11. Anwendertreffen Röntgenfluoreszenzund

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1 Deutscher Arbeitskreis für Angewandte Spektroskopie Universität Duisburg-Essen 11. Anwendertreffen Röntgenfluoreszenzund Funkenemissionsspektrometrie Duisburg März 2004

2 Der Deutsche Arbeitskreis für Angewandte Spektroskopie (DASp) veranstaltet gemeinsam mit der Universität Duisburg-Essen, der Fachhochschule Münster, der Universität Hamburg und dem Institut für Spektrochemie und Angewandte Spektroskopie (ISAS) ein Treffen von Anwendern der Röntgenfluoreszenz- und Funkenemissionsspektrometrie sowie verwandter Methoden der Feststoffanalytik. Ziel des Anwendertreffens ist es, Forschung und Industrie zusammenzuführen um den Informationsaustausch zu fördern und neue Entwicklungen anzuregen. In Kurzvorträgen wird über instrumentelle Neuentwicklungen, Lösungen aktueller Fragestellungen und insbesondere über den Einsatz dieser Methoden in Laboratorien verschiedenster Bereiche der Industrie berichtet. Tagungsort und Termin 8. bis 9. März 2004 Universität Duisburg-Essen, Campus Duisburg Ecke Lotharstraße/Mülheimer Straße Hörsaal MD 162 (Eingang MC) Organisation Prof. Dr. J.A.C. Broekaert Dr. J. Flock Prof. Dr. A. Janßen PD Dr. H.-M. Kuß Prof. Dr. K. Niemax Formlose Anmeldung an: PD Dr. H.-M. Kuß Universität Duisburg/Essen Fakultät Naturwissenschaften Instrumentelle Analytik Lotharstraße Duisburg Fax: 0203/ kuss@lims.uni-duisburg.de Aus organisatorischen Gründen erfolgt keine schriftliche Bestätigung der Anmeldung. Die Teilnahme an der Veranstaltung ist kostenlos. Die Vorträge werden nach Abschluss der Veranstaltung in einem Tagungsband veröffentlicht. (Schutzgebühr 15 )

3 8. März 2004, Beginn 9.00 Uhr K. Ohls, Dortmund Die Rolle der Bogenentladung in der praktischen Emissionsspektralanalyse K. Flórián, J. Hassler, H.-M. Kuß, Duisburg Moderne Bogenspektrometrie in der Feststoffanalytik A. Kurowski, R. Hergenröder, Dortmund Femtosekundenlaser neue Möglichkeiten für die Emissionsspektroskopie A. Pissenberger, Linz Einschlussanalyse in der Produktion mittels Funkenspektrometrie H. Mittelstädt, Duisburg Die schnelle Bestimmung von Elementverteilungen an großen Flächen mittels Laser-OES E. Muller, J. M. Böhlen, Ecublens Neue Möglichkeiten der Signalverarbeitung mit CCD-Spektrometern J. Zech, A. Kunz, Kleve Magellan Vorstellung und Ausblick auf die technischen Möglichkeiten eines neu entwickelten Funken-Spektrometers S. Lüngen, Duisburg Schleifen oder Fräsen: eine oberflächliche Entscheidung?! M. A. Bassin, E. Muller, J. P. Troyon, Ecublens Laborautomatisierung: Neueste Entwicklungen und Aussichten D. Ardelt, O. Schulz, H. Visser, T. Vogt, Kleve Direkte Analyse von metallischen Proben mittels Funkenablation und einem hoch flexiblen ICP-OES CCD Spektrometer H. Lehmkämper, Mönchengladbach Moderne Analytik von Oberflächen und Beschichtungen mittels der GD-OES N. Jakubowski, Dortmund Analyse technischer Oberflächen mittels GD-MS M. Privik, M. Kettenis, D. Wissmann, Kleve Der gordische Knoten im Draht Elementanalyse von Drähten und Drahtgeflechten mittels OES und RFA V. Arkadiev, A. Bjeoumikhov, N. Langhoff, J. Rabe, R. Wedell, Berlin Hochbrilliante Röntgenquelle mit Fokussieroptik als Zusatzmodul für Rasterelektronenmikroskope zur Elementanalyse mit hoher Nachweisempfindlichkeit B. Peschel, J. A. C. Broekaert, Hamburg TXRF an pulverförmigen Materialien

4 9. März 2004, Beginn 9.00 Uhr A. von Bohlen, Dortmund Röntgenfluoreszenz mit Synchrotronstrahl-Anregung P. Hoffmann, Darmstadt Chemisch-analytische Charakterisierung von Mehrfachschichten durch Röntgenspektroskopie mit Synchrotronstrahlung A. Bjeoumikhov, N. Langhoff, J. Schmalz, J. Tilgner, R. Wedell, Berlin Kompakter und mobiler Messkopf für die Element- und Molekülspektrometrie durch die Nutzung der Methodenkopplung (RF- und Raman-Spektroskopie) M. Davidts, Brüssel Accurate and reproducible beads: preparation by fusion of some difficult materials: Iron Oxide, Ferro- Alloys, Copper Sulphides and Silicon Carbide J.-P. Gagnon, Bad Schönborn Developement of fusion procedures from raw meals samples R. Eidecker, Duisburg XRD/XRF-Automatisierung in der Titandioxid-Produktion M. Haschke, Taunusstein Warum sind die Mayas ausgestorben? Antworten mit der µ-rfa K. Behrens, Karlsruhe ppm pro Euro Ein Vergleich von standardloser Analytik zwischen EDX und WDX K. Juchli, R. Yellipeddi, D. Bonvin, F. Girod, Ecublens Applications of Standard-less analysis in XRF and Powder XRD for materials analysis J. Weß, Hamburg Vorteile in der Anwendung eines High-End EDX-Spektrometers O. Haupt, Kassel Entwicklungen in der WDX-Spektroskopie erlauben neue Möglichkeiten in der Spurenelementbestimmung L. Füchtjohann, W. Kwarteng, Wenden Bestimmung von Schwermetallen, Fluor und Chlor in Althölzern mit Hilfe der Röntgenfluoreszenzanalyse H. Eis, Wiesbaden Einfache Technik, grosse Wirkung. Low Background Proportional Counter in der Praxis A. Bühler, Karlsruhe Quantitativ und standardlos zwei getrennte Welten A. Janßen, J. Flock, Steinfurt/Dortmund Anreicherungsverfahren in der Probenvorbereitung für die Röntgenfluoreszenz-Spektrometrie

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