Atomic Force Microscopy

Save this PDF as:
 WORD  PNG  TXT  JPG

Größe: px
Ab Seite anzeigen:

Download "Atomic Force Microscopy"

Transkript

1 1 Gruppe Nummer Peter Jaschke Gerd Meisl Atomic Force Microscopy Inhaltsverzeichnis 1. Einleitung Theorie Ergebnisse und Fazit... 4

2 2 1. Einleitung Die Atomic Force Microscopy ist ein Verfahren zur Untersuchung von Oberflächen auf molekularer Ebene. Sie gehört wie z.b. auch die Rastertunnelmikroskopie zum Bereich der Rastersondenmikroskopie. In diesem Versuch wurde eine Polymeroberfläche auf ihre Tauglichkeit als organische Solarzelle untersucht. 2. Theorie Die Atomic Force Microscopy Das Prinzip der AFM ist, dass eine dünnen Nadel (im Nanometerbereich) zeilenweise über eine Oberfläche bewegt wird. Die Nadel ist an einem Cantilever befestigt der wie eine Feder wirkt. Mit einem auf den Cantilever gerichteten Laser wird dessen, durch die anziehende oder abstoßende Wechselwirkung der Oberfläche mit der Nadel entstehende, Auslenkung gemessen. Wie daraus die Oberflächenbeschaffenheit gemessen wird, hängt vom verwendeten Modus ab: Contact Mode Bei dieser Methode hat die Messspitze direkten Kontakt mit der Probe, sie befindet sich schon im durch das Pauli-Prinzip entstehenden, abstoßenden Bereich des Oberflächenpotenzials. Vorteile sind eine hohe Geschwindigkeit, die beste Auflösung. Der Nachteil ist, dass weiche Proben wie Polymere zerstört werden können. Non Contact Mode In diesem Modus wird auf den Cantilever eine zusätzliche periodische Kraft ausgeübt, die ihn in Schwingung versetzt. Die Periode wird auf die Resonanzfrequenz des Canitlevers eingestellt. Durch die Wechselwirkung mit der Oberfläche ändert sich die Frequenz der Schwingung. Mit einem Piezoelement wird der Abstand der Probe so verändert, dass die Frequenz

3 3 konstant gehalten wird, die Größe dieser Nachregelung entspricht der Größe der Oberflächenstrukturen. Bei diesem Verfahren hat man die schlechteste Auflösung. Vorteil dieser Methode ist, dass die geringsten Kräfte auf die Probe wirken und auch weiche Proben nicht zerstört werden. Tapping Mode Hier schwingt die Spitze mit einer großen Amplitude über die Probe, so dass sie in den abstoßenden Potenzialbereich kommt. Die Oszillationsamplitude wird in ein Bild umgewandelt. In unserem Versuch, wurde das AFM im Non Contact Mode betrieben um die Polymere nicht zu beschädigen. Die Probe Bei der Probe handelt es sich um eine Polymeroberfläche. e. Sie wurde erzeugt indem eine Lösung aus Polyphenylenvinylen und Polyvinylkarbazol auf eine Siliziumscheibe gegeben wurde und dann durch spin coating daraus eine dünne Schicht (~ 100 nm) wurde. Die Probe soll als organische Solarzelle dienen. Bei Lichteinstrahlung werden in den Polymeren Elektron-Loch Paare (Exzitonen) gebildet. An den Grenzflächen zwischen den Polymeren besteht eine Potentialdifferenz, so dass das Paar getrennt werden kann, wenn es sich in der Nähe (~10 nm) der Grenzfläche befindet. Die Elektronen und Löcher können dann über Anode bzw. Kathode abgezogen und so Strom gewonnen werden. Der Wirkungsgrad der Solarzelle hängt deshalb stark von der größe der Strukturen auf der Probe ab. Funktionsweise einer organischen Solarzelle Bei den hier verwendeten Polymeren entsteht eine Inselstruktur, struktur, da sich die verschiedenen Polymersorten abstoßen.

4 4 3. Ergebnisse und Fazit Messungen Um ein optimales Ergebnis zu erhalten, können bei der Messung folgende Parameter angepasst werden: Size bestimmt die Größe des abgetasteten Quadrats. Rate ist die Frequenz, mit der die Oberfläche der Probe vom Cantilever in x- Richtung abgetastet wird. Bei höherer Scanrate entsteht das Bild schneller, dafür hat der Cantilever weniger Zeit sich an die Oberflächenstruktur anzupassen, was die Genauigkeit der Messung verringert. Set Point gibt den minimalen Abstand zwischen Probenoberfläche und Spitze an. Er fungiert als Kraftreferenz. Mit dem Gain lässt sich die Verstärkung des gemessenen Wertes regeln. Bei einer hohen Verstärkung steigt jedoch auch das Rauschen des Signals weshalb es von Vorteil ist den Gain so niedrig wie möglich zu halten. Der Drive-Wert bestimmt das Verhältnis zwischen Maximalausschlag und Schwingungsamplitude. Bei hoher Schwingungsamplitude gelangt die Spitze näher an die Probe. Bei unseren Messungen haben wir die Oberfläche der Probe bei verschiedenen Scangrößen aufgenommen. Size Rate Set Point Gain Drive 5 µm 0,2 Hz -0,0544 µm 0,106 34,79 % 2 µm 0,5 Hz -0,0544 µm 0,106 34,79 % 1 µm 1 Hz -0,0544 µm 0,106 34,79 % 0,5 µm 1 Hz -0,0544 µm 0,06 34,79 % 0,25 µm 1,5 Hz -0,0544 µm 0,021 34,79 % Nach der Messung wurde jedes Bild mit dem Programm Auto Probe geglättet (horizontal, vertikal und Zeile für Zeile) und durch einen Filter die hohen Frequenzen entfernt. Es wurde darauf geachtet über eine Funktion mit möglichst kleiner Ordnung zu glätten damit keine Strukturinformationen verloren gehen. Hohe Frequenzen kann man ohne Bedenken aus dem Bild entfernen, da man sie mit hoher Wahrscheinlichkeit dem Hintergrundrauschen oder sonstigen Störungen zuzuordnen sind.

5 5 Size 5 µm Size 2 µm Size 1 µm Size 0,5 µm Size 0,25 µm

6 6 Struktur Zur genaueren Bestimmung der Struktur wurden mit Hilfe von Auto Probe einzelne repräsentative stellen herausgegriffen und vermessen. Loch Abmessung (horizontal) Abmessung (vertikal) A 0,40 µm 0,38 µm B 0,33 µm 0,33 µm C 0,25 µm 0,25 µm D 0,29 µm 0,26 µm E 0,29 µm 0,37 µm Aus dem Bild erkennt man schon, dass es sich um eine Ebene mit Löchern handelt. Diese Struktur entsteht wenn die Lösung trocknet. Die Lösung teilt sich zuerst in Bereiche mit jeweils einem Polymer auf, da sich verschiedene Polymere abstoßen. Da die Konzentration eines Polymers größer als die des anderen ist, ergibt sich bei einer anfangs gleichen Flüssigkeitshöhe eine Struktur, in der die Bereiche mit dem niedriger konzentrierten Polymer Mulden bilden. Die regulären Mulden lieben ca. 34 A (Messwerte 34,8 A 38,7A 28,4A) tiefer als die Ebene. Die Breiten der Mulden sind also um einen Faktor 100 größer als die Höhenunterschiede. Die Verteilung der Mulden ist relativ gleichmäßig. Zusätzlich gibt es in unserer Messung eine große Menge Artefakte, die deutlich tiefer (ca. 100 A) sind. Da die Löcher (siehe Tabelle) und damit die Bereiche in dem nur ein Polymer vorhanden ist, um einen Faktor 10 breiter als die für die Trennung von Exzitonen notwendigen 10 nm sind, werden nur die wenigen Exzitonen, die in diesem kleinen Abstand von der Grenze der Strukturen entstehen in Strom umgewandelt und der Wirkungsgrad wäre schlecht.

7 7 Rauigkeit Die Unebenheit der Probenoberfläche wird durch das Verhältnis Peak Boden, die mittlere Rauigkeit und die mittlere quadratische Rauigkeit (RMS) charakterisiert. Sie wurde für alle Messungen über den gesamten Bereich, für den bei 0,5 µm gemessenen Bereich und für bei der 0,25µm Messung für den ebenen Bereich (siehe Anhang) ermittelt. Die Ergebnisse sind in en folgenden Tabellen aufgetragen: Größe des Messbereichs in µm RMS in A mittl. Rauigkeit in A p-v in A 5 34,2 24, ,4 25, ,6 18, ,5 27,8 21,1 276 Tabelle mit Rauigkeit über gesamten Bereich Wert aus Messung bei RMS in A mittl. Rauigkeit in A p-v in A 0,25 µm 8,93 6,70 50,3 Rauigkeit in ebenem Gebiet Wert aus Messung bei RMS in A mittl. Rauigkeit in A p-v in A 5 µm 28,3 19, µm 26,1 19, µm 21,1 15, ,5 µm 27,8 21,1 276 Rauigkeit des bei 0,25 µm gemessenen Bereiches in den größeren Messungen Man sieht, dass die Rauigkeit tendenziell mit der Bildgröße zunimmt, allerdings gibt es starke Schwankungen. Dies liegt wahrscheinlich an den Artefakten, die im Vergleich zur restlichen Oberfläche sehr rau sind und deshalb einen sehr großen Einfluss haben. Die Rauigkeit im ebenen Bereich eines Polymers ist im Bereich einiger Angstrom, also im Bereich der Polymergröße

8 8 Fazit Die Daten zeigen, dass das Polymergemisch keine gute Solarzelle abgibt. Die Strukturen sind zu groß und damit die Konktaktflächen zwischen den Polymeren zu klein um eine nennenswerten Anteil der Exzitonen ausnutzen zu können. 0,25 µm Gebiet, markiert ist das 1 µm Gebiet, markiert Ebene Gebiet ist der 0,5 µm Bereich 2 µm Gebiet, markiert ist der 5 µm Gebiet, markiert ist der 0,5 µm Bereich ist der 0,5 µm Bereich

Rastersonden-Mikroskopie (SPM)

Rastersonden-Mikroskopie (SPM) Rastersonden-Mikroskopie (SPM) Der Rastersonden-Mikroskopie (SPM) liegt eine geregelte rasternde Bewegung einer spitz zulaufenden Messsonde in unmittelbarer Nähe zur Probenoberfläche zugrunde. Die erhaltenen

Mehr

AFM Atomic-Force-Microscope K. Harnisch, R. Schenk

AFM Atomic-Force-Microscope K. Harnisch, R. Schenk AFM Atomic-Force-Microscope K. Harnisch, R. Schenk 1 Gliederung I. Einleitung I.Aufbau II.Messeinrichtung III.Cantilever IV.Spitzen I.Modi und deren Anwendung I.Contact-Modus II.Tapping-Modus III.Peak-Force-Tapping/

Mehr

Auflösungsvermögen von Mikroskopen

Auflösungsvermögen von Mikroskopen Auflösungsvermögen von Mikroskopen Menschliches Auge Lichtmikroskopie 0.2 µm Optisches Nahfeld Rasterelektronen mikroskopie Transmissions Elektronenmikroskopie Rastersonden mikroskopie 10 mm 1 mm 100 µm

Mehr

RASTER-KRAFT-MIKROSKOPIE (ATOMIC FORCE MICROSCOPY AFM)

RASTER-KRAFT-MIKROSKOPIE (ATOMIC FORCE MICROSCOPY AFM) RASTER-KRAFT-MIKROSKOPIE (ATOMIC FORCE MICROSCOPY AFM) Inhaltsverzeichnis 1. Motivation 2. Entwickler des AFM 3. Aufbau des AFM 3.1 Spitze und Cantilever 3.2 Mechanische Rasterung 3.3 Optische Detektion

Mehr

Praktikumsbericht. Gruppe 6: Daniela Poppinga, Jan Christoph Bernack, Isaac Paha. Betreuerin: Natalia Podlaszewski 28.

Praktikumsbericht. Gruppe 6: Daniela Poppinga, Jan Christoph Bernack, Isaac Paha. Betreuerin: Natalia Podlaszewski 28. Praktikumsbericht Gruppe 6: Daniela Poppinga, Jan Christoph Bernack, Isaac Paha Betreuerin: Natalia Podlaszewski 28. Oktober 2008 1 Inhaltsverzeichnis 1 Versuche mit dem Digital-Speicher-Oszilloskop 3

Mehr

Atomic Force Microscopy: Grundlagen Methoden - Anwendung

Atomic Force Microscopy: Grundlagen Methoden - Anwendung AFM - Inhalt Grundlagen Grundprinzip Komponenten Spitzenwahl Methoden Contact-mode Tapping-mode Spezielle Modi Artefakte Beispielhafte Anwendung Langmuir-Blodgett Schichten Verwendungshinweis: Die verwendeten

Mehr

Lissajous-Figuren Versuche mit dem Oszilloskop und dem X Y Schreiber

Lissajous-Figuren Versuche mit dem Oszilloskop und dem X Y Schreiber Protokoll VIII Lissajous-Figuren Versuche mit dem Oszilloskop und dem X Y Schreiber Datum: 10.12.2001 Projektgruppe 279 Tutorin: Grit Petschick Studenten: Mina Günther Berna Gezik Carola Nisse Michael

Mehr

DIE FILES DÜRFEN NUR FÜR DEN EIGENEN GEBRAUCH BENUTZT WERDEN. DAS COPYRIGHT LIEGT BEIM JEWEILIGEN AUTOR.

DIE FILES DÜRFEN NUR FÜR DEN EIGENEN GEBRAUCH BENUTZT WERDEN. DAS COPYRIGHT LIEGT BEIM JEWEILIGEN AUTOR. Weitere Files findest du auf www.semestra.ch/files DIE FILES DÜRFEN NUR FÜR DEN EIGENEN GEBRAUCH BENUTZT WERDEN. DAS COPYRIGHT LIEGT BEIM JEWEILIGEN AUTOR. Messung von c und e/m Autor: Noé Lutz Assistent:

Mehr

Rasterkraftmikroskopie

Rasterkraftmikroskopie Eine kleine Einführung in die Rasterkraftmikroskopie Ein Vortrag von Daniel C. Manocchio Ridnaun, Jan. 2001 Inhalt: Geschichte der Rastersondenmikroskopie Generelles Funktionsprinzip Topographie-Modi in

Mehr

Atomic Force Microscope (AFM)

Atomic Force Microscope (AFM) Materials Science & Technology Atomic Force Microscope (AFM) Workshop am 21. Juni 2006 Analytikmöglichkeiten von textilen Materialien und Oberflächen bis in den Nanometerbereich Jörn Lübben Atomare Kraftmikroskopie

Mehr

Verfahren der Mikrosystemtechnik zur Herstellung/Charakterisierung von Chemo- und Biosensoren

Verfahren der Mikrosystemtechnik zur Herstellung/Charakterisierung von Chemo- und Biosensoren Verfahren der Mikrosystemtechnik zur Herstellung/Charakterisierung von Chemo- und Biosensoren Teil 8: Analysemethoden zur Charakterisierung der Mikrosysteme II Dr. rer. nat. Maryam Weil Fachhochschule

Mehr

Fachhochschule Bielefeld Fachbereich Elektrotechnik. Versuchsbericht für das elektronische Praktikum. Praktikum Nr. 2. Thema: Widerstände und Dioden

Fachhochschule Bielefeld Fachbereich Elektrotechnik. Versuchsbericht für das elektronische Praktikum. Praktikum Nr. 2. Thema: Widerstände und Dioden Fachhochschule Bielefeld Fachbereich Elektrotechnik Versuchsbericht für das elektronische Praktikum Praktikum Nr. 2 Name: Pascal Hahulla Matrikelnr.: 207XXX Thema: Widerstände und Dioden Versuch durchgeführt

Mehr

Projekt 2HEA 2005/06 Formelzettel Elektrotechnik

Projekt 2HEA 2005/06 Formelzettel Elektrotechnik Projekt 2HEA 2005/06 Formelzettel Elektrotechnik Teilübung: Kondensator im Wechselspannunskreis Gruppenteilnehmer: Jakic, Topka Abgabedatum: 24.02.2006 Jakic, Topka Inhaltsverzeichnis 2HEA INHALTSVERZEICHNIS

Mehr

Praktikumsversuch Rastertunnelmikroskopie. Institut für Festkörperphysik Abteilung ATMOS

Praktikumsversuch Rastertunnelmikroskopie. Institut für Festkörperphysik Abteilung ATMOS Praktikumsversuch Rastertunnelmikroskopie Institut für Festkörperphysik Abteilung ATMOS Ansprechpartner E-Mail-Adresse: Christian Brand brand@fkp.uni-hannover.de Inhaltsverzeichnis 1 Theorie 1 1.1 Tunnelefekt..............................

Mehr

1. Theorie: Kondensator:

1. Theorie: Kondensator: 1. Theorie: Aufgabe des heutigen Versuchstages war es, die charakteristische Größe eines Kondensators (Kapazität C) und einer Spule (Induktivität L) zu bestimmen, indem man per Oszilloskop Spannung und

Mehr

Praktikum Physik. Protokoll zum Versuch 1: Viskosität. Durchgeführt am 26.01.2012. Gruppe X

Praktikum Physik. Protokoll zum Versuch 1: Viskosität. Durchgeführt am 26.01.2012. Gruppe X Praktikum Physik Protokoll zum Versuch 1: Viskosität Durchgeführt am 26.01.2012 Gruppe X Name 1 und Name 2 (abc.xyz@uni-ulm.de) (abc.xyz@uni-ulm.de) Betreuerin: Wir bestätigen hiermit, dass wir das Protokoll

Mehr

Physik & Musik. Stimmgabeln. 1 Auftrag

Physik & Musik. Stimmgabeln. 1 Auftrag Physik & Musik 5 Stimmgabeln 1 Auftrag Physik & Musik Stimmgabeln Seite 1 Stimmgabeln Bearbeitungszeit: 30 Minuten Sozialform: Einzel- oder Partnerarbeit Voraussetzung: Posten 1: "Wie funktioniert ein

Mehr

Rastertunnelmikroskop

Rastertunnelmikroskop Rastertunnelmikroskop Versuch Nr. 3 Ausarbeitung - Verbesserung - 19. November 2012 Ausgearbeitet von Martin Günther und Nils Braun Durchführung und Präparation Alle hier dargestellten Bilder wurden nach

Mehr

Atomkraftmikroskopie (AFM)

Atomkraftmikroskopie (AFM) Atomkraftmikroskopie (AFM) 1. Einleitung AFM (Atomic Force Microscopy auf Englisch) ist zur Zeit eine der am häufigsten verwendeten Oberflächenanalysemethoden. Diese Methode erlaubt die Untersuchungen

Mehr

Martin Raiber 21.02.07 Elektrolyse: Strom - Spannungskurven

Martin Raiber 21.02.07 Elektrolyse: Strom - Spannungskurven Martin Raiber 21.02.07 Elektrolyse: Strom - Spannungskurven Geräte: U-Rohr, verschiedene Platin-Elektroden (blank, platiniert), Graphit-Elektroden, spannungsstabilisierte Gleichspannungsquelle, CASSY-Spannungs/Stromstärkemessgerät

Mehr

F-Praktikum Physik: Photolumineszenz an Halbleiterheterostruktur

F-Praktikum Physik: Photolumineszenz an Halbleiterheterostruktur F-Praktikum Physik: Photolumineszenz an Halbleiterheterostruktur David Riemenschneider & Felix Spanier 31. Januar 2001 1 Inhaltsverzeichnis 1 Einleitung 3 2 Auswertung 3 2.1 Darstellung sämtlicher PL-Spektren................

Mehr

Schulversuchspraktikum WS2000/2001 Redl Günther 9655337. Elektromagnet. 7.Klasse

Schulversuchspraktikum WS2000/2001 Redl Günther 9655337. Elektromagnet. 7.Klasse Schulversuchspraktikum WS2000/2001 Redl Günther 9655337 Elektromagnet 7.Klasse Inhaltsverzeichnis: 1) Lernziele 2) Verwendete Quellen 3) Versuch nach Oersted 4) Magnetfeld eines stromdurchflossenen Leiter

Mehr

2.8 Grenzflächeneffekte

2.8 Grenzflächeneffekte - 86-2.8 Grenzflächeneffekte 2.8.1 Oberflächenspannung An Grenzflächen treten besondere Effekte auf, welche im Volumen nicht beobachtbar sind. Die molekulare Grundlage dafür sind Kohäsionskräfte, d.h.

Mehr

Praktikum Optische Technologien, Protokoll Versuch Absorptionsmessung

Praktikum Optische Technologien, Protokoll Versuch Absorptionsmessung Praktikum Optische Technologien, Protokoll Versuch Absorptionsmessung 09.0.204 Ort: Laserlabor der Fachhochschule Aachen Campus Jülich Inhaltsverzeichnis Einleitung 2 Fragen zur Vorbereitung 2 3 Geräteliste

Mehr

Comenius Schulprojekt The sun and the Danube. Versuch 1: Spannung U und Stom I in Abhängigkeit der Beleuchtungsstärke E U 0, I k = f ( E )

Comenius Schulprojekt The sun and the Danube. Versuch 1: Spannung U und Stom I in Abhängigkeit der Beleuchtungsstärke E U 0, I k = f ( E ) Blatt 2 von 12 Versuch 1: Spannung U und Stom I in Abhängigkeit der Beleuchtungsstärke E U 0, I k = f ( E ) Solar-Zellen bestehen prinzipiell aus zwei Schichten mit unterschiedlichem elektrischen Verhalten.

Mehr

Wärmeleitung und thermoelektrische Effekte Versuch P2-32

Wärmeleitung und thermoelektrische Effekte Versuch P2-32 Auswertung Wärmeleitung und thermoelektrische Effekte Versuch P2-32 Iris Conradi und Melanie Hauck Gruppe Mo-02 7. Juni 2011 Inhaltsverzeichnis Inhaltsverzeichnis 1 Wärmeleitfähigkeit 3 2 Peltier-Kühlblock

Mehr

*DE102007045860A120090409*

*DE102007045860A120090409* *DE102007045860A120090409* (19) Bundesrepublik Deutschland Deutsches Patent- und Markenamt (10) DE 10 2007 045 860 A1 2009.04.09 (12) Offenlegungsschrift (21) Aktenzeichen: 10 2007 045 860.8 (22) Anmeldetag:

Mehr

Frühjahr 2000, Thema 2, Der elektrische Widerstand

Frühjahr 2000, Thema 2, Der elektrische Widerstand Frühjahr 2000, Thema 2, Der elektrische Widerstand Referentin: Dorothee Abele Dozent: Dr. Thomas Wilhelm Datum: 01.02.2007 1) Stellen Sie ein schülergemäßes Modell für einen elektrisch leitenden bzw. nichtleitenden

Mehr

Versuch A02: Thermische Ausdehnung von Metallen

Versuch A02: Thermische Ausdehnung von Metallen Versuch A02: Thermische Ausdehnung von Metallen 13. März 2014 I Lernziele Wechselwirkungspotential im Festkörper Gitterschwingungen Ausdehnungskoezient II Physikalische Grundlagen Die thermische Längen-

Mehr

Modulationsanalyse. Amplitudenmodulation

Modulationsanalyse. Amplitudenmodulation 10/13 Die liefert Spektren der Einhüllenden von Teilbändern des analysierten Signals. Der Anwender kann damit Amplitudenmodulationen mit ihrer Frequenz, ihrer Stärke und ihrem zeitlichen Verlauf erkennen.

Mehr

Das Rastertunnelmikroskop

Das Rastertunnelmikroskop Das Rastertunnelmikroskop Die Nanostrukturforschung ist die Schlüsseltechnologie des 21. Jahrhunderts. Das Gebiet der Nanowissenschaften beinhaltet interessante Forschungsgebiete, die einen Teil ihrer

Mehr

Hauptseminar Autofokus

Hauptseminar Autofokus Hauptseminar Autofokus Hans Dichtl 30. Januar 2007 Wann ist ein Bild fokussiert? Wann ist ein Bild fokusiert? Welche mathematischen Modelle stehen uns zur Verfügung? Wie wird das elektronisch und mechanisch

Mehr

Übungsaufgaben zum 2. Versuch. Elektronik 1 - UT-Labor

Übungsaufgaben zum 2. Versuch. Elektronik 1 - UT-Labor Übungsaufgaben zum 2. Versuch Elektronik 1 - UT-Labor Bild 2: Bild 1: Bild 4: Bild 3: 1 Elektronik 1 - UT-Labor Übungsaufgaben zum 2. Versuch Bild 6: Bild 5: Bild 8: Bild 7: 2 Übungsaufgaben zum 2. Versuch

Mehr

Arbeitsblatt Einsatz eines LEGO -AFM-Modells im Unterricht

Arbeitsblatt Einsatz eines LEGO -AFM-Modells im Unterricht Bildungsplattform zur Mikro- und Nanotechnologie für Berufsfach- und Mittelschulen sowie Höhere Fachschulen Arbeitsblatt Einsatz eines LEGO -AFM-Modells im Unterricht Arbeitsunterlagen (Handout) für Lernende

Mehr

Grundlagen der Elektro-Proportionaltechnik

Grundlagen der Elektro-Proportionaltechnik Grundlagen der Elektro-Proportionaltechnik Totband Ventilverstärkung Hysterese Linearität Wiederholbarkeit Auflösung Sprungantwort Frequenzantwort - Bode Analyse Der Arbeitsbereich, in dem innerhalb von

Mehr

Bestimmung der Brennweite dünner Linsen mit Hilfe der Linsenformel Versuchsprotokoll

Bestimmung der Brennweite dünner Linsen mit Hilfe der Linsenformel Versuchsprotokoll Bestimmung der Brennweite dünner Linsen mit Hilfe der Linsenformel Tobias Krähling email: Homepage: 0.04.007 Version:. Inhaltsverzeichnis. Aufgabenstellung.....................................................

Mehr

c~åüüçåüëåüìäé==açêíãìåç= FB Informations- und Elektrotechnik FVT - GP Einführung: Blockschaltbild des Versuchsaufbau: Meßvorgang:

c~åüüçåüëåüìäé==açêíãìåç= FB Informations- und Elektrotechnik FVT - GP Einführung: Blockschaltbild des Versuchsaufbau: Meßvorgang: Einführung: In der ahrzeugindustrie werden sämtliche neu entwickelten oder auch nur modifizierten Bauteile und Systeme zum Beispiel ein Sensor oder eine Bordnetzelektronik auf ahrzeugtauglichkeit getestet.

Mehr

Physik III - Anfängerpraktikum- Versuch 302

Physik III - Anfängerpraktikum- Versuch 302 Physik III - Anfängerpraktikum- Versuch 302 Sebastian Rollke (103095) und Daniel Brenner (105292) 15. November 2004 Inhaltsverzeichnis 1 Theorie 2 1.1 Beschreibung spezieller Widerstandsmessbrücken...........

Mehr

Linienstrahler Prototyp

Linienstrahler Prototyp Linienstrahler Prototyp Inhalt Motivation... 2 Konzept... 2 Prototyp... 2 Messungen... Abstrahlverhalten horizontal... Abstrahlverhalten vertikal... 4 Stege... 5 Shading... 6 Nichtlineare Verzerrungen...

Mehr

Rastermethoden 1. Klaus Meerholz WS 2010/11. Raster. Reinzoomen

Rastermethoden 1. Klaus Meerholz WS 2010/11. Raster. Reinzoomen Rastermethoden / Bildgebende Verfahren Rastermethoden 1 Klaus Meerholz WS 2010/11 Sequentielle Datenerfassung: Parallele Datenerfassung: Rastern Scannen Abbilden Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 1 Klaus

Mehr

Gruppe: 1/8 Versuch: 4 PRAKTIKUM MESSTECHNIK VERSUCH 5. Operationsverstärker. Versuchsdatum: 22.11.2005. Teilnehmer:

Gruppe: 1/8 Versuch: 4 PRAKTIKUM MESSTECHNIK VERSUCH 5. Operationsverstärker. Versuchsdatum: 22.11.2005. Teilnehmer: Gruppe: 1/8 Versuch: 4 PRAKTIKUM MESSTECHNIK VERSUCH 5 Operationsverstärker Versuchsdatum: 22.11.2005 Teilnehmer: 1. Vorbereitung 1.1. Geräte zum Versuchsaufbau 1.1.1 Lawinendiode 1.1.2 Photomultiplier

Mehr

MFM Magnetic Force Microscopy Magnetische Rasterkraftmikroskopie

MFM Magnetic Force Microscopy Magnetische Rasterkraftmikroskopie MFM Magnetic Force Microscopy Magnetische Rasterkraftmikroskopie Inhaltverzeichnis 1. Aufgabenstellung, Erforderliche Kenntnisse und Literatur 2. AFM/SPM Grundlagen 3. MFM Grundlagen 4. Festplatten 5.

Mehr

EO - Oszilloskop Blockpraktikum Frühjahr 2005

EO - Oszilloskop Blockpraktikum Frühjahr 2005 EO - Oszilloskop, Blockpraktikum Frühjahr 25 28. März 25 EO - Oszilloskop Blockpraktikum Frühjahr 25 Alexander Seizinger, Tobias Müller Assistent René Rexer Tübingen, den 28. März 25 Einführung In diesem

Mehr

2 Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie

2 Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie 7 1 Einleitung Mit der Entwicklung des Rastertunnelmikroskops im Jahr 1982 durch Binnig und Rohrer [1], die 1986 mit dem Physik-Nobelpreis ausgezeichnet wurde, wurde eine neue Klasse von Mikroskopen zur

Mehr

Rasterkraftmikroskopie

Rasterkraftmikroskopie Rasterkraftmikroskopie Rasterkraft- und Rastersondenmikroskopie als Werkzeug für nanostrukturierte Festkörper Manfred Smolik, Inst.f. Materialphysik, Univ. Wien Überblick Historischer Abriß Rastersondenmikroskopie

Mehr

Rastersondenmikroskopie an molekularen Nanostrukturen

Rastersondenmikroskopie an molekularen Nanostrukturen Rastersondenmikroskopie an molekularen Nanostrukturen Michael Mannsberger, Institut für Materialphysik Rastersondenmikroskopische Methoden, die atomare Auflösung erlauben Vortrag 1: Dynamische Rasterkraftmikroskopie

Mehr

LED Beleuchtung - Fehlerbetrachtung bei der Beleuchtungsstärkemessung

LED Beleuchtung - Fehlerbetrachtung bei der Beleuchtungsstärkemessung LED Beleuchtung - Fehlerbetrachtung bei der Beleuchtungsstärkemessung Bei einem Beleuchtungsstärkemessgerät ist eines der wichtigsten Eigenschaften die Anpassung an die Augenempfindlichkeit V(λ). V(λ)

Mehr

Wie macht die Spitze ein Bild der Oberfläche?

Wie macht die Spitze ein Bild der Oberfläche? Wie macht die Spitze ein Bild der Oberfläche? Steuern und Regeln beim Tunnelmikroskop und Rasterkraftmikroskop Wie erzeugen das Tunnelmikroskop und das Rasterkraftmikroskop ein Bild der Oberfläche der

Mehr

Warum benutzt man verdrillte Leitungspaare in LANs und nicht Paare mit parallel geführten Leitungen?

Warum benutzt man verdrillte Leitungspaare in LANs und nicht Paare mit parallel geführten Leitungen? Warum benutzt man verdrillte Leitungspaare in LANs und nicht Paare mit parallel geführten Leitungen? Das kann man nur verstehen, wenn man weiß, was ein magnetisches Feld ist und was das Induktionsgesetz

Mehr

Versuch 6 Oszilloskop und Funktionsgenerator Seite 1. û heißt Scheitelwert oder Amplitude, w = 2pf heißt Kreisfrequenz und hat die Einheit 1/s.

Versuch 6 Oszilloskop und Funktionsgenerator Seite 1. û heißt Scheitelwert oder Amplitude, w = 2pf heißt Kreisfrequenz und hat die Einheit 1/s. Versuch 6 Oszilloskop und Funktionsgenerator Seite 1 Versuch 6: Oszilloskop und Funktionsgenerator Zweck des Versuchs: Umgang mit Oszilloskop und Funktionsgenerator; Einführung in Zusammenhänge Ausstattung

Mehr

Einzigartiges Analysegerät für Oberflächen

Einzigartiges Analysegerät für Oberflächen Medienmitteilung Dübendorf, St. Gallen, Thun, 22. August 2013 Aus zwei mach eins: 3D-NanoChemiscope Einzigartiges Analysegerät für Oberflächen Das 3D-NanoChemiscope ist ein Wunderwerk modernster Analysetechnik.

Mehr

AFM, Fortgeschrittenenpraktikum an der Universität Basel Maximilian Amsler und Markus Oberle, Dezember 2005. Atomic Force Microscope

AFM, Fortgeschrittenenpraktikum an der Universität Basel Maximilian Amsler und Markus Oberle, Dezember 2005. Atomic Force Microscope Atomic Force Microscope 1 Versuchsziel Ziel des Versuchs ist, sich mit dem Verfahren der Oberflächenabtastung des AFM vertraut zu machen. Dabei sollten 3-4 Proben gescannt und analysiert werden. Verschiedene

Mehr

auf, so erhält man folgendes Schaubild: Temperaturabhängigkeit eines Halbleiterwiderstands

auf, so erhält man folgendes Schaubild: Temperaturabhängigkeit eines Halbleiterwiderstands Auswertung zum Versuch Widerstandskennlinien und ihre Temperaturabhängigkeit Kirstin Hübner (1348630) Armin Burgmeier (1347488) Gruppe 15 2. Juni 2008 1 Temperaturabhängigkeit eines Halbleiterwiderstands

Mehr

Physikalisches Praktikum

Physikalisches Praktikum Physikalisches Praktikum Versuchsbericht M13 Schwingende Saite Dozent: Prof. Dr. Hans-Ilja Rückmann email: irueckm@uni-bremen.de http: // www. praktikum. physik. uni-bremen. de Betreuer: Yannik Schädler

Mehr

High Performance Liquid Chromatography

High Performance Liquid Chromatography Was ist? Was ist das Besondere? Aufbau Auswertung Möglichkeiten & Varianten der Zusammenfassung High Performance Liquid Chromatography () Systembiologie - Methodenseminar WS 08/09 FU Berlin 10. November

Mehr

Rasterkraftmikroskopie

Rasterkraftmikroskopie Fortgeschrittenenpraktikum der Physik Rasterkraftmikroskopie Versuch 29 Oliver Heinrich Tobias Meisch Gruppe: 717 Versuchstag: 03. Juli.2008 Abgabe:

Mehr

Einfluß von Wind bei Maximalfolgenmessungen

Einfluß von Wind bei Maximalfolgenmessungen 1 von 5 05.02.2010 11:10 Der Einfluß von Wind bei Maximalfolgenmessungen M. KOB, M. VORLÄNDER Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig 1 Einleitung Die Maximalfolgenmeßtechnik ist eine spezielle

Mehr

Anwendungen zum Elektromagnetismus

Anwendungen zum Elektromagnetismus Anwendungen zum Elektromagnetismus Fast alle Anwendungen des Elektromagnetismus nutzen zwei grundlegende Wirkungen aus. 1. Fließt durch eine Spule ein elektrischer Strom, so erzeugt diese ein Magnetfeld

Mehr

Physik & Musik. Wie funktioniert ein KO? 1 Auftrag

Physik & Musik. Wie funktioniert ein KO? 1 Auftrag Physik & Musik 1 Wie funktioniert ein KO? 1 Auftrag Physik & Musik Wie funktioniert ein KO? Seite 1 Wie funktioniert ein KO? Bearbeitungszeit: 30 Minuten Sozialform: Einzel- oder Partnerarbeit Einleitung

Mehr

Protokoll zum Versuch: Zugversuch

Protokoll zum Versuch: Zugversuch Protokoll zum Versuch: Zugversuch Fabian Schmid-Michels Nils Brüdigam Universität Bielefeld Wintersemester 2006/2007 Grundpraktikum I 18.01.2007 Inhaltsverzeichnis 1 Ziel 2 2 Theorie 2 3 Versuch 2 3.1

Mehr

1 mm 20mm ) =2.86 Damit ist NA = sin α = 0.05. α=arctan ( 1.22 633 nm 0.05. 1) Berechnung eines beugungslimitierten Flecks

1 mm 20mm ) =2.86 Damit ist NA = sin α = 0.05. α=arctan ( 1.22 633 nm 0.05. 1) Berechnung eines beugungslimitierten Flecks 1) Berechnung eines beugungslimitierten Flecks a) Berechnen Sie die Größe eines beugungslimitierten Flecks, der durch Fokussieren des Strahls eines He-Ne Lasers (633 nm) mit 2 mm Durchmesser entsteht.

Mehr

M4 Oberflächenspannung Protokoll

M4 Oberflächenspannung Protokoll Christian Müller Jan Philipp Dietrich M4 Oberflächenspannung Protokoll Versuch 1: Abreißmethode b) Messergebnisse Versuch 2: Steighöhenmethode b) Messergebnisse Versuch 3: Stalagmometer b) Messergebnisse

Mehr

Elektrische Einheiten und ihre Darstellung

Elektrische Einheiten und ihre Darstellung Die Messung einer physikalischer Größe durch ein Experiment bei dem letztlich elektrische Größen gemessen werden, ist weit verbreitet. Die hochpräzise Messung elektrischer Größen ist daher sehr wichtig.

Mehr

DE740-2M Motor-Generator-Einheit, Demo

DE740-2M Motor-Generator-Einheit, Demo DE740-2M Motor-Generator-Einheit, Demo Versuchsanleitung INHALTSVERZEICHNIS 1. Generator ELD MG 1.1 ELD MG 1.2 ELD MG 1.3 Die rotierende Spule Wechselstromgenerator Gleichstromgenerator 2. Motor ELD MG

Mehr

Filter zur frequenzselektiven Messung

Filter zur frequenzselektiven Messung Messtechnik-Praktikum 29. April 2008 Filter zur frequenzselektiven Messung Silvio Fuchs & Simon Stützer Augabenstellung. a) Bauen Sie die Schaltung eines RC-Hochpass (Abbildung 3.2, Seite 3) und eines

Mehr

2.6 Zweiter Hauptsatz der Thermodynamik

2.6 Zweiter Hauptsatz der Thermodynamik 2.6 Zweiter Hauptsatz der Thermodynamik Der zweite Hauptsatz der Thermodynamik ist ein Satz über die Eigenschaften von Maschinen die Wärmeenergie Q in mechanische Energie E verwandeln. Diese Maschinen

Mehr

MTV-Klausurvorbereitung, TFH Berlin, Cornelius Bradter

MTV-Klausurvorbereitung, TFH Berlin, Cornelius Bradter Modulation Die Modulation ist ein technischer Vorgang, bei dem ein oder mehrere Merkmale einer Trägerschwingung entsprechend dem Signal einer zu modulierenden Schwingung verändert werden. Mathematisch

Mehr

Magnetische Induktion

Magnetische Induktion Magnetische Induktion 5.3.2.10 In einer langen Spule wird ein Magnetfeld mit variabler Frequenz und veränderlicher Stärke erzeugt. Dünne Spulen werden in der langen Feldspule positioniert. Die dabei in

Mehr

DIE FILES DÜRFEN NUR FÜR DEN EIGENEN GEBRAUCH BENUTZT WERDEN. DAS COPYRIGHT LIEGT BEIM JEWEILIGEN AUTOR.

DIE FILES DÜRFEN NUR FÜR DEN EIGENEN GEBRAUCH BENUTZT WERDEN. DAS COPYRIGHT LIEGT BEIM JEWEILIGEN AUTOR. Weitere Files findest du auf www.semestra.ch/files DIE FILES DÜRFEN NUR FÜR DEN EIGENEN GEBRAUCH BENUTZT WERDEN. DAS COPYRIGHT LIEGT BEIM JEWEILIGEN AUTOR. Physiklabor 4 Michel Kaltenrieder 10. Februar

Mehr

1. Oszilloskop. Das Oszilloskop besitzt zwei Betriebsarten: Schaltsymbol Oszilloskop

1. Oszilloskop. Das Oszilloskop besitzt zwei Betriebsarten: Schaltsymbol Oszilloskop . Oszilloskop Grundlagen Ein Oszilloskop ist ein elektronisches Messmittel zur grafischen Darstellung von schnell veränderlichen elektrischen Signalen in einem kartesischen Koordinaten-System (X- Y- Darstellung)

Mehr

Ausdehnung des Nahfeldes nur durch Strukturgrösse limitiert

Ausdehnung des Nahfeldes nur durch Strukturgrösse limitiert 6.2.2 Streulicht- Nahfeldmikroskop Beleuchtung einer sub-wellenlängen grossen streuenden Struktur (Spitze) Streulicht hat Nahfeld-Komponenten Detektion im Fernfeld Vorteile: Ausdehnung des Nahfeldes nur

Mehr

Messtechnik. Gedächnisprotokoll Klausur 2012 24. März 2012. Es wurde die Kapazität von 10 Kondensatoren gleicher Bauart gemessen:

Messtechnik. Gedächnisprotokoll Klausur 2012 24. März 2012. Es wurde die Kapazität von 10 Kondensatoren gleicher Bauart gemessen: Messtechnik Gedächnisprotokoll Klausur 2012 24. März 2012 Dokument erstellt von: mailto:snooozer@gmx.de Aufgaben Es wurde die Kapazität von 10 Kondensatoren gleicher Bauart gemessen: Index k 1 2 3 4 5

Mehr

5.8.8 Michelson-Interferometer ******

5.8.8 Michelson-Interferometer ****** 5.8.8 ****** Motiation Ein wird mit Laser- bzw. mit Glühlampenlicht betrieben. Durch Verschieben eines der beiden Spiegel werden Intensitätsmaxima beobachtet. Experiment S 0 L S S G Abbildung : Aufsicht

Mehr

Protokoll zu Versuch E5: Messung kleiner Widerstände / Thermoelement

Protokoll zu Versuch E5: Messung kleiner Widerstände / Thermoelement Protokoll zu Versuch E5: Messung kleiner Widerstände / Thermoelement 1. Einleitung Die Wheatstonesche Brücke ist eine Brückenschaltung zur Bestimmung von Widerständen. Dabei wird der zu messende Widerstand

Mehr

h- Bestimmung mit LEDs

h- Bestimmung mit LEDs h- Bestimmung mit LEDs GFS im Fach Physik Nicolas Bellm 11. März - 12. März 2006 Der Inhalt dieses Dokuments steht unter der GNU-Lizenz für freie Dokumentation http://www.gnu.org/copyleft/fdl.html Inhaltsverzeichnis

Mehr

Infrarot Thermometer. Mit 12 Punkt Laserzielstrahl Art.-Nr. E220

Infrarot Thermometer. Mit 12 Punkt Laserzielstrahl Art.-Nr. E220 Infrarot Thermometer Mit 12 Punkt Laserzielstrahl Art.-Nr. E220 Achtung Mit dem Laser nicht auf Augen zielen. Auch nicht indirekt über reflektierende Flächen. Bei einem Temperaturwechsel, z.b. wenn Sie

Mehr

Der atmosphärische Luftdruck

Der atmosphärische Luftdruck Gasdruck Der Druck in einem eingeschlossenen Gas entsteht durch Stöße der Gasteilchen (Moleküle) untereinander und gegen die Gefäßwände. In einem Gefäß ist der Gasdruck an allen Stellen gleich groß und

Mehr

1.1 Auflösungsvermögen von Spektralapparaten

1.1 Auflösungsvermögen von Spektralapparaten Physikalisches Praktikum für Anfänger - Teil Gruppe Optik. Auflösungsvermögen von Spektralapparaten Einleitung - Motivation Die Untersuchung der Lichtemission bzw. Lichtabsorption von Molekülen und Atomen

Mehr

Analyse komplexer Proben mit multidimensionaler (Heart-Cut) GC-GCMS und LC-GCMS

Analyse komplexer Proben mit multidimensionaler (Heart-Cut) GC-GCMS und LC-GCMS Analyse komplexer Proben mit multidimensionaler (Heart-Cut) GC-GCMS und LC-GCMS Dr. Margit Geißler, Susanne Böhme Shimadzu Europa GmbH, Duisburg info@shimadzu.de www.shimadzu.de Das Problem von Co-Elutionen

Mehr

Repetitionsaufgaben Wurzelgleichungen

Repetitionsaufgaben Wurzelgleichungen Repetitionsaufgaben Wurzelgleichungen Inhaltsverzeichnis A) Vorbemerkungen B) Lernziele C) Theorie mit Aufgaben D) Aufgaben mit Musterlösungen 4 A) Vorbemerkungen Bitte beachten Sie: Bei Wurzelgleichungen

Mehr

14. Minimale Schichtdicken von PEEK und PPS im Schlauchreckprozeß und im Rheotensversuch

14. Minimale Schichtdicken von PEEK und PPS im Schlauchreckprozeß und im Rheotensversuch 14. Minimale Schichtdicken von PEEK und PPS im Schlauchreckprozeß und im Rheotensversuch Analog zu den Untersuchungen an LDPE in Kap. 6 war zu untersuchen, ob auch für die Hochtemperatur-Thermoplaste aus

Mehr

352 - Halbleiterdiode

352 - Halbleiterdiode 352 - Halbleiterdiode 1. Aufgaben 1.1 Nehmen Sie die Kennlinie einer Si- und einer Ge-Halbleiterdiode auf. 1.2 Untersuchen Sie die Gleichrichtungswirkung einer Si-Halbleiterdiode. 1.3 Glätten Sie die Spannung

Mehr

Versuch 3. Frequenzgang eines Verstärkers

Versuch 3. Frequenzgang eines Verstärkers Versuch 3 Frequenzgang eines Verstärkers 1. Grundlagen Ein Verstärker ist eine aktive Schaltung, mit der die Amplitude eines Signals vergößert werden kann. Man spricht hier von Verstärkung v und definiert

Mehr

Michelson-Interferometer & photoelektrischer Effekt

Michelson-Interferometer & photoelektrischer Effekt Michelson-Interferometer & photoelektrischer Effekt Branche: TP: Autoren: Klasse: Physik / Physique Michelson-Interferometer & photoelektrischer Effekt Cedric Rey David Schneider 2T Datum: 01.04.2008 &

Mehr

Wellen. 3.&6. November 2008. Alexander Bornikoel, Tewje Mehner, Veronika Wahl

Wellen. 3.&6. November 2008. Alexander Bornikoel, Tewje Mehner, Veronika Wahl 1 Übungen Seismik I: 3.&6. November 2008 1. Torsionswellenkette Die Torsionswellenkette ist ein oft verwendetes Modell zur Veranschaulichung der ausbreitung. Sie besteht aus zahlreichen hantelförmigen

Mehr

Messung elektrischer Größen Bestimmung von ohmschen Widerständen

Messung elektrischer Größen Bestimmung von ohmschen Widerständen Messtechnik-Praktikum 22.04.08 Messung elektrischer Größen Bestimmung von ohmschen Widerständen Silvio Fuchs & Simon Stützer 1 Augabenstellung 1. Bestimmen Sie die Größen von zwei ohmschen Widerständen

Mehr

Konfiguration der Messkanäle. Konfiguration der Zeitachse. Abb. 3: Konfigurationsmenü des Sensoreingangs A. Abb. 4: Messparameter Konfigurationsmenü

Konfiguration der Messkanäle. Konfiguration der Zeitachse. Abb. 3: Konfigurationsmenü des Sensoreingangs A. Abb. 4: Messparameter Konfigurationsmenü Anleitung zum Programm CASSY Lab für den Versuch E12 Starten Sie das Programm CASSY Lab durch Doppelklick auf das Icon auf dem Windows- Desktop. Es erscheint ein Fenster mit Lizensierungsinformationen,

Mehr

Spannungsstabilisierung

Spannungsstabilisierung Spannungsstabilisierung 28. Januar 2007 Oliver Sieber siebero@phys.ethz.ch 1 Inhaltsverzeichnis 1 Zusammenfassung 4 2 Einführung 4 3 Bau der DC-Spannungsquelle 5 3.1 Halbwellengleichrichter........................

Mehr

1. Kann Glas Elektrizität leiten?

1. Kann Glas Elektrizität leiten? Die Antworten sind auf den ersten Blick kinderleicht. Wenn Sie oder Ihre Kommilitonen verschiedene Antworten haben, dann fragen Sie mich. Schicken Sie mir bitte Ihre Fragen. alexander.akselrod@hs-bochum.de

Mehr

Der Bipolar-Transistor und die Emitterschaltung Gruppe B412

Der Bipolar-Transistor und die Emitterschaltung Gruppe B412 TECHNISCHE UNIVERSITÄT MÜNCHEN Der Bipolar-Transistor und die Emitterschaltung Gruppe B412 Patrick Christ und Daniel Biedermann 16.10.2009 1. INHALTSVERZEICHNIS 1. INHALTSVERZEICHNIS... 2 2. AUFGABE 1...

Mehr

PRAKTIKUM Experimentelle Prozeßanalyse 2. VERSUCH AS-PA-2 "Methoden der Modellbildung statischer Systeme" Teil 2 (für ausgewählte Masterstudiengänge)

PRAKTIKUM Experimentelle Prozeßanalyse 2. VERSUCH AS-PA-2 Methoden der Modellbildung statischer Systeme Teil 2 (für ausgewählte Masterstudiengänge) FACHGEBIET Systemanalyse PRAKTIKUM Experimentelle Prozeßanalyse 2 VERSUCH AS-PA-2 "Methoden der Modellbildung statischer Systeme" Teil 2 (für ausgewählte Masterstudiengänge) Verantw. Hochschullehrer: Prof.

Mehr

Vordiplomsklausur Physik

Vordiplomsklausur Physik Institut für Physik und Physikalische Technologien der TU-Clausthal; Prof. Dr. W. Schade Vordiplomsklausur Physik 14.Februar 2006, 9:00-11:00 Uhr für den Studiengang: Maschinenbau intensiv (bitte deutlich

Mehr

Übung 5 : G = Wärmeflussdichte [Watt/m 2 ] c = spezifische Wärmekapazität k = Wärmeleitfähigkeit = *p*c = Wärmediffusität

Übung 5 : G = Wärmeflussdichte [Watt/m 2 ] c = spezifische Wärmekapazität k = Wärmeleitfähigkeit = *p*c = Wärmediffusität Übung 5 : Theorie : In einem Boden finden immer Temperaturausgleichsprozesse statt. Der Wärmestrom läßt sich in eine vertikale und horizontale Komponente einteilen. Wir betrachten hier den Wärmestrom in

Mehr

Elektrische Filter Erzwungene elektrische Schwingungen

Elektrische Filter Erzwungene elektrische Schwingungen CMT-38-1 Elektrische Filter Erzwungene elektrische Schwingungen 1 Vorbereitung Wechselstromwiderstände (Lit.: GERTHSEN) Schwingkreise (Lit.: GERTHSEN) Erzwungene Schwingungen (Lit.: HAMMER) Hochpass, Tiefpass,

Mehr

Alle Spannungsumwandler, die wir liefern, wandeln nur die Spannung um und nicht die Frequenz.

Alle Spannungsumwandler, die wir liefern, wandeln nur die Spannung um und nicht die Frequenz. SPANNUNGSUMWANDLER Fragen, die uns häufig gestellt werden Wandeln Spannungsumwandler auch die Frequenz um? -NEIN - Alle Spannungsumwandler, die wir liefern, wandeln nur die Spannung um und nicht die Frequenz.

Mehr

Praktikum. Anzeigetechnik. Gruppe: 2. - Wallerath - Kleinstück - Spenst - Balyot. Touch-Panel. bei Prof. Dr. Schwedes

Praktikum. Anzeigetechnik. Gruppe: 2. - Wallerath - Kleinstück - Spenst - Balyot. Touch-Panel. bei Prof. Dr. Schwedes Praktikum Anzeigetechnik bei Prof. Dr. Schwedes Gruppe: 2 Teilnehmer: - Küster - Wallerath - Kleinstück - Spenst - Balyot Funktionsweise eines analog resistiven Touchscreen Abb.: mechanischer Aufbau des

Mehr

Versuchsvorbereitung: P1-42, 44: Lichtgeschwindigkeitsmessung

Versuchsvorbereitung: P1-42, 44: Lichtgeschwindigkeitsmessung Praktikum Klassische Physik I Versuchsvorbereitung: P1-42, 44: Lichtgeschwindigkeitsmessung Christian Buntin Gruppe Mo-11 Karlsruhe, 30. November 2009 Inhaltsverzeichnis 1 Drehspiegelmethode 2 1.1 Vorbereitung...............................

Mehr

4 Kondensatoren und Widerstände

4 Kondensatoren und Widerstände 4 Kondensatoren und Widerstände 4. Ziel des Versuchs In diesem Praktikumsteil sollen die Wirkungsweise und die Frequenzabhängigkeit von Kondensatoren im Wechselstromkreis untersucht und verstanden werden.

Mehr

IGS Enkenbach-Alsenborn MINT Abend 22. Mai 2015. Multicopter, Roboter und Co.

IGS Enkenbach-Alsenborn MINT Abend 22. Mai 2015. Multicopter, Roboter und Co. IGS Enkenbach-Alsenborn MINT Abend 22. Mai 2015 Multicopter, Roboter und Co. Prof. Dr.-Ing. Gerd Bitsch Hochschule Kaiserslautern (und Fraunhofer ITWM) www.hs-kl.de Inhalt Wie funktioniert ein Quadro-

Mehr

Physikalische Analytik

Physikalische Analytik Labor im Lehrfach Physikalische Analytik Studiengang Applied Life Sciences Versuch IR-Spektroskopie Standort Zweibrücken Gruppe: Teilnehmer: Verfasser: Semester: Versuchsdatum: Bemerkungen: Inhalt 1. Einführung

Mehr