10. EMV-Fachtagung. ife März 2012 Seibersdorf Laboratories - Campus Seibersdorf. institut für elektronik

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1 10. EMV-Fachtagung März 2012 Seibersdorf Laboratories - Campus Seibersdorf ife institut für elektronik

2 COMPETENCE DRIVEN SERVICES Seminar-Reihe EMV Einführung und Grundlagen Kopplung, Signalspektren, Abstrahlung EMV-gerechtes Printplattendesign EMV-gerechtes Geräte- und Systemdesign Gesetze und Normen Seminar-Reihe EMF Grundlagen der Wirkung auf den Menschen Expositionserfassung und -bewertung Gesetze und Normen Inserat SL Foto: Wolfgang Müllner

3 Störungsfreie Elektronik und Geräte 10. EMV-Fachtagung März 2012 Seibersdorf Laboratories Seibersdorf Band 62 der OVE-Schriftenreihe

4 Impressum Herausgeber: Dr. Kurt Lamedschwandner, Seibersdorf Labor GmbH Verlag: Österreichischer Verband für Elektrotechnik (OVE) Satz: Mag. Angelika Urbanich, Seibersdorf Labor GmbH, 2444 Seibersdorf Druck: Donau Forum Druck GmbH, 1230 Wien OVE Schriftenreihe-Bd. 62 ISBN OVE Österreichischer Verband für Elektrotechnik 2012 Eschenbachgasse Wien

5 Grußwort zur 10. EMV-Fachtagung Herzlich Willkommen zu unserer Jubiläums-Fachtagung. Dass dieser - ich glaube sagen zu dürfen - mittlerweile unumstritten wichtigste EMV-Event Österreichs nun schon das 10. Mal in Folge stattfindet, belegt meiner Meinung nach sehr eindrucksvoll die anhaltende Aktualität des Themas elektromagnetische Verträglichkeit (EMV). Die Veranstalter, Seibersdorf Laboratories als verantwortlicher Organisator gemeinsam mit der OVE-Akademie, dem Austria Chapter der IEEE EMC Society und der TU-Graz freut es, dass es auch für 2012 wieder gelungen ist, hochkarätige Vorträge zu aktuellen EMV-Themen einzuwerben. In insgesamt 12 Fachvorträgen und 4 Workshops werden praxisrelevante EMV-Kenntnisse vermittelt. Darüber hinaus bietet die Fachtagung Gelegenheit zur Diskussion mit Berufskollegen und zum Knüpfen von Kontakten. Die begleitende Ausstellung dient der Information über Innovationen und Neuerungen innerhalb der Branche. Aufgrund des 10-jährigen Jubiläums haben wir uns entschlossen, die Fachtagung erstmals 2-tägig zu veranstalten. Angekündigt wurde das Tagungsprogramm diesmal auch das ist eine Premiere - auf einer eigenen Webpage: Das Gebiet der EMV ist im Laufe der letzten 10 Jahre zu einer Schlüsseltechnologie für die erfolgreiche Entwicklung von integrierten Schaltungen, elektronischen Geräten und Systemen, sowie von elektrischen Anlagen geworden und gewinnt weiter an Bedeutung. Demzufolge hat sich die EMV-Fachtagung seit Ihrer Gründung im Jahr 2003 zu einem jährlichen Fixpunkt für den Erfahrungs- und Gedankenaustausch innerhalb der EMV-Community entwickelt. Auf den Fachtagungen der Jahre 2003 bis 2011 wurden insgesamt 66 Fachvorträge zu aktuellen EMV-Themen gehalten. Die große Teilnehmeranzahl sowie das positive Feedback signalisieren uns Veranstaltern, dass wir bei der Auswahl der Fachthemen richtig liegen. Aber nicht nur die Zahl der Teilnehmer auch die Anzahl der Sponsoren ist in den letzten 10 Jahren stetig gewachsen. Sehr herzlich für die Unterstützung bedanken möchte ich mich bei allen Referenten, bei den zahlreichen Sponsorfirmen, beim Österreichischen Verband für Elektrotechnik (OVE), bei meinen IEEE-Vorstandskollegen und last but not least bei meinen EMV-Kollegen und beim Marketing-Team der Seibersdorf Laboratories. Ich wünsche Ihnen zwei spannende EMV-Tage! Ihr Dr. Kurt Lamedschwandner Tagungsleiter, Seibersdorf Labor GmbH

6 10. EMV-Fachtagung 7 Inhalt 9 PROGRAMM PROGRAMM VORTRÄGE 17 SIMULATION VON EMV-RELEVANTEN ASPEKTEN IN SCHALTNETZTEILEN Bostian BITENC, Linear Technology GmbH, Smaning, Deutschland 47 APPLICATION OF MODERN SPECTRUM ANALYZER FOR FULL-COMPLIANCE EMI MEASUREMENTS Peter MOSSHAMMER, Agilent Technologies, Santa Rosa, California, USA 67 INNOVATIVE EMV- UND HF-MESSSYSTEME Ulrich KONIETZKO, Rohde & Schwarz Österreich GmbH, Wien, Österreich DESIGNTIPPS FÜR SPEICHERDROSSELN Markus SCHUBERT, Würth Elektronik eisos GmbH & Co.KG, Waldenburg, Deutschland 103 IMMUNITY AND EMISSION NEAR FIELD MEASUREMENTS IN PRACTICE Jan ERIKSSON, Detectus AB, Malung, Sweden 109 NEW PHEV/EV EMC TEST REQUIREMENTS Uwe FLOR, EM Test GmbH, Kamen, Deutschland 119 ZERTIFIZIERUNG UND KONFORMITÄTSBEWERTUNG IN DER EMV Wolfgang MARTIN, Österreichischer Verband für Elektrotechnik, Österreich 133 GROUNDING DESIGN - GENERATION AND SUPPRESSION OF COMMON MODE NOISE Itaru MATSUDA, Kitagawa Industries Co., Ltd., Japan 135 SUMMARY OF THE CISPR STANDARDS WORK Martin WILES, ETS Lindgren Ltd., EMV GmbH, Taufkirchen, Deutschland 153 IBIS2SPICE UND SPICE2IBIS - DER ÜBERGANG VON IBIS ZU SPICE UND UMGEKEHRT Timm OSTERMANN, Johannes Kepler Universität Linz, Institut für Integrierte Schaltungen 185 IMPULSFÖRMIGE STÖRGRÖSSEN: AUSWAHL UND BESTIMMUNG DER ZERSTÖRGRENZE VON SCHUTZELEMENTEN Gunter WINKLER, Institut für Elektronik, Technische Universität Graz Bernd DEUTSCHMANN, Infineon Technologies, München, Deutschland 203 DER PROXIMITY-EFFEKT UND SEINE AUSWIRKUNGEN FÜR DAS EMV-GERECHTE GERÄTEDESIGN Kurt LAMEDSCHWANDNER, Stefan CECIL, Seibersdorf Labor GmbH, Seibersdorf, Österreich 229 WORKSHOPS 231 IMMUNITY TEST ON A WIRELESS EARPHONE Jan ERIKSSON, Detectus AB, Malung, Sweden 233 NFC APPLIKATIONEN FÜR AAL UND HEALTHCARE Manfred BAMMER, AIT Austrian Institute of Technology GmbH, Wien, Österreich Gernot SCHMID, Seibersdorf Labor GmbH, Seibersdorf, Österreich 257 EMV ZEITBEREICHSMESSUNGEN NACH ZIVILEN UND MILITÄRISCHEN NORMEN Stephan BRAUN, Gauss Instruments GmbH, München, Deutschland 275 EMVU-KONFORMITÄT, NORMEN, RICHTLINIEN, FUNKANWENDUNGEN - RELEVANTE ASPEKTE FÜR GERÄTEHERSTELLER/-BETREIBER Gernot SCHMID, Benjamin PETRIC, Seibersdorf Labor GmbH, Seibersdorf, Österreich 290 NOTIZEN

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8 10. EMV-Fachtagung 9 DAS TAGUNGS-PROGRAMM 1. Tag: MiTTwoch, 14. März :00-09:30 Uhr begrüssung 09:30-10:15 Uhr Simulation von EMV-relevanten Aspekten in Schaltnetzteilen DI Bostian BITENC, Linear Technology 10:15-11:30 Uhr Kaffee / ausstellungseröffnung 11:30-12:15 Uhr APPLICATION OF MODERN SPECTRUM ANALYZER FOR FULL-COMPLIANCE EMI MEASUREMENTS DI Peter MOSSHAMMER, Agilent Technologies 12:15-13:15 Uhr Mittag / ausstellung / laborführung 13:15-14:00 Uhr workshops block a Thema 1: Immunity Test on a wireless earphone Jan ERIKSSON, Detectus AB THEMA 2: NFC Applikationen für AAL und Healthcare DI Manfred BAMMER, AIT Austrian Institute of Technology; DI Stefan CECIL, DI Gernot SCHMID Seibersdorf Laboratories 14:00-14:45 Uhr workshops block B thema 3: EMV Zeitbereichsmessungen nach zivilen und militärischen Normen Dr. Stephan BRAUN, GAUSS Instruments GmbH thema 4: EMVU-Konformität, Normen, Richtlinien, Funkanwendungen - relevante Aspekte für Gerätehersteller/ -betreiber DI Gernot SCHMID, Ing. Benjamin PETRIC, Seibersdorf Laboratories 14:45-15:15 Uhr Kaffee / ausstellung / laborführung 15:15-16:00 Uhr Innovative EMV- und HF-Messsysteme Ulrich KONIETZKO, Rohde & Schwarz 16:00-16:45 Uhr 8 DESIGNTIPPS FÜR SPEICHERDROSSELN Markus SCHUBERT, Würth Elektronik 16:45-17:15 Uhr KAFFEE & Diskussion Abendveranstaltung (ab 18 Uhr) Programmänderungen, Satz- und Druckfehler vorbehalten!

9 10. EMV-Fachtagung 11 DAS TAGUNGS-PROGRAMM 2. Tag: donnerstag, 15. März :30-08:45 Uhr begrüssung 08:45-09:30 Uhr Immunity and Emission Near Field Measurements in Practice Jan ERIKSSON, Detectus AB 09:30-10:00 Uhr NEW PHEV/EV EMC TEST REQUIREMENTS DI Uwe FLOR, EM TEST GmbH 10:00-10:30 Uhr Kaffee / ausstellung 10:30-11:15 Uhr Zertifizierung und KonformitäTSBEWERTUNG in der EMV DI Wolfgang MARTIN, Österreichischer Verband für Elektrotechnik 11:15-12:00 Uhr Grounding Design - Generation and Suppression of Common mode Noise Itaru MATSUDA, Kitagawa Industries Co., Ltd. 12:00-13:00 Uhr Mittag / ausstellung / laborführung 13:00-13:30 Uhr Summary of the CISPR Standards Work Martin WILES M.Sc., ETS Lindgren Ltd. 13:30-14:15 Uhr IBIS2SPICE und SPICE2IBIS - der Übergang VON IBIS zu SPICE und umgekehrt Univ.-Prof. Dr. Timm OSTERMANN, Johannes Kepler Universität Linz, Institut für Integrierte Schaltungen 14:15-14:45 Uhr Kaffee / ausstellung / laborführung 14:45-15:30 Uhr Impulsförmige StörgröSSen: Auswahl und Bestimmung der Zerstörgrenze von Schutzelementen Dr. Gunter WINKLER, Technische Universität Graz, Institut für Elektronik; Dr. Bernd DEUTSCHMANN, Infineon Technologies 15:30-16:15 Uhr Der Proximity-Effekt und seine AuswiRkungen für das EMV-gerechte Geräte design Dr. Kurt LAMEDSCHWANDNER, DI Stefan CECIL, Seibersdorf Labor GmbH 16:15-17:15 Uhr Diskussion / Verabschiedung Programmänderungen, Satz- und Druckfehler vorbehalten!

10 Wir bedanken uns herzlich bei allen unseren Kooperationspartnern und Sponsoren für die freundliche Unterstützung! Kooperationspartner: ife institut für elektronik Sponsoren: Organisator: Seibersdorf Labor GmbH Veranstaltungsort: 2444 Seibersdorf, Österreich Veranstalter: Seibersdorf Labor GmbH, OVE-Akademie, IEEE EMC Society Austria Chapter, TU-Graz Kooperationspartner: Johannes Kepler Universität Linz, Infineon Technologies AG Sponsoren: X-Test GmbH, Linear Technologies, DEG Messtechnik GmbH, UEI, Kitagawa, Würth Elektronik, EMCO, Rohde & Schwarz, Willtron, EMV GmbH, EM-Test, Gauss Instruments

11 VORTRÄGE SIMULATION VON EMV-RELEVANTEN ASPEKTEN IN SCHALTNETZTEILEN Bostian BITENC, Linear Technology GmbH, Smaning, Deutschland APPLICATION OF MODERN SPECTRUM ANALYZER FOR FULL-COMPLIANCE EMI MEASUREMENTS Peter MOSSHAMMER, Agilent Technologies, Santa Rosa, California, USA INNOVATIVE EMV- UND HF-MESSSYSTEME Ulrich KONIETZKO, Rohde & Schwarz Österreich GmbH, Wien, Österreich 8 DESIGNTIPPS FÜR SPEICHERDROSSELN Markus SCHUBERT, Würth Elektronik eisos GmbH & Co.KG, Waldenburg, Deutschland IMMUNITY AND EMISSION NEAR FIELD MEASUREMENTS IN PRACTICE Jan ERIKSSON, Detectus AB, Malung, Sweden NEW PHEV/EV EMC TEST REQUIREMENTS Uwe FLOR, EM Test GmbH, Kamen, Deutschland ZERTIFIZIERUNG UND KONFORMITÄTSBEWERTUNG IN DER EMV Wolfgang MARTIN, Österreichischer Verband für Elektrotechnik, Österreich GROUNDING DESIGN - GENERATION AND SUPPRESSION OF COMMON MODE NOISE Itaru MATSUDA, Kitagawa Industries Co., Ltd., Japan SUMMARY OF THE CISPR STANDARDS WORK Martin WILES, ETS Lindgren Ltd., EMV GmbH, Taufkirchen, Deutschland IBIS2SPICE UND SPICE2IBIS - DER ÜBERGANG VON IBIS ZU SPICE UND UMGEKEHRT Timm OSTERMANN, Johannes Kepler Universität Linz, Institut für Integrierte Schaltungen IMPULSFÖRMIGE STÖRGRÖSSEN: AUSWAHL UND BESTIMMUNG DER ZERSTÖRGRENZE VON SCHUTZELEMENTEN Gunter WINKLER, Institut für Elektronik, Technische Universität Graz Bernd DEUTSCHMANN, Infineon Technologies, München, Deutschland DER PROXIMITY-EFFEKT UND SEINE AUSWIRKUNGEN FÜR DAS EMV-GERECHTE GERÄTEDESIGN Kurt LAMEDSCHWANDNER, Stefan CECIL, Seibersdorf Labor GmbH, Seibersdorf, Österreich