Atomic Force Microscopy

Save this PDF as:
 WORD  PNG  TXT  JPG

Größe: px
Ab Seite anzeigen:

Download "Atomic Force Microscopy"

Transkript

1 1 Gruppe Nummer Peter Jaschke Gerd Meisl Atomic Force Microscopy Inhaltsverzeichnis 1. Einleitung Theorie Ergebnisse und Fazit... 4

2 2 1. Einleitung Die Atomic Force Microscopy ist ein Verfahren zur Untersuchung von Oberflächen auf molekularer Ebene. Sie gehört wie z.b. auch die Rastertunnelmikroskopie zum Bereich der Rastersondenmikroskopie. In diesem Versuch wurde eine Polymeroberfläche auf ihre Tauglichkeit als organische Solarzelle untersucht. 2. Theorie Die Atomic Force Microscopy Das Prinzip der AFM ist, dass eine dünnen Nadel (im Nanometerbereich) zeilenweise über eine Oberfläche bewegt wird. Die Nadel ist an einem Cantilever befestigt der wie eine Feder wirkt. Mit einem auf den Cantilever gerichteten Laser wird dessen, durch die anziehende oder abstoßende Wechselwirkung der Oberfläche mit der Nadel entstehende, Auslenkung gemessen. Wie daraus die Oberflächenbeschaffenheit gemessen wird, hängt vom verwendeten Modus ab: Contact Mode Bei dieser Methode hat die Messspitze direkten Kontakt mit der Probe, sie befindet sich schon im durch das Pauli-Prinzip entstehenden, abstoßenden Bereich des Oberflächenpotenzials. Vorteile sind eine hohe Geschwindigkeit, die beste Auflösung. Der Nachteil ist, dass weiche Proben wie Polymere zerstört werden können. Non Contact Mode In diesem Modus wird auf den Cantilever eine zusätzliche periodische Kraft ausgeübt, die ihn in Schwingung versetzt. Die Periode wird auf die Resonanzfrequenz des Canitlevers eingestellt. Durch die Wechselwirkung mit der Oberfläche ändert sich die Frequenz der Schwingung. Mit einem Piezoelement wird der Abstand der Probe so verändert, dass die Frequenz

3 3 konstant gehalten wird, die Größe dieser Nachregelung entspricht der Größe der Oberflächenstrukturen. Bei diesem Verfahren hat man die schlechteste Auflösung. Vorteil dieser Methode ist, dass die geringsten Kräfte auf die Probe wirken und auch weiche Proben nicht zerstört werden. Tapping Mode Hier schwingt die Spitze mit einer großen Amplitude über die Probe, so dass sie in den abstoßenden Potenzialbereich kommt. Die Oszillationsamplitude wird in ein Bild umgewandelt. In unserem Versuch, wurde das AFM im Non Contact Mode betrieben um die Polymere nicht zu beschädigen. Die Probe Bei der Probe handelt es sich um eine Polymeroberfläche. e. Sie wurde erzeugt indem eine Lösung aus Polyphenylenvinylen und Polyvinylkarbazol auf eine Siliziumscheibe gegeben wurde und dann durch spin coating daraus eine dünne Schicht (~ 100 nm) wurde. Die Probe soll als organische Solarzelle dienen. Bei Lichteinstrahlung werden in den Polymeren Elektron-Loch Paare (Exzitonen) gebildet. An den Grenzflächen zwischen den Polymeren besteht eine Potentialdifferenz, so dass das Paar getrennt werden kann, wenn es sich in der Nähe (~10 nm) der Grenzfläche befindet. Die Elektronen und Löcher können dann über Anode bzw. Kathode abgezogen und so Strom gewonnen werden. Der Wirkungsgrad der Solarzelle hängt deshalb stark von der größe der Strukturen auf der Probe ab. Funktionsweise einer organischen Solarzelle Bei den hier verwendeten Polymeren entsteht eine Inselstruktur, struktur, da sich die verschiedenen Polymersorten abstoßen.

4 4 3. Ergebnisse und Fazit Messungen Um ein optimales Ergebnis zu erhalten, können bei der Messung folgende Parameter angepasst werden: Size bestimmt die Größe des abgetasteten Quadrats. Rate ist die Frequenz, mit der die Oberfläche der Probe vom Cantilever in x- Richtung abgetastet wird. Bei höherer Scanrate entsteht das Bild schneller, dafür hat der Cantilever weniger Zeit sich an die Oberflächenstruktur anzupassen, was die Genauigkeit der Messung verringert. Set Point gibt den minimalen Abstand zwischen Probenoberfläche und Spitze an. Er fungiert als Kraftreferenz. Mit dem Gain lässt sich die Verstärkung des gemessenen Wertes regeln. Bei einer hohen Verstärkung steigt jedoch auch das Rauschen des Signals weshalb es von Vorteil ist den Gain so niedrig wie möglich zu halten. Der Drive-Wert bestimmt das Verhältnis zwischen Maximalausschlag und Schwingungsamplitude. Bei hoher Schwingungsamplitude gelangt die Spitze näher an die Probe. Bei unseren Messungen haben wir die Oberfläche der Probe bei verschiedenen Scangrößen aufgenommen. Size Rate Set Point Gain Drive 5 µm 0,2 Hz -0,0544 µm 0,106 34,79 % 2 µm 0,5 Hz -0,0544 µm 0,106 34,79 % 1 µm 1 Hz -0,0544 µm 0,106 34,79 % 0,5 µm 1 Hz -0,0544 µm 0,06 34,79 % 0,25 µm 1,5 Hz -0,0544 µm 0,021 34,79 % Nach der Messung wurde jedes Bild mit dem Programm Auto Probe geglättet (horizontal, vertikal und Zeile für Zeile) und durch einen Filter die hohen Frequenzen entfernt. Es wurde darauf geachtet über eine Funktion mit möglichst kleiner Ordnung zu glätten damit keine Strukturinformationen verloren gehen. Hohe Frequenzen kann man ohne Bedenken aus dem Bild entfernen, da man sie mit hoher Wahrscheinlichkeit dem Hintergrundrauschen oder sonstigen Störungen zuzuordnen sind.

5 5 Size 5 µm Size 2 µm Size 1 µm Size 0,5 µm Size 0,25 µm

6 6 Struktur Zur genaueren Bestimmung der Struktur wurden mit Hilfe von Auto Probe einzelne repräsentative stellen herausgegriffen und vermessen. Loch Abmessung (horizontal) Abmessung (vertikal) A 0,40 µm 0,38 µm B 0,33 µm 0,33 µm C 0,25 µm 0,25 µm D 0,29 µm 0,26 µm E 0,29 µm 0,37 µm Aus dem Bild erkennt man schon, dass es sich um eine Ebene mit Löchern handelt. Diese Struktur entsteht wenn die Lösung trocknet. Die Lösung teilt sich zuerst in Bereiche mit jeweils einem Polymer auf, da sich verschiedene Polymere abstoßen. Da die Konzentration eines Polymers größer als die des anderen ist, ergibt sich bei einer anfangs gleichen Flüssigkeitshöhe eine Struktur, in der die Bereiche mit dem niedriger konzentrierten Polymer Mulden bilden. Die regulären Mulden lieben ca. 34 A (Messwerte 34,8 A 38,7A 28,4A) tiefer als die Ebene. Die Breiten der Mulden sind also um einen Faktor 100 größer als die Höhenunterschiede. Die Verteilung der Mulden ist relativ gleichmäßig. Zusätzlich gibt es in unserer Messung eine große Menge Artefakte, die deutlich tiefer (ca. 100 A) sind. Da die Löcher (siehe Tabelle) und damit die Bereiche in dem nur ein Polymer vorhanden ist, um einen Faktor 10 breiter als die für die Trennung von Exzitonen notwendigen 10 nm sind, werden nur die wenigen Exzitonen, die in diesem kleinen Abstand von der Grenze der Strukturen entstehen in Strom umgewandelt und der Wirkungsgrad wäre schlecht.

7 7 Rauigkeit Die Unebenheit der Probenoberfläche wird durch das Verhältnis Peak Boden, die mittlere Rauigkeit und die mittlere quadratische Rauigkeit (RMS) charakterisiert. Sie wurde für alle Messungen über den gesamten Bereich, für den bei 0,5 µm gemessenen Bereich und für bei der 0,25µm Messung für den ebenen Bereich (siehe Anhang) ermittelt. Die Ergebnisse sind in en folgenden Tabellen aufgetragen: Größe des Messbereichs in µm RMS in A mittl. Rauigkeit in A p-v in A 5 34,2 24, ,4 25, ,6 18, ,5 27,8 21,1 276 Tabelle mit Rauigkeit über gesamten Bereich Wert aus Messung bei RMS in A mittl. Rauigkeit in A p-v in A 0,25 µm 8,93 6,70 50,3 Rauigkeit in ebenem Gebiet Wert aus Messung bei RMS in A mittl. Rauigkeit in A p-v in A 5 µm 28,3 19, µm 26,1 19, µm 21,1 15, ,5 µm 27,8 21,1 276 Rauigkeit des bei 0,25 µm gemessenen Bereiches in den größeren Messungen Man sieht, dass die Rauigkeit tendenziell mit der Bildgröße zunimmt, allerdings gibt es starke Schwankungen. Dies liegt wahrscheinlich an den Artefakten, die im Vergleich zur restlichen Oberfläche sehr rau sind und deshalb einen sehr großen Einfluss haben. Die Rauigkeit im ebenen Bereich eines Polymers ist im Bereich einiger Angstrom, also im Bereich der Polymergröße

8 8 Fazit Die Daten zeigen, dass das Polymergemisch keine gute Solarzelle abgibt. Die Strukturen sind zu groß und damit die Konktaktflächen zwischen den Polymeren zu klein um eine nennenswerten Anteil der Exzitonen ausnutzen zu können. 0,25 µm Gebiet, markiert ist das 1 µm Gebiet, markiert Ebene Gebiet ist der 0,5 µm Bereich 2 µm Gebiet, markiert ist der 5 µm Gebiet, markiert ist der 0,5 µm Bereich ist der 0,5 µm Bereich

Rastersonden-Mikroskopie (SPM)

Rastersonden-Mikroskopie (SPM) Rastersonden-Mikroskopie (SPM) Der Rastersonden-Mikroskopie (SPM) liegt eine geregelte rasternde Bewegung einer spitz zulaufenden Messsonde in unmittelbarer Nähe zur Probenoberfläche zugrunde. Die erhaltenen

Mehr

AFM Atomic-Force-Microscope K. Harnisch, R. Schenk

AFM Atomic-Force-Microscope K. Harnisch, R. Schenk AFM Atomic-Force-Microscope K. Harnisch, R. Schenk 1 Gliederung I. Einleitung I.Aufbau II.Messeinrichtung III.Cantilever IV.Spitzen I.Modi und deren Anwendung I.Contact-Modus II.Tapping-Modus III.Peak-Force-Tapping/

Mehr

Auflösungsvermögen von Mikroskopen

Auflösungsvermögen von Mikroskopen Auflösungsvermögen von Mikroskopen Menschliches Auge Lichtmikroskopie 0.2 µm Optisches Nahfeld Rasterelektronen mikroskopie Transmissions Elektronenmikroskopie Rastersonden mikroskopie 10 mm 1 mm 100 µm

Mehr

Atomic Force Microscopy: Grundlagen Methoden - Anwendung

Atomic Force Microscopy: Grundlagen Methoden - Anwendung AFM - Inhalt Grundlagen Grundprinzip Komponenten Spitzenwahl Methoden Contact-mode Tapping-mode Spezielle Modi Artefakte Beispielhafte Anwendung Langmuir-Blodgett Schichten Verwendungshinweis: Die verwendeten

Mehr

RASTER-KRAFT-MIKROSKOPIE (ATOMIC FORCE MICROSCOPY AFM)

RASTER-KRAFT-MIKROSKOPIE (ATOMIC FORCE MICROSCOPY AFM) RASTER-KRAFT-MIKROSKOPIE (ATOMIC FORCE MICROSCOPY AFM) Inhaltsverzeichnis 1. Motivation 2. Entwickler des AFM 3. Aufbau des AFM 3.1 Spitze und Cantilever 3.2 Mechanische Rasterung 3.3 Optische Detektion

Mehr

Rasterkraftmikroskopie

Rasterkraftmikroskopie Eine kleine Einführung in die Rasterkraftmikroskopie Ein Vortrag von Daniel C. Manocchio Ridnaun, Jan. 2001 Inhalt: Geschichte der Rastersondenmikroskopie Generelles Funktionsprinzip Topographie-Modi in

Mehr

Atomic Force Microscope (AFM)

Atomic Force Microscope (AFM) Materials Science & Technology Atomic Force Microscope (AFM) Workshop am 21. Juni 2006 Analytikmöglichkeiten von textilen Materialien und Oberflächen bis in den Nanometerbereich Jörn Lübben Atomare Kraftmikroskopie

Mehr

Rastersondenmikroskopie an molekularen Nanostrukturen

Rastersondenmikroskopie an molekularen Nanostrukturen Rastersondenmikroskopie an molekularen Nanostrukturen Michael Mannsberger, Institut für Materialphysik Rastersondenmikroskopische Methoden, die atomare Auflösung erlauben Vortrag 1: Dynamische Rasterkraftmikroskopie

Mehr

*DE102007045860A120090409*

*DE102007045860A120090409* *DE102007045860A120090409* (19) Bundesrepublik Deutschland Deutsches Patent- und Markenamt (10) DE 10 2007 045 860 A1 2009.04.09 (12) Offenlegungsschrift (21) Aktenzeichen: 10 2007 045 860.8 (22) Anmeldetag:

Mehr

Atomkraftmikroskopie (AFM)

Atomkraftmikroskopie (AFM) Atomkraftmikroskopie (AFM) 1. Einleitung AFM (Atomic Force Microscopy auf Englisch) ist zur Zeit eine der am häufigsten verwendeten Oberflächenanalysemethoden. Diese Methode erlaubt die Untersuchungen

Mehr

Arbeitsblatt Einsatz eines LEGO -AFM-Modells im Unterricht

Arbeitsblatt Einsatz eines LEGO -AFM-Modells im Unterricht Bildungsplattform zur Mikro- und Nanotechnologie für Berufsfach- und Mittelschulen sowie Höhere Fachschulen Arbeitsblatt Einsatz eines LEGO -AFM-Modells im Unterricht Arbeitsunterlagen (Handout) für Lernende

Mehr

Praktikumsversuch Rastertunnelmikroskopie. Institut für Festkörperphysik Abteilung ATMOS

Praktikumsversuch Rastertunnelmikroskopie. Institut für Festkörperphysik Abteilung ATMOS Praktikumsversuch Rastertunnelmikroskopie Institut für Festkörperphysik Abteilung ATMOS Ansprechpartner E-Mail-Adresse: Christian Brand brand@fkp.uni-hannover.de Inhaltsverzeichnis 1 Theorie 1 1.1 Tunnelefekt..............................

Mehr

Praktikumsbericht. Gruppe 6: Daniela Poppinga, Jan Christoph Bernack, Isaac Paha. Betreuerin: Natalia Podlaszewski 28.

Praktikumsbericht. Gruppe 6: Daniela Poppinga, Jan Christoph Bernack, Isaac Paha. Betreuerin: Natalia Podlaszewski 28. Praktikumsbericht Gruppe 6: Daniela Poppinga, Jan Christoph Bernack, Isaac Paha Betreuerin: Natalia Podlaszewski 28. Oktober 2008 1 Inhaltsverzeichnis 1 Versuche mit dem Digital-Speicher-Oszilloskop 3

Mehr

Rasterkraftmikroskopie

Rasterkraftmikroskopie Rasterkraftmikroskopie Rasterkraft- und Rastersondenmikroskopie als Werkzeug für nanostrukturierte Festkörper Manfred Smolik, Inst.f. Materialphysik, Univ. Wien Überblick Historischer Abriß Rastersondenmikroskopie

Mehr

Das Rastertunnelmikroskop

Das Rastertunnelmikroskop Das Rastertunnelmikroskop 1 engl.: scanning tunneling microscope (kurz: STM) Nobelpreis für Physik 1986 Heinrich Rohrer Gerd Binnig Grundlagen STM 2 Das 1981 entwickelte Rastertunnelmikroskop (kurz: RTM)

Mehr

MFM Magnetic Force Microscopy Magnetische Rasterkraftmikroskopie

MFM Magnetic Force Microscopy Magnetische Rasterkraftmikroskopie MFM Magnetic Force Microscopy Magnetische Rasterkraftmikroskopie Inhaltverzeichnis 1. Aufgabenstellung, Erforderliche Kenntnisse und Literatur 2. AFM/SPM Grundlagen 3. MFM Grundlagen 4. Festplatten 5.

Mehr

Rastermethoden 1. Klaus Meerholz WS 2010/11. Raster. Reinzoomen

Rastermethoden 1. Klaus Meerholz WS 2010/11. Raster. Reinzoomen Rastermethoden / Bildgebende Verfahren Rastermethoden 1 Klaus Meerholz WS 2010/11 Sequentielle Datenerfassung: Parallele Datenerfassung: Rastern Scannen Abbilden Klaus Meer holz, Raster m ethoden 1 1 Klaus

Mehr

Rasterkraftmikroskop (AFM)

Rasterkraftmikroskop (AFM) Physikalisches Institut der Universität Bayreuth PHYSIKALISCHES PRAKTIKUM FÜR FORTGESCHRITTENE Rasterkraftmikroskop (AFM) F. Schwaiger, W. Richter Version 9-2010 2 Inhaltsverzeichnis Seite 1 Einführung

Mehr

Rasterkraftmikroskopie

Rasterkraftmikroskopie Fortgeschrittenenpraktikum der Physik Rasterkraftmikroskopie Versuch 29 Oliver Heinrich Tobias Meisch Gruppe: 717 Versuchstag: 03. Juli.2008 Abgabe:

Mehr

Wie macht die Spitze ein Bild der Oberfläche?

Wie macht die Spitze ein Bild der Oberfläche? Wie macht die Spitze ein Bild der Oberfläche? Steuern und Regeln beim Tunnelmikroskop und Rasterkraftmikroskop Wie erzeugen das Tunnelmikroskop und das Rasterkraftmikroskop ein Bild der Oberfläche der

Mehr

Verfahren der Mikrosystemtechnik zur Herstellung/Charakterisierung von Chemo- und Biosensoren

Verfahren der Mikrosystemtechnik zur Herstellung/Charakterisierung von Chemo- und Biosensoren Verfahren der Mikrosystemtechnik zur Herstellung/Charakterisierung von Chemo- und Biosensoren Teil 8: Analysemethoden zur Charakterisierung der Mikrosysteme II Dr. rer. nat. Maryam Weil Fachhochschule

Mehr

Atomic Force Microscope (AFM)

Atomic Force Microscope (AFM) Atomic Force Microscope (AFM) Simon Breitler, Studiengang Chemie, 5. Semester, brsimon@student.ethz.ch Matthias Geibel, Studiengang Chemie, 5. Semester, mgeibel@student.ethz.ch Daniel A. Frick, Studiengang

Mehr

Praktikumsversuch AFM. Institut für Festkörperphysik Abteilung ATMOS

Praktikumsversuch AFM. Institut für Festkörperphysik Abteilung ATMOS Praktikumsversuch AFM Institut für Festkörperphysik Abteilung ATMOS Ansprechpartner E-Mail-Adresse: Philipp Kröger kroeger@fkp.uni-hannover.de Inhaltsverzeichnis 1 Theorie 1 1.1 Betriebsmodi des AFM........................

Mehr

Bedienungsanleitung 3-Achsen Vibrations Tester PCE-VM 3D

Bedienungsanleitung 3-Achsen Vibrations Tester PCE-VM 3D PCE Deutschland GmbH Im Langel 4 D-59872 Meschede Deutschland Tel: 02903 976 99 0 Fax: 02903 976 99 29 info@pce-instruments.com www.pce-instruments.com/deutsch Bedienungsanleitung 3-Achsen Vibrations Tester

Mehr

AFM, Fortgeschrittenenpraktikum an der Universität Basel Maximilian Amsler und Markus Oberle, Dezember 2005. Atomic Force Microscope

AFM, Fortgeschrittenenpraktikum an der Universität Basel Maximilian Amsler und Markus Oberle, Dezember 2005. Atomic Force Microscope Atomic Force Microscope 1 Versuchsziel Ziel des Versuchs ist, sich mit dem Verfahren der Oberflächenabtastung des AFM vertraut zu machen. Dabei sollten 3-4 Proben gescannt und analysiert werden. Verschiedene

Mehr

2 Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie

2 Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie 7 1 Einleitung Mit der Entwicklung des Rastertunnelmikroskops im Jahr 1982 durch Binnig und Rohrer [1], die 1986 mit dem Physik-Nobelpreis ausgezeichnet wurde, wurde eine neue Klasse von Mikroskopen zur

Mehr

Brücke zwischen der modernen physikalischen Forschung und dem Unternehmertum im Bereich Nanotechnologie. Quantenphysik

Brücke zwischen der modernen physikalischen Forschung und dem Unternehmertum im Bereich Nanotechnologie. Quantenphysik Brücke zwischen der modernen physikalischen Forschung und dem Unternehmertum im Bereich Nanotechnologie Quantenphysik Die Physik der sehr kleinen Teilchen mit grossartigen Anwendungsmöglichkeiten Teil

Mehr

Modulationsanalyse. Amplitudenmodulation

Modulationsanalyse. Amplitudenmodulation 10/13 Die liefert Spektren der Einhüllenden von Teilbändern des analysierten Signals. Der Anwender kann damit Amplitudenmodulationen mit ihrer Frequenz, ihrer Stärke und ihrem zeitlichen Verlauf erkennen.

Mehr

Auswertung zum Versuch: Rasterkraftmikroskopie. Inhaltsverzeichnis. Inhaltsverzeichnis

Auswertung zum Versuch: Rasterkraftmikroskopie. Inhaltsverzeichnis. Inhaltsverzeichnis Christian Krause, Matr. 1956616 Inhaltsverzeichnis Auswertung zum Versuch: Rasterkraftmikroskopie Inhaltsverzeichnis 1 Theoretische Grundlagen 2 1.1 Grundprinzip.........................................

Mehr

c~åüüçåüëåüìäé==açêíãìåç= FB Informations- und Elektrotechnik FVT - GP Einführung: Blockschaltbild des Versuchsaufbau: Meßvorgang:

c~åüüçåüëåüìäé==açêíãìåç= FB Informations- und Elektrotechnik FVT - GP Einführung: Blockschaltbild des Versuchsaufbau: Meßvorgang: Einführung: In der ahrzeugindustrie werden sämtliche neu entwickelten oder auch nur modifizierten Bauteile und Systeme zum Beispiel ein Sensor oder eine Bordnetzelektronik auf ahrzeugtauglichkeit getestet.

Mehr

Schulversuchspraktikum WS2000/2001 Redl Günther 9655337. Elektromagnet. 7.Klasse

Schulversuchspraktikum WS2000/2001 Redl Günther 9655337. Elektromagnet. 7.Klasse Schulversuchspraktikum WS2000/2001 Redl Günther 9655337 Elektromagnet 7.Klasse Inhaltsverzeichnis: 1) Lernziele 2) Verwendete Quellen 3) Versuch nach Oersted 4) Magnetfeld eines stromdurchflossenen Leiter

Mehr

Rastertunnelmikroskop

Rastertunnelmikroskop Rastertunnelmikroskop Versuch Nr. 3 Ausarbeitung - Verbesserung - 19. November 2012 Ausgearbeitet von Martin Günther und Nils Braun Durchführung und Präparation Alle hier dargestellten Bilder wurden nach

Mehr

Rastersondenmethoden (SPM)

Rastersondenmethoden (SPM) Rastersondenmethoden (SPM) Tunnel- (STM) und Kraft- (AFM) Mikroskopie Vorlesung Methoden der Festkörperchemie WS 2013/2014, C. Röhr Einleitung Kraftmikroskopie Apparatives Ergebnisse Literatur Einleitung

Mehr

2. Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie

2. Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie 7 2. Grundlagen der Rasterkraftmikroskopie 2.1. Entwicklung der Rastersondenmikroskopien Die Rastersondenmikroskopie-Techniken untersuchen eine Probe im sogenannten Nahfeld, d.h. die Sonde, die aus einer

Mehr

Fachhochschule Bielefeld Fachbereich Elektrotechnik. Versuchsbericht für das elektronische Praktikum. Praktikum Nr. 2. Thema: Widerstände und Dioden

Fachhochschule Bielefeld Fachbereich Elektrotechnik. Versuchsbericht für das elektronische Praktikum. Praktikum Nr. 2. Thema: Widerstände und Dioden Fachhochschule Bielefeld Fachbereich Elektrotechnik Versuchsbericht für das elektronische Praktikum Praktikum Nr. 2 Name: Pascal Hahulla Matrikelnr.: 207XXX Thema: Widerstände und Dioden Versuch durchgeführt

Mehr

Hochauflösende Untersuchung von nanostrukturierten Gasdiffusionsschichten (GDL / MPL) mit materialsensitiver Rastersondenmikroskopie

Hochauflösende Untersuchung von nanostrukturierten Gasdiffusionsschichten (GDL / MPL) mit materialsensitiver Rastersondenmikroskopie Hochauflösende Untersuchung von nanostrukturierten Gasdiffusionsschichten (GDL / MPL) mit materialsensitiver Rastersondenmikroskopie Renate Hiesgen a, K. Andreas Friedrich b Ines Wehl a, Jürgen Kraut a,

Mehr

Ausdehnung des Nahfeldes nur durch Strukturgrösse limitiert

Ausdehnung des Nahfeldes nur durch Strukturgrösse limitiert 6.2.2 Streulicht- Nahfeldmikroskop Beleuchtung einer sub-wellenlängen grossen streuenden Struktur (Spitze) Streulicht hat Nahfeld-Komponenten Detektion im Fernfeld Vorteile: Ausdehnung des Nahfeldes nur

Mehr

Infrarot Thermometer. Mit 12 Punkt Laserzielstrahl Art.-Nr. E220

Infrarot Thermometer. Mit 12 Punkt Laserzielstrahl Art.-Nr. E220 Infrarot Thermometer Mit 12 Punkt Laserzielstrahl Art.-Nr. E220 Achtung Mit dem Laser nicht auf Augen zielen. Auch nicht indirekt über reflektierende Flächen. Bei einem Temperaturwechsel, z.b. wenn Sie

Mehr

Versuch C2. Untersuchungsmethoden der Nanotechnologie: Oberflächenanalyse mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie

Versuch C2. Untersuchungsmethoden der Nanotechnologie: Oberflächenanalyse mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie Versuch C2 Untersuchungsmethoden der Nanotechnologie: Oberflächenanalyse mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie Praktikum für Fortgeschrittene am Dritten Physikalischen Institut der Universität Göttingen

Mehr

Lissajous-Figuren Versuche mit dem Oszilloskop und dem X Y Schreiber

Lissajous-Figuren Versuche mit dem Oszilloskop und dem X Y Schreiber Protokoll VIII Lissajous-Figuren Versuche mit dem Oszilloskop und dem X Y Schreiber Datum: 10.12.2001 Projektgruppe 279 Tutorin: Grit Petschick Studenten: Mina Günther Berna Gezik Carola Nisse Michael

Mehr

Messtechnik. Gedächnisprotokoll Klausur 2012 24. März 2012. Es wurde die Kapazität von 10 Kondensatoren gleicher Bauart gemessen:

Messtechnik. Gedächnisprotokoll Klausur 2012 24. März 2012. Es wurde die Kapazität von 10 Kondensatoren gleicher Bauart gemessen: Messtechnik Gedächnisprotokoll Klausur 2012 24. März 2012 Dokument erstellt von: mailto:snooozer@gmx.de Aufgaben Es wurde die Kapazität von 10 Kondensatoren gleicher Bauart gemessen: Index k 1 2 3 4 5

Mehr

Bestimmung der Primärstruktur kleiner Moleküle mittels 1D-NMR-Spektroskopie

Bestimmung der Primärstruktur kleiner Moleküle mittels 1D-NMR-Spektroskopie Bestimmung der Primärstruktur kleiner Moleküle mittels 1D-NMR-Spektroskopie Zusammenfassung Mit Hilfe von 1D 1 H- und 13 C-NMR-Spektren und gegebener Summenformel wird die Primärstruktur eines unbekannten

Mehr

Die in Versuch 7 benutzte Messschaltung wird entsprechend der Anleitung am Arbeitsplatz erweitert.

Die in Versuch 7 benutzte Messschaltung wird entsprechend der Anleitung am Arbeitsplatz erweitert. Testat Mo Di Mi Do Fr Spannungsverstärker Datum: Versuch: 8 Abgabe: Fachrichtung Sem. 1. Einleitung Nachdem Sie in Versuch 7 einen Spannungsverstärker konzipiert haben, erfolgen jetzt der Schaltungsaufbau

Mehr

RASTERKRAFTMIKROSKOPIE

RASTERKRAFTMIKROSKOPIE B47 Physikalisches Praktikum für Fortgeschrittene Betreuer: Prof. Dr. Sabine Maier sabine.maier@physik.uni erlangen.de RASTERKRAFTMIKROSKOPIE 2 Einleitung Version: 1.0 Erstellt am 9.4.2012 Versuch B47:

Mehr

Rasterkraftmikroskopie Fortgeschrittenen Praktikum I/II

Rasterkraftmikroskopie Fortgeschrittenen Praktikum I/II Rasterkraftmikroskopie Fortgeschrittenen Praktikum I/II Zusammenfassung Das AFM (Atomic Force Microscope), zu Deutsch Rasterkraftmikroskop, ist ein wichtiger Vertreter der Familie der Rastersondenmikroskope

Mehr

DIE FILES DÜRFEN NUR FÜR DEN EIGENEN GEBRAUCH BENUTZT WERDEN. DAS COPYRIGHT LIEGT BEIM JEWEILIGEN AUTOR.

DIE FILES DÜRFEN NUR FÜR DEN EIGENEN GEBRAUCH BENUTZT WERDEN. DAS COPYRIGHT LIEGT BEIM JEWEILIGEN AUTOR. Weitere Files findest du auf www.semestra.ch/files DIE FILES DÜRFEN NUR FÜR DEN EIGENEN GEBRAUCH BENUTZT WERDEN. DAS COPYRIGHT LIEGT BEIM JEWEILIGEN AUTOR. Messung von c und e/m Autor: Noé Lutz Assistent:

Mehr

Einfluß von Wind bei Maximalfolgenmessungen

Einfluß von Wind bei Maximalfolgenmessungen 1 von 5 05.02.2010 11:10 Der Einfluß von Wind bei Maximalfolgenmessungen M. KOB, M. VORLÄNDER Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig 1 Einleitung Die Maximalfolgenmeßtechnik ist eine spezielle

Mehr

AUSWERTUNG: LASER B TOBIAS FREY, FREYA GNAM

AUSWERTUNG: LASER B TOBIAS FREY, FREYA GNAM AUSWERTUNG: LASER B TOBIAS FREY, FREYA GNAM 6. FOURIER-TRANSFORMATION In diesem Versuch ging es darum, mittels Fouriertransformation aus dem Beugungsbild eines Einfachspaltes auf dessen Breite zu schließen.

Mehr

Das Rastertunnelmikroskop

Das Rastertunnelmikroskop Das Rastertunnelmikroskop Die Nanostrukturforschung ist die Schlüsseltechnologie des 21. Jahrhunderts. Das Gebiet der Nanowissenschaften beinhaltet interessante Forschungsgebiete, die einen Teil ihrer

Mehr

Physikalisches Praktikum 5. Semester

Physikalisches Praktikum 5. Semester Torsten Leddig 10. November 2005 Mathias Arbeiter Betreuer: Dr. v. Oehnhausen Physikalisches Praktikum 5. Semester - Beschleunigungssensor - 1 Inhaltsverzeichnis 1 Vorbetrachtung 3 1.1 Magnetostriktion.........................................

Mehr

c~åüüçåüëåüìäé==açêíãìåç= FB Informations- und Elektrotechnik ASM-Praktikum Einführung: Blockschaltbild des Versuchsaufbau:

c~åüüçåüëåüìäé==açêíãìåç= FB Informations- und Elektrotechnik ASM-Praktikum Einführung: Blockschaltbild des Versuchsaufbau: Einführung: In der Fahrzeugindustrie werden sämtliche neu entwickelten oder auch nur modifizierten Bauteile und Systeme zum Beispiel ein Sensor oder eine Bordnetzelektronik auf Fahrzeugtauglichkeit getestet.

Mehr

Rasterkraftmikroskopie

Rasterkraftmikroskopie Technische Universität München Physik Department Fortgeschrittenenpraktikum Versuch 42 Rasterkraftmikroskopie vorgelegt am: 20. August 2011 Namen: Dincer Bekmezci, Daniel Biedermann, Patrick Christ Matrikelnummern:

Mehr

3.Transistor. 1 Bipolartransistor. Christoph Mahnke 27.4.2006. 1.1 Dimensionierung

3.Transistor. 1 Bipolartransistor. Christoph Mahnke 27.4.2006. 1.1 Dimensionierung 1 Bipolartransistor. 1.1 Dimensionierung 3.Transistor Christoph Mahnke 7.4.006 Für den Transistor (Nr.4) stand ein Kennlinienfeld zu Verfügung, auf dem ein Arbeitspunkt gewählt werden sollte. Abbildung

Mehr

Gruppe: 1/8 Versuch: 4 PRAKTIKUM MESSTECHNIK VERSUCH 5. Operationsverstärker. Versuchsdatum: 22.11.2005. Teilnehmer:

Gruppe: 1/8 Versuch: 4 PRAKTIKUM MESSTECHNIK VERSUCH 5. Operationsverstärker. Versuchsdatum: 22.11.2005. Teilnehmer: Gruppe: 1/8 Versuch: 4 PRAKTIKUM MESSTECHNIK VERSUCH 5 Operationsverstärker Versuchsdatum: 22.11.2005 Teilnehmer: 1. Vorbereitung 1.1. Geräte zum Versuchsaufbau 1.1.1 Lawinendiode 1.1.2 Photomultiplier

Mehr

Grundlagen der Elektro-Proportionaltechnik

Grundlagen der Elektro-Proportionaltechnik Grundlagen der Elektro-Proportionaltechnik Totband Ventilverstärkung Hysterese Linearität Wiederholbarkeit Auflösung Sprungantwort Frequenzantwort - Bode Analyse Der Arbeitsbereich, in dem innerhalb von

Mehr

8. Übung zur Vorlesung Mathematisches Modellieren Lösung

8. Übung zur Vorlesung Mathematisches Modellieren Lösung Universität Duisburg-Essen Essen, den.6. Fakultät für Mathematik S. Bauer C. Hubacsek C. Thiel 8. Übung zur Vorlesung Mathematisches Modellieren Lösung In dieser Übung sollen in Aufgabe und die qualitativ

Mehr

Durchführung einer Messung Wie wird`s gemacht? Dr. Harald Schwede

Durchführung einer Messung Wie wird`s gemacht? Dr. Harald Schwede Durchführung einer Messung Wie wird`s gemacht? Dr. Harald Schwede Übersicht 1. Einleitung 2. Von der Problemanalyse zum Handeln 3. Auswahl geeigneter Messsysteme 4. Was ist bei der Messung zu beachten?

Mehr

High Performance Liquid Chromatography

High Performance Liquid Chromatography Was ist? Was ist das Besondere? Aufbau Auswertung Möglichkeiten & Varianten der Zusammenfassung High Performance Liquid Chromatography () Systembiologie - Methodenseminar WS 08/09 FU Berlin 10. November

Mehr

Physik & Musik. Wie funktioniert ein KO? 1 Auftrag

Physik & Musik. Wie funktioniert ein KO? 1 Auftrag Physik & Musik 1 Wie funktioniert ein KO? 1 Auftrag Physik & Musik Wie funktioniert ein KO? Seite 1 Wie funktioniert ein KO? Bearbeitungszeit: 30 Minuten Sozialform: Einzel- oder Partnerarbeit Einleitung

Mehr

Dienstleistungen apparative Ausstattung analytische Möglichkeiten. des Instituts für. Physikalische Chemie

Dienstleistungen apparative Ausstattung analytische Möglichkeiten. des Instituts für. Physikalische Chemie Dienstleistungen apparative Ausstattung analytische Möglichkeiten des Instituts für Physikalische Chemie Röntgendiffraktometrie Phasenidentifikation - Quantifizierung von Phasen in zusammengesetzten Proben

Mehr

Perthometer Oberflächen-Kenngrößen Neue Normen DIN EN ISO / ASME

Perthometer Oberflächen-Kenngrößen Neue Normen DIN EN ISO / ASME Perthometer Oberflächen-Kenngrößen Neue Normen DIN EN ISO / ASME Inhalt Allgemeines Geometrische Produktspezifikation Definitionen Profilfilter P t Profiltiefe Wahl der Grenzwellenlänge W t Wellentiefe

Mehr

Protokoll: Hochdruck-Flüssigkeits-Chromatographie (HPLC)

Protokoll: Hochdruck-Flüssigkeits-Chromatographie (HPLC) Protokoll: Hochdruck-Flüssigkeits-Chromatographie (HPLC) Zielstellung: - Bestimmung der Retentionszeiten von Theobromin, Theophyllin und Coffein! - Ermittlung des Coffeingehalts verschiedener ahrungs-

Mehr

1. Oszilloskop. Das Oszilloskop besitzt zwei Betriebsarten: Schaltsymbol Oszilloskop

1. Oszilloskop. Das Oszilloskop besitzt zwei Betriebsarten: Schaltsymbol Oszilloskop . Oszilloskop Grundlagen Ein Oszilloskop ist ein elektronisches Messmittel zur grafischen Darstellung von schnell veränderlichen elektrischen Signalen in einem kartesischen Koordinaten-System (X- Y- Darstellung)

Mehr

Anwendungen zum Elektromagnetismus

Anwendungen zum Elektromagnetismus Anwendungen zum Elektromagnetismus Fast alle Anwendungen des Elektromagnetismus nutzen zwei grundlegende Wirkungen aus. 1. Fließt durch eine Spule ein elektrischer Strom, so erzeugt diese ein Magnetfeld

Mehr

Sonderforschungsbereich 379

Sonderforschungsbereich 379 Sonderforschungsbereich 379 Mikromechanische Sensor- und Aktorarrays Elektrische Kraftmikroskopie Verfahren und Implementierung mit MEMS Prof. Dr. Michael Hietschold T Chemnitz, Institut für f r Physik

Mehr

KLEBETECHNOLOGIE (KLEBSTOFFE & ADHÄSION)

KLEBETECHNOLOGIE (KLEBSTOFFE & ADHÄSION) PRAKTIKUM: KLEBETECHNOLOGIE (KLEBSTOFFE & ADHÄSION) Durchführung: 31.03.2011 Teilnehmer: Michael Haubenhofer Dokumentation Dieses Protokoll wurde ohne Zuhilfenahme von bestehenden Protokollen erstellt.

Mehr

Einzelmolekülfluoreszenzspektroskopie (EFS)

Einzelmolekülfluoreszenzspektroskopie (EFS) Fortgeschrittenen Praktikum TU Dresden 29. Mai 2009 Einzelmolekülfluoreszenzspektroskopie (EFS) Klaus Steiniger, Alexander Wagner, Gruppe 850 klaus.steiniger@physik.tu-dresden.de, alexander.wagner@physik.tu-dresden.de

Mehr

Physikalisches Praktikum I Bachelor Physikalische Technik: Lasertechnik, Biomedizintechnik Prof. Dr. H.-Ch. Mertins, MSc. M.

Physikalisches Praktikum I Bachelor Physikalische Technik: Lasertechnik, Biomedizintechnik Prof. Dr. H.-Ch. Mertins, MSc. M. Physikalisches Praktikum I Bachelor Physikalische Technik: Lasertechnik, Biomedizintechnik Prof. Dr. H.-Ch. Mertins, MSc. M. Gilbert SW0 Schwingende Saite am Monochord (Pr_PhI_SW0_Monochord_6, 08.09.009)

Mehr

Gruppe: 2/19 Versuch: 5 PRAKTIKUM MESSTECHNIK VERSUCH 5. Operationsverstärker. Versuchsdatum: 22.11.2005. Teilnehmer:

Gruppe: 2/19 Versuch: 5 PRAKTIKUM MESSTECHNIK VERSUCH 5. Operationsverstärker. Versuchsdatum: 22.11.2005. Teilnehmer: Gruppe: 2/9 Versuch: 5 PAKTIKM MESSTECHNIK VESCH 5 Operationsverstärker Versuchsdatum: 22..2005 Teilnehmer: . Versuchsvorbereitung Invertierender Verstärker Nichtinvertierender Verstärker Nichtinvertierender

Mehr

5.3 Weitere Wechselwirkung mit Photonen: Spektroskopie

5.3 Weitere Wechselwirkung mit Photonen: Spektroskopie Dünnschichtanalytik Teil 2 5.3 Weitere Wechselwirkung mit Photonen: Spektroskopie [Schmidl] 1 5.3.1 Wechselwirkungen mit Photonen A - Elastische Wechselwirkung: - sekundäre Strahlung - Beugungsexperimente

Mehr

Rasterkraftmikroskopische Analysen biologischer Strukturen

Rasterkraftmikroskopische Analysen biologischer Strukturen Praktikumsprojekt im Rahmen des Fortgeschrittenenpraktikums in Physikalischer Chemie, Wintersemester 2003/04 Rasterkraftmikroskopische Analysen biologischer Strukturen Sven Siebler Alexander Zulauf 15.12.2003

Mehr

NANO III. Messen Steuern Regeln (MSR) Thema: MSR hat viel mit analoger und digitaler Elektronik sowie Signalverarbeitung zu tun.

NANO III. Messen Steuern Regeln (MSR) Thema: MSR hat viel mit analoger und digitaler Elektronik sowie Signalverarbeitung zu tun. NANO III Thema: Messen Steuern Regeln (MSR) MSR hat viel mit analoger und digitaler Elektronik sowie Signalverarbeitung zu tun. Mobiles AFM der Firma Nanosurf Nano III MSR Physics Basel, Michael Steinacher

Mehr

Einzigartiges Analysegerät für Oberflächen

Einzigartiges Analysegerät für Oberflächen Medienmitteilung Dübendorf, St. Gallen, Thun, 22. August 2013 Aus zwei mach eins: 3D-NanoChemiscope Einzigartiges Analysegerät für Oberflächen Das 3D-NanoChemiscope ist ein Wunderwerk modernster Analysetechnik.

Mehr

Wärmeleitung und thermoelektrische Effekte Versuch P2-32

Wärmeleitung und thermoelektrische Effekte Versuch P2-32 Auswertung Wärmeleitung und thermoelektrische Effekte Versuch P2-32 Iris Conradi und Melanie Hauck Gruppe Mo-02 7. Juni 2011 Inhaltsverzeichnis Inhaltsverzeichnis 1 Wärmeleitfähigkeit 3 2 Peltier-Kühlblock

Mehr

Physikalisches Praktikum

Physikalisches Praktikum Physikalisches Praktikum Versuchsbericht M13 Schwingende Saite Dozent: Prof. Dr. Hans-Ilja Rückmann email: irueckm@uni-bremen.de http: // www. praktikum. physik. uni-bremen. de Betreuer: Yannik Schädler

Mehr

Linienstrahler Prototyp

Linienstrahler Prototyp Linienstrahler Prototyp Inhalt Motivation... 2 Konzept... 2 Prototyp... 2 Messungen... Abstrahlverhalten horizontal... Abstrahlverhalten vertikal... 4 Stege... 5 Shading... 6 Nichtlineare Verzerrungen...

Mehr

Wiederholung: Duktilität

Wiederholung: Duktilität Wiederholung: Duktilität Bulkmaterial: prozentuale Bruchdehnung ε b lz l0 εb = l Dünne Schicht: 3-Punkt-Biegetest 0 l Z = Länge der Probe nach dem Bruch l 0 = Länge der Probe vor dem Bruch ε B = Bruchdehnung

Mehr

14. Minimale Schichtdicken von PEEK und PPS im Schlauchreckprozeß und im Rheotensversuch

14. Minimale Schichtdicken von PEEK und PPS im Schlauchreckprozeß und im Rheotensversuch 14. Minimale Schichtdicken von PEEK und PPS im Schlauchreckprozeß und im Rheotensversuch Analog zu den Untersuchungen an LDPE in Kap. 6 war zu untersuchen, ob auch für die Hochtemperatur-Thermoplaste aus

Mehr

Versuch A02: Thermische Ausdehnung von Metallen

Versuch A02: Thermische Ausdehnung von Metallen Versuch A02: Thermische Ausdehnung von Metallen 13. März 2014 I Lernziele Wechselwirkungspotential im Festkörper Gitterschwingungen Ausdehnungskoezient II Physikalische Grundlagen Die thermische Längen-

Mehr

Untersuchungsmethoden der Nanotechnologie: Oberflächenanalyse mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie

Untersuchungsmethoden der Nanotechnologie: Oberflächenanalyse mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie Physikalisches Praktikum für Fortgeschrittene Versuch C2 Untersuchungsmethoden der Nanotechnologie: Oberflächenanalyse mit Hilfe der Rasterkraftmikroskopie Wintersemester 2006 / 2007 Name: Daniel Scholz

Mehr

Vordiplomsklausur Physik

Vordiplomsklausur Physik Institut für Physik und Physikalische Technologien der TU-Clausthal; Prof. Dr. W. Schade Vordiplomsklausur Physik 14.Februar 2006, 9:00-11:00 Uhr für den Studiengang: Maschinenbau intensiv (bitte deutlich

Mehr

Physik & Musik. Stimmgabeln. 1 Auftrag

Physik & Musik. Stimmgabeln. 1 Auftrag Physik & Musik 5 Stimmgabeln 1 Auftrag Physik & Musik Stimmgabeln Seite 1 Stimmgabeln Bearbeitungszeit: 30 Minuten Sozialform: Einzel- oder Partnerarbeit Voraussetzung: Posten 1: "Wie funktioniert ein

Mehr

Versuch 6 Oszilloskop und Funktionsgenerator Seite 1. û heißt Scheitelwert oder Amplitude, w = 2pf heißt Kreisfrequenz und hat die Einheit 1/s.

Versuch 6 Oszilloskop und Funktionsgenerator Seite 1. û heißt Scheitelwert oder Amplitude, w = 2pf heißt Kreisfrequenz und hat die Einheit 1/s. Versuch 6 Oszilloskop und Funktionsgenerator Seite 1 Versuch 6: Oszilloskop und Funktionsgenerator Zweck des Versuchs: Umgang mit Oszilloskop und Funktionsgenerator; Einführung in Zusammenhänge Ausstattung

Mehr

Der Bipolar-Transistor und die Emitterschaltung Gruppe B412

Der Bipolar-Transistor und die Emitterschaltung Gruppe B412 TECHNISCHE UNIVERSITÄT MÜNCHEN Der Bipolar-Transistor und die Emitterschaltung Gruppe B412 Patrick Christ und Daniel Biedermann 16.10.2009 1. INHALTSVERZEICHNIS 1. INHALTSVERZEICHNIS... 2 2. AUFGABE 1...

Mehr

Übersicht. Was soll gemessen werden? Physikalische Eigenschaften Kap. C-8 (z.b. Topographie, elektr., magnet., opt.)

Übersicht. Was soll gemessen werden? Physikalische Eigenschaften Kap. C-8 (z.b. Topographie, elektr., magnet., opt.) Übersicht Was soll gemessen werden? Physikalische Eigenschaften Kap. C-8 (z.b. Topographie, elektr., magnet., opt.) Chemische Zusammensetzung Kap. C-9 (Elemente, Stöchiometrie, Bindung) Prof. Dr. H. Baumgärtner

Mehr

VP 2: RKM - Rasterkraftmikroskop

VP 2: RKM - Rasterkraftmikroskop VP 2: RKM - Rasterkraftmikroskop Therese Challand 30. Januar 2006 Contents 1 Theorie 1 1.1 Rasterkraftmikroskop RKM..................... 1 1.2 Messprinzip und Aufbau eines RKM................ 2 1.3 Betriebsmodi.............................

Mehr

LEGO -Modell eines Rasterkraftmikroskop

LEGO -Modell eines Rasterkraftmikroskop Bildungsplattform zur Mikro- und Nanotechnologie für Berufsfach- und Mittelschulen sowie Höhere Fachschulen LEGO -Modell eines Rasterkraftmikroskop Die Funktionsweise eines Rasterkraftmikroskops (AFM)

Mehr

Elektrochemie II: Potentiometrie

Elektrochemie II: Potentiometrie ersuchsprotokoll ersuchsdatum: 25.10.04 Zweitabgabe: Sttempell Durchgeführt von: Elektrochemie II: Potentiometrie 1. Inhaltsangabe 1..Inhaltsangabe---------------------------------------------------------------------------------

Mehr

Michelson - Interferometer

Michelson - Interferometer Michelson - Interferometer Team 1: Daniela Poppinga und Jan Christoph Bernack Betreuer: Dr. Gerd Gülker 7. Juli 2009 1 2 Daniela Poppinga, Jan Christoph Bernack Inhaltsverzeichnis 1 Aufbau und Justage

Mehr

Rasterkraftmikroskopie in fluider Umgebung

Rasterkraftmikroskopie in fluider Umgebung Rasterkraftmikroskopie in fluider Umgebung Dissertation zur Erlangung des akademischen Grades Dr. rer. nat. Fakultät für Naturwissenschaften Universität Ulm Lothar Zitzler geboren in Immenstadt 2005 Amtierender

Mehr

Informatik Aufgaben. 1. Erstelle ein Programm zur Berechnung der Summe der Zahlen von 1 bis n, z.b. n = 100.

Informatik Aufgaben. 1. Erstelle ein Programm zur Berechnung der Summe der Zahlen von 1 bis n, z.b. n = 100. Informatik Aufgaben 1. Erstelle ein Programm zur Berechnung der Summe der Zahlen von 1 bis n, z.b. n = 100. 2. Erstelle ein Programm, das die ersten 20 (z.b.) ungeraden Zahlen 1, 3, 5,... ausgibt und deren

Mehr

Tropfenkonturanalyse

Tropfenkonturanalyse Phasen und Grenzflächen Tropfenkonturanalyse Abstract Mit Hilfe der Tropfenkonturanalyse kann die Oberflächenspannung einer Flüssigkeit ermittelt werden. Wird die Oberflächenspannung von Tensidlösungen

Mehr

TU Bergakademie Freiberg Institut für Werkstofftechnik Schülerlabor science meets school Werkstoffe und Technologien in Freiberg

TU Bergakademie Freiberg Institut für Werkstofftechnik Schülerlabor science meets school Werkstoffe und Technologien in Freiberg TU Bergakademie Freiberg Institut für Werkstofftechnik Schülerlabor science meets school Werkstoffe und Technologien in Freiberg PROTOKOLL Modul: Versuch: Physikalische Eigenschaften I. VERSUCHSZIEL Die

Mehr

1.1 Auflösungsvermögen von Spektralapparaten

1.1 Auflösungsvermögen von Spektralapparaten Physikalisches Praktikum für Anfänger - Teil Gruppe Optik. Auflösungsvermögen von Spektralapparaten Einleitung - Motivation Die Untersuchung der Lichtemission bzw. Lichtabsorption von Molekülen und Atomen

Mehr

Das Oszilloskop. Tina Gruhl Projektlabor SS 2009

Das Oszilloskop. Tina Gruhl Projektlabor SS 2009 Das Oszilloskop Tina Gruhl Projektlabor SS 2009 Das Oszilloskop Einführung Funktionsweise des Oszilloskops Analoges Oszilloskop Digitales Oszilloskop Bedienung des digitalen Oszilloskops Le Croy Wavesurfer

Mehr

Trumspannungsmessgerät. Tension Meter FMG NANO

Trumspannungsmessgerät. Tension Meter FMG NANO Trumspannungsmessgerät Tension Meter FMG NANO Bedienungsanleitung Messprinzip: Das Messgerät FMG-NANO dient zur schnellen und einfachen Messung der Riemenvorspannung. Es ist vollelektronisch und mit modernster

Mehr

3D outdoor Laser Scanner zur Personenzählung. PAC100-90-Y-n*1,5_D/14. Features. Anwendungsvorteile

3D outdoor Laser Scanner zur Personenzählung. PAC100-90-Y-n*1,5_D/14. Features. Anwendungsvorteile PAC100-90-Y-n*1,5 3D outdoor Laser Scanner zur Personenzählung Features 3D Range Image mit 4 Scanebenen Winkel zwischen Scanebenen: Außen 1,5 *n Innen 0,5 *n; mit n = 1,2,3 Punkte pro Scanebene: 500 Punkte

Mehr

Versuch 17.2 Der Transistor

Versuch 17.2 Der Transistor Physikalisches A-Praktikum Versuch 17.2 Der Transistor Praktikanten: Gruppe: Julius Strake Niklas Bölter B006 Betreuer: Johannes Schmidt Durchgeführt: 11.09.2012 Unterschrift: E-Mail: niklas.boelter@stud.uni-goettingen.de

Mehr

Schindler 3300 / Schindler 5300 Informationen zu Schall und Schwingungen

Schindler 3300 / Schindler 5300 Informationen zu Schall und Schwingungen Schindler 3300 / Schindler 5300 Inhalt 0. Einführung 1. Fahrkomfort Rucken Kabinenbeschleunigung Vertikale Kabinenschwingungen Laterale Kabinenschwingungen Schall in der Kabine 2. Schall Grundlagen 3.

Mehr

PRAKTIKUM Experimentelle Prozeßanalyse 2. VERSUCH AS-PA-2 "Methoden der Modellbildung statischer Systeme" Teil 2 (für ausgewählte Masterstudiengänge)

PRAKTIKUM Experimentelle Prozeßanalyse 2. VERSUCH AS-PA-2 Methoden der Modellbildung statischer Systeme Teil 2 (für ausgewählte Masterstudiengänge) FACHGEBIET Systemanalyse PRAKTIKUM Experimentelle Prozeßanalyse 2 VERSUCH AS-PA-2 "Methoden der Modellbildung statischer Systeme" Teil 2 (für ausgewählte Masterstudiengänge) Verantw. Hochschullehrer: Prof.

Mehr