Wirtschaftsingenieurwesen Messtechnik/Qualitätssicherung Prüfungsleistung

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1 Name, Vorname Matrikel-Nr. Studienzentrum Studiengang Fach Art der Leistung Klausur-Knz. Wirtschaftsingenieurwesen Messtechnik/Qualitätssicherung Prüfungsleistung WI-MQS-P Datum Verwenden Sie ausschließlich das vom Aufsichtsführenden zur Verfügung gestellte Papier, und geben Sie sämtliches Papier (Lösungen, Schmierzettel und nicht gebrauchte Blätter) zum Schluss der Klausur wieder bei Ihrem Aufsichtsführenden ab. Eine nicht vollständig abgegebene Klausur gilt als nicht bestanden. Beschriften Sie jeden Bogen mit Ihrem Namen und Ihrer Immatrikulationsnummer. Lassen Sie bitte auf jeder Seite 1/3 ihrer Breite als Rand für Korrekturen frei, und nummerieren Sie die Seiten fortlaufend. Notieren Sie bei jeder Ihrer Antworten, auf welche Aufgabe bzw. Teilaufgabe sich diese bezieht. Viel Erfolg! Ausgegebene Arbeitsblätter Abgegebene Arbeitsblätter Ort, Datum Ort, Datum Aufsichtsführende(r) Prüfungskandidat(in) Aufgabe Summe max. Punktezahl erreichte Punktezahl. Prüfer Gesamtpunktzahl Prüfungsnote Datum, 1. Prüfer Datum,. Prüfer Mantelbogen, Prüfungsleistung, Messtechnik, Wirtschaftsingenieurwesen WI-MQS-P

2 Mantelbogen, Prüfungsleistung, Messtechnik, Wirtschaftsingenieurwesen Anmerkungen des Erstprüfers: Datum, 1. Prüfer Anmerkungen des Zweitprüfers: Datum,. Prüfer WI-MQS-P Seite 4

3 Studiengang Wirtschaftsingenieurwesen Fach Messtechnik/Qualitätssicherung Art der Leistung Prüfungsleistung Klausur-Knz. WI-MQS-P Datum Bei jeder Aufgabe ist neben der Lösung auch der Lösungsweg anzugeben. Aus der Dokumentation des Lösungsweges sollte eindeutig zu erkennen sein, wie Ihre Lösung zustande gekommen ist. Hilfsmittel Bearbeitungszeit: 90 Minuten Anzahl Aufgaben: 6 Höchstpunktzahl: 100 Studienbriefe Taschenrechner Formelsammlung eigener Wahl Vorläufiges Bewertungsschema: von Punktzahl bis einschl. Note ,0 sehr gut 90 94,5 1,3 sehr gut 85 89,5 1,7 gut 80 84,5,0 gut 75 79,5,3 gut 70 74,5,7 befriedigend 65 69,5 3,0 befriedigend 60 64,5 3,3 befriedigend 55 59,5 3,7 ausreichend 50 54,5 4,0 ausreichend 0 49,5 5,0 nicht ausreichend Viel Erfolg! Klausuraufgaben, Prüfungsleistung, Messtechnik, Wirtschaftsingenieurwesen WI-MQS-P

4 Klausuraufgaben, Prüfungsleistung, Messtechnik, Wirtschaftsingenieurwesen Aufgabe 1 insg. 3 Punkte Mit dem skizzierten Verfahren können mittelbare Winkelmessungen durchgeführt werden (z. B. Messung einer 60 -V-Nut). Als feste Maßverkörperungen dienen Längennormale in Form von zwei Messdornen vom Durchmesser D und d. Die Größe L wird als Abstandsunterschied der nacheinander in den Winkel eingelegten Zylinder zur gekennzeichneten Bezugsebene gemessen. Für das Verfahren und die Auswirkung (bekannter) systematischer Messabweichungen D, d, L auf die Messabweichung α der Winkelverkörperung gilt folgender Formelsatz: L D Messfunktion: α D d sin = L ( D d) α D d = arcsin L ( D d) (1) d α α/ Fehler -Funktion (Fortpflanzung systematischer Messabweichungen): 4 α = [ L ( D d) ( D d) L] () α K cos mit K = L ( D d) Gl. () soll bezüglich des Einflusses der systematischen Messabweichungen der Größen D, d und L untersucht werden. a) Welche Wirkung haben gleich große Messabweichungen von D und d ( D = d und D, d 0) auf die Messabweichung α? (1) Wie lautet die dementsprechende Fehler - Funktion? () Interpretieren Sie das Ergebnis. b) (1) Erstellen Sie die allgemeine Bedingung dafür, dass der Einfluss der Messabweichungen D, d und L der Messgrößen D, d, und L auf die Winkelverkörperung von α kompensiert wird. Es gelte D, d, L, D, d, L 0. () Interpretieren Sie die ermittelte Kompensationsbedingung. c) Für die Messung einer 60 -Nut (mit α = 60, D = 0 mm, d = 10 mm und L = 15 mm ergeben die Empfindlichkeitskoeffizienten folgende Beträge: 6 Pkte 10 Pkte 7 Pkte D = d = 3 10, L = (1) Bestimmen Sie das Verhältnis der Koeffizienten. : :. D d L () Bewerten Sie mit Bezug auf die Definition des Empfindlichkeitskoeffizienten das Ergebnis unter c), Punkt (1). WI-MQS-P Seite 1/5

5 Klausuraufgaben, Prüfungsleistung, Messtechnik, Wirtschaftsingenieurwesen Aufgabe insg. 14 Punkte a) Welche der folgenden anwendungsspezifischen Merkmale treffen auf Grenzlehren für Rundpassungen zu, die konsequent dem TAYLORschen Grundsatz entsprechen? Kreuzen Sie das Zutreffende im Schema des beiliegenden Arbeitsblattes an. Beachten Sie dabei, dass die Feldbelegung ggf. auch doppelt möglich ist. Merkmal Gutseite Ausschussseite (1) Erfassung von Formabweichungen (Die Voraussetzung Maßtoleranz > Formtoleranz gelte als erfüllt.) () Prüfung von Maßabweichungen (3) Prüfung einzelner Bestimmungsstücke (4) Prüfung der Gestalt als Ganzes (5) Paarung der Lehre mit dem Prüfling möglich (6) Paarung der Lehre mit dem Prüfling nicht möglich (7) Auswirkung von Lehrentoleranzen b) Die Gutprüfung einer Welle mit einer Grenzrachenlehre soll analysiert werden. (1) Beurteilen Sie, inwieweit damit dem TAYLORschen Grundsatz Rechnung getragen wird. () Begründen Sie Ihre unter (1) getroffene Aussage bezogen auf die radiale und die axiale Messgrößenerfassung der Welle. 8 Pkte 6 Pkte Aufgabe 3 insg. 0 Punkte Gemäß der skizzierten Messanordnung soll mit einem inkrementalen Messgrößenaufnehmer (Feinzeiger) ein zylindrisches Werkstück gemessen werden. (Der Anzeigewert für L ergibt sich als Umkehrpunkt.) 1 ϕ 3 4 L0 L 1 Messgrößenaufnehmer (Feinzeiger) Stativarm 3 Stativsäule 4 Prüfobjekt (Werkstück) 5 Stativfuß mit Messtisch 5 a) Ist bei dieser Messanordnung der ABBEsche Grundsatz erfüllt? Begründen Sie Ihre Aussage. b) Entwickeln Sie die Funktion zur Berechnung der systematischen Messabweichung ( Fehler - Funktion) L = f ( L, ϕ). Anleitung: Skizzieren Sie ein Hilfsdreieck mit den Bestimmungsgrößen, und leiten Sie daraus die Beziehung ab. ) ϕ Hinweis: Die Potenzreihe für cosϕ lautet: cosϕ = 1. c) Ermitteln Sie mit Hilfe des im beiliegenden Arbeitsblatt dargestellten Diagramms der Fehler -Funktion (ϕ als Parameter) für den Kippwinkel ϕ = 3 die Messlänge L, bei der keine größere Messabweichung L als +0,01 mm zu erwarten ist. Tragen Sie die Lösung in das Diagramm ein. 5 Pkte 9 Pkte 6 Pkte WI-MQS-P Seite /5

6 Klausuraufgaben, Prüfungsleistung, Messtechnik, Wirtschaftsingenieurwesen Aufgabe 4 insg. 15 Punkte Die gemessene R(auheits)-Profilform einer gedrehten Oberfläche mit ABBOTT-Kurve soll beurteilt werden. a) Ermitteln Sie anhand der im beiliegenden Arbeitsblatt vorgegebenen ABBOTT-Kurve auf graphischem Wege (mit Eintrag der Maßbezugslinien in die Profildarstellung) maßstabgerecht folgende Oberflächenkenngrößen: (1) den Profiltraganteil t p(10) in % (für die Schnitttiefe c = 10 µm); () die Rauhtiefe R t. b) Begründen Sie mit Bezug auf den Werteverlauf der Kenngröße t p und den darauf bezogenen Anteil von R t, weshalb das Profil ein ungünstiges Gleit- und Verschleißverhalten der Oberfläche charakterisiert. Hinweis: Beurteilen Sie den Verlauf der ABBOTT-Kurve insbesondere im Abschnitt tp 50 % (0 % tp 50 %). 10 Pkte 5 Pkte Aufgabe 5 insg. 13 Punkte Zur Messung von Drehmomenten eignen sich u. a. Dehnungsmessstreifen (DMS). Wie die nebenstehende Skizze zeigt, werden zu diesem Zweck DMS unter einem Winkel von + 45 bzw. 45 zur Achse auf die Welle aufgeklebt. Wird dann ein Drehmoment in der dargestellten Weise erzeugt, erfährt der DMS 1 eine Dehnung und der DMS eine Stauchung. Die Größe des Drehmoments hat Auswirkungen auf die Spannung über dem Brükkenzweig, auf die so genannte Ausschlagspannung. a) Beschreiben Sie kurz das Wirkprinzip von Dehnungsmessstreifen. 3 Pkte b) Zeichnen Sie eine von mehreren möglichen Varianten für eine Ausschlagbrückenschaltung mit DMS (d. i. eine Halbbrücke). In dieser Brückenschaltung sind die DMS so zu positionieren, dass die Brückenspannung den größtmöglichen Wert annimmt. c) Berechnen Sie die Dehnung ε an einem der DMS (k =,), nachdem Sie bei einer Speisespannung von U S = 5 V eine Brückenausgangsspannung von U A = 0,1 mv gemessen haben. fest DMS DMS 1 Drehmoment 6 Pkte 4 Pkte Aufgabe 6 insg. 15 Punkte Zur Überwachung eines Fertigungsprozesses rotationssymmetrischer Teile mit einem Nenndurchmesser von 5,600 mm und einer Toleranz von ± 40 µm wird in bestimmter Zeitfolge eine Serie von 15 Stichproben entnommen. Der Stichprobenumfang beträgt je Stichprobe 5 Teile. Für diese werden die Einzelmesswerte des Fertigungsmaßes bestimmt. Im Ergebnis der Prozessüberwachung ist die nachfolgend vereinfacht dargestellte Mittelwert-Regelkarte entstanden. Die dort nacheinander eingetragenen Mittelwerte sind der anschließend aufgeführten Tabelle zu entnehmen. WI-MQS-P Seite 3/5

7 Klausuraufgaben, Prüfungsleistung, Messtechnik, Wirtschaftsingenieurwesen 5,605 5,600 5,595 MW 5,590 5,585 5,580 5, Stichprobennummer (alle Mittelwerte in mm) j x 5,590 5,59 5,588 5,60 5,578 5,604 5,598 5,594 5,588 5,60 5,596 5,598 5,585 5,594 5,588 Neben der Mittelwertbestimmung wurde gleichzeitig die jeweilige Standardabweichung berechnet und daraus die mittlere Standardabweichung der Stichprobenserie zu S x = 10 µm bestimmt. a) Berechnen Sie die obere und die untere Eingriffsgrenze für den in der Mittelwert- Regelkarte dokumentierten Prozess. b) Bewerten Sie den Prozessverlauf, und diskutieren Sie kurz die Lage der Mittelwerte zu den Eingriffsgrenzen. c) Verwenden Sie die gewonnenen Daten der Prozessüberwachung für eine Kontrolle der Prozessfähigkeit durch Bestimmung des c p - und c pk -Wertes. Kommentieren Sie das Ergebnis dieser Kontrolle. 5 Pkte Pkte 8 Pkte WI-MQS-P Seite 4/5

8 Klausuraufgaben, Prüfungsleistung, Messtechnik, Wirtschaftsingenieurwesen Name, Vorname Dieses Aufgabenblatt ist zugleich Teil Ihrer Arbeitsblätter. Geben Sie dieses Blatt in jedem Fall zusammen mit Ihren übrigen Arbeitsblättern ab. Zu Aufgabe a): (1) Erfassung von Formabweichungen (Die Voraussetzung Maßtoleranz > Formtoleranz gelte als erfüllt.) () Prüfung von Maßabweichungen (3) Prüfung einzelner Bestimmungsstücke (4) Prüfung der Gestalt als Ganzes (5) Paarung der Lehre mit dem Prüfling möglich (6) Paarung der Lehre mit dem Prüfling nicht möglich (7) Auswirkung von Lehrentoleranzen Zu Aufgabe 3 c): Merkmal Gutseite Ausschussseite L in µm 10 ϕ=10 ϕ=8 100 ϕ= L in mm ϕ=5 ϕ=4 ϕ=3 ϕ= ϕ=1 Zu Aufgabe 4: t p -Kurve in % µm 100 µm Bezugsmessstrecke l m Hinweis: Die Maßstabsangaben im Diagramm beziehen sich auf die jeweilige Gitterkonstante WI-MQS-P Seite 5/5

9 Korrekturrichtlinie zur Prüfungsleistung Messtechnik/Qualitätssicherung am Wirtschaftsingenieurwesen WI-MQS-P Um größtmögliche Gerechtigkeit zu erreichen, ist nachfolgend zu jeder Aufgabe eine Musterlösung inklusive der Verteilung der Punkte auf Teilaufgaben bzw. Lösungsschritte zu finden. Natürlich ist es nicht möglich, jede denkbare Lösung anzugeben. Stoßen Sie daher bei der Korrektur auf einen anderen als den angegebenen Lösungsweg, so nehmen Sie bitte die Verteilung der Punkte auf die einzelnen Lösungsschritte sinngemäß vor. Sind in der Musterlösung die Punkte für eine Teilaufgabe summarisch angegeben, so ist die Verteilung dem Korrektor überlassen. Rechenfehler sollten nur zur Abwertung des betreffenden Teilschrittes führen. Wird also mit einem falschen Zwischenergebnis richtig weitergerechnet, so sind die hierfür vorgesehenen Punkte zu erteilen. Die Bewertung einer Prüfungsleistung erfolgt differenziert. Gemäß der Diplomprüfungsordnung ist folgendes Notenschema zugrunde zu legen: von Punktzahl bis einschl. Note ,0 sehr gut 90 94,5 1,3 sehr gut 85 89,5 1,7 gut 80 84,5,0 gut 75 79,5,3 gut 70 74,5,7 befriedigend 65 69,5 3,0 befriedigend 60 64,5 3,3 befriedigend 55 59,5 3,7 ausreichend 50 54,5 4,0 ausreichend 0 49,5 5,0 nicht ausreichend Die Prüfungsleistung gilt als bestanden, wenn mindestens fünfzig Punkte erreicht wurden. Korrekturrichtlinie, Prüfungsleistung, Messtechnik, Wirtschaftsingenieurwesen WI-MQS-P

10 Korrekturrichtlinie, Prüfungsleistung, Messtechnik, Wirtschaftsingenieurwesen Lösung 1 vgl. SB 1: Kap. 5, 6; SB : Kap. (sowie Einsendeaufgabe: Aufg. ; SB 6: Versuch G3) insg. 3 Punkte a) 6 Pkte (1) Nach Gl. () folgt für D = d im Klammerausdruck: [ 0 ( D d) L] = [ ( D d) L] und folglich für die Messabweichung 4 4 α = ( D d) L bzw. α = (d D) L. α α K cos K cos () Interpretation: Die Fehlereinflüsse reduzieren sich auf L. (4 Pkte) b) (1) Kompensation der Messabweichung für endliche Werte der Größen und Abweichungen führt zu: 4 α = [ L( D d) ( D d) L] = 0. α K cos Für den Quotienten gilt: 4 α K cos 0. Mithin kann nur [ ( D d) ( D d) L] = 0 L werden. Folglich gilt als Kompensationsbedingung: L( D d) = ( D d) L D d D d L = L 10 Pkte (3 Pkte) (3 Pkte) () Interpretation: Die relativen Abweichungen der Durchmesserdifferenz D d und der Länge L müssen gleich sein. c) 7 Pkte (1) : = 1, : = : = = = = 1, 5 D d D L d L Zusammengefasst: : : = 1:1:1, 5 D d L (3 Pkte) () Der Empfindlichkeitskoeffizient bestimmt das spezifische Gewicht, mit dem die Messabweichung der jeweiligen Messgröße (hier: D, d, L) auf die Messabweichung der Funktionsgröße (hier: α) wirkt. Dementsprechend haben D und d den bestimmenden Einfluss auf die Messabweichung α. WI-MQS-P Seite 1/5

11 Korrekturrichtlinie, Prüfungsleistung, Messtechnik, Wirtschaftsingenieurwesen Lösung vgl. SB : Kap..5 insg. 14 Punkte a) 8 Pkte Merkmal Gutseite Ausschussseite b) (1) Erfassung von Formabweichungen X () Prüfung von Maßabweichungen X (3) Prüfung einzelner Bestimmungsstücke X (4) Prüfung der Gestalt als Ganzes X (5) Paarung mit dem Prüfling möglich X (6) Paarung mit dem Prüfling nicht möglich X (7) Auswirkung von Lehrentoleranzen X X (1) Der TAYLORsche Grundsatz wird erheblich verletzt. () Keine geometrische Entsprechung der Lehre zum Messobjekt: radial gesehen, keine komplexe Erfassung von Kreisform und Maß axial gesehen, keine Erfassung der Zylinderform. (je 1 Pkt) 6 Pkte Lösung 3 vgl. SB : Kap. 3 (sowie SB 1: Kap. 3, 5; SB : Kap...4; SB 3: Kap. ) insg. 0 Punkte + 1 Zusatzpunkt a) Der ABBEsche Grundsatz ist erfüllt: Unbekannte Messstrecke (Messobjekt) und bekannte Messstrecke (Messgrößenaufnehmer mit Maßverkörperung) sind fluchtend in einer Achse hintereinander angeordnet. 5 Pkte b) Ableitung: ϕ 9 Pkte L = L L 0 (1) L cos ϕ = 0 L () () nach L 0 aufgelöst und in (1) eingesetzt: L L 0 L (3 Pkte) (3 Pkte) ) ϕ ) ϕ? L = L(1 cosϕ) = L 1 (1 ) = L (3) ϕ ) L L0 (3 Pkte) (1 Zusatzpkt) c) L 7,3 mm ; (Schätzunsicherheit: ± 0, mm ; Kontrollmöglichkeit ist über den bezifferten Koordinatenwert L = 0,0 mm mit L = 14,6 mm gegeben, siehe Diagramm) 6 Pkte (4 Pkte) WI-MQS-P Seite /5

12 Korrekturrichtlinie, Prüfungsleistung, Messtechnik, Wirtschaftsingenieurwesen Koordinateneintrag erforderlich (siehe Diagramm). L in µm 10 ϕ=10 ϕ= L in mm ϕ=6 ϕ=5 ϕ=4 ϕ=3 ϕ= ϕ=1 L 7,3mm ( ± 0,mm) Lösung 4 vgl. SB 3: Kap. 3. insg. 15 Punkte a) (1) Eintrag der Maßhilfslinie für c = 0 in Profilkurve Maßstäblicher Eintrag der Maßhilfslinie für c = 10 µm in Profilkurve (4 Intervalle = 39 mm entsprechen 0 µm, folglich entsprechen c = 10 µm 19,5 mm Abstand der Maßhilfslinien) Übertragung der Maßhilfslinie c = 10 µm in die ABBOTT-Kurve Lot zum Schnittpunkt mit der ABBOTT-Kurve fällen und t p - Wert bestimmen zu: t p(10) 30 % (Schätzunsicherheit ± %). () Eintrag der Maßhilfslinie für R t = cmax Im Arbeitsblatt gemessene Ordinate = 34,5 mm R t ergibt sich mit dem Ordinatenmaßstab nach (1): 34, 5 mm 0 µ m Rt = 17, 7 µ m (Schätzunsicherheit ± 0, µ m) 39 mm 10 Pkte (1 Pkt) (1 Pkt) b) Charakteristisch für ungünstiges Gleit- und Verschleißverhalten der Oberfläche ist, dass für relativ große Schnitttiefen c geringe Werte des Profiltraganteils resultieren. Im vorliegenden Fall entspricht der Verschleiß im Maße der fast vollständigen Rauhtiefe (ca. 15 µ m = R t = cmax ) rund 50 % Profiltraganteil. Die (negative) Steilheit der ABBOTT-Kurve (t p -Zunahme) ist in diesem Abschnitt entsprechend groß. (Ein nur geringfügiger Anteil der Rauhtiefe (ca. 3 µm) besitzt vergleichsweise günstiges Verschleißverhalten. Dieser Anteil erzeugt für sich ca. 50 % t p -Zuwachs. Die (negative) Steilheit der t p -Kurve ist entsprechend gering.) 5 Pkte (3 Pkte) WI-MQS-P Seite 3/5

13 Korrekturrichtlinie, Prüfungsleistung, Messtechnik, Wirtschaftsingenieurwesen Graphische Lösung zu a): 5 µm tp-kurve in % c = 0 c = µm c max Bezugsmessstrecke l m t p(10) 30 % (+ %) R t = c max 17,7 µm (± 0, µm) Lösung 5 vgl. SB 4: Kap. 3. insg. 13 Punkte a) DMS bestehen aus Widerstandsmaterial, dessen elektrischer Widerstand dehnungsabhängig ist. Bei Dehnung entsteht + R, bei Stauchung R, die Empfindlichkeit der Messung ist besonders hoch, wenn DMS in Brückenschaltung angeordnet sind. Die DMS müssen innig mit dem zu untersuchenden Trägermaterial z. B. durch Klebung verbunden sein. b) Siehe nebenstehende Abbildung oder DMS in Zweigen und 4, DMS in Zweigen 3 und 4, DMS in Zweigen 1 und 3. DMS1 R3 3 Pkte 6 Pkte U S U A DMS R4 c) Bei aktiven DMS lautet die Gleichung U U = S A k ε Umgestellt nach der gesuchten Größe ergibt sich: ε = UA US k = 0, 1 mv 5 V, = 0, % = 38,18 µm/m 4 Pkte Lösung 6 vgl. SB 5: Kap. insg. 15 Punkte a) Voraussetzung ist die Berechnung von x : 1 k x = x j mit k = 15 und x aus der Tabelle k j= 1 x = 5,593 mm 5 Pkte (1 Pkt) WI-MQS-P Seite 4/5

14 Korrekturrichtlinie, Prüfungsleistung, Messtechnik, Wirtschaftsingenieurwesen Obere Eingriffsgrenze: S OEG = x + 3 x mit n = 5 n 0,01mm OEG = 5, 593 mm + 3 = 5,593 mm + 0,013 mm = 5,606 5 Untere Eingriffsgrenze: mm S UEG = x 3 x n UEG = 5,593 mm 0,013 mm = 5,580 mm b) In der ersten Hälfte der Beobachtungszeit wird die untere Eingriffsgrenze einmal überschritten und die obere Eingriffsgrenze fast erreicht, so dass sofort in den Prozess eingegriffen werden muss. In der zweiten Hälfte sind die Abweichungen vom Mittelwert der Mittelwerte kleiner geworden. Offensichtlich haben erste Eingriffe bereits Erfolg gebracht. Pkte (1 Pkt) (1 Pkt) c) Berechnung der Prozessfähigkeitsindizes: T cp = mit der Toleranz T = G o Gu = 0,080 mm 6 S x c 0,080 mm = 6 0,01 mm p = cpk = krit 3 S x 1,33 mit = ( G x; x ) krit min o Gu 0,047 > 0,033 folgt: krit = 0,033 mm 0,033 mm c pk = = 1,1 3 0,01mm 8 Pkte Pkte 1 Pkt 1 Pkt 1 Pkt Der Prozess ist wegen c p potenziell fähig und weist eine hinreichende Reserve auf. (Verbesserung zu größerer Fähigkeitsreserve erfordert Verfeinerung des Prozesses (Verminderung von S ).) x Gemäß Index c pk ist der Prozess gerade noch fähig, jedoch ohne jegliche Reserve. Der Prozess ist wegen Go x x Gu außerdem nicht zentriert. (Zentrierung durch Korrektur der Werkzeugeinstellung grundsätzlich möglich; c pk Wert könnte im vorliegenden Fall auf höchstens ĉ pk = = 1, 33 gebracht werden.) 0, , 01 1 Pkt 1 Pkt 1 Pkt WI-MQS-P Seite 5/5