technik-Elektronik AG Wer wir sind und was wir tun. Die intecag, Industrielle Technik-Elektronik AG, ist seit fast 40 Jahren spezialisiert im Bereich Dienstleistung und Handel von
Mehr05/2016 technosert electronic GmbH
05/2016 technosert electronic GmbH 1 Zahlen und Fakten 1988 Firmengründung durch Johannes Gschwandtner in Linz/Kleinmünchen, 5 MitarbeiterInnen 2000 Übersiedlung des Firmensitzes nach Wartberg/Aist 45
MehrEinsamer Boundary Scan IC sucht Anschluss
Thomas Wenzel (t.wenzel@goepel.com) Martin Borowski (m.borowski@goepel.com) Einsamer Boundary Scan IC sucht Anschluss Boundary Scan gemäß IEEE1149.x hat sich in den letzten 10 Jahren zu einer immer breiter
MehrFED 2014: Prüfverfahren für Baugruppen. E.S.A Embedded System Access
FE 2014: Prüfverfahren für Baugruppen E.S. Embedded System ccess GÖPEL electronic GmbH 2014 Steckbrief Firmengründung: 1991 Geschäftsführung:» Holger Göpel» Manfred Schneider» Thomas Wenzel Hauptsitz:
MehrInspection Days. Magische Momente. Inspection Days 2018 Dienstag Mittwoch Jena
Inspection Days Magische Momente. Inspection Days 2018 Dienstag 25.9. Mittwoch 26.9. Jena Inspection Days 2018 - Die Lösung Maschinen und Fabriken werden vernetzt, schlauer und smarter, und die Elektronikindustrie
MehrWirtschaftlicher Test von elektronischen Flachbaugruppen mit Fakten und Zahlen
Wirtschaftlicher Test von elektronischen Flachbaugruppen mit Fakten und Zahlen Der Fertigungsprozess bei der Bestückung und Lötung von elektronischen Flachbaugruppen kann leider nicht fehlerfrei erfolgen.
MehrBoundary Scan Days 2009
Boundary Scan Days 2009 Einsatz von Virtual JTAG (Altera) für Flash - & EEPROM - Programmierung Dammert Tobias & Knüppel Lars Nokia Siemens Networks GmbH & Co. KG Standort Bruchsal Test Engineering 1 Nokia
MehrSTECA INSIDE TEIL I FREUDE AN QUALITÄT. Alle Rechte bei Steca Elektronik GmbH. Jede Verfügungsbefugnis, wie Kopie- und Weitergaberecht, bei uns.
STECA INSIDE TEIL I FREUDE AN QUALITÄT Alle Rechte bei. Jede Verfügungsbefugnis, wie Kopie- und Weitergaberecht, bei uns. ELEKTROSTATISCHE AUFLADUNG Was ist ESD-Schutz und warum muss darauf Wert gelegt
MehrGleitender Übergang vom manuellen zum automatisierten Test eingebetteter Software
Gleitender Übergang vom manuellen zum automatisierten Test eingebetteter Software 0. Treffens der GI-Fachgruppe Test, Analyse & Verifikation von Software (TAV), 09.0.017 Dr. Sadegh Sadeghipour sadegh.sadeghipour@itpower.de
Mehr3D-Lotpasteninspektion aus (betriebs)wirtschaftlicher Sicht
3D-Lotpasteninspektion aus (betriebs)wirtschaftlicher Sicht 1 Das pb tec Produktspektrum 9Identifikation / Traceability 9Zuführ- (Feeder-) Technologie 9Optische Inspektion, 3D Lotpasteninspektion 9Board
MehrDatenbanken erstellen Liste von Datenbanken anzeigen Datenbanken löschen. MySQL 4, 5. Kapitel 06: Datenbanken. Marcel Noe
MySQL 4, 5 Kapitel 06: Datenbanken Gliederung 1 Datenbanken erstellen 2 3 Datenbanken erstellen CREATE DATABASE erstellt. Optional kann der Parameter IF NOT EXISTS die Datenbank bereits existiert.
MehrDer Beginn einer wunderbaren Freundschaft von Stefan Schnell
Der Beginn einer wunderbaren Freundschaft von Stefan Schnell Polyglottes programmieren, also programmieren in mehreren Sprachen, ist ein eher ungewöhnliches Szenario. Programmiersprachen bieten im Regelfall
MehrTestverfahren der Elektronik. Doc. Vers
Testverfahren der Elektronik Doc. Vers. 2018-09-05 Inh. Dipl. Ing. Mario Blunk Buchfinkenweg 3 99097 Erfurt / Deutschland Telefon +49 (0)361 6022 5184 Email info@blunk-electronic.de Internet www.blunk-electronic.de
MehrEinleitung Die Pins alphabetisch Kapitel 1 Programmierung des ATmega8 und des ATmega
Einleitung... 11 Die Pins alphabetisch.... 12 Kapitel 1 Programmierung des ATmega8 und des ATmega328.... 15 1.1 Was Sie auf den nächsten Seiten erwartet... 19 1.2 Was ist eine Micro Controller Unit (MCU)?....
MehrDer frühe Vogel findet den Wurm
Der frühe Vogel findet den Wurm 3D-Inspektion des Lotpastendrucks Eric Düntsch Der frühe Vogel findet den Wurm 3D Inspektion des Lotpastendrucks mit dem SPI-Line 3D 3 Inhalt 1. Warum Lotpasteninspektion
MehrRobert Gäde, Projektleitung & Entwicklung Fahrzeugsitztester
Anforderungen an moderne Testsysteme für Fahrzeugsitze Robert Gäde, GÖPEL electronic GmbH GÖPEL electronic GmbH 2013 Robert Gäde, Projektleitung & Entwicklung Fahrzeugsitztester Ausbildung Studium der
MehrWe are busy for your success! 01/2017 technosert electronic GmbH
01/2017 technosert electronic GmbH 1 Zahlen und Fakten! 1988 Firmengründung durch Johannes Gschwandtner in Linz/Kleinmünchen, 5 MitarbeiterInnen! 2000 Übersiedlung des Firmensitzes nach Wartberg/Aist 45
Mehr120 Megapixel für eine THT-Bauteilprüfung auf engstem Raum
120 Megapixel für eine THT-Bauteilprüfung auf engstem Raum Autor: Dr. Jörg Schambach, GÖPEL electronic GmbH THT-AOI: Innovativ und kompakt Das Streben nach höchstmöglicher Produktqualität führt zu steigenden
Mehr