3ω Messung an dünnen Schichten Eine Unsicherheitsanalyse

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Transkript:

Bayerisches Zentrum für Angewandte Energieforschung e.v. 3ω Messung an dünnen Schichten Eine Unsicherheitsanalyse S. Rausch AK Thermophysik, Graz 2012

3ω METHODE - PRINZIP Messverfahren zur Bestimmung der Wärmeleitfähigkeit dünner Schichten / Schichtsysteme und Bulkmaterial Messprinzip: Aufbringen eines Heizleiters / Temperatursensors auf die Oberfläche der Probe Anregung mit einer Wechselspannung U(ω) (Frequenzbereich 1-20000Hz) Generation von Joulscher Wärme und damit einer Temperaturoszillation an der Oberfläche Detektion einer Wechselspannung mit dem dreifachen der Anregungsfrequenz U(3ω) U(3ω) - Spannung ist ein Maß für die thermischen Eigenschaften der Probe Aus U(3ω) Spannung wird die Temperaturoszillation T des Heizers berechnet Aus T wird über die Theorie der Wärmeleitung die Wärmeleitfähigkeit bestimmt

LÖSUNG DER WÄRMELEITUNGSGLEICHUNG Lösung für ein Mehrschichtsystem: T P = lπλ 2 1 sin ( 1 A 0 1B1 ( kb) kb) dk λ A j B j j tanh(φ j 1 ) λ A j 1 = j 1 B j 1 λ 1 A j B j j tanh(φ j 1 ) λ j 1 B j 1 2 Auswertung der Messung: Numerischer Fit der Lösung an die Messkurve Bekannte Eingangsgrößen: P: Leistung l: Heizleiterlänge b: Heizleiterbreite d: Schichtdicke B j = k 2 + i2ω a j 2 Fitparameter: λ: Wärmeleitfähigkeit a: Temperaturleitfähigkeit φ j = B j d j mit j = 1 n

3ω METHODE - AUSWERTUNG Beispiel einer 3ω Messung und Auswertung an Glas Messen U(3ω) Berechnen der Temperaturamplitude T Fit der exakten Lösung an die Messkurve λ: Wärmeleitfähigkeit a: Temperaturleitfähigkeit Frequenzabhängige thermische Eindringtiefe l th dient zur Abschätzung des bei der Messung direkt erfassbaren Bereiche der Probe

3ω METHODE AN DÜNNEN SCHICHTEN Betrachtetes System: Schicht auf Substrat Voraussetzung: Thermische Parameter Substrat bekannt / separat gemessen Wegen des technisch bedingten, eingeschränkten Frequenzbereichs bei der Messung kann die Schicht oft nur als thermischer Widerstand mitbestimmt werden: d f λ eff d f = λ f + R th λ eff : effektive Wärmeleitfähigkeit, Fitparameter λ f : Wärmeleitfähigkeit des Materials R th : Thermischer Übergangswiderstand d f : Schichtdicke R th muss bekannt sein / bestimmt werden umλ f zu ermitteln Alles Andere ist als Systemparamter bzw. effektive Wärmeleitfähigkeit zu betrachten

BEISPIEL: MESSUNG AN P3HT SCHICHTEN P3HT: organischer p-halbleiter für organische Photovoltaik Ergebnisse: R th = (1.54 ± 0.18) 10-7 m 2 KW -1 λ p3ht = (0.189 ± 0.023 )Wm -1 K -1 Vergleich Fitergebnisλ eff mit korrigierten Wert λ P3HT (d f = 90nm): Abweichung ~ 24% Rausch et. al., DOI: 10.1007_s10765-012-1174-4 Genaue Kenntnis des thermischen Übergangswiderstands wichtig

EINFLUSS DER EINGANGSGRÖßEN AUF DAS FITERGEBNIS Fragestellung: Welchen Einfluss haben die Unsicherheiten der Eingangsgrößen auf das Fitergebnis? Betrachtung für Heizleiterbreite b und Schichtdicke d f Schicht auf Substrat mit unterschiedlichen Materialsystemen und Schichtdicken Definiere Aspektverhältnisse für: Wärmeleitfähigkeit Λ λ λ2 = λ 1 Temperaturleitfähigkeit Λ a = a 2 a 1 Index: 1: Schicht 2: Substrat Vorgehen: Erstellen einer theoretischen Messkurve mit korrekten Parametern Fit mit variierten Eingangsgrößen

MATERIALKOMBINATIONEN / PARAMETER Schicht λ [Wm -1 K -1 ] a [mm 2 s -1 ] Substrat λ [Wm -1 K -1 ] a [mm 2 s -1 ] Λ λ Λ a Polymer 0.2 0.1 SiO 2 1.2 0.5 6 5 MgO 11.0 5.5 Silizium 148.0 78.0 13 14 Polymer 0.2 0.1 MgO 11.0 5.5 55 55 SiO 2 1.2 0.5 Silizium 148.0 78.0 123 148 Polymer 0.2 0.1 Silizium 148.0 78.0 740 780 Festgehaltene Parameter: P : 0,03W l : 0,01m Variierte Parameter: b : 60µm d f : 10µm (1µm, 300nm) Relative Unsicherheit: ± 20% ± 20%

VARIATION DER HEIZLEITERBREITE b Schichtdicke d f = 10µm Wärmeleitfähigkeit Temperaturleitfähigkeit

VARIATION DER HEIZLEITERBREITE b Schichtdicke d f = 1µm Wärmeleitfähigkeit Temperaturleitfähigkeit

VARIATION DER HEIZLEITERBREITE b Schichtdicke d f = 300nm Wärmeleitfähigkeit Temperaturleitfähigkeit

VARIATION DER SCHICHTDICKE d f Schichtdicke d f = 10µm Wärmeleitfähigkeit Temperaturleitfähigkeit

VARIATION DER SCHICHTDICKE d f Schichtdicke d f = 1µm Wärmeleitfähigkeit Temperaturleitfähigkeit

VARIATION DER SCHICHTDICKE d f Schichtdicke d f = 300nm Wärmeleitfähigkeit Temperaturleitfähigkeit

ZUSAMMENFASSUNG R th zur Bestimmung des Materialwerts λ von dünnen Schichten nötig Große Aspektverhältnisse sind bei Schichten < 1µm zu bevorzugen Fitergebnis (λ, a) reagiert sehr sensibel auf Unsicherheit in der Heizleiterbreite b Lineare Abhängigkeit (λ, a) von der Unsicherheit der Schichtdicke Sensitivitätsanalyse hilft die Unsicherheit des Fitergebnisses besser Einschätzen zu können

Kontakt: rausch@zae.uni-wuerzburg.de