Vorsicht: Laserstrahl ist unsichtbar/sichtbar und kann beim Auftreffen auf die Netzhaut zu irreparablen Schäden führen!

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1 XVIII Kalibrierung von faseroptischen Messgrößen Zur Kalibrierung von faseroptischen Komponenten und Messgeräten steht das optische Kalibriersystem im Mainframe EXFO IQ-0 und dessen Kalibrieranwendungen IQ-100 bzw. IQ-00 zur Verfügung. XVIII.1 Vorbereitung Die optischen Geräte mit denen in diesem Kapitel gearbeitet wird, sind größtenteils mit aserlicht betriebene Systeme. In diesem Anwendungsbereich können Strahlungsleistungen auftreten, die bei unsachgemäßer Handhabung eine Gefährdung für den Benutzer darstellen. Je nach aserleistung und Wellenlänge sind die asersender verschiedenen aserklassen zugeordnet. Vorsicht: aserstrahl ist unsichtbar/sichtbar und kann beim Auftreffen auf die etzhaut zu irreparablen Schäden führen! Deshalb darf unter keinen Umständen bei eingeschalteten asersender in den Senderausgang bzw. auf die Steckerendflächen des angeschlossenen Kabels freies Ende) geblickt werden. Auf keinen Fall darf bei eingeschaltetem Sender der Messadapter am Messanschluss entfernt werden und mit einem Mikroskop die Endfläche des internen Steckerstiftes auf Verschmutzung kontrolliert werden. Vor einer solchen Überprüfung ist ein Einschub aus dem Grundgerät herauszunehmen. XVIII.1.1 Reinigung von Steckerstirnflächen Sichere Kalibrierergebnisse sind erst nach visueller Inspektion sämtlicher Konnektoren und optischen Schnittstellen des Kalibriergegenstandes zu erreichen. Um den Zustand der Anschlüsse zu überprüfen werden bei 400-facher Vergrößerung alle Steckerstirnflächen inspiziert und gereinigt. Kratzer und Verunreinigungen werden mittels USB-Mikroskop vor und nach der Reinigung festgehalten und als Anhang den Messergebnissen beigefügt. Ggf. muss auch der Austausch von verschlissenen Schnittstellen veranlasst werden. Details, weitere Hilfsmittel, Bewertungskriterien, benötigtes Reinigungsmaterial etc. sind der Arbeitsanweisung Application ote) EXFO AOTE058.an Connector Maintenance zu entnehmen. XVIII.1. Starten einer IQ-100 Anwendung Über den IQ-00 auncher der Softwareoberfläche des optischen Kalibriersystems werden die Anwendungen gestartet. Dabei können die Mess- und Hilfsgeräte im manuellen Modus oder halbautomatisch betrieben werden. Die Einzelheiten hierzu sind in der Betriebsanleitung IQ-00 Optical Test System nachzulesen. In der Regel erfolgt die Kalibrierung geführt über die Kalibrieroberfläche in immer denselben Einzelschritten des Ablaufs. XVIII.1. Aufwärmphase Für den ordnungsgemäßen Betrieb werden Aufwärmphasen aller elektrischen und elektronischen Geräte von 0 Minuten und länger empfohlen. Die ormale werden dabei min. immer erst nach den vom Hersteller empfohlenen Aufwärmzeiten betrieben oder bleiben dauerhaft eingeschaltet. Des Weiteren sollten Kalibriergegenstände zur Vorbereitung vor der Kalibrierung mindestens 8 Stunden zum Temperaturausgleich im abor gelagert werden. XVIII.1.4 Verwendete Fasertypen Es werden unterschiedliche Fasertypen für die Kalibrierung verwendet. Zum einen die Singlemode Faser 9 µm). Sie wird ab einer Wellenlänge von 110 nm verwendet. Die zweite Faser ist die Multimode Faser 6,5 / 50 µm), diese wird für Wellenlängen bis 100 nm verwendet. Polymer Fasern POF) mit einem Kerndurchmesser von ca µm werden hauptsächlich im sichtbaren Wellenlängenbereich bis 650 nm verwendet und werden in Ausnahmefällen oder auf speziellen Kundenwunsch für Kalibrieraufgaben anstelle der Multimode-Fasern eingesetzt. XVIII. Absolutleistung Kalibrierungsfaktor) faseroptischer eistungsmessgeräte XVIII..1 Kalibrierverfahren Die Kalibrierung auf Absolutleistung von optischen eistungsmessgeräten erfolgt im Vergleichsverfahren, indem zuerst die über einen variablen Abschwächer EXFO IQ-100) zur Verfügung gestellte eistung am ichtleiterende mit dem ormalleistungsmesser Copyright esz AG calibration & metrology 014. Jede Art auch auszugsweise) der Vervielfältigung, Ausdruck oder Weitergabe nur mit Genehmigung der esz AG calibration & metrology, Max-Planck-Str. 16, 8 Eichenau, Germany.

2 EXFO IQ-150 kalibrierte Wellenlängen bei 850 nm / 110 nm / 1550 nm) W&G OP-150 kalibrierte Wellenlänge bei 650 nm) gemessen und in der Folgemessung bei identischen Testparametern am Kalibriergegenstand eingespeist wird. Dafür stehen folgende hochstabile aser-ichtquellen zur Verfügung TE Cooled Distributed Feedback aser): EXFO IQ-10 BD 110 nm) und EXFO IQ-40 BD 1550 nm) DC1000 Grundgerät) o Profile 650 nm o Profile 841 nm W&G OCD 850 nm / 654 nm) Vor Beginn jeder Kalibrierung wird sowohl am Referenzgerät als auch am Kalibriergegenstand soweit vorhanden) ein ullabgleich ohne ichteinfall mit geschlossenem Detektor durchgeführt. Die Anschlusstechnik der Konnektoren wird an das Messobjekt angepasst z.b. FC/PC) und darf während der Kalibrierung nicht mehr gewechselt werden. Das IQ-150 besitzt hierzu einen universellen faseroptischen Adapter FOA), der einen Anschluss der gängigsten Konnektortypen ohne weitere Adapter zulässt. Da Bewegungen der Faser den hauptsächlichen Anteil für die Wiederholbarkeit der Messergebnisse an Referenzleistungsmesser und Messobjekt bilden darf die Anschlussfaser nur möglichst wenigen Bewegungen oder Drehungen unterworfen werden: Bei jeder Messung ist auf minimale Änderung der age als auch auf Einhaltung des Biegeradius >10 cm) zu achten. Hintereinander werden dann die Messungen im Wechsel am Referenzgerät IQ-150 und am Kalibriergegenstand durchgeführt, deren Mittelwerte aus mindestens 5 Einzelmessungen gebildet und zur Berechnung des Kalibrierungsfaktors herangezogen werden. Alle Parameter des Messaufbaus, Testwellenlänge, verwendete Faser z.b. Singlemode 9/15 µm), Konnektoren und Geräteeinstellungen werden soweit sinnvoll im Kalibrierschein vermerkt. Ein Teil der Strahlung des Senders wird bei der Kalibrierung über einen optischen Koppler einem zweiten optischen eistungsmessgerät zur Stabilitätskontrolle zugeführt werden. Zeitabhängige Veränderungen werden so festgestellt und wenn nötig korrigiert. Copyright esz AG calibration & metrology 014. Jede Art auch auszugsweise) der Vervielfältigung, Ausdruck oder Weitergabe nur mit Genehmigung der esz AG calibration & metrology, Max-Planck-Str. 16, 8 Eichenau, Germany.

3 XVIII.. Messunsicherheitsbilanz Skizze des Messverfahrens: Quelle 110 nm / 1550 nm Q variabler Abschwächer ) K ormal Rest-resp Messung 1 am Referenzleistungsmessgerät IQ-150 A Quelle 110 nm / 1550 nm Q QStab variabler Abschwächer ) Messobjekt X) X K X-resp XRes Messung am Kalibriergegenstand vorgegebene bzw. abgelesene Größen: ) einfallende eistung bei Wellenlänge z.b. mit =110 nm, =1550 nm, =850 nm X) angezeigte eistung bei Wellenlänge K) Kalibrierungsfaktor des ormals Die Kalibrierungsfaktoren wurden bei Kalibrierung des ormals mit Unsicherheiten UKal) von 0,7 % bis 1, % -ormalverteilung) nachgewiesen. Dieser Beitrag ist dem Kalibrierschein des ormals entnehmbar. abgelesener Kalibrierwert am ormal. Das eigerauschen wird als Typ A Unsicherheit automatisch ermittelt und im Unsicherheitsbudget aufgenommen. In der Regel ist das eigerauschen der Einzelmessung am Referenzleistungsmesser aber hinreichend klein und kann für die Berechnung der kleinsten angebbaren Messunsicherheit daher zu ull angenommen werden s.a. X). X eige am Kalibriergegenstand. Die Standardunsicherheiten aus den Beobachtungen der Einzelmessungen eigerauschen, ux)) können gemäß DKD- ermittelt und als Typ A Unsicherheit dem Unsicherheitsbudget hinzugefügt werden. Die gemeinsame Standardabweichung der Reproduktion an Referenzleistungsmesser und Kalibriergegenstand wird jedoch während der Messung bereits errechnet und in uk) berücksichtigt. Daher wird dieser Unsicherheitsbeitrag ebenfalls zu ull gesetzt werden. Q Ausgangsleistung der ichtquelle Gesuchte Größe: K) Kalibrierungsfaktor des Messobjekts Einflussgrößen: Q Stab Abweichung aufgrund zeitlicher eistungsinstabilität der ichtquelle. Stabilitätsmessungen der verschiedenen Quellen ergaben maximale Differenzen von 0,1 % 0,005 db) innerhalb von 15 Minuten. Diese maximale Abweichung wird als Intervallgrenze einer Rechteckverteilung angenommen Copyright esz AG calibration & metrology 014. Jede Art auch auszugsweise) der Vervielfältigung, Ausdruck oder Weitergabe nur mit Genehmigung der esz AG calibration & metrology, Max-Planck-Str. 16, 8 Eichenau, Germany.

4 t zeitliche Drift des ormals seit der letzten Kalibrierung. Durch die Historie der Rekalibrierung wird angenommen, dass die Drift des Kalibrierungsfaktors im Kalibrierintervall maximal 0,8 % bzw. 1 % bei 850 nm beträgt. EXFO IQ-150,0% 1,5% 1,0% Abweichung in % 0,5% 0,0% -0,5% -1,0% -1,5% 005 METAS) 008 METAS) 01 METAS) -,0% -,5% -,0% Res, X Res A resp, X-resp 850 nm 110 nm 1550 nm Bild XVIII..1 Historie der Kalibrierungen des eistungsnormals Exfo IQ 150 inearitäts und Interpolationskorrektur des Kalibrierfaktors am ormal an von direkt rückgeführten Kalibrierpunkten abweichenden Werten. Im Bereich von 50 dbm bis dbm wird angenommen, dass die Interpolation maximale Abweichungen von 0, % 0,01 db) von der idealen Kennlinie aufweist. Die Rundungsabweichungen von max. 1 Digit durch die letzte Stelle und Auflösung der eigen von Referenzgerät und Messobjekt. Das Rundungsintervall der Auflösung am Referenzleistungsmesser ist verglichen mit den übrigen Einflüssen vernachlässigbar klein und wird daher zu ull gesetzt. Das Auflösungsintervall des Kalibriergegenstandes kann je nach Gerätebauart unterschiedlich sein und erst im konkreten Fall berücksichtigt werden. Für die kleinste angebbare Messunsicherheit wird es zunächst ebenfalls zu ull angenommen. Verfahrensbedingte Abweichungen z.b. durch Rückreflexionen oder Temperaturabhängigkeit des Kalibrierungsfaktors werden zu maximal 0,1% mit Rechteckverteilung angenommen. Korrektionen durch Bewegung und Drehung der Faser sind bereits durch die Berücksichtigung des gemeinsamen Unsicherheitsintervalls von X beinhaltet. Abweichungen aufgrund der eigung der spektralen Empfindlichkeit Abhängigkeit der eistungsanzeige von der Wellenlänge) des eistungsmessgerätes Exfo IQ-150 und des Kalibriergegenstandes bezüglich der tatsächlichen Wellenlänge der ichtquelle. Die Abweichungen von den idealen Zentral-Wellenlängen werden maximal zu 0,1 nm angenommen und konnten am Wellenlängenmessgerät Burleigh WA-1100 sogar auf maximal 0,0 nm nachgewiesen werden. Mit der abstimmbaren Quelle Exfo IQ-40 wurde durch eistungsmessungen bei 1550,0 nm und 1550,5 nm die spektrale eigung des IQ-150 zu 1,5 % pro nm gemessen. Damit ergibt sich eine maximale Empfindlichkeitsabweichung bezüglich der Wellenlänge zu 0,15 %. Für genaue Bestimmungen kann die exakte Wellenlänge der Quelle vor der Kalibrierung gemessen werden. Genauso kann die spektrale eigung des Messobjekts durch Abstimmung der 110 nm- Quelle gemessen werden. In der Messunsicherheitsbilanz für die kleinst angebbare Messunsicherheit wird exemplarisch ebenfalls ein Wert von maximal 0,15 % angenommen. Bei Kalibrierungen mit Quellen im Bereich 650 nm und 850 nm wird die spektrale Empfindlichkeit anhand der Messwertveränderung bei Veränderung des abgespeicherten Copyright esz AG calibration & metrology 014. Jede Art auch auszugsweise) der Vervielfältigung, Ausdruck oder Weitergabe nur mit Genehmigung der esz AG calibration & metrology, Max-Planck-Str. 16, 8 Eichenau, Germany.

5 Kalibrierfaktors des OP-Empfängers bzw. des IQS-150 abgeschätzt. Experimentell ergeben sich z.b. 0,5 %/nm bei 850 nm. Modellgleichung: Mit den oben aufgeführten Größen ergibt sich der Kalibrierungsfaktor des Messobjektes zu mit ): Re s 0 K ) K ) ) X ) K X t X Res X resp resp Q Stab A Messunsicherheitsbilanz: Für die dem Ergebnis beizuordnende Standardmessunsicherheit ergibt sich daraus: u c K) c X u K X u K ) u ) c X u resp ) u mit den Sensitivitätskoeffizienten K 1 K c, c, x X X ) c X Re s ) c und X u c k t ) u X ) u resp ) u Q Tabellarische Darstellung der Messunsicherheitsbilanz einzelner Durchgang): Größe Schätzwert Standardmessunsicherheit Verteilung Sensitivität Unsicherheitsbeitrag n s / n ormal Typ A) K k U ) / ormal ck Kal X x X X t 0 ) / c u ) s / n ormal Typ A) cx u X ) t 0 ) / -resp 0 ) / resp Rechteck c u ) t Rechteck c u ) Q Stab 0 QStab) / A 0 A Re prod ) / X res 0 X ) / Rechteck c u ) resp Rechteck c u Q ) Stab Rechteck c u A ) Re s X-resp 0 ) / resp K k n x Re prod 1 Rechteck cx u X ) X Re s Rechteck cx u X ) resp Effektive Freiheitsgrade: Da die Streuung der Messergebnisse einen beträchtlichen Anteil aufweist, werden die effektiven Freiheitsgrade einer Stichprobe der änge n berücksichtigt Abschätzung nach DAkkS-DKD-, Anhang E). Die Ergebnisse der Durchgänge der Stichprobe werden in dem Modell K av K K u k) u K ) Stab ) u A) 1 ull für die Berechnung der kleinsten angebbaren Messunsicherheit Copyright esz AG calibration & metrology 014. Jede Art auch auszugsweise) der Vervielfältigung, Ausdruck oder Weitergabe nur mit Genehmigung der esz AG calibration & metrology, Max-Planck-Str. 16, 8 Eichenau, Germany.

6 für den gemittelten Kalibrierungsfaktor Kav als unabhängige Beobachtungen behandelt. Mit K ermittelter Kalibrierungsfaktor je Durchgang: Der Mittelwert der Durchgänge mit Stichprobenlänge n5 und Streuungen beispielsweise durch Bewegung oder Drehung der Faser, wird typischerweise mit einer Standardabweichung von 0,4 % bei einer Stichprobenlänge n=5 angenommen. Höhere Unsicherheiten durch die Reproduktion müssen individuell im konkreten Fall berücksichtigt werden. Für die Berechnung der kleinsten angebbaren Messunsicherheit wird vom typischen Fall ausgegangen. Die gemeinsame Standardabweichung der Reproduktion an Referenzleistungsmesser und Kalibriergegenstand wird dazu während der Messung bereits errechnet und ausgegeben sie enthält dabei bereits die Streuungen von und X) K Korrektion aufgrund der Wiederholpräzision und Faserbewegung Größ e Schätzwer t Standardmessunsicherhei t s eff. Freiheitsgrad e Verteilun g Sensitivitä t Unsicherheits - beitrag ormal, K k n-1 1 n Typ A u k) K 0 u k) ormal 1 u k) K av k v eff u 4 4 u k) k) n 1) Beispielrechnung für typische Messung von 100 µw -10 dbm) bei 1550 nm Größe Schätzwert Standardmessunsicherheit Verteilung Sensitivitätskoeffizent 99,9 µw 0 Unsicherheitsbeitrag K 0,9941 0,8 % / ormal 1 4,010 - X 96,66 µw 0 t 0 0,8 W / Rechteck 0,010 µw -1 4, , W / Rechteck 0,010 µw -1 1,10 - -resp 0 0,15 W / Rechteck 0,010 µw -1 0, Q Stab 0 0,1 W / Rechteck 0,010 µw -1 0, A 0 0,1 W / Rechteck 0,010 µw -1 0, X-resp 0 0,15 W / Rechteck 0,011 µw -1 0, K 1,078 6,410 - Effektive Freiheitsgrade: Größe Schätzwert Standardmessunsicherheit eff. Freiheitsgrade K 1,078 0,004 / 5 4 Verteilung Sensitivität Unsicherheitsbeitrag ormal, 1 1,810 Typ A - Hinweis: Da im menügeführten automatischen Modus der gemessene Wert des Systems nicht mit dem Kalibrierfaktor korrigiert werden kann, wird stattdessen durch Aufnahme des Wertes X/K oder am Ende der Messung durch KDUT=KKauto der Kalibrierungsfaktor der Rekalibrierung berücksichtigt Hier: typischer Wert für die Berechnung der kleinsten angebbaren Messunsicherheit. Erst ab einer tatsächlichen Standardabweichung über den genannten Grenzen von 0,4 % hat dies Auswirkung auf das Gesamtergebnis und wird im konkreten Fall zusammen mit dem Einfluss auf die effektiven Freiheitsgrade berücksichtigt Copyright esz AG calibration & metrology 014. Jede Art auch auszugsweise) der Vervielfältigung, Ausdruck oder Weitergabe nur mit Genehmigung der esz AG calibration & metrology, Max-Planck-Str. 16, 8 Eichenau, Germany.

7 Größe Schätzwert Standardmessunsicherheit eff. Freiheitsgrade Verteilung Sensitivität Unsicherheitsbeitrag K 0 6,410 - ormal 1 6,410 - K av 1, , , v =777 6,710 - eff Mit den oben aufgeführten Größen ergibt sich gemäß DKD-:00 Abschnitt4 aus der Modellgleichung für die dem Ergebnis K beizuordnende erweiterte Messunsicherheit mit k= nach Tabelle E) die erweiterte Messunsicherheit: U abs K W K) 1, % k rel Es kann gezeigt werden, dass bei Stichproben der änge n=5 Standardabweichungen bis etwa 0,9% für einen von k= abweichenden Erweiterungsfaktor nicht relevant sind. ogarithmische Angaben Messtechnisch oft üblich sind logarithmische eistungs- oder Kalibrierfaktorangaben. Der Zusammenhang zwischen eigeabweichung X in db) und Kalibrierfaktor K) kann dann beschrieben werden zu X XVIII. inearität 1 10 log db K XVIII..1 Additionsmethode Kleinste Messunsicherheiten bei inearitätsmessung werden durch Anwendung der Additions-Methode erzielt. Dabei wird mit einem Koppler zunächst die Quellleistung aufgeteilt und mit einem zweiten Koppler wieder zusammengeführt. Durch die elektronischen Verschlusskappen Shutter) der Koppler können die getrennten eistungspfade Arme ) einzeln ausgeblendet und zusammengeführt werden. Bei einem linearen eistungsmessgerät muss die Summe der Einzelpfade dann die Gesamtleistung bei geöffneten Verschlusskappen ergeben. Dazu wird die eistung jedes Pfades Pa und Pb) getrennt voneinander und die eistung beider Pfade zusammen Ptotal) gemessen. Die lokale inearität im k-ten Messschritt bei Messungen errechnet sich dann zu lokal, k Ptotal, k Pa, k Pb, k für 1 k als Differenz aus Gesamtleistung und Summe der einzelnen Pfade. Die Summe der lokalen inearitätswerte von der Referenzleistung aus ergibt die globale inearität der k-ten Zeile Messung). k 1 global, k 0 db lokal, n und 1 k +1 n0 okale, globale inearität und ideale Kennlinie Quelle: Exfo) Der höchste Betrag der globalen inearität ergibt dann die totale inearität im gemessenen Bereich des Kalibriergegenstandes. Copyright esz AG calibration & metrology 014. Jede Art auch auszugsweise) der Vervielfältigung, Ausdruck oder Weitergabe nur mit Genehmigung der esz AG calibration & metrology, Max-Planck-Str. 16, 8 Eichenau, Germany.

8 Max global ) total Die Berechnung der lokalen, globalen und totalen inearitätswerte geschieht Software-gesteuert und automatisch bei Eingabe der Messwerte des Messobjektes. Gemessen wird jeweils abwärts und aufwärts bei abnehmender bzw. zunehmender eistung und vorigem ullabgleich der Instrumente. Um Berechnung der lokalen und globalen inearitäten sicherzustellen, dass die optischen Splitter symmetrisch auskoppeln wird der Messaufbau vor Beginn der Messung mit variablen Abschwächern in den Pfaden a und b abgeglichen, so dass die Summe der Einzelpfade mit der Gesamtleistung aus beiden Pfaden übereinstimmt. Dieser Schritt ist sehr wichtig um eine gleichmäßige eistungsverteilung in beiden Armen zu garantieren. Daneben müssen die beiden Pfade unterschiedliche änge besitzen um Interferenz- Schwankungen zu minimieren oder ganz auszuschließen. Den achteil dieser Methode stellt die relativ hohe Einfügedämpfung des Messaufbaus, der typischerweise zwischen 7 und 8 db liegen kann, dar. Messaufbau für inearitätsmessung der Additionsmethode Quelle: Exfo) Zur Vermeidung von Interferenzen des kohärenten ichtes bei Kopplung der Pfade a und b ist in einem der beiden Pfade eine Faser-Verlängerung des ichtweges von ca. 100 m bereits fest im Koppler eingefügt >Kohärenzlänge). Sofern nicht modifizierte Koppler verwendet werden ist mit einer zusätzlichen Faser die Interferenzvermeidung sicher zu stellen. Aus der spektralen Breite f des schmalbandigsten asers 1550 nm, f = 0 MHz) ergibt sich mit der ichtgeschwindigkeit im Vakuum c und dem Brechungsindex n die Mindestlänge l dieser Faser zu m c l s 10, m n f 1,46 0 MHz Messunsicherheitsbilanz Die Modellgleichung für die lokale inearität da sich die Absolutanteile bei dieser Methode aufheben) wird formuliert zu lokal P total Pa Pb PS PV PR P total Am Kalibriergegenstand gemessene Gesamtleistung bei Durchschaltung der Arme A und B Copyright esz AG calibration & metrology 014. Jede Art auch auszugsweise) der Vervielfältigung, Ausdruck oder Weitergabe nur mit Genehmigung der esz AG calibration & metrology, Max-Planck-Str. 16, 8 Eichenau, Germany.

9 P a, P b eistung bei Messung der einzelnen Pfade A und B hintereinander P S Abweichung aufgrund zeitlicher eistungsinstabilität der ichtquelle. Stabilitätsmessungen der verschiedenen Quellen ergaben maximale Differenzen von 0,005 db innerhalb von 15 Minuten. Die lokale inearitätsmessung erfordert jedoch nur eine hohe Stabilität von etwa einer Minute. Es wird daher 0,0 % 0,001 db) als maximale Intervallgrenze dieser Korrektur mit Rechteckverteilung angenommen P V P R Korrektion durch weitere verfahrensbedingte Einflüsse wie Rückreflexionen, Interferenzschwankungen, Wiederholpräzision, Empfängerrauschen oder Temperaturabhängigkeiten. Dieser Anteil ist nicht bekannt und wird aus der üblichen Digitabweichung guter Empfänger im Bereich 40 dbm bis 50 dbm innerhalb 0,0 % 0,001 db) Rechteckverteilt angenommen worst case ). Abhängig vom Kalibriergegenstand können sich zusätzlich höhere Anteile des Empfängerrauschens und dessen Standardunsicherheit Typ A Unsicherheit) ergeben. Die Rundungsabweichungen durch die letzte Stelle und Auflösung der eige des Messobjekts ergeben sich zu max. 0,5 Digits. Für eistungsmessgeräte mit einer eige von mehr als,5 Digits z.b. 100,00 µw und damit innerhalb des Intervalls von 0,005 µw) wird dieser Beitrag nahezu vernachlässigbar klein. Eine Rundung erfolgt bei jeder Ausgabe eines Messwertes aber insgesamt dreimal. Für die beigeordnete relative erweiterte Messunsicherheit k=) für die Messung der lokalen inearität ergibt sich W lokal) w ws wv wr Totale inearität Je nach ahl der Messschritte treten Messunsicherheitsanteile häufiger auf. So ist durch die Rundungskorrekturen in Abhängigkeit der Messpunkte mit einem direkt proportionalen Anteil zu rechnen wr), d.h. im db Abstand und etwa 15 Messpunkten 15 wr). wv jedoch ist nur im niedrigen Messbereich 40 dbm bis 50 dbm relevant etwa 4 wv). Die Stabilität der Quelle wird in diesem Fall zu 0,005 db für die gesamte Messreihe angenommen und multipliziert sich so etwa zu 5 ws. Damit ergibt sich im allgemeinen Fall: W total) 5wS 4wV 15wR Bei achweis der inearität in einem kleineren Dynamikbereich mit weniger Messpunkten liegt die Messunsicherheit der totalen inearität also immer unter diesem Wert. Tabellarische Darstellung der Messunsicherheitsbilanz y= lokal): Größe Schätzwert Halbbreite Verteilung Unsicherheit X i x i a wx i) Sensitivität skoeffizient c i Unsicherheitsbeitrag relativ) w iy) P total P a p total p a P b pb P S 0 as Rechteck as w PS ) 1 ws P V 0 av ormal w P V ) av 1 wv P R 0 ar Rechteck ar w PR ) P 1 wr lokal p total-p a+p b) w ) w y) a lokal i wlokal) i1 Copyright esz AG calibration & metrology 014. Jede Art auch auszugsweise) der Vervielfältigung, Ausdruck oder Weitergabe nur mit Genehmigung der esz AG calibration & metrology, Max-Planck-Str. 16, 8 Eichenau, Germany.

10 Größe X i Schätzwert x i Halbbreite a Verteilung Unsicherheit wx i) Sensitivität skoeffizient Unsicherheitsbeitrag relativ) w iy) c i lokal rel. erweiterte Messunsicherheitk=) W lokal) k w lokal) Wlokal) Bei Einsetzen der Zahlenwerte ergibt sich als Ergebnis für die Berechnung: Größe X i Schätzwert x i Halbbreite a Verteilung Unsicherheit wx i) Sensitivität skoeffizient c i P total 100,00 µw P a 50,00 µw P b 49,00 µw Unsicherheitsbeitrag relativ) w iy) P S 0 0,000 Rechteck 1, ,10-4 P V 0 0,000 ormal,10-4 1,10-4 P R 0 0,005 µw Rechteck 1, ,710-4 lokal 1,0 µw w ) w y),10-4 lokal rel. erweiterte Messunsicherheitk=) W ) w ) 6,10-4 0,008 db) lokal i1 lokal lokal total W total) 5wS 4wV 15wR i 1,710-0,008 db) XVIII..a Vergleichsmethode - ichtlinearität faseroptischer Strahlungsempfänger Alternativ, aber mit höheren Messunsicherheiten verbunden, erfolgt eine Messung im direkten Vergleich mit dem Kalibrierleistungsmessgerät Exfo IQ-150. Dazu wird die an einem Koppler geteilte eistung der aserquelle gleichzeitig am Referenzleistungsmesser und Kalibriergegenstand gemessen. Bei Annahme proportionaler Auskopplung muss sich die eige des ormalleistungsmessers mit zunehmender Dämpfung im selben Maße verändern wie die des Kalibriergegenstandes. Die globale inearität lässt sich dann sofort als eistungs-differenz P der Änderungen im k-ten Schritt bezogen auf den Referenzwert P ref k=1) angeben. Mit global,k P DUT,k P ormal,k P ref global, k PDUT, k Pormal, k mit Pk Pref k 1) Pk globale inearität im Schritt k eistungsdifferenz am Messobjekt bezogen auf den Referenzwert im Schritt k eistungsdifferenz am ormalleistungsmessgerät bezogen auf den Referenzwert im Schritt k eige im ersten Messschritt z.b. am Messobjekt DUT) bzw. am ormal Copyright esz AG calibration & metrology 014. Jede Art auch auszugsweise) der Vervielfältigung, Ausdruck oder Weitergabe nur mit Genehmigung der esz AG calibration & metrology, Max-Planck-Str. 16, 8 Eichenau, Germany.

11 Messaufbau für inearitätsmessung bei direktem Vergleich Quelle: z.t. Exfo) Messunsicherheitsbilanz Die Modellgleichung für die globale inearität wird mit den sich aufhebenden Absolutanteilen formuliert zu global P P ) P Pref, DUT PDUT ) Pref, ormal ormal S P V P R P ref,ormal P ref,dut P ormal, P DUT Am ormal bzw. am Kalibriergegenstand abgelesene Bezugsleistung der inearitätsangabe 1. Messung) Aktuell abgelesene Messwerte am ormal und Kalibriergegenstand P S Abweichung aufgrund zeitlicher eistungsinstabilität der ichtquelle. Stabilitätsmessungen der verschiedenen Quellen ergaben maximale Differenzen von 0,005 db innerhalb von 15 Minuten. Es wird daher 0,1 % als maximale Intervallgrenze dieser Korrektur mit Rechteckverteilung angenommen P V P P R Korrektion durch weitere Verfahrensbedingte Einflüsse wie Rückreflexionen, Wiederholpräzision, Temperaturabhängigkeiten und Empfängerrauschen. Dieser Anteil ist nicht bekannt und wird zu 0,0 % normalverteilt angenommen. Abhängig vom Kalibriergegenstand können sich zusätzlich höhere Anteile Typ A Unsicherheit) ergeben. Korrektion durch die icht-inearität des Referenzleistungsmessgerätes IQ-150. Aus dem Kalibrierschein wird dieser Teil im Bereich bis -50 dbm innerhalb der Summe aus maximaler Abweichung und deren Unsicherheit kleiner 0,5% vermutet 110 nm, bis -55 dbm, bzw. 0,6 % bis -65 dbm und 1,7 % bis -70 dbm). Die Kontrollmessung in Additionsmethode bei 1550 nm ergab maximale icht-inearitäten von 0,57% und damit ein identisches Unsicherheitsintervall. Die Rundungsabweichungen durch die letzte Stelle und Auflösung der eige der Geräte ergeben sich zu maximal 0,5 Digits. Die Rundungskorrektur des Referenzleistungsmessers IQ-150 mit seiner hohen Auflösung ist vernachlässigbar klein. Für Kalibriergegenstände mit einer eige von mehr als 4 0,5 Digits besser als 0,01 db oder 1,000 mw Auflösung) ist dieser Beitrag ebenfalls wenig ausschlaggebend. Eine daraus abgeleitete mögliche Rundungskorrektur von ±0,0 % ist je eigegerät zweimal zu berücksichtigen und ist im worst case entgegengesetzt gleich groß. Die beigeordnete relative erweiterte Messunsicherheit k=) für die Messung der globalen bzw. der totalen inearität Summe einzelner lokaler inearitätswerte) ergibt sich zu: W global) W total) w ws wv w wr Tabellarische Darstellung der Messunsicherheitsbilanz y= global): Copyright esz AG calibration & metrology 014. Jede Art auch auszugsweise) der Vervielfältigung, Ausdruck oder Weitergabe nur mit Genehmigung der esz AG calibration & metrology, Max-Planck-Str. 16, 8 Eichenau, Germany.

12 Größe X i Schätzwer t x i Halbbreit e a Verteilung Unsicherheit wx i) Sensitivitätsko effizient c i Unsicherheitsbeitrag relativ) w iy) P ref,orma l p r,n P ref,dut p r,d P ormal p P DUT p D Rechtec as P S 0 as w P ) k S 1 ws P V 0 av ormal w P V ) av 1 wv Rechtec a P 0 a w P ) k 1 w ar Rechtec w PR ) P R 0 ar k PDUT 1 wr global p r,d -p D)-p r,-p ) w ) w y) global rel. erweiterte Messunsicherheitk=) W global i wglobal) i1 global global ) k w ) Wglobal) Einsetzen der Zahlenwerte ergibt als Ergebnis für die Berechnung: Größe Schätzwert Halbbreite Verteilung Unsicherheit Sensitivitätskoeffizient X i x i P ref,ormal 100,00 µw P ref,dut 101,05 µw P ormal 50,00 µw P DUT 49,01 µw a wx i) c i Unsicherheitsbeitrag relativ) w iy) P S 0 0,001 Rechteck 6, ,910-4 P V 0 0,000 ormal,10-4 1,10-4 P 0 0,005 Rechteck,910-1,910 - P R 0 0,00046 Rechteck, ,710-4 global,04 µw w ) w y),010 - global rel. erweiterte Messunsicherheitk=) W global i1 global global i ) w ) 6,010-0,06 db) XVIII..b Vergleichsmethode - Dämpfungsglieder, passive und aktive Geräte und Elemente In ähnlicher Weise können Dämpfungsglieder im Vergleich zum kalibrierten Referenzempfänger bei den verschiedenen Wellenlängen kalibriert werden. Die Messung erfolgt zum Beispiel bei konstanter maximaler) eistung im Pfad relativ gegenüber der 0 db-abschwächerstellung. Bei etwa 1 mw Absolutleistung auf dem Empfänger in Ausgangsstellung lassen sich somit Dämpfungen bis 50 db unter Annahme idealer Empfängerlinearität kalibrieren. Copyright esz AG calibration & metrology 014. Jede Art auch auszugsweise) der Vervielfältigung, Ausdruck oder Weitergabe nur mit Genehmigung der esz AG calibration & metrology, Max-Planck-Str. 16, 8 Eichenau, Germany.

13 Einmessen gegenüber 0 db am Dämpfungsglied Messung einer Abschwächerstufe Um zusätzliche Aussagen zur Wiederholbarkeit treffen zu können sollte Anteil P V) sollte die Messung mindestens zweimal wiederholt werden. XVIII..c Einfügedämpfung - Dämpfungsglieder, passive und aktive Geräte und Elemente Um die Einfügedämpfung bzw. die Dämpfung von passiven Elementen zu bestimmen muss zunächst in direkter Kopplung am eistungsmesser gemessen und im zweiten Schritt zusammen mit den eingefügten Komponenten gemessen werden. Auch in diesem Fall sind mehrere Messungen zu empfehlen, da Konnektorwiederholbarkeiten je nach Art der Verbindung in Größenordnungen um 0,1 db nicht unüblich sind. Messung der Einfügedämpfung von Dämpfungsgliedern oder Komponenten Aufgrund des identischen Modells zur Unsicherheitsbetrachtung kann das Messunsicherheitsbilanz aus XVIII..a verwendet werden. Copyright esz AG calibration & metrology 014. Jede Art auch auszugsweise) der Vervielfältigung, Ausdruck oder Weitergabe nur mit Genehmigung der esz AG calibration & metrology, Max-Planck-Str. 16, 8 Eichenau, Germany.

14 XVIII.4 Kalibrierung/ Prüfung von optischen Quellen In Anlehnung an das in XVIII. genannte Verfahren können in Direktmessung mit kalibrierten Empfängern oder einem optischen Spektrumanalysator optische Quellen auf ihre charakteristischen Parameter kalibriert werden. Direktmessverfahren zur Bestimmung optischer Kenngrößen von Quellen Der Anschluss erfolgt direkt an die Quelle. Bei der Bestimmung der Ausgangsleistung ist zu beachten, dass die Angabe nur unter Berücksichtigung der hohen ) Dämpfung der Konnektoren Steckverbinder) und der verwendeten Faser angegeben werden kann. XVIII.4.1 Prüfung der Ausgangsleistung Die maximale Ausgangsleistung P von Quellen ist ein charakteristisches eistungsmerkmal. Um eine Prüfung der Funktion und die Übereinstimmung der Konformität zu bestimmten Akzeptanzkriterien wie z.b. die Herstellerangabe) zu bestimmen kann dieser Parameter an einem kalibrierten eistungsmessgerät bestimmt werden. Es soll jedoch keine Aussage über den absoluten Wert der eistung, sondern nur eine Prüfung z.b. auf ein Kriterium wie P 1 mw gemacht werden. Dabei sind Regler, Abschwächer oder sonstige Einstellelemente der Quelle in definierte und wiederholbare Position zu bringen z.b. rechter Anschlag oder interner Abschwächer "aus"), der Messwert bezieht sich auf die angegebenen Bedingungen z.b. Fasertyp) mit der Referenzebene möglichst am direkten Ausgang der Quelle z.b. Gehäuseplatte). Das Modell für die Prüfung der maximalen Ausgangleistung P kann mit der am ormal abgelesenen eistung P ähnlich wie in XVIII.. formuliert werden zu P K t resp Q A Stab conn Zusätzlich mit conn Die Konnektor-, Faserdämpfung und Wiederholbarkeit z.b. durch die außermittige Fassung der Faser in der Ferule stellt einen wesentlichen Anteil zur Messunsicherheit dar. Erfahrungswerte, Kontroll- und Testmessungen haben gezeigt, dass dieser Einfluss innerhalb der maximalen Intervallgrenzen von ±0,15 db liegt Rechteckverteilung). Die resultierende erweiterte Messunsicherheit in db lässt sich dann ausgehend von der Unsicherheit der optischen Strahlungsleistung bei der Empfängerkalibrierung U K angeben zu U U 0,15 db K P 0, db XVIII.4. Prüfung der Stabilität eben der Ausgangsleistung ist die Stabilität einer ichtquelle ein wichtiges Auswahlkriterium und charakteristisches eistungsmerkmal. Die Stabilitätsangabe einer ichtquelle wird bei deren Verwendung z.b. benötigt um Aussagen zum Einfluss im entsprechenden Messaufbau zu erhalten. Je nach Anwendung werden die eistungsstabilität S,P und die Wellenlängenstabilität S, unterschieden. So ergeben sich Hilfsmessgrößen, die je nach weiterer Verwendung des Messobjektes als Einfluss im Messaufbau berücksichtigt werden können. Ähnlich wie bei der Ausgangsleistung ist weniger der Absolutwert der Messung, sondern viel mehr die Einhaltung individueller Intervallgrenzen von Interesse. Ein vom Hersteller) spezifizierter Wert könnte beispielsweise als "Stabilität, 15 Minuten: 0,005 db" angegeben sein siehe auch Arbeitsanweisung AA017 und Addendum AA017-E1). Damit ergäbe sich das Akzeptanzkriterium für diese Überprüfung zu S,P 0,01 db. Copyright esz AG calibration & metrology 014. Jede Art auch auszugsweise) der Vervielfältigung, Ausdruck oder Weitergabe nur mit Genehmigung der esz AG calibration & metrology, Max-Planck-Str. 16, 8 Eichenau, Germany.

15 Die eistungs- oder Wellenlängenstabilität Stabilitätsintervall) einer optischen Quelle ergeben sich im spezifizierten Zeitintervall z.b. 1 h) aus den gemessenen Extremwerten max und min zu S max min Res Da die Extremwertmessungen und deren Unsicherheitsbeiträge bis auf die Auflöse- bzw. Rundungsabweichung Res bei einem kleinen Einfluss von dem Messwert überlagertem Rauschen voll korreliert sind, ist lediglich das Rundungsintervall von ±0,5 Digit niederwertigste Stelle der eige, z.b. 0,001 db, bei der eistungsanzeige und 0,001 nm bei der Wellenlänge) der Extremwertmessungen als Grenze einer Rechteckverteilung im Unsicherheitsbudget zu berücksichtigen. Für die Unsicherheit der Stabilitätsangaben für die eistung S,P bzw. der Wellenlänge S, gilt also U 0,001 db S 0, db, P 001 0,001 nm U, 001 S 0, nm XVIII.4. Prüfung der spektralen Halbwerts-)Breite Die spektrale Halbwertsbreite - db-bandbreite) ist ein Maß für die Schmal- oder Breitbandigkeit einer Quelle und ein häufig spezifiziertes eistungsmerkmal. Dabei sind grundsätzlich unterschiedliche Definitionen und Messmethoden möglich, die direkt am optischen Spektrumanalysator ADO AQ- 615A verwendet und ausgewertet werden können. Die universellste Methode, da sowohl für DFB- aser mehrere Spitzen) als auch für FP-aser Fabry Perot) oder EDs eine Spitze) einsetzbar, stellt die Einhüllendenmethode dar "envelope method" <EV>). Dabei werden im Falle mehrerer Spitzen Peaks) diese linear miteinander verbunden, um die korrespondierende Signalpegeldifferenz Schwellwert "Threshold value" TH1 = db) und deren Wellenlängen zu ermitteln. Die dazu gehörige Wellenlängendifferenz stellt das Ergebnis dar, das z.b. zur Konformitätsbewertung verwendet werden kann. Copyright esz AG calibration & metrology 014. Jede Art auch auszugsweise) der Vervielfältigung, Ausdruck oder Weitergabe nur mit Genehmigung der esz AG calibration & metrology, Max-Planck-Str. 16, 8 Eichenau, Germany.

16 Bild XVIII.4..1 Einhüllendenmethode verschiedener Signalspektren und Schwellwertinterpolation Copyright esz AG calibration & metrology 014. Jede Art auch auszugsweise) der Vervielfältigung, Ausdruck oder Weitergabe nur mit Genehmigung der esz AG calibration & metrology, Max-Planck-Str. 16, 8 Eichenau, Germany.

17 Das Modell dieser Messung kann angegeben werden zu W W db Res mit W gesuchte spektrale Breite der Quelle W db Res gemessene abgelesene) spektrale Breite am ormal Spektrumanalysator) im Modus Einhüllende <EV>) Einfluss der eistungsschwankungen des Messobjekts, typischerweise < 0,01 db. Der Einfluss ist dabei zwei Mal zu berücksichtigen, da die Halbwertsbreite aus Messung der - db Signalpegeldifferenz in beide Richtungen, also als Differenz der oberen und unteren Wellenlänge, gewonnen wird. Bei Messungen von Breiten W ergibt sich bei äherung mit linearer relativer Steilheit Steigung = 1, d.h. eine Änderung von 1 % auf der eistungsachse bewirkt eine Veränderung von ebenfalls 1 % auf der Wellenlängenachse) im - db-punkt a 0, 00 W Bei der Bestimmung der - db-werte spielt lediglich die inearitätsabweichung des Empfängers eine Rolle. Diese ist in jedem Fall 0,05 db bzw. 1, %. Da jedoch der Einfluss der icht-)inearität auf die Wellenlängenmessung das Ergebnis bestimmt muss anhand der tatsächlichen spektralen Breite der Quelle das dadurch entstehende Werteintervall a db wie oben abgeschätzt werden. Auch dieser Beitrag tritt wie oben genannt zwei Mal auf. Die Auflösung und inearität der Wellenlänge von 0,05 nm spielt bei der Messung kleiner spektraler Breiten eine wesentliche Rolle und kann daher nicht vernachlässigt werden. Tabellarisch ergibt sich Größe Schätzwert X i x i Halbbreite a Verteilung Unsicherheit ux i) Sensitivität c i 4 Unsicherheitsbeitrag u iy) W W 0 0,00 W Rechteck db 0 0,01 W Rechteck Res 0 0,05 nm Rechteck 0,00 W 0,01 W 0,05 nm 0,007 W 0,019 W 0,09 nm W Standardunsicherheit u W ) i1 c u y) i i 0,014 W Out+0,09 n m erweiterte Messunsicherheit k=) U W ) k u y) % W Out+0,06 nm 4 Y ci X i Copyright esz AG calibration & metrology 014. Jede Art auch auszugsweise) der Vervielfältigung, Ausdruck oder Weitergabe nur mit Genehmigung der esz AG calibration & metrology, Max-Planck-Str. 16, 8 Eichenau, Germany.

18 XVIII.4.4 Kalibrierung der Wellenlänge Die Zentralwellenlänge kann am optischen Wellenlängenmessgerät Burleigh WA-1100 "Wavemeter") oder optischen Spektrumanalysator ADO AQ-615A) kalibriert werden. Das Wellenlängenmessgerät ist am besten für schmalbandige Quellen sog. "continuous wave / CW" bzw. FP-aserquellen) geeignet, der Spektrumanalysator ermöglicht auch die Messung an zusammengesetzen Signalen mehrere Spitzen) oder "breiten" EDs. Dabei ist zu beachten dass die lediglich die Spitzenwellenlänge Peak) des Signals eindeutig bestimmbar ist, andere Angaben z.b. mittlere Wellenlänge "mean") erfordern die Angabe des Berechnungsalgorithmus, Schwellwerte oder Methode wie Mittelung aus der Einhüllenden ähnlich zu XVII.4.). Zum Anschluss an die Messgröße "änge" wird dazu das Wellenlängenmessgerät direkt rückgeführt, die Rückführung des Spektrumanalysators kann indirekt über die eigenen Quellen im Vergleich zum Wellenlängenmessgerät und einen Hee-aser als aturkonstante angeschlossen werden. Zusätzlich kann im Vergleich zu einer vorher oder gleichzeitig eingemessenen Quelle oder zum Hee-aser ein weiteres Wellenlängenmessgerät kalibriert werden. Das Kalibrierverfahren ist ein Direktmessverfahren basierend auf digitaler Zählmessung. XVIII Modellgleichung mit measured Cal Stab resolution measured Cal Stab resolution Zentralwellenlänge der Quelle gemessene Wellenlänge am ormal Wavemeter) Korrektion aufgrund der Abweichung z.b. durch die interne Referenz) des ormals Kalibrierunsicherheit des ormals zufälliger Einfluss der Triggerunsicherheit und Kurzeitstabilität unbekannte Rundungskorrektion bedingt durch die endliche Auflösung des Wavemeters Unsicherheitsbeiträge und Halbbreiten measured Die Wellenlängenessung am ormal erfolgt über ein ausreichendes Integrationsintervall von beispielsweise einer Sekunde Messzeit. Cal Stab resolution Die maximale Abweichung der eige interne Zeitbasis) des ormals wird dem Kalibrierschein entnommen. Für das Wavemeter ergibt sich diese zu maximal 1,5 pm als rechteckförmiges Unsicherheitsintervall. Für Wellenlängen unterhalb des kleinsten kalibrierten Wertes werden durch die Korrelation mit dem internen Referenzlaser Intervallgrenzen von pm angenommen. Für den Spektrumanalysator werden 0,5 nm spezifiziert. Die Unsicherheit der Kalibrierung ist dem Kalibrierschein des ormals, z.b. zu 0,7 pm für das Wavemeter entnehmbar ormalverteilung, k=). Die Wellenlängenstabilität der Quelle ist vom Messobjekt abhängig und kann separat gemessen werden s.u.). Der kleinste angebbare Wert ist etwa ±0,5 pm, der die Grenzen einer Rechteckverteilung darstellt. Die Instabilität des ormals selbst ist vernachlässigbar klein. Das maximale Rundungsintervall wird durch die niederwertigste Stelle zu ±0,5 Digit beschrieben. Im gezeigten Fall ergibt sich ±0,5 pm. Copyright esz AG calibration & metrology 014. Jede Art auch auszugsweise) der Vervielfältigung, Ausdruck oder Weitergabe nur mit Genehmigung der esz AG calibration & metrology, Max-Planck-Str. 16, 8 Eichenau, Germany.

19 Tabellarische Darstellung der Messunsicherheitsbilanz Beispiel für die Messung bei einer Einstellung von 850 nm am Wavemeter relative Unsicherheitsrechnung) Größe Schätzwert Halbbreite Verteilung X i x i measured 850,000 nm 0 pm Rechteck Cal 0 0,6 pm ormal Stab 0 0,5 pm Rechteck resolutio n a 0 0,5 pm Rechteck Unsicherheit ux i) pm 0,6 pm 0,5 pm 0,5 pm Sensitivität c i Unsicherheitsbeitrag u iy) 5 1 1,15 pm 1 0,0 pm 1 0,9 pm 1 0,9 pm 850,000 nm u ) c u ) 1,6 pm abs. erweiterte Messunsicherheit k=) U ) k u ),5 pm rel. erweiterte Messunsicherheit i1 i i W ) U )/, Analog ergibt sich für 1550 nm Größe X i Schätzwert x i Halbbreite a Verteilung measured 1550,000 nm 0 1,5 pm Rechteck Cal 0 0,6 pm ormal Stab 0 0,5 pm Rechteck resolutio n 0 0,5 pm Rechteck Unsicherheit ux i) 1,5 pm 0,6 pm 0,5 pm 0,5 pm Sensitivität c i Unsicherheitsbeitrag u iy) 1 0, ,0 pm 1 0,9 pm 1 0,9 pm 1550,000 nm u ) c u ) 1,00 pm abs. erweiterte Messunsicherheit k=) U ) k u ),0 pm rel. erweiterte Messunsicherheit i1 i i W ) U )/ 1, 10-6 Zusammengefasst lässt sich im Betriebsbereich angeben 700 nm bis <150 nm: U ) =,5 pm 150 nm bis 1700 nm: U ) = pm Für die Messung der Spitzenwellenlänge Peak) am Spektrumanalysator für Wellenlängen von 50 nm bis 1750 nm dominiert der Anteil der maximalen Messabweichung U ) 0, 5 nm 5 relative Beiträge werden mit w referenziert; absolute Beiträge mit u Copyright esz AG calibration & metrology 014. Jede Art auch auszugsweise) der Vervielfältigung, Ausdruck oder Weitergabe nur mit Genehmigung der esz AG calibration & metrology, Max-Planck-Str. 16, 8 Eichenau, Germany.

20 XVIII.5 Ergebnisse Die vollständigen Berechnungen aller Stützpunkte und Werte sind den mitgeltenden X Tabellen Messunsicherheiten Tabelle - XVIII W eistung.xls zu entnehmen. Copyright esz AG calibration & metrology 014. Jede Art auch auszugsweise) der Vervielfältigung, Ausdruck oder Weitergabe nur mit Genehmigung der esz AG calibration & metrology, Max-Planck-Str. 16, 8 Eichenau, Germany.