Inhaltsverzeichnis. Vorwort zur 2. Auflage

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1 Inhaltsverzeichnis Vorwort zur 2. Auflage V 1 Analoge und digitale Multimetersysteme Zeigermessgeräte Aufbau von Zeigermessgeräten Beschriftung von Skalen Genauigkeitsklassen und Fehler Messungen mit Zeigermessgeräten Leistungsmessungen Widerstandsmessungen Digitale Multimetersysteme ^-stelliges Digital-Voltmeter ICL7106 mit LCD-Anzeige Umschaltbares Multimeter mit dem ICL Arbeiten mit dem simulierten Multimeter Grundeinstellungen des Multimeters Arbeiten mit simulierten Betriebsmessgeräten Messen von Kondensatoren und Induktivitäten Mikrocontroller als Multimeter Bit-Mikrocontroller ATtiny Grundfunktionen des 8-Bit-Mikrocontrollers ATtiny Absolute und relative Genauigkeit Integraler Linearitätsfehler Differentielle Nichtlinearität Offsetfehler Verstärkungsfehler Aufbau eines digitalen Systems Unterscheidungsmerkmale zwischen analogen und digitalen Systemen Systemfehler der AD-Umsetzung Statische Signale Quasistatische Signale Dynamische Signale Signalparameter Statistische Methoden der Signalauswertung Arithmetischer Mittelwert Fortlaufende Mittelwertbildung Schrittweise Mittelwertbildung Quadratischer Mittelwert...50

2 Effektivwert Abtasttheorem und Aliasing Funktionsgenerator und Signalquellen Simulierter Funktionsgenerator Augenblickswert, Scheitelwert und Effektivwert Rechteck- und Dreieckspannung Messung der Phasenverschiebung RC-Glied an symmetrischer Rechteckspannung Messung einer Schwebung Messung einer Amplitudenmodulation (AM) Messung einer Frequenzmodulation (FM) Messung einer Rauschspannung Messung einer FSK-Spannung Realer Funktionsgenerator Blockschaltung des Funktionsgenerators MAX Funktionsgenerator mit dem MAX Wobbler mit dem MAX Mikrocontroller ATtiny26 als Frequenzgenerator Mikrocontroller als Rechteckgenerator Mikrocontroller ATtiny26 als Sinusgenerator Wattmeter Elektrodynamisches Messwerk Elektrodynamisches Quotienten-Messwerk Messverfahren in der Starkstromtechnik Leistungsmessung im Einphasennetz Leistungsmessung im Drehstromnetz Blindleistungsmessung Leistungsfaktormessung Messpraktikum Leistungsmessung einer Glühlampe Leistungsmessung einer Spule Leistungsmessung einer RL-Schaltung Leistungsmessung einer RC-Schaltung Leistungsmessung einer Kompensation Leistungsmessung einer Sternschaltung (Drehstrom) Leistungsmessung an Drehstrom Leistungsmesser mit Mikrocontroller ATtiny Oszilloskope Elektronenstrahlröhre Y-Verstärker mit Abschwächer X-Verstärker mit Abschwächer

3 4.1.3 Zeitablenkschaltung Elektronischer Schalter Vorverstärker Digitale Speicheroszilloskope Analog-Digital-Wandler Genauigkeit und Auflösung Digitale Zeitbasis Digitalisierung der Daten Aliasing und Anti-Aliasing Impuls-Interpolation Vergleich zwischen Digital- und analogem Speicheroszilloskop Messmerkmale eines digitalen Speicheroszilloskops Auswahl eines digitalen Speicheroszilloskops Messübungen mit simuliertem Zweikanal-Oszilloskop Oszilloskopeinstellungen Messungen von unsymmetrischen Spannungen Messung der Phasenverschiebung Messung einer Frequenz mit Lissajous-Figur Messung der Blindleistung Messung der Phasenverschiebung an einer RCL-Reihenschaltung Messung einer Signalkopplung in einem Kleinsignalverstärker Messübungen mit simuliertem Vierkanal-Oszilloskop Messung von unterschiedlichen Spannungen Sinusgenerator mit RC-Phasenschieber Bode-Plotter Arbeiten mit dem Bode-Plotter Verhalten eines passiven RC-Tiefpass-Filters Verhalten eines Reihenschwingkreises Verhalten eines Parallelschwingkreises Reale Schwingkreise Güte und Bandbreite Untersuchung eines LC-Filters Untersuchung eines T- und ^-Filters Untersuchung eines Tiefpass-Doppelsiebgliedes Untersuchung eines Bandpasses nach Wien Frequenzmessgeräte Praxis der Dekadenzählung Mengenzählung Zeitmessung Frequenzmessung Frequenzverhältnismessung Frequenzuntersetzung Realisierung einer Zählerdekade

4 6.2 Messungen mit dem simulierten Frequenzzähler Multifunktionszähler und Frequenzzähler Multifunktionszähler ICM7216A/B und Frequenzzähler ICM7216C/D Funktionen des ICM7216A/B Multifunktionszähler mit dem ICM7216A bis 10 MHz Frequenzzähler bis 10 MHz mit dem ICM7216C/D Erweiterte Schaltungen mit dem ICM7216C/D Logikanalysator und Bitmustergenerator Digitale Messgeräte Simulierter Bitmustergenerator Simulierter Logikanalysator Untersuchung des Dezimalzählers Untersuchung des Schieberegisters Untersuchung eines 8-Bit-DA-Wandlers Untersuchung eines 8-Bit-AD-Wandlers Mikrocontroller mit LED-Baranzeige Mikrocontroller am Logikanalysator Mikrocontroller mit DA-Wandler Mikrocontroller mit AD-Wandler Mikrocontroller mit AD- und DA-Wandler Logikkonverter Arbeiten mit dem Logikkonverter Verfahren nach Quine und McCluskey Untersuchung einer negierten UND-Verknüpfung Untersuchung einer UND-ODER-Verknüpfung mit zwei Eingängen Untersuchung einer UND-ODER-Verknüpfung mit drei Variablen Untersuchung einer UND-ODER-Verknüpfung mit vier Variablen Schaltungsanalyse von TTL-Bausteinen Untersuchung des NAND-Gatters Untersuchung des Exklusiv-ODER-Gatters Inhibition und Implikation Untersuchung des UND/NOR-Gatters Kennlinienschreiber (I/U-Analyse) Kennlinie Statische Kennlinienaufnahme einer Diode Dynamische Kennlinienaufhahme einer Diode Kennlinienschreiber mit Diode Statischer und dynamischer Wert einer Diode Kennlinienschreiber für Transistoren Einfache Messungen und Prüfungen an bipolaren Transistoren Messung des Gleichstromverstärkungsfaktors B Messung der Eingangskennlinie Ib = f (Ube)...230

5 9.2.4 Ausgangskennlinien eines Transistors Dynamische Aufnahme von Ausgangskennlinien Klirrfaktormessgerät Messen einer Bandsperre mit Klirrfaktormessgerät Klirrfaktor Zweistufiger Verstärker mit kapazitiver Kopplung Intermodulations-Verzerrungen Spektrumanalysator und Netzwerkanalysator Grundlagen der Spektrumanalyse Frequenzbereiche Empfindlichkeit Signalanzeigebereich Dynamikbereich Messung eines AM-Demodulators Arbeiten mit Dezibel Netzwerkanalysator Smith-Kreisdiagramm Messen mit dem Netzwerkanalysator Messen eines Collins-Filters Anpassschaltungen in der HF-Technik Simulierte Industriemessgeräte HP-Funktionsgenerator 33120A HP-Multimeter 34401A HP-Oszilloskop 54622D Tektronix-Oszilloskop TDS Analysemethoden bei Simulationen mit MultiSim und PSPICE Analysiermethoden Simulation und Analyse AC-Frequenzanalyse Zeitbereichs-Transientenanaly se Fourier-Analyse Rausch- und Rauschzahlanalyse Verzerrungsanalyse Analyse mit linear variabler Gleichspannung (DC-Wobbeln der Übertragungsfunktion) Empfindlichkeitsanalyse Parameterdurchlauf-Analyse (lineare variable Parameterwerte)...324

6 13.11 Temperaturdurchlauf-Analyse (variable Temperaturen) Monte-Carlo-Analyse Pol-ZNullstellenanalyse Worst-Case-Analyse (ungünstige Bedingungen) Weiterfiihrende Literatur 339 Stichwortverzeichnis 341