EINLADUNG TECHNOLOGIE- UND ANWENDERKONGRESS ACADEMIC FORUM Oktober 2015 Fürstenfeldbruck bei München

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1 EINLADUNG TECHNOLOGIE- UND ANWENDERKONGRESS ACADEMIC FORUM Oktober 2015 Fürstenfeldbruck bei München

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3 Inhalt 3 Was Sie auf dem VIP 2015 erwartet MITTWOCH 21. Oktober :30 11:00 Begrüßung: Michael Dams, Director Sales Central and Eastern Europe, Keynote: Rahman Jamal, Global Technology & Marketing Director, 11:30 18:00 LabVIEW Power Programming Test & Measurement Verification & Validation Embedded Control & Monitoring Daten management Semiconductor Test Workshops ab 18:00 Get-together mit anschließender Jubiläumsparty DONNERSTAG 22. Oktober :00 10:00 Keynote: Eric Starkloff, Executive Vice President, Global Sales and Marketing, Volker Bibelhausen, Vice President Factory Automation, Bosch Rexroth AG 10:30 17:00 LabVIEW Power Programming Test & Measurement Verification & Validation Embedded Control & Monitoring Business Trends Workshops 17:00 Ende Tag 2 FREITAG 23. Oktober :00 10:30 Keynote: Dave Wilson, Academic Marketing Director, 11:00 17:00 Praxisorientierte Lehre Forschung und Laborversuche Workshops 17:00 Ende des Academic Forums INHALT 04 KEYNOTES VORTRAGSREIHEN 10 WORKSHOPS 11 AUSSTELLUNG ACADEMIC FORUM 14 SPECIALS 15 ANMELDUNG SERVICES

4 4 Keynotes Keynotes BEGRÜSSUNG: MICHAEL DAMS Director Sales Central and Eastern Europe, MITTWOCH Rahman Jamal Global Technology & Marketing Director DONNERSTAG Eric Starkloff Executive Vice President, Global Sales and Marketing DONNERSTAG Volker Bibelhausen Vice President Factory Automation Bosch Rexroth AG FREITAG Dave Wilson Academic Marketing Director You and NI heute und in Zukunft gemeinsam das Internet der Dinge gestalten Neue Technologien, Megatrends und den plattformbasierte Ansatz des Graphical System Designs präsentieren wir Ihnen zum Beginn des VIP-Kongresses im Minutentakt. Das IoT (Internet of Things) im kommerziellen (CIoT) und im industriellen (IIoT) Umfeld, die nächste Generation der Mobilfunkkommunikation (5G) und Big Analog Data bilden dabei einige der Schwerpunkte. Demonstrationen anhand erfolgreicher Kundenlösungen, neue Produkte, Systeme und Technologien, die das leistungsstarke NI-Portfolio erweitern, werden hier im praktischen Einsatz gezeigt. Branchenexperten erläutern die Chancen und Herausforderungen, die diese Megatrends in den wichtigsten Anwendungsbereichen von Mess-, Prüfund Embedded-Systemen heute und künftig mit sich bringen werden. Vernetzung, Digitalisierung, Industrie 4.0 die Welt ändert sich. Viele Unternehmen haben die Schalter umgelegt und bereiten sich auf die Zukunft der Produktion vor. Dabei gibt es zwei Blickrichtungen: Die ersten Anwender sammeln konkrete Erfahrungen in Pilotprojekten. Die Automationshersteller wiederum brüten über Lösungen und Produkte für vernetzte und selbststeuerende Wertschöpfungs ketten. Bosch ist in beiden Feldern aktiv. Ob und wie der Wandel gelingt, wird wesentlich von der Lernfähigkeit der Menschen abhängen, denn sie müssen voneinander und wichtiger noch miteinander lernen. Wie neues Wissen entsteht, in Zukunft Nutzen bringt und zudem verfügbar gemacht werden kann, skizziert dieser Vortrag. DONNERSTAG 9:00 10:00 Uhr Die Zukunft gestalten Anknüpfend an den Vortrag von Volker Bibelhausen geht es am Freitag um einen wesentlichen Bestandteil des Internet der Dinge: die Menschen hinter den Technologien. Viele dieser Technologien werden maßgeblich von heutigen Studenten entwickelt und angewendet. Diese Keynote beschäftigt sich deshalb mit dem Thema Ausbildung und Lehre in Zeiten des IoT und mit dem Übergang zur Forschung an aktuellen und zukünftigen Trends mithilfe des Graphical System Designs. FREITAG 9:00 10:30 Uhr MITTWOCH 9:30 11:00 Uhr

5 Vortragsreihen 5 LabVIEW Power Programming Die Vortragsreihe zum LabVIEW Power Programming zeigt dieses Jahr, wie vielseitig die Entwicklungsumgebung ist. Erfahrene Anwender und NI-Experten stellen Ihnen in verschiedenen Vorträgen Programmiertechniken, Features und Lösungen vor. Angefangen bei allgemeinen Tipps und Tricks zu LabVIEW über 3D-Darstellungsmethoden und Visualisierung im Web bis hin zu stark abstrahierenden Architekturen wie OOP und dem Akteur-Framework zeigen wir Ihnen eine große Bandbreite der Möglichkeiten in Lab- VIEW. Dies wird untermauert durch praktische Lösungen aus verschiedenen Anwendungsbereichen. Nutzen Sie auch unsere etablierte Meet the LabVIEW Expert -Session, um unseren LabVIEW-Experten Ihre Fragen zu stellen, aktuelle Herausforderungen zu diskutieren oder sich über Neuerungen auszutauschen. MITTWOCH 11:30 18:00 Uhr 11:30 12:15 Effizient entwickeln mit LabVIEW Tipps & Tricks 12:15 13:00 3D-Darstellung von Magnetfeldvektoren mit dem LabVIEW 3D-Bild Tobias Starz, Hartmann-exact KG 13:00 14:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 14:30 15:15 Erweitern sie Ihre Kenntnisse um die LabVIEW RIO Architektur 15:15 16:00 Projektphasenübergreifender Einsatz von NI Requirements Gateway Tobias Hamberger, MircoNova AG 16:00 16:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung 16:30 17:15 LabVIEW Framework als Prüfstandsplattform Lukas Suttner, ista international GmbH MITTWOCH Meet the Experts 17:15 18:00 Meet the LabVIEW Experts and Friends DONNERSTAG 10:30 17:00 Uhr 10:30 11:15 Speed up your programming Quick Drop Phillipp Hohl, ifm syntron GmbH Lorenz Casper, 11:15 12:00 POLARIS Vision: Ein Beispiel für die Erstellung flexibler, wiederverwendbarer Bibliotheken durch Einsatz von LVOOP, XControl und Variantdatentyp Alexander Kessler, Friedrich-Schiller-Universität Jena 12:00 13:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 13:30 14:15 LabVIEW und GOOP: Eine Alternative zu herkömmlichen objektorientierten Programmiersprachen schaffen Christian Geistberger, Linz Center of Mechatronics GmbH 14:15 15:00 Actor Framework Usage of abstract messages Oliver Wachno, Bürkert Fluid Control Systems 15:30 16:15 Web Applikationen auf Basis von LabVIEW erstellen 16:15 17:00 Erste Schritte bei der Erstellung von Embedded Systemen mit LabVIEW

6 6 Vortragsreihen Test & Measurement In einer Welt, in der eine Technologie bereits von der nächsten überholt wird, bevor die erste überhaupt den Markt erschöpft hat, müssen Prüfstände und Tests bereits in der Entwicklungsphase und vor Erstellung der ersten Prototypen eingesetzt werden, um den gesamten Prozess zu optimieren. Hohe Flexibilität, Skalierbarkeit und Leistungsfähigkeit eines Systems sind die beste Voraussetzung, um schneller, kostensparender und erfolgreich ans Ziel zu gelangen. In Anwender- und Technologievorträgen aus Forschung und Industrie wird gezeigt, wie einfach sich Mess- und Automatisierungs- sowie RF-Systeme den wechselnden Anforderungen anpassen lassen. Der zweite Tag ist dem Schwerpunkt RF & Wireless gewidmet und steht unter dem Motto Test Todays s Standards. Design Tomorrow s. MITTWOCH 11:30 18:00 Uhr 11:30 12:15 Hochflexibler Antriebsprüfstand einer Erntemaschine mit PXI Real-Time und TestMaster Dr. Gerd Schmitz, S.E.A. Datentechnik GmbH Clemens Hortmann, CLAAS Selbstfahrende Erntemaschinen GmbH 12:15 13:00 Produktiver entwickeln mit softwaredesignten Messgeräten 13:00 14:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 14:30 15:15 Best Practices für verteilte Systeme zur Datenerfassung 15:15 16:00 Vereinfachte Integration piezoelektrischer Sensoren in NI CompactRIO Beispiele aus der Praxis Martin Stierli, Kistler Instrumente AG Sascha Kamps, WZL RWTH Aachen 16:00 16:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung 16:30 17:15 Einsatz von NI TestStand als standardisiertes Testwerkzeug drei Beispiele für angepasste UIs, Prozessmodelle und Schritttypen 17:15 18:00 LabVIEW Meets FDA Softwareentwicklung zum Test medizintechnischer Geräte Laurent Chatard, Domenico Labella Konrad Technologies GmbH DONNERSTAG 10:30 17:00 Uhr 10:30 11:15 Effizientes Testen von Wireless-Standards (Cellular, WLAN, BT, GNSS) für Automotive und mobile Geräte Dr. Tim Hentschel, Manuel Bogedain, NOFFZ Technologies 11:15 12:00 Paralleltest von LTE-NAD-Modulen mit NI Wireless Test System Markus Solbach, NOFFZ Technologies Enrique Gutierrez, peiker acustic GmbH & Co. KG 12:00 13:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 13:30 14:15 LabVIEW Communications: Die Revolution im Rapid Prototyping 14:15 15:00 Modul zur Unterdrückung von Störsignalen für globale Navigationssysteme mit NI SDRs Thomas Kraus, Stefan Sailer, Universität der Bundeswehr München 15:30 16:15 Kombinierte Analyse und breitbandige Aufzeichnung von komplexen ELINT-Signalen Jens Keute, Elettronica GmbH 16:15 17:00 EOL-RF- und Display-Test an Car-Sharing- Modulen Herbert Berger, Periscope GmbH Manuel Bogedain, NOFFZ Technologies

7 Vortragsreihen 7 Verification & Validation In Zeiten des Internet of Things stellt die stetig wachsende Komplexität und Leistungsfähigkeit von Systemen auch immer höhere Anforderungen an Testsysteme, Anwendungsentwicklung und Werkzeuge, die zur Validierung & Verifizierung eingesetzt werden. In der Konsequenz verzögern sich Projekte oder sehen sich sogar dem Scheitern gegenüber. Diese Vortragsreihe bietet den Teilnehmern Praxisvorträge rund um das Thema Validierung & Verifizierung von Systemen von der Anforderungsdefinition über XIL-Tests in der Anwendung bis hin zur vollständig konfigurierbaren, automatisierten Testumgebung. Dabei werden sowohl Werkzeuge und Vorgehensweisen zur Bewältigung der gestiegenen Anforderungen als auch konkrete Lösungen von Kunden und Partnern vorgestellt. MITTWOCH 11:30 18:00 Uhr 11:30 12:15 Automating Embedded Software Testing With TestStand, VeriStand, and DIAdem 12:15 13:00 Optimierte Testabdeckung bei zeitlich limitierten Regressionstests mit TestStand Thomas Schmidhuber, MTU Friedrichshafen GmbH 13:00 14:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 14:30 15:15 NI TestStand und ASAM-XIL in der Praxis Jürgen Dodek, MTU Friedrichshafen GmbH Philip Deppe, 15:15 16:00 Implementierung eines CANopen Slave Custom Device für VeriStand zur Simulation / Integrationstest von Schienenfahrzeugen Andreas Rzezacz, Voith Engineering Services GmbH Road & Rail 16:00 16:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung 16:30 17:15 Vollständige Automatisierung eines hochdynamischen Lenkungsprüfstands für realitätsnahe Prüfungen Marc Scherer, ITK Engineering AG 17:15 18:00 PowerTrain-Lösungen im automatisierten Laboreinsatz Peter Deckelmann, Armin Huber, Berghof Automation GmbH DONNERSTAG 10:30 17:00 Uhr 10:30 11:15 Validierung von IGBT- und IGCT- Leistungsmodulen mit einem FPGA-basierten LabVIEW-System Daniel Huang, Siemens AG 11:15 12:00 Skalierbare Hardware-in-the-Loop-Prüfstande für Energiemanagementsysteme Andreas Ebentheuer, Julian Taube, TU München Philip Deppe, 12:00 13:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 13:30 14:15 Werkzeugqualifikation für TestStand nach ISO Frank Heidemann, SET GmbH 14:15 15:00 Verification & Validation von A bis Z 15:30 16:15 Modular und automatisiert: praxisnahe Lösungen beim Testen nach der LV124 Ronald Kaempf, WKS Informatik GmbH 16:15 17:00 Closed Loop Control and Real-Time Simulation with VeriStand

8 8 Vortragsreihen Embedded Control & Monitoring Der rasche Fortschritt des Internet of Things und der zunehmende Druck, mit weniger Budget immer mehr zu erreichen, lassen neue Technologien heute schneller als jemals zuvor aus dem Boden wachsen. Darüber hinaus haben auch Kosten und Risiken bei der Erstellung qualitativ hochwertiger Embedded-Systeme zugenommen und viele Unternehmen gelangen an den Rand ihrer Kapazitäten. In der Vortragsreihe Embedded Control & Monitoring wird anhand von Anwendervorträgen und anschaulichen Beispielen aus der Industrie erläutert, wie Sie in Ihrem Unternehmen aktuelle Herausforderungen meistern. MITTWOCH 11:30 18:00 Uhr 11:30 12:15 FlexRIO in Embedded-Applikationen 12:15 13:00 Wählen Sie die richtige Software-Architektur für Ihre Embedded-Applikation 13:00 14:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 14:30 15:15 FLIP ein innovatives Messgerät auf Basis von NI CompactRIO zur Charakterisierung der Leberfunktion mittels Atemgasanalyse Axel Luchterhand, Alexander Helmke, Humedics GmbH 15:15 16:00 Integration des NI SOM zur flexiblen Datenerfassung, -aufbereitung und Gerätesteuerung in der Medizintechnik Thomas Derfuß, LEA Medizintechnik GmbH 16:00 16:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung 16:30 17:15 Software Monetization die Technologie zum Schutz des intellektuellen Eigentums Aurelius Wosylus, Alexander Diepold, Gemalto GmbH 17:15 18:00 Getting the Most Out of Your NI Linux Real-Time Target DONNERSTAG 10:30 17:00 Uhr 10:30 11:15 Bildverarbeitung zur Bewertung und Steuerung nachgelagerter Prozesse Denise Zimmermann, Domenic Foerderer, ProNES Automation GmbH 11:15 12:00 Industrie 4.0 in der Praxis Offene Automation mit LabVIEW und Open Core Engineering Andreas Winter, Bosch Rexroth AG Christian Fritz, 12:00 13:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 13:30 14:15 Design von Serienprodukten mit Embedded- Hardware Marco Schmid, Schmid Elektronik AG Manuel Hofmann, 14:15 15:00 Entwicklung einer Biosensor-Plattform auf Basis des NI SOM Dr. Ralf Zeitler, VENNEOS GmbH 15:30 16:15 Condition Monitoring von Turbinen und Generatoren in Wasserkraftwerken auf Basis von NI-Hardware und LabVIEW Andreas Rzezacz, Holger Hochtritt, Voith Engineering Services GmbH Road & Rail 16:15 17:00 Anlagenstillstand verkürzen durch Online Condition Monitoring mit InsightCM

9 Vortragsreihen 9 Datenmanagement Business Trends DATENMANAGEMENT Im Zeitalter von Big Analog Data arbeiten wir mit einer stetig steigenden Relevanz von Daten, angefangen bei der Messung über die Verwaltung bis hin zur Auswertung. In der Vortragsreihe Datenmanagement beschäftigen wir uns mit dieser Thematik, vor allem mit aktuellen Trends und technologischen Neuerungen. Anhand von praktischen Vorträgen aus der Industrie wird gezeigt, wie Lösungen aussehen können. BUSINESS TRENDS Die Vision einer intelligenteren Welt, in der Systeme mit Sensoren und lokaler Intelligenz zum Austausch von Informationen untereinander und mit Anwendern vernetzt sind, ist zum Greifen nah. Diese Vorstellung hat etliche Bezeichnungen erhalten, am bekanntesten sind sicherlich das Internet of Things (IoT), das Industrial Internet of Things (IIoT) oder auch Industrie 4.0. Parallel dazu entwickelt sich aktuell ein weiterer Trend die Maker-Bewegung. Maker auf der ganzen Welt inspirieren sich gegenseitig bei der Erstellung von smarten Geräten, Roboterspielereien, autonomen Drohnen und Wearables. Diese Innovationen sind nicht länger das Monopol millionenschwerer Unternehmen. Die Vortragsreihe Business Trends lädt zu diesen und anderen Themen ein und regt die Diskussion rund um den Beginn einer weiteren industriellen Revolution an. MITTWOCH 11:30 18:00 Uhr 11:30 12:15 Big Analog Data große Anforderungen smart gelöst 12:15 13:00 DIAdem und DFSE Highlights der aktuellen Versionen 13:00 14:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 14:30 15:15 Bridging The Edge Unternehmensweite Daten- und Prozessintegration mit Hypertest, DataFinder und DIAdem Carsten Stein, Werum Software & Systems AG Stefan Romainczyk, 15:15 16:00 Labordatenmanagement mit DIAdem Uwe Hein, Miele & Cie. KG Karl Finkl, a-solution GmbH 16:00 16:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung 16:30 17:15 Statistische Auswertung von End-of-Line-Tests Dr. Michael Röbel, Deutz AG Martin Winkler, measx GmbH & Co. KG 17:15 18:00 Vorsprung durch Wissen Wertschöpfung durch Metainformationen in der Produktionstechnik Sven Goetz, Sascha Kamps, WZL RWTH Aachen DONNERSTAG 10:30 17:00 Uhr 10:30 11:15 IIoT in Practice: The Power of Connected Measurements From Insight into the Past to Vision of the Future Jaakko Ala-Paavola, CTO, Espotel 11:15 12:00 Industrie 4.0 vs. Industrial Internet Consortium Rahman Jamal, Global Technology & Marketing Director, 12:00 13:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 13:30 14:15 Technik richtig kommunizieren Öffentlichkeitsarbeit als Erfolgsfaktor Günter Pröpster, Geschäftsführer, Gulf One GmbH 14:15 15:00 Prozessorientierte Konzerne treffen auf innovationsfreudige Gründer: Warum BMW und MakerSpace kooperieren Phill Handy, Geschäftsführer UnternehmerTUM MakerSpace GmbH Stephan Augustin, Forschung, Neue Technologien, Innovationen, BMW AG 15:30 16:15 The World Is Ours to Make: The Impact of the Maker Movement Dave Wilson, Director Academic Marketing, 16:15 17:00 Vom Maker zum erfolgreichen Start-Up Das NI Technology Access Program Dr. Ralf Zeitler, VENNEOS GmbH Abdülkerim Dagli, Field Sales Engineer,

10 10 Vortragsreihen Semiconductor Test Workshops SEMICONDUCTOR Wenn jedes Gerät im kommerziellen und industriellen Bereich mit mehr RFICs und MEMSs ausgestattet wird, steigen die Möglichkeiten auf Verbesserungen in unserem Alltag sowie unserer Arbeitswelt ins Unendliche. Das Hinzufügen von weiteren Sensor- und RF-Tests zu bestehenden Prüfsystemen ist meist kostspielig und sehr zeitaufwendig. Das Produktkonzept kann dadurch buchstäblich wirtschaftlich nicht mehr rentabel sein. Automatisierte Testsysteme im Halbleitersektor sollen daher kosteneffizient und flexibel sein. Bei neuen Testanforderungen müssen getätigte Investitionen und eine optimale Testabdeckung gewahrt werden am besten mit einer Messplattform, die vom Labor über die Charakterisierung bis in die Halbleiterproduktion eingesetzt wird. WORKSHOPS* Nutzen Sie unsere eineinhalbstündigen Workshops, um unterschiedliche Lösungsansätze mit Hard- und Softwareprodukten von kennenzulernen. Dank der ausgearbeiteten Übungen, die Sie eigenständig mit NI-Hardware durchführen, und der Unterstützung durch unsere NI-Ingenieure setzen Sie in kürzester Zeit die vermittelten Inhalte praktisch um. Diese Vortragsreihe zeigt in Anwender- und Technologievorträgen, welche Möglichkeiten existieren und welche Projekte bereits erfolgreich umgesetzt wurden. MITTWOCH 11:30 18:00 Uhr 11:30 12:15 NI s Vision vom Halbleitertest 12:15 13:00 Requirements Driven Verification Procedures using NI Semiconductor Test System Thomas Santer, Benjamin Maier, Infineon 13:00 14:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 14:30 15:15 NI PXI system-based validation, characterization and debug of integrated circuits made in advanced semiconductor technologies Dr. Michael Otto, GLOBALFOUNDRIES 15:15 16:00 Automatisierte Produktcharakterisierung von magnetoresistiven Drehzahlsensoren Lennon Schlottke, NXP Semiconductors Germany GmbH Martin Müller, A.M.S. Software GmbH 16:00 16:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung 16:30 17:15 Qualifikation von Leistungshalbleitern in Bereichen von 2000 V und 1000 A Frank Heidemann, SET GmbH Bernhard Rennhofer, 17:15 18:00 Fertigungsendtest für MEMS-Mikrofone Sebastian Walser, Hochschule München / EPCOS AG MITTWOCH 11:30 18:00 Uhr 11:30 13:00 Erste Schritte mit PXI- Systemen LabVIEW-Quellcodeverwaltung praktisch umsetzen 13:00 14:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 14:30 16:00 Automatisierte Testsysteme auf Basis von PXI erstellen 16:00 16:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung 16:30 18:00 Erste Schritte mit NI TestStand DONNERSTAG 10:30 17:00 Uhr 10:30 12:00 Einstieg in die industrielle Bildverarbeitung Ein neuer Designansatz für SDR Interaktives Datenmanagement, Analyse und Berichterstellung mit NI DIAdem Implementierung von Echzeittest- Applikationen mit NI VeriStand 12:00 13:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 13:30 15:00 Erste Schritte mit der RIO-Architektur Interaktives Datenmanagement, Analyse und Berichterstellung mit NI DIAdem 15:30 17:00 Einstieg in die FPGA- Programmierung Erste Schritte mit Daten erfassungssystemen von NI * Die Plätze für die Workshops sind begrenzt. Für die Teilnahme ist eine separate Anmeldung erforderlich.

11 Ausstellung 11 Ausstellung Knüpfen Sie wichtige Kontakte Im Rahmen des VIP 2015 präsentieren rund 40 Alliance Partner, Produktpartner und Systemintegratoren ihre ak tuells ten Anwendungen, Lösungen und Produkte. DIAMOND AUSSTELLER Informieren Sie sich auf der großzügigen Ausstellungsfläche über die neuesten Entwicklungen und tauschen Sie sich mit den Ausstellern über deren Serviceangebote und Lösungsstrategien aus. Von der Erstellung eines einzelnen Produkts über ganze Systeme und deren Integration bis hin zu Beratung und Training VIP-Aussteller verfügen über die optimale Kombination von technischer Ausstattung und Knowhow, um auch anspruchsvolle ingenieurtechnische Herausforderungen zu lösen. Unter anderem zeigen wir Ihnen Lösungen und Anwendungsbeispiele aus den Bereichen Hardware-in-the-Loop sowie Maschinenzustandsüberwachung und -steuerung. MITTWOCH 9:00 19:00 Uhr DONNERSTAG 9:00 17:00 Uhr AUSSTELLERLISTE 6TL Engineering A.M.S. Software GmbH a-solution GmbH AED Engineering GmbH AMC Analytik & Messtechnik GmbH Chemnitz AMETEK GmbH SOLATRON METROLOGY ATX Hardware GmbH West Beck-Messtechnik beltronic Industrie PC AG Berghof Automationstechnik GmbH Bosch Rexroth AG CGS Computer Gesteuerte Systeme GmbH COMSOFT GmbH DigiMetrix GmbH esz AG calibration & metrology Göpel electronic GmbH ingun Prüfmittelbau GmbH IRS Systementwicklung GmbH ITK Engineering AG Kistler Instrumente GmbH Konrad GmbH Linz Center of Mechatronics GmbH MAC Panel Company measx GmbH & Co. KG MicroNova AG Noffz Technologies ProNES Automation GmbH S. E. A. Datentechnik GmbH Schmid Elektronik AG SET GmbH Sohatex GmbH SOMA GmbH SYSTEC GmbH The Peak Group VDE Verlag GmbH Virginia Panel Corporation Virinco AS Werum Software & Systems AG WKS Informatik GmbH XOn Software GmbH Stand: Juni 2015

12 12 Academic Forum Die Zukunft gestalten KEYNOTE 9:00 10:30 Uhr VORTRAGSREIHEN 11:0 0 17:00 Uhr AUSSTELLUNG 9:00 17:00 Uhr Der dritte Tag des VIP-Kongresses ist erneut ein Tag speziell für Teilnehmer aus dem Bereich Lehre, Ausbildung und Forschung. Als Academic Forum integriert der ehemalige Dozenten- und Ausbildertag nun auch verstärkt den Forschungsbereich. Damit wird der Bogen von der praxisorientierten Lehre über studentische Projekte bis hin zur universitären Forschung gespannt. Wie gewohnt bietet das Academic Forum den Teilnehmern weiterhin eine optimale Plattform, um neue Trends, Technologien und Lehrinhalte zu diskutieren und sich mit Kollegen und Experten auszutauschen. An diesem Tag treffen innovative Produkte auf zukunftsweisende Lehrkonzepte. Werfen Sie einen Blick auf die Themen: PRAXISORIENTIERTE LEHRE Verpassen Sie nicht, wie theoretische Themen beispielsweise die Kennlinienaufzeichnung von elektronischen Bauteilen oder Grundlagen der Regelungstechnik anschaulich, praktisch und spannend präsentiert werden. Ziel dieser Vortragsreihe ist es, Ihnen eine Vielzahl von didaktischen Konzepten, Projektideen und deren Umsetzung sowie Lehrplankonzepte von Lehrenden vorzustellen. Nutzen Sie die Chance zur Inspiration und zum Gedankenaustausch mit und unter Kollegen. WORKSHOPS Lernen Sie in unseren Workshops erste Schritte im Umgang mit NI-Produkten und setzen Sie kleine Beispielanwendungen selbst um. Versierte NI-Ingenieure vermitteln Ihnen den Einstieg in verschiedene NI-Technologien, die durch Live-Demonstrationen verdeutlicht werden. Die entspannte Atmosphäre in kleiner Runde erlaubt einen intensiven Austausch zwischen Zuhörern und NI-Experten. FORSCHUNG UND LABORVERSUCHE Neu und innovativ der nahtlose Übergang von der Lehre zur Forschung ist ein Kernanliegen von National Instruments. Wie dieser Übergang gelingt und wie Forschungsprojekte mit Hard- und Software von NI verwirklicht werden, zeigt dieser Track. Dabei decken wir Forschungsbereiche von Automatisierungstechnik bis hin zu Software Defined Radio ab. Erstmalig können Sie neben den Produkten für Lehre und Ausbildung auch Industrieprodukte für die Forschung evaluieren.

13 Academic Forum 13 FREITAG 11:00 17:00 Uhr Praxisorientierte Lehre 11:00 11:45 Modelbasierte Simulation und experimentelle Anwendung von mechatronischen Systemen in der Lehre in Verbindung mit myrio und Model Interface Toolkit Jochen Theis, FH Aachen 11:45 12:30 Kennlinienaufnahme mit dem NI mydaq als Live-Experiment im Unterricht Prof. Georg Eggers, HS München 12:30 13:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 13:30 14:15 Praxisorientierte Lehre Beispiele für die Einbindung von Versuchsaufbauten in die regelungstechnische Ausbildung unter Nutzung von NI-Hardware und Software Prof. Steven Lambeck, FH Fulda 14:15 15:00 Praktikumsversuch CW / FMCW Radar auf Basis von myrio Markus Gardill, FAU Erlangen-Nürnberg 15:30 16:15 Kooperation ifm syntron & HMS im Praktikum zur Vorlesung LabVIEW an der HS Ravensburg- Weingarten Philipp Hohl, ifm syntron GmbH 16:15 17:00 Labview Academy Podiumsdiskussion Moderation Tomasz Kachnic, Forschung und Laborversuche 11:00 11:45 Modul zur Unterdrückung von Störsignalen für globale Navigationssysteme mit NI SDRs Thomas Kraus, Stefan Sailer, Universität der Bundeswehr München 11:45 12:30 Entwicklung einer Automatisierungslösung zum Steuern einer Vier-Quadranten-Leitungsbremse mit 250 kw auf Basis eines crio-9074 Norbert Schmotz, Universität Rostock 12:30 13:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 13:30 14:15 Fiber-optical observation of the material behaviour of a natural stone specimen under local load Klaus Weraneck, TU München 14:15 15:00 Implementierung modellbasierter prädiktiver Regelungsansätze für ein Dreitanksystem in LabVIEW Tarek Aissa. FH Fulda 15:30 16:15 Entwicklung eines Datenerfassungssystems zur Messung und Kontrolle des Sauerstoffpartialdrucks in der Festkörpersynthese Felix Seibel, Dr. Paolo Sereni, Universität Salzburg 16:15 17:00 Entwicklung und Regelung eines hydraulischen Biegeprüfstands Vinzent Schmid, OTH Regensburg Workshops* 11:00 12:30 Erste Schritte mit Datenerfassungssystemen von NI 12:30 13:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 13:30 15:00 NI myrio Teil 1: Einführung in Embedded- Systeme in der Lehre 15:30 17:00 NI myrio Teil 2: Steuerung und Regelung mit dem QUANSER Cube 11:00 12:30 Implementierung von Echzeit-Testapplikationen mit NI VeriStand und myrio 12:30 13:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 13:30 15:00 Einstieg in die FPGA-Programmierung 15:30 17:00 LabVIEW-Quellcodeverwaltung praktisch umsetzen * Die Plätze für die Workshops sind begrenzt. Für die Teilnahme ist eine separate Anmeldung erforderlich.

14 14 Specials Get-together Feiern Sie mit uns 20 Jahre VIP Lassen Sie sich das exklusive Get-together unseres 20-jährigen Kongressjubiläums nicht entgehen! Der Ideenaustausch sowie das Knüpfen von Kontakten stehen im Mittelpunkt des gemütlichen Ausklangs des ersten Kongresstages. Dieser wird mit einem gemeinsamen Abendessen zu Ende gehen und bietet Ihnen die Möglichkeit zum ungezwungen Networking mit Referenten, Ausstellern, NI-Experten und anderen Kongressteilnehmern. In Anschluss daran sind Sie herzlich zur Jubiläums-Party eingeladen um den Kongresstag in entspannter Atmosphäre abzurunden. MITTWOCH ab 18:00 Uhr CLAD-Zertifizierung Ihr Know-how von Experten bescheinigt Medienpartner Im Rahmen des VIP 2015 haben Sie die Gelegenheit, kostenfrei an der Zertifizierung zum Certified LabVIEW Associate Developer (CLAD) teilzunehmen. Sollte Ihre CLAD-Zertifizierung bald ablaufen, können Sie sich kostenfrei rezerti fizieren lassen. Die Zertifizierungen von unterstreichen Ihre technischen Kenntnisse und Fähigkeiten. Mit der CLAD-Zertifizierung verfügen Sie über einen industrieweit anerkannten Qualitätsnachweis und eine hervor ragende Referenz. Nutzen Sie diese Chance und sichern Sie sich das Rüstzeug für Ihre nächsten großen Herausforderungen! 16:30 17:30 Uhr FREITAG 16:00 17:00 Uhr DONNERSTAG WARUM 40+ AUSSTELLER RUND 120 VORTRÄGE INNOVATIONEN UND NETWORKING

15 Anmeldung und Services 15 ANMELDUNG UND SERVICES PREISE ANMELDEBEDINGUNGEN VIP-Kongress Tickets Oktober * 520** 575 (inkl. Abendveranstaltung) 21. Oktober 2015 (inkl. Abendveranstaltung) Oktober Gruppenticket (4 für 3) Oktober * 1560** 1725 (inkl. Abendveranstaltung) Hochschultickets Oktober 2015 (inkl. Abendveranstaltung) Oktober 2015 (inkl. Abendveranstaltung) Oktober Academic Forum Tagesticket 23. Oktober 2015 kostenfrei Alle Preise in Euro zzgl. Mehrwertsteuer * Frühbuchertarif 1 bis einschließlich 31. Juli 2015 ** Frühbuchertarif 2 bis einschließlich 18. September 2015 Gruppenticket: Die Teilnehmer müssen der gleichen Firma angehören. Hochschultarif: Gilt für alle Hochschulangehörigen und Studenten. LEISTUNGEN Mit der Buchung des Kongresspasses erhält der Teilnehmer die Berechtigung zur Teilnahme am VIP-Kongress 2015 für die Anzahl der gebuchten Kongresstage. Die Kongressteilnahme beinhaltet folgende Leistungen: Keynotes und Fachvorträge Tagungsband Zutritt zur Ausstellung Abendveranstaltung bei Teilnahme am 21. Oktober 2015 Tägliches Lunchbuffet und zwei Kaffeepausen inkl. Getränke Das Anmeldeformular finden Sie online unter ni.com/vip Die Anmeldungen werden der Reihenfolge nach berücksichtigt. Wir empfehlen Ihnen eine frühzeitige Anmeldung. RÜCKTRITTSBEDINGUNGEN Die Abmeldung von dieser Veranstaltung muss National Instruments schriftlich mitgeteilt werden. Es gelten folgende Rücktrittsbedingungen: Bei Rücktritt bis zum 3. September 2015 wird eine Stornogebühr von 50 Euro zzgl. Mehrwertsteuer erhoben. Bei Rücktritt ab 4. September 2015 beträgt die Stornogebühr 100 % der Teilnahmegebühr. Gerne akzeptieren wir einen Ersatzteilnehmer. Bitte teilen Sie uns dies in schriftlicher Form mit. Haben Sie Fragen zur Anmeldung? Wir helfen Ihnen gerne weiter. Bitte wenden Sie sich an Andrea Schütze unter Tel. +49 (0) oder senden Sie eine an andrea.schuetze@ni.com. DIE VIP-2015-SERVICES WIR SIND FÜR SIE DA! Hotels Empfehlungen und vorab reservierte Kontingente unter: germany.ni.com/vip/hotels Bus-Shuttle von ausgewählten Hotels am Morgen (21./22. Oktober 2015) zum Veranstaltungsort und abends nach der Party zurück vom Flughafen München zum Veranstaltungsort: 21. Oktober 2015 Abfahrt 08:30 Uhr vom Veranstaltungsort zum Flughafen München: 22. Oktober 2015 Abfahrt 17:15 Uhr ANWENDER- LÖSUNGEN INDUSTRIE- TRENDS MEET THE EXPERTS FRÜHBUCHERTARIFE Eine schnelle Anmeldung wird belohnt: sichern Sie sich bis 31. Juli bzw. 18. September 2015 unsere Frühbucherrabatte.

16 VERANSTALTUNGSORT Veranstaltungsforum Fürstenfeld Fürstenfeld Fürstenfeldbruck bei München fuerstenfeld.de VERANSTALTER Germany GmbH Ganghoferstraße 70 b München Tel.: +49 (0) Fax: +49 (0) info.germany@ni.com ni.com/vip ni.com/academicforum powered by