Certified Tester Advanced Level V von 14 Übungsfragen Technical Test Analyst

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1 ertified Tester dvanced Level V von 14 Übungsfragen Technical Test nalyst Frage 1. Welcher der folgenden Testfallentwürfe ist ein eispiel für die nwendung des Fehlerangriff- Testverfahren? usführen der erechnung mit 100 gültigen atensätzen. Messen der earbeitungszeit unter nominaler und unter maximaler Last. Um aussagekräftige Werte zu ermitteln, muss dieser Test 3 mal wiederholt werden. eta-test mit mindestens 24 representativen enutzern. abei muss jeder enutzer mindestens einmal die erechnung mit 100 gültigen atensätzen durchführen. usführen der erechnung mit 100 gültigen atensätzen. abei soll die etriebssystemfunktion "Öffnen einer atei" beim x-ten (konfigurierbar) ufruf keine ntwort mehr liefern (d.h. bleibt "hängen"). usführen der erechnung mit 100 gültigen atensätzen. Stichprobenartige Prüfung der Resultate. Es sollen mindestens 12 usgabedaten geprüft werden. Frage 2. E Welche zwei der folgenden ussagen bezüglich der uswahl und Einführung von Testwerkzeugen sind zutreffend? ei der uswahl von Testwerkzeugen sollte zur Risikominimierung immer ein externer ienstleister beigezogen werden. Zur uswahl der Testwerkzeuge wird eine Liste verfügbarer Werkzeuge der entsprechenden Kategorie erstellt. Eine gute Einführung von Testwerkzeugen führt in der Regel zu einer kurzfristigen Produktivitätssteigerung. Mit der Werkzeugeinführung entstehen lediglich Kosten für uswahl und nschaffung. ie Einführung von Testwerkzeugen ist häufig mit hohen Investitionskosten und Risiken verbunden und muss daher sorgfältig vorbereitet (uswahl) und durchgeführt (Pilotprojekt, Information, Schulung, etc.) werden. Fassung: ktuelles usgabedatum: Verfasser: ST File: TrainingQuestions-TL-V2007-TT-German-V01_03.docx Seite 1 von 14

2 ertified Tester dvanced Level V von 14 Übungsfragen Technical Test nalyst Frage 3. Ihnen wird der folgende Kontrollflussgraph vorgelegt: Welche der folgenden ussagen bezüglich der Zahl der mindestens benötigten Testfälle ist richtig? 100% nweisungsüberdeckung: 1 Testfall 100% Zweigüberdeckung: 2 Testfälle 100% nweisungsüberdeckung: 2 Testfälle 100% Entscheidungsüberdeckung: 2 Testfälle 100% nweisungsüberdeckung: 2 Testfälle 100% Zweigüberdeckung: 3 Testfälle 100% Entscheidungsüberdeckung : 3 Testfälle 100% Zweigüberdeckung: 2 Testfälle Frage 4. Reviews können zur Evaluation von lternativen eingesetzt werden. Welche der folgenden Reviewarten eignet sich zur Evaluation von technischen Lösungen am besten? Inspektion Technisches Review Walkthrough Informelles Review Fassung: ktuelles usgabedatum: Verfasser: ST File: TrainingQuestions-TL-V2007-TT-German-V01_03.docx Seite 2 von 14

3 ertified Tester dvanced Level V von 14 Übungsfragen Technical Test nalyst Frage 5. Es wird Ihnen das folgende Programm vorgelegt: begin a=3; b=2*a; c=b+100; if (b > 4) then if ((b > 8) OR (c > 120)) then... endif else... endif end Wie gross ist die zyklomatische Komplexität dieses Programmes? Fassung: ktuelles usgabedatum: Verfasser: ST File: TrainingQuestions-TL-V2007-TT-German-V01_03.docx Seite 3 von 14

4 ertified Tester dvanced Level V von 14 Übungsfragen Technical Test nalyst Frage 6. Während eines ode-reviews stossen Sie auf die folgende Funktion: int searchforsubstring(const char *buf, const char *substring) { int i=0; int j=0; bool done=false; int ret_val=-1; while(buf[i] &&!done){ if(buf[i]==substring[0]){ j=1; while(substring[j] &&!done){ if(buf[i+j]!= substring[j]){ done=true; j++; /* endif */ if(substring[j]==0){ done=true; i++; if(substring[j]==0){ ret_val=i+j; return (ret_val); Wie gross ist die maximale Verschachtelungstiefe dieser Funktion? Fassung: ktuelles usgabedatum: Verfasser: ST File: TrainingQuestions-TL-V2007-TT-German-V01_03.docx Seite 4 von 14

5 ertified Tester dvanced Level V von 14 Übungsfragen Technical Test nalyst Frage 7. Ihnen wird die folgende Methode vorgelegt: public boolean insert (omparable c) { Node parent = null; Node child = root; while (child!= null) { parent = child; int cmp = c.compareto (child.getelement()); if (cmp == 0) { return false; else { if (cmp < 0) { child = child.getleft (); else { child = child.getright (); if (parent == null) { root = new Node (c); else { if (c.compareto (parent.getelement ()) < 0) { parent.setleft (new Node (c)); else { parent.setright (new Node (c)); return true; (Gehen Sie davon aus, dass die while-schleife und die nachfolgenden if-bfragen unabhängig voneinander sind und entsprechend "passende" Testdaten gefunden werden können.) Wieviele Testfälle sind mindestens nötig, um 100% Entscheidungsüberdeckung zu erreichen? Es werden 2 Testfälle benötigt Es werden 3 Testfälle benötigt Es werden 4 Testfälle benötigt Es werden 5 Testfälle benötigt Fassung: ktuelles usgabedatum: Verfasser: ST File: TrainingQuestions-TL-V2007-TT-German-V01_03.docx Seite 5 von 14

6 ertified Tester dvanced Level V von 14 Übungsfragen Technical Test nalyst Frage 8. Sie sind verantwortlich für die Komponententestfälle einer neuen pplikation. abei stossen Sie auf die folgende efinition für eine noch zu entwickelnde Funktion: FUNTION heckiscount (FLOT mount, NTURL iscount): OOLEN; // Eingabeparameter: // -- mount: Wert der gekauften Ware // (0 < mount) // -- iscount: Gewünschter Rabatt // (0 <= iscount <= 100) // // Rückgabewert: // -- TRUE, falls Rabatt berechtigt ist, // -- FLSE in allen anderen Fällen. E Welche zwei der folgenden Testentwurfsverfahren sind zum Testen der Funktionalität dieses odes am besten geeignet? Paarweises Testen Äquivalenzklassentest / Äquivalenzbildung Zweigtest / Zweigüberdeckungstest Grenzwertanalyse edingungstest Frage 9. Welche der folgenden ussagen bezüglich der usgangskriterien (auch Testendekriterien genannt) und deren bhängigkeit ist richtig? 100% (einfache) edingungsüberdeckung impliziert 100% nweisungsüberdeckung. 100% Entscheidungsüberdeckung impliziert 100% minimal bestimmende Mehrfachbedingungsüberdeckung (auch definierte edingungsüberdeckung genannt). 100% Mehrfachbedingungsüberdeckung impliziert 100% nweisungsüberdeckung. 100% Pfadüberdeckung impliziert 100% Mehrfachbedingungsüberdeckung. Fassung: ktuelles usgabedatum: Verfasser: ST File: TrainingQuestions-TL-V2007-TT-German-V01_03.docx Seite 6 von 14

7 ertified Tester dvanced Level V von 14 Übungsfragen Technical Test nalyst Frage 10. Sie werden als Technical Test nalyst beigezogen, um ein Projekt, das mit Qualitätsschwierigkeiten kämpft, zu unterstützen. eim Studium des Testkonzepts entdecken Sie, dass auf der Komponententeststufe ausschliesslich strukturorientiertes Testen durchgeführt wird. Welche der folgenden ussagen beschreibt die damit verbundene Problematik am zutreffendsten? Testfälle die mittels strukturorientierten Testentwurfsverfahren entwickelt wurden sind, je nach zu testendem ode, meist sehr komplex. Testfälle die mittels strukturorientierten Testentwurfsverfahren entwickelt wurden benötigen spezielle Werkzeuge zur usführung. ies bedeutet zusätzlichen ufwand. Testfälle die mittels strukturorientierten Testentwurfsverfahren entwickelt wurden müssen bei jeder odeänderung angepasst werden. Testfälle die mittels strukturorientierten Testentwurfsverfahren entwickelt wurden, erlauben das Finden von funktionalem Fehlverhalten nicht. Fassung: ktuelles usgabedatum: Verfasser: ST File: TrainingQuestions-TL-V2007-TT-German-V01_03.docx Seite 7 von 14

8 ertified Tester dvanced Level V von 14 Übungsfragen Technical Test nalyst Frage 11. Gemäss der nforderungen einer pplikation müssen aten vor Verlust geschützt werden. Sichergestellt wird diese nforderung durch einen ackup- Prozess und eine Online-Spiegelung der atenbank. Zusätzlich werden die Transaktionen aufgezeichnet. Welcher der folgenden Testfallentwürfe ist der geeignetste für den Test dieser nforderung? urch eine logische ombe (simuliert für den Test) werden die aten korrupt, dann wird das ackup eingespielt und anschliessend die Transaktionen nachgefahren. Erwartet: atenbank intakt, kein atenverlust oder verlorene aten bekannt (z.. alle ufzeichnung der letzten 3 Stunden). urch eine logische ombe (simuliert für den Test) werden die aten korrupt, dann wird das ackup zurückgespielt. Erwartet: atenbank intakt, kein atenverlust, oder verlorene aten bekannt (z.. alle ufzeichnung der letzten 3 Stunden). urch eine logische ombe (simuliert für den Test) werden die aten korrupt, dann wird das ackup zurückgespielt und wenn notwendig mit der Spiegelung abgeglichen. Erwartet: atenbank intakt, kein atenverlust, oder verlorene aten bekannt (z.. alle ufzeichnung der letzten 3 Stunden.) urch eine logische ombe (simuliert für den Test) werden die aten korrupt, dann werden die aten der gespiegelten atenbank zurückgespielt. Erwartet: atenbank intakt, kein atenverlust, oder verlorene aten bekannt (z.. alle ufzeichnung der letzten 3 Stunden). Fassung: ktuelles usgabedatum: Verfasser: ST File: TrainingQuestions-TL-V2007-TT-German-V01_03.docx Seite 8 von 14

9 ertified Tester dvanced Level V von 14 Übungsfragen Technical Test nalyst Frage 12. Ihre Firma ist Lieferant eines Programmes für die ltersversicherung. er Kunde verlangt die urchführung eines Mehrfachbedingungstests (auch Mehrfachbedingungs- Überdeckungstest genannt). Während des odereview stossen Sie auf folgende Quellcodezeilen:... IF ((lter >= 65) OR ((lter = 64) N (Geschlecht = 'w')) ) THEN... ENIF... Wieviele Testfälle sind nötig, um 100% Mehrfachbedingungsüberdeckung zu erreichen? 2 Testfälle werden benötigt 4 Testfälle werden benötigt 6 Testfälle werden benötigt 8 Testfälle werden benötigt Frage 13. Welche der folgenden ussagen bezüglich dynamischer nalysewerkzeuge ist richtig? ynamische nalysewerkzeuge werden zur Überprüfung der geforderten Performanz der pplikation eingesetzt. ynamische nalysewerkzeuge können auch einen eitrag beim ebugging funktionaler Fehlerwirkungen leisten. Instrumentierung ist ein typisches eispiel der dynamischen nalyse. er Einsatz dynamischer nalysewerkzeuge hat nur dann einen Sinn, wenn nicht-funktionale nforderungen definiert sind. Fassung: ktuelles usgabedatum: Verfasser: ST File: TrainingQuestions-TL-V2007-TT-German-V01_03.docx Seite 9 von 14

10 ertified Tester dvanced Level V von 14 Übungsfragen Technical Test nalyst Frage 14. ei der Untersuchung der Softwarearchitektur wurde der nachfolgende ufrufgraph erstellt. Welche der folgenden ussagen enthält eine korrekte Schlussfolgerung bezüglich des gezeigten ufrufgraphen? Es handelt sich um einen kleinen ufrufgraphen einer pplikation. Solche ufrufgraphen können in der Praxis noch viel breiter, tiefer und umfangreicher sein. ufgrund der grossen Zahl von Knoten im ufrufgraphen kann keine Schlussfolgerung gezogen werden. er ufrufgraph ist zu gross, zu komplex und daher nicht testbar. Ein "Redesign" sollte in etracht gezogen werden. ie Tiefe und die reite des ufrufgraphen können als akzeptabel bezeichnet werden. Hingegen gibt es viele schichtübergreifende ufrufe, was entweder auf eine nicht ausgereifte rchitektur, oder aber auf viele nachträgliche Änderungen schliessen lässt. Fassung: ktuelles usgabedatum: Verfasser: ST File: TrainingQuestions-TL-V2007-TT-German-V01_03.docx Seite 10 von 14

11 ertified Tester dvanced Level V von 14 Übungsfragen Technical Test nalyst Frage 15. Welche zwei der folgenden Programmstücke enthalten eine atenflussanomalie? integer a, b, c; E a = 11; a = a + 1; c = 2 * a + b; b = a + c; integer a, b, c; a = 17; b = a + 1; c = 2 * a + b; b = a + c; integer a, b, c; a = 21; b = 8 + a; c = 2 * a + b * b; b = a + c; integer a, b, c; a = -124; b = a + 1; b = 2 * 4a; c = a + b; integer a, b, c; a = 73; b = a + 1; c = 2 * a + b; a = b + c; Fassung: ktuelles usgabedatum: Verfasser: ST File: TrainingQuestions-TL-V2007-TT-German-V01_03.docx Seite 11 von 14

12 ertified Tester dvanced Level V von 14 Übungsfragen Technical Test nalyst Frage 16. Sie sollen Ihrem Vorgesetzten die atenflussanalyse anhand des folgenden odebeispieles erläutern: EGIN Max (a: INTEGER, b: INTEGER) c: INTEGER IF (a > b) THEN c := a; ELSE c := b; EN IF EN RETURN (c) Welche der folgenden nworten enthält alle in diesem odebeispiel möglichen Zugriffssequenzen (Manipulationssequenzen) für die vorhandenen atenobjekte? Parameter a: drrdu und dru Parameter b: dru und drru Variable c: udru und udru Parameter a: drru und dru Parameter b: dru und drru Variable c: udru und udru Parameter a: drru und dru Parameter b: dru und drru Variable c: udu und udru Parameter a: drru und dru Parameter b: dru und ddrru Variable c: udru und udru Fassung: ktuelles usgabedatum: Verfasser: ST File: TrainingQuestions-TL-V2007-TT-German-V01_03.docx Seite 12 von 14

13 ertified Tester dvanced Level V von 14 Übungsfragen Technical Test nalyst Frage 17. Ein neues nalysegerät soll unter anderem den folgenden nicht-funktionalen nforderungen genügen: Eine nalyse darf nicht länger als 32ms dauern. Es müssen Serien von 24'000 nalysen ununterbrochen verarbeitet werden können. as Gerät soll auf drei Platformen angeboten werden. E F G Welche drei der folgenden Software Qualitätsmerkmale bzw. Teilmerkmale gemäss ISO 9126 sind für dieses neue Produkt von edeutung? Zuverlässigkeit Wiederherstellbarkeit Übertragbarkeit Wartbarkeit Interoperabilität enutzbarkeit Zeitverhalten Frage 18. Für den Test einer Funktion sind, je nach gefordertem Überdeckungsgrad, mehr oder weniger Testfälle nötig. E Welche zwei der folgenden ussagen bezüglich jeweils 100%iger Überdeckungen können zutreffen? Zur nweisungüberdeckung werden 14, zur Zweigüberdeckung 15 Testfälle benötigt. Zur minimal bestimmenden Mehrfachbedingungsüberdeckung (auch definierte edingungsüberdeckung) werden 12, zur nweisungsabdeckung 15 Testfälle benötigt. Zur Pfadabdeckung werden 19485, zur nweisungüberdeckung 443 und zur Zweigüberdeckung 442 Testfälle benötigt. Zur nweisungüberdeckung und zur Zweigüberdeckung werden 35 Testfälle benötigt. Zur Zweigüberdeckung werden 36, zur minimal bestimmenden Mehrfachbedingungsüberdeckung (auch definierte edingungsüberdeckung) 24 Testfälle benötigt. Fassung: ktuelles usgabedatum: Verfasser: ST File: TrainingQuestions-TL-V2007-TT-German-V01_03.docx Seite 13 von 14

14 ertified Tester dvanced Level V von 14 Übungsfragen Technical Test nalyst Frage 19. Welche der folgenden ussagen bezüglich fehlerbasierten Testentwurfsverfahren ist richtig? Fehlerbasierte Testentwurfsverfahren gelangen dann zu Einsatz, wenn Fehler nachgestestet werden sollen. Fehlerbasierte Testentwurfsverfahren basieren auf der Erfahrung mit einer bestehenden Version des Testobjektes. Fehlerbasierte Testentwurfsverfahren haben den Nachteil, dass dabei keine Testprotokolle erstellt werden. Fehlerbasierte Testentwurfsverfahren können auf einer hierarchischen Liste von Fehlerarten (Fehlertaxonomie) basieren. Frage 20. Während eines Projekts tritt eine grössere iskussion zum Thema Testautomatisierung auf. E Welche zwei der folgenden ussagen sind richtig? utomatisierung der Testdurchführung bringt während des Projekts manchmal keine Vorteile, da sich das Testobjekt noch mehrmals ändert. Testautomatisierung ist sehr teuer und lohnt sich daher nur bei grossen Systemen. Testautomatisierung erlaubt es, auf die systematische Testfallermittlung zu verzichten. Testautomatisierung ist grundsätzlich weniger aufwendig als manuelles Testen. Testautomatisierung kann unter Umständen durch den Testprozess bedingt werden (z.. zur Messung von Überdeckungsgraden). Fassung: ktuelles usgabedatum: Verfasser: ST File: TrainingQuestions-TL-V2007-TT-German-V01_03.docx Seite 14 von 14