COMPACT LINIE. In-Circuit und Funktionstestplattform. WCM Compliant

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1 COMPACT LINIE In-Circuit und Funktionstestplattform WCM Compliant

2 WCM COMPLIANT COMPACT LINIE DESIGN Die World Class Manufacturing (WCM) Richtlinie wurde mit der Absicht entwickelt, Fertigungspraktiken zu definieren, die weltweit Gültigkeit haben. Der Grundtenor dieser Richtlinie ist die systematische Reduzierung aller Arten von Abfall und Verluste durch rigorose Anwendung von Methoden und Standards, unter Einbindung aller in der Organisation. Seica s neue Compact Linie ist auf der Erfahrung und Erfolg der Vorläuferlinie heraus entstanden und ist entwickelt, die Herausforderungen der lean production generell zu entsprechen, speziell den Anforderungen der Hersteller von elektrischen Baugruppen. Sie ist ergonomisch durchdacht und technologisch wettbewerbsfähig durch höchste Flexibilität, Messgenauigkeit und Testdurchsatz, in einer schmalen Bauform, mit minimaler Standfläche und begrenzten Verbrauch, ein dauerhaftes Produkt der Spitzenleistung. Den WCM Richtlinien folgend, wurde speziell der Ergonometrie und Sicherheit im Arbeitsbereich Beachtung geschenkt: vernünftige Platzierung der beweglichen Teile oder denen in Kontakt mit dem Bediener (Beinfreiheit, Gewicht des Prüfadapters beim Wechseln, automatisierte Werkzeuge zur Unterstützung (Prüfrahmen)). Alle Anschlüsse und Anzeigen für die Systemwartung (Druckluft, Netzwerkeingänge, Stromanschlüsse) sind zur leichten Erkennung für den Bediener platziert. Die Systeme sind so entwickelt und mit umfassenden Eigenschaften ausgestattet, um Wartungsarbeiten zu erleichtern, mögliche Ausfallzeiten zu reduzieren oder ganz auszuschließen wie z.b.: Lufteinlässe für die Kühlung, Abdeckungen gegen Staub und Wasser, Abdeckung der Serviceeingänge gegen unbeabsichtigten Zugriff. HOHE LEISTUNGSFÄHIGKEIT, FLEXIBILITÄT UND DURCHSATZ Die Compact Serie Basierend wurde auf Seica s VIP Plattform entwickelt, um die Konfigurierbarkeit zu maximieren, den unterschiedlichsten Testanforderungen zu entsprechen und um den Benutzer die Auswahl der Konfiguration zu überlassen, die am besten für seine Anwendung passt: In-Circuit Test, Funktionstest, Benchtop oder eine komplett automatisierte Testlösung, welche direkt in die Produktionslinie integriert werden kann. Ersatzteile können über die gesamte Plattform verwendet werden, um die Wartungskosten auf ein Minimum zu halten. Die Compact VIP Serie umfasst einen kompletten Satz von SW Werkzeugen, um den Anwender darauf zu fokussieren, die besten Testergebnisse zu erzielen, anstatt sich mit Limitierungen der Software Umgebung auseinander setzen zu müssen. Das ACL Synthetische Instrument ist der Kern eines jeden Systems: entwickelt als Antwort auf In-Circuit und Funktionstestanforderungen. Das ACL basiert auf der DSP-Technologie und benutzt unabhängige D/A und A/D Wandler für jedes synthetische Instrument. Die Messungen sind schnell, genau und wiederholbar und jede ACL Karte besitzt drei unabhängige Signalgeneratoren (AWG), ALLE COMPACT SYSTEME KÖNNEN ALS MULTI-RECEIVER UND MULTI-JOB TESTER KONFIGURIERT WERDEN ein Multimeter, einen Timer-Counter und einen ANZAHL DER PRÜFAUFNAHMEN EINZEL JOB MULTI-JOBS (2/4) großen Speicherplatz sowie Prozessfähigkeit zur Einzelprüfaufnahme Standard Synchroner Paralleltest hoher Durchsatz, typisch Signalanalyse und digitale für Nutzen Scope Funktionalitäten. Zwei Prüfaufnahmen Alternativ Mode Asynchroner Paralleltest Vier high Speed Hoher Durchsatz, teure Ressourcen gemeinsam Digitalkanäle sind ebenso genutzt verfügbar und verschaltbar über den analogen Die Systeme können in eine Reihe von Gehäusen haben, die unterschiedliche Stufen der Erweiterbarkeit bieten: COMPACT TK, COMPACT MULTI und COMPACT SL. Signalbus und wie andere

3 Compact linie Signale, direkt zugreifbar an der Frontpanele. Gesteuert durch den System-PC über den optischen Glasfaser-Bus, befinden sich im VIP Tester Backplane Kanalkarten, Routing Karten und interne Instrumentierung. Die VIP Tester Backplane bietet unübertroffene Flexibilität mit vollem Zugriff auf die Prüfadapteraufnahme, bietet Raum für Erweiterungen sowie eingebaute Signal und Power Busse, um allen Anforderungen der Stimuli und Messungen am Prüfling zu genügen. Die Compact Serie ist spezialisiert auf hohen Durchsatz, bietet Konfigurationen für den synchronen und asynchronen Paralleltest, entsprechend der Produktionsanforderungen des Anwenders. SCHNELLE, LEISTUNGSFÄHIGE, AUTOMATISCHE TESTPROGRAMMENTWICKLUNG Wie alle SEICA Systeme, basiert die Compact Serie auf der leistungsfähigen VIVA Software Umgebung. Auf dem Kapital von über 20 Jahren Testerfahrung, bietet die VIVA Umgebung eine einzigartige Leistungsfähigkeit, ist leicht zu bedienen, ist flexibel und hat einen reichhaltigen Satz von Werkzeugen, um allen Anforderungen bezüglich der Testprogrammgeneration, Debugging, Ausführung, Diagnose, Reparatur und Datenerfassung gerecht zu werden. Weiterhin wurde aller Aufwand getrieben, um die Geschwindigkeit bei der Testprogrammgeneration, Umfang bei der Testabdeckung und Durchsatz ohne Kompromisse zu erreichen. VIVA ist eine komplett prozessorientierte Testumgebung, entwickelt um die Testprogrammentwicklung stromlinienförmiger zu gestalten und die funktionale Grafikumgebung (FGE) führt den Anwender durch eine Serie von automatisierten Operationen in einer intuitiven, sich selbsterklärenden Umgebung. CAD Daten werden direkt importiert, um eine umfassende Datenbank für die Testgenration, Validierung und Diagnostik (eine Bibliothek von über 35 CAD Konvertern ist verfügbar) zu erzeugen, die Schaltpläne der Baugruppen, Layout und Nomenklatur sind dynamisch verlinkt und vom Anwender kontrollierbar. Eine Reihe von kompletten Testbibliotheken für analoge und digitale Komponenten sind in unserer dedizierten Testsprache NVL (Neutral VIVA Language) verfügbar und die VIP Plattform stellt sicher, dass Programme, entwickelt auf anderen VIP Systemen auch auf der Compact VIP Serie eingesetzt werden können; z.b. ein Programm, entwickelt auf einer Pilot Serie kann auf ein Compact System portiert werden, erlaubt so den Anwender den Produktionstest bezüglich des Volumens, Durchsatz und Testanforderungen zu optimieren. Dank der einzigartigen, offenen Architektur, ist VIVA kompatibel mit verschiedenen anderen front-end Paketen und erlaubt eine einfache Integration von externen (.EXE. und.dll) Software Modulen genauso wie third party Sprachen und Sequenzen wie z.b. Labview und Test-Stand, welches dem Anwender ermöglicht, sein existierendes know-how und Prozeduren zu verwenden, die besser geeignet sind, mit den bereits vor Ort vorhandenen Werkzeugen zu interagieren.

4 DIE COMPACT LINIE: COMPACT TK Dies ist die kleinste Konfiguration und ist generell empfohlen für ICT und On- Board Programming Anwendungen.Sie ist charakterisiert durch einen hohen Grad an Ergonometrie, kleine Standfläche, leichte Wartung, geringe Leistungsaufnahme und Bedienersicherheit. kleine stand-alone Lösung auf Rädern PARALLEL TEST Option bis zu 4 JOBS Bis zu 1536 analoge Kanäle Bis zu 128 hybride Kanäle (max. 10 MHz digital) Openfix vektorlose Testoption Bis zu 3 Benutzer-Stromversorgungen Funktionstest-Erweiterbarkeit On Board Programming Eigenschaften Boundary Scan Testoption Pneumatik/Vakuum für Prüfaufnahme eingeschlossen Kabinett voll integriert mit PC und Prüfaufnahme 230 V, 500 W, Druckluft erforderlich COMPACT MULTI Diese Konfiguration ist empfohlen für den Pre-Funktionstest, Funktionstest und kombiniertes Testen. Das vielseitige und skalierbare der Compact MULTI Testsysteme ist perfekt geeignet für die Integration von externen Instrumenten. Analogkanaleigenschaften (S64) Hybridkanaleigenschaften (P32) Leistungskanaleigenschaften (HRELE) Funktionstesteigenschaften Optionale Software In-circuit Eigenschaften Labview/TestStand Betriebs-Software GPIB Instrumenten Vorverdrahtung CAN, LIN, K-line Protokolle Manuelle Prüfaufnahme integriert (TM1) Bis zu 6 programmierbare Benutzenstromversorgungen Widerstandslast- Module Hochspannungs-/Stromeigenschaften

5 Compact Linie MAXIMALE KONFIGURIERBARKEIT UND FLEXIBILITÄT COMPACT SL Die COMPACT SL Konfiguration bietet eine komplett automatisierte Lösung über ein integriertes, SMEMA kompatibles Transportsystem, erlaubt eine komplett automatische Baugruppen Be-/Entladung und eine leichte Integration in hochvolumige Produktionslinien. Konfigurierbar als ICT, Pre-Funktionstest, Funktions-und Kombitester. SMEMA compliant In-line oder Stand alone Lösung Bis zu 4608 analoge Kanäle Bis zu 1024 hybride Kanäle (max. 10 MHz digital) Openfix Fähigkeit Bis zu 16 Benutzerstromversorgungen Funktionstesterweiterbarkeit On Board Programming Eigenschaften GPIB, RS232, CAN, und andere Protokolle Management Pneumatische/vakuum motorisierte Prüfaufnahme 19 internes Rack für 3rd Party Instrumente 230 V, 1kW, Druckluft erforderlich

6 ON-BOARD PROGRAMMIERUNG SEICA bietet eine vollintegrierte On-Board Programming (OBP) Lösung, welche in jedes Compact System eingesetzt werden kann. In Bezug auf die Prüfadapter-Integration, bietet diese Lösung einen wichtigen Vorteil in Bezug auf Betriebskosten, Geschwindigkeit und leichte Bedienbarkeit, ermöglicht durch die dedizierte SW Management Umgebung. In der maximalen Konfiguration, können bis zu 16 Bausteine simultan programmiert werden. Seica bietet dazu eine Bibliothek mit Dutzenden verfügbaren Plug-Ins und bietet einen Entwicklungs-Service für Kundenanforderungen. HOCHSPANNUNGSTESTEN Wenn die Testanforderungen eine Hochspannungsanalyse erfordert (bis zu 1 KW), dann gibt es Module, die bis zu 12 externe Ressourcen handhaben können (Transformatoren, Varistoren, aktive Lasten, Kundenschaltkreise, etc.) und bis zu 72 Ein-/Ausgang bipolare Kanäle. All diese Instrumente die für die notwendigen Messungen benötigt werden, sind in das Testergehäuse integriert welches die Schaltmatrix und Backplane beinhaltet. Die Software erlaubt dem Anwender ein einziges Programm zu generieren, welches das Standard- ICT Testen aber auch Funktionstestroutinen umfasst. Um die elektrische Signalintegrität zu verbessern, kann die Prüfaufnahme im Zweistufen- Modus betrieben werden. BOUNDARY SCAN Die hohe Flexibilität der offenen Architektur der VIP Plattform ermöglicht eine leichte Integration von externen Software und Hardware Modulen, welche nicht nur die Test- sondern auch die Programmiermöglichkeiten erweitern. Die virtuelle Nadelbett (VBN) Eigenschaft, entwickelt von SEICA, ist besonders nützlich, um die Testabdeckung, die am Prüfling als eine Gruppe von virtuellen I/O Kanälen verfügbar sind, durch die Pins der JTAG Komponenten durch hinzufügen von drive/sense Eigenschaften zu erhöhen, insbesondere, wenn ein direkter Zugriff auf diese Pin-Gruppe nicht verfügbar ist. Das VBN Modul ist in VIVA voll integriert und erfordert keine zusätzlichen Hardware Ressourcen. OPEN FIX TEST Das OPENFix Modul wird heute zum Testen von hochkomplexen IC s eingesetzt, ohne dass der Prüfling mit Versorgungsspannung beaufschlagt wird. Der dedizierte kapazitive Sensor ist auf dem zu prüfenden IC platziert und misst das übertragene Wechselsignal um offenen Anschlüsse zu erkennen. Diese Technik schließt ebenso die Erkennung von Kurzschlüssen an benachbarten Pins ein. Die schnell und leicht zu generierenden Tests mit Autolearning garantieren eine schnelle und extrem effiziente Implementierung.

7 Compact Linie REPARATURSTATION UND STATISTIK Das Reparaturstationsmodul bietet eine umfangreiche, grafische Software-Umgebung zur Fehlerlokalisierung und Reparatur. Wenn die Testphase abgeschlossen ist, kann der Bediener sich die detektierten Fehler (manuell oder mit einem Barcode Leser) abrufen und für jede getestete Baugruppe mit den Verbindungen für jede eingesetzte Komponente visualisieren. Ein intuitiver und selbsterklärender Dialog zeigt alle kritischen Punkte, die eine Inspektion erfordern und erlaubt den Bediener, die Informationen abzurufen, die zur Reparatur zur erforderlich sind und werden anschließen in eine Datenbank abgespeichert. Das QSTAT Werkzeug benutzt diese Datenbank, um Hinweise und Reparaturinformationen für den Bediener zur Fehlersuche sowie Berichte über die Aktionen zu den Reparaturen der getesteten Baugruppen zu generieren. Diese Software kann entweder am Testsystem (lokal) oder über das Netzwerk verbunden, an einem bestimmten PC (remote) installiert werden. Die Datenbank kann Reparaturaktionen an Nutzen-Baugruppen, Aufsteckleiterplatten und Einzelnutzen ohne Begrenzung der eingegebenen Daten oder Dimensionen sammeln (nur mit Begrenzung des Speicherplatzes auf der Platte). Das SPC Werkzeug ermöglicht die statistische Analyse der Testdaten und die Erzeugung der CP, CPK und Gauge R&R Reports. QUICK TEST QUICT TEST ist eine globale, virtuelle Instrumenten-Umgebung für den Zugriff auf alle Seica-Hardware. QuickTest ermöglicht den Benutzer grafisch und interaktiv in Echtzeit, Testsequenzen mit dem Prüfling und Tester Hardware zu erzeugen, die off- Line (Hardware Emulation) vorbereitet, oder direkt ausgeführt und visualisiert werden können. Ergebnisse können gespeichert und als Teil in das Testprogramm übernommen werden. QuickTest ermöglicht den Techniker, jedes Teil der leistungsfähigen und komplexen Plattform der Compact Serie mit der gleichen Leichtigkeit wie ein vertrautes Instrument im Labor zu nutzen, ohne die Kenntnis des Systems und der zeitraubender Datenbank Vorbereitung.

8 KUNDENSPEZIFISCHE SYSTEME VIVA, VIP, ACL, OpenFix, Quick Test, sind Handelsmarken und registrierte Handelsmarken von SEICA SPA. Alle anderen Marken und Produktnamen sind Handelsmarken oder registrierte Handelsmarken der entsprechenden Eigentümer. Die Informationen in diesem Dokument ist eine Übersicht und kann ohne Vorankündigung geändert werden. Das Erscheinungsbild des finalen, ausgelieferten Produktes kann von der gezeigten Fotographie abweichen SEICA WELTWEIT SEICA SpA via Kennedy Strambino - TO- ITALIEN Tel: Fax: sales@seica.com SEICA DEUTSCHLAND GmbH Am Postanger Benedikbeuern DEUTSCHLAND Tel.: Fax: hauptmann@seica.com PROXIMA S.R.L. via Gorra 55/B Piacenza - ITALIEN Tel: Fax: info@proxima-ate.com SEICA Inc. 50A Northwestern Drive Suite 10 - Salem NH USA Tel: Fax: sigillo@seica.com SEICA FRANCE SARL 30, Avenue Robert Surcouf Voisins Le Bretonneux FRANKREICH Tel.: Fax: dupoux@seica.com SEICA ELECTRONICS (Suzhou) Co.Ltd. XingHan Street Suzhou Industrial Park, Jiangsu Province, CHINA Tel.: Fax: seicachina@seica.com Autorisierter Repräsentant Seica behält sich das Recht auf technische Änderungen vor! Brochure Compact Line deu ver /2012