Elektronik Inspektion Testlösung Test AOI BSC FKT - Automatische JTAG Funktionstest / Boundary-Scan Optische - End-Of-Line Inspektion - BurnIn alphatester AXI ICT ATS - Automatische In-Circuit Automotive Test Solution Röntgeninspektion SPI FPT IBV - Lotpasteninspektion Flying-Probe Industrielle Bildverarbeitung SUITE - easygen Test 1
Thema 1: Technologien In-Circuit Test vs. Funktionstest Kombitest ICT & FKT Verschmelzung CITE & TestStand FAZIT 2
In-Circuit Test vs. Funktionstest (Technologie) ICT - In Circuit Test Testen von Bauteile auf der UUT o Statisch o Einzelne BT o Wert o Polarität o Kurzschlüsse o Pull-Up/Down o DI DO DAC ADC FKT Funktionstest Testen der Funktionen einer UUT o Dynamisch o Cluster-Test o Gesamte UUT o Verhalten der UUT o Abgleich o uc MEM 3
In-Circuit Test vs. Funktionstest (Adaptierung) ICT - In Circuit Test Testen von Bauteile auf der UUT o Zugriff auf alle Netze o hohe Adapter kosten o Kontaktierung über Nadel DI DO FKT Funktionstest Testen der Funktionen einer UUT o spezielle Signalaufbereitung o Kontaktierung auf Nadeln oder/und Steckverbinder uc DAC ADC MEM 4
In-Circuit Test vs. Funktionstest (Programmierung) ICT - In Circuit Test Testen von Bauteile auf der UUT o spezifische Programmiersprachen - VB;.NET; C# o Automatischer Programm Generator - APG R190_T_1: SET SCAN AT (CHA=363:CHB=242:CHC=354:CHD=354); MEAS R INTO RVAL V=1 I=128M MAX=250K DLY=0 RDLY=1M; Text "R17/ADJUST=POT_100_5" IF RVAL > 23K THEN IF RVAL < 27K THEN SV "250mV DC=500us DELAY=0.6ms MR=100OHM TOL=+-9 A=(94) B=(85) ADJUST" BRANCH R190_1; Text "R17/TEST=POT_100_5" CALL VRADJ(RVAL=50K,HIGH=27K,LOW=23K, SV "250mV DC=500us DELAY=0.6ms MR=100OHM TOL=+-9 A=(94) B=(85)" FKT Funktionstest Testen der Funktionen einer UUT o Standard Programmiersprachen - LabVIEW VB, etc. o Testsequenzer TestStand 5
Kombi-Tester - ICT / FKT Vorteile der Kombination von den beiden Prüftechnologien o o o Integration des ICT und FKT auf einen Prüfadapter Nutzung von gemeinsamer Hardware Einsparung Handlingzeit Vorteile der einheitlichen Programmiersprache o o o o Eine Programmiersprache für ICT und FKT Die selbe Benutzeroberfläche fürs Debugging Übersichtlicher Testbetrieb Durchgängige Protokollierung der Testergebnisse 6
easygen - Kompromissloser In-Circuit Test mit TestStand und LabVIEW CAD CAD-Import CITE - APG Automatischer Programm Generator APG-TestStand Konverter TestStand Sequenz Short In 5 Schritten zum Prüfprogramm Schritt 1: CAD/BOM-Daten einlesen Schritt 2: Automatische Programm Generierung - APG Schritt 3: APG Konvertierung in TestStand - easygen Schritt 4: Prüfablauf Debugging Schritt 5: Test UUT Pin-Check Stimuli MUX AMU 7
Schritt 1: C-LINK - CAD-Daten Import CAD-Daten Import o Automatischer CAD-Import o Bauteilattribute o Nutzen Definition Layout- & Schema-Viewer o Anzeige der importierten Bauteil o Anzeige nicht kontaktierbarer Netze o Daten vervollständigen o Editierfunktionen 8
Schritt 2: CITE - Automatische Programm Generierung - AGP 9
Schritt 3: easygen - Parser easygen 10
Schritt 4: Prüfablauf Debugging 11
Schritt 4: Prüfablauf Debugging - ICT MeasType: - RLC - Dioden - Transistoren/FET Parameter: - Werte - Toleranzen - Zeiten Guarding 12
Schritt 4: Prüfablauf Debugging - FKT (PXI) 13
Schritt 5: Baugruppen Test - ICT / FKT Fehlerdiagnose - Direkte anzeige des Fehler im Layout und Schema 14
Schritt 5: Baugruppen Test - ICT / FKT Fehlerdiagnose Kurzschlusstest anzeige der möglichen Kurzschlüsse im Layout 15
FAZIT Kombitest mit ICT & FKT erhöht die Testabdeckung Gleiche Programmiersprache für In-Circuit Test und Funktionstest Vereinheitlichte Programmiersprache erhöht den Programmier & Debugging Komfort Einfaches Debuggen, Parametrieren mit StepTyps auf LabVIEW basis Einheitliche Testergebnis Protokollierung Vereinheitlichte Repairdatenbank der verschiedenen Prüftechnologien 16