Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY

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1 Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY Dezember 2005

2 Impressum Herausgegeben von: STN International c/o Fachinformationszentrum Karlsruhe Postfach D Karlsruhe Bearbeitet von: Elke Thomä, TU Ilmenau, PATON Rudolf Tribiahn Redaktionsschluss: Dezember 2005 Copyright Fachinformationszentrum Karlsruhe, Gesellschaft für wissenschaftlich-technische Information mbh, Karlsruhe

3 Leitfaden zu STN-Patentdatenbanken Inhaltsverzeichnis Einführung: Patentwesen 5 Grundbegriffe der Patentinformation... 6 Die Internationale Patentklassifikation (IPC) Patentzitierungen Einführung: STN EASY 15 Vorteile und Grenzen von STN EASY Voraussetzungen für die Patentrecherche mit STN EASY Durchführung einer Patentrecherche mit STN EASY Auswahl des Recherchemodus Anzeige der Dokumente Speicherfunktion Inhalt der Patentdatenbanken 31 Auswahl der Kategorien Übersicht: Suchmöglichkeiten in den Patentdatenbanken Fortschreibungskonzepte in Patentdatenbanken Chemical Abstracts (CAPlus) Derwent Patents Citation Index (DPCI) EPFULL FRANCEPAT FRFULL GBFULL IFIPAT IMSPATENTS INPADOC JAPIO KOREAPAT LITALERT PATDPA PATDPAFULL PATDPASPC PCTFULL RDISCLOSURE RUSSIAPAT USPATFULL/USPAT Derwent World Patents Index (WPIndex) WPIFV Recherchearten in Patentdatenbanken 121 Tipps für alle Recherchen Typische Rechercheanfragen und Recherchearten Sachrecherchen Namensrecherchen Recherche nach Formalkriterien Rechtsstandsrecherchen Familienrecherchen Zitierungsrecherchen Volltextbereitstellung mit STN EASY 151 3

4 Leitfaden zu STN-Patentdatenbanken Beispielrecherchen 155 Übersicht der Beispielrecherchen Sachrecherche Erfinderrecherche Anmelderrecherche Recherche nach Formalkriterien Familien- und Rechtsstandsrecherche Rechtsstandsrecherche Zitierungsrecherche Übersichten 173 Ländercodes und Länderumfang von CA, INPADOC, WPINDEX Abkürzungen in CA, WPINDEX Nummernformate (Publikationsnummern) Nummernformate (Aktenzeichen) Italien: Provinz Codierungen für Anmeldenummern

5 Einführung: Patentwesen

6 Grundbegriffe der Patentinformation Was ist ein Patent?... 6 Technische Erfindungen (Deutschland)... 6 Neuheit... 6 Erfindungshöhe... 7 Anwendbarkeit auf gewerblichem Gebiet... 7 Einheitlichkeit der Erfindung... 7 Nicht zum Patentschutz zugelassene Bereiche... 7 Das Patentverfahren... 7 Anmeldung und Publikation von Patenten in verschiedenen Ländern... 8 Aufbau eines Patentdokuments... 8 Wichtige Begriffe des Patentwesens... 9 Priorität... 9 Patentfamilie... 9 Europäische Patente... 9 PCT-Anmeldungen... 9 Beispiel eines Patentlebenslaufs Was ist ein Patent? Ein Patent ist eine rechtliche Vereinbarung zwischen dem Erfinder und der Regierung, die dem Inhaber das Recht zusichert, andere von der Herstellung, Verwendung oder dem Verkauf der beanspruchten Erfindung für eine bestimmte Zeit auszuschließen, im Gegenzug zum erteilten Recht diese Erfindung veröffentlicht. Neben dem Patent gibt es als weiteres technisches Schutzrecht das Gebrauchsmuster und als nichttechnische Schutzrechte das Geschmacksmuster, das Urheberrecht und die Marke. Die Patentgesetze unterscheiden sich in den einzelnen Ländern. Technische Erfindungen (Deutschland) Neuheit Gegenstand des Rechtsschutzes Voraussetzungen Patent Gebrauchsmuster Erfindungen Erfindungen (Gegenstände, Stoffe, Herstellungs- (keine Verfahrenserfindungen) und Arbeitsverfahren) Neuheit Erfindungshöhe Anwendbarkeit auf gewerblichem Gebiet Patent wird geprüft Gebrauchsmuster wird ohne Prüfung eingetragen Schutzdauer Bis zu 20 Jahren 3 Jahre (Verlängerung auf höchstens 10 Jahre) Als neu gilt der Gegenstand des Patents, wenn er nicht zum Stand der Technik gehört, d. h. zum Zeitpunkt der Anmeldung darf weltweit keine Veröffentlichung (mündlich oder schriftlich) existieren, in der der Gegenstand der Erfindung beschrieben wird. Patente 6

7 Erfindungshöhe Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY Die Erfindung beruht auf einer erfinderischen Tätigkeit, wenn sie sich für den Fachmann auf dem jeweiligen technischen Gebiet aus dem Stand der Technik nicht in naheliegender Weise ergibt und somit das Können des Durchschnittsfachmanns überragt. Je nach Fachgebiet kann der Maßstab für die Erfindungshöhe sehr unterschiedlich sein. Anwendbarkeit auf gewerblichem Gebiet Die Erfindung muss in einem gewerblichen Gebiet hergestellt oder benutzt werden können. Patentanmeldungen sind mit Kosten verbunden (Anmeldegebühren, Patentanwaltskosten, Jahresgebühren). Einheitlichkeit der Erfindung In einer Anmeldung darf nur eine Erfindung beschrieben werden; für untereinander nicht einheitliche Erfindungen sind deshalb mehrere Anmeldungen nötig. Nicht zum Patentschutz zugelassene Bereiche Entdeckungen (Auffindung von etwas Vorhandenem), wissenschaftliche Theorien und mathematische Methoden ästhetische Formschöpfungen Pläne, Regeln und Verfahren für gedankliche Tätigkeiten oder für Spiele, insbesondere Computersoftware (keine Lehre zum technischen Handeln) aber: Bei einer Patentanmeldung, die eine Software mit einem technischen Merkmal (z. B. bestimmte Hardware) in Verbindung bringt, ist die Erteilung eines Patentes möglich. Software unterliegt dem Urheberrecht Das Patentverfahren Anmeldung: wird schriftlich beim Patentamt eingereicht, das Patentamt vergibt eine Anmeldenummer (= Anmeldeaktenzeichen) Offensichtlichkeitsprüfung: auf Vollständigkeit der Unterlagen; Einordnung in das technische Gebiet (Internationale Patentklassifikation) Offenlegung: Veröffentlichung der Anmeldung mit einer Publikationsnummer (=Patentnummer), in vielen Ländern 18 Monate nach der Anmeldung (= fast publishing countries), (in Deutschland Offenlegungsschrift) Prüfung: auf inhaltliche und sachliche Voraussetzungen für die Patenterteilung, oft auf Antrag (z. B. Deutschland), manchmal automatisch (z. B. USA) Patenterteilung und Patentschrift: Veröffentlichung im jeweiligen Patentblatt mit einer Publikationsnummer (= Patentnummer) Zurückweisung: Mögliches Ergebnis der Prüfung, statt Erteilung Einspruch: kann von jedem gegen die Erteilung eingelegt werden und führt zu nochmaliger Prüfung (Einspruchsfrist bei DE-Patenten: 3 Monate, bei EP-Patenten: 9 Monate) Man muss unterscheiden, ob eine Publikation erst die noch ungeprüfte Anmeldung oder schon das geprüfte und erteilte Patent ist. Dazu werden an die Patentnummer Publikationscodes angehängt. Patente 7

8 DE-Publikationscodes: Publikationsart Offenlegungsschrift Auslegeschrift (bis 1976) Patentschrift (ab 2004) Patentschrift (bis 12/2003) Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY Publikationscode Erläuterung A1 1. Publikation A8, A9 Korrekturen B1 1. Publikation B2 2. Publikation B3 B4 B8, B9 Korrekturen C1 C2 C3 C4 1. Publikation ( überrollte Offenlegung ) 2. Publikation 1. Publikation ( überrollte Offenlegung ) 2. Publikation 3. Publikation (Geänderte Patentschrift) 4. Publikation (Geänderte Patentschrift) Patentschrift (ab 2004) C5 Geänderte Patentschrift Veröffentlichung internationaler oder europäischer Anmeldungen in deutscher Übersetzung T1 T5 T8, T9 Korrekturen Gebrauchsmuster U1 U8,U9 Korrekturen Anmeldung und Publikation von Patenten in verschiedenen Ländern Ein Patent bewirkt ein Schutzrecht nur in dem Land, in dem es erteilt wurde. Um Schutzrechte in verschiedenen Ländern zu erhalten, muss man eine Anmeldung bei jedem einzelnen Patentamt einreichen und bekommt ein Aktenzeichen oder eine Europäische/PCT-Anmeldung einreichen, die gewünschten Länder benennen und erhält ein europäisches bzw. internationales Aktenzeichen Bei der Publikation wird unterschieden in Fast Publishing Countries: die (ungeprüfte) Anmeldung wird nach 18 Monaten publiziert und Slow Publishing Countries: die Publikation erfolgt erst nach Erteilung des Patentes. Fast Publishing Countries Slow Publishing Countries Australien Belgien Brasilien Canada China Dänemark Deutschland EPO Finnland Frankreich Großbritannien Japan Luxemburg Niederlande Norwegen Portugal Südafrika Südkorea Spanien Schweden WIPO (PCT) Israel Österreich Rumänien Schweiz Ungarn USA* * Ab 3/2001 werden in den USA ungeprüfte Anmeldungen auf freiwilliger Basis veröffentlicht. In der Patentinformation wird statt mit dem vollen Landesnamen häufig mit Ländercodes gearbeitet. Die Codes bestehen aus zwei Buchstaben und werden von der WIPO (World Intellectual Property Organization) vergeben. Siehe Ländercodes und Länderumfang von CA, INPADOC, WPINDEX. Aufbau eines Patentdokuments Das erste Blatt enthält die bibliografischen Einzelheiten: Titel Zusammenfassung Nummern (z. B. Anmeldenummer, Prioritätsnummern, Publikationsnummer) Namen (z. B. Erfinder, Anmelder, Patentanwalt) Patente 8

9 Daten (z. B. Anmeldedatum, Prioritätsdaten, Publikationsdaten) Zeichnung (nicht immer) Normierung: es werden Nummern zur Identifikation bibliografischer Daten gemäß WIPO-Standard verwendet (INID-Codes). Mit diesen Nummern ist es möglich, die auf der Titelseite erscheinenden Angaben zu identifizieren, ohne die jeweilige Sprache oder die Gesetze zu kennen. Im Hauptteil des Textes erscheinen: Hintergrundinformationen die erfinderischen Einzelheiten die Ansprüche Rechtlich gesehen sind die Ansprüche am wichtigsten, da sie die genaue Beschreibung der Erfindung beinhalten. Wichtige Begriffe des Patentwesens Priorität Die zeitlich erste Anmeldung einer Erfindung. Die Priorität (oder auch Unionspriorität) wird dann in Anspruch genommen, wenn ein Schutzrecht im Ausland angemeldet wird. Dies gilt für alle Länder, die sich der Pariser Verbandsübereinkunft (PVÜ) angeschlossen haben (alle wichtigen Industrieländer). Innerhalb einer Frist von 12 Monaten können Auslandspatente angemeldet werden und dabei die Priorität der ersten Anmeldung (Ursprungspriorität) beansprucht werden. Patentfamilie Alle Patentschriften in den verschiedenen Ländern, die dieselbe Erfindung betreffen, bilden die Patentfamilie. Die Mitglieder dieser Patentfamilie beziehen sich auf dasselbe Prioritätsdatum. Europäische Patente Grundlage: Übereinkommen über die Erteilung europäischer Patente (EPÜ), seit 1978 eingeführt Anmelde-, Recherche- und Prüfungsverfahren beim Europäischen Patentamt (EPA): Die Anmeldung erfolgt beim Europäischen Patentamt, die Länder, in denen Schutz gewünscht wird, müssen benannt werden (Benennungsländer, Designated States) Vertragsstaaten: AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IT, LI, LU, NL, SE Das EPA publiziert 18 Monate nach Prioritätsdatum die ungeprüfte Anmeldung, prüft die Anmeldung und publiziert auch das erteilte Patent. Nach Patenterteilung: Umwandlung in nationale Patente der benannten Länder. PCT-Anmeldungen Internationale Patentanmeldung zur Erlangung von Patentschutz in mehreren Staaten (standardisiert) Grundlage: Vertrag über die internationale Zusammenarbeit auf dem Gebiet des Patentwesens (PCT Patent Cooperation Treaty) Patente 9

10 Internationale Anmeldung beim DPMA oder beim EPA mit Angabe der Bestimmungsländer und Weiterleitung an die WIPO (World Intellectual Property Organisation) in Genf Veröffentlichung 18 Monate nach Prioritätsdatum durch die WIPO Nationale Phase: 20 bis 36 Monate nach Anmelde- bzw. Prioritätstag geht die Anmeldung an die Bestimmungsämter und wird dann nach nationalem Recht weiter behandelt (kein internationales Patenterteilungsverfahren) Beispiel eines Patentlebenslaufs Deutsche Anmeldung Europäische Anmeldung mit dem Prioritätsdatum der deutschen Anmeldung Deutsche Offenlegungsschrift Europäische Offenlegungsschrift Deutsche Patentschrift Europäische Patentschrift Patente 10

11 Die Internationale Patentklassifikation (IPC) Unterteilt die Technik in ca Teilgebiete Wird von allen wichtigen Patentämtern als einzige oder neben der nationalen Patentklassifikation verwendet Revision erfolgt alle fünf Jahre, zur Zeit gilt die 7. Ausgabe ( ) Ältere Dokumente werden bei einer neuen Ausgabe nicht umklassifiziert, deshalb muss man ggf. ältere Ausgaben der IPC beachten Hierarchisches System, oberste Ebene sind 8 Sektionen von A bis H Aufbau: A Sektion Täglicher Lebensbedarf A 63 Klasse Sport; Spiele; Volksbelustigungen A 63 C Unterklasse Schlittschuhe; Ski; Rollschuhe; Entwurf oder Anordnung von Spielplätzen, Sportbahnen oder dgl. A 63 C 17 Gruppe Rollschuhe, Rollbretter A 63 C 17/04 Untergruppe. mit anderweitig als in zwei Paaren angeordneten Rollen Oft werden mehrere IPC zu einem Patent vergeben, dann ist eine davon die Haupt-Klassifikation (hervorgehoben = größer oder fett gedruckt), die anderen Neben-Klassifikationen Aussehen: auf dem Dokument: A 63 C 17/04 in der Datenbank: A63C (wird auch gefunden, wenn man nur nach A63C017 oder A63C recherchiert) Ausschnitt aus dem Text der Patentklassifikation, Sektion A: A 63 C Schlittschuhe; Ski; Rollschuhe; Entwurf oder Anordnung von Spielplätzen, Sportbahnen oder dgl. (Geräte für Sportarten im Wasser A 63 B 31/00, A 63 B 33/00, B 63 C 11/00; Vorrichtungen zum Gleiten auf dem Wasser, z. B. Wasserski B 63 B 35/79, B 63 B 35/81, B 63 B 35/83) [5] /00 Rollschuhe; Rollbretter [4] 17/01. Rollbretter (A 63 C 17/02 bis A 63 C 17/28 haben Vorrang) [4] 17/02. mit zweipaarig angeordneten Rollen 17/04. mit anderweitig als in zwei Paaren angeordneten Rollen 17/06.. einspurige Rollschuhe 17/08... Einradrollschuhe 17/10. mit endlosen Laufbahnen 17/12. mit Antriebsvorrichtungen 17/14. mit Bremsen, z. B. Zehenbremsen, Rücklaufhemmungen 17/16. zum Gebrauch auf in besonderer Weise ausgebildeten oder angeordneten Laufbahnen 17/18. umwandelbar in Eis- oder Schneeschlittschuhe 17/20. mit feststellbaren Rollen, um mit den Rollschuhen gehen zu können 17/22. Rollen für Rollschuhe 17/24.. mit kugelförmigen oder sphärischen Laufflächen 17/26. mit besonderen zusätzlichen Anordnungen, z. B. Beleuchtungs-, Markierungs- oder Abstoßvorrichtungen 17/28. mit Anordnungen zum Sitzen Die Internationale Patentklassifikation (IPC) 11

12 Linke Spalte: Klassifikationssymbol oder Notation, hinter A 63 C: Überschrift der Klasse mit Querverweisen auf Klassen mit ähnlichen Themen, Einrückungen: kennzeichnen Unterordnung in der Hierarchie, jeweils mit einem Punkt verdeutlicht, Zahl in eckigen Klammern: Ausgabe der IPC, in der diese Notation eingefügt oder zuletzt geändert wurde. Die Internationale Patentklassifikation wird von der WIPO (World International Property Organisation) als gedrucktes Werk in 9 Bänden, als CD (mehrsprachig) und im Internet publiziert. Im US-Patentamt werden die Patente mit der nationalen US-Klassifikation klassifiziert. Die IPC wird nachträglich über eine Konkordanzliste erzeugt. Deshalb kann bei der Recherche nach US-Patenten diese nationale US-Klassifikation verwendet werden. Die Klassifikation wird u. a. vom amerikanischen Patentamt (USPTO) im Internet veröffentlicht. Wichtige Hinweise zum Klassifizieren: Schlagwörterverzeichnis oder schon bekannte Patente helfen beim Finden der richtigen Klasse Klassen immer außerdem in der entsprechenden Sektion nachschlagen und kontrollieren beachten, ob eine Klasse im Lauf der Zeit verändert wurde ggf. in älteren Ausgaben der IPC nachschlagen, wenn möglich oft sind mehrere Klassen gleichermaßen richtig Die Internationale Patentklassifikation (IPC) 12

13 Patentzitierungen Im Patentwesen spielen Patentzitierungen eine ebenso wichtige Rolle wie in der wissenschaftlichen Literatur: der Erfinder charakterisiert dadurch den Stand der Technik, von dem ausgehend er seine Erfindung gemacht hat, der Patentprüfer ermittelt Patente, die der Erteilung eines neuen Patentes entgegenstehen können, und hält sie der Anmeldung entgegen. Beim Erscheinen einer Patentschrift X enthält diese also im Text und/oder auf der Titelseite Verweise auf frühere Veröffentlichungen (andere Patente = Cited Patents, abgekürzt CDP, oder Fachliteratur). Diese Verweise stammen 1. vom Erfinder (oder Anmelder) und befinden sich im Text verstreut oder 2. vom Patentprüfer und befinden sich normalerweise auf der Titelseite oder in einem separaten Recherchebericht. CDP1 CDP: CiteD Patents Patent X CDP2 REP: CDP1 CDP2 CDP3 CDP3 Abbildung 1: Zitierte Patente CDP1 CDP3 in einem Patent X Diese Zitierungen werden in den Datenbanken im allgemeinen unter Referenced Patents (oder Referenced Literature) aufgenommen. Das Patent X kann nun seinerseits wieder in anderen Patenten (= Citing Patents, abgekürzt CGP) zitiert werden. Dann wird die Nummer des Patentes X in den Records der späteren, zitierenden Patente unter Referenced Patents (abgekürzt REP) eingetragen. In der Datenbank Derwent Patents Citation Index (DPCI) wird noch einen Schritt weitergegangen: Hier werden auch die zitierenden Patente (Citing Patents) in den Record des Patentes X nachgetragen, so dass quasi eine Rückkopplung entsteht (Abbildung 3, gestrichelte Linien). Patentzitierungen 13

14 CDP1 Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY Patent X CGP: CitinG Patents CGP1 REP: X CDP2 REP: CDP1 CDP2 CDP3 CGP2 REP: X CDP3 CGP3 REP: X Abbildung 2: Zitierende Patente CGP1 CGP3 zu einem Patent X CDP1 CGP1 Patent X CDP: X CDP2 CDP: CDP1 CDP2 CDP3 CGP: CGP1 CGP2 CGP3 CGP2 CDP: X CDP3 CGP3 CDP: X Abbildung 3: Rückverweis von Patent X auf die zitierenden Patente CGP1 CGP3 in Derwent Patents Citation Index (DPCI) Patentzitierungen 14

15 Einführung: STN EASY

16 Vorteile und Grenzen von STN EASY Medien für Patentinformation Vorteile Grenzen Medien für Patentinformation Patentinformation bedient sich heutzutage folgender Medien: Papier Mikrofilm/Mikrofiche CD-ROM Internet / World Wide Web STN-Online-Patentdatenbanken Zugang im Kommandomodus STN-Online-Patentdatenbanken STN EASY über das World Wide Web Die Medien Papier und Mikrofilm haben nach wie vor ihre Bedeutung in der Patentinformation als gedruckte Schriften, Rechercheberichte oder als gedruckte Publikationen der Patentämter. Hinsichtlich der Funktion als Recherchemedium wird die Bedeutung immer kleiner (außer bei alten Schriften, die noch nicht durch elektronische Medien erfasst sind). Die Effektivität bei der Recherche (gerade, wenn man die Publikationen vieler Länder berücksichtigen muss) ist einfach zu gering. Die Vorteile manueller Recherchen (z. B. Durchblättern von Patentzeichnungen ) verschwinden ebenfalls, da die elektronischen Medien hier auch immer komfortabler werden. Patentbibliotheken wie auch Patentstellen in den Unternehmen und Institutionen bedienen sich deshalb in zunehmenden Maße der elektronischen Patentinformation. Das Medium CD-ROM nimmt in den letzten Jahren einen breiten Raum in der Patentinformation ein, sowohl als Publikationsmedium für die publizierten Schriften der verschiedenen Schutzrechtsarten (Patentschriften, Gebrauchsmusterschriften, Marken die Patentämter publizieren in zunehmendem Maße auf CD-ROM) als auch als Recherchemedium als CD-ROM-Patentdatenbanken. In Patentbibliotheken nehmen Aufbau und Pflege von CD-ROM-Arbeitsplätzen und CD-ROM-Netzen und die Recherche / Recherchebetreuung bei Nutzern einen großen Teil der personellen und materiellen Kapazitäten ein. Trotz dieses hohen Aufwandes können mit CD-ROM nicht alle Wünsche befriedigt werden. Hinsichtlich Länderabdeckung, Aktualität, paralleles Recherchieren in mehreren Länderfonds stößt man hier auf Grenzen. Mit dem Internet / World Wide Web, denken viele, sind alle Informationsprobleme gelöst. Hier findet man in der Tat eine Unmenge Informationen, auch zum Gebiet der Patentinformation. Diese Informationen werden jedoch häufig nach persönlichem Ermessen einzelner Firmen, Institutionen oder Personen veröffentlicht. Eine Wichtung z. B. durch einen Netzbetreiber findet nicht statt. So besteht der Aufwand bei Internet-Recherchen darin, diese Informationen selbst zu filtern, Wichtiges von Unwichtigem zu trennen. Da man jedoch auf dem Gebiet der Patentinformation oft um Vollständigkeit bemüht sein muss, ist hier das Internet häufig nicht ausreichend. Etwas anderes ist es natürlich, wenn Institutionen (Patentämter, Datenbankanbieter) ihre Datenbanken über das Internet anbieten (kostenpflichtig oder kostenlos). Dann existiert meist eine vollständige Sammlung von Daten in einer Datenbank, die über eine einfache Rechercheoberfläche angeboten wird und damit einen unkomplizierten Zugang zu Patenten schafft. Hier sind aber bisher nur Anfänge gemacht, nur wenige Länder sind abgedeckt und der Zeitaufwand für die Recherche ist sehr hoch. Weitere Probleme bei Internet-Angeboten können sein, dass vom Informationsanbieter keine Gewährleistung geboten wird, dass Angebote kommen und wieder verschwinden, dass der Informationsfluss zum Kunden angezapft werden kann usw. Für die Beschaffung von Volltexten (in Form von Faksimiles der Publikationen) werden mittlerweile im Internet komfortable Möglichkeiten, kostenfrei oder kostenpflichtig, angeboten. Hier wird das Internet in zunehmenden Maße den Post- oder Faxversand ablösen. Die Archivierung der Volltexte beim Nutzer erfolgt dann wieder als ausgedruckte Schrift oder in Datenbanksystemen. Um die beschafften Informationen mehreren Nutzern in einer Einrichtung oder in einem Verbund (auch wiederholt) anbieten zu können, werden diese in Vorteile und Grenzen von STN Easy 16

17 Intranets eingebunden. Das sind Netzwerke, die für die Bedürfnisse einer bestimmten Personengruppe zugeschnitten und nur für diese Personengruppe zugänglich sind. In Intranets besteht die Möglichkeit, die oben genannten elektronischen Medien einzubinden. In der Praxis sind das: Häufig genutzte kommerzielle CD-ROM-Datenbanken Exklusiver Zugriff auf kostenpflichtige oder kostenfreie Datenbanken im Internet (z. B. über Freigabe der IP-Zugänge der Einrichtung) Eigene Datenbanken Mit STN EASY bietet der Datenbankhost STN International eine Auswahl von wichtigen Datenbanken über eine Rechercheoberfläche im World Wide Web an. Das Fachgebiet Patentinformation ist sehr gut abgedeckt. Im Gegensatz zu anderen Quellen für Patentinformation im Internet gibt es hier eine Reihe von Patentdatenbanken (deutsche, amerikanische und japanische Datenbanken, internationale Datenbanken und Datenbanken für bestimmte Fachgebiete; bibliografische Datenbanken für die Recherche und Volltextdatenbanken zur Anzeige der vollständigen Patentschrift usw.), die gezielt für bestimmte Recherchen ausgewählt werden können oder in denen man auch parallel recherchieren kann. Ähnlich wie bei CD-ROM-Datenbanken gibt es ein einfach zu bedienendes Recherchemenü, das aber hier für alle Patentdatenbanken gleich ist. Im folgenden sollen zusammengefasst die Vorteile, aber auch die Grenzen von STN EASY für Patentrecherchen genannt werden: Vorteile weltweite Erfassung von Patentpublikationen sehr aktuelle Informationen komprimierte Informationen aus qualitativ hochwertigen Datenbanken Informationen sind vom Arbeitsplatz aus leicht zugänglich einfach zu bedienende Rechercheoberfläche für alle Datenbanken auch Anfänger oder Wissenschaftler, die nur gelegentlich recherchieren, können gute Ergebnisse erzielen Grenzen Um die Grenzen von STN EASY beschreiben zu können, muss man dieses Informationssystem mit den Möglichkeiten von Online-Datenbanken vergleichen, auf die von professionellen Rechercheuren mit einer Suchsprache (z. B. Messenger) im Kommandomodus zugegriffen wird. Die oben genannten Vorteile von STN EASY gegenüber anderen Informationsmedien ergeben sich teilweise aus den Online-Datenbanken selbst diese sind bei STN EASY dieselben wie beim Kommandomodus.! Nicht alle Patentdatenbanken sind verfügbar. Bei STN EASY wurde eine Auswahl von Datenbanken getroffen, um dem Nutzer die Qual der Wahl etwas zu erleichtern (EASY). Es bleibt jedoch ein breites Spektrum übrig. Folgende Aspekte wurden berücksichtigt: Maximale Länderabdeckung (internationale Datenbanken; zu USA, Japan und Deutschland wurden außerdem nationale Datenbanken ausgewählt) Paralleles Recherchieren auf internationalem Niveau Aktualität Abdeckung der wesentlichen Recherchearten Das Recherchemenü bietet für die meisten Recherchearten in Patentdatenbanken einen geeigneten Zugang. Wer jedoch schon einmal versucht hat, eine Patentrecherche zum Stand der Technik durchzuführen, weiß, dass manchmal sehr viele Aspekte (verschiedene Stichworte, Klassifikationen, Ländereinschränkungen, zeitliche Einschränkungen usw.) verknüpft werden müssen, um ein möglichst vollständiges Ergebnis zu erreichen.! Die Zahl der Verknüpfungsmöglichkeiten ist beschränkt. Vorteile und Grenzen von STN Easy 17

18 Dies bedeutet jedoch nur eine Einschränkung, wenn sehr komplexe Recherchen zum Stand der Technik in einem Suchlauf durchgeführt werden sollen. Mit solchen komplexen Sachrecherchen sollte man einen Profi- Rechercheur, der mit der Kommandosprache Messenger arbeitet, beauftragen.! Spezielle, komplexe Recherche-, Ausgabe- und Auswertemöglichkeiten der Kommandosprache Messenger sind nicht realisiert. In der Recherchesprache Messenger gibt es eine Reihe von komplexen Befehlen, die sehr effektiv vom erfahrenen Rechercheur eingesetzt werden können, um die Recherchequalität zu erhöhen oder zusätzliche Informationen zu gewinnen (z. B. für statistische Auswertungen). Diese Befehle setzen die genaue Kenntnis der Datenbanken, der Recherchestrategie und der Befehle selbst voraus. Auf sie wurde bei STN EASY verzichtet. Vorteile und Grenzen von STN Easy 18

19 Voraussetzungen für die Patentrecherche mit STN EASY Wenn Sie diese Dokumentation lesen, sind die ersten Voraussetzungen für die Nutzung von STN EASY wahrscheinlich schon erfüllt: ein Computer mit Zugang zum World Wide Web, eine Zugangsvereinbarung mit STN International. STN EASY erreichen Sie über folgende Adressen: (für Kunden von STN-Karlsruhe) (für Kunden von STN-Columbus) (für Kunden von STN-Tokio) Das Recherchemenü für STN EASY ist selbsterklärend. Um hier Datenbanken auszuwählen und Suchworte einzugeben, braucht man keine speziellen Voraussetzungen. Einige zusätzliche Informationen finden Sie im Hilfetext von STN EASY. Um jedoch die Rechercheaufgabe für eine Patentrecherche zu formulieren, die richtige Datenbank auszusuchen, eine geeignete Recherchestrategie festzulegen und das Rechercheergebnis bewerten zu können, sind einige Kenntnisse von großer Wichtigkeit: Grundkenntnisse der Booleschen Algebra Grundlegende Kenntnisse bei Recherchen im WWW Grundlagen der Patentinformation Grundkenntnisse über die Patentdatenbanken (Inhalt, Aufbau, Recherchemöglichkeiten) Dieser Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY soll Ihnen Unterstützung geben, genau diese Vorkenntnisse zu erwerben. Voraussetzungen 19

20 Durchführung einer Patentrecherche mit STN EASY Vor der Recherche Durchführung der Recherche mit STN EASY Nach der Recherche...21 Die Suche in Online-Datenbanken mit STN Easy wird ähnlich wie bei der manuellen Recherche durchgeführt. Bei der manuellen Recherche ist man sich mancher Schritte bei der Suche jedoch nicht bewusst. Vor der Recherche Verstehen der Anfrage: Formulierung des Recherchethemas möglichst genau und möglichst umfassend Beschreibung des Recherchethemas, Abgrenzung von bereits Bekanntem und von nicht Gewünschtem Einordnung nach der Rechercheart Eingrenzung nach formalen Kriterien, z. B. erwartete Menge von Patenten, Zeitraum, Länder, Sprachen Formulieren der Suchkriterien: Auswahl von charakteristischen Suchwörtern Ermittlung von Klassifikationen (z. B. IPC, USCL) Namen bekannter Erfinder / Anmelder Nummern von bereits bekannten Patenten Dabei müssen die Suchkriterien bestimmt werden, die den Kern der Anfrage repräsentieren. Bei der Sachrecherche Bremsen für Inline-Skates z. B. stellt sich eine Reihe von Fragen: Gibt es andere Begriffe für Inline-Skates? z. B. Rollerblades (oder Roller-Blades), Rollschuhe Ist es wichtig, ob die Bremsen speziell für Inline-Skates sind oder könnte die gesuchte Bremse auch an anderen Rollschuhen verwendet werden? ggf. kann das Wort Inline wegfallen Wie viele Treffer werden erwartet? Ist die Thematik zu umfassend gewählt, sollte man sich auf spezielle Bremsen (z. B. Handbremsen) beschränken? Welche von den verschiedenen Klassen soll(en) verwendet werden? Gibt es bekannte Firmen, die im Ergebnis auftauchen sollten? ggf. kann man daran das Rechercheergebnis kontrollieren Sind bereits Patentschriften bekannt? ggf. kann man daraus Hinweise für die Gestaltung der Recherchestrategie entnehmen Festlegung, in welcher Weise mehrere Recherchekriterien miteinander verknüpft werden sollen: Reihenfolge der Eingabe, z. B. Klassifikationen auf dem ersten Suchformular, danach mit Verfeinern einzelne Suchwörter auf den folgenden Formularen Operatoren, die verwendet werden sollen (Boolesche Operatoren, NEAR) Schritte 20

21 Durchführung der Recherche mit STN EASY Auswahl der Maske Patentsuche oder Fortgeschrittene Suche (siehe Auswahl des Recherchemodus) Auswahl einer Patentkategorie, eventuell Auswahl einzelner Datenbanken (siehe Auswahl der Kategorien und Übersicht: Suchmöglichkeiten in den Patentdatenbanken) nach dem Thema, z. B. Chemie Chemical Abstracts nach dem Land, z. B. international WPINDEX, z. B. Deutschland PATDPA nach der Rechercheart, z. B. Patentfamilie INPADOC Eingeben der Suchanfrage: Eintragen der ausgewählten Suchkriterien in die entsprechenden Felder Auswählen der entsprechenden Operatoren abhängig von der Rechercheart und den gewählten Datenbanken Überprüfung des Rechercheergebnisses: Auswertung der Trefferzahl Überprüfung der Titel Verfeinern der Suche / Neue Suche abhängig vom Ergebnis der Recherche kann evtl. übersprungen werden Dublettenermittlung, Sortierung der Dokumente Anzeige der Dokumente / ausgewählter Dokumente, eventuell Volltextanzeige oder Volltextbestellung Speicherung des Sitzungsprotokolls Nach der Recherche Auswertung und Zusammenstellung der Ergebnisse Erstellung eines Rechercheberichtes Schritte 21

22 Auswahl des Recherchemodus Patentsuche (mit Maske) Fortgeschrittene Suche Hinweise zur Option Verfeinern Es gibt vier Recherchemodi: Einfache Suche Fortgeschrittene Suche CAS Nummern Suche Patentsuche (mit Maske) Patentrecherchen können entweder mit der Maske Patentsuche oder mit der Maske Fortgeschrittene Suche durchgeführt werden. In beiden können die Kategorien und die Datenbanken ausgewählt werden. Patentsuche (mit Maske) Die Maske Patentsuche ist eine benutzerfreundliche Oberfläche. Sie enthält neun Suchkästchen für wichtige Felder bei Patentrecherchen. In diesen Feldern kann einzeln gesucht werden oder die Suche kann kombiniert in verschiedenen Feldern durchgeführt werden. Für die Kombination der Suchkästchen/Suchfelder untereinander kann AND oder OR (für alle Felder gemeinsam, Auswahlbox rechts oben) festgelegt werden. In den meisten Fällen wird man Recherchemenü 22

23 hier AND festlegen. So kann z. B. eine Suche im Feld Freitext mit einer Suche im Feld IPC Klassifikation verknüpft werden (AND). In allen angegebenen Feldern kann im Index geblättert werden. Innerhalb eines Suchfeldes können ebenfalls die Booleschen Operatoren (AND, OR, NEAR, NOT) verwendet, nach Phrasen in Anführungszeichen "..." gesucht werden und Klammern gesetzt werden. Wenn Boolesche Operatoren eingetragen wurden, sollte nicht mehr in Index geblättert, sondern gleich gesucht werden. Wenn nur ein Leerzeichen zwischen zwei eingegebenen Begriffen steht, wird automatisch NEAR gewählt. Nur bei den Recherchen nach dem Erfinder (Nachname und Vorname) wird der Name als Phrase gesucht. Fortgeschrittene Suche Die Fortgeschrittene Suche bietet mehr Möglichkeiten für die Patentrecherche (mehr Suchfelder, mehr Verknüpfungsmöglichkeiten) als die Patentsuche (mit Maske). Folgende Felder stehen abhängig von der gewählten Datenbank zur Verfügung: Accession Nr. Patentnummer Anmeldedatum Prioritätsdatum Anmeldejahr Prioritätsland Anmeldeland Prioritätsjahr Anmeldenummer Prioritätsnummer Dokumentenart Publikationsdatum Erfinder Publikationsjahr Freitext Publikationsland Organisation Sprache Patentanmelder Titel Patentklasse (Europ.) Vertragsstaaten Patentklasse (Int.) Zitierte Referenz Patentklasse (U.S.) Zeitschriftentitel Recherchemenü 23

24 In diesen Feldern kann wie oben beschreiben einzeln gesucht oder die Suche kann kombiniert in verschiedenen Feldern durchgeführt werden. Die Verknüpfung ist hier flexibler, es stehen jetzt alle Operatoren (AND, OR, NEAR, NOT) zwischen den einzelnen Feldern zur Verfügung. Bei Bedarf können weitere Eingabezeilen eingefügt werden (insgesamt 10). In allen angegebenen Feldern kann im Index geblättert werden. Innerhalb eines Suchfeldes können ebenfalls die Booleschen Operatoren (AND, OR, NEAR, NOT) verwendet oder nach Phrasen in Anführungszeichen "..." gesucht werden und Klammern gesetzt werden. Wenn Boolesche Operatoren eingetragen wurden, sollte nicht mehr in Index geblättert, sondern gleich gesucht werden. Ein Leerzeichen hat ebenfalls die Bedeutung wie bei der Patentsuche mit Maske. Bei der Suche in bestimmten Feldern (z. B. Publikationsjahr) werden zusätzliche Menüfelder eingeblendet, die die Suchmöglichkeiten verbessern. Hinweise zur Option Verfeinern In beiden Recherchemenüs kann nach der Suche mit der ersten Suchmaske die Option Verfeinern verwendet werden (kostenlos). Die Maske, die nach Aufrufen dieser Funktion eingeblendet wird, entspricht der des Recherchemenüs Fortgeschrittene Suche. Beim Verfeinern stehen als Boolesche Operatoren nur AND und NOT zur Verfügung. Eine Verfeinerung ist also immer eine Einschränkung mit einem zusätzlichen Suchkriterium. Wenn man die Funktion Verfeinern optimal einsetzen will, sollte die Recherchestrategie von vornherein auf diese Funktion abgestimmt sein. Folgende Regeln sollten dabei beachtet werden: Beispiele: A) Elektrische Zahnbürsten B) Pizzaverpackungen C) Inline Skates D) Patentanmelder Trumpf Werkzeugmaschinen E) Patentanmelder Planeta (mehrere Namen sind möglich, z. B. KBA-Planeta, Planeta Druckmaschinenwerk) aber nicht Planeta Hausgeräte F) DE-, EP- und WO-Anmeldungen zum Thema Mobilfunk G) Rotoren für Windkraftmaschinen (für Windkraftmaschinen wird die Notation der IPC F03D verwendet, zum Einsatz der Rotoren ist nichts Näheres bekannt) H) Gewebe für den Einsatz in Airbags (für Gewebe wird sowohl die IPC-Notation D03D als auch die Stichworte gewebe? or textil? verwendet) Auf der ersten Suchseite sollte die Formulierung zur Suche des (eines) wichtigsten (wichtigen) Begriffes eingetragen werden. Dabei sollten alle Synonyme mit geeigneten Trunkierungen berücksichtigt werden (mit OR verknüpft) A) zahnbuerste? or zahnreinigung? or zahnpflege? or Freitext zahnputz? B) pizza? or pancake? or flat cake? Freitext C) skate? or roller shoe? or blade? Freitext D) trumpf Patentanmelder E) planeta Patentanmelder F) mobil radio? Freitext G) F03D IPC Klassifikation H) d03d IPC Klassifikation OR (gewebe? or textil?) Freitext Recherchemenü 24

25 Wenn die Trefferzahl klein ist, können alle Titel ausgewertet werden, wenn die Trefferzahl zu groß ist sollte verfeinert werden. Eingabe des weiteren Suchkriteriums auf der Maske Verfeinern. Mehrere Synonyme können innerhalb eines Suchfeldes mit OR verknüpft werden: A) elektr? Freitext AND B) box or carton? or container? Freitext AND C) inline or aligned or single row Freitext AND D) werkzeugmaschinen? or maschinen? or lasertechnik? Patentanmelder AND E) hausgeraete? Patentanmelder NOT F) de or ep or wo Publikationsland AND G) rotor? Freitext AND H) airbag? or air bag? Freitext AND Wenn die Trefferzahl kleiner ist als erwartet, kann man mit der BACK-Funktion des Browsers wieder bis zum ersten Ergebnis zurück gehen und einen zweiten kostenlosen Test starten (anderer Begriff, zusätzlicher Begriff, andere Schreibweise), z. B. statt inline die Schreibweise in-line verwenden. Wenn zu viele Treffer da sind, muss noch eine weitere (oder mehrere) Verfeinerung(en) durchgeführt werden. Recherchemenü 25

26 Anzeige der Dokumente Nach einer Suche wird immer die Trefferzahl in der/den jeweiligen Datenbank(en) angezeigt und die Titel werden aufgelistet (immer kostenlos). Es sind 10 Titel voreingestellt. Man kann diese Zahl unter Präferenzen auf 50 erhöhen. Um sich weitere Titel anzusehen, muss auf die entsprechenden Buttons für die folgenden Seiten geklickt werden. Die Rechercheformulierung wird oben angezeigt. Um noch genauer zu sehen, wie die eingegebenen Begriffe als Suchanfrage zusammengefügt wurden (Boolesche Verknüpfung, Suchfelder), klicken Sie auf Suchanfrage. Die Dokumente sind entweder zeitlich oder nach Relevanz geordnet. Diese Ordnung kann geändert werden. Die Ordnung nach Relevanz ist vor allem dann sinnvoll, wenn in einer Suchanfrage mehrere Stichworte verknüpft wurden. Nach einer Namensrecherche oder Nummernrecherche ist diese Sortierung nicht sinnvoll. Unter Welche Antworten? kann ausgewählt werden, ob nur die Antworten der angezeigten Seite zur weiteren Auswahl herangezogen werden sollen oder ob aus allen Antworten ausgewählt werden soll. Bei letzterem können dann nacheinander alle Seiten aufgeblättert werden und die zutreffenden Titel durch Anklicken des Markierungskästchens ausgewählt werden. Alle ausgewählten Dokumente werden hintereinander auf dem Bildschirm ausgegeben und können so auch auf dem PC mit Hilfe des Browsers gespeichert werden. Anzeige 26

27 Unter Anzeigeformat werden verschiedene Möglichkeiten angeboten (nicht alle Formate in jeder Datenbank). Die Anzeigekosten werden nach Anwahl des Formats hinter dem Titel angezeigt: Standard dieses Format enthält meistens bibliografische Informationen, Abstracts und Patentzeichnungen Standard Plus enthält das Standardformat plus Felder mit besonderen Inhalten, z. B. fachspezifische Indexierung, und den Volltext bei den entsprechenden Datenbanken (in EUROPATFULL: Volltext und die Patentzeichnung(en) (wenn vorhanden), in USPATFULL, USPAT2: Volltext, in IFIPAT: Abstract und Text des Hauptanspruches (Exemplary Claim), in PCTFULL: Volltext ohne Zeichnung) Family Brief nur in INPADOC, Anzeige der Patentfamilie in kompaktem Format Family Plus nur in INPADOC, enthält Family Brief und zusätzlich die bibliografischen und Rechtsstandsdaten Es kann zwischen zwei Layouts gewählt werden: STN Easy ist ein HTML-Format und zeigt die Feldnamen ausgeschrieben, wie z. B. Autor, Titel STN zeigt das Format des klassischen STN mit voreingestellten Feldcodes, z. B. AU, TI. Bei einigen Anzeigeformaten (z.b. Family Brief, Family Plus) wird wegen der tabellarischen Darstellung nur dieses Format angeboten. Die Auswahl des Layouts STN EASY hat folgende Besonderheiten: die Feldnamen sind ausgeschrieben und fett hervorgehoben es wird Proportionalschrift verwendet (bis auf einige Felder) die Treffer sind fett markiert (wenn Hervorheben (Highlighting) als Präferenz gewählt wurde) Statt der Speicherung jeder einzelnen Ausgabe ist es sinnvoller, alle während einer Sitzung ausgewählten und ausgegebenen Dokumente durch Anwählen von Suchgeschichte zusammenzufassen und zu speichern. Beim Sitzungsprotokoll wird zusätzlich auch die Suchanfrage ausgegeben. Das Sitzungsprotokoll ist in HTML-, PDF- und RTF- Format verfügbar und kann mit dem Browser, mit Adobe Acrobat Reader oder mit einem Textverarbeitungsprogramm auch ausgedruckt oder abgespeichert werden. Die Sitzungsprotokolle bleiben mindestens 4 Tage verfügbar. Anzeige 27

28 Speicherfunktion Es besteht die Möglichkeit, entweder einzelne Suchterme oder eine komplette Anfrage mit Suchumgebung (Datenbank, Recherchemenü, Einstellungen usw.) zu speichern. Nach einer Suche muss dazu auf Speichern geklickt werden: Unter einem gewählten Namen kann diese Anfrage für die beiden Varianten gespeichert werden. Die Variante Für den Aufruf der Suchterme sollte gewählt werden, wenn man die Anfrage z.b auch in anderen Datenbanken verwenden will. Die Variante Als Gespeicherte Suche kann z.b. verwendet werden, wenn eine komplette Suche in bestimmten Abständen wiederholt werden soll (Überwachungen). (Die Speicherfunktion wurde hauptsächlich für STN Easy for Intranets entwickelt, um dem Systemadministrator die Möglichkeit zu geben, Hinweise für die Nutzer einzubringen.) Speicherfunktion 28

29 Die gespeicherten Anfragen können wie folgt wieder aufgerufen werden: Mit Aufruf werden nur die Suchterme aufgerufen und in die Recherche eingefügt. Mit Suchterme anzeigen in der linken Navigationsspalte kann die komplette Recherche aufgerufen werden: Variante Aufruf: Anzeige der Details: Speicherfunktion 29

30 Variante Suchterme anzeigen: Anzeige der Details: Speicherfunktion 30

31 Inhalt der Patentdatenbanken

32 Auswahl der Kategorien Die Einteilung in Kategorien soll die Auswahl der Patentdatenbanken erleichtern: Kategorie Wann sollte welche Kategorie gewählt werden? Zugeordnete Datenbanken Patente Hier sind alle Patentdatenbanken zusammengefasst. Es sollte nicht parallel in allen Datenbanken gesucht werden, sondern bestimmte, der Aufgabe entsprechende Datenbanken sollten ausgewählt werden. CAold (Schwerpunkt auf Patente), CAplus (Schwerpunkt auf Patente), DPCI, EPFULL, FRANCEPAT, FRFULL, GBFULL, IFIPAT, IFIREF, IMSPATENTS, INPADOC, JAPIO, KOREAPAT, LITALERT, PATDPA, PATDPAFULL, PATDPASPC, PCTFULL, RDISCLOSURE, RUSSIAPAT, USPAT2, USPATFULL, WPIFV, WPINDEX Patente, international Patente, national Patente, Volltext Patente, Zitierungen Hier sind die Datenbanken zusammengefasst, die die wichtigen Industrieländer bzw. alle Länder abdecken. Hier sollte nach ausländischen Patenten und nach dem internationalen Stand der Technik recherchiert werden. Hier sind die Datenbanken verfügbar, in denen nur die Patente eines Landes zusammengefasst wurden, z. B. in PATDPA deutsche Patente, in IFIPAT amerikanische Patente. In dieser Kategorie sind die Volltextdatenbanken zusammengefasst. Volltexte sind für US- und europäische Patente verfügbar. Man kann z. B. nach Patentnummern suchen und sich den Volltext anzeigen, eine Suche im gesamten Volltext ist auch möglich. Diese Kategorie sollte gewählt werden, wenn nach Zitierungen (Cited und Citing Patents) gesucht werden soll. CAold (Schwerpunkt auf Patente), CAplus (Schwerpunkt auf Patente), INPADOC, WPIFV, WPINDEX FRANCEPAT, IFIPAT, JAPIO, KOREAPAT, PATDPA, PATDPASPC, RUSSIAPAT EFULL, FRFULL, GBFULL, IFIPAT, PATDPAFULL, PCTFULL, RDISCLOSURE, USPAT2, USPATFULL DPCI Kategorien 32

33 Übersicht: Suchmöglichkeiten in den Patentdatenbanken und Hinweise für die Auswahl der Datenbanken Internationale Patentdatenbanken Nationale Patentdatenbanken Volltextdatenbanken (international und regional) Volltextdatenbanken (national) Fachspezifische Patentdatenbanken (national und international) Klassifikationsdatenbanken Auf den folgenden Seiten wird eine Übersicht über die wichtigsten Suchmöglichkeiten in Patentdatenbanken gegeben. Die Zeichen haben folgende Bedeutung: + Recherchemöglichkeit vorhanden * Recherchemöglichkeit mit Einschränkungen (z. B. nur Anzeige möglich) Bei einem bestimmten Problem sollten zuerst die Hinweise zu der betreffenden Datenbank und zu der Rechercheart allgemein, dann erst die anderen Hinweise oder Beispiele gelesen werden. Internationale Patentdatenbanken Datenbanken Recherchearten 1. Sachrecherche Schlagwörter CAPLUS INPADOC WPIFV WPINDEX Chemie und chem. Patente aus ca. 60 Patente aus ca. 40 Patente aus ca. 40 Verfahrenstechnik Ländern Ländern Ländern + * + + IPC Nationale Klassifikation (USCL) 2. Namensrecherchen Erfinder/Anmelder 3. Recherche nach Ländern 4. Datumsangaben Anmeldung/Publikation Datenbankeintragung 5. Nummernrecherchen Patentnummern / Aktenzeichen 6. Rechtsstands daten + * Familienrecherchen Anzeige von Patentgrafiken 9. Zitierungen * + * + + In CAold sind bei Patenten bibliographische Daten von 1907 bis 1967, abhängig vom Publikationsjahr und vom Publikationsland, recherchierbar. WPIVF ist eine Ergänzungsdatenbank zu WPINDEX für Überwachungsrecherchen: Mit jedem Update kommen neue Dokumente hinzu, voll-indexierte Dokumente gehen in WPINDEX über Uebersicht 33

34 Nationale Patentdatenbanken Datenbanken Recherchearten 1. Sachrecherche Schlagwörter FRANCEPAT IFIPAT JAPIO KOREAPAT PATDPA RUSSIAPAT FR Patente US Patente Ungeprüfte Anmeldunge n aus Japan Patentanmel dungen oder Patente aus Korea Deutsche Patente Patentanmel dungen oder Patente aus Russland IPC Nationale Klassifikation (USCL) 2. Namensrecherchen Erfinder/Anmelder 3. Recherche nach Ländern 4. Datumsangaben Anmeldung/Publikation Datenbankeintragung 5. Nummernrecherchen Patentnummern / Aktenzeichen 6. Rechtsstands daten 7. Familienrecherchen 8. Anzeige von Patentgrafiken * Zitierungen + + Uebersicht 34

35 Volltextdatenbanken (international und regional) Datenbanken Recherchearten 1. Sachrecherche Schlagwörter EPFULL PCTFULL RDISCLOSURE Europ. Patente, Volltext PCT-Anmeldungen Technische Offenbarungen, Volltext Volltext IPC + + Nationale Klassifikation (USCL) 2. Namensrecherchen Erfinder/Anmelder 3. Recherche nach Ländern 4. Datumsangaben Anmeldung/Publikation Datenbankeintragung 5. Nummernrecherchen Patentnummern / Aktenzeichen 6. Rechtsstands daten 7. Familienrecherchen 8. Anzeige von Patentgrafiken 9. Zitierungen * Uebersicht 35

36 Volltextdatenbanken (national) Datenbanken Recherchearten 1. Sachrecherche Schlagwörter FRFULL GBFULL IFIPAT PATDPAFULL USPATFULL/ USPAT2 FR Patente GB Patente US Patente Deutsche Patente, Volltext US Patente, Volltext IPC Nationale Klassifikation (USCL) 2. Namensrecherchen Erfinder/Anmelder 3. Recherche nach Ländern 4. Datumsangaben Anmeldung/Publikation Datenbankeintragung 5. Nummernrecherchen Patentnummern / Aktenzeichen 6. Rechtsstands daten 7. Familienrecherchen 8. Anzeige von Patentgrafiken Zitierungen + + Uebersicht 36

37 Fachspezifische Patentdatenbanken (national und international) Datenbanken Recherchearten 1. Sachrecherche Schlagwörter DPCI IMSPATENTS LITALERT PATDPASPC Zitierte und zitierende Patente Evaluierte Patentfamilien zu pharmazeutischen Wirkstoffen Rechtsstreite zu US- Patenten und US- Marken Deutsche Schutzzertifikate * + + * IPC + + * Nationale Klassifikation (USCL) 2. Namensrecherchen Erfinder/Anmelder 3. Recherche nach Ländern 4. Datumsangaben Anmeldung/Publikation Datenbankeintragung 5. Nummernrecherchen Patentnummern / Aktenzeichen 6. Rechtsstands daten Familienrecherchen + 8. Anzeige von Patentgrafiken 9. Zitierungen + Klassifikationsdatenbanken IFIREF. Die Datenbank erschließt die US-Klassifikation und die IFIClaims Uniterms. * Uebersicht 37

38 Fortschreibungskonzepte in Patentdatenbanken Statisches Konzept Dynamisches Konzept Mischkonzepte Mehrere Dokumente Segmente Co-Datenbank Ein wesentlicher Unterschied von Patentdatenbanken im Vergleich zu anderen bibliografischen Datenbanken ist, dass Patentdatenbanken zusätzlich den Verfahrensverlauf einer Patentanmeldung widerspiegeln. Das heißt, ein in die Datenbank aufgenommenes Dokument zeigt den Stand des Patentverfahrens zu einem bestimmten Zeitpunkt, z. B. nach Publikation der Offenlegungsschrift. Die nach dieser Publikation veröffentlichten Daten zu dem betreffenden Verfahren werden ggf. nachträglich in die Datenbank aufgenommen. Für diese Dynamisierung der Dokumente in den Patentdatenbanken werden unterschiedliche Konzepte verwendet. Statisches Konzept Eine Veröffentlichung (z. B. eine ungeprüfte Anmeldung) führt zu einem Dokument (= Record, eine Dokumentationseinheit) in der Datenbank. Dieses Dokument wird nicht mehr verändert. Weitere, spätere Publikationen (z. B. ein erteiltes Patent) oder Änderungen im Rechtsstand werden nicht mehr erfasst. Das statische Konzept ist zum Beispiel in den Datenbanken JAPIO und PCTFULL realisiert. 1. Veröffentlichung Datenbank Record 1. Veröffentlichung 1. Veröffentlichung Dokumentationseinheit = Record Daten der 1. Veröff. + Daten der 2. Veröff. TI... PA... PI Veröffentlichung 2. Veröffentlichung Abbildung: Statisches Konzept Abbildung: Dynamisches Konzept Dynamisches Konzept Mit der ersten Publikation in einem Patentverfahren wird ein neues Dokument (Record) in der Datenbank eingerichtet und es werden die zu diesem Zeitpunkt bekannten Daten zu Veröffentlichungen und evtl. zum Rechtsstand eingetragen. Bei einer neuen Veröffentlichung oder bei einer Änderung des Rechtsstandes erfolgt eine Veränderung im Inhalt des vorhandenen Dokumentes. Das bedeutet, ein Dokument (= Dokumentationseinheit) entspricht einem bestimmten Verfahren, unabhängig von der Anzahl der Publikationen. Das dynamische Konzept ist zum Beispiel in den Datenbanken PATDPA und WPINDEX realisiert. Dynamik 38

39 Mischkonzepte Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY In einigen Datenbanken sind die oben beschriebenen Konzepte nicht in ihrer reinen Form, sondern mit verschiedenen Abwandlungen realisiert. Zumeist werden einzelne Felder in den Dokumenten fortgeschrieben. Die bibliografischen Daten und Textbestandteile einer neuen Patentpublikation innerhalb des Verfahrens werden jedoch zusätzlich in einem separaten Dokument (Record) erfasst. Es gibt im wesentlichen folgende Konzepte: Mehrere Dokumente Wird im Patentverfahren zunächst eine Anmeldung veröffentlicht, so wird ein Dokument mit den bibliografischen Daten und Textbestandteilen in die Datenbank eingetragen. Wenn später ein Patent erteilt wird, so wird die entsprechende neue Publikation in einem zweiten Dokument mit den neuen Daten und Textbestandteilen aufgenommen. Einzelne Felder in beiden Dokumenten werden entsprechend dem Verfahren fortgeschrieben, z. B. Familienfeld oder nationale Patentklassifikation. Dieses Konzept wird in der Datenbank IFIPAT verwendet. 1. Veröffentlichung Record 1 1. Veröffentlichung 2. Veröffentlichung Record 2 2. Veröffentlichung Abbildung: Konzept mit mehreren Dokumenten Segmente Wie beim statischen Konzept (s. o.) bleibt ein einmal aufgenommenes Dokument auch beim Erscheinen späterer Veröffentlichungen in der ursprünglichen Form erhalten. Um nachträglich weitere Veröffentlichungen zu derselben Erfindung aufnehmen zu können, wird eine besondere Konstruktion verwendet: Eine Dokumentationseinheit wird in mehrere Segmente oder Publikations-Level unterteilt. Jedes Segment oder jeder Level nimmt ein Dokument auf. Wenn beispielsweise zuerst eine Offenlegungsschrift erscheint, wird eine neue Dokumentationseinheit eingerichtet und das Dokument (Record) eingetragen. Wenn später eine Patentschrift erscheint, wird die Dokumentationseinheit um ein Segment (= einen neuen Record) erweitert, in das die Patentschrift eingetragen wird. Nach der Eintragung werden die Dokumente selbst nicht mehr verändert. Eventuell werden danach noch weitere Publikationen oder auch Rechtsstände (z. B. INPADOC) in die Dokumentationseinheit eingetragen. Die Rechtsstands-Dokumente sind dynamisch, d. h., aktuelle Informationen werden zu den vorhandenen Daten hinzugefügt. Dieses Konzept ist in einer Reihe von Datenbanken realisiert, z. B. EPFULL, INPADOC. Dynamik 39

40 Dokumentationseinheit 1. Veröffentlichung Record 1. Veröffentlichung 2. Veröffentlichung Record 2. Veröffentlichung Abbildung: Konzept mit Segmenten Co-Datenbank Dieses Konzept wird bei den amerikanischen Volltext-Datenbanken USPATFULL und USPAT2 verwendet. Wie sonst beim dynamischen Konzept werden die bibliografischen Daten in USPATFULL fortgeschrieben (ergänzt, überschrieben), wenn neue Informationen vorliegen. Um den Volltext des späteren US-Patentes zusätzlich zum Volltext der Anmeldung aufzunehmen, wird das neue Dokument in USPAT2 eingetragen. Die bibliografischen Daten werden danach ggf. fortgeschrieben. Wenn im Verfahren noch eine weitere neue Publikation erscheint, wird das Dokument in USPAT2 überschrieben. 1. Datenbank 1. Veröffentlichung Record 1. Veröffentlichung 2. Datenbank 2. Veröffentlichung (oder spätere) Record 2. Veröffentlichung (oder spätere) Abbildung: Konzept mit Co-Datenbank Dynamik 40

41 Chemical Abstracts Plus (CAplus) Typische Anfragen Kurzbeschreibung Inhalt Fortschreibung Aktualität Chemical Abstracts Old (CAOLD) Dokument aus CAPLUS Typische Anfragen Recherchen zum Stand der Technik auf dem Gebiet der Chemie und chemischen Verfahrenstechnik (Freitext und Klassifikation), z. B.: Welche Patente wurden in den letzten fünf Jahren über Impfstoffe für Hepatitis B publiziert? Gibt es Patente über die Verwendung von Diaminodiphenyl ether-pyromellitic anhydride copolymers? Namensrecherchen, z. B.: Welche Erfindungen auf dem Gebiet der Chemie gibt es von Richard Paul Eckberg? Welche Patente hält die XY GmbH? Patentfamilienrecherchen, z. B.: In welchen Ländern wurde die japanische Erfindung JP angemeldet. Kurzbeschreibung Inhalt Hersteller: Chemical Abstracts Service (CAS), Columbus, Ohio, USA Zeitraum: seit Images der gedruckten CA Umfang: ca. 5 Mio Patentveröffentlichungen (September 2005) Update: täglich Sprache: Englisch Patente, Zeitschriftenartikel, Bücher, Konferenzberichte, Technische Berichte, Hochschulschriften aus allen Gebieten der Chemie und der chemischen Verfahrenstechnik ca. 17% der jährlich Zitate sind Patente aus > 40 Ländern, Europäische und PCT-Veröffentlichungen, RD-Publikationen (Research Disclosure) Technical Disclosures aus dem IP.com Journal (ab Vol.1, No.1, January 2001). IP.com ist eine elektronische und eine gedruckte Zeitschrift (siehe Feld SO). Im Feld PI (Patent Information) erscheinen die Nummern mit dem Publikationsland IP (Technical Disclosure / Defensive Publications können auch unter publiziert und recherchiert werden.) durch Experten formulierte aussagekräftige Titel und Abstracts in Englisch Internationale Patentklassifikation, Nationale amerikanische Patentklassifikation, ECLA ab 1993 (wenn vorhanden), F-Terms (jap. Klassifikation) ab 1/2004 Zusätzliche Indexierung (Schlagwörter, REGISTRY-Nummern) Patentfamiliendaten CAPlus 41

42 Patent- und Literaturzitierungen (ab 1999, Patente: Basic Document; Cited Patents; US, DE, EP, WO ab 1999, FR, GB ab 2003); da aber das Basic-Dokument häufig nur eine Offenlegungsschrift ist, die noch keine Zitierungen enthält, sind die Zitierungen bei Patententen insgesamt sehr lückenhaft; bei erteilten US-Patenten werden die Prüferzitierungen auch bei Equivalents hinzugefügt. nähere Informationen siehe In der Datenbank Chemical Abstracts werden neben den Patenten Nachweise zu Büchern, Zeitschriften, Konferenzberichten, Technischen Berichten und Hochschulschriften aufgenommen. Damit sind die Chemical Abstracts die einzige hier behandelte Datenbank, die keine reine Patentdatenbank darstellt. Patentschriften werden anhand der Daten von EPIDOS Wien für die Aufnahme in CA ausgewählt. Dabei erfolgt eine Einschränkung nach den Ländern (40 Länder, Europäische Patentorganisation und World Intellectual Property Organization), nach Dokumentenarten und dem Fachgebiet (anhand der Notationen der Internationalen Patentklassifikation). Die Kriterien sind beschrieben unter Bei den für die Chemical Abstracts ausgewählten Dokumenten wird geprüft, ob aus derselben Familie schon ein Dokument aufgenommen wurde. Ist noch keine frühere Schrift bekannt, wird das Dokument als Basic Document angesehen und durch einen Experten geprüft und indexiert. Ist bereits ein entsprechendes Dokument in der Datenbank vorhanden, so wird die Patentfamilie (Patentnummer, Aktenzeichen) fortgeschrieben. Fortschreibung Die Datenbank CAplus ist dynamisch. Es erfolgt eine Fortschreibung der Patentfamilie innerhalb eines Dokuments, wenn weitere Patente zu derselben Erfindung erscheinen. Aktualität Patentdokumente werden, ggf. noch ohne vollständige Index-Informationen, mit einer Verzögerung von wenigen Tagen bis 3 Wochen gegenüber dem Erscheinen aufgenommen. Bis zur Aufnahme der vollständigen Index-Information vergehen ca. 2 Monate. Bei Kernpatentämtern erfolgt die Aufnahme der bibliografischen Daten und verfügbaren Abstracts innerhalb von 2 Tagen, das Indexing wird innerhalb von 27 Tagen nachgetragen: United States Patent & Trademark Office (USPTO), Deutsches Patent- und Markenamt (DPMA), Japanese Patent Office (JPO), European Patent Office (EPO), UK Patent Office, French Patent Office (INPI), World Intellectual Property Organization (WIPO), Russian Agency for Patents and Trademarks (ROSPATENT) Die Datenbank CAPlus umfasst die Daten aus CA sowie weitere Quellen. Sie wird täglich aktualisiert. Chemical Abstracts Old (CAOLD) CAOLD enthält Hinweise auf Zitate in den gedruckten Chemical Abstracts von 1907 bis Bei Patenten sind bibliografische Daten (Titel, Patentanmelder) und die CAS-Nummer suchbar. Die gescanten Seiten können als PDF- oder JPG-Datei angezeigt werden. Dokument aus CAPLUS Format: Standard PLUS Layout: STN ANTWORT ACS on STN Title Device and procedure for the production of ClF3 for etching semiconductor substrates Inventor Name Laermer, Franz Patent Assignee Robert Bosch G.m.b.H., Germany Publication Source Ger. Offen., 9 pp. Identifier-CODEN GWXXBX CAPlus 42

43 Patent Information PATENT NO. KIND DATE APPLICATION NO. DATE DE A DE DE U DE WO A WO 2003-DE W: JP, US RW: AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR Priority Application Information DE A Abstract A device and a procedure for the prodn. of ClF3 are presented. Inside a plasma reactor a high-d. plasma is produced, whereby a 1st gas and a 2nd gas are supplied that react with each other under the influence of the high-d. plasma in the presence of ClF3. A gas discharge opening is provided, through which the ClF3 formed in the plasma reactor can be removed. Furthermore, app. is suggested for etching of semiconductor substrates such as Si. The app. contains a process chamber connected to the gas discharge opening from the plasma reactor, whereby during processing the semiconductor substrate is exposed to the gaseous ClF3 produced by the device. International Patent Classification International Patent Classification, Main H01L International Patent Classification, Secondary C30B033-12; B01J Document Type Patent Language German Supplementary Indexing chlorine fluoride etchant semiconductor material IT Related Fields Indexing Concept Group Concept Heading Etching Concept Group Concept Heading Semiconductor materials Text Modification (device and procedure for prodn. of ClF3 for etching semiconductor substrates) IT Related Fields Indexing Concept Group Concept Heading Etching Text Modification (etchants; device and procedure for prodn. of ClF3 for etching semiconductor substrates) IT Related Fields Indexing Concept Group Concept Heading Reactors Text Modification (plasma; device and procedure for prodn. of ClF3 for etching semiconductor substrates) IT Related Fields Indexing Concept Group Concept Heading Ceramics Text Modification (reactor material; device and procedure for prodn. of ClF3 for etching semiconductor substrates) CAPlus 43

44 IT Related Fields Indexing Registry Number and Structure CAS Registry Number Author Substance Name Silicon Qualifier processes Role PEP (Physical, engineering or chemical process); PYP (Physical process); TEM (Technical or engineered material use); PROC (Process); USES (Uses) Text Modification (device and procedure for prodn. of ClF3 for etching semiconductor substrates) IT Related Fields Indexing Registry Number and Structure CAS Registry Number Author Substance Name Sulfur hexafluoride Registry Number and Structure CAS Registry Number Author Substance Name Hydrogen chloride Qualifier reactions Registry Number and Structure CAS Registry Number Author Substance Name Fluorine Qualifier reactions Registry Number and Structure CAS Registry Number Author Substance Name Chlorine Qualifier reactions Registry Number and Structure CAS Registry Number Author Substance Name Nitrogen trifluoride Role RCT (Reactant); RACT (Reactant or reagent) Text Modification (device and procedure for prodn. of ClF3 for etching semiconductor substrates) IT Related Fields Indexing Registry Number and Structure CAS Registry Number Registry Number Qualifier P Author Substance Name Chlorine fluoride (ClF3) CAPlus 44

45 Role NUU (Other use, unclassified); PEP (Physical, engineering or chemical process); PNU (Preparation, unclassified); PYP (Physical process); PREP (Preparation); PROC (Process); USES (Uses) Text Modification (etchant; device and procedure for prodn. of ClF3 for etching semiconductor substrates) IT Related Fields Indexing Registry Number and Structure CAS Registry Number Author Substance Name Alumina Qualifier uses Role TEM (Technical or engineered material use); USES (Uses) Text Modification (reactor material; device and procedure for prodn. of ClF3 for etching semiconductor substrates) Accession Number 2004:75968 CAPLUS Document Number 140: CAPlus 45

46 Derwent Patents Citation Index (DPCI) Typische Anfragen Kurzbeschreibung Inhalt Fortschreibung Aktualität Dokument aus DPCI Typische Anfragen siehe Abschnitt Zitierungsrecherchen Zitierungsrecherchen für US, EP, WO, DE, GB, FR: Welche Patente werden in dem US-Patent 6,269,141 der Firma Philips zitiert? Wird dieses Patent in weiteren Patenten zitiert? Wer zitiert das Patent DE ? Zitierungsstatistiken: Welche Firmen zitieren die Patente der Firma Philips am häufigsten? Welche Patente der Firma Philips werden häufig zitiert? Welche Patente über Computer-Tomographen werden häufig zitiert? Kurzbeschreibung Inhalt Hersteller: Derwent Information Ltd., London, Großbritannien Zeitraum: seit 1974 Umfang: ca. 6,2 Mio Dokumentationseinheiten zu Patenten, ca zu Gebrauchsmustern (September 2005); Update: wöchentlich Sprache: Englisch Patentveröffentlichungen und zugehörige Daten zu Zitierungen (durch den Patentprüfer) von US ab 1973 EP, WO ab 1978 DE, GB, JP ab 1994 Patentveröffentlichungen und zugehörige Daten zu Zitierungen (durch den Patentprüfer) von AT, AU, BE, CA, CH, FR, NL, NZ, SE, ZA sind zwischen 1994 und Mai 1997 enthalten Bibliografische Daten, Familiendaten Daten aus zitierten und zitierenden Patenten und Literaturdokumenten Bis Mai 1997 sind auch Erfinderzitierungen enthalten Patente, die ihrerseits Patente aus der Stammfamilie (sogenanntes Master Patent) zitieren, werden ebenfalls aufgenommen und nachgeführt Fortschreibung Die Datensätze im Derwent Patents Citation Index sind dynamisch (vgl. WPINDEX). Neben den Familiendaten werden die Daten zu Zitierungen laufend aktualisiert. DPCI 46

47 Aktualität Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY Die Aufnahme neuer Patentveröffentlichungen (bibliografische Daten) erfolgt mit einer Verzögerung von ca. 7 Wochen. Dokument aus DPCI Format: Standard PLUS Layout: STN L# ANSWER 1 OF 1 DPCI COPYRIGHT 2004 THOMSON DERWENT on STN AN [15] DPCI TI Computer tomography device with conical radiation beam and helical scan path; has defined geometric arrangement of radiation source to edges of detection window, to form relative motion helix. DC P31 S03 S05 IN PROKSA, R; TIMMER, J PA (PHIG) PHILIPS CORP INTELLECTUAL PROPERTY GMBH; (PHIG) KONINK PHILIPS ELECTRONICS NV; (PHIG) PHILIPS GLOEILAMPENFAB NV; (PHIG) US PHILIPS CORP PI DE A (200015)* 13p G01N <-- EP A (200016) DE A61B R: AL AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LI LT LU LV MC MK NL PT RO SE SI JP A (200020) 9p A61B US B (200146) A61B ADT DE A1 DE ; EP A2 EP ; JP A JP ; US B1 US PRAI DE IC ICM A61B006-00; A61B006-03; G01N IC ICS A61B EXF EXAMINER'S FIELD OF SEARCH UPE: NCL US B / ; 000/ ; 000/ IC DE A A61B006-3; G01N CTS CITATION COUNTERS PNC.D 5 Cited Patents Count PNC.G 3 Citing Patents Count CRC.I 0 Cited Literature References Count (by inventor) CRC.X 2 Cited Literature References Count (by examiner) CDP CITED PATENTS UPD: Cited by Examiner CITING PATENT CAT CITED PATENT ACCNO DE A1 No Citations EP A A US A /09 PA: (GENE) GENERAL ELECTRIC CO IN: PFOH, A H AD WO A /34 PA: (EDHO-I) EDHOLM P; (ERIK-I) ERIKSSON J; (MAGN-I) MAGNUSSON-SEGER M; (TURB-I) TURBELL H; (PHIG) US PHILIPS CORP IN: DANIELSSON, P US B1 US A /09 PA: (GENE) GENERAL ELECTRIC CO IN: PFOH, A H DPCI 47

48 US A /40 PA: (VARI) VARIAN ASSOC INC; (PAVK-I) PAVKOVICH J M; (SEPP-I) SEPPI E J; (SHAP-I) SHAPIRO E G IN: PAVKOVICH, J M; SEPPI, E J; SHAPIRO, E G US A /02 PA: (SIEI) SIEMENS AG IN: WALLSCHLAEGER, H US A /37 PA: (GENE) GENERAL ELECTRIC CO IN: HU, H; SHEN, Y REN LITERATURE CITATIONS UPR: Citations by Examiner CITING PATENT CAT CITED LITERATURE EP A KUDO H ET AL: "Cone-beam filtered-backprojection algorithm for truncated helical data" PHYSICS IN MEDICINE AND BIOLOGY, TAYLOR AND FRANCIS LTD. LONDON, GB, Bd. 43, Nr. 10, Oktober 1998 ( ), Seiten , XP ISSN: US B1 "Exact cone beam CT with a spiral scan" by K.C.Tam, S. Samarasekera and F. Sauer. In Phys. Med. Biol. 43(1998) pp CGP CITING PATENTS UPG: Cited by Inventor CITED PATENT CITING PATENT ACCNO EP A2 EP A /42 PA: (PHIG) PHILIPS INTELLECTUAL PROPERTY GMBH; (PHIG) KONINK PHILIPS ELECTRONICS NV; (PHIG) PHILIPS GLOEILAMPENFAB NV; (PROK-I) PROKSA R IN: PROKSA, R Cited by Examiner CITED PATENT CAT CITING PATENT ACCNO DE A1 AD EP A /22 PA: (PHIG) PHILIPS CORP INTELLECTUAL PROPERTY GMBH; (PHIG) KONINK PHILIPS ELECTRONICS NV; (PHIG) PHILIPS GLOEILAMPENFAB NV; (KOHL-I) KOHLER T; (PROK-I) PROKSA R IN: KOEHLER, T; PROKSA, R; KOHLER, T US B1 A EP A /42 PA: (PHIG) PHILIPS INTELLECTUAL PROPERTY GMBH; (PHIG) KONINK PHILIPS ELECTRONICS NV; (PHIG) PHILIPS GLOEILAMPENFAB NV; (PROK-I) PROKSA R IN: PROKSA, R X EP A /02 PA: (GENE) GE MEDICAL SYSTEMS GLOBAL TECHNOLOGY CO; (BASU-I) BASU S K; (HSIE-I) HSIEH J IN: BASU, S K; HSIEH, J DNN N DPCI 48

49 EPFULL Typische Anfragen Kurzbeschreibung Inhalt Fortschreibung Aktualität Dokument aus EPFULL Typische Anfragen Recherche nach dem Stand der Technik in EP-Publikationen (Freitext und Klassifikation), z. B.: Welche europäischen Erfindungen existieren zum Thema Auffinden von Landminen mittels Georadar? Namensrecherchen (Erfinder, Anmelder, Vertreter), z. B.: Welche europäischen Erfindungen der Firma Rossignol wurden im letzten Jahr publiziert? Welche europäischen Patente hat Herr David Beckham angemeldet? Recherchen nach formalen Daten (z. B. Nummern), z. B.: Wurde zur Anmeldung EP eine Erteilung veröffentlicht? Welche Patente wurden von der Firma ERICSSON im Jahr 2004 veröffentlicht? Volltextanzeige von europäischen Patenten Wie lauten die Ansprüche zum europäischen Patent ? Rechtsstandsanzeige In welchen europäischen Ländern ist das Patent EP in Kraft? Suchen nach Einspruchsmaterial im Volltext Multifile-Recherchen mit anderen nationalen oder regionalen Patentdatenbanken Kurzbeschreibung Inhalt Hersteller: Europäisches Patentamt Wien, FIZ Karlsruhe Zeitraum: seit 1987 (bibl. Daten und Original-Abstract ab 1978) Umfang: ca. 1,9 Mio. Dokumentationseinheiten, (September 2005) Update: wöchentlich Sprache: Deutsch, Englisch, Französisch Patentanmeldungen (EP-A1, EP-A2): Volltext, veröffentlicht vom Europäischen Patentamt in einer der drei Amtssprachen (deutsch, englisch, französisch) ab 1987 Patenterteilungen (EP-B1): Volltext, veröffentlicht vom Europäischen Patentamt in einer der drei Amtssprachen (deutsch, englisch, französisch) ab 1991, Ansprüche werden in allen drei Amtssprachen publiziert Bibliografische Daten und Original-Abstract ab 1978 Bibliografische Daten von EURO-PCT-Anmeldungen, die in einer der drei Amtssprachen eingereicht wurden; deshalb existiert zu diesen Dokumenten keine weitere EP-Veröffentlichung der Anmeldung Titel in den drei Amtssprachen EPFULL 49

50 Neuen Dokumenten werden innerhalb einiger Wochen englische Abstracts zugefügt (ab 1990) Angaben zu Zitierungen, bei der Nichtpatentliteratur sind die XP-Referenznummern der europäischen Recherche- bzw. Prüfberichte enthalten Relationen Keine Zeichnungen Rechtstandsinformationen und aus dem EP-Patentregister Fortschreibung Die Datenbank EPFULL verwendet ein Mischkonzept (Segmente). Alle Veröffentlichungen einer Patentanmeldung bilden eine Dokumentationseinheit. Die bibliografischen Daten der einzelnen Publikationen werden separat aufgenommen. Der Text erscheint entweder separat für jede Publikation oder zusammen. Der INPADOC-Rechtsstand wird laufend fortgeschrieben. Aktualität Noch keine Informationen verfügbar. Dokument aus EPFULL Format: Standard Plus; Layout: STNEasy (beide Publikationslevel) ANTWORT EPO/FIZ KA on STN Accession Number 2002:80444 EPFULL Data Update Date Data Update Week Title in English Process for bevelling wood-chip boards or similar, and bevelled boards thereby obtained. Title (in French) Procede de biseautage de panneaux de copeaux de bois ou similaires, et panneaux biseautes ainsi obtenus. Title (in German) Verfahren zum Abschraegen von Holzspanplatten oder aehnlichem, und so hergestellte abgeschraegte Platten. Inventor Name Tirinnanzi, Lorenzo, Via Savonarola 28, Legnano (MI), IT Patent Assignee SACEA S.p.A., Via Ca' Rossa, 7/9, Cerro Maggiore (Milano), IT Patent Assignee Number Agent Adorno, Silvano, et al, c/o SOCIETA' ITALIANA BREVETTI S.p.A. Via Carducci, 8, Milano, IT Agent Number Language of Filing English Language English Language of Procedure English Title Language German; English; French Document Type Patent Patent Info. Publication Type EPA1 Application published with search report Patent Information EP A EPFULL 50

51 Designated State AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE SK TR Application Information EP A Priority Application Information IT 2001-MI2064 A IC.VER 7 International Patent Classification, Main B27N Abstract The present invention relates to a process for bevelling an edge of a wood-chip board (1) or a board of similar material, and the bevelled board thereby obtained. The process comprises the operative steps of: - making at least two grooves (5) along a whole area to be bevelled of the edge of the board (1), said grooves (5) being substantially parallel to each other and to the faces (2, 3) of said board (1) and having a thickness increasing toward the exterior of the board (1); - introducing into each groove (5) an insert (6) of uniform thickness equal to a minimum thickness of the same groove (5); and - pressing and gluing the walls of the grooves (5) on inserts (6). (image, 0.1, abstract drawing) Detailed Description in English [0001] The present invention relates to a process for bevelling the edges of wood-chip boards or boards of similar material and the bevelled boards thereby obtained. [0022] Possible variations and/or additions can be made by those skilled in the art to the embodiment here described and illustrated without departing from the scope of the invention. Claims in English 1.A process for bevelling an edge of a wood-chip board (1) or a board of similar material, provided with two faces (2, 3), characterized in that it comprises the operative steps of: - making at least two grooves (5) along a whole area to be bevelled of the edge of the board (1), said grooves (5) being substantially parallel to each other and to the faces (2, 3) and having a thickness increasing toward the exterior of the board (1); - introducing into each groove (5) an insert (6) of uniform thickness equal to a minimum thickness of the same groove (5); and - gluing and pressing the walls of the grooves (5) on inserts (6). 7.Desk whose top is formed of a wood-chip board or board of similar material according to claim 6. Accession Number 2002:80444 EPFULL Update Date Data Update Date Data Update Week Title in English Process for bevelling wood-chip boards or similar, and bevelled boards thereby obtained. Title (in French) Procede de biseautage de panneaux de copeaux de bois ou similaires, et panneaux biseautes ainsi obtenus. Title (in German) Verfahren zum Abschraegen von Holzspanplatten oder aehnlichem, und so hergestellte abgeschraegte Platten. Inventor Name Tirinnanzi, Lorenzo, Via Savonarola 28, Legnano (MI), IT Patent Assignee SACEA S.p.A., Via Ca' Rossa, 7/9, Cerro Maggiore (Milano), IT EPFULL 51

52 Patent Assignee Number Agent Adorno, Silvano, et al, c/o SOCIETA' ITALIANA BREVETTI S.p.A. Via Carducci, 8, Milano, IT Agent Number Language of Filing English Language English Language of Procedure English Title Language German; English; French Document Type Patent Patent Info. Publication Type EPB1 Granted patent Patent Information EP B Designated State AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE SK TR Application Information EP A Priority Application Information IT 2001-MI2064 A Reference Patents WO A DE A DE A DE C US A IC.VER 7 International Patent Classification, Main B27N Detailed Description in English [0001] The present invention relates to a process for bevelling the edges of wood-chip boards or boards of similar material and the bevelled boards thereby obtained. Such a process is known for example from DE-A- 2,047,213. [0022] Possible variations and/or additions can be made by those skilled in the art to the embodiment here described and illustrated without departing from the scope of the invention as indicated by the appended claims. Claims in English 1.A process for bevelling an edge of a wood-chip board (1) or a board of similar material, provided with two faces (2, 3), characterized in that it comprises the operative steps of: - making at least two grooves (5) along a whole area to be bevelled of the edge of the board (1), said grooves (5) being substantially parallel to each other and to the faces (2, 3) and having a thickness increasing toward the exterior of the board (1); - introducing into each groove (5) an insert (6) of uniform thickness equal to a minimum thickness of the same groove (5); and - gluing and pressing the walls of the grooves (5) on inserts (6). 6.Desk whose top is formed of a wood-chip board or board of similar material resulting from the process of claim 1. Claims in French 1.Procede pour biseauter un bord d'un panneau de copeaux de bois (1) ou d'un panneau de materiau similaire, pourvu de deux faces (2, 3), caracterise en ce qu'il comprend les etapes operationnelles suivantes : EPFULL 52

53 - realiser au moins deux rainures (5) le long d'une zone complete a biseauter du bord du panneau (1), lesdites rainures etant sensiblement paralleles l'une a l'autre et aux faces (2, 3) et ayant une epaisseur augmentant en direction de l'exterieur du panneau (1) ; - introduire dans chaque rainure (5) un insert (6) d'epaisseur uniforme egale a une epaisseur minimale de ladite rainure (5) ; et - coller et presser les parois des rainures (5) sur les inserts (6). 6.Bureau dont le dessus est forme par un panneau en copeaux de bois ou un panneau en materiau similaire, obtenu a partir du procede selon la revendication 1. Claims in German 1.Verfahren zum Abschraegen eines Randes einer Holzspanplatte (1) oder einer Platte aus aehnlichem Material, die zwei Oberflaechen (2,3) aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass es die Arbeitsschritte umfasst von: - Herstellen von mindestens zwei Nuten (5) entlang einer ganzen abzuschraegenden Flaeche des Randes der Platte (1), wobei die Nuten (5) im Wesentlichen parallel zueinander und zu den Oberflaechen (2,3) sind und eine in Aussenrichtung der Platte (1) zunehmende Dicke haben; - Einfuehren in jede Nut (5) eines Einsatzes (6) von gleichmaessiger Dicke, die gleich der geringsten Dicke der gleichen Nut (5) ist; und - Kleben und Pressen der Waende der Nuten (5) auf die Einsaetze (6). 6.Ein Tisch, dessen Oberteil aus einer Holzspanplatte oder aus einer Platte aus aehnlichem Material gebildet wird, die nach dem Verfahren von Anspruch 1 entstanden ist. LEGAL STATUS INCLUDING HISTORY Accession Number 2002:80444 EPFULL EPB430 Unexamined document without grant, (first publication) EPB840 Designated contracting states AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE SK TR EP A EPB844EP Extension of the European patent to AL LT LV MK RO SI EPB241 Request for examination EPB840N Payment of designation fees AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE SK TR EPB450 Document with grant, second publication EPB840 Designated contracting states AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE SK TR EP B EPB452EP Intention to grant EPB475 Lapse of patent FI: EPB475 Lapse of patent SE: EPB475 Lapse of patent GR: EPB475 Lapse of patent AT: EPB475 Lapse of patent CH: EPFULL 53

54 EPB475 Lapse of patent LI: EPB475 Lapse of patent BE: EPB475 Lapse of patent DK: EPB475 Lapse of patent CZ: EPB475 Lapse of patent NL: EPB078EP No opposition filed EPB475 Lapse of patent DE: EPB475 Lapse of patent BG: Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY EPFULL 54

55 FRANCEPAT Typische Anfragen Kurzbeschreibung Inhalt Fortschreibung Aktualität Dokument aus FRANCEPAT Typische Anfragen Recherche nach dem Stand der Technik in Frankreich (Freitext und Klassifikation), z. B.: Welche Erfindungen wurden in Frankreich auf dem Gebiet Tissu pour sacs gonflables (Gewebe für Airbags) angemeldet? Namensrecherchen (Erfinder, Anmelder), z. B.: Welche Erfindungen der Firma L Oreal wurden im letzten Jahr in Frankreich publiziert? Welche Patente hat Herr Henri Arnaud in Frankreich angemeldet? Ist die Firma Playbois Lizenznehmer? Recherchen nach formalen Daten (z. B. Nummern: Publikationsnummer, Aktenzeichen), z. B.: Welchen Inhalt hat das Patent mit der Nummer FR ? Wer ist der Inhaber des Gebrauchsmusters mit der Nummer FR U? Anzeige des Rechtsstandes Kurzbeschreibung Inhalt Hersteller: Institut National de la Propriété Industrielle (INPI) Zeitraum: seit 1966 Umfang: ca Dokumentationseinheiten zu Patenten, ca zu Gebrauchsmustern, ca Patentgrafiken (September 2005) Update: wöchentlich Sprache: Französisch (Controlled Terms in englisch) Auszüge aus französischen Patentanmeldungen, -erteilungen und Gebrauchsmustern, alle patentrelevanten Gebiete Brevets Speciaux Medicaments ( ) Complementary Protection Certificates Schutzzertifikate (ab1969), suchbar Bibliografische Daten, Titel, Namen (Erfinder, Anmelder, Vertreter), Klassifikation Abstracts und Deskriptoren ab 1978, englische Deskriptoren ab 1987 Patentzeichnung (ab 1978) Angaben zu Zitierungen, Relationen Rechtsstandsdaten, Lizenzinformationen FRANCEPAT 55

56 Fortschreibung Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY In der Datenbank FRANCEPAT sind die Datensätze dynamisch, d. h. bei einer neuen Veröffentlichung oder bei einer Änderung des Rechtsstandes erfolgt eine Veränderung im Inhalt der vorhandenen Dokumentationseinheit. Aktualität Die Dokumente erscheinen am Tag ihrer Veröffentlichung in der Datenbank. Dokument aus FRANCEPAT Format: Standard PLUS; Layout: STNEasy ANTWORT INPI on STN Accession Number FRANCEPAT ED UP Title ADAPTATEUR DE SAC POUR TOUT TYPE D'ASPIRATEUR Inventor Name KATTAN BAKKOUR51 BD CHARLEMAGNE NANCY (FR)FR Patent Applicant/Patentee Applicant: KATTAN BAKKOUR 51 BD CHARLEMAGNE NANCY (FR)FR Agent KATTAN BAKKOUR Patent Info. Publication Type Patent Patent Information FR A Application, first publ. FR B Patent, second publication Application Information FR Priority Application Information FR * Priority Information, Original FR * National Research Report BOPI Search Report Reference Patents Examiner citations: Patent Number Kind Relevance Indicator DE A A DE C A FR A A International Patent Classification ICMA47L Abstract Le dispositif represente un element uni en latex Dont la fonction est d'adapter le sachet de Recuperation des poussieres a tout type d'aspirateur Le dispositif comporte 3 parties :une partie superieure conique souple (1), (2) et (3).mchlt.'fig 1.mchgt., qui recoit le tube de l'aspirateur. Une partie principale, (4) representant un cylindre En latex d'une importante epaisseur lui assurant une Grande rigidite, autour duquel le sachet recuperateur (9) vient se fixer autour par simple serrage d'un cordeau. Une partie inferieure mais assez rigide (5) de forme conique avec une bordure torique recourbee vers le haut servant a bien maintenir le sachet et a diriger le jet des poussieres dans tout le volume de ce sachet. Graphical Image Size 8772 FRANCEPAT 56

57 Graphic Controlled Term BAG;STRING;FASTENING;CLAMPING;LATEX;RUBBER;ADAPTER;HOSE;SUCTION CLEANER Controlled Term in French SAC;ASPIRATEUR;ADAPTATEUR;TUYAU;LATEX;CAOUTCHOUC;FIXATION;SERRAGE;FIL Legal Status Date of Grant: Field Availability AG AI CT GI ICM IN LS PA PI RE FRANCEPAT 57

58 FRFULL Typische Anfragen Kurzbeschreibung Inhalt Fortschreibung Aktualität Dokument aus FRFULL Typische Anfragen Volltextanzeige von französischen Patent- und Gebrauchsmusteranmeldungen Wie lauten die Ansprüche zur FR-Patentanmeldung FR ? Recherchen nach Nummern, Namen, Freitext, Klassifikation (IPC) zur Ermittlung der Volltexte Welche französischen Anmeldungen der Firma TOTAL FINA ELF wurden im letzten Jahr auf dem Gebiet der Seismologie (G01V001) veröffentlicht? Suchen nach Einspruchsmaterial im Volltext Kurzbeschreibung Inhalt Hersteller: Univentio Information Services B.V. Zeitraum: seit 1980 Umfang: ca Dokumentationseinheiten zu Patenten, ca zu Gebrauchsmustern, ca Patentgrafiken (September 2005) Update: wöchentlich Sprache: Französisch, englische Titel und Abstracts Volltext aus französischen Patent- und Gebrauchsmusteranmeldungen (Ansprüche und Beschreibung) Bibliografische Daten, Titel (französisch und englisch), Namen (Erfinder, Anmelder), Klassifikation Abstracts in französisch und englisch sind ab 1996 vorhanden Alle Texte werden durch eine Optical Character Recognition (OCR) Software erzeugt, d. h., es können Interpretationsfehler vorkommen und Textbestandteile unvollständig sein. Ein kleiner Teil von Dokumenten enthält keinen Text, weil beim Scannen Fehler aufgetreten sind. Fortschreibung In der Datenbank FRFULL wird ein statisches Konzept verfolgt. Die Dokumente werden nicht fortgeschrieben (nur Offenlegungen, keine Erteilungen). Aktualität Die Daten erscheinen 1 2 Wochen nach dem Publikationsdatum des französischen Patentamts in der Datenbank. FRFULL 58

59 Dokument aus FRFULL Format: Standard PLUS; Layout: STNEasy Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY ANTWORT Univentio on STN Accession Number FRFULL ED Title in English METHOD OF SEISMIC DECIMATION OF TRACES PILOTEE BY THE SEISMIC WAY Title in French METHODE DE DECIMATION DE TRACES SISMIQUES PILOTEE PAR LE TRAJET SISMIQUE Inventor Name CHARRON PATRICK Patent Assignee TOTAL FINA ELF S.A. Societe anonyme Language of Filing French Language French Document Type Patent Patent Info. Publication Type FRA1 Application, first publication Patent Information FR A Application Information FR A Priority Application Information FR A * International Patent Classification, Main G01V Abstract The invention relates to a method of decimation of seismic traces in a data acquisition 3d, consistent: - to raise, for each trace, the co-ordinates of the couple source-receiver (Sa1, Ra1) corresponding, - to position on a grid of decimation (D) who is divided into meshs, the couple source-receiver corresponding to each trace, - to then gather all the couples source-receiver in collections of traces Iso-way, each collection gathering the traces to which the seismic ways are identical or close, - to order the traces in each collection Iso-way, - and to select the first trace in each collection isotrajet. Abstract in French L'invention concerne une methode de decimation de traces sismiques dans une acquisition de donnees 3D, consistant : - a relever, pour chaque trace, les coordonnees du couple source-recepteur (Sa1, Ra1) correspondant, - a positionner sur une grille de decimation (D) qui est divisee en mailles, le couple source-recepteur correspondant a chaque trace, - a regrouper ensuite tous les couples source-recepteur en collections de traces isotrajet, chaque collection regroupant les traces dont les trajets sismiques sont identiques ou voisins, - a ordonner les traces dans chaque collection iso-trajet, - et a selectionner la premiere trace dans chaque collection isotrajet. Detailed Description L'invention sera maintenant comprise a la lecture de la 30 descriptiondetaillee qui va suivre, faite en regard des dessins annexes danslesquels:la figure 1 represente une grille d'acquisition sur laquellesont reportees les coordonnees des sources et des recepteurscorrespondant a trois traces acquises ; la figure 2 illustre la methodede decimation des traces selon la technique anterieure, consistant aeffectuer la sommation des offsets ;la figure 3 represente une grille dedecimation servant a mettre en oeuvre la methode de decimation selonl'invention, par collection de traces iso-trajet, cette methode etantappliquee a l'exemple de l'acquisition de la figure 1 ;la figure 4illustre une phase de la methode selon l'invention qui 5 consiste aaffecter respectivement a chaque point source les quatre nœuds dela maille qui l'encadrent et a chaque point recepteur les quatrenœuds de la maille qui l'encadrent ;la figure 5 montre les seizesegments qui relient respectivement l'un des nœuds de la maillesource a l'un des nœuds de la maille 10 recepteur ;et la figure 6illustre la determination du segment source-recepteur le plusrepresentatif du segment associe a la trace acquise. DESCRIPTION DETAILLEE DE L'INVENTION 15 Idee de base de l'invention Lesfigures 1 et 2 ayant deja ete decrites, on passera directement a ladescription des figures 3 a 6. Lorsque la complexite du sous-sol esttelle qu'un traitement sismique en temps devient inadapte, cela impliqueque la notion de point milieu n'a plus de sens. En traitement sismiqueprofondeur, et plus precisement en traitement PSDM, les seulesindications qui doivent FRFULL 59

60 etre prises en compte sont les coordonnees dessources et des recepteurs des traces. A partir de ces coordonnees, onpeut, en fonction d'un modele de vitesses, reconstituer le parcours del'onde sismique et calculer son temps de propagation.... Patent Claim Text 1. Methode de decimation de traces sismiques dans une acquisition de donnees 3D, caracterisee en ce qu'elle consiste:- a relever, pour chaque trace, les coordonnees du couple source-5 recepteur (Sai, Rai) correspondant,-a positionner sur une grille de decimation (D) qui est divisee en mailles, le couple source-recepteur correspondant a chaque trace,- a regrouper ensuite tous les couples source-recepteur en collections de traces iso-trajet, chaque collection regroupant les traces dont les trajets sismiques sont identiques ou voisins,-a ordonner les traces dans chaque collection iso-trajet,- et a selectionner la premiere trace dans chaque collection isotrajet. 2. Methode de decimation selon la revendication 1, caracterisee 15 en ce que la phase du positionnement des couples source-recepteur de chaque trace consiste pour chaque trace:- a reperer la maille source de la grille de decimation (D) dans laquelle se trouve la source (Sa) de la trace acquise,- a relever les coordonnees (x, y) des quatre noeuds (Si, Sa, Ss, 20 S4) de ladite maille,- a reperer la maille recepteur de la grille de decimation dans laquelle se trouve le recepteur (Ra) de la trace acquise, et- a relever les coordonnees (x, y) des quatre nœuds (Ri, Ra, Rs, R4J de ladite maille. 3. Methode de decimation selon l'une des revendications 1 et 2, caracterisee en ce que la phase du regroupement des couples source-recepteur en collections de traces iso-trajet consiste:- a calculer pour chaque trace, l'offset (Sa-Ra) et l'azimut (6a) correspondants a partir des coordonnees d'acquisition,30 -a mettre en relation chaque nœud de la maille source avec chaque nœud de la maille recepteur, les seize combinaisons obtenues (SiRi, SiRa, SiRs, SiR4, SaRi,..., S4Rs, S4R4) representant tous les couples source-recepteur fictifs proches du couple acquis (Sa, Ra),- a calculer pour chacune desdites seize combinaisons, l'offset 35 (Sn-Rm) et l'azimut (0snRm) correspondants,- a extraire parmi les seize couples (SnRm, OsnRm) ainsi obtenus celui qui est le plus proche de la trace reelle (SaRa), et a effectuer les memes operations avec toutes les traces acquises dont la source et le recepteur se trouvent respectivement dans les memes mailles source et maille recepteur que precedemment, de maniere a former des collections iso-trajet. 4. Methode de decimation selon l'une des revendications 1 et 3, caracterisee en ce que les phases d'ordonnance et de selection dans une collection iso-trajet consistent:- a determiner pour chaque trace la valeur du deplacement10 -a ordonner les traces par ordre de deplacement croissant,-et a selectionner la trace associee au deplacement minimum. 5. Methode de decimation selon la revendication 1, caracterisee en ce que la dimension de la maille de la grille de decimation est choisie d'autant plus grande que le taux de decimation que l'on souhaite obtenir est eleve. 6. Methode de decimation selon la revendication 1, caracterisee en ce que les mailles de la grille de decimation sont de taille variable. 7. Methode de decimation selon la revendication 1, caracterisee en ce que les traces sont traitees dans l'ordre ou elles arrivent. CD roo sect;. n> CD J I /3D FRFULL 60

61 GBFULL Typische Anfragen Kurzbeschreibung Inhalt Fortschreibung Aktualität Dokument aus GBFULL Typische Anfragen Recherche nach dem Stand der Technik in GB-Publikationen (Freitext und Klassifikation), z. B.: Welche britischen Erfindungen existieren zum Thema Geräuschanalyse bei Zahnrädern? Namensrecherchen (Erfinder, Anmelder), z. B.: Welche britischen Erfindungen der Firma WONDERLAND NURSERY GOODS wurden im letzten Jahr publiziert? Welche britischen Patente hat Herr Michael Jackson angemeldet? Recherchen nach formalen Daten (z. B. Nummern), z. B.: Was steht im Text der britischen Patentanmeldung GB ? Volltextanzeige von britischen Patentanmeldungen Wie lauten die Ansprüche zur britischen Anmeldung GB ? Suchen nach Einspruchsmaterial im Volltext Multifile-Recherchen mit anderen nationalen oder regionalen Patentdatenbanken Kurzbeschreibung Inhalt Hersteller: Univentio Information Services B.V. Zeitraum: seit 1979 Umfang: ca Dokumentationseinheiten zu Patenten, ca Patentgrafiken (September 2005) Update: wöchentlich Sprache: Englisch Volltext aus britischen Patentanmeldungen (Ansprüche und Beschreibung) Bibliografische Daten, Titel, Namen (Erfinder, Anmelder), Klassifikation Abstracts sind teilweise vorhanden Alle Texte werden durch eine Optical Character Recognition (OCR) Software erzeugt, d. h., es können Interpretationsfehler vorkommen und Textbestandteile unvollständig sein. Ein kleiner Teil von Dokumenten enthält keinen Text, weil beim Scannen Fehler aufgetreten sind. Zeichnungen (von der Titelseite), wenn vorhanden Fortschreibung In der Datenbank GBFULL wird ein statisches Konzept verfolgt. Die Dokumente werden nicht fortgeschrieben (nur Offenlegungen, keine Erteilungen). GBFULL 61

62 Aktualität Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY Die Daten erscheinen 4 Tage nach dem Publikationsdatum vom britischen Patentamt in der Datenbank. Dokument aus GBFULL Format: Standard Plus; Layout: STNEasy ANTWORT Univentio on STN Accession Number GBFULL ED EW Title FUEL INJECTION ARRANGEMENT FOR GASEOUS FUEL AND/OR LIQUID FUEL Inventor Name Toon,Ian James; Eadon,Gary; Graham,Andrew Charles; Salt,Allan John Patent Assignee Rolls-Royce Language of Filing English Language English Document Type Patent Patent Info. Publication Type GBA Application published Patent Information GB A Application Information GB A Priority Application Information GB A * International Patent Classification, Main F23D International Patent Classification, Secondary F02C009-40; F23R Detailed Description 1 Fuel Injection The present invention relates to fuel injection and more particularly to fuel injection arrangements to allow dual fuel combustion in a combustor of a turbine engine. 5 Operation of turbine engines is well known and involves the use of a combustor in order to combust a fuel and therefore provide rotary power for the prime mover engine. Turbine engines are used in a wide variety of situations and the Whilst endeavouring in the foregoing specification to draw attention to those features of the invention believed to be of particular importance it should be understood that the Applicant claims protection in respect of any patentable feature or combination of features hereinbefore referred to and/or shown in the drawings whether or not particular emphasis has been placed thereon. Patent Claim Text 1. A fuel injection arrangement (6) for a turbine engine, the arrangement (6) including gas fuel injection means (24) to present gaseous fuel and liquid fuel injection means (8) to present liquid fuel to a combustor (2), the arrangement (6) characterised in that the liquid fuel injection means (8) incorporates an injection conduit (31) for an airflow (10) and a liquid fuel jet (30) presented at a high angle relative to the air flow (10) such that in use at low fuel injection rates (28a) the air flow (10) entrains and atomises fuel expelled by the fuel jet (30) without impingement upon the injection conduit (31) whilst at high fuel injection rates (28b) fuel expelled by the liquid fuel jet (30) impinges upon the injection conduit (31) to form a wash film (43) predictably atomised by the air flow (10), so that entrained and/or said atomised liquid fuel is interchangeable with gas fuel presented through the gas fuel injection means (24). 2. An arrangement (6) as claimed in claim 1 wherein the 20 injection conduit (31) is progressively GBFULL 62

63 constrictive towards an outlet (32) in order to approximate a flat flow velocity profile for the air flow (10) across the conduit (31) at the fuel jet. 27. Any novel subject matter or combination including novel subject matter disclosed herein, whether or not within the scope of or relating to the same invention as any of the preceding claims. 5 GBFULL 63

64 IFIPAT Typische Anfragen Kurzbeschreibung Inhalt Fortschreibung Aktualität Dokumente aus IFIPAT Patent Application Granted Patent Typische Anfragen Recherche nach aktuellen amerikanischen Publikationen mittels Text, Namen, Internationaler oder US-Klassifikation, z. B.: Gibt es aktuelle Veröffentlichungen (letzte Woche) der Firma AMERICAN CYANAMID CO? Welche aktuellen Veröffentlichungen des amerikanischen Patentamts existieren zum Thema Entfernen von Alkohol aus alkoholischen Getränken zur Herstellung alkoholfreier Getränke? Welche Patente wurden in den USA auf dem Gebiet der Spektralanalyse publiziert (Notationen der US-Klassifikation: 324/ , 324/ , 324/ ? Recherche nach Nummern oder anderen formalen Daten, z. B.: Wie lauten die Ansprüche zum Patent US 5,749,087? Anzeige der bibliografischen Daten mit allen Ansprüchen Kurzbeschreibung Inhalt Hersteller: IFI/Plenum Data Corporation, Alexandria, Virginia, USA Zeitraum: seit 1950 Umfang: ca. 5,3 Mio Dokumentationseinheiten (September 2005) Update: Zweimal pro Woche Sprache: Englisch Auszüge aus vom US Patent and Trademark Office (USPTO) in der Official Gazette veröffentlichten Patentschriften (einschließlich Defensive Publications, Design Patents und Reissue Patents) ab 1963, in der Chemie ab 1950 Bibliografische Daten (Titel, Veröffentlichungsnummer und -datum, Anmeldeaktenzeichen und -datum, Anmelder, Erfinder) Abstract (AB), Amerikanische Klassifikation (USCL) (nach jeweils aktuellem Stand im Feld NCL ) CAS Registry Number (RN) und Verweise auf die Datenbank CAPLUS für Chemie-Patente Angaben zur Prüfung: Entgegenhaltungen (References: REN, REP), Name des Prüfers (Examiner s Name: EXNAM), vom Prüfer durchsuchte Patentklassen (Examiner s Field of Search: EXF) Sonstige Daten: juristischer Vertreter (Agent: AG, LREP) Angaben zur Laufzeit: Verfallsdatum (Expiration date: XPD); Verzicht auf das Patent (Disclaimer Date: DCD); Angabe der Laufzeitjahre (Term of Patent: PTERM) bei Design Patents Angaben zu durch Division, Continuation oder Continuation-in-part verbundenen Dokumenten IFIPAT 64

65 Angaben zu sonstigen Mitgliedern der Patentfamilie aus BE, DE, FR, GB, NL und US (nur bei älteren Dokumenten) Fortschreibung Die Datenbank IFIPAT hat ein Mischkonzept (Mehrere Dokumente). Wird im Patentverfahren zunächst eine Anmeldung veröffentlicht, so wird ein Dokument in der Datenbank eröffnet und die bibliografischen Daten und Textbestandteile eingetragen. Nach Erteilung des Patents wird die neue Publikation in einem zweiten Dokument mit den neuen Daten und Textbestandteilen aufgenommen. Einzelne Felder in beiden Dokumenten werden entsprechend dem Verfahren fortgeschrieben: In das Familienfeld FI wird die Nummer der Anmeldung und die Nummer der Erteilung eingetragen. Zusätzlich wird in das Dokument der Erteilung die Nummer der Anmeldung in das PI-Feld eingetragen. Es werden Aussagen zu Zitierungen in später angemeldeten Patenten (Feld PI, PNC.G), Angaben zur Dokumentenart (Feld DT) und die nationale Patentklassifikation (Feld NCL) fortgeschrieben bzw. ergänzt. In das Dokument der Anmeldung wird der durch die Erteilung bekannt gewordene Anmelder in das Feld PPA nachgetragen. Die Datenbank wird zweimal wöchentlich aktualisiert und im Zusammenhang mit der Anpassung der US- Patentklassifikation wird die Datenbank halbjährlich neu geladen. Aktualität Neue Dokumente erscheinen 1 Tag nach dem Publikationsdatum in der Datenbank. Dokumente aus IFIPAT Patent Application Format: Standard Plus; Layout: STNEasy ANTWORT IFI on STN Accession Number IFIPAT;IFIUDB;IFICDB Title SELF-CLEANING SPRAY CHAMBER FOR LIVESTOCK AND POULTRY FEED PELLET PROCESSING SYSTEM; SPRAY CHAMBER LOCATED SO THE PELLET FLOW LEAVING THE DRY MASS FLOW METER STRIKES THE SIDE WALL OF THE SPRAY CHAMBER THAT OPPOSES THE NOZZLES LOCATED WITHIN THE SPRAY CHAMBER SO THE PELLETS FRICTIONALLY CLEAN THE SIDE WALL OF LIQUID ADDITIVESINF Dodd; James W., Alpharetta, GA, US Inventor Name Dodd James WPAF Unassigned Patent Assignee Unassigned Or Assigned To Individual (68000)PPA AGR International Inc (Probable) Agent MORRIS MANNING & MARTIN LLP, 1600 ATLANTA FINANCIAL CENTER, 3343 PEACHTREE ROAD, NE, ATLANTA, GA, , US Patent Information US A Application Information US Related Application Information US DIVISION PENDING Priority Application Information US P (Provisional) Family Information US US Document Type Utility; Patent Application - First Publication File Segment CHEMICALAPPLICATION IFIPAT 65

66 Abstract A self-cleaning spray chamber for livestock and poultry feed pellets including a dry mass flow meter operatively coupled to a hopper for livestock and poultry feed pellet flow and a spray chamber mounted proximate to the outlet of the dry mass flow meter so the pellets strike the side wall of the spray chamber that oppose the nozzles of the spray chamber at a position where spray that misses the pellets in the pellet stream impinge on the spray chamber side wall. That is, the spray chamber is located so the pellet flow leaving the dry mass flow meter strikes the side wall of the spray chamber that opposes the nozzles located within the spray chamber so the pellets frictionally clean the chamber side wall of liquid additives emitted from the nozzles. In this manner, the cleaning action of the pellets substantially reduces the need for cleaning the spray chamber as the flow of pellets through the spray chamber removes the liquid additive and assists in the coating of the pellets within the spray chamber. The dry mass flow meter of the present invention provides a wide, relatively thin ribbon of pellets to be presented close to the wall of the spray chamber that opposes the nozzles to provide a more even distribution of the pellets for coating and to better protect the side wall from overspray coating. Number of Claims 13 Graphic 3 Figure(s).FIG. 1 is a depiction of the components in the system of the present invention; and FIG. 2 is a depiction of the components of the liquid feed additive system of the present invention. FIG. 3 is a block diagram of a control system for the liquid feed additive system of the present invention. Exemplary Claim D R A W I N G1. An apparatus for applying liquid additives to feed pellets, comprising: a spray chamber having a side wall opposing at least one spray nozzle configured to direct a spray stream of at least one liquid additive toward the side wall; and a flow control gate configured to deliver the feed pellets into the chamber proximate to the side wall and in confluence with the spray stream of liquid additive such that the pellets and liquid additive gravitationally cascade along the side wall. National Patent Classification NCLM: NCLS: ; National Patent Classification, Main National Patent Classification, Secondary ; International Patent Classification ICM: B05D001-02ICS: B05D International Patent Classification, Main B05D International Patent Classification, Secondary B05D Granted Patent Format: Standard Plus; Layout: STNEasy ANTWORT IFI on STN Accession Number IFIPAT;IFIUDB;IFICDB Title SELF-CLEANING SPRAY CHAMBER FOR LIVESTOCK AND POULTRY FEED PELLET PROCESSING SYSTEM; SPRAY CHAMBER LOCATED SO THE PELLET FLOW LEAVING THE DRY MASS FLOW METER STRIKES THE SIDE WALL OF THE SPRAY CHAMBER THAT OPPOSES THE NOZZLES LOCATED WITHIN THE SPRAY CHAMBER SO THE PELLETS FRICTIONALLY CLEAN THE SIDE WALL OF LIQUID ADDITIVESINF Dodd; James W., Alpharetta, GA Inventor Name Dodd James WPAF AGR International, Inc., Roswell, GA Patent Assignee AGR International Inc (59437) Examiner Name Barr, Michael Blanton, Rebecca Agent Morris, Manning & Martin, LLP Patent Information US B (CITED IN 001 LATER PATENTS) IFIPAT 66

67 US A Application Information US XPD 19 Jan 2020 Related Application Information US DIVISION Priority Application Information US P (Provisional) Family Information US US US Document Type Utility Notes INDEXED FROM APPLICATION File Segment CHEMICALGRANTED Abstract Using a self-cleaning spray chamber for feed pellets including a dry mass flow meter operatively coupled to a hopper for feed pellet flow and a spray chamber. The spray chamber is configured so that the pellet flow leaving the dry mass flow meter strikes the side wall of the spray chamber that opposes the nozzles located within the spray chamber, thereby causing the pellets to frictionally clean the chamber side wall. This cleaning action substantially reduces the need for manually cleaning the spray chamber as the flow of pellets through the spray chamber removes the liquid additive and assists in the coating of the pellets within the spray chamber. The flow meter provides a wide, relatively thin ribbon of pellets to the wall of the spray chamber that opposes the nozzles. This provides a more even distribution of pellets for coating and better protects the sidewall from overspray coating. Microfilm Reel Number MFN: 0118 Number of Claims 17 Graphic 3 Drawing Sheet(s), 3 Figure(s). Exemplary Claim D R A W I N G1. A method for coating feed pellets with a liquid additive comprising: directing a flow of feed pellets onto a canted side wall of a spray chamber, the canted side wall opposing at least one spray nozzle configured for directing a spray stream of at least one liquid additive toward the side wall, the canted side wall configured for receiving the flow of pellets such that the pellet flow frictionally travels along the wall towards a discharge end; and spraying a stream of liquid additive at the flow of pellets while traveling along the canted wall side from the at least one spray nozzle. Reference Patents US Dec Forsberg National Patent Classification NCLM: NCLS: ; National Patent Classification, Main National Patent Classification, Secondary ; International Patent Classification ICM: B05D International Patent Classification, Main B05D Field of Search Classification ; ; ; ; ; ; ; ; ; Art Unit 172 IFIPAT 67

68 IMSPATENTS Typische Anfragen Kurzbeschreibung Inhalt Fortschreibung Dokument aus IMSPATENTS Typische Anfragen Familienrecherchen/Rechtsstandsrecherchen In welchen Ländern besteht Patentschutz für den pharmazeutischen Wirkstoff Lacidipine? Welche Firmen haben Rechte an diesem Wirkstoff? Wie sind die Verfallsdaten für die Patente zu diesem Wirkstoff in den einzelnen Ländern? Recherche nach formalen Daten (Nummern: Publikationsnummer, Aktenzeichen), z. B.: Welcher Wirkstoff ist durch das Patent SK geschützt? Wie ist der Rechtsstand dieses Patentes? Kurzbeschreibung Inhalt Hersteller: IMSWORLD Publications Ltd., Großbritannien Zeitraum: seit 1987 Umfang: ca Dokumentationseinheiten (September 2005) Update: monatlich Sprache: Englisch Informationen zu internationalen Patentfamilien für über 1500 chemischen Verbindungen von wichtigen pharmazeutischen Produkten, die entweder bereits auf dem Markt angeboten werden oder sich noch im Entwicklungsstadium befinden. Der Datenbankhersteller evaluiert die fachlich zutreffenden Patentfamilien und die einzelnen Patente. Arzneimittelnamen, CAS-Registry-Nummer und chemische Struktur für die einzelnen chemischen Verbindungen, CAS-Registry-Nummern für Derivate, Therapie-Klassen-Codes (incl. Text), Anwendungsgebiete Publikations- und Prioritätsangaben des jeweiligen Patentes Aktuelle Angaben zur Schutzdauer einschließlich Kommentar zum jeweiligen Patent, zu anderen Patenten der betreffenden Patentfamilie und zu anderen für die jeweilige chemische Verbindung zutreffenden Patentfamilien incl. Schutzzertifikate (Supplementary Protection Certificates) Fortschreibung Die Datenbank hat ein dynamisches Konzept. In einem Record sind die Angaben zur Identifikation der chemischen Verbindung und die Angaben zur Patentpublikation in einem der 58 erfassten Länder (incl. EP und WO) enthalten. Erscheint eine Publikation zu der betreffenden chemischen Verbindung von einem weiteren Patentanmelder (bei fachlichen Patentfamilien) oder vom gleichen Anmelder in einem weiteren Land, wird ein neuer Record in die Datenbank aufgenommen (vorrangig Produktpatente, Herstellungspatente sind zweitrangig). Die einzelnen Fortschreibungsstufen der Patente in dem jeweiligen Land werden nicht erfasst. Jedes Einzeldokument wird bei neuen Informationen zur Schutzdauer fortgeschrieben. Die einzelnen Records zu einer chemischen Verbindung sind identisch bezüglich ihrer Identifikationsinformationen (Arzneimittelnamen, Registry-Nummern usw.) und unterscheiden sich nur in den bibliografischen Daten zur Patentpublikation (Anmelder, Publikationsnummer und Publikationsland, Prioritätsangaben und Schlagwörter IMSPATENTS 68

69 zur Einordnung des Patents) in den Kommentaren zum Patent und evtl. zur Patentfamilie und in den Angaben zur Schutzdauer. Dokument aus IMSPATENTS Anzeigeformat: Standard Plus; Layout: STNEasy Accession Number 96:6171 IMSPATENTS Classification Code L1X9 All Other Antineoplastics; H4V Other Hormones and Preparations with Similar Actions; S1X Other Ophthalmologicals; A10X Other Drugs Used in Diabetes; D5A Topical Antipsoriasis and Similar Products; C1D Coronary Therapy Chemical Name Generic Name: lanreotide Lab Code: BIM 23014; DC 13116; BIM 23014C; BN Trade Name: SOMATULINE; ANGIOPEPTIN; DERMOPEPTIN; IPSTYL SOMATULINE PR; SOMATULINE PR; SOMATULINE AUTOGEL CAS Registry Number DERIVATIVE(S): lanreotide, BIM replaced by replaced by acetate, BIM 23014C Patent Assignee Tulane University (USA) Journal Title Patents International Patent Assignee Tulane University (USA) Publication Expiration Number Date Date Patent Information CA <-- CAS Registry Number lanreotide, BIM replaced by replaced by acetate, BIM 23014C Publication Source Patents International, (28 Dec 2003) Trade Name SOMATULINE; ANGIOPEPTIN; DERMOPEPTIN; IPSTYL SOMATULINE PR; SOMATULINE PR; SOMATULINE AUTOGEL Full Text of Document Country Comments: On 12 July 2001 the amendments to Canadian patent law under the Agreement on Trade- Related Aspects of Intellectual Property Rights (TRIPS) of the World Trade Organisation (WTO) came into force. The estimated expiry date of Canadian patent is not affected. Abstract This patent family is really two separate inventions linked through continuations-in-part in the USA via US The earlier two priorities, US and US give rise to product claims. In many of the documents relating to these priorities the Cys-Cys disulfide bridge bond has been omitted, but in US this is stated to be for convenience of representation. The later two priorities, US and US gives rise to patents covering the use of lanreotide in the treatment of small cell lung cancer. DELAB has EP B, normal expiry 31 August 2015, which claims a solid, non-particulate, sustained-release composition for parenteral administration consisting of a soluble peptide salt which will form a gel upon contact with a bodily fluid. SOMATULINE (BIM 23014C) is claimed specifically. The priority quoted is US of 2 September 1994 giving normal expiries of around September 2015 for most equivalents. A supplementary protection certificate (SPC) has been applied for in the UK citing EP B. If granted the certificate will provide for a maximum of 15 years protection from first marketing approval in any EU member state. The SPC will be valid from the expiry of the cited patent and will last for a maximum of five years. The applicant for the SPC is SCRAS. The SPC application has been withdrawn. A supplementary protection certificate (SPC) has been IMSPATENTS 69

70 applied for in France citing EP B. If granted the certificate will provide for a maximum of 15 years protection from first marketing approval in any EU member state. The SPC will be valid from the expiry of the cited patent and will last for a maximum of five years. The applicant for the SPC is SCRAS. A supplementary protection certificate (SPC) has been granted for the SOMATULINA AUTOGEL formulation of lanreotide acetate in Portugal citing EP B. The SPC expires on 12 May 2016 and comes into force on expiry of the cited patent. The holder of the SPC is SCRAS. A supplementary protection certificate (SPC) for lanreotide acetate has been applied for in Denmark citing EP B. If granted the certificate will provide for a maximum of 15 years protection from first marketing approval in any EU member state. The SPC will be valid from the expiry of the cited patent and will last for a maximum of five years. The applicant for the SPC is SCRAS. A supplementary protection certificate (SPC) has been granted in Belgium citing EP B. The SPC expires on 11 May 2016 and comes into force on expiry of the cited patent. The holder of the SPC is SCRAS. A supplementary protection certificate (SPC) for SOMATULINE AUTOGEL has been applied for in Sweden citing EP B. If granted the certificate will provide for a maximum of 15 years protection from first marketing approval in any EU member state. The SPC will be valid from the expiry of the cited patent and will last for a maximum of five years. The applicant for the SPC is SCRAS. A supplementary protection certificate (SPC) has been granted for SOMATULINE AUTOGEL in Luxembourg as national number citing EP B. The certificate comes into force on expiry of the cited patent and expires on 11 May The holder of the SPC is SCRAS. Supplementary Indexing Method of use Structure Diagram IMSPATENTS 70

71 INPADOC Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY Typische Anfragen Kurzbeschreibung Inhalt Fortschreibung Aktualität Dokumente aus INPADOC Typische Anfragen Recherchen nach Nummern, Namen, Klassifikation zur Ermittlung der bibliografischen Daten der Dokumente, z. B.: Wer ist der Anmelder des mexikanischen Patents MX ? Wurde das europäische Patent EP schon erteilt? Welche Patente hat die Firma Philips in Russland angemeldet? Familienrecherchen, z. B.: Welche Patentfamilienmitglieder existieren zu folgendem Patent: US 6,272,657? Sind die Anmeldungen in den verschiedenen Ländern noch in Kraft? Gibt es ein Äquivalent in englischer oder deutscher Sprache (z. B. DE, US, EP) zu der japanischen Veröffentlichung mit der Nummer JP ? Anzeige des Rechtsstandes: Ist das europäische Patent EP in Großbritannien noch in Kraft? Kurzbeschreibung Inhalt Hersteller: Europäisches Patentamt, Wien, Österreich Zeitraum: seit 1968 Umfang: ca. 31 Mio Patentveröffentlichungen, ca. 2,3 Mio Gebrauchsmuster; ca. 30 Mio Rechtsstandsdaten (September 2005) Update: wöchentlich Sprache: Texte in Originalsprache oder in Englisch; Rechtsstand in Englisch Veröffentlichungen nationaler und internationaler Patent- und Gebrauchsmusterschriften (71 nationale und regionale Patentämter, EPO, WIPO; s. Liste Ländercodes und Länderumfang von CA, INPADOC und WPINDEX) Bibliografische Daten Patentfamiliendaten Rechtsstandsdaten: gegenwärtig 39 Länder: AT, AU, BE, BR, CH, CL, CN, CZ, DD, DE, DK, EP, ES, FI, FR, GB, HU, IE, IL, IT, LT, LU, MC, MD, NL, PH, PT, SE, US, WO nur Eintritt/Nichteintritt in die nationale Phase von PCT-Anmeldungen: BG, CA, GE, JP, KE, KR, LT, LV, RO, RU, ZU SPCs (Supplementary Protection Certificates) Schutzzertifikate: AT, BE, CH, DE, FI, FR, GB, IE, IL, IT, LU, NL, NO, SE die Daten beginnen zu unterschiedlichen Zeitpunkten, es kommen laufend neue Länder hinzu Internationale Patentklassifikation, Europäische Patentklassifikation INPADOC 71

72 Die Datenbank INPADOC ist hinsichtlich der abgedeckten Länder die umfassendste Patentdatenbank. Die Datenbank besteht aus den beiden Teilen Patent Family Service (PFS) und den Rechtsstandsinformationen Patent Register Service (PRS). Die Datenbank wird wöchentlich mit ca Einträgen/Änderungen für den bibliografischen Teil PFS und ca Rechtsstandseinträgen in PRS aktualisiert. Das EPO bekommt die Daten von den Patentämtern bzw. den Patentorganisationen auf elektronischem Datenträger oder in Papierform. Das EPO versucht die Daten zu standardisieren und aufzuarbeiten, ist aber auf die Qualität des gelieferten Datenmaterials angewiesen und kann deshalb nicht besser sein, als es die gelieferten Daten ergeben. Die Daten sind weitgehend in der Originalsprache, zum Teil aber auch (z. B. bei russischen oder japanischen Schriften) in englischer Übersetzung (Titel) bzw. Transliterierung (Namen). (Bei einigen Ländern (bes. JP) werden veröffentlichte Anmeldungen (Code JP-A2) oft ohne Angaben zu Titel, Anmelder und Erfinder aufgenommen. Bei Vorliegen der Angaben werden diese nachträglich ergänzt.) Anhand der Prioritätsangaben können Dokumente in der Datenbank INPADOC zu Patentfamilien zusammengeführt werden. Darüber lässt sich insbesondere feststellen, ob zu einem bekannten Dokument ein Äquivalent in einem anderen Land existiert (z. B. wegen möglicher Verletzungen oder wegen der besseren sprachlichen Zugänglichkeit) oder ob ein anderes Dokument aus der Familie in den Chemical Abstracts enthalten ist. Fortschreibung Die Datenbank INPADOC verwendet ein Mischkonzept (Segmente). Alle nationalen Veröffentlichungen einer Patent-/Gebrauchsmusteranmeldung bilden eine Dokumentationseinheit. Die einzelnen nationalen Publikationen werden durch Publikationslevel gekennzeichnet. Wenn ein Rechtsstand für die Dokumentationseinheit existiert, wird dieser laufend fortgeschrieben. Aktualität In INPADOC erscheinen Dokumente mit unterschiedlicher Verzögerung: einige Tage (DE, EP, FR, GB) bis einige Wochen (JP, US, WO). INPADOC 72

73 Dokumente aus INPADOC Format: Standard; Layout: STN Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY LEVEL 1 AN INPADOC UW TI PLASTIC HANDGRIP. IN WAGNER, JOERG INS WAGNER JOERG INA DE PA TRW UNITED-CARR GMBH & CO. KG PAS UNITED CARR GMBH TRW PAA DE TL English; French; German LA German DT Patent PIT EPA2 PUBL. OF APPLICATION WITHOUT SEARCH REPORT PI ***EP A *** DS R: DE ES FR GB IT AI EP A PRAI DE A OSDW LEVEL 2 AN INPADOC EW UW TI PLASTIC HANDGRIP. IN WAGNER, JOERG INS WAGNER JOERG INA DE PA TRW UNITED-CARR GMBH & CO. KG PAS UNITED CARR GMBH TRW PAA DE TL English; French; German LA German DT Patent PIT EPA3 PUBL. OF SEARCH REPORT PI ***EP A *** DS R: DE ES FR GB IT AI EP A PRAI DE A LEVEL 3 AN INPADOC ED EW UP UW TI PLASTIC HANDGRIP. IN WAGNER, JOERG INS WAGNER JOERG INA DE PA TRW AUTOMOTIVE ELECTRONICS & PAS TRW AUTOMOTIVE ELECTRON & COMP PAA DE TL English; French; German LA German DT Patent PIT EPB1 PATENT PI ***EP B *** DS R: DE ES FR GB IT AI EP A PRAI DE A LEVEL 4 AN INPADOC ED EW UP UW TI PLASTIC HANDGRIP. IN WAGNER, JOERG INS WAGNER JOERG INA DE PA TRW AUTOMOTIVE ELECTRONICS & COMPONENTS GMBH & CO. KG PAS TRW AUTOMOTIVE ELECTRON & COMP PAA DE INPADOC 73

74 TL English; French; German LA German DT Patent PIT EPB2 PATENT AFTER MODIFICATION PI ***EP B *** DS R: DE ES FR GB IT AI EP A PRAI DE A Im Feld LS (Legal Status Rechtsstand) ist für die Patentanmeldung der jeweilige Rechtsstand eingetragen. Es werden nur solche Rechtsstandsänderungen eingetragen, die nicht in den bibliografischen Daten erfasst werden. Jede Eintragung besteht aus den Teilen Datum der Veröffentlichung im Amtsblatt des betreffenden Patentamtes (beim Europäischen Patentamt das EPO Bulletin), einem Code für die Art der Veränderung, gelegentlich einem Code für die Art der Priorität bzw. Anmeldung und dem Text. Der Text gibt Auskunft über die Art der Veränderung im Rechtsstand, ggf. das Datum der Rechtswirksamkeit, die Namen von weiteren betroffenen Personen (z. B. Einsprechenden) und die Nummern von weiteren betroffenen Patentschriften (z. B. bei Teilung oder Zusatzanmeldung). Format: Familiy Plus (zusammen mit der Familieninformation und mit den bibliografischen Daten aller Familienmitglieder) LEGAL STATUS AN INPADOC EPAK + DESIGNATED CONTRACTING STATES: EP A2 DE ES FR GB IT EPAK + DESIGNATED CONTRACTING STATES: EP A3 DE ES FR GB IT EP17P + REQUEST FOR EXAMINATION FILED EP17Q + FIRST EXAMINATION REPORT EPRAP1 APPLICANT REASSIGNMENT (CORRECTION) TRW AUTOMOTIVE ELECTRONICS & COMPONENTS GMBH & CO EPAK + DESIGNATED CONTRACTING STATES: EP B1 DE ES FR GB IT EPREF CORRESPONDS TO: DE P EPGBT + GB: TRANSLATION OF EP PATENT FILED (GB SECTION 77(6)(A)/1977) EPITF + IT: TRANSLATION FOR A EP PATENT FILED RACHELI & C. S.R.L EPET + FR: TRANSLATION FILED EPREG REFERENCE TO A NATIONAL CODE ESFG2A ES: DEFINITIVE PROTECTION ES T3 P EP26 - OPPOSITION FILED INOAC CORPORATION EPR26 - OPPOSITION FILED (CORRECTION) INOAC CORPORATION EPREG REFERENCE TO A NATIONAL CODE GBIF02 + GB: EUROPEAN PATENT IN FORCE AS OF EPAK + DESIGNATED CONTRACTING STATES: DE ES FR GB IT EP27A + MAINTENANCE AS AMENDED EPGBTA + GB: TRANSLATION OF AMENDED EP PATENT FILED (GB SECTION 77(6)(B)/1977) EPET3 + FR: TRANSLATION FILED ** DECISION CONCERNING OPPOSITION INPADOC 74

75 EPREG REFERENCE TO A NATIONAL CODE ESDC2A ES: PATENT MODIFIED ES T Die vollständige internationale Patentfamilie wird anhand der Prioritäten zusammengeführt und kann mit den vordefinierten Familienformaten Family Brief oder Family plus (zusammen mit den bibliografischen Daten und Rechtsständen aller Familienmitglieder) angezeigt werden. Format: Family Brief PATENT FAMILY INFORMATION AN INPADOC PRAI AI DE A DE A DE A EP A ES EP JP A US A DE A DE A AI PI DE A DE A DE C DE A DE C EP A EP A EP A EP B EP B ES EP ES T JP A JP A US A US A priorities, 6 applications, 10 publications INPADOC 75

76 JAPIO Typische Anfragen Kurzbeschreibung Inhalt Fortschreibung Aktualität Dokumente aus JAPIO PAJ-Daten INPADOC-Daten Typische Anfragen Recherchen zum Stand der Technik in Japan (Freitext und Klassifikation), z. B.: Welche Patente wurden in Japan zum Thema Georadar angemeldet? Recherchen nach formalen Daten (z. B. Nummern, Namen), z. B.: Welchen Inhalt hat die japanische Veröffentlichung JP ? Kurzbeschreibung Inhalt Hersteller: Japan Patent Information Organization (JAPIO), Tokyo, Japan Zeitraum: seit Okt / /1997: ergänzende Dokumente aus INPADOC Umfang: ca. 8,8 Mio Patentveröffentlichungen (September 2005) ca. 6,1 Mio Patentgrafiken Update: monatlich Sprache: Englisch Veröffentlichungen von ungeprüften JP-Patentanmeldungen (Kokai Tokkyo Koho) Bibliografische Daten, IPC und JAPIO Klassifikation, Titel und Abstract in Englisch, Namen Patentzeichnungen Die Datenbank JAPIO macht die Veröffentlichungen ungeprüfter japanischer Patentanmeldungen (Code JP- A) zugänglich und ist die umfassendste Quelle für diese Dokumente. Sie entspricht dem Dienst Patent Abstracts of Japan (PAJ), der von Oktober 1976 bis Ende 1994 gedruckt erschien und seit 1995 als CD- ROM erscheint. Da in PAJ nicht alle ungeprüften japanischen Patentanmeldungen enthalten sind (z. B. PCT- Anmeldungen mit Japan als Bestimmungsland), wurden entsprechende Dokumente aus dem Zeitraum 04/ /1997 aus INPADOC ergänzt. Diese haben kein Abstract, manchmal fehlt auch der englische Titel. Die Datenbank enthält den Abstract in englischer Sprache. Die Namen von Erfindern und Anmeldern werden aus der japanischen in lateinische Schrift übertragen. Die Datenbank JAPIO enthält keine Hinweise auf Veröffentlichungen zu in die nationale Phase eintretenden PCT-Anmeldungen (JP-T), bekannt gemachte geprüfte Anmeldungen (JP-B), Patentschriften (JP-B1, JP-B2) oder zur Registrierung. Fortschreibung Die Datenbank ist statisch, es erfolgt keine Fortschreibung einmal eingetragener Dokumente. Die Datenbank enthält nur die ungeprüften Anmeldungen. JAPIO 76

77 Aktualität Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY Neue Dokumente werden in JAPIO mit einer Verzögerung von ca. 3 4 Monaten gegenüber dem Erscheinungsdatum aufgenommen. Dokumente aus JAPIO PAJ-Daten Format: Standard Plus; Layout: STNEasy Anzeige der Ergebnisse aus JAPIO Datenbank Title OVEN FOR PIZZA Inventor Name NAGAOKA HIROO Patent Assignee NAGAOKA SEISAKUSHO:KKMASUDA RENGA KKFUJIMURA SEISAKUSHO:KK Patent Information JP A Heisei Application Information JP (JP Heisei) Priority Application Information JP Publication Source PATENT ABSTRACTS OF JAPAN (CD-ROM), Unexamined Applications, Vol International Patent Classification ICM A21B Graphic Abstract PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an oven for pizza capable of elevating a temperature near the hearth of a heating chamber in a short time and easily confirming a finished state.solution: The oven for pizza is constituted by forming a part ranging from a ceiling wall to a side wall in double layers having an exhaust space between the layers, forming an exhaust inlet opening to the heating chamber at one lower end of the exhaust space, while an exhaust outlet opening to the outside at a proper site of the exhaust space and installing gas burners on the other side of the heating chamber.copyright: (C)2003,JPO Accession Number JAPIO JAPIO 77

78 INPADOC-Daten Format: Standard Plus; Layout: STNEasy Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY Anzeige der Ergebnisse aus JAPIO Datenbank Title SWITCHING POWER SUPPLY PORTION FOR REDUCING HIGHER HARMONIC LOAD IN POWER SUPPLY Inventor Name RAINHARUTO KEEGERU; JIYANNPOORU RUBUERU Patent Assignee DEUTSCHE THOMSON BRANDT GMBH Patent Information JP A Heisei Application Information JP (JP Heisei) Priority Application Information DE Publication Source INPADOC International Patent Classification ICM H02M International Patent Classification, Secondary H02M Accession Number JAPIO JAPIO 78

79 KOREAPAT Typische Anfragen Kurzbeschreibung Inhalt Fortschreibung Aktualität Dokument aus KOREAPAT Typische Anfragen Recherche nach dem Stand der Technik in Korea (Freitext und Klassifikation), z. B.: Welche Erfindungen wurden in Korea über Wind Power Generators angemeldet? Namensrecherchen (Erfinder, Anmelder), z. B.: Welche Erfindungen der Firma Samsung wurden im letzten Jahr in Korea publiziert? Welche Patente hat Herr Richard Wells der Firma Lucent Technologies in Korea angemeldet? Recherchen nach formalen Daten (z. B. Nummern: Publikationsnummer, Aktenzeichen), z. B.: Welchen Inhalt hat die ungeprüfte Patentanmeldung mit der Nummer KR ? Wer ist der Inhaber des geprüften Patents mit der Nummer KR ? Kurzbeschreibung Inhalt Hersteller: Korean Institute of Patent Information (KIPI) im Auftrag des Korean Intellectual Property Office (KIPO) Zeitraum: seit 1979 Umfang: ca Dokumentationseinheiten, ca Patentgrafiken (September 2005) Update: 4 bis 5 mal im Jahr Sprache: Englisch Auszüge aus koreanischen geprüften Patenten von 1979 bis 2001, Auszüge aus koreanischen ungeprüften Patentanmeldungen ab 2000 Es können auch nach 2001 Patenterteilungen enthalten sein, wenn keine Anmeldung veröffentlicht wurde Bibliografische Daten, Titel, Namen (Erfinder, Anmelder), Klassifikation Abstracts Patentzeichnung Fortschreibung In der Datenbank KOREAPAT sind die Datensätze statisch, es ist entweder die ungeprüfte Patentanmeldung oder die geprüfte enthalten. Wenn bei der Aufnahme der Dokumente diese noch unvollständig waren, werden die Textbestandteile später ergänzt. KOREAPAT 79

80 Aktualität Hier kann keine genaue Angabe gemacht werden. Dokument aus KOREAPAT Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY Format: Standard PLUS; Layout: STNEasy ANTWORT KIPI on STN Accession Number 2002: KOREAPAT ED Title SEMICONDUCTOR LASER DIODE AND MANUFACTURING METHOD THEREOFTLEnglish Inventor Name KIM, JUN YEONG Patent Assignee SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. Patent Information Publ. Type KRB1 Examined Patent Application second publication; since granted patent Patent Information KR B Application Information KR Priority Application Information KR * International Patent Classification ICM H01S Abstract PURPOSE: A semiconductor laser diode and a manufacturing method thereof are provided to increase the yield of the semiconductor laser diode by diffusing zinc(zn) to form a current breaking layer.constitution: A p- type buffer layer(12) is deposited on an upper portion of a p-type substrate(11). A p-type first clad layer(18) is deposited on an upper portion of the p-type buffer layer(12). An active layer(19) is deposited on an upper portion of the p-type first clad layer(18). An n-type second clad layer(16) is deposited on an upper portion of the active layer(19). An n-type diffusion preventing layer(13) is deposited on an upper portion of the n-type second clad layer(16). An n-type third clad layer is deposited on an upper portion of the n-type diffusion preventing layer(13). An n-type cap layer is deposited on an upper portion of the n-type third clad layer. A current breaking layer(15) is formed on the n-type diffusion preventing layer(13), n-type third clad layer, and both sides of the n- type cap layer by selectively diffusing zinc(zn). An n-type metal electrode layer(21) is deposited on upper portions of the current breaking layer(15) and the n-type cap layer. A p-type metal electrode layer(20) is deposited on a lower surface of the p-type substrate(11)..copyrgt. KIPO 2003 Graphic Graphical Image Size 7910 KOREAPAT 80

81 LITALERT Kurzbeschreibung Inhalt Fortschreibung Dokumente aus LITALERT Kurzbeschreibung Inhalt Hersteller: Thomson Scientific Zeitraum: seit 1973 Umfang: ca Dokumentationseinheiten zu Patenten, ca Dokumentationseinheiten zu Trademarks (September 2005) Update: Wöchentlich Sprache: Englisch Rechtsstreite zu US-Patenten und US-Marken Dokumente für Marken- und Patentverletzungsprozesse, die an den 94 US-District-Gerichten geführt und dem Beauftragten des USPTO mitgeteilt wurden. Dokumente von Prozessen ab 1970, über die in der Official Gazette nie berichtet wurde. Patentnummer, Markenregistrierungsnummer, Ausgabedatum Titel bzw. Markenname, Erfinder, Inhaber, Anmelder US-Patentklassifikation (USCL): Titel und Notation Beschreibende Informationen über spezifische Rechtsstreite enthalten das Gericht, an dem der Streit ausgetragen wurde, das Urteilsregister der jeweiligen Kategorie, Zivilkläger, Beklagte, Datum, an dem der Rechtsstreit anhängig wurde; Urteil und Datum, wenn vorhanden Quellen: Marken, Patente, Gerichtsfälle Fortschreibung Die Datenbank ist statisch, es erfolgt keine Fortschreibung einmal eingetragener Dokumente. LITALERT 81

82 Dokumente aus LITALERT Format: Standard Plus; Layout: STNEasy (Patent) ANTWORT THE THOMSON CORPORATION on STN Title Vehicle handle linear pull action Inventor Name Saffran Peter A - Windsor, CA; Abbott Glenn W - West Bloomfield, MI; Kavanaugh James - Northville, MI Patent Assignee DaimlerChrysler Corporation - Auburn Hills, MI; Siegel-Robert, Inc. -St. Louis, MO Patent Info. Publication Type Utility Patent Information US A Related Application Information none Related Trademark none Plaintiff Siegel-Robert Inc Defendent ADAC Plastics Inc Court Location MI, Western Dist Patent Number Groups 1:04-cv-261 Filing Date Action Taken A complaint was filed Document Type Patent Notes none Cross Reference Name none Field Availability ACT; CTL; DF; FID; IN; NCL; NCLT; NUM; PA; PF; PI; RLI; RTM; TI Accession Number P LITALERT National Patent Classification US Patent Classification Titles Movable or Removable Closures Format: Standard Plus; Layout: STNEasy (Marke) ANTWORT THE THOMSON CORPORATION on STN Title Viagra Related Application Information none Owner Pfizer Incorporated - New York NY Trademark Number Registered Related Trademark none Plaintiff Pfizer Incorporated LITALERT 82

83 Defendent Pharma Systems Incorporated; Simmons Robert Court Location CA, Central Dist. Patent Number Groups SACV JFW PJWx Filing Date Action Taken A complaint was filed. Document Type Trademark Notes none Cross Reference Name none Field Availability ACT; CTL; DF; FID; NUM; OW; PF; RLI; RTM; TI; TMCC; TMCT; TMN Accession Number T LITALERT Trademark Class Code 5 LITALERT 83

84 PATDPA Typische Anfragen Kurzbeschreibung Inhalt Fortschreibung Aktualität Dokument aus PATDPA Typische Anfragen Recherche nach dem Stand der Technik in Deutschland (Freitext und Klassifikation), z. B.: Welche Erfindungen wurden in Deutschland auf dem Gebiet Bremsen für Inline-Skates angemeldet? Namensrecherchen (Erfinder, Anmelder), z. B.: Welche Erfindungen der Firma Jenoptik wurden im letzten Jahr in Deutschland publiziert? Welche Patente hat Herr Jozsef Bugovics in Deutschland angemeldet? Recherchen nach formalen Daten (z. B. Nummern: Publikationsnummer, Aktenzeichen), z. B.: Welchen Inhalt hat das Patent mit der Nummer DE ? Wer ist der Inhaber des Patentes mit der Nummer DE ? Rechtsstandsrecherchen Ist das Patent mit der Nummer DE noch in Kraft? Bietet die Siemens AG die Anmeldung DE zur Lizenz an? Kurzbeschreibung Inhalt Hersteller: Deutsches Patent- und Markenamt, München, Deutschland Zeitraum: seit 1968 Umfang: ca. 4,7 Mio. Dokumentationseinheiten zu Patenten, ca zu Gebrauchsmustern, ca Patentgrafiken (September 2005) Update: Wöchentlich Sprache: Deutsch Auszüge aus den vom Deutschen Patent- und Markenamt veröffentlichten Offenlegungs-, Auslege-, Patent- und Gebrauchsmusterschriften Auszüge aus den EP-, PCT- und Euro-PCT-Schriften (ab 31. Woche 1998) Auszüge aus EP-, PCT- und Euro-PCT-Schriften, in denen die Bundesrepublik Deutschland benannt wurde (ab 1978) Übersetzungen von erteilten, im Einspruch geänderten und vom Anmelder korrigierten EP-Patenten mit Wirkung DE, die in englisch oder französisch angemeldet wurden Bibliografische Daten, Titel, Namen (Erfinder, Anmelder, Vertreter), Klassifikation Patentzeichnung (Zeichnungen bzw. chemische Formeln) von den Titelseiten deutscher Patentschriften ab 1983 PATDPA 84

85 Angaben zu Zitierungen, Relationen Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY Patentfamilieninformationen (DE, EP, WO; ab Juli 1998 vollständig) ausgewählte Rechtsstandsdaten (DE ab 1981, EP ab Juli 1998) Dokumentenarten: Anzahl Code Jahr Bezeichnung ( ) (PK.M) DEA 1968 DE-Offenlegungsschrift (OS), bis DEA DE-Offenlegungsschrift (OS) 112 DEA Berichtig. der DE-OS (Titel) DEB 1968 DE-Auslegeschrift (AS) 1822 DEB DE-Auslegeschrift (ohne OS) DEB DE-Auslegeschrift (nach OS) 4431 DEB DE-Patentschrift (ohne OS) DEB DE-Patentschrift (nach OS) 79 DEB Berichtigung der DE-Patentschrift (Titel) 91 DEB Berichtigung der DE-Patentschrift (Gesamt) DEC DE-Patentschrift 1. Veröff. (ohne OS oder AS) DEC DE-Patentschrift 2. Veröff. (nach OS oder AS) DEC DE-Patentschrift (1. Änderung nach Einspruch oder Beschränkung) 7 DEC DE-Patentschrift (2. Änderung) 301 DEC DE-Patentschrift (mit Änderung) 5 DEC Berichtigung der geänderten DE-PS (Gesamt) DECE 1978 DE-AKZ für EP-Patent mit Wirkung in DE 8720 DET DE-Publikation der übersetzten PCT-Anmeldung DET DE-Publikation der übersetzten EP-Ansprüche 1621 EPT DE-Publikation der übersetzten EP-Ansprüche DET2 Juni 1992 DE-Publik. der übersetzten EP-Patentschrift 3025 DET3 Juni 1992 DE-Publik. der Übersetzung der geänderten europäischen Patentschrift in deutscher Sprache 399 DET4 Juni 1992 DE-Publik. der berichtigten Übersetzung der europäischen Patentschrift 1551 DET DE-Publikation der übersetzten PCT-Anmeldung 93 DET Berichtigung einer T-Schrift (Titel) 97 DET Berichtigung einer T-Schrift (Gesamt) DEU DE-Gebrauchsmuster, Bekanntmachung im Patentbl. 23 DEU Berichtigung der DE-Gebrauchsmusterschrift (Titel) 6 DEU Berichtigung der DE-Gebrauchsmusterschrift (Gesamt) EPA 1978 EP-Publikation der EP-Patentanmeldung EPA EP-Publikation der EP-Patentanmeldung mit Recherchebericht EPA EP-Publikation der EP-Patentanmeldung ohne Recherchebericht EPA Nachträgliche EP-Publikation des EP-Rechercheberichts 241 EPA Berichtigtes Titelblatt der EP-Patentanmeldung 184 EPA Neudruck der berichtigten EP-Patentanmeldung EPB EP-Patentschrift (nach Publ. Von A1 oder A2) 6016 EPB EP-Patentschrift (nach Einspruch) 407 EPB Berichtigtes Titelblatt der EP-Patentschrift 692 EPB Neudruck der berichtigten EP-Patentschrift 2313 WOA* 1978 WO-Publikation der PCT-Anmeldung WOA1* 1978 WO-Publikation der PCT-Anmeldung mit internat. Recherchebericht WOA2* 1978 WO-Publikation der PCT-Anmeldung ohne internat. Recherchebericht WOA Nachträgliche WO-Publikation des internationalen Rechercheberichts * WO-Anmeldungen in deutscher Sprache nach Eintritt in die nationale DE-Phase ab 1978, WO- Anmeldungen vor Eintritt in die nationale Phase ab Juli 1998 PATDPA 85

86 Abstract, Hauptanspruch: Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY Schriftart ab Jahr/Woche Dok.-Art (Code) Textsubstanzen neben dem Titel in Deutsch Deutsche Patent- und ab 1981 DE-A1/A8/A9 Zusammenfassung Offenlegungsschriften DE-C1/C2/C3/C4/ C5/C8/C9 DE-B3/B4/B8/B9 Deutsche ab 39/1999 DE-U1/U8/U9 Hauptanspruch Gebrauchsmuster Deutsche Patente ab 1996 DE-C1/C2/C3/C4/ C5/C8/C9 Hauptanspruch (zusätzlich zur Zusammenfassung, nicht rückwirkend) DE-B3/B4/B8/B9 Deutsche Übersetzungen bis 2003 DE-T1/T8/T9 von WO-Schriften Deutsche Übersetzung ab 1978 EP-T1/T8/T9 von Ansprüchen aus EP-Anmeldung Deutsche Aktenzeichen DE-CE für EP-Patente mit DE- Benennung Deutsche Übersetzungen ab 49/1992 DE-T2/T3/T4/T8/T9 Hauptanspruch von EP-Schriften Deutsche Übersetzung ab 2004 DE-T5/T8/T9 von WO-Schriften EP- und WO- Anmeldungen ab 31/1998 EP-A/A1/A2/A3/A4 WO-A/A1/A2 Zusammenfassung (wenn in Deutsch angemeldet) EP-Patentschriften ab 31/1998 EP-B1/B2 Hauptanspruch Manche Textinformationen werden erst mit einer Verzögerung nachgetragen (europäische Abstracts). Für Überwachungen steht hier das Feld UPAB zu Verfügung. Die Dokumente in PATDPA enthalten Angaben zum Verfahrens- und Rechtsstand. Dieser bezieht sich bei EP-Patenten vor der 31. Woche 1998 nur auf das Verfahren vor dem Deutschen Patentamt, danach auch auf das Verfahren vor dem Europäischen Patentamt. Außerdem sind in PATDPA Angaben zu Dokumenten mit einer rechtlichen Beziehung enthalten, z. B. Teilungen und Zusatzanmeldungen (DISPLAY-Feld RLI). Entgegengehaltene Patentschriften und Literatur werden in die Datenbank ebenfalls aufgenommen (DISPLAY-Felder RE, REP, REN). Fortschreibung In der Datenbank PATDPA sind die Datensätze dynamisch, d. h. bei einer neuen Veröffentlichung oder bei einer Änderung des Rechtsstandes erfolgt eine Veränderung im Inhalt der vorhandenen Dokumentationseinheit. Eine Dokumentationseinheit entspricht einem bestimmten Verfahren von einem der Ämter der drei Patentorganisationen (DPMA, EPA, WIPO), unabhängig von der Anzahl der Publikationen durch die betreffende Organisation. Zu einer Patentfamilie, die jeweils ein Mitglied aus DE, EP und WO hat, werden auch mindestens drei Dokumente in der Datenbank existieren. Aktualität Veröffentlichungen erscheinen 3 bis 14 Tage nach der Veröffentlichung durch das Deutsche Patent- und Markenamt im Patentblatt. PATDPA 86

87 Dokument aus PATDPA Format: Standard Plus; Layout: STNEasy ANTWORT DPMA/FIZ KA on STN Title (C2)(B4)(A1) Fluessigkeitsfilter mit Ueberstroemventil Inventor Name Brieden, Thomas (*DE Waiblingen)Wente, Heinrich (*DE Winnenden) Patent Assignee MAHLE Filtersysteme GmbH (*DE Stuttgart) Agent Patentanwalts-Partnerschaft Rotermund + Pfusch + Bernhard (70372 Stuttgart)SO DE-Patentblatt 124 (2004) Heft 05, DE B4 PatentschriftTextseiten 8; Blattzahl 5; Zeichnungsseiten 1DE-Patentblatt 114 (1994) Heft 32, DE A1 Offenl.-Schrift, 1. Veroeff.Textseiten 8; Blattzahl 5; Zeichnungsseiten 1; Filmlochkarten 2 Patent Information Publication Type PS EF DE-Patentschrift, 1. Veroeff., Einspr.-Frist 3 Mon. Patent Information DE B PG OP3 (10) 475 (siehe PITX) Application Information DE A ADP (22) DE-Patentanmeldung Priority Application Information DE A IA (32) Nation. Erstanmeldung Family Information FIA DE A ADP (22) DE FIP DE A AO (43) DE-OffenlegungDE B PG (10) 475 (siehe PITX) Notes : ADP (22) Anmeldetag d. DE-Patentanm : FPRD (32) Erstes Prioritaetsdatum : AO (43) Offenlegungstag der DE-Anmeldung (OS) : SRN (56) Veroeff. d. Recherchenergebnisses auf DE-OS : NPA G127 Neuer Stand Anmelder : SRP C107 Ermittl. d. Entgegenhaltungen nach Offenlegung : SRP C107 Ermittl. d. Entgegenhaltungen nach Offenlegung : SRP C107 Ermittl. d. Entgegenhaltungen nach Offenlegung : EX (43) Pruefungsantrag gestellt : PG (45) Veroeff.-Tag der DE-Patenterteilung : SRP (56) Veroeff. d. Entgegenhaltungen auf DE-PS : PGE0 I364 Einspruchfrist abgelaufen ohne Einspruch International Patent Classification ICM B01D (511) IPC-Hauptklasse ICS F15B (512) IPC-Nebenklasse Examiner's Field 27 Papier, Druck, Verpackung PATDPA 87

88 Graphic Abstract (C2)(A1) Um bei einem Fluessigkeitsfilter, insbesondere Schmieroelfilter fuer einen Verbrennungsmotor, mit einem durch einen Gehaeusedeckel verschliessbaren topffoermigen Filtergehaeuse, einem austauschbaren ringfoermigen Filterelement und einem die Roh- mit der Reinseite verbindbaren Ueberstroemventil auf konstruktiv einfache Weise zu gewaehrleisten, dass das ueber das Ueberstroemventil abstroemende Schmieroel gefiltert wird, ist das Ueberstroemventil in einen Grobfilter integriert, der als geschlossener Hohlkoerper mit filtrierenden Aussenwaenden ausgebildet und stromauf des Filterelementes im Filtergehaeuse angeordnet ist. Cited Reference or Reference REP DE A SRP (56) Aus nation. Pruefungsverf. DE C2 SRP (56) Aus nation. Pruefungsverf. DE A SRP (56) Aus nation. Pruefungsverf. DE U SRP (56) Aus nation. Pruefungsverf. DE U SRP (56) Aus nation. Pruefungsverf. DE U SRP (56) Aus nation. Pruefungsverf. DE SRP (56) Aus nation. Pruefungsverf. US A SRP (56) Aus nation. Pruefungsverf. US A SRP (56) Aus nation. Pruefungsverf. SU A SRP (56) Aus nation. Pruefungsverf. DE C1 SRN (56) Aus nation. Recherchenber. DE A SRN (56) Aus nation. Recherchenber. DE U SRN (56) Aus nation. Recherchenber. DE U SRN (56) Aus nation. Recherchenber. DE SRN (56) Aus nation. Recherchenber. US A SRN (56) Aus nation. Recherchenber. US A SRN (56) Aus nation. Recherchenber. SU A SRN (56) Aus nation. Recherchenber. Accession Number DE PATDPA PATDPA 88

89 PATDPAFULL Typische Anfragen Kurzbeschreibung Inhalt Fortschreibung Aktualität Dokument aus PATDPAFULL Typische Anfragen Recherche nach dem Stand der Technik in DE-Publikationen (Freitext und Klassifikation), z. B.: Welche deutschen Erfindungen existieren zum Thema Neurofeedbacksysteme bei der Therapie von neuronalen Krankheiten? Namensrecherchen (Erfinder, Anmelder), z. B.: Welche deutschen Erfindungen der Firma ROLLS-ROYCE wurden im letzten Jahr publiziert? Welche deutschen Patente hat Herr Gerhard Schröder über Möbel angemeldet? Recherchen nach formalen Daten (z. B. Nummern), z. B.: Was steht im Text des DE-Patentes DE ? Gibt es bei dem DE-Patent DE Änderungen gegenüber der veröffentlichten Anmeldung? Volltextanzeige von deutschen Patenten Wie lauten die Ansprüche zur deutschen Anmeldung DE ? Suchen nach Einspruchsmaterial im Volltext Multifile-Recherchen mit anderen nationalen oder regionalen Patentdatenbanken Kurzbeschreibung Inhalt Hersteller: Deutsches Patent- und Markenamt / FIZ Karlsruhe Zeitraum: seit 1987 (bibl. Daten ab 1981) Umfang: ca. 1,4 Mio. Dokumentationseinheiten zu Patenten (Volltexte), ca zu Gebrauchsmustern (Volltexte), (September 2005) Update: Wöchentlich Sprache: Deutsch Vollständiger Text aus deutschen Offenlegungsschriften und Patentschriften, die vom DPMA veröffentlicht wurden, ab 1987 Übersetzungen von europäischen Patentdokumenten (T2, T3, T4) ab 1993 Ansprüche aus deutschen Gebrauchsmusterschriften ab 1999 Keine Dokumente von EP- und WO-Anmeldungen Bibliografische Daten, Titel, Namen (Erfinder, Anmelder, Vertreter), Klassifikation Angaben zu Zitierungen, Relationen PATDPAFULL 89

90 Zusätzlich zu den Volltexten sind die bibliografischen Daten von allen DE-Dokumenten ab 1981 enthalten bisher keine Zeichnungen Zu den sog. DET1-Schriften (deutsche Übersetzung der WO-Anmeldung in nicht deutscher Sprache) gibt es derzeit keine maschinenlesbare Version (ASCII-Code). Aus diesem Grund gibt es diesen Schrifttyp nicht in PATDPAFULL. Das Feld PRAI ist immer ausgefüllt (auch wenn keine Auslandspriorität in Anspruch genommen wurde). Die Prioritätsaktenzeichen sind jedoch bisher teilweise nicht normiert. Fortschreibung Die Datenbank PATDPAFULL verwendet ein Mischkonzept (Segmente). Jede Veröffentlichung wird in einem separaten Record aufgenommen und danach nicht mehr fortgeschrieben: Die Records der T-Schriften enthalten im PI-Feld die Publikationsnummern der EP-Dokumente und bei Euro- PCT-Anmeldungen auch die WO-Nummern. Aktualität Die Daten erscheinen 2 3 Tage nach dem Publikationsdatum vom Deutschen Patent- und Markenamt in der Datenbank. PATDPAFULL 90

91 Dokument aus PATDPAFULL Format: Standard Plus; Layout: STNEasy (beide Publikationslevel) Anzeige der Ergebnisse aus PATDPAFULL Datenbank ANTWORT DPMA on STN Accession Number DE PATDPAFULL ED EW Title Bedienelement fuer Komfortfunktionen im Fahrzeuginterieur Inventor Name Ritter, Bernd, Dipl.-Ing., Ingolstadt, DE Patent Assignee AUDI AG, Ingolstadt, DE Reference Patents DE C1 DE A1 DE A1 DE A1 DE A1 DE Document Type Patent Language German Patent Info. Publication Type DEA1 DE-Offenlegungsschrift Patent Information DE A Application Information DE A Priority Application Information DE International Patent Classification, Main B60R International Patent Classification, Secondary B60K037-06; B60R Abstract Die vorliegende Erfindung betrifft ein Bedienelement fuer Komfortfunktionen im Fahrzeuginterieur, wobei das Bedienelement 10 in einem Bereich zwischen einem Lenkrad 16 und einer Instrumententafel 14 eines Kraftfahrzeugs angeordnet ist. Dabei ist das Bedienelement 10 bewegbar angeordnet, derart, dass das Bedienelement 10 aus einer ersten Ruhe- oder Parkposition ausserhalb eines idealen Greifraums 20 bei Gebrauch in eine Gebrauchsposition innerhalb des idealen Greifraums 20 verschiebbar ist. Detailed Description Die vorliegende Erfindung betrifft ein Bedienelement fuer Komfortfunktionen im Fahrzeuginterieur, wobei das Bedienelement in einem Bereich zwischen einem Lenkrad und einer Instrumententafel eines Kraftfahrzeugs angeordnetist.das Angebot von Komfortfunktionen in Kraftfahrzeugen steigt staendig.unter Komfortfunktionen versteht man dabei Funktionen, die nicht unbedingt zum sicheren Betreiben eines... Patent Claim Text 1. Bedienelement fuer Komfortfunktionen im Fahrzeuginterieur, wobei das Bedienelement (10) in einem Bereich zwischen einem Lenkrad (16) und einer Instrumententafel (14) eines Kraftfahrzeugs angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, dass das Bedienelement (10) bewegbar angeordnet ist, derart, dass das Bedienelement (10) aus einer ersten Ruhe- oder Parkposition ausserhalb eines idealen Greifraums (20) bei Gebrauch in eine Gebrauchsposition innerhalb des idealen Greifraums (20) verschiebbar ist. 2. Bedienelement fuer Komfortfunktionen nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Bedienelement (10) jeweils in der Ruhe- oder Parkposition und der Gebrauchsposition verrastbar ist Bedienelement fuer Komfortfunktionen nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass der Tragarm an der Lenksaeule (18) oder der Instrumententafel (14) befestigt ist. PATDPAFULL 91

92 Accession Number DE PATDPAFULL ED EW Title Bedienelement fuer Komfortfunktionen im Fahrzeuginterieur Inventor Name Ritter, Bernd, Dipl.-Ing., Ingolstadt, DE Patent Assignee AUDI AG, Ingolstadt, DE Reference Patents DE C1 DE A1 DE A1 DE A1 DE A1 DE A1 Document Type Patent Language German Patent Info. Publication Type DEC2 DE-Patentschrift, 2. Veroeffentlichung Patent Information DE C Application Information DE A Priority Application Information DE International Patent Classification, Main B60R International Patent Classification, Secondary B60K037-06; B60R Detailed Description Die vorliegende Erfindung betrifft ein Bedienelement fuer Komfortfunktionen im Fahrzeuginterieur, wobei das Bedienelement in einem Bereich zwischen einem Lenkrad und einer Instrumententafel eines Kraftfahrzeugs bewegbar angeordnet ist. Sie betrifft insbesondere ein Bedienelement nach dem Oberbegriff von Patentanspruch 1.In derartiges Bedienelement ist bekannt aus der DE A1.... Patent Claim Text 1. Bedienelement fuer Komfortfunktionen im Fahrzeuginterieur, wobei das Bedienelement (10) in einem Bereich zwischen einem Lenkrad (16) und einer Instrumententafel (14) eines Kraftfahrzeugs angeordnet ist, wobei das Bedienelement (10) bewegbar angeordnet ist,wobei das Bedienelement (10) derart bewegbar angeordnet ist, dass das Bedienelement (10) aus einer ersten Ruhe- oder Parkposition ausserhalb eines idealen Greifraums (20) bei Gebrauch in eine Gebrauchsposition innerhalb des idealen Greifraums (20) verschiebbar ist,dadurch gekennzeichnet,dass das Bedienelement (10) zur Bedienung mindestens einer Komfortfunktion ausgebildet ist, die dergestalt ist, dass das Kraftfahrzeug auch in der Ruhe- oder Parkposition des Bedienelements sicher betrieben werden kann,wobei das Bedienelement (10) nach Ablauf einer vordefinierten Zeitspanne automatisch von der Gebrauchsposition in die Ruhe- oder Parkposition bewegt wird. 2. Bedienelement fuer Komfortfunktionen nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Bedienelement (10) jeweils in der Ruhe- oder Parkposition und der Gebrauchsposition verrastbar ist Bedienelement fuer Komfortfunktionen nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass der Tragarm an der Lenksaeule (18) oder der Instrumententafel (14) befestigt ist. Accession Number DE PATDPAFULL DEOP8+REQUEST FOR EXAMINATION AS TO PARAGRAPH 44 PATENT LAW DE8304+GRANT AFTER EXAMINATION PROCEDURE DE8364+NO OPPOSITION DURING TERM OF OPPOSITION PATDPAFULL 92

93 PATDPASPC Typische Anfragen Kurzbeschreibung Inhalt Fortschreibung Aktualität Dokument aus PATDPASPC Typische Anfragen Suchen nach deutschen Schutzzertifikaten zu bestimmten Substanzen Existiert ein Schutzzertifikat zu Latanoprost in Deutschland? Suchen nach formalen Daten (Patentnummern, SPC-Dokumentennummern und Anzeige der Zertifikatsinformationen) Welche Schutzzertifikate gibt es für das Patent DE (Übersetzung einer EP-Schrift). Kurzbeschreibung Inhalt Hersteller: Deutsches Patent- und Markenamt, München, Deutschland Zeitraum: seit 1992 Umfang: 683 (September 2005) Update: Irregulär Sprache: Deutsch Deutsche Schutzzertifikate für Arznei- und Pflanzenschutzmittel German Supplementary Protection Certificates for Drugs and Plant protection agents (SPC) (Hinweis: in PATDPA sind auch Zertifikate von europäischen Patenten enthalten) Erteilte, zurückgewiesene und fallengelassene Zertifikate Substanzorientiert, CAS-Registry-Nummern SPC-Dokumentennummern, Publikations- und Anmeldedaten des betreffenden Patents, SPC Produkttype, SPC Term, SPC Anmelde- und Erteilungsdaten, chemische Namen, CAS-Registry- Nummern der zertifizierten Verbindung und verwandter Verbindungen, Handelsnamen, Hinweise zum Rechtsstand, IPC-Hauptklasse Zusatzinformationen können aus PATDPA über das Anzeigeformat BIB2 (BIB, SPC) geholt werden Fortschreibung PATDPASPC ist eine dynamische Datenbank. Für jede SPC-Dokumentennummer wird ein Dokument eingerichtet. Wenn sich Änderungen ergeben, werden die Angaben im Dokument überschrieben. Neue SPC-Dokumente oder Änderungen zu schon eingetragenen Dokumenten werden innerhalb eines Reloads der Datenbank aufgenommen. Das Datum des Reloads wird im File Banner angegeben. (Hinweis: zu einer Patentnummer kann es mehrere Zertifikatsanmeldungen/Erteilungen geben, also auch mehrere Dokumente in der Datenbank.) PATDPASPC 93

94 Aktualität Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY Das Update der Datenbank erfolgt irregulär. Es können keine Angaben zur Aktualität gemacht werden. Man kann erwarten, dass die Angaben zu SPC in PATDPA aktueller sind. Dokument aus PATDPASPC Format: Standard Plus; Layout: STNEasy (beide Publikationslevel) Anzeige der Ergebnisse aus PATDPASPC Datenbank ANTWORT DPMA/FIZ KA on STN Accession Number 1053 PATDPASPC Supplementary Protection Certificate DE SPC, Product Type medicinal SPC.HTERM SPC.AD Examiner's Field 1.44 Patent Information DE Application Date International Patent Classification, Main C07D (6) C07D (7) Indexing Presumably Certified Compound(s) RN.PCC CN.PCC Equixx RN.PCC CN.PCC Firocoxib RN.PCC CN.PCC Librens Trade Name Previcox Kautabletten fuer Hunde Legal Status APP Firocoxib REQ Firocoxib PATDPASPC 94

95 PCTFULL Typische Anfragen Kurzbeschreibung Inhalt Fortschreibung Aktualität Dokument aus PCTFULL Typische Anfragen Recherche nach dem Stand der Technik in PCT-Publikationen (Freitext und Klassifikation), z. B.: Welche PCT-Anmeldungen existieren zum Thema Skistöcke? Namensrecherchen (Erfinder, Anmelder), z. B.: Welche PCT-Anmeldungen der Firma HALLIBURTON wurden im letzten Jahr publiziert? Welche PCT-Anmeldungen hat Herr Bertram Pitt angemeldet? Recherchen nach formalen Daten (z. B. Nummern), z. B.: Was steht im Text der PCT-Anmeldung WO 2004/112552? Es wird nach dem Volltext einer Anmeldung der Firma Sartorius vom gesucht? Volltextanzeige von PCT-Anmeldungen Wie lauten die Ansprüche der WO-Veröffentlichung Nr. 2001/010152? Rechtsstandsanzeige Suche nach Einspruchsmaterial im Volltext Multifile-Recherchen mit anderen nationalen oder regionalen Patentdatenbanken Kurzbeschreibung Inhalt Hersteller: Univentio Zeitraum: seit 1978 Umfang: ca. 1 Mio.Dokumentationseinheiten zu Patenten, ca Patentgrafiken (September 2005) Update: Wöchentlich Sprache: Englisch, Deutsch, Französisch, Spanisch Vollständiger Text der veröffentlichten PCT-Anmeldungen, veröffentlicht von der WIPO Bibliografische Daten Titel in Englisch und Französisch, bei deutschen oder spanischen Originaldokumenten existiert auch ein deutscher bzw. spanischer Titel Im Feld Designated States DS sind die internationalen (W) und regionalen (RW) Benennungen getrennt aufgeführt. Bei den regionalen Benennungen ist gekennzeichnet, über welche Institution benannt wurde: EPO: Europäisches Patentamt ARIPO: Afrikanische regionale Organisation für geistiges Eigentum EAPO: Eurasische Patentübereinkunft PCTFULL 95

96 OAPI: African Organization of Intellectual Property Bei den Benennungen wird außerdem unterschieden, ob es sich um Patente oder Gebrauchsmuster handelt. Die Prioritätsaktenzeichen im Feld PRN sind nicht im STN-Standardformat eingetragen. Rechtsstandsangaben werden aus INPADOC übernommen und sind im Format Standard Plus anzeigbar. Patentzeichnungen Für Dokumente in Originalsprache Englisch (70%), Deutsch (15%), Französisch (5%) und Spanisch (1%) existiert der vollständige Text in der Originalsprache und zusätzlich der Abstract in Englisch und Französisch. Für die anderen Sprachen (Chinesisch, Japanisch, Russisch) existiert nur der Abstract in Englisch und Französisch. Alle Texte werden durch eine Optical Character Recognition (OCR) Software erzeugt, d. h., es können Interpretationsfehler vorkommen und Textbestandteile unvollständig sein. Ein kleiner Teil von Dokumenten enthält keinen Text, weil beim Scannen Fehler aufgetreten sind. Zeichnungen der Titelseite Fortschreibung In der Datenbank PCTFULL wird ein statisches Konzept verfolgt. Die Dokumente werden nicht fortgeschrieben. Aktualität Die Daten erscheinen 1 2 Wochen nach dem Publikationsdatum der WIPO in der Datenbank. Dokument aus PCTFULL Format: Standard Plus; Layout: STNEasy Anzeige der Ergebnisse aus PCTFULL Datenbank ANTWORT Univentio on STN Title in English METHOD AND DEVICE FOR TESTING A HOLLOW BODY Title in French PROCEDE ET DISPOSITIF POUR TESTER UN CORPS CREUX Title in German VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR PRUeFUNG EINES HOHLKOeRPERS Inventor Name TIPPELMANN, Goetz, Im Goetzenkreuz 1, Neuenstadt, DE [DE, DE] Patent Assignee DRALLMESSTECHNIK TIPPELMANN GMBH, Otto-Neumeister-Strasse 8, Neuenstadt, DE [DE, DE], for all designates States except US;TIPPELMANN, Goetz, Im Goetzenkreuz 1, Neuenstadt, DE [DE, DE], for US only Language German Language of Filing German Patent Information WO A DS W: AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR BY BZ CA CH CN CO CR CU CZ DE DK DM DZ EC EE ES FI GB GD GE GH GM HR HU ID IL IN IS JP KE KG KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV MA MD MG MK MN MW MX MZ NI NO NZ OM PG PH PL PT RO RU SC SD SE SG SK SL SY TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN YU ZA ZM ZW W-U: AT CZ DE DK EE FI SK RW (ARIPO): GH GM KE LS MW MZ SD SL SZ TZ UG ZM ZW RW (EAPO): AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM RW (EPO): AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LU MC NL PCTFULL 96

97 RW (OAPI): PT RO SE SI SK TR BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW ML MR NE SN TD TG Application Information WO 2003-DE2215 A PRAI DE International Patent Classification, Main G01N Graphic Accession Number Entry Date Entry Week Update Date Abstract The invention relates to a method and a device for testing a hollow body in order todetermine the correctness of the embodiment of cavities with respect to the geometricdesign thereof. The inventive method consists in positioning an acoustical sourceat a predetermined point and in producing an acoustical output signal. Said acousticalsignal emitted by the hollow body is received in the predetermined acoustic transmitpositions and analysed. The deviation between the acoustical signals or betweencalculated physical quantities such as amplitude frequency response, frequencyphase response, transmission functions and similar quantities which are determinedon the parts of the tested correctly embodied cavities makes it possible to judgethe correctness of the embodiment of the cavity of a sample. Abstract in French L'invention concerne un procede et un dispositif pour tester uncorps creux dans le but de determiner si les cavites ont ete executeescorrectement sur le plan geometrique. Selon l'invention,une source acoustique est positionnee en un point predetermine etproduit un signal acoustique de sortie. Le signal acoustique emis par lecorps creux est acquis dans des positions d'emission acoustique predetermineeset analyse. En fonction de l'ecart entre les signaux acoustiquesou entre les grandeurs physiques deduites, telles que les reponsesen amplitude et en frequence, les reponses en frequence et enphase, les fonctions de transmission et similaires, qui ont ete determineessur des parties de cavites a examiner, executees de manierecorrecte, il est decide si l'execution de la cavitedans l'echantillon est correcte. Abstract in German Die Erfindung betrifft ein Verfahren sowie eine Vorrichtung zur Pruefung eineshohlkoerpers hinsichtlich geometrisch richtiger Ausfuehrung vonhohlraeumen. Eine Schallquelle wird an einer vorbestimmten Stelle positioniertund erzeugt ein Ausgangs-Schallsignal. Das von dem Hohlkoerper abgestrahlteschallsignal wird an vorbestimmten Schallabstrahl-Positionen aufgenommenund analysiert, wobei anhand der Abweichung der Schallsignale beziehungsweiseabgeleiteter physikalischer Groessen wie Amplitudenfrequenzgaengen, Phasenfrequenzgaengen,Uebertragungsfunktionen und dergleichen, die an Teilen mit korrekterausfuehrung der zu untersuchenden Hohlraeume ermittelt wurden, entschiedenwird, ob die Ausfuehrung des Hohlraumes im Pruefling korrekt ist. Detailed Description Verfahren und Vorrichtung zur Pruefung eines HohlkoerpersDie Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtungzur Pruefung eines Hohlkoerpers hinsichtlich geometrischrichtiger Ausfuehrung von Hohlraeumen.Die Ueberpruefung von Hohlraeumen in Hohlkoerpernhinsichtlich geometrisch richtiger PCTFULL 97

98 Ausfuehrung derhohlraeume stellt in vielen technischen Bereichen eineschwierige Aufgabe dar. Insbesondere dann, wenn diesehohlraeume komplizierte Formen aufweisen und diehohlkoerper nicht zerlegt werden koennen, um dieabmessungen der Hohlraeume daraufhin zu ueberpruefen, ob siein ihren Abmessungen dem gewuenschten Stand,beispielsweise den in einer Konstruktionszeichnungvorgegebenen Abmessungen Claims in German 1 Verfahren zur Pruefung eines Hohlkoerpers (1)hinsichtlich geometrisch richtiger Ausfuehrung vonhohlraeumen mit den folgenden Schritten:A Positionieren einer Schallquelle (10) an einervorbestimmten Schallanlege-Position in Bezug aufden Hohlkoerper;B Erzeugen eines Ausgangs-Schallsignals (Al;A2)mittels der Schallquelle (10) ;C Aufnehmen des von dem Hohlkoerper abgestrahltenschallsignals (Bl;B2) an mindestens einervorbestimmten Schallabstrahl-Position (121 13j 14j,15) in Bezug auf den Hohlkoerper;D Analyse des aufgenommenen Schallsignals (Bl;B2). 2 Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,dass Schritt D einen Vergleich des aufgenommenenschallsignals (BI;B2) mit einem Referenz-Schallsignalenthaelt. 3 Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,dass Schritt D einen Vergleich von aus dem aufgenommenenschallsignal (Bl;B2) und aus einem Referenz-Schallsignalgewonnenen Analysedaten enthaelt Vorrichtung nach einem der Ansprueche 14 bis 18,dadurch gekennzeichnet, dass mehrere Schallaufnehmer (12, ) zum gleichzeitigen Aufnehmen des von demhohlkoerper (1) abgestrahlten Schallsignals (Bl;B2) anmehreren vorbestimmten Schallabstrahl-Positionen in Bezugauf den Hohlkoerper (1) vorgesehen sind. LEGAL STATUS INPADOC COPYRIGHT 2004 EPO on STN Accession Number PCTFULL WOAK + DESIGNATED STATES WO A1 AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR BY BZ CA CH CN CO CR CU CZ DE DK DM DZ EC EE ES FI GB GD GE GH GM HR HU ID IL IN IS JP KE KG KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV MA MD MG MK MN MW MX MZ NI NO NZ OM PG PH PL PT RO RU SC SD SE SG SK SL SY TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN YU ZA ZM ZW WOAL + DESIGNATED COUNTRIES FOR REGIONAL PATENTS WO A1 GH GM KE LS MW MZ SD SL SZ TZ UG ZM ZW AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LU MC NL PT RO SE SI SK TR BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW ML MR NE SN TD TG PCTFULL 98

99 RDISCLOSURE Typische Anfragen Kurzbeschreibung Inhalt Fortschreibung Aktualität Dokument aus RDISCLOSURE Typische Anfragen Recherche nach dem internationalen Stand der Technik in den technischen Offenbarungen (weltweit, nur Freitext) ergänzend zur Recherche in anderen internationalen Patentdatenbanken, z. B.: Welche Veröffentlichungen existieren zum Thema Barcodes? Namensrecherchen (nur Anmelder, aber auch häufig anonym), z. B.: Welche technischen Offenbarungen der Firma International Business Machines Corporation wurden im letzten Jahr publiziert? Recherchen nach formalen Daten (z. B. Nummern), z. B.: Was steht im Text der Offenbarung RD ? Volltextanzeige der technischen Offenbarungen Wie lautet der Text zu RD ? Suchen nach Einspruchsmaterial im Volltext Kurzbeschreibung Inhalt Hersteller: Kenneth Mason Publications Ltd Zeitraum: seit 1960 Umfang: ca Dokumentationseinheiten (September 2005) Update: monatlich Sprache: 95 % englisch (sonst: deutsch, französisch, spanisch u.a.) Vollständiger Text und Zeichnungen aus technischen Offenbarungen (technical disclosure) von Erfindungen Defensive Schutzrechte als Alternative zu den aktiven Schutzrechten wie Patent oder Gebrauchsmuster; Quelle ist die monatlich erscheinende Zeitschrift Research Disclosure Gründe für die Publikation: Preisgünstige Alternative, um Patente anderer Firmen zu verhindern Ergänzung zu Patenten, insbesondere weil alle Patentämter diese Quelle regulär nutzen Titel, Text, Zeichnung(en), Publikationsinformationen (Publikationscode RD), Anmelde- bzw. Prioritätsinformationen im Feld PRAI Namen (Anmelder, Erfinder, ggf. anonymous ) sind im Feld PA enthalten Keine IPC oder andere Indexierungen RDISCLOSURE 99

100 Bibliografische Daten und Textbestandteile (Volltext) sind suchbar. Der Text und die Zeichnung(en) stehen als TIFF- bzw. PDF-Datei(en) für die Anzeige zur Verfügung. Bis Anfang 2001 wurden RD-Dokumente in Derwent World Patents Index mit IPC (bis zur Unterklasse, von Derwent klassifiziert) und weiterer Derwent-Indexierung aufgenommen. Fortschreibung Die Datenbank RDISCLOSURE ist statisch. Die Dokumente werden aus der Quelle übernommen und nicht mehr fortgeschrieben. Aktualität Die Daten erscheinen ca. 14. Tage nach dem Publikationsdatum im Journal Research Disclosure in der Datenbank. Dokument aus RDISCLOSURE Anzeigeformat: Standard Plus; Layout: STNEasy Anzeige der Ergebnisse aus RDISCLOSURE Datenbank ANTWORT KENNETH MASON PUBL. on STN Title Hydrostatic Packer Patent Assignee Anonymous Patent Information RD Priority Application Information RD Publication Source Research Disclosure, , 471CODEN: RSDSBB; ISSN: Document Type Patent Graphical Image Size 34870; 42910; Accession Number RDISCLOSURE RDISCLOSURE 100

101 Graphic RDISCLOSURE 101

102 RDISCLOSURE 102

103 RUSSIAPAT Typische Anfragen Kurzbeschreibung Inhalt Fortschreibung Aktualität Dokument aus RUSSIAPAT Typische Anfragen Recherche nach dem Stand der Technik in Russland (Freitext und Klassifikation), z. B.: Welche Erfindungen wurden in Russland auf dem Gebiet REMOVING CONTAMINATION FROM SAND angemeldet? Namensrecherchen (Erfinder, Anmelder, Vertreter), z. B.: Welche Erfindungen der Firma Vserossijskij nauchno-issledovatelskij institut konservnoj i ovoshchesushilnoj promyshlennosti (gosudarstvennoe nauchnoe uchrezhdenie) (RU) wurden im letzten Jahr in Russland publiziert? Welche Patente hat Herr FISENKO BORIS LAVRENTEVICH in Russland angemeldet? Recherchen nach formalen Daten (z. B. Nummern: Publikationsnummer, Aktenzeichen), z. B.: Welchen Inhalt hat das Patent mit der Nummer RU ? Wer ist der Patentanmelder der Publikation mit der Nummer RU ? Rechtsstandsrecherchen Wann ist der Eintritt in die nationale Phase in Russland der WO-Anmeldung von Siemens: WO / RU ? Kurzbeschreibung Inhalt Hersteller: Russian Agency for Patents and Trademarks (ROSPATENT) Zeitraum: seit 1994 Umfang: ca Dokumentationseinheiten zu Patenten, ca Patentgrafiken (September 2005) Update: Dreimal im Monat Sprache: englisch Patente und Patentanmeldungen aus Russland (Publikationsland RU). Teilweise werden noch Dokumente (alte Anmeldungen) mit dem Publikationscode SU veröffentlich. Bibliografische Daten, Titel, Namen (Erfinder, Anmelder transliteriert), Klassifikation Abstracts Alle Patentzeichnungen (spezielle Ausgabeformate, in vordefinierten Formaten wird die Zeichnung der Titelseite ausgegeben) Rechtsstandsdaten RUSSIAPAT 103

104 Fortschreibung Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY RUSSIAPAT ist statisch, die Dokumente werden nicht fortgeschrieben. Wenn mehrere Publikationen einer nationalen Publikationsfolge vorhanden sind, werden neue Dokumente in der Datenbank eröffnet. Aktualität Die Aktualität kann nicht angegeben werden. Teilweise sind Publikationsdatum und Eingangsdatum der Dokumente gleich, teilweise werden Dokumente mit einem sehr alten Anmeldedatum und/oder Publikationsdatum in die Datenbank aufgenommen. Dokument aus RUSSIAPAT Format: Standard Plus; Layout: STNEasy Anzeige der Ergebnisse aus RUSSIAPAT Datenbank ANTWORT FIPS on STN Accession Number 2005: RUSSIAPAT ED Title CONNECTING DEVICE FOR SWITCHGEAR CUBICLE WITH DRAW-OUT EQUIPMENT MODULES Inventor Name KULAKOGLU Nesat (TR) Patent Assignee PA.AS SIMENS AKTsIENGEZELLShAFT (DE) Corporate Address , Moskva, ul. B.Spasskaja, 25, str.3, OOO 'Juridicheskaja firma Gorodisskij i Partnery', pat.pov. G.B. Egorovoj Document Type Patent Language Russian Patent Information Publ. Type RUC1 PATENT Patent Information RU C WO Application Information RU A WO 2002-DE Int. Patent Classification ICM (7) H02B International Patent Classification, Secondary (7) H02B Legal Status DPR Effective Date of Priority Right DNP Date of Begin of national Phase Abstract FIELD: electrical engineering. SUBSTANCE: proposed device 8 designed for connecting draw-out equipment module to fixed points of terminals for cables running farther on has flat insulating shroud 15 mounted under base of compartment 6 and provided with sections 19 to receive connecting conductors 17. Leads 20, 21 of connecting conductors 17 protruding from shroud 15 form terminal points in compartment of cable connections 11 for cables and parts of connector contacts engageable with draw-out equipment module. Device is characterized in simplified design also suited to star-delta connection circuits. EFFECT: enlarged functional capabilities of device. 6 cl, 7 dwg Field Availability TI; IN; PI; AI; ICM; ICS; AB; GI; GI.DRW RUSSIAPAT 104

105 Graphic Graphic Information TYPE FORMAT COUNT FP-Image GI.FP 1 Draw. Pages GI.DRW 6 Embedded GI.EM 0 Graphical Image Size Graphic Image Size, Drawing Pages 12223; 14425; 13981; 21199; 14681; RUSSIAPAT 105

106 USPATFULL / USPAT2 Typische Anfragen Kurzbeschreibung Inhalt Fortschreibung Aktualität Dokument aus USPATFULL Dokument aus USPAT Typische Anfragen Recherchen zum Stand der Technik (Volltext, Internationale und US-Klassifikation), z. B.: Welche US-Patente gibt es über Bremsen für Inline-Skates? Gibt es ein amerikanisches Patent zu einem Produkt NOLU? Recherche nach Namen (Erfinder, Anmelder), z. B.: Welche US-Patentpublikationen der INTEL CORPORATION gibt es in den letzten 4 Wochen? Recherchen nach formalen Daten (z. B. Nummern), z. B.: Was steht im Text des US-Patentes Nr. 5,752,072? Gibt es bei dem US-Patent Nr. US 6,311,197 Änderungen gegenüber der veröffentlichten Anmeldung US 2001/003823? Multifile-Recherchen mit anderen nationalen oder regionalen Patentdatenbanken Kurzbeschreibung Inhalt Hersteller: U.S. Patent and Trademark Office, Arlington, Virginia, USA Zeitraum: seit 1974, einige Technikgebiete seit 1971 USPAT2: seit 2001 Umfang: ca. 4,2 Mio Patentveröffentlichungen, ca. 1,1 Mio davon mit Patentgrafiken (September 2005) USPAT2: ca Patentveröffentlichungen ca davon mit Patentgrafiken (September 2005) Update: Wöchentlich, US-Patentklassifikation zweimonatlich Sprache: Englisch Volltexte der vom US Patent and Trademark Office (USPTO) in der Official Gazette veröffentlichten Applications (seit ) und Granted Patents (einschließlich Utility Patents, Defensive Publikations, Design Patents, Reissue Patents, Statutory Invention Registrations, Plant Patents) USPATFULL: erste oder früheste Veröffentlichung USPAT2: letzte oder neueste Veröffentlichung Im Feld File Segment FS ist gekennzeichnet, ob es sich beim Volltext um den der Application oder des Granted Patent handelt. Bibliografische Daten (Titel, Veröffentlichungsnummer und -datum, Anmeldeaktenzeichen und - datum, Anmelder (bei Applications existiert kein Anmelder), Erfinder) Angaben zu Zitierungen in REP USPATFULL 106

107 Patente mit rechtlicher Beziehung incl. Divisions, Continuations, Continuations in Part u.a. (Anmelde- und Publikationsdaten) in RLI Abstract, alle Ansprüche, weitere Textfelder (Summary: Background of the Invention, Summary of the Invention; Brief Description of the Drawings, Detailed Description of the Prefered Embodiment) Amerikanische Klassifikationen (nach jeweils aktuellem Stand im Feld NCL und ursprüngliche bei Veröffentlichung im Feld INCL) Internationale Patentklassifikation CA-Indexierung incl. Registry-Number bei chemierelevanten Dokumenten (auch wenn ein anderes Familienmitglied in CA indexiert wurde) Informationen zu PCT-Veröffentlichungen mit Bestimmungsland US Angaben zur Prüfung: Entgegenhaltungen, Name des Prüfers im Feld EXNAM, vom Prüfer durchsuchte Patentklassen im Feld EXF Sonstige Daten: juristischer Vertreter, Angaben zur Laufzeit: (Anzahl der Laufzeitjahre in PTERM) bei Design Patents und zum Verzicht auf das Patent (DCD) Fortschreibung Die Datenbank USPATFULL verwendet ein Mischkonzept (Co-Datenbank). Alle Veröffentlichungen in der nationalen Publikationsfolge werden in das Feld PI eingetragen. Nach einer Überarbeitung der US-Patentklassifikation werden die Eintragungen in den betreffenden Dokumenten in den Feldern NCLM und NCLS in der Datenbank aktualisiert. In die Datenbank USPAT2 wird erst dann ein Dokument aufgenommen, wenn innerhalb eines Patentverfahrens eine zweite Publikation erscheint. Bei jeder weiteren (dritten, usw.) Publikation wird das vorhandene Dokument in USPAT2 überschrieben; daher ist nur das jeweils zuletzt publizierte Dokument in der Datenbank. Es ist kein Dokument vorhanden, wenn nur eine Publikation existiert. Aktualität Die Dokumente erscheinen am Tag ihrer Veröffentlichung in der Datenbank. Dokument aus USPATFULL Format: Standard Plus; Layout: STN (Zeichnungen sind hier nicht enthalten) Anzeige der Ergebnisse aus USPATFULL Datenbank ANTWORT 1 Patent Information US A US B Title METHODS FOR DETERMINING WAVELENGTH AND PULSE LENGTH OF RADIANT ENERGY USED FOR ANNEALING Inventor Name MARKLE, DAVID A., SARATOGA, CA, United StatesTALWAR, SOMIT, PALO ALTO, CA, United StatesHAWRYLUK, ANDREW M., LOS ALTOS HILLS, CA, United States Application Information US A (9) International Patent Classification [7]ICM: H01L021-66ICS: H01L File Segment APPLICATION Issue National Patent Classification INCLM: 438/ INCLS: 438/ National Patent Classification NCLM: 438/ NCLS: 257/E21.202; 257/E21.324; 257/E21.336; 257/E21.347; 257/E21.433; 438/ ; 438/ USPATFULL 107

108 Agent ALLSTON L JONES, PETERS VERNY JONES & BIKSA, 385 SHERMAN AVENUE SUITE 6, PALO ALTO, CA, Number of Claims Number of Claims: 91 Number of Drawings 15 Drawing Page(s) Abstract Patents International The invention is directed to methods for determining the wavelength, pulse length and other important characteristics of radiant energy used to anneal or to activate the source and drain regions of an integrated transistor device which has been doped through implantation of dopant ions, for example. In general, the radiant energy pulse is determined to have a wavelength from 450 to 900 nanometers, a pulse length of 0.1 to 50 nanoseconds, and an exposure energy dose of from 0.1 to 1.0 Joules per square centimeter. A radiant energy pulse of the determined wavelength, pulse length and energy dose is directed onto the source and drain regions to trigger activation. In cases where the doped region has been rendered amorphous, activation requires crystallization using the crystal structure at the boundaries as a seed. In this case the radiant energy pulse causes the source and drain regions to crystallize with the same crystallographic orientation as the underlying substrate with the dopant ions incorporated into the crystalline lattice so that the source and drain regions are activated. To enhance absorption of the radiant energy used for annealing the doped regions, an anti-reflective layer can be formed over the doped regions before exposure. The radiant energy can be generated by a laser or other relatively intense, pulsed, radiant energy source. Selection of the source should be based on efficiency, the ability to distribute energy uniformly over an extended area and the ability to accurately control the energy content of a single pulse. Summary of the Invention BACKGROUND OF THE INVENTION[0001] 1. Field of the Invention[0002] This invention is directed to a method for determining the wavelength and pulse length of radiant energy used to anneal amorphous semiconductor regions, or to activate doped semiconductor regions, disposed in contact with crystalline semiconductor substrates. The radiant energy can be generated by a laser, flash-lamp or other relatively intense radiant energy source. The method can also be used to perform activation annealing of doped source and drain regions of integrated transistor devices, for example.[0003] 2. Description of the Related Art[0004] In the integrated electronic circuit fabrication industry, ion implantation is often used to introduce dopants of appropriate conductivity type (i.e.,--or p-type) into the source and drain regions of integrated transistors. The... Drawing Description BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS[0028] FIGS. 1A-1G are cross-sectional views of steps to form an integrated device through the use of relatively short pulse radiant energy annealing in accordance with the invented methods; and[0029] FIGS. 2A-2H are cross-sectional views of steps to form an integrated device which involves a step of forming an anti-reflective layer on the substrate to absorb radiant energy for annealing an integrated transistor device. Detailed Description DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS[0030] As used herein, the following terms have the following meanings:[0031] Absorption length is a well-known parameter, and is defined as the thickness of a particular material required to reduce the intensity of radiant energy propagating in such material to 1/e, or 36.8 percent, of its initial intensity;[0032] Anneal includes activation, crystallization or recrystallization within its scope, and refers to raising and subsequently lowering the temperature of a semiconductor region either to crystallize the semiconductor region to be integral with a semiconductor substrate, or to activate dopants by incorporating them into the crystalline lattice of the semiconductor region;[0033] Depth refers to the distance to which a region extends into the substrate in a direction perpendicular to the substrate's upper surface as viewed in the perspective of the Figures;[0034] Disordered region refers to a semiconductor region in which the atoms contained therein are not relatively ordered either because they are in a non-crystalline state due to damage or amorphization caused by implantation of dopant or non-dopant atoms, and/or because they include dopant atoms that have not been incorporated into the crystalline lattice of such region by activation, for example.[0035] Radiant energy refers to photons such as can be generated by a laser or flashlamp, for example;[0036] Thermal diffusion coefficient is defined as k/r.multidot.c where k is the thermal conductivity... Patent Claim Text What is claimed is: USPATFULL 108

109 1. A method comprising the step of: a) determining a wavelength and a pulse length of radiant energy to anneal at least one disordered semiconductor region in contact with a crystalline semiconductor substrate of the same atomic species, based on at least the thickness of the disordered semiconductor region. 2. A method as claimed in claim 1, wherein the disordered region is amorphous A method as claimed in claim 56, further comprising the step of: g) forming a second insulator layer over the gate, source and drain regions; h) etching the second insulator layer to define contact holes over the source, drain and gate regions of the integrated transistor devices; i) forming a second conductive layer over the substrate; j) patterning the second conductive layer to form conductive lines in contact with the source, drain and gate regions; and k) forming a third insulator layer over at least the conductive lines. Indexing Lasers (YAG and Ti:Al2O3; in detg. wavelength and pulse length of radiant energy used for annealing in semiconductor device fabrication) Oxides (inorganic), Processes (anti-reflective layer; in detg. wavelength and pulse length of radiant energy used for annealing in semiconductor device fabrication) Annealing (detg. wavelength and pulse length of radiant energy used for annealing in semiconductor device fabrication) Films IT Films (elec. conductive; in detg. wavelength and pulse length of radiant energy used for annealing in semiconductor device fabrication) Electric conductors IT Electric conductors (films; in detg. wavelength and pulse length of radiant energy used for annealing in semiconductor device fabrication) Amorphous materials IT Antireflective films IT Crystallization IT Dielectric films IT Doping IT Electric activation (dopants) IT Ion implantation(in detg. wavelength and pulse length of radiant energy used for annealing in semiconductor device fabrication) Diffusion (thermal; in detg. wavelength and pulse length of radiant energy used for annealing in semiconductor device fabrication) Semiconductor device fabrication (wavelength and pulse length of radiant energy used for annealing in) Integrated circuits (wavelength and pulse length of radiant energy used for annealing in semiconductor device fabrication) , Silica, processes , Silicon oxynitride , Silicon nitride, processes (anti-reflective layer; in detg. wavelength and pulse length of radiant energy used for annealing in semiconductor device fabrication) AN 2001: USPATFULL USPATFULL 109

110 Dokument aus USPAT2 Format: Standard Plus; Layout: STNEasy Anzeige der Ergebnisse aus USPAT2 Datenbank ANTWORT 1 Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY Patent Information US B Title Methods for determining wavelength and pulse length of radiant energy used for annealing Inventor Name Markle, David A., Saratoga, CA, United States Talwar, Somit, Palo Alto, CA, United States Hawryluk, Andrew M., Los Altos Hills, CA, United States Patent Assignee Ultratech Stepper, Inc., San Jose, CA, United States (U.S. corporation) Application Information US (9) International Patent Classification [7] ICM: H01L ICS: H01L File Segment GRANTED Issue National Patent Classification INCLM: 438/ INCLS: 438/ ; 438/ National Patent Classification NCLM: 438/ NCLS: 257/E21.202; 257/E21.324; 257/E21.336; 257/E21.347; 257/E21.433; 438/ ; 438/ Field of Search Classification 438/14; 438/308; 438/795 Reference Patents Mar / White et al. Feb / Teng Feb / Yamazaki Jun / Imahashi et al. Jun / Noguchi et al. Oct / Takenouchi et al. Apr / Teramoto Jul / Ishihara et al. Jul / Hara et al. Nov / Sexton et al. Feb / Mitlitsky et al. May / Yamazaki et al. Jul / Yamanaka Art Unit 282 Examiner Name Primary Examiner: Booth, Richard Agent Jones, Allston L. Number of Drawings 15 Drawing Figure(s); 15 Drawing Page(s) Abstract The invention is directed to methods for determining the wavelength, pulse length and other important characteristics of radiant energy used to anneal or to activate the source and drain regions of an integrated transistor device which has been doped through implantation of dopant ions, for example. In general, the radiant energy pulse is determined to have a wavelength from 450 to 900 nanometers, a pulse length of 0.1 to 50 USPATFULL 110

111 nanoseconds, and an exposure energy dose of from 0.1 to 1.0 Joules per square centimeter. A radiant energy pulse of the determined wavelength, pulse length and energy dose is directed onto the source and drain regions to trigger activation. In cases where the doped region has been rendered amorphous, activation requires crystallization using the crystal structure at the boundaries as a seed. In this case the radiant energy pulse causes the source and drain regions to crystallize with the same crystallographic orientation as the underlying substrate with the dopant ions incorporated into the crystalline lattice so that the source and drain regions are activated. To enhance absorption of the radiant energy used for annealing the doped regions, an anti-reflective layer can be formed over the doped regions before exposure. The radiant energy can be generated by a laser or other relatively intense, pulsed, radiant energy source. Selection of the source should be based on efficiency, the ability to distribute energy uniformly over an extended area and the ability to accurately control the energy content of a single pulse. Summary of the Invention BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention This invention is directed to a method for determining the wavelength and pulse length of radiant energy used to anneal amorphous semiconductor regions, or to activate doped semiconductor regions, disposed in contact with crystalline semiconductor substrates. The radiant energy can be generated by a laser, flash-lamp or other relatively intense radiant energy source. The method can also be used to perform activation annealing of doped source and drain regions of integrated transistor devices, for example. 2. Description of the Related Art In the integrated electronic circuit fabrication industry, ion implantation is often used to introduce dopants of appropriate conductivity type (i.e.,--or p-type) into the source and drain regions of integrated transistors. The implantation of the dopant atoms breaks chemical bonds in the source and drain regions of the integrated transistors and, in some instances, can render such regions amorphous. To obtain proper electrical performance of the integrated transistors, the source... Drawing Description BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIGS. 1A-1G are cross-sectional views of steps to form an integrated device through the use of relatively short pulse radiant energy annealing in accordance with the invented methods; and FIGS. 2A-2H are cross-sectional views of steps to form an integrated device which involves a step of forming an anti-reflective layer on the substrate to absorb radiant energy for annealing an integrated transistor device. Detailed Description DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS As used herein, the following terms have the following meanings: "Absorption length" is a well-known parameter, and is defined as the thickness of a particular material required to reduce the intensity of radiant energy propagating in such material to 1/e, or 36.8 percent, of its initial intensity; "Anneal" includes "activation", "crystallization" or "recrystallization" within its scope, and refers to raising and subsequently lowering the temperature of a semiconductor region either to crystallize the semiconductor region to be integral with a semiconductor substrate, or to activate dopants by incorporating them into the crystalline lattice of the semiconductor region; "Depth" refers to the distance to which a region extends into the substrate in a direction perpendicular to the substrate's upper surface as viewed in the perspective of the Figures; "Disordered region" refers to a semiconductor region in which the atoms contained therein are not relatively ordered either because they are in a non-crystalline state due to damage or amorphization caused by implantation of dopant or non-dopant atoms, and/or because they include dopant atoms that have not been incorporated into the crystalline lattice of such region by activation, for example. "Radiant energy" refers to photons such as can be generated by a laser or flash-lamp, for example; "Thermal diffusion coefficient" is defined as k/r.multidot.c where k is the thermal conductivity... Patent Claim Text What is claimed is: 1. A method for converting a disordered region on a crystalline semiconductor substrate disordered by implantation of dopant ions back into crystalline structure, said method comprising the steps of: a) determining a thickness of said disordered region; b) determining a wavelength of said radiant energy based on at least the thickness of said disordered region; c) determining a pulse length of said radiant energy based on at least the thickness of said disordered region; and d) annealing said region with radiant energy as determined in steps b) and c) that is sufficient to melt only said disordered region without effecting the crystalline structure of the remainder of said semiconductor substrate. USPATFULL 111

112 2. A method as claimed in claim 1, wherein the disordered region is amorphous A method as claimed in claim 51, further comprising the steps of: h) forming a second insulator layer over the gate, source and drain regions; i) etching the second insulator layer to define contact holes over the source, drain and gate regions of the integrated transistor devices; j) forming a second conductive layer over the substrate; k) patterning the second conductive layer to form conductive lines in contact with the source, drain and gate regions; and l) forming a third insulator layer over at least the conductive lines. Indexing Lasers (YAG and Ti:Al2O3; in detg. wavelength and pulse length of radiant energy used for annealing in semiconductor device fabrication) Oxides (inorganic), Processes (anti-reflective layer; in detg. wavelength and pulse length of radiant energy used for annealing in semiconductor device fabrication) Annealing (detg. wavelength and pulse length of radiant energy used for annealing in semiconductor device fabrication) Films IT Films (elec. conductive; in detg. wavelength and pulse length of radiant energy used for annealing in semiconductor device fabrication) Electric conductors IT Electric conductors (films; in detg. wavelength and pulse length of radiant energy used for annealing in semiconductor device fabrication) Amorphous materials IT Antireflective films IT Crystallization IT Dielectric films IT Doping IT Electric activation (dopants) IT Ion implantation(in detg. wavelength and pulse length of radiant energy used for annealing in semiconductor device fabrication) Diffusion (thermal; in detg. wavelength and pulse length of radiant energy used for annealing in semiconductor device fabrication) Semiconductor device fabrication (wavelength and pulse length of radiant energy used for annealing in) Integrated circuits (wavelength and pulse length of radiant energy used for annealing in semiconductor device fabrication) , Silica, processes , Silicon oxynitride , Silicon nitride, processes (anti-reflective layer; in detg. wavelength and pulse length of radiant energy used for annealing in semiconductor device fabrication) AN 2001: USPATFULL USPATFULL 112

113 Derwent World Patents Index (WPINDEX) Typische Anfragen Kurzbeschreibung Inhalt Fortschreibung Aktualität Dokument aus Derwent World Patents Index Typische Anfragen Recherchen zum Stand der Technik / Informationsrecherchen / Neuheitsrecherchen (Freitext und Klassifikation), z. B.: Wie ist der internationale Stand der Technik bei Bremsen für Inline-Skates? Namensrecherchen (Erfinder, Anmelder), z. B.: Welche Patente hat ein B. Clinton auf dem Gebiet der Behandlung rheumatischer Arthritis? Welches sind die Patente der Firma FIAT zu AIRBAGS? Recherche nach formalen Daten (Nummern: Publikationsnummer, Aktenzeichen), z. B.: Welchen Inhalt hat das US-Patent mit der Nummer (Patentnummer oder Aktenzeichen)? Welchen Inhalt hat die geprüfte japanische Anmeldung JP ? Familienrecherchen Gibt es ein deutsches Äquivalent zur japanischen Anmeldung JP der NEC CORP? In welchen Ländern sucht die Firma Philips Patentschutz für das Patent mit dem Prioritätsaktenzeichen NL ? Kurzbeschreibung Inhalt Hersteller: Derwent Information Ltd., London, Großbritannien Zeitraum: seit 1963 Umfang: ca. 14 Mio Dokumentationseinheiten zu Patenten, ca zu Gebrauchsmustern, ca. 7,5 Mio Patentgrafiken (September 2005) Update: Mehrmals pro Woche Sprache: Englisch Auszüge aus Patentdokumenten von insgesamt 41 Patentorganisationen (39 nationale Ämter, EPO, WIPO) Research Disclosure (RD) endet 2/2001, International Technical Disclosure (TP) endet 11/1993 (Defensive Publications können jetzt unter publiziert und recherchiert werden) Bibliografische Daten, Familiendaten Von Derwent formulierte Titel Strukturierte Abstracts Namen von Erfindern und Anmeldern; zusätzlich ist ein Anmeldercode vorhanden Grafikinformationen (Patentzeichnungen, Chemische Strukturen) WPIndex 113

114 Internationale Patentklassifikation, Derwent-Klassifikation Die Daten reichen für verschiedene Fachgebiete unterschiedlich weit zurück: Pharmazie: 1963 Agrarchemikalien: 1965 Plaste und Polymere: 1966 Sonstige Chemie: 1970 Mechanik, Elektrotechnik, sonstige Technik: 1974 World Patents Index enthält ab 1996 (DW 9626) DE-Gebrauchsmuster. Ein Gebrauchsmuster kann außerdem als prioritätsbegründende Anmeldung mit seinem Aktenzeichen auftreten (in BR, CN, DE, ES, IT, JP möglich). Hinweise zu den Textbestandteilen. Ältere Titel bestehen aus zwei Teilen, die durch Bindestrich getrennt sind. Der erste Teil bezieht sich auf den Anwendungsbereich der Erfindung, der zweite Teil auf die Neuheit. Der Abstract ist strukturiert. Es existieren folgende Überschriften für die Abschnitte: Novelty (Neuheit): eine kurze Beschreibung, wodurch die Erfindung ihre Neuheit begründet, d. h., sich in nicht trivialer Weise vom Stand der Technik abhebt Detailed Description (Detaillierte Beschreibung): Zusammenfassung des Hauptanspruches (oder mehrerer unabhängiger Ansprüche), wenn diese den Rahmen des Novelty Abschnittes sprengen würde Activity (Wirksamkeit): Beschreibung der biologischen Wirksamkeit des Erfindungsgegenstandes, insbesondere bei Pharma-, Veterinär- oder agrarchemischen Patenten Mechanism of action (Wirkmechanismus): Beschreibung der biologischen Wirkungsweise, insbesondere bei Pharma-, Veterinär- oder agrarchemischen Patenten Use (Nutzen): immer vorhanden, Aufführung der Anwendungen der Erfindung in den entsprechenden Bereichen Advantage (Vorteile): Zusammenfassung der Vorzüge der Erfindung aus der Beschreibung des Erfinders Description of Drawing(s) (Beschreibung der Zeichnung(en)): kurze Beschreibung eventueller Zeichnungen einschl. Referenznummern Fortschreibung Die Datensätze in World Patents Index sind dynamisch. Beim Eintreffen des ersten Dokuments einer Patentfamilie bei Derwent wird dieses als Basic betrachtet und mit einem neuen Datensatz aufgenommen. Die bibliographischen Daten später erscheinender Dokumente derselben Patentfamilie (mit den gleichen Prioritätsangaben) werden dem vorhandenen Datensatz als Equivalent hinzugefügt, die Angaben zur Publikation also in PI, zur Anmeldung in AI, zur Klassifikation im Feld IC usw. In bestimmten Fällen (z. B. Teilung oder Ausscheidung) wird ein neuer Record in der Datenbank eingerichtet. Aktualität Die Aufnahme neuer Dokumente erfolgt mit folgender einer Verzögerung von einigen Wochen bis einigen Monaten. WPIndex 114

115 Dokument aus Derwent World Patents Index Format: Standard PLUS; Layout: STNEasy ANTWORT THE THOMSON CORP on STN Title Adjustment apparatus for spinning preparation machine has arrangement device to ensure that contact between tips of clothing of card top bar(s) and tips of cylinder clothing is established and released by displacement of card top bars. Derwent Class F01 Inventor Name LEDER, A; MAERZ, J; MARZ, J Patent Assignee (TRUU) TRUETZSCHLER GMBH & CO KG; (LEDE-I) LEDER A; (MARZ-I) MARZ J Patent Information GB A (200247)* 31 D01G <-- DE A (200247) D01G US A (200247) D01G US B (200249) D01G FR A (200253) D01G GB B (200427) D01G <-- Application Details GB A GB ; DE A1 DE ; US A1 US ; US B1 US ; FR A1 FR ; GB B GB Priority Application Information DE International Patent Classification ICM D01G015-02; D01G015-28; D01G ICS D01G Graphic Abstract GB A UPAB: NOVELTY - Adjustment apparatus comprises an arrangement device forascertaining that contact between the tips of the clothing (18) of atleast one card top bar and the tips of a cylinder clothing (4a) isarranged to be established and released again by displacement of the cardtop bars. DETAILED DESCRIPTION - INDEPENDENT CLAIMS are included for thefollowing: (a) A method of adjusting the spacing of a clothed roller and aclothed surface of a counter element in a spinning preparation machine,which comprises bringing the tips of the clothings of the roller andcounter element into contact, ascertaining a reference position in whichthe clothings are just in contact, and moving the clothings apart from thereference position by a controlled amount;and (b) A spinning preparation machine including a clothed roller; acounter element (14) having a clothed surface for cooperating with theclothed surface of the roller; an arrangement for adjusting the separationof the clothed surfaces of the clothed roller and the counter element,where the arrangement allows the clothed surfaces to be WPIndex 115

116 adjusted to aposition where they are in contact with each other and to be separated bya controlled amount; and a sensing device for sensing that the clothedsurfaces have been brought into contact with one another. USE - The adjustment apparatus is used at spinning preparationmachine, e.g. a carding machine or cleaning machine. ADVANTAGE - The inventive apparatus enables the carding nip to beadjusted in a simple and time-saving manner. DESCRIPTION OF DRAWING(S) - The figure is a side view of card top barsand a portion of a slideway and a flexible bend. Clothing of the cylinder(14) Counter element 4a Clothing of the card top bars 18 Slideway 20 Dwg.2/8 Accession Number [47] WPINDEX Document Number, CPI C WPIndex 116

117 WPIFV Typische Anfragen Kurzbeschreibung Inhalt Fortschreibung Aktualität Dokument aus WPIFV Basic Äquivalent Typische Anfragen Siehe WPINDEX Überwachungsrecherchen Kurzbeschreibung Inhalt Hersteller: Thomson Scientific / Derwent Umfang: ca Dokumentationseinheiten (September 2005) Update: Mehrmals pro Woche Sprache: Englisch, Deutsch Auszüge aus neuen Patentdokumenten von insgesamt 40 Patentorganisationen (38 nationale Ämter, EPO, WIPO), bevor sie in DWPI aufgenommen werden Ergänzungsdatenbank zu DWPI: Mit jedem Update kommen neue Dokumente hinzu Voll-indexierte Dokumente gehen in DWPI über (es ist möglich, dass ein vollindexiertes Dokument sofort in DWPI aufgenommen wird, ohne vorher in WPIFV zu erscheinen). WPIFV sollte immer zusammen mit DWPI im Multifile für Überwachungsrecherchen eingesetzt werden. Bibliografische Daten für alle 40 Länder Englischer Originaltitel bzw. englische Übersetzung: EP, WO, US, GB, AU, CN, JP, KR, TW, RU deutscher Originaltitel: DE Namen: Patentanmelder und PACO für alle Länder Erfinder für alle Länder (außer JP); voller Name + Adresse des Erfinders: US Vertreter (Name und Adresse): US Klassifikationen: IPC für alle Länder USCL: US-Basics Englischer Abstract bzw. englische Übersetzung: EP, WO, US JP! Maschinenübersetzung (innerhalb einer Woche nach Publikation) CN, KR, TW, RU! (Teile des ) Derwent Abstracts WPIFV 117

118 Deutsche Zusammenfassung: DE Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY Englischer Hauptanspruch bzw. englische Übersetzung: EP, US Von Derwent formulierte Titel und Abstracts: können vorhanden sein für Basics und Äquivalents Zeichnungen (nur von Basics): AU; BE; BR; CA; CN; CZ; DE; DK; EP; ES; FR; GB; HU; IE; JP; KR; MX; NL; PH; RO; RU; SK; TW; US; WO Angaben zu Zitierungen (Prüferzitierungen von geprüften und erteilten Dokumenten): DE, EP, GB, JP, US Überwachungen sollten im Multifile WPIFV / DWPI durchgeführt werden, um alle neuen Publikationen und Updates zu erfassen. Bei SDIs können Doppelungen nicht ausgeschlossen werden. Fortschreibung Die Datenbank WPIFV verwendet ein statisches Konzept. Jede Veröffentlichung (Basic oder Equivalent) wird in einem neuen Dokument aufgenommen und danach nicht mehr fortgeschrieben. Bei Equivalents wird im Dokument gekennzeichnet, dass in DWPI schon ein Basic-Dokument existiert. Bei voller Indexierung wird das Dokument in DWPI aufgenommen und gleichzeitig in WPIFV gelöscht. Aktualität Die Daten erscheinen mit folgender Verzögerung nach dem Publikationsdatum in der Datenbank: WO! 2-8 Tage, US! 3 Tage, EP! 2 Tage, DE! 1 Tag, JP! 1 Tag, andere! abhängig von der Lieferung der Patentämter Dokument aus WPIFV Basic Format: Standard PLUS; Layout: STNPlus) ANTWORT THOMSON DERWENT on STN Accession Number WPIFV Title Frontscheibe mit einer aussen angebrachten Sonnenblende Inventor Name JANSSEN B Organization (DAIM) DAIMLERCHRYSLER AG (DE) Patent Information DE B German Basic Application Information DE Priority Application Information DE RE CITATIONS: 3 Reference Patents DE A1 X DE U1 X US A X Field of Search Classification B60J 3/00 International Patent Classification, Main B60J WPIFV 118

119 Graphic Summary Language German Abstract in German AUTHOR ABSTRACTEs wird ein Fahrzeug (1) mit einer Frontscheibe (5), in deren oberen Randbereich aussen eine Sonnenblende (11) angeordnet ist, vorgeschlagen. Die Sonnenblende (11) zeichnet sich dadurch aus, dass sie mehrteilig ausgebildet ist und erste und zweite Blendensegmente (13, 15) aufweist, deren Gesamtlaenge kleiner als die Laenge der Frontscheibenoberkante (17) ist und dass im mittleren Bereich der Frontscheibe (5) eine Luecke (19) zwischen den Blendensegmenten (13, 15) besteht.fsoriginal Field Availability AB; ALE; PRAI; REP; TI Entry Date Äquivalent Format: Standard PLUS; Layout: STNPlus) ANTWORT THOMSON DERWENT on STN Accession Number WPIFV Title Motor vehicle interior monitoring system Agent Van Dyke, Gardner, Linn & Burkhart, LLP Inventor Name SCHOFIELD K (US); LARSON M (US) Inventor Full Name Schofield Kenneth, Holland, MI USLarson Mark, Grand Haven, MI US Organization (DONN-N) DONNELLY CORP (US) Patent Information US B English Equivalent Patent Information, Basic Pat. US A Derwent Class US B (Cont of)us B (Cont of)us A (Cont of)us A (CIP of) Application Information US US (Cont of) US (Cont of) US (Cont of) WO 1994-US (CIP of) US (CIP of) Priority Application Information US WPIFV 119

120 WO 1994-US US US US US International Patent Classification, Main G02B National Patent Classification NCLM: NCLS: ; ; ; ; ; ; Graphic Summary Language English Abstract in German DERWENT ABSTRACTNOVELTY - The system uses a photosensor array (32) which is mounted near the top of, and facing to the rear of, the vehicle compartment with the photosensor array having a number of photosensor elements arranged in rows and columns that are able to send at least two separate signals which are representative of a different portions of the interior. DETAILED DESCRIPTION - The system includes a photosensor array which is positioned within and near the top of the vehicle interior, e.g. in the rearview mirror (1), which senses light levels in an area rearward of it in the vehicle and generates an appropriate signal. The system also has a control circuit (26) which determines background light signals from the photosensor element signals that are indicative of the light levels incident on the photosensor elements.the photosensor array is effectively split in to at least two sections which produce independent signals that are processed separately and the signals can be received and stored in a memory and/or used to control one or more systems within the vehicle. TECHNOLOGY FOCUS - ELECTRONICS - The photosensor array and the control circuit are preferably integrally formed as a single VLSI CMOS circuit. Use Section - For use in systems to automatically control the reflectivity of the rear view mirror (claimed), compartment image data storage systems (claimed), vehicle intrusion detection systems (claimed) and other systems such as automatic headlight or airbag control systems. ADVANTAGE - Can accurately determine light levels to an accuracy where a number of mirrors or mirror segments can be independently controlled without requiring a separate forward facing sensor or other non-rearwardly facing photocells, thereby allowing a lower cost and increased reliability as it is not necessary to match two separate photocells such as photoresistors. DESCRIPTION OF DRAWING - A drawing of a rearview mirror containing a rearwardly facing photosensor array.(1) Rear view mirror (2) Photosensor (26) Light sensing and logic circuit (30) Lens (32) Photosensor array FSDerwent Field Availability AB; ADV; AG; DETD; DRWD; FDT; INFN; NCL; NOV; PRAI; TECH; TI; USE Entry Date WPIFV 120

121 Recherchearten in Patentdatenbanken

122 Tipps für alle Recherchen! Patentrecherchen werden entweder im Modus Patentsuche oder im Modus Fortgeschrittene Suche durchgeführt (siehe Auswahl des Recherchemodus).! Die Zuordnung der Patentdatenbanken zu unterschiedlichen Kategorien (siehe Auswahl der Kategorien) soll bei der Auswahl der Patentdatenbanken helfen.! STN Easy bietet die Möglichkeit, parallel in mehreren Patentdatenbanken zu suchen. Die Patentdatenbanken unterscheiden sich jedoch in ihrem Inhalt, den erfassten Ländern, den Recherchemöglichkeiten usw. wesentlich stärker voneinander als die Datenbanken, die zum Beispiel in den Fachgebieten Ingenieurwissenschaften oder Biologie/Medizin angeboten werden. Man sollte sich deshalb vor der Recherche mit dem Inhalt, den Recherchemöglichkeiten und der Länderabdeckung der Patentdatenbanken (für die internationalen Datenbanken siehe die Länderliste) auseinandersetzen, um dann gezielt entweder in einigen ausgewählten Datenbanken parallel zu suchen, oder jeweils nur eine Datenbank für eine Recherche auswählen.! Wenn in mehreren Datenbanken parallel gesucht wurde, können danach die Dubletten ermittelt werden. Spätestens bei der Ausgabe der Dokumente wird man sich beim Auftreten von Dubletten für eine Datenbank entscheiden wollen, je nach Rechercheziel, Inhalt und Preis eines Dokumentes. Die Übersicht über die Suchmöglichkeiten in den Patentdatenbanken und die Beschreibungen der einzelnen Datenbanken bieten Hilfe dabei. Tipps 122

123 Typische Rechercheanfragen und Recherchearten Welche Patente gibt es über Bremsen, die für Inline-Skates geeignet sind? Sie benötigen die Patente/Patentanmeldungen zu einem bestimmten Fachgebiet, möchten also wissen, was bereits bekannt und evtl. geschützt ist oder ob es für Ihr Problem schon eine Lösung gibt. Das ist eine Sachrecherche. Welche Patente hat die Meyer GmbH aus Karlsruhe? Das ist eine Namensrecherche nach einem bestimmten Patentanmelder. Welche Patente hat Fritz Meyer-Moritz? Das ist ebenfalls eine Namensrecherche. Von der Meyer GmbH soll es ein Patent über eine neue Skate-Bremse geben. Stimmt das? Was steht da drin? Das ist eine Kombination von Namens- und Sachrecherche. Müssen wir das Patent US 5,000,075 in Deutschland beachten? Das müssen Sie dann, a) wenn Sie auch in die USA verkaufen wollen, b) wenn dieses Patent in Deutschland angemeldet worden ist, entweder direkt beim Deutschen Patentamt oder beim Europäischen Patentamt. Frage (a) müssen Sie selbst entscheiden, Frage (b) ist eine Recherche nach der Patentfamilie. Gibt es zu der Nummer JP auch ein Patent in deutscher oder englischer Sprache? Durch eine Patentanmeldung in einem anderen Land kann es ein solches Patent geben. Um das festzustellen, ist eine Recherche nach der Patentfamilie notwendig. Ist das Patent Nr. DE erteilt worden bzw. noch gültig? Diese Frage ist durch eine Rechtsstandsrecherche zu beantworten. Welche anderen Patente werden im US-Patent Nr. 5,000,075 zitiert? Wo wird dieses Patent zitiert? Diese Fragen sind durch eine Zitierungsrecherche zu beantworten. Wie lautet der vollständige Text des US-Patentes Nr. 5,000,075? In einigen Datenbanken finden Sie den Volltext bzw. Seiten-Images von Patenten. Wie wird nach Patenten aus einem bestimmten Land recherchiert? Wie wird nach Datumsangaben recherchiert? Wie ist eine Patentnummer einzugeben? Recherchearten 123

124 Rechercheart Sachrecherche Namensrecherche Familienrecherche Rechtsstandsrecherche Zitierungsrecherche Volltextbereitstellung Recherche nach Ländern Recherche nach Datumsangaben Nummernrecherche Erläuterung Sie benötigen Informationen zu den Patentveröffentlichungen zu einem Thema oder Sachgebiet, d. h., Sie möchten wissen, was bereits bekannt und ggf. geschützt ist (= Ermittlung des Standes der Technik). Sie benötigen Informationen über alle Patentveröffentlichungen einer bestimmten Firma (Anmelder) oder Person (Erfinder). Sie kennen eine Patentveröffentlichung (Patentnummer, Aktenzeichen) und möchten wissen, in welchen weiteren Ländern hierzu Schutzrechte angemeldet oder erteilt worden sind. Sie kennen eine Patentveröffentlichung (Patentnummer, Aktenzeichen) und möchten wissen, ob ein Patent erteilt wurde und noch gültig ist. Sie haben eine Patentveröffentlichung und möchten wissen, welche anderen Veröffentlichungen darin zitiert werden oder in welchen anderen Veröffentlichungen diese Schrift zitiert wird. Sie haben die Daten einer Patentveröffentlichung und möchten den gesamten Text bzw. die Zeichnungen haben. Sie möchten das Ergebnis einer Recherche (z. B. einer Sachrecherche) auf bestimmte Länder einschränken. Sie möchten das Ergebnis einer Recherche (z. B. einer Sachrecherche) auf einen bestimmten Zeitraum einschränken. Sie haben eine Nummer, die eine Patentnummer oder ein Aktenzeichen sein kann, und wollen wissen, ob diese Patentanmeldung wirklich existiert und was geschützt ist. Recherchearten 124

125 Sachrecherchen Einführung Freitext Hinweise zum Modus Patentsuche Hinweise zum Modus Fortgeschrittene Suche Klassifikation Hinweise zu Fortgeschrittene Suche Möglichkeiten für die Verknüpfung von Begriffen und Klassifikationen Sortierung der Ergebnisse Grenzen bei Sachrecherchen Einführung Patentrecherchen/Sachrecherchen werden meist durchgeführt, um den Stand der Technik in einem bestimmten Fachgebiet zu ermitteln. Diese Recherchen können im Freitext und mit der Internationalen Patentklassifikation (IPC) durchgeführt werden. Zusätzlich stehen in einigen Datenbanken die Nationale amerikanische Klassifikation (USCL) oder die Europäischen Patentklassifikation (ECLA) zur Verfügung. Meist werden die Recherchen nach Klassifikation und Freitext miteinander kombiniert. Freitext Freitextrecherchen können gut in den Datenbanken CAPLUS, EUROPATFULL, IFIPAT, JAPIO, PATDPA (in deutsch), USPATFULL, USPAT2, PCTFULL und WPINDEX durchgeführt werden. DPCI und INPADOC sind weniger gut geeignet. Für die Freitextrecherche stehen das Titelfeld und das Freitextfeld zur Verfügung. In jedes Suchkästchen können Einzelworte oder mehrere Worte eingegeben werden. Trunkierung: Als Wildcard kann? oder * am Ende des Suchbegriffes verwendet werden. Umlaute müssen aufgelöst werden (Ä! AE usw.). Pluralformen werden in den englischsprachigen Datenbanken auch ohne Eingabe von Wildcards gebildet (wenn unter Präferenzen ausgewählt). Abkürzungen: In CAPLUS und WPINDEX wird für häufig auftretende Abkürzungen auch automatisch nach diesen gesucht (z. B. bei Eingabe von direct memory access wird automatisch auch nach dma gesucht). Phrasen werden in Anführungszeichen gesucht ("..."), z. B. aspirin AND "heart attack" Sonderzeichen sind nicht suchbar. Sie werden im allgemeinen vom System entfernt. Zum Beispiel: analog digital converter wird ohne den Bindestrich gesucht. Besser ist es, die Sonderzeichen wegzulassen und/oder den Begriff als Phrase zu suchen. Mehrere Worte können mit Booleschen Operatoren verknüpft werden: AND findet Antworten, in denen beide Suchbegriffe gleichzeitig vorkommen OR findet Antworten, in denen wenigstens einer der Suchbegriffe vorkommt NEAR findet Antworten, in denen beide Suchbegriffe im gleichen Satz vorkommen NOT findet Antworten, in denen der eine Suchbegriff vorkommt, der andere aber nicht Wenn mehrere Begriffe nur mit Leerzeichen getrennt sind (ohne Operator), wird NEAR eingesetzt. Sachrecherchen 125

126 Abarbeitungsreihenfolge: Suchanfragen werden von links nach rechts abgearbeitet. Bei den Operatoren wird folgende Hierarchie eingehalten: 1. NEAR 2. AND, NOT 3. OR Klammersetzung: Um Eindeutigkeit bei der Verwendung verschiedener Operatoren zu erzielen, müssen Klammern gesetzt werden. Zum Beispiel bei: red and (black or gray) werden sowohl Dokumente gefunden, die red und black enthalten, als auch Dokumente, die red und gray enthalten. Wenn die Klammern weggelassen werden: red and black or gray werden Dokumente gefunden, die red und black enthalten, oder Dokumente, die gray enthalten (ohne red zu berücksichtigen, was eventuell nicht so gemeint war). INDEX anzeigen: Mit INDEX anzeigen kann eingesehen werden, ob ein bestimmtes Suchwort im Text der Datenbank vorkommt und wie es aufgenommen wurde (Schreibweise). Aus dieser Liste können durch Markieren mehrerer Worte und anschließendes Anklicken von Suche diese für die Recherche übernommen werden. (Es kann auch nach dem Markieren auf Liste nicht anzeigen geklickt werden, um die markierten Worte für die Recherche zu übernehmen.) Stopwörter: Bei der Indexierung werden in einigen Datenbanken bestimmte, oft vorkommende Wörter ausgeschlossen. Diese Wörter sind dadurch nicht mehr recherchierbar. Sie werden, wenn sie in einer Anfrage vorkommen, normalerweise ignoriert. Allerdings können dadurch bestimmte Begriffskombinationen nicht mehr direkt recherchiert werden, z. B. in-line, on-line können in einigen Datenbanken nur über den Bestandteil line recherchiert werden, weil in und on Stopwörter sind. Volltextdatenbanken: In den Volltextdatenbanken (EUROPATFULL, IFIPAT, PCTFULL, USPATFULL, USPAT2) ist bei einer reinen Stichwortrecherche die Trefferzahl im Verhältnis zu den anderen Datenbanken (die nur einen Abstract oder den Hauptanspruch enthalten) sehr hoch. Deshalb sollte hier der Operator NEAR statt des Booleschen Operators AND bevorzugt werden, um zwei Suchbegriffe zu verknüpfen. Eine andere Möglichkeit besteht darin, nach einer Freitextrecherche mit mehreren Suchworten die Dokumente nach Relevanz (statt chronologisch) sortieren zu lassen. Sprache: In den einzelnen Datenbanken sollten die Suchwörter in folgender Sprache eingegeben werden: CAPLUS Englisch DPCI Englisch EPFULL Textbestandteile gibt es in Englisch, Deutsch, Französisch. Die Suche sollte vorrangig in Englisch durchgeführt werden. Um vollständigere Ergebnisse zu bekommen, müssen alle drei Sprachen verwendet werden. FRANCEPAT Französisch FRFULL Französisch, Englisch (Titel, Abstracts) GBFULL Englisch IFIPAT Englisch IMSPATENTS Englisch INPADOC Die Titel in INPADOC sind in unterschiedlichen Sprachen (Englisch, Deutsch, Französisch, Italienisch u. a.). Die Stichwortsuche, egal in welcher Sprache, führt immer zu einem unvollständigen Ergebnis. JAPIO Englisch KOREAPAT Englisch Sachrecherchen 126

127 LITALERT PATDPA PATDPAFULL PATDPASPC PCTFULL RDISCLOSURE RUSSIAPAT USPATFULL / USPAT2 WPINDEX / WPIFV Englisch Deutsch Deutsch Deutsch Es werden Englisch, Deutsch, Französisch und Spanisch verwendet. Die bevorzugte Recherchesprache sollte Englisch oder Französisch sein, da zumindest englische und französische Abstracts in allen Dokumenten enthalten sind. Die anderen Sprachen können ergänzend verwendet werden. Englisch Englisch Englisch Englisch Hinweise zum Modus Patentsuche Wenn die Suche in den Feldern der Maske (Titel, Freitext) nicht ausreicht, kann das Ergebnis mit Verfeinern eingeschränkt werden. Die hier eingeblendete Maske ist dieselbe wie bei Fortgeschrittene Suche. Hinweise zum Modus Fortgeschrittene Suche Die Suche kann auf mehrere Suchkästchen aufgeteilt werden. Es können auch weitere Suchkästchen hinzugefügt werden (maximal 10). Zur Verknüpfung der Suchkästchen können wieder Boolesche Operatoren aus der Auswahlbox daneben gewählt werden: AND OR NEAR (nebeneinander in beliebiger Reihenfolge) NOT Es kann Probleme geben, wenn in einem Suchformular gleichzeitig OR und AND verwendet werden: Diese Anfrage könnte als (blue or red) and grey oder als blue or (red and grey) Sachrecherchen 127

128 gemeint sein (STN Easy verknüpft hier immer in der eingegeben Reihenfolge, d. h. von oben nach unten, ohne Beachtung einer Hierarchie). Um Interpretationsfehler zu verhindern, sollte man eine solche Suchformulierung vermeiden und entweder 1. Auf dem ersten Suchformular nur die Begriffe eintragen, die mit OR verknüpft werden sollen, und dann mit Verfeinern die AND-Verknüpfung realisieren. 2. Die vollständige Formulierung mit richtiger Klammersetzung in ein einziges Suchkästchen eintragen (nur dann möglich, wenn nur in einem Feld gesucht werden soll, z. B. Freitext). Freitextrecherchen können immer mit anderen Recherchen verknüpft werden (z. B. Internationale Patentklassifikation oder Namen). Nach dem Ausführen der Suchformulierung auf der ersten Suchseite kann mit Verfeinern mit der Eingabe eines weiteren Suchkriteriums die Suche spezifiziert werden. Es stehen die Booleschen Operatoren AND und NOT zur Verfügung. Im Suchkästchen kann wieder ein Klammerausdruck mit allen Booleschen Operatoren (s. o.) eingetragen werden. Hierbei wird keine zusätzliche Suchgebühr erhoben. Durch die BACK- Funktion im Browser kann man nach einem Verfeinerungsschritt auch zu einem vorhergehenden Suchschritt zurück kehren und erneute Verfeinerungen ausprobieren. Klassifikation Sachrecherchen mit Hilfe der Internationalen Patentklassifikation (IPC) sind bei STN EASY in allen Patentdatenbanken gut durchführbar. Dazu benutzen Sie im Modus Patentsuche das Suchkästchen IPC Klassifikation bzw. wählen Sie im Modus Fortgeschrittene Suche den Eintrag Patentklasse (Int.) als Suchfeld aus dem Menü. Gegenüber der gedruckten Patentschrift muss die IPC in leicht verändertem Format eingegeben werden (ohne Leerzeichen, / wird zu -, die Gruppe wird immer mit drei Zeichen angegeben, evtl. Nullen einfügen): Patentschrift Datenbank A 63 C 17/06 A63C Zusätzlich zur obigen IPC werden folgende gekürzte Formen in die Datenbank aufgenommen, so dass die entsprechenden Dokumente auch gefunden werden, wenn man nur diese Form eingibt: A63C017 A63C Die Internationale Patentklassifikation kann vor der Recherche mit Hilfe der gedruckten Ausgabe der IPC, von bereits bekannten, zutreffenden Patentschriften oder aus anderen Informationsquellen ermittelt werden. Mit INDEX anzeigen kann das Vorhandensein bestimmter Klassifikationen in der Datenbank überprüft werden. Eine Recherche nach der Klassifikation muss oft mit weiteren Suchworten eingeschränkt werden. Deshalb ist hier die Funktion Verfeinern besonders wichtig. Hinweise zu Fortgeschrittene Suche Bei Kenntnis der nationalen U.S. Patentklassifikation kann diese in den Datenbanken USPATFULL, CAPLUS und IFIPAT (in INPADOC nur bedingt), bei Kenntnis der Europäischen Patentklassifikation kann diese in INPADOC verwendet werden. Zutreffende Klassen ermittelt man am besten aus bekannten Patentdokumenten. Möglichkeiten für die Verknüpfung von Begriffen und Klassifikationen Eine Formulierung für ein Behältnis (box, carton, container, B65D001, B65D005, B65D081) zum Transportieren von flachem Gebäck (pizza, pancake, flat cake) könnte wie folgt eingetragen werden: Verwendung ein oder mehreren Suchkästchen in einem Formular: In ein Suchkästchen können entweder nur Begriffe oder nur Klassifikationen eingetragen werden. Dabei können Klammerausdrücke unter Verwendung aller Boolescher Operatoren eingetragen werden. Zur Verknüpfung der Suchkästchen untereinander sollte aus den Auswahlboxen entweder Sachrecherchen 128

129 nur OR oder nur AND (bei Fortgeschrittene Suche auch NEAR) verwendet werden. Folgende Formulierungen sind zum Beispiel möglich: a) (box or carton or container) AND (pizza or pancake or flat cake) b) (b65d001 or b65d005 or b65d081) AND (pizza or pancake or flat cake) Aber eine vollständige Formulierung der Anfrage ist so nicht möglich! Verwendung der Funktion Verfeinern (in beiden Recherchemodi möglich): In das erste Suchformular werden alle Begriffe und Notationen zum Teilthema, das Begriffe und Notationen enthält (Behältnis), in die entsprechenden Kästchen eingetragen und anschließend die Suche gestartet. Mit Verfeinern erhält man ein zweites Formular, mit dem die Verknüpfung mit dem zweiten Teilthema realisiert werden kann, z. B.: (box or carton or container) OR (b65d001 or b65d005 or b65d081)! Suche! Verfeinern AND (pizza or pancake or flat cake) Sortierung der Ergebnisse Zunächst werden die Ergebnisse von STN EASY nach der zeitlichen Reihenfolge sortiert ausgegeben (neueste zuerst). Die Sortierung kann auf nach Relevanz geändert werden; dabei werden die Häufigkeit der Suchworte im Dokument, die Stelle (z. B. im Titel) und die Nähe der Suchworte zueinander berücksichtigt. Insbesondere bei Recherchen im Suchfeld Freitext können damit gute Ergebnisse erzielt werden; bei Recherchen nur nach der Klassifikation, nach Namen usw. bietet diese Sortierung keinen Vorteil. Grenzen bei Sachrecherchen Eine Patentrecherche zum Stand der Technik erfordert häufig die Verknüpfung sehr vieler Aspekte (verschiedene Stichworte, Klassifikationen usw.), um ein möglichst vollständiges Ergebnis zu erreichen. Bei STN EASY ist die Zahl der Verknüpfungsmöglichkeiten beschränkt. Mit solchen komplexen Sachrecherchen sollte man einen Profi-Rechercheur, der mit Messenger arbeitet, beauftragen. Sachrecherchen 129

130 Namensrecherchen Einführung Erfinder Hinweise zu Patentsuche Hinweise zu Fortgeschrittene Suche Patentanmelder Hinweise zu Fortgeschrittene Suche Einführung Namensrecherchen werden in Patentdatenbanken sehr häufig durchgeführt, z. B., um die Patente von bestimmten Erfindern, Firmen oder Institutionen zu ermitteln. Die Namensfelder sind in Patentdatenbanken in der Regel besser aufbereitet als in anderen Datenbanken. Am Beginn der Recherche ist es empfehlenswert, mit Index anzeigen zu ermitteln, wie der Name in der Datenbank eingetragen wurde und welche Schreibweisen es gibt. Wenn der Name Umlaute enthält, sollte sowohl mit aufgelöstem Umlaut (ä ae) als auch mit dem Grundvokal statt des Umlautes (ä a) gesucht werden. Erfinder Erfindernamen werden unterschiedlich in die Datenbanken eingetragen: WPINDEX, DPCI Nachname + 1. Buchstabe des 1. Vornamens + 1. Buchstabe des 2. Vornamens (ggf.) CAPLUS, EUROATFULL, INPADOC, IFIPAT, JAPIO, PATDPA, PCTFULL, USPATFULL Nachname + 1. Buchstabe des 1. Vornamens oder vollständiger Vorname + 1. Buchstabe des 2. Vornamens oder vollständiger Vorname (ggf.) Da bei Gebrauchsmustern der Name des Erfinders in das Patentanmelderfeld eingetragen wird, sollte bei der Recherche nach Gebrauchsmustern der Name als Erfinder und als Anmelder gesucht werden. Hinweise zu Patentsuche Für das Suchfeld Erfinder stehen ein Feld für den Nachnamen und ein Feld für den Vornamen zur Verfügung. Für den Vornamen kann auch nur der erste Buchstabe eingetragen werden (in einigen Datenbanken ist auch nur der erste Buchstabe des Vornamens suchbar). Ein zweiter Vorname kann hier als Initiale in das Feld M.I. (Middle Initial) eingetragen werden, sollte aber nur verwendet werden, wenn dieser zur Unterscheidung von anderen Erfindernamen notwendig ist. (Wenn hier ein Buchstabe eingetragen ist, aber in der Datenbank nicht vorhanden ist, führt die Suche zu null Treffern.) Hinweis: Mit Index anzeigen sollte man vor der Recherche ermitteln, wie der Name gesucht werden muss (Schreibweise, vollständige Vornamen oder Initialen, ein oder zwei Vornamen). Geben Sie dazu zuerst nur den Nachnamen und eventuell den ersten Buchstaben des Vornamens in das Suchkästchen ein. Namensrecherchen 130

131 Sie können auch die zutreffenden Namen mit der Maus markieren und zusammen suchen. Hinweise zu Fortgeschrittene Suche Wenn das Suchfeld Erfinder ausgewählt wird, erscheint ein erweitertes Formular mit 3 Kästchen. Der Nachname muss auf jeden Fall eingetragen werden. Im Kästchen für den ersten Vornamen trägt man diesen oder nur den ersten Buchstaben ein (je nach Datenbank) oder man trägt den Vornamen vollständig ein und markiert Benutze Initialen bei der Suche (alle Datenbanken). Im dritten Suchkästchen wird der zweite Vorname eingetragen. Wenn jedoch der zweite Vorname im Namensfeld der Datenbank nicht verwendet wurde, führt die Suche mit dem zweiten Vornamen zu null Treffern. Deshalb sollte dieses Kästchen nur in solchen Fällen verwendet werden, in denen der zweite Vorname zur Unterscheidung von anderen Erfindern notwendig ist. Hinweis: Mit Index anzeigen sollte man vor der Recherche ermitteln, wie der Name gesucht werden muss (Schreibweise, vollständige Vornamen oder Initialen, ein oder zwei Vornamen). Geben Sie dazu zuerst nur den Nachnamen und eventuell den ersten Buchstaben des Vornamens in das Suchkästchen ein. Sie können auch die zutreffenden Namen mit der Maus markieren und zusammen suchen. Patentanmelder Nach Auswahl von Patentanmelder tragen Sie in das Suchkästchen die Firma, Institution oder den Namen des Einzelanmelders ein. Hier gilt das gleiche wie beim Erfinder: Da auch der Anmeldername unterschiedlich eingetragen sein kann (auch unterschiedliche Eintragungen für denselben Anmelder in einer Datenbank), sollten die Eintragungen mit Index anzeigen überprüft werden. In der Namensliste können mehrere Einträge mit der Maus markiert werden. Wenn in einer Liste z. B. folgende Namen für Siemens auftreten: Siemens Siemens & Halske Siemens A.G. Siemens AG Siemens AG, Muenchen so erfasst man auch alle Namenseinträge durch die Suche nur nach dem Wort Siemens Namensrecherchen 131

132 Hinweise zu Fortgeschrittene Suche Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY Neben dem Namen des Patentanmelders wird vom Datenbankhersteller Derwent ein Patentanmelder-Code in die Datenbank aufgenommen. Dieser steht in den Datenbanken WPINDEX, WPIFV und DPCI zur Verfügung. Der Code besteht aus vier (bis 1970 drei) Buchstaben und ggf. einem weiteren Unterscheidungszeichen. Für ca größere Unternehmen existieren eindeutige Codes, die in einer Liste (Derwent User Manual No. 5: Patentee Codes) veröffentlicht sind. Alle nicht eindeutigen Codes haben zusätzlich ein Unterscheidungszeichen: I für als Anmelder auftretende Einzelpersonen, N für Unternehmen, die nicht zu der genannten Gruppe gehören, R für Institutionen aus der damaligen/ehemaligen Sowjetunion und Russland. Die Codes eignen sich als Recherchehilfsmittel vor allem bei den genannten größeren Unternehmen, für die Eindeutigkeit besteht. Wenn zwei Organisationen (mit Standard-Codes) fusionieren, werden die Patente solange unter beiden Standard-Codes geführt, wie die Firmen noch Patente als unabhängige Firmen anmelden. Wenn unter dem neuen Namen angemeldet wird, wählt Derwent nicht automatisch einen neuen Standard-Code, sondern es wird individuell der passendste Code festgelegt (neuer Code oder einer der alten Codes). Die Codes werden nicht automatisch retrospektiv angepasst. Ein Wörterbuch mit den Codes (Standard und Nichtstandard) und dazugehörigen Patentanmeldernamen steht auf der Homepage von Derwent ( kostenfrei) zur Verfügung. Namensrecherchen 132

133 Recherche nach Formalkriterien Recherche nach Ländern Hinweise zu Patentsuche Hinweise zu Fortgeschrittene Suche Datumsangaben Hinweise zu Patentsuche Hinweise zu Fortgeschrittene Suche Nummernrecherchen Anmelde-/Prioritätsnummern Publikationsnummern Recherche nach Dokumentenartencode Recherche nach Ländern Mit STN EASY kann nach Publikationsländern, Anmeldeländern, Prioritätsländern und nach benannten Vertragsstaaten (Designated States, benannte Zielländer bei europäischen oder internationalen Anmeldungen) gesucht werden. Im Patentwesen werden Ländercodes verwendet (z. B. DE Bundesrepublik Deutschland, EP Europäisches Patentamt, US U.S.-Patente). Diese Codes können auch bei STN EASY verwendet werden. Wer die Codes nicht kennt, kann auch mit dem ausgeschriebenen Namen des Landes recherchieren (PATDPA in Deutsch, andere Datenbanken in Englisch). Um zu ermitteln, ob man die richtige Schreibweise verwendet, sollte man den Ländernamen oder einen Teil davon eingeben und auf Index anzeigen klicken. Die Recherche nach Ländern dient im allgemeinen zum Einschränken einer Suche (z. B. Sachrecherche) auf bestimmte Länder. Hinweise zu Patentsuche Die Suche nach Publikationsländern und benannten Vertragsstaaten erfolgt zusammen im Feld Patentnummer und Publikationsland. Wenn mehrere Codes gleichzeitig gesucht werden sollen, müssen diese mit OR verknüpft werden: Die Suche nach einem Anmeldeland erfolgt analog im Feld Anmeldenummer und Anmeldeland, nach einem Prioritätsland im Feld Prioritätsnummer und Prioritätsland. Hinweise zu Fortgeschrittene Suche Hier kann mit der Auswahlbox für jedes Land (Publikationsland, Anmeldeland, Prioritätsland, benannte Vertragsstaaten) ein entsprechendes Suchkästchen geöffnet werden. Wenn gleichzeitig nach mehreren Ländern gesucht werden soll, können die einzelnen Ländercodes auch mit OR verknüpft werden (s. o.). Datumsangaben Datumsangaben sollten bei STN EASY immer in folgendem Format eingegeben werden: YYYYMMTT (YYYY Jahr, MM Monat, TT Tag) Es kann auch nach einem Datumsbereich gesucht werden, z. B.: Zusätzlich kann auch nur nach dem Jahr oder Jahresbereich gesucht werden. Datums- oder Jahresangaben sollten zur Einschränkung einer Suche verwendet werden. Formalrecherchen 133

134 Hinweise zu Patentsuche Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY Hier ist im Feld Publikationsdatum die Suche nach diesem Datum, nach einem Datumsbereich und auch die Suche nach dem Publikationsjahr/-jahresbereich möglich. Mit Index anzeigen kann das Vorhandensein eines bestimmten Datums überprüft werden. Die Jahreszahl, Datums- oder Jahresbereiche können jedoch in der Indexliste nicht angezeigt werden. Hinweise zu Fortgeschrittene Suche Es kann nach Publikations-, Anmelde- und Prioritätsdaten und nach den entsprechenden Jahresangaben gesucht werden. Für jede Angabe kann ein separates Suchkästchen geöffnet werden. Bei Anwahl eines Jahresfeldes z. B. Publikationsjahr wird ein spezielles Menü eingeblendet. Hier kann ein einzelnes Jahr oder ein Bereich von Jahren ausgewählt werden: Nummernrecherchen Bei STN EASY können Patentnummern (Publikationsnummern, Dokumentennummern), Anmeldenummern (Anmeldeaktenzeichen) oder Prioritätsnummern (Prioritätsaktenzeichen) gesucht werden. Es ist empfehlenswert, vor der Suche Index anzeigen anzuklicken, um das Vorhandensein der Nummer und das eingegebene Format zu überprüfen. Dabei werden die Nummern ohne Leerzeichen (und ggf. ohne führende Nullen) eingetragen. Die Nummern sind folgendermaßen zusammengesetzt: Anmelde-/Prioritätsnummern Das STN Standard-Format hat folgende Struktur: Für Anmeldungen außer PCT und DE (ab 2004): CCYYYY-aaannnnn US Für PCT-Anmeldungen: WOYYYY-ccnnnnn WO1999-DK63 Für DE-Anmeldungen (ab 2004) CCYYYY-ZZYYYYNNNNNN DE CC YYYY aaa n N ZZ Land (Zweibuchstabencode) Jahr (Aktenzeichen mit einem Jahr vor 2000 werden mit einem 2-stelligen Jahr, Aktenzeichen ab dem Jahr 2000 mit einer 4-stelligen Jahr indexiert; japanisches Kaiserjahr wird in gregorianisches Jahr umgerechnet) optional, Ziffer oder Buchstabe Ziffer, optional Ziffer Ziffern, die die Schutzrechtsart benennen (siehe Dokumentenartencodes) Wenn eine Jahreszahl in das Aktenzeichen eingebettet ist, wie z. B. die 2-stellige Jahreszahl bei deutschen Aktenzeichen vor 2004, wird sie als 2-stellige Zahl beibehalten. Ist eine 4-stellige Jahreszahl eingebettet, bleibt sie auch 4-stellig erhalten. Formalrecherchen 134

135 Folgende Beispiele sollen die Umsetzung von Aktenzeichen in das in Patentdatenbanken übliche Format zeigen: Original STN DE-Anmeldung* P DE US-Anmeldung 09/736,339 US EP-Anmeldung* EP PCT-Anmeldung PCT/JP92/00067 WO1992-JP67 Die Prüfziffer nach dem Punkt bei DE- oder EP-Aktenzeichen wird nicht mit umgesetzt. (Weitere Aktenzeichenformate: siehe im Anhang Nummernformate (Aktenzeichen)) Hinweise US-Seriennummern auf der gedruckten Schrift bestehen aus dem Seriencode und der fortlaufenden sechsstelligen Seriennummer, z.b.: 09/932,243 Seriencode Jahresbereich 2 Earlier than Jan. 1, Jan.1, Dec. 31, Jan. 1, Dec. 31, Jan. 1, Dec. 31, Jan. 1, Dec. 31, Jan. 1, Dec. 31, Jan. 1, Dec. 31, Jan. 1, 1998 Dec. 31, Jan. 1, current 29 Design applications filed beginning in January 1993 Der Seriencode wird im STN-Format nicht verwendet, sondern das Anmeldejahr und die Seriennummer. Deutsche Aktenzeichen und Publikationsnummern haben dieselbe Ziffernfolge der Seriennummer. Im Abschnitt Dokumentennummern bzw. im Anhang (Nummernformate) sind diese Seriennummern erläutert. In einigen Ländern werden für Patent- und Gebrauchsmusterpublikationen die gleichen Nummernbereiche verwendet. Zur Unterscheidung der Nummern wird bei Gebrauchsmustern ein U angehängt (INPADOC und WPINDEX). Im amerikanischen Patentrecht gibt es Provisorische Anmeldungen. Diese können proritätsbegründend sein. Um diese Prioritätsaktenzeichen zu unterscheiden, wird ein P an das Zeichen angehängt, z. B. US P. Bei der Suche wird das P ebenfalls angehängt (in allen Patentdatenbanken): Formalrecherchen 135

136 Publikationsnummern Publikationsnummern können, ebenso wie Aktenzeichen, von Amt zu Amt eine sehr verschiedene Struktur aufweisen, z. B. einfach eine fortlaufende Nummer, Nummer mit führender Jahreszahl, Nummern mit nachgestellter Jahreszahl, identisch mit der Ziffernfolge des Aktenzeichens usw. Oft wird zur Unterscheidung der einzelnen Veröffentlichungsstufen innerhalb des Verfahrens der Dokumentenart-Code mit angegeben. Beispiele: DE A1 DE A1 DE U1 EP B1 US 4,718,426 US 2001/ A1 WO 99/12345 A1 WO 00/04255 A1 Bei der Recherche nach Dokumentennummern werden in allen Datenbanken Formate mit folgender Struktur verwendet: Bei Verwendung von Nummern mit bis zu 7 Stellen: CCnnnnnnN bei Verwendung von Nummern mit 8 Stellen: CCNNNNNNNN bei Verwendung von Seriennummern mit 12 Stellen: CCZZYYYYNNNNNN bei Verwendung von Nummern mit führendem/nachgestelltem Jahr (19YY): CCYYNNNNN bei Verwendung von Nummern mit führendem/nachgestelltem Jahr (20YY): CC20YYNNNNNN CC Land (Zweibuchstabencode) n optional, Ziffer; Eingabe ohne führende Nullen oder Trennzeichen. (Durch das japanische Kaiserjahr bedingte führende Null sollte eingegeben werden und wird ggf. entfernt.) N Ziffer ZZ bestimmte Ziffern zur Festlegung der Schutzrechtsart YY/YYYY Jahr (zwei- bzw. vierstellig) Formalrecherchen 136

137 Ab dem Publikationsjahr 2000 werden Patentnummern mit führendem oder nachgestellten Jahr immer als String indexiert, d. h. 2 Zeichen für das Land, 4 Zeichen für das Jahr und 6 Zeichen für die laufende Nummer. Ein evtl. nach gestelltes Jahr wird an den Anfang gesetzt. (Bei US Applications wird aus der 11- stelligen Nummer eine 10-stellige.) Obige Nummern wären also wie folgt umzusetzen (der Dokumentenartencode ist wegzulassen). de /pn DE /PN DE /PN ep50443/pn us /pn us /pn wo /pn wo /pn Es ist günstig, mit Index anzeigen zu überprüfen, ob die betreffende Nummer in den Datenbanken vorkommt. Wenn die Nummer nicht im Index aufgeführt ist, braucht man keine (kostenpflichtige) Suche zu starten. Bei Unklarheiten konsultieren Sie den Help-Desk. Hinweis zu deutschen Publikationsnummern Die Ziffernfolge der deutschen Publikationsnummern entspricht der Ziffernfolge der deutschen Aktenzeichen. Neue Aktenzeichen für Patente, Gebrauchsmuster und Topographien gelten ab dem , für Marken, Geschmacksmuster und Typographien ab dem Im Anhang Nummernformate (Publikationsnummern / Aktenzeichen) sind die Ziffernfolgen erläutert. Hinweis zu INPADOC In einigen Ländern werden für Patent- und Gebrauchsmusterpublikationen die gleichen Nummernbereiche verwendet. Zur Unterscheidung der Nummern wird bei Gebrauchsmustern ein U angehängt, z. B.: FI5260U Mit diesem angehängten U ist die Nummer suchbar. Überlappende Serien bei verschiedenen Publikationstypen In einigen Ländern gibt es zwischen verschiedenen Publikationstypen gleiche Nummernserien. Zur Unterscheidung wird dann der Publikationstyp an die Nummer gehängt. 1. China: Bei den Publikationsnummern der geprüften und ungeprüften Patentveröffentlichungen aus China kommt es zu überlappenden Nummern. Deshalb wird bei den geprüften Patentanmeldungen (Patent Kind Code CNB) ein B an die Nummer gehängt: 2. Ungarn, Litauen, Monaco: Auch hier wird zur Unterscheidung der Patent Kind Code der Nummer angefügt: HU A0 LT A MC200014A Formalrecherchen 137

138 3. USA: Ab März 2001 tragen die Anmeldungen zu Pflanzenpatenten (Patent Kind Code USP1) ein P1 am Ende der Nummer, da die gleiche Nummernserie für die normalen Patentanmeldungen genommen wird: US P1 USYYYYNNNNNNP1 Hinweis zu IT-Dokumentennummern In der Nummer ist (ebenso wie im Aktenzeichen) in Buchstaben die Provinz des Anmelders codiert. Die Buchstaben werden für die Datenbanken gemäß einer Liste der Provinzen in Ziffern umgesetzt. Hilfsweise kann nach dem Aktenzeichen recherchiert werden, da dieses für die Dokumentennummer übernommen wird. Hinweis zu US-Dokumentennummern Seit dem werden nicht nur erteilte Patente, sondern auch amerikanische Patentanmeldungen veröffentlicht. Die Nummernformate und die Publikationscodes sind im Anhang Nummernformate (Publikationsnummern) zu finden. Für Patentanmeldungen, Neuveröffentlichungen und Erteilungen werden unterschiedliche Nummern verwendet. In den Datenbanken werden diese Nummern entweder im PI-Feld (USPATFULL, WPINDEX) oder in neuen Publikationslevels (INPADOC) fortgeschrieben. Auf gedruckten Schriften wird nicht auf vorher gehende Veröffentlichungen verwiesen. Hinweis zu JP-Dokumentennummern Japanische Publikationsnummern haben bis zum Jahr 2000 im Original die folgende Form: EE NNNNNN Vor dem Strich steht das Kaiserjahr (EE), nach dem Strich eine laufende Nummer. Die Umrechnung zwischen Kaiserjahr und Gregorianischem Jahr ist wie folgt möglich: Kaiser Ära Beginn der Amtszeit Umrechnung Hirohito Showa Akihito Heisei Nach dem Jahr 2000 wird das Kaiserjahr nicht mehr verwendet. Die Nummern werden in STN-Datenbanken nach folgendem Muster umgesetzt: Patentnummern Suche Anzeige A- und T-Dokumente (vor dem Jahr 2000): JP JPEENNNNNN A- und T-Dokumente (ab dem Jahr 2000): JP JP20YYNNNNNN B-Dokumente (veröffentlichte geprüfte Anmeldung, bis März 1996), INPADOC, CA: B-Dokumente (veröffentlichte geprüfte Anmeldung, bis März 1996), WPINDEX: B-Dokumente (veröffentlichte Patentschrift, ab Mai 1996), WPINDEX B-Dokumente (veröffentlichte Patentschrift, ab Mai 1996), INPADOC, CA: B1-Dokumente (veröffentlichte Patentschrift ohne vorherige A2-Schrift), INPADOC, CA B1-Dokumente (veröffentlichte Patentschrift ohne vorherige A2-Schrift), WPINDEX JP B JPEENNNNNNB JP B JPEENNNNNNB JP B JPNNNNNNNB JP B JPNNNNNNNB JP JPNNNNNNN JP B JPNNNNNNNB JP JP EENNNNNN JP JP 20YYNNNNNN JP B4 JP EENNNNNN B4 JP B2 JP EENNNNNN B2 JP NNNNNNN B2 JP B2 JP B2 JP NNNNNNN B2 JP B1 JP NNNNNNN B1 JP B1 JP NNNNNNN B1 Die Zählung der Publikationsnummern erfolgt für jede Dokumentenart getrennt. Das bedeutet, dass: Formalrecherchen 138

139 Dokumente verschiedener Publikationsstufen, die Mitglieder derselben Patentfamilie sind, verschiedene Publikationsnummern haben, Dokumente unterschiedlicher Publikationsstufen, die die gleiche Publikationsnummer haben, womöglich nicht zu derselben Familie gehören. Zur eindeutigen Bezeichnung der Dokumente muss also neben der Publikationsnummer der Dokumentenart- Code beachtet werden. Um alle Dokumente mit einer bestimmten Nummer (unabhängig von der Dokumentenart) zu finden, kann mit Trunkierung recherchiert werden, z. B. JP ?. Aufgrund der Umstellung von der Publikation von Auslegeschriften (mit drei Monaten Einspruchsfrist vor der Erteilung) auf Patentschriften (mit sechs Monaten Einspruchsfrist nach der Erteilung) erscheinen seit Mai 1996 fortlaufend ab Publikationsnummer nummerierte Patentschriften mit dem Dokumentenart- Code B. Zum Zusammenführen der Dokumente ist die Anmeldungsnummer geeignet. Auf JP-Dokumenten werden die Publikationsnummer (in dem oben dargestellten Format) und das Publikationsdatum (mit Kaiserjahr und Gregorianischem Jahr, in arabischen Ziffern) aufgedruckt; bei B-Dokumenten werden die entsprechenden Daten einer früheren Veröffentlichung (Code A, T) zusätzlich aufgedruckt. Recherche nach Dokumentenartencode Oft besteht die Notwendigkeit, Patentnummern in Zusammenhang mit dem Publikationscode zu recherchieren (z. B. Rechtsstandsrecherchen) oder bei Sachrecherchen auf bestimmte Publikationsarten einzuschränken. Dazu müssen die Publikationscodes in folgendem Format eingegeben werden: CCnn CC Land (Zweibuchstabencode) n optional, Buchstabe, Ziffer, Leerzeichen Diese Suche ist nur in der Maske Fortgeschrittene Suche bzw. in der Maske Verfeinern möglich. Die Schreibweise der Codes kann mit Index anzeigen überprüft werden. Jedes Land hat eigene Codes und in den einzelnen Datenbanken werden teilweise unterschiedliche Codes verwendet. Auf der WEB-Seite von STN INTERNATIONAL ist unter eine Tabelle zu finden, in der die Dokumentenarten und -codes der einzelnen Länder, wie sie in den Datenbanken INPADOC, WPINDEX und Chemical Abstracts verwendet werden, dargestellt sind. Formalrecherchen 139

140 Rechtsstandsrecherchen INPADOC PATDPA PATDPASPC EPFULL FRANCEPAT Rechtsstand und Lizenzangaben: Schutzzertifikate RUSSIAPAT IMSPATENTS Hinweise zum Rechtsstandsdatum INPADOC PATDPA PATDPASPC EPFULL FRANCEPAT AT, AU, BE, BR, CH, CL, CN, CZ, DD, DE, DK, EP, ES, FI, FR, GB, HU, IE, IL, IT, LT, LU, MC, MD, NL, PH, PT, SE, US, WO nur Eintritt/Nichteintritt in die nationale Phase von PCT-Anmeldungen: BG, CA, GE, JP, KE, KR, LT, LV, RO, RU, ZU SPCs (Supplementary Protection Certificates) Schutzzertifikate: AT, BE, CH, DE, FI, FR, GB, IE, IL, IT, LU, NL, NO, SE die Daten beginnen zu unterschiedlichen Zeitpunkten, es kommen laufend neue Länder hinzu deutsche und europäische Patente (DE, EP) SPCs (Supplementary Protection Certificates) Schutzzertifikate: DE, EP SPCs (Supplementary Protection Certificates) Schutzzertifikate: DE enthält den aktuellen INPADOC-Rechtsstand und suchbare Rechtsstände aus dem europäischen Register französische Patente und Gebrauchsmuster SPCs (Supplementary Protection Certificates) Schutzzertifikate: FR RUSSIAPAT enthält zu russischen Patenten die Publikationsdaten früherer Veröffentlichungen im nationalen Patentverfahren, den Eintritt in die nationale Phase bei WO-Anmeldungen und das Prioritätsdatum IMSPATENTS Patente und Patentfamilien aus dem Gebiet der Pharmazie, 56 Länder: Aktuelle Angaben zur Schutzdauer einschließlich Kommentar zum jeweiligen Patent, zu anderen Patenten der betreffenden Patentfamilie und zu anderen für die jeweilige chemische Verbindung zutreffenden Patentfamilien incl. Schutzzertifikate (Supplementary Protection Certificates) LITALERT Rechtsstreite zu US-Patenten und US-Marken Der INPADOC-Rechtsstand kann in weiteren Datenbanken angezeigt werden: PCTFULL, PATDPAFULL, GBFULL Es ist nicht nötig, dass Dokumente, deren Rechtsstand man ausgeben möchte, über ihre Nummer gesucht werden. Jedes andere Rechercheergebnis kann dazu ebenfalls verwendet werden. Rechtsstandsinformationen aus Patentdatenbanken sind immer unverbindlich. Eine verbindliche Information erhält man nur durch Akteneinsicht bei den jeweiligen Patentämtern. INPADOC Der Rechtsstand kann zusammen mit der Patentfamilie für die oben genannten Länder im Format Family Plus ausgegeben werden. Als Ausgabe-Layout ist unbedingt das STN-Format zu empfehlen. LEGAL STATUS AN INPADOC EPAC DIVISIONAL APPLICATION (ART. 76) OF: Rechtsstandsrecherchen 140

141 EP P EPAK + DESIGNATED CONTRACTING STATES: EP A2 AT DE FR GB IE IT EP17P + REQUEST FOR EXAMINATION FILED EPRIN1 INVENTOR (CORRECTION) EMGE, GARY, M EPRIN1 INVENTOR (CORRECTION) CARTER, STEPHEN, W EPRIN1 INVENTOR (CORRECTION) MCCANN, JAMES, T EPRIN1 INVENTOR (CORRECTION) GEORGIS, DAVID, G EPRIN1 INVENTOR (CORRECTION) EMGE, GARY, M EPRIN1 INVENTOR (CORRECTION) CARTER, STEPHEN, W EPRIN1 INVENTOR (CORRECTION) MCCANN, JAMES, T EPAK + DESIGNATED CONTRACTING STATES: EP A3 AT DE FR GB IE IT EPRIC1 CLASSIFICATION (CORRECTION) 7B 41M 7/00 A, 7B 41M 5/40 B, 7B 41J 2/48 B EP17Q + FIRST EXAMINATION REPORT EPAKX + PAYMENT OF DESIGNATION FEES AT DE FR GB IE IT EP18D - DEEMED TO BE WITHDRAWN Folgende Informationen sind in den Spalten eingetragen: EPREG REFERENCE TO A NATIONAL CODE DKT3 + DK: TRANSLATION OF EP PATENT Rechtsstandsdatum (Prioritätsdatum, Anmeldedatum, Publikationsdatum) Rechtsstandscode Rechtsstandstext; teilweise mit Datum der Rechtswirksamkeit Eine Beschreibung für die Rechtsstandscodes existiert auf dem Server des Europäischen Patentamts. PATDPA In PATDPA sind die Rechtsstände von deutschen Patentpublikationen ab 1981 und von europäischen Patentpublikationen ab Juli 1998 im Feld NTE enthalten (die Rechtsstände zu EP-Publikationen vor diesem Datum beziehen sich nur auf die Benennung in Deutschland). Die Rechtsstandsinformationen von EP-Publikationen enthalten auch die Rechtsstände der nationalen Phase der Benennungsländer. Der Rechtsstand ist Teil des Dokuments und wird bei der Anzeige im Format Standard Plus ausgeben. PI DE T PGT2 (47) DE-Uebersetzung der EP-PS AI DE E ADRN (22) DE-AKZ fuer EP-Patent EP A ADR (86) EP-Anm. mit DE-Ben. PRAI US A CP (32) Unionsprioritaet FI FIA DE E ADRN (22) DE EP A ADR (86) EP FIP EP A AOR LEN (87) EP-Publik. mit DE-Ben. R: DE FR GB DE CE PGRN (45) DE-AKZ fuer EP-Patent EP B PGR (87) EP-Patent mit DE-Wirk. R: DE FR GB DE T PGT2 (47) DE-Uebersetzung der EP-PS NTE : FPRD (32) Erstes Prioritaetsdatum : ADR (86) Anmeldetag d. EP-Anm. m. DE-Benennung : AOR (87) EP-Publ. der EP-Anmeldung mit DE-Benennung : PGR (87) EP-Patent mit DE-Wirk : PGRP (45) Publ. des DE-AKZ fuer erteiltes EP-Patent : PGT2 (47) DE-Uebersetzung der EP-Patentschrift mit DE-Wirk. Rechtsstandsrecherchen 141

142 : LIBP F320 Lizenzbereitschaft erklaert (verbindlich) : ZEJP H339 Erledigt wegen Nichtzahlg. d. Jahresgebuehr Die Rechtsstandsinformationen beziehen sich immer auf die im PI-Feld enthaltene Publikation. Folgende Informationen sind enthalten: : ZEJP H339 Erledigt wegen Nichtzahlg. d. Jahresgebuehr DE A/C Publikationsdatum im Patentblatt Rechtsstands code INID-Code oder Satzkennzeichen Text DE U0 Eintragungsdatum in die Patentrolle DE U1 Publikationsdatum im Patentblatt EP Rechtswirksamkeitsdatum WO Rechtswirksamkeitsdatum PATDPASPC In PATDPASPC sind erteilte, zurückgewiesene und fallen gelassene Schutzzertifikate zu deutschen Arzneiund Pflanzenschutzmitteln enthalten. Es sind Angaben zur chemischen Verbindung, zum Zertifikat und zum Rechtsstand suchbar (SPC-Anmeldedaten, CAS-Registry-Nummern der zertifizierten Verbindung und verwandter Verbindungen, chemische Namen, Handelsnamen, IPC-Hauptklasse, SPC-Dokumentennummern, Publikationsnummer des betreffenden Patents). Das Update der Datenbank erfolgt unregelmäßig. Beim Update werden neue Dokumente zu Schutzzertifikaten aufgenommen und schon vorhandene werden aktualisiert. Der Rechtsstand wird bei der Anzeige im Format Standard Plus ausgeben (siehe Beispiel in der Datenbankbeschreibung). EPFULL In EPFULL werden Rechtsstände aus dem europäischen Register aufgenommen. Der Rechtsstand wird bei der Anzeige im Format Standard Plus ausgeben. LEGAL STATUS INCLUDING HISTORY AN 2002: EPFULL WOB006EP The EPO has been informed by WIPO that EP was designated in this application WOB870 PCT publication data EPB840 Designated contracting states AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT WO A EPB844EP Extension of the European patent to AL LT LV MK RO SI WOB880 PCT, Publication of the international search report (A3 publication) EPB241 Request for examination EPB430 Unexamined document without grant, (first publication) EPB830 Information concerning deposit of microorganisms Declaration under Rule 28(4) EPC (expert solution) EPB840 Designated contracting states AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR IE IT LI LU MC NL PT SE SK TR EP A EPB790 Licence Exclusive license Danisco Niebuell GmbH EPB790R Licence (correction) OLD: Exclusive licence Danisco Niebuell GmbH, 1 Busch-Johannsen-Strasse, Rechtsstandsrecherchen 142

143 25899 Niebuell, DE 9621 NEW: Exclusive licence Danisco Niebuell GmbH, 1 Busch-Johannsen-Strasse, Niebuell, DE Im Dokument existieren Angaben zum Lizenznehmer und Einsprechenden im Dokument. Opponent Name Opposition filed Roland International B. V., Kasteellaan 33, 5932 AE Tegelen, NL Opponent Representative: Van Reet, Joseph, Gevers & Vander Haeghen, Holidaystraat 5, 1831 Diegem, BE Licensee Agripa Limited, Merlin House Mossland Road, Hillington Park Glasgow G52 4XZ, GB 9770 for AT BE CH CY DE DK ES FI FR GR IE IT LI LU MC NL PT SE TR; Fleet Media Limited, Merlin House Mossland Road, Hillington Park Glasgow G52 4XZ, GB 9780 for AT BE CH CY DE DK ES FI FR GR IE IT LI LU MC NL PT SE TR FRANCEPAT In FRANCEPAT sind die Rechtsstände von französischen Patentpublikationen incl. Lizenzangaben und Schutzzertifikaten enthalten. Die Rechtsstände sind Teil des Dokuments und werden bei der Anzeige im Format Standard Plus ausgeben. Rechtsstand und Lizenzangaben: Licensee LINM: PLAYBOIS LIA: ZI DE BOMBES SAINT GERMAIN LAPRADE (FR) LIT: (Societe a responsabilite limitee) LINM: MALEYSSON CREATION LIA: LE MOULIN DE LA ROCHETTE ROUTE DU PUY ROSIERES (FR) LIT: (Entreprise unipersonnelle a responsabilite limitee) Legal Status Amended Claims Date of Lapse: Date of Grant: French Patent Registry: CL (concession de licence) N Schutzzertifikate Suppl. Protection Certificate Applicant: NOVARTIS AG / Schwarzwaldallee 215, 4085 Bale, CH Application Date: Publication: FR98C0033 Date of Publication: (BOPI ) Drug: RIVASTIGMINE Drug Approval: EU/1/98/066/ Date of Grant: BOPI Deadline of Validity (BOPI 0109) Rechtsstandsrecherchen 143

144 RUSSIAPAT Im Rechtsstandsfeld sind einige zusätzliche Daten enthalten, die in den Publikations- und Anmeldedaten nicht enthalten sind: Legal Status, Date of First Publication Legal Status, Date of Begin of National Phase Legal Status, Effective Date of Property Rights z. B.: Patent Information RU C WO Legal Status DPR Effective Date of Priority Right DFP Date of First Publication DNP Date of Begin of national Phase IMSPATENTS Zusätzlich zu den Publikations-, Anmelde- und Prioritätsdaten (nicht immer vollständig) ist das Verfallsdatum im PI-Feld angegeben. Das Verfallsdatum bzw. das Verfallsjahr sind in den Feldern /XPD bzw. /XPY auch suchbar. Zusätzlich existieren das Text-Feld, wo Kommentare zum Rechtsstand in dem jeweiligen Land eingetragen sind, und der Abstract, wo Kommentare zur Patentfamilie eingetragen sind. Der Inhalt der Kommentare wird aus verschiedenen Quellen ermittelt und den Dokumenten zugefügt. Es existieren bei den einzelnen Familienmitgliedern teilweise unterschiedliche Abstracts. Publication Expiration Number Date Date PI EP <-- DS Luxembourg PRAI US US US US US TX Expiry Comments: SPC Granted Country Comments: EP B is based on WO 96/7398 and claims a solid, non-particulate, sustained release pharmaceutical composition for parenteral administration. The composition SOMATULINE of lanreotide acetate is specifically claimed. EP B is assigned to Delab. A supplementary protection certificate (SPC) for the SOMATULINE AUTOGEL formulation of lanreotide acetate has been granted in Luxembourg as national number citing EP B. The certificate comes into force on expiry of the cited patent and expires on 11 May The holder of the SPC is SCRAS. AB The patent family listed here covers automated controlled delivery systems for drugs. The SOMATULINE AUTOGEL composition of lanreotide acetate is quoted in SPC applications relating to this family. The patent family is divided into three main parts: WO 96/7397 quotes priorities and and claims a method of parenterally administering a drug to a patient for immediate dispersal of the drug once administered; WO 96/7398 quotes priorities , and and claims a solid, non-particulate, sustained release pharmaceutical composition for parenteral administration; WO 96/7440 quotes priorities and and claims a device for the automatic delivery of an active ingredient according to an adjustable delivery profile. Some of the patents/applications have been reassigned to Delab. Um die Rechtstände einer Patentfamilie anzuzeigen, sind Tabellenformate, z. B. CYTAB, geeignet (siehe Datenbankbeschreibung IMSPATENTS, Abschnitt Familienrecherchen und Beispielrecherchen). Rechtsstandsrecherchen 144

145 Hinweise zum Rechtsstandsdatum Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY Anmelde- und Prioritätsdaten sowie Publikationsdaten (z. B. von Offenlegungs- oder Patentschriften) werden in allen STN-Datenbanken mit Rechtsstandsinformation immer identisch angegeben. Unterschiedliche Datumsangaben (sowie bei PATDPA in der Zukunft liegende) können z. B. auftreten bei: Zurückweisung, Zurücknahme oder Erledigung des Patents, Änderungen des Patentinhabers oder des Vertreters. Der Grund liegt darin, dass in diesen Fällen nicht das Datum der Rechtswirksamkeit des neuen Rechtsstandes angegeben wird, sondern das Datum der Veröffentlichung des neuen Rechtsstands im jeweiligen Amtsblatt. Während in INPADOC eine Rechtsstandsänderung mit dem Datum ihrer Veröffentlichung erst nach der Veröffentlichung erfasst wird, zeigt PATDPA evtl. bereits an, wann eine (bereits eingetretene) Rechtsstandsänderung (in der Zukunft) veröffentlicht werden wird. Rechtsstandsrecherchen 145

146 Familienrecherchen INPADOC WPINDEX CAPLUS Die Anzeige von Patentfamilien ist in den Datenbanken WPINDEX, CAPLUS und INPADOC möglich. INPADOC Die Datenbank INPADOC ist die Patentdatenbank mit dem größten Länderumfang. Die Daten von insgesamt 70 Patentorganisationen (einschl. EP und WO) sind enthalten. Die Patentfamilie kann zum Ergebnis einer jeden Recherche (Publikationsnummer, Aktenzeichen, Namen usw.) ausgegeben werden. Hierzu gibt es spezielle Anzeigeformate: Family Brief: Die vollständige Familie wird in einer Tabelle mit Publikationsnummern und Aktenzeichen ausgegeben. Zusätzlich werden die bibliografischen Daten des Basic Patents angezeigt. Family Plus: Die vollständige Familie wird in einer Tabelle mit Publikationsnummern und Aktenzeichen ausgegeben. Zusätzlich werden die bibliografischen Daten aller Familienmitglieder und die Rechtsstände (siehe Rechtsstandsrecherchen) angezeigt. Die Patentfamilie kann zu jedem ermittelten Ergebnis einer Recherche (Publikationsnummer, Aktenzeichen, Namen usw.) ausgegeben werden. Bei der Angabe eines Familienformats zur Anzeige wird automatisch das entsprechende Prioritätsaktenzeichen ermittelt und die Patentfamilie angezeigt. WPINDEX Die Datenbank World Patents Index enthält Daten von 41 Patentorganisationen und ist damit hinsichtlich der Länderabdeckung nicht so umfangreich wie INPADOC. In WPINDEX sind im allgemeinen alle Publikationen der Patentfamilie in einem Dokument zusammengefasst, d. h., die Anzeige eines Dokumentes ist auch die Anzeige einer Patentfamilie. (Aufgrund des Aufbaus der Datenbank kann es manchmal sein, dass eine Patentfamilie doch auf mehrere Dokumente verteilt ist. Bei STN EASY kann man diese vollständige Familie nur in INPADOC ermitteln.) Bei der Anzeige sind die Anmelde- und Publikationsdaten der Familienmitglieder in den Feldern PI, ADT und PRAI enthalten (Layout STN). In WPINDEX wurden bis 1998 auch nichtkonventionelle Äquivalente den richtigen Patentfamilien intellektuell zugeordnet. (Nichtkonventionelle Äquivalente sind solche Anmeldungen, die zwar auf dieselbe Erfindung zurückgehen, bei denen jedoch keine Unionspriorität mehr in Anspruch genommen wurde.) Die entsprechenden Publikationsnummern sind in den betreffenden Records durch das Zeichen # gekennzeichnet. CAPLUS Die Datenbank CAPLUS enthält Daten von 36 Patentorganisationen. Wie in WPINDEX sind im allgemeinen in einem Dokument alle Publikationen der Patentfamilie zusammengefasst. Die vollständige Familie erhält man in INPADOC. Bei unterschiedlichem technischen Inhalt oder bei bestimmten Relationen (Continuation, Continuation in Part, Division u. a.) kann es in CAPLUS auch vorkommen, dass nicht alle Familienmitglieder in demselben Dokument auftauchen, sondern dass ein zweites oder auch mehrere Dokumente existieren, die zu derselben Familie gehören. Familienrecherchen 146

147 Zitierungsrecherchen Typische Recherchefragen Datenbanken mit Zitierungen Suche nach Zitierungen DPCI PATDPA USPATFULL CAPLUS Hinweis zu Finde Dokumente, die diese Antwort zitieren Typische Recherchefragen Typische Anfragen für Zitierungsrecherchen in STN EASY sind zum Beispiel: Welche Referenzen (Entgegenhaltungen) sind im Patent EP aufgeführt? Wo wird das Patent EP zitiert? (Das heißt, wer beachtet dieses Patent; wer interessiert sich noch für diese Technologie mögliche Konkurrenten oder potentielle Partner?) Wo werden Patente der Firma Leifheit zitiert? Wer sind die Inhaber dieser Patente? (Das heißt, gibt es potentiell andere Firmen, die sich mit den gleichen Technologien beschäftigen?) Gibt es zu uns bekannten Patenten weitere, ähnliche Patente? (Ähnliche Patente können oft ermittelt werden, indem man die Zitierungen untersucht.) Datenbanken mit Zitierungen Eine Reihe von Datenbanken enthalten Zitierungen von den Titelseiten von Patentveröffentlichungen oder aus den Rechercheberichten des Europäischen Patentamtes bzw. von PCT-Veröffentlichungen. Die wichtigste Datenbank für Zitierungsrecherchen ist DPCI. Deshalb ist diese Datenbank auch dem Cluster Patente, Zitate zugeordnet (zur Zeit als einzige Datenbank). Weiterhin kann in folgenden Datenbanken nach Zitierungen gesucht werden: USPATFULL, EUROPATFULL, CAPLUS und PATDPA. Suche nach Zitierungen Datenbank Quelle der Zitierungen Anzeigeformat DPCI EP, WO ab 1978, US ab 1974, Standard Standard Plus weitere 6 Länder ab 1994, EUROPATFULL EP ab 1996 Standard Standard Plus PATDPA DE (DPA) Standard Plus CAPlus US, EP, WO, DE ab 1999; vom Basic Patent Standard Standard Plus USPATFULL US (USPTO) Standard Standard Plus Bei Zitierungen müssen Sie unterscheiden, ob Sie frühere, zitierte Patente oder spätere, zitierende Patente recherchieren wollen (vgl. Patentzitierungen): A) Sie suchen frühere, zitierte Patente (Referenzen). Wählen Sie dazu das Suchfeld Patentnummer und tragen Sie die Nummer ins Suchkästchen ein. In der Anzeige (Format je nach Datenbank) werden die Referenzen ausgegeben, unabhängig von der Art der vorhergehenden Recherche, also z. B. auch nach einer Sach- oder Namensrecherche. Diese Recherche kann wahlweise im Modus Patentsuche oder Fortgeschrittene Suche durchgeführt werden. B) Sie suchen spätere, zitierende Patente. In den meisten Datenbanken (außer DPCI) wählen Sie das Suchfeld Zitierte Referenz und tragen die Nummer ins Suchkästchen ein. Dieses Feld existiert nur im Modus Fortgeschrittene Suche. Zitierungsrecherchen 147

148 Vor der Suche sollten Sie sich mit Index anzeigen die Einträge in den Datenbanken ansehen. Wenn die entsprechende Nummer nicht in der Liste auftaucht, ist auch keine Zitierung in den Datenbanken zu finden und Sie brauchen keine Suche durchzuführen. DPCI Fall A und Fall B: Wählen Sie aus der Liste der Suchfelder Patentnummer aus und tragen Sie die Patentnummer in das Suchkästchen ein. Durch Index anzeigen können Sie feststellen, ob die gesuchte Nummer in der Datenbank vorhanden ist. Die Anzeige Standard liefert dann sowohl die Cited als auch die Citing Patents, und zwar für die gesamte Patentfamilie, soweit sie erfasst ist. In der Anzeige Standard Plus werden einige zusätzliche Informationen geliefert, wie die Zahl der Zitierungen. (Manchmal ist es sinnvoll, außerdem mit dem Suchfeld Zitierte Referenz zu suchen. Dann müssen beide Suchfelder mit OR verknüpft werden. Sie erhalten dann mehrere Dokumente als Ergebnis.) PATDPA A) Wählen Sie aus der Liste der Suchfelder Patentnummer aus und tragen Sie die Patentnummer in das Suchkästchen ein. Durch Index anzeigen können Sie feststellen, ob die gesuchte Nummer in der Datenbank vorhanden ist. Die Anzeige Standard Plus liefert dann die Cited Patents im entsprechenden Feld. B) Wählen Sie das Suchfeld Zitierte Referenz und tragen Sie die Patentnummer in das Suchkästchen ein. Durch Index anzeigen können Sie feststellen, ob die gesuchte Nummer in der Datenbank vorhanden ist. Im Anzeigeformat Standard oder Standard Plus liefert das Dokument (bibliografische Daten, Abstract) für die zitierende Schrift. USPATFULL A) Wählen Sie aus der Liste der Suchfelder Patentnummer aus und tragen Sie die Patentnummer in das Suchkästchen ein. Durch Index anzeigen können Sie feststellen, ob die gesuchte Nummer in der Datenbank vorhanden ist. Die Anzeige Standard liefert dann die Cited Patents im entsprechenden Feld. B) Wählen Sie das Suchfeld Zitierte Referenz und tragen Sie die Patentnummer in das Suchkästchen ein. Durch Index anzeigen können Sie feststellen, ob die gesuchte Nummer in der Datenbank vorhanden ist. Die Anzeige Standard liefert das Dokument (bibliografische Daten, Abstract) für die zitierende Schrift. Wenn ein zitiertes Patent ebenfalls in USPATFULL vorhanden ist, ist die entsprechende Nummer mit einem Hyperlink versehen. Durch Anklicken erhält man den Volltext (Suchkosten + Anzeigekosten für den Volltext). CAPLUS A) Fall A: Wählen Sie aus der Liste der Suchfelder Patentnummer aus und tragen Sie die Patentnummer in das Suchkästchen ein. Durch Index anzeigen können Sie feststellen, ob die gesuchte Nummer in der Datenbank vorhanden ist. Die Anzeige Standard liefert dann die Cited Patents im entsprechenden Feld. B) Fall B: Wählen Sie das Suchfeld Zitierte Referenz und tragen Sie die Patentnummer in das Suchkästchen ein. Durch Index anzeigen können Sie feststellen, ob die gesuchte Nummer in der Datenbank vorhanden ist. Die Anzeige Standard liefert das Dokument (bibliografische Daten, Abstract) für die zitierende Schrift. Wenn ein zitiertes Patent ebenfalls in CAPLUS vorhanden ist, ist die entsprechende Nummer mit einem Hyperlink versehen. Durch Anklicken erhält man den Volltext (Suchkosten + Anzeigekosten für den Volltext). Zitierungsrecherchen 148

149 Hinweis zu Finde Dokumente, die diese Antwort zitieren Dieser Link am Anfang des angezeigten Dokumentes führt zu einer Suche nach zitierenden wissenschaftlichen Artikeln und Patenten in SCISEARCH und in CAPLUS für die Suche nach zitierenden Patente sind die oben genannten Methoden besser geeignet. Zitierungsrecherchen 149

150

151 Volltextbereitstellung mit STN EASY

152 Volltextbereitstellung mit STN EASY Anzeige der Dokumente aus den Volltextdatenbanken EPFULL FRFULL GBFULL IFIPAT PATDPAFULL PCTFULL RDISCLOSURE USPATFULL/USPAT Volltextoptionen Anzeige der Dokumente aus den Volltextdatenbanken Über STN EASY stehen in der Kategorie Patente, Volltexte die Datenbanken EPFULL, FRFULL, GBFULL, IFIPAT, PATDPAFULL, PCTFULL, RDISCLOSURE, USPATFULL und USPAT2 zur Verfügung. Der Volltext wird angezeigt, wenn man bei Anzeige als Format Standard Plus wählt. EPFULL In EPFULL erhält man den Volltext von Patentanmeldungen in maschinenlesbarer Form (Layout: STN EASY oder STN ) ab 1987 in einer der drei Amtssprachen. Der Volltext von Patenterteilungen in einer der drei Amtssprachen ist ab 1991 verfügbar, die Ansprüche werden in allen drei Amtssprachen publiziert. Ab 1978 bis 1987 bzw sind nur bibliographische Daten und Abstracts vorhanden. Außerdem sind von EURO-PCT-Anmeldungen, die in einer der drei Amtssprachen eingereicht wurden, die bibliographischen Daten der WO-Dokumente vorhanden. In EPFULL gibt es bisher keine Zeichnungen. FRFULL FRFULL enthält den maschinenlesbaren Volltext aus französischen Patent- und Gebrauchsmusteranmeldungen (Ansprüche und Beschreibung) (Layout: STN EASY oder STN ). Alle Texte werden durch eine Optical Character Recognition (OCR) Software erzeugt, d. h., es können Interpretationsfehler vorkommen und Textbestandteile unvollständig sein. Ein kleiner Teil von Dokumenten enthält keinen Text, weil beim Scannen Fehler aufgetreten sind. Zeichnungen sind vorhanden. GBFULL GBFULL enthält den maschinenlesbaren Volltext aus britischen Patentanmeldungen (Ansprüche und Beschreibung) (Layout: STN EASY oder STN ). Alle Texte werden durch eine Optical Character Recognition (OCR) Software erzeugt, d. h., es können Interpretationsfehler vorkommen und Textbestandteile unvollständig sein. Ein kleiner Teil von Dokumenten enthält keinen Text, weil beim Scannen Fehler aufgetreten sind. Zeichnungen von der Titelseite sind enthalten. IFIPAT In IFIPAT erhält man die bibliografischen Daten, den Abstract und den Text des Kennzeichnenden Anspruches ( Exemplary Claim, keine Zeichnungen, keine weiteren Ansprüche, keine Beschreibungen) in maschinenlesbarer Form (Layout: STN EASY oder STN ). PATDPAFULL In PATDPAFULL erhält man den vollständigen Text in maschinenlesbarer Form ohne Zeichnungen von allen Publikationslevels (Layout: STN EASY oder STN ) Volltextbereitstellung 152

153 PCTFULL Leitfaden für Patentrecherchen mit STN EASY Für Dokumente in der Originalsprache Englisch (70%), Deutsch (15%), Französisch (5%) und Spanisch (1%) existiert der vollständige Text und zusätzlich der Abstract in Englisch und Französisch. Für die anderen Sprachen (Chinesisch, Japanisch, Russisch) existiert nur der Abstract in Englisch und Französisch. Alle Texte werden durch eine Optical Character Recognition (OCR) Software erzeugt, d. h., es können Interpretationsfehler vorkommen und Textbestandteile unvollständig sein. Ein kleiner Teil von Dokumenten enthält keinen Text, weil beim Scannen Fehler aufgetreten sind. Zeichnungen sind nicht vorhanden. (Layout: STN EASY oder STN ) RDISCLOSURE In RDISCLOSURE werden die Volltexte der technischen Offenbarungen mit Zeichnungen angezeigt (Layout: STN EASY oder STN ). Dabei erscheinen die bibliografischen Daten in maschinenlesbarer Form, der Text aber als Grafikdatei (PNG). USPATFULL/USPAT2 In USPATFULL/USPAT2 erhält man den vollständigen Text in maschinenlesbarer Form (Layout: STN EASY oder STN ) ohne die Zeichnungen. Die Zeichnungen sind nur über Volltextoptionen (s. unten) anzeigbar. Volltextbereitstellung 153

154 Volltextoptionen Bei der Anzeige eines Dokuments (alle Patentdatenbanken) erscheint am Ende Fulltext-Options. Nach Anklicken dieses Links werden die Möglichkeiten angezeigt, die STN zur Beschaffung der Volltexte anbietet: Web-based document recources Kostenlos werden die Volltexte über (Europäisches Patentamt, PDF) und über das USPTO (Amerikanisches Patentamt, Einzelseiten, TIFF) angeboten. Fee-based document recources Download document: Gegen eine Gebühr kann ein Volltext (komplette PDF-Datei) sofort heruntergeladen werden. Order document: Gegen eine Gebühr kann bei FIZ Autodoc der Volltext bestellt werden (als PDF-Datei oder gedruckt). Eine entsprechende Bestellmaske wird eingeblendet. Sie werden ggf. auf zusätzlich notwendige Software hingewiesen, um die Grafiken anzeigen zu können. Volltextbereitstellung 154