Test Plattform auf PXI/ABex Basis. Matthias Vogel Konrad Technologies

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August Meyer
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1 KT LEON Skalierbare In Circuit Test Plattform auf PXI/ABex Basis Matthias Vogel Konrad Technologies

2 Agenda Firmenvorstellung ICT Hardware Plattform Software: Tools & Überblick Applikationserstellung CAD Daten Import Debugging Boundary Scan Integration FKT Integration

3 Überblick Konrad Technologies Systemintegration & Engineering Dienstleistungen Produkte und schlüsselfertige lf Lösungen zur Unterstützung im gesamten Lebenszyklus elektronischer lkt Produkte Forschung Entwicklung Produktion Firmensitz: Radolfzell am Bodensee Niederlassungen in Österreich und Ungarn Über 1000 Systeme weltweit im Einsatz

4 Expertise Funktionstest In Circuit it Test RF Test Vision Test Halbleitertest abetetest Mechaniklösungen (Handlingsysteme, Testzelle, Adaption) Consulting Entwicklungsdienstleistungen

5 Baugruppentest Konventioneller Ansatz: Spezialisierte i Tester je nach Testverfahren Funktionstest In Circuit Test AOI Test X Ray Test Boundary Scan Test Konrad Lösung: Eine leistungsfähige lit Plattform für kombinierten i Test KT 8500 LEON

6 Die KT 8500 LEON Plattform EINE Testerplattform für maximale Testabdeckung PXI basierend Offen Skalierbar KT 8500 LEON FKT MDA JTAG Vision Flash

7 Warum auf PXI Plattform? De facto Standard seit 12 Jahren Schneller Computerbus PCI / PCI Express Herstellerübergreifend Instrumente für nahezu jeden Anwendungsfall Sehr genau messen Präzise Stimulieren Pattern I/O FPGA Ideale Basis fürate

8 ICT Systemarchitektur PXI Backplane Analogbus PXI Controller (NI) ICT Testkern: Testkern: PXI PXI PXI PXI DAQ Board Guarding Switching PXI Switching 16 Bit ADC Amplifier Matrix Switching Matrix (NI) (KT) (KT or Matrix NI) (KT or NI) (KT or NI) KT ICT Amp4a Meßverstärker NI PXI 6251DAQ Karte / 16 Bit Auflösung 1.25 MS/s Scanrate Interface / Adaption DUT

9 KT ICT Amp4a Messverstärker II Messverfahren für Widerstand 2 Draht, 4 Draht Kondensator Entladefunktion Spule Impedanzmessung Z Dioden, Varistoren Diodenmessung NPN/PNP Transistoren Unterbrechungen/ Kurzschlüsse Stimuli Signale: 0 45V, 150 ma Unbegrenzte Anzahl Guarding Punkte Guarding Strom max. 150mA

10 Switching Optionen Je nach Systemvariante NI PXI x4 Topologie Signale bis 100V / 500mA KT AM x4 Topologie Signale bis 100V / 750mA Optimiert für ICT Sehr wartungsfreundlich

11 Skalierbare Testplattform Skalierbar hinsichtlich Testpunktanzahl: Limitiert nur durch die Anzahl der Schaltmatrizen hl Parallelisierung: Mh Mehrere Testkerne parallel l Pro Testkern ein Messverstärker und eine DAQ Karte Verringerung gder Taktzeit

12 Maximierung der Testabdeckung Neu: Brücke zwischen Boundary Scan und Mixed SignalTest JTAG Erweiterung um Netze, die bisher nicht erfassbar waren JTAG digital Stimulierung + analog Rückmessen Analoge Stimulation + Weiterverarbeitung via JTAG Zugriff auf analoge Mess Ressourcen in Konrad FKT Library Matrizen DAQ Karten ABex Signalrouting

13 Parametrische Measurement Unit PMU 32 Kanäle, individuell konfigurierbar Modulare Bestückung in vier Gruppen Galvanisch isoliert zum Chassis Energieversorgung über PXI Stecker Vierquadrantenbetrieb Quellenbetrieb Senkenbetrieb Einzelne PMU Kanäle Quelle ±DC Spannung 400 μv 11 V Quelle ± DC Strom 200 pa 70 ma Messung ±DC Spannung 2 μv 11 V Messung ±DC Strom 1 pa 70 ma Software: LabVIEW LLB, DLL, Visa Treiber

14 Testsystemvarianten Systemgröße Testpunkte Bemerkungen LittleLEON 5 Slots Niedriger Einstiegspreis LEON 8, 14, 18 Slots Hohe Flexibilität Kombinationstest LEON ABex 18 Slots pro Chassis 5000 mit weiteren Chassis System mit maximaler Leistung Mehr Speed (Switching) PXI-kompatibel Signal-Routing ohne externe Kabel Beste Signalqualität Geringe Erstellungszeiten Kombinationstest VPC-Schnittstelle Adapter von Ingun

15 PXI im praktischen Einsatz Signal Connectivity? Routing? Integration von Nicht PXI Ressourcen? Platzbedarf für Kbl? Kabel? Prüflings Schnittstelle?

16 Analog Bus Extension for PXI Offene Systemerweiterung für PXI KEIN neuer, proprietärer Busstandard Volle Bewahrung des PXI Standards Erweitert Standard Chassis von National Instruments Hinzufügung einer Signal Backplane zur Signalverteilung über das gesamte System Ankopplung von PXI Karten über Terminal Module Integration von Nicht PXI Ressourcen über Rear Module

17 ABex Signal Backplane Analog Bus 30 Leitungen 10 Gruppen á 3 Leitungen (+,, Schirm) Power Bus 3 Slots mit Hochstrom Einspeisung bis 40A 2 Leitungen bis zu 5A 12 Lit Leitungen bis zu 1A (4 Lit Leitungen ±15V, 8 General lpurpose Leitungen) Digital Bus für systemspezifische Kommunikation Serielle Busse für spezielle Anforderungen I²C, SPI, CAN HS Bus (Z=120Ohm), 2 Leitungspaare

18 Systemarchitektur Rear Module KT PXI-Analog Bus Backplane Power Bus Analog Bus Power Supply Terminal Modules PXI-Chassis Virginia Panel Interface UUT Digitizer or Multifunction DAQ Board PXI Switching Matrix DMM / LCR Meter

19 Rear Module Rückwärtige Kontaktiermöglichkeit der Backplane Integrationexterner externer Instrumente Power Supplies, Verstärker, Lastbox Beispiel: KT RM RUBI Programmierbare Verbindungen zwischen 4 SMB Steckern auf alle 30 Analog Bus Leitungen Monitoring / Debugging Sonderelektronik KT RM XCD ABex Supply unit, incl. DUT supply

20 Terminalmodule Signalverschaltung auf Backplane Platzfür zusätzliche Elektronik Signalkonditionierung Funktionserweiterungen Synthetische Instrumente FlexRIO + HF Frontends Protokollbasiertes Testsystem Industrietaugliches Interface zu Adapterschnittstelle Viele Standardkarten von NI unterstützt

21 Terminal Module Beispiel

22 KT TM 401 Dynamic Digital I/O FlexRIO basiertes Instrument PXI 7952 Ergänzt ICT um digitalen Patterntest 64 digitale In, 64 digitale Out, Galvanisch isoliert Programmierbare High Pegel und Schwellwerte 0 28V (mv VResolution) Ideal für Automotive ECU Tests! 1MBit/s 10mA / Kanal Trigger Selbsttest

23 Prüfadapter Schnittstelle Virginia Panel basierte Schnittstelle Receiver ITA Rahmen Robuste Adapterschnittstelle garantierte Kontaktierzyklen Passend entwickelt für 4TE Horizontal Abstand von PXI und ABex 192 pol Module (QuadraPaddle) 96 pol, 72 pol. Module 2x 16 pol (TriPaddle, Mini Power) Power Module 5A, 10A, 50A Bessere Ausnutzung des vollen 19 Bauraumes, als jede andere verfügbare Virginia Panel Lösung am Markt!

24 Software Architektur

25 ICT Bibliothek DLL mit LabVIEW API und direkter Integration in TestStand In TestStand ICT als Teil des Gesamtablaufes Konfigurierbare Step Types

26 ICT Konfigurator ICT Programmierung über textbasierte Syntax in ICT Konfigurator Debugging integriert Mehrfachtest Nutzentest Automatische Ergebnisdaten speicherung Beispiel: Rx4,UUT_1_R3,1R;1,10%,10%;12,13,14,15;STIMU:10mA;W:10;M:10;

27 Automatische Prüfprogrammerstellung CAMCAD von Router Solutions Verarbeitung vieler gängiger CAD Datenformate Design for Test Analyse (DFT) Berechnung der Testabdeckung Automatische ICT Programm Erzeugung Bohrkoordinaten für Adaptererstellung Reduzierung der Entwicklungszeit Copy & Paste Debugging in KT ICT Konfigurator

28 Live Demo

29 ICT Ergebnisdaten Multi Test mit statistischer Auswertung Automatische Abspeicherung der Ergebnisdaten Weiterverarbeitung in TestStand über Variablen

30 KT STAT Ergebnisdaten Browser Filterfunktionen Reporterzeugung für Excel Berechnung von SPC Kennzahlen Meßmittelfähigkeit Prozessfähigkeit TrendView

31 KT Operator Interface GUI für TestStand Verschiedene Login Ebenen Debugging der Sequenzen Unterstützung mehrerer Stationen Definition freier Panels für Sonderfälle Sprachumschaltbar

32 Testkonzepte Tischgeräte Rack Montage Einzeln stehend In Line

33 Applikationsbeispiel: ICT/FKT Kombitester In Circuit Test für alle elektronischen Bauteile Flashen der Firmware, Prozessorprogrammierung Stimulierung mit max. 40MHz Farbabgleich und Kalibrierung RGB LED Etikettieren der Prüflinge Archivierung allerprüfdaten mit Verwaltung Seriennummer Genrad-Interface Vakuum Adapter PXI-System + ABex Power Supply + Tabor Verstärker

34 Applikationsbeispiel: FKT/ICT Kombitester Baugruppentest für Medizingeräte (bildgebende Verfahren Tomographie) Modulares Basissystem Flexible DUT Schnittstelle nötig Extrem hohe Prüflingsvielfalt Test im Nutzen mit 8 DUTs Mehrfach täglich Variantenwechsel PXI/ABex System mit Analog I/O, CAN, Dig I/O, Switching, ICT, Boundary Scan Spezielle Abex Instrumente für Isolierte, dynamische I/O Karte Kommunikationskarte I²C, SPI

35 Applikationsbeispiel: In Line Testsystem Test von Elektronikbaugruppen für Füllstands, Grenzstand und Drucküberwachung Vierfach Nutzen, ICT/FKT kombiniert Gut Teil Markierung mit Ritzer, Gut/Schlecht Teil Sortierung Vollautomatisches Board Handling ABex System: Kabellose Integration in Testzelle ICT, FKT, HF

36 ABex Partner Netzwerk ABex Systemkomponenten als Standardprodukte verfügbar Verfügbar für Integratoren Hardware Development Kit Produkt Trainings in Radolfzell oder On Site

37 Weitere Informationen Allgemeine Kontaktinformationen Konrad GmbH Fritz Reichle Ring Radolfzell Tel: technologies.de technologies.de Weiterführende Infos zu diesem Thema Einstiegsseite zu Abex Analog Bus Extension for PXI: technologies.de/deutsch/produkte/abex pxi analogbus

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