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Zonenreinigung Vollständige Löslichkeit der Komponenten A und B im flüssigen und festen Zustand. á-mischkristall von A in B oder von B in A z. B. Ge - Si Vollständige Löslichkeit der Komponenten im flüssigen Zustand und teilweise Löslichkeit im festen Zustand. á- Mischkristall von A in B. â- Mischkristall von B in A. x l e Zusammensetzung der eutektischen Schmelze. Mischungslücke von x s e1 bis x s e2. z.b. Al - Si Vollständige Löslichkeit im flüssigen Zustand und diskrete Löslichkeit im festen Zustand z.b. Ga - As

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Zonenreinigung Verteilungskoeffizient k (Segregationskoeffizient) k ' x s A s l A ' C s A C l A Konzentrationsverteilung nach einmaligem Durchgang einer Zone C s (x) ' C o 1 & 1 & k exp & kx L

Czochralski-Verfahren

Zonenschmelzen Zonenschmelzanlage zur Züchtung großer Kristalle: 1-oberer Zugschaft, 2-Kristallhalterung, 3-polykristallines Ausgangsmaterial, 4- geschmolzene Zone, 5-Induktionsheizung, 6-versetzungsfreier Kristall, 7-Haltefinger, 8-Schwimmring, 9-Flaschenhals, 10-Keimkristall, 11- Keimkristallhalter, 12-Stützkorb, 13-unterer Zugschaft

Zonenschmelzen Verfahrensablauf beim Zonenschmelzen

Keimkristalle und ihre Befestigung

Kristallzüchtung aus der Schmelze Temperaturverlauf beim Kristallwachstum aus der Schmelze: T e -Gleichgewichtstemperatur (Schmelztemperatur), T o - Temperatur an der Phasengrenze, ÄT=T o - T e - Unterkühlung Ausbreitung von Störungen beim Kristallwachstum aus der Schmelze: (a) konvexe Wachstumsfront, (b) konkave Wachstumsfront

Czochralski-Verfahren Wärmebalance und Isothermenverläufe für das Kristallwachstum nach Czochralski: (a) Ziehen aus der Schmelze (Wärmeabfuhr durch den Kristall), (b) Wachstum in einer unterkühlten Schmelze (Wärmeabfuhr durch die Schmelze)

Konstitutionelle Unterkühlung Konstitutionelle Unterkühlung während des Kristallwachstums. T CG - Kristallisationstemperatur an der Phasengrenze.

Meniskus Form des Meniskus beim Czochralski-Verfahren Schmelzmeniskus beim Czochralski-Verfahren: (a) ideale Position, (b) zu hoch, (c) zu tief

Konvektion in Tiegeln Konvektionsschema und axialer Temperaturverlauf in einem Tiegel ohne Kristall (T 1 < T 2 ) Konvektionsschema in einem Tiegel mit rotierendem Kristall

Sauerstoffeinbau Einfluß der Rotationsgeschwindigkeit des Tiegels auf den Sauerstoffeinbau während des Ziehens eines Einkristalls nach Czochralski

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Czochralski-Verfahren Einfluß der Rotationsgeschwindigkeit auf die Form der Kristallisationsfront

Defekte im Silizium

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Defekte im Silizium Defekte im Siliziumkristal und der Wachstumsprozeß Simulierte Defektverteilung

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Bridgman-Verfahren Schematische Darstellung einer Apparatur zur Herstellung von GaAs-Einkristallen. )))))) Temperaturprofil beim Bridgman -Verfahren; - - - - - - - Temperaturprofil beim der Gradient Freeze - Technik.