Axio Vert.A1 Gefüge- und Strukturanalysen: Eine Frage des Kontrasts.



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Produktinformation internet-link video/animation Version 1.0

Alle Kontraste. Keine Kompromisse. Auf den Punkt Ihre Vorteile Ihre Anwendungen Ihr System Technik und Details ist ein kompaktes, inverses Mikroskop, das Ihnen brillante Einblicke verschafft. Sie untersuchen große, schwere Bauteile mit allen üblichen Kontrastverfahren. Wechseln Sie im Auflicht zwischen Hellfeld, Dunkelfeld, DIC, C-DIC, Fluoreszenz und Polarisationskontrast. Im Durchlicht nutzen Sie Hellfeld, Polarisation und Phasenkontrast. Sie wählen das kompromisslos beste Verfahren. Oder Sie kombinieren mehrere Kontrasttypen und gewinnen zusätzliche Erkenntnisse. Der kodierte fünffach Objektivrevolver erfasst einen Objektivwechsel automatisch. Mit Hilfe des Lichtmanagers passen Sie die Beleuchtungsintensität an. Sie quantifizieren Ihr Gefüge effizient, beurteilen Eigenschaften und Qualität Ihrer Werkstoffe. Sie verstehen Ihr Material und optimieren den Präparations- und Produktionsprozess. Und ergreifen die richtigen Maßnahmen. Service Animation 2

: einfacher, intelligenter, integrierter. Schnelle Aufnahmen mit jedem Objektiv Für Ihre Anwendungen brauchen Sie unterschiedliche Objektive. Mit dem fünffach Objektivrevolver von haben Sie immer die passende Vergrößerung zur Hand. Der Revolver ist kodiert, so dass Ihr Objektiv automatisch erkennt. Sie sparen Zeit und reduzieren Fehlerquellen. Kontrastverfahren für alle Details Mit nutzen Sie alle wichtigen Kontrastverfahren: Mit dem vierfach Reflektorrevolver bewegen Sie sich im Auflicht einfach und schnell zwischen Hellfeld, Dunkelfeld, DIC, C-DIC, Fluoreszenz und Polarisationskontrast, mit dem Sie anisotrope Materialien wie Magnesium und Aluminium untersuchen. Wechseln Sie in die Durchlichtbeleuchtung, arbeiten Sie mit Hellfeld, Polarisation und Phasenkontrast. Reproduzierbar Messen und Vergleichen Mit der Sehfeldzahl von 23 erfassen Sie einen Großteil Ihrer Probe auf einen Blick. Die Vielzahl an Strich- und Gefügevergleichsplatten stattet Sie für erste Messungen bestens aus. Die Imaging- Software AxioVision von Carl Zeiss hält zusätzlich ein leistungsfähiges Spektrum an Modulen wie Korngrößen-, Phasenanalysen, Schichtdicken und Interaktives Messen für Ihre Untersuchungen bereit. 3

Ihr Einblick in die Technik dahinter Nutzen Sie den Eco-Modus für mehr Sicherheit Im Eco-Modus schaltet sich automatisch aus, wenn Sie länger als 15 Minuten nicht mikroskopieren. So verlängern Sie die Lebensdauer Ihrer Lampen und sparen Energie. Bei Bedarf wechseln Sie von der Eco-Funktion einfach in den Dauerbetrieb. Die USB-Schnittstelle bringt Ihnen noch mehr Flexibilität Durch die direkte Verbindung Ihres Mikroskops mit Ihrem PC bearbeiten Sie Ihre Daten nach dem Erfassen nahtlos weiter. Ihr verwendet die Standard-Protokolle Ihres Rechners Sie brauchen keinen zusätzlichen Treiber. 4

Exakt auf Ihre Anwendungen zugeschnitten Typische Anwendungen, typische Präparate Metallografie / Materialografie Polymere Baustoffe / Betonografie Aufgabe Analyse des Gefügeaufbaus (z.b. Phasen, Korngröße, Texturen, Ausscheidungen) und Gefügefehler (z.b. Einschlüsse, Poren, Lunker, Risse) Vermessung von Schichtdicken und geometrischer Eigenschaften (z.b. Elektrodendicken) Analyse dunkler Proben mit geringen Reflexionsunterschieden Analyse anisotroper Materialien (z.b. Korngröße von Aluminium-Knetlegierungen nach Barker-Ätzung, Zink-Legierungen, Graphit, Titanlegierungen, Magnetwerkstoffe) Schneller Wechsel zwischen Kontrastverfahren Nachweis Messmittelfähigkeit; Verhinderung von Skalierungsfehlern Dünnschliff: Bewertung von Rezyklaten; Analyse von Pigmenten, Lacken, Rußen, Fasern oder Füllstoffen im Durchlicht Dünnschliff: Räumliche Verteilung von Polymergemischen Dünnschliff: Untersuchung von Kristallinitätsunterschieden, Gefügeänderungen, thermischen Schädigungen, Verarbeitungseinflüssen, Lunkern, Einschlüssen sowie materialinternen mechanischen Spannungen teilkristalliner Polymerwerkstoffe Schneller Wechsel zwischen Kontrastverfahren Nachweis Messmittelfähigkeit; Verhinderung von Skalierungsfehlern Dünnschliff: Gefügeanalyse, Identifikation bestimmter Phasen und Minerale sowie kristalliner Strukturen Das bietet Auswertung und Dokumentation über AxioCam und AxioVision Inverse Bauart für großen Probenraum Sehfeldzahl 23 für großes Objektfeld Einsatz von Immersionsobjektiven Polarisationskontrast Alle gängigen Kontrastverfahren verfügbar Schneller Wechsel der P&C Reflektormodule über vierfach Reflektorrevolver Kodierter fünffach Objektivrevolver für automatische Erkennung der gewählten Vergrößerung Lichtmanager erkennt Beleuchtungsintensität Optionaler Träger für Durchlichtbeleuchtung Optionaler Träger für Durchlichtbeleuchtung Phasenkontrast Optionaler Träger für Durchlichtbeleuchtung Polarisationskontrast Alle gängigen Kontrastverfahren verfügbar Schneller Wechsel der P&C Reflektormodule über vierfach Reflektorrevolver Kodierter fünffach Objektivrevolver für automatische Erkennung der gewählten Vergrößerung Lichtmanager erkennt Beleuchtungsintensität Optionaler Träger für Durchlichtbeleuchtung Polarisationskontrast Asbestfasern Dünnschliff: Identifikation von Asbestfasern Optionaler Träger für Durchlichtbeleuchtung Polarisationskontrast Dünnschliff: Mengen- und Größenverteilung von Asbestfasern Optionaler Träger für Durchlichtbeleuchtung Phasenkontrast 5

in der Anwendung Mit dem Kontrastverfahren Auflicht/Hellfeld analysieren Sie die Mechanische Störungen der Oberfläche wie Bruchstellen, Poren und Einschlüsse Gefügestrukturen geätzter Oberflächen. Sie erkennen Korngrenzen und ziehen kommen im Auflicht/Dunkelfeld genauso gut zum Vorschein wie Risse, Krat- Rückschlüsse auf Korngrößen, Phasen und Gefügedetails. Sie sehen Farben und zer und Lunker. Sie beurteilen die Oberflächengüte bearbeiteter Werkstücke prä- Pigmente. Verunreinigungen und Gefügebestandteile, wie zum Beispiel Graphit zise und erkennen ebenso leicht Korngrenzen an geätzten Schliffen. im Gusseisen, erfassen Sie bereits vor dem Ätzen. Auf den Punkt Ihre Vorteile Ihre Anwendungen Ihr System Technik und Details Aluminiumlegierung, 100x, Hellfeld Alpha-Beta Ti, 500x, Dunkelfeld Service Nutzen Sie den Polarisationskontrast, um die Struktur anisotroper Materialien Winzige strukturelle Höhendifferenzen erfassen Sie mit dem Differentiellen zu analysieren, wie zum Beispiel Magnesium, Aluminium, Bronze und Messing. Interferenzkontrast (DIC) besonders sensibel. Höhenunterschiede in Form von Im polarisierten Licht zeigen Ihnen die einzelnen Körner des Kristallgitters natürlichen Differenzen oder durch die Präparation erzeugte Artefakte erhalten ihre charakteristische Farbe. als reliefartige Struktur einen 3D-Effekt. Reines Magnesium, 100x, Polarisationskontrast (Fotogenehmigung: Allied High Tech Products Inc.) (Fotogenehmigung: Allied High Tech Products Inc.) Aluminiumguss, 500x, Zirkularer Differentieller Interferenzkontrast (Fotogenehmigung: Allied High Tech Products Inc.) 6

Erleben Sie Qualität in jeder möglichen Komponente 4 5 2 3 1 1 Mikroskop Bauart: invers Freiraum für die Untersuchung unterschiedlicher Prüfkörper und großer Bauteile 2 Objektive Empfohlene Objektivklassen für beste Abbildungsqualität: Auflicht: EC-EPIPLAN EC Epiplan-NEOFLUAR (auch als LD-Variante) Durchlicht: N-ACHROPLAN Pol Plan-NEOFLUAR Pol 3 Beleuchtung VIS-LED (LED) HAL 100 (Halogen) 4 Kamera Empfohlene Kameras: AxioCam ERc 5s AxioCam ICc 1 AxioCam ICc 3 AxioCam MRc AxioCam MRm 5 Software AxioVision LE: Bildaufnahme, Bildverarbeitung, Bildanalyse und Dokumentation Empfohlene AxioVision Module: MosaiX (Bildaufnahme Scanningtisch) Gusseisen-, Korngrößen-, Mehrphasenanalyse, NMI, Particle Analyzer, Richtreihe, IntMess (Bildanalyse) 7

Systemübersicht 8

Technische Daten Mikroskop Stativ Abmessungen (B x T x H) Gewicht Okulare Inverses, manuelles Auflichtmikroskop Optional: Träger für Durchlichtbeleuchtung 220 x 560 x 355 mm 10,3 kg Sehfeldzahl 23 (W-Pl 10x/23 br foc) Steckdurchmesser: 30 mm 9

Technische Daten Objektive Objektivrevolver Fünffach H-D, DIC (kodiert) Beleuchtung HAL 100 (Halogen) Leistungsaufnahme des externen Netzteils:: 100 W, Regelbarkeit der Lichtquelle über externes Netzteil: stufenlos, 0 bis 12 V VIS-LED (LED) Max. Leistungsaufnahme: 20 W, Spannung: 0 bis 12 V DC, LED Risikogruppe 1 nach DIN EN 62471:2009, Wellenlänge 400 bis 700 nm, Peak bei 460 nm Kontrastverfahren Auflicht Durchlicht Reflektorrevolver Hellfeld, Dunkelfeld, DIC, C-DIC, Fluoreszenz, Polarisation Hellfeld, Polarisation, Phasenkontrast Vierfach Reflektorrevolver für Push & Click Reflektormodule Zubehör Tuben Binokularer Tubus 45, 23 Binokularer Fototubus, links 45, 23 (50:50) Binokularer Fototubus, 45, 23 (50:50) Binokularer Ergotubus, 30-60, 23 Zwischentuben Foto-Zwischentubus, H=50 mm, links Ergozwischenstück, H=25 mm für Einblickhöhenvergrößerung Ergozwischenstück, H=50 mm für Einblickhöhenvergrößerung Tische Kreuztisch 40 x 40 mit diversen Tischlochblenden Gleittisch einschließlich Tischeinlagen Scanningtisch 130 x 85, mot P, CAN mit diversen Halterahmen 10

Technische Daten Betriebstechnische Daten Einsatzbereich Geschlossene Räume Schutzklasse / Schutzart I, IP 20 Elektrische Sicherheit nach DIN EN 61010-1 (IEC 61010-1) unter Berücksichtigung von CSA und UL-Vorschriften Überspannungskategorie II Funkentstörung gemäß EN 55011 Klasse B Störfestigkeit gemäß DIN EN 61326-1 Netzspannung 100 bis 240 V AC ±10 % Netzfrequenz 50 bis 60 Hz Leistungsaufnahme internes Netzteil max. 80 VA Sicherungen nach IEC 127 Stativ Vorschaltgerät für HAL 100 T 3,15 A/H, 5x20 mm T 5,0 A/H, 5x20 mm Umweltbedingungen Transport (in Verpackung) Zulässige Umgebungstemperatur: -40 bis +70 C Lagerung Zulässige Umgebungstemperatur: +5 bis +40 C Zulässige Luftfeuchtigkeit (ohne Kondensation) max. 75 % bei 35 C Betrieb Zulässige Umgebungstemperatur +5 bis +35 C Zulässige relative Luftfeuchtigkeit (ohne Kondensation) max. 75 % bei 35 C Höhe des Einsatzbereiches Luftdruck max. 2000 m 800 hpa bis 1060 hpa Verschmutzungsgrad 2 11

Genießen Sie Service, der seinen Namen verdient Ihre Ergebnisse liegen uns am Herzen: Wir wollen, dass Sie das Beste aus Ihrem Mikroskop herausholen. Sie bekommen von Carl Zeiss, was Sie dazu brauchen: Technik, Software, Beratung und Betreuung. Wir sind weit über die Installation Ihres Mikroskops hinaus bei Ihnen vor Ort. Spezialisten von Carl Zeiss warten Ihre Systeme, setzen sie instand, erfassen Ersatzteile und vieles mehr. Ein Anruf genügt: Wir sind immer für Sie und Ihr Mikroskop da. Ihr Service-Vertrag sichert sie rundum ab Erhalten Sie die Leistungsfähigkeit Ihres Mikroskopsystems durch einen Service-Vertrag: Sie schützen sich vor teuren Ausfallzeiten: Preventive Maintenance Plus sieht die Wartung vor Unsere Spezialisten warten und justieren Ihr System in regelmäßigen Abständen. Sie erhalten wertvolle Hinweise, und wir beraten Sie umfangreich bei Ihren Fragen rund um Ihr Mikroskop. Sie bleiben bestens informiert über die Entwicklungen in Ihrem Anwendungsgebiet. Der Standard-Vertrag erfasst zusätzlich Reparatur und Support Der Standard-Vertrag schließt alle Leistungen von Preventive Maintenance Plus ein. Darüber hinaus deckt er sämtliche Reparatur- und Support-Leistungen ab. Für Sie fallen nur noch Kosten für eventuell auszutauschende Komponenten an. Bestandteil des Standard-Vertrages ist die Installation von Software- Updates wir halten Ihr System immer auf dem aktuellen Stand. Im Premium-Vertrag sind auch die Ersatzteile enthalten Der Premium-Vertrag beinhaltet alle Leistungen des Standard-Vertrages. Zusätzlich umfasst er die Kosten für alle Ersatzteile. Die Kosten für den Betrieb Ihres Mikroskopsystems sind vollständig planbar. Wir sind für Sie da: www.zeiss.de/mikro-service 12

Der Moment, in dem alles auf erstklassige Technik ankommt, weil es nur diesen einen Versuch gibt. Für diesen Moment arbeiten wir. Auf den Punkt Ihre Vorteile Ihre Anwendungen Ihr System Technik und Details Service // VERtrauen made by Carl Zeiss 13

facebook.com/zeissmicroscopy twitter.com/zeiss_micro youtube.com/zeissmicroscopy 70-2-0130d CZ-XII/2011 Anderungen in Ausfuhrung und Lieferumfang sowie technische Weiterentwicklung vorbehalten. MicroImaging GmbH Carl Zeiss MicroImaging GmbH Carl-Zeiss-Promenade 10 07740 Jena, Germany Industrial E-Mail: micro@zeiss.de www.zeiss.de/axiovert-mat