Das Auflösungsvermögen optischer Mikroskope - wo liegt die Grenze?

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Transkript:

Titelheadlines sollten nicht zu lang sein, auf keinen Fall länger als diese zwei Zeilen Das Auflösungsvermögen optischer Mikroskope - wo liegt die Grenze? Abteilung Halbleiterspektroskopie Institut für Ionenstrahlphysik und Materialforschung 1

Gliederung Einführung in die optische Mikroskopie Abbe sches Prinzip und Rayleigh Kriterium Spezielle Mikroskoptypen - Konfokalmikroskop - Fluoreszenzmikroskop - STED-Mikroskop (Stimulated Emission Depletion) Nahfeldmikroskopie - Prinzip, Bauformen - Kombination IR-Nahfeldmikroskop und Freie- Elektronen-Laser 2

Einführung Bahnbrechnde Entdeckungen mit Hilfe opt. Mikroskope: z.b. Entdeckung der Zellen Robert Hooke, Micrographia, 1665 3

Einführung Brown sche Bewegung: 1827 von Robert Brown wiederentdeckt; Thermisch getriebene Eigenbewegung von Teilchen. (Bereits 1785 entdeckte Jan Ingenhousz die Bewegung von Holzkohlestaub auf Alkohol.) Grafik: Thomas Steiner Einstein 1905: Erklärung der Brown schen Bewegung mittels stistischer Mechanik. Molekularer Aufbau der Materie gezeigt. 4

Grundaufbau eines optischen Mikroskops Objekt Objektiv f 1 f 1 t f 2 Okular f 1 : Objektivbrennweite f 2 : Okularbrennweite t: Tubuslänge s 0 = 250 mm Vergrößerung: Γ M = t s 0 f 1 f 2 Was bestimmt die Auflösung? Wo liegt die Grenze? Wellennatur des Lichts 5

Abbe sche Theorie Objekt Objektiv Okular f 1 f 1 t f 2 6

Abbe sche Theorie (Jena, 1873) Objekt Beugungsbild Reales Zwischenbild f 1 f 1 t Wir betrachten das Objekt als Beugungsgitter, das mit parallelem Licht bestrahlt wird. Um das Bild rekostruieren zu können, muss neben der nullten mindestens die erste Beugungsordnung übertragen werden. Ernst Abbe 7

Beugung an kleiner Offnung mit Durchmesser d Medium mit Brechungsindex n d α l 1. Beugungsminimum: destruktive Interferenz von Zentrahlstrahl und Randstrahl, d.h. n l = λ/2 n d/2 sinα = λ/2 d = λ n sinα n sinα: numerische Apertur (Wert z.b. 0.95 für gute Objektive, damit d 0.5 µm) 8

Beugung genauer Berechnung der Intensitätsverteilung 0.3 I (wikllk. Einh.) 0.2 0.1 I(r ) = J1(r r 2 ) 0.0-2 -1 0 1 2 r/2π J 1 : Besselfunktion 1. Ord. 9

Rayleigh Kriterium für die Auflösung Zwei Punkte mit Abstand d werden getrennt, wenn das Maximum des einen in das erste Minimum des anderen fällt: d = d 0 d 0 = 0.61 λ n sinα Hohes Auflösung: - λ - n Immersionsobjektiv I (willk. Einheiten) 1.0 0.5 0.0 d = 0.8 d 0 d = 1.0 d 0 d = 1.2 d 0-1 0 1 r/2π 10

Variation der Wellenlänge Gitter unterschiedlicher Linienstärke (in µm) unter rotem und blauem Licht Bilder: Oliver Kurmis, Uni Jena 11

Immersionsmikroskopie Eine numerische Apertur größer 1 ist mit Hilfe von Immersionsöl (n 1.5) möglich: Objektivlinse Immersionsöl Deckglas Objektträger 12

Konfokalmikroskop Ziel: Bild nur aus Fokusebene 13

Fluoreszenzmikroskop Energieschema Fluoreszenz Anregung z.b. UV Emission z.b. VIS Endothelzellen unter dem Fluoreszenzmikroskop. Die Mikrotubuli sind grün, Aktinfilamente rot und die DNA blau markiert. 14

Fluoreszenzmikroskop Fluoreszenz mit Zwei-Photon-Anregung Anregung Emission z.b. VIS Lichtquelle: Femtosekunden- Laser Endothelzellen unter dem Fluoreszenzmikroskop. Die Mikrotubuli sind grün, Aktinfilamente rot und die DNA blau markiert. 15

STED (Stimulated Emission Depletion) Mikroskop STED-Mikroskop: ein hochauflösendes Fluoreszenzmikroskop Anregung (Beuegungsbegrenzter Fleck) Emission z.b. VIS Abregung (Doughnut-Mode) 16

STED (Stimulated Emission Depletion) Mikroskop STED-Mikroskop: ein hochauflösendes Fluoreszenzmikroskop Emission z.b. VIS Abregung (Doughnut-Mode) Fluoreszenz Auflösung: 20 nm demonstriert, 10 mal kleiner als Abbe-Limit Aufnahmen von Molekülen möglich Zukunftspreis 2006 für Prof. Dr. Stefan W. Hell vom MPI für Biophysikalische Chemie, Göttingen 17

Optische Nahfeldmikroskopie SNOM: scanning near field optical microscope Typisch: eine metallbeschichtete Faser mit kleiner Öffnung rastert die Probe ab. Prinzip: Evaneszente Welle dringt durch kleine Öffnung Analogie: Tunneleffekt Typische Größen: Abstand Spitze-Probe ~ 10 nm Aperturdurchmesser ~ 100 nm, Transmission ~ 0,001 18

Besispiel: Aperture-SNOM, λ = 1064 nm, Probe: 20 nm Au auf Si Bilder: Dr. Hans U. Danzebrink, PTB Braunschweig 19

Es geht auch ohne Apertur: s-snom (scattering SNOM) Laser Cantilever Detektor φ = 3... 100 nm Probe Prinzip: Die in der Rasterkraftmikroskop-Spitze induzierte Schwingung polarisiert die Probe; Intensität des rückgestreuten Lichts hängt von optischen Konstanten der Probe ab 20

s-snom am Freie-Elektronen-Laser des FZD FELBE = FEL @ ELBE (Freie-Elektronen-Laser am FZD) Wellenlängenbereich: 4 150 µm; Leistung: einige W A,Ω 70 E Det. h k Strahlteiler BaTiO 3 Probe (ε^ s ) FEL 21

s-snom am Freie-Elektronen-Laser des FZD c a BaTiO 3 λ 16.5 µm Nahe der Resonanz der Gitterschwingung 15.9µm Scan range: (7µm) 2 22

s-snom am Freie-Elektronen-Laser des FZD c a BaTiO 3 15.9µm 16.6µm 23

s-snom am Freie-Elektronen-Laser des FZD c a BaTiO 3 15.9µm 16.8µm 24

s-snom am Freie-Elektronen-Laser des FZD c a BaTiO 3 15.9µm 17.4µm Auflösung: ~250 nm < 0.015 λ 25

Zusammenfassung Verständnis für Rolle der Beugung für Auflösungsvermögen (Abbe sches Prinzip und Rayleigh Kriterium); Wert ca. 200 nm Abbildungen jenseits dieser Grenze mit Hilfe eines speziellen Flureszenzmikroskops: STED-Mikroskop Nahfeldmikroskopie kann Strukturen deutlich kleiner als die Wellenlänge auflösen 26

Danksagung D. Stehr, A. Dreyhaupt, U. Lucchesi, H. Schneider, M. Helm, P. Michel und ELBE-Team FZD S. Schneider, M. Cebula, J. Renger, J. Seidel, S. Grafström, L.M. Eng TU-Dresden, www.iapp.de 27

Anhang Versuchsvorschlag: ein Blick auf eine CD Betrachten Sie eine CD und DVD mit einem guten Mikroskop. Beleuchten Sie beide mit einem Laser und beobachten Sie die Interferenzfigur in Reflexion, bestimmen Sie daraus den Spurabstand! (1,6 µm für CD, 0,74 µm für DVD) Bild: Uta Lucchesi,, FZD 28

Anhang: Blick in ein Achromat-Objektiv Bilder: Gert Wrigge & Ilja Gerhardt 29

Anhang: Beispiel für ein kommerzielles Aperture- SNOM Kooperation von JPK Instruments AG, Berlin und Fraunhofer Gesellschaft e.v. Institut für Physikalische Messtechnik (IPM), Freiburg 30